JP2021025862A - 腐食モニタリング方法及び腐食モニタリング装置 - Google Patents

Abstract

【課題】測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる腐食モニタリング方法を提供する。【解決手段】腐食モニタリング方法は、測定環境に暴露される面を有する計測金属、及び前記測定環境から遮断された参照金属を含む腐食センサと、前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定器と、を用いた腐食モニタリング方法であって、前記計測金属及び前記参照金属に電流を流して、前記計測金属及び前記参照金属を加熱する加熱工程（ステップＳ１）と、前記加熱工程後、前記抵抗測定器によって前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定工程（ステップＳ２）と、を備える。【選択図】図３

Description

本発明は、腐食モニタリング方法及び腐食モニタリング装置に関する。

鋼材の寿命推定や耐食鋼材の研究開発におけるニーズを背景として、鋼材の腐食モニタリング技術の開発が進められている。腐食モニタリングの手法の一つとして、板厚減少に伴う電気抵抗の増加に基づいて腐食量を測定する方法が知られている。

特開２０１６−１９７１０２号公報には、腐食センサの設計方法が開示されている。この腐食センサは、任意の環境に暴露されるセンサ部と、この任意の環境から遮断される参照部とを備える。同公報には、測定期間、測定間隔、平均気温、及び海塩粒子量に基づいて、センサ部の適切な厚さを設定する腐食センサの設計方法が開示されている。

特開２０１７−３３７６号公報には、任意の環境に暴露されるセンサ部と、この任意の環境から遮断される参照部とを備え、センサ部と参照部とが絶縁体を介して積層された腐食センサが開示されている。

特開２０１６−１９７１０２号公報 特開２０１７−３３７６号公報

上記文献に開示されるように、腐食センサは、測定環境に暴露される計測金属（センサ部）と、測定環境から遮断して腐食されないようにした参照金属（参照部）とを備える。この構成によれば、参照金属の電気抵抗を用いて計測金属の電気抵抗を補正することで、温度による比抵抗の変化の影響を補償することができる。

腐食センサでは、参照金属を測定環境から遮断するために（参照金属が腐食しないように）、参照金属を防食性塗料等で被覆する。この被覆によって、参照金属と計測金属との温度差が大きくなり、正確な温度補償ができなくなる場合がある。

本発明の目的は、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる腐食モニタリング方法及び腐食モニタリング装置を提供することである。

本発明の一実施形態による腐食モニタリング方法は、測定環境に暴露される面を有する計測金属、及び前記測定環境から遮断された参照金属を含む腐食センサと、前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定器と、を用いた腐食モニタリング方法であって、前記計測金属及び前記参照金属に電流を流して、前記計測金属及び前記参照金属を加熱する加熱工程と、前記加熱工程後、前記抵抗測定器によって前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定工程と、を備える。

本発明の一実施形態による腐食モニタリング装置は、測定環境に暴露される面を有する計測金属、及び前記測定環境から遮断された参照金属を含む腐食センサと、前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定器と、前記抵抗測器を制御する制御装置と、を備える。前記制御装置は、前記計測金属及び前記参照金属に電流を流して、前記計測金属及び前記参照金属を加熱する加熱工程と、前記加熱工程後、前記抵抗測定器によって前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定工程と、を実行する。

本発明によれば、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定することができる。

図１は、本発明の一実施形態による腐食モニタリング装置の構成を模式的に示す図である。 図２は、図１のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。 図３は、本発明の一実施形態による腐食モニタリング方法のフロー図である。 図４は、測定環境の温度が高くなる方向に変動したときの腐食センサの温度分布を模式的に示す図である。 図５は、図４の状態から、計測金属及び参照金属に電流を流して、計測金属及び参照金属を加熱したときの温度分布を模式的に示す図である。 図６は、測定環境の温度が低くなる方向に変動したときの腐食センサの温度分布を模式的に示す図である。 図７は、図６の状態から、計測金属及び参照金属に電流を流して、計測金属及び参照金属を加熱したときの温度分布を模式的に示す図である。 図８は、腐食センサの変形例の構成を模式的に示す図である。 図９は、腐食センサの他の変形例の構成を模式的に示す図である。 図１０は、測定前に通電加熱を行わずに抵抗測定をした場合における、測定環境の温度及び各金属の抵抗比（Ｒ_ｍｅａ／Ｒ_ｒｅｆ）の時間変化を示すグラフである。

以下、図面を参照し、本発明の実施の形態を詳しく説明する。図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。各図に示された構成部材間の寸法比は、必ずしも実際の寸法比を示すものではない。

［腐食モニタリング装置の構成］
図１及び図２を参照して、本発明の一実施形態による腐食モニタリング装置１の構成を説明する。図１は、腐食モニタリング装置１の構成を模式的に示す図である。図２は、図１のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。腐食モニタリング装置１は、腐食センサ１０、抵抗測定器２０、及び制御装置３０を備えている。

［腐食センサの構成］
腐食センサ１０は、基板１１、計測金属１２、参照金属１３及び被覆部材１４を備えている。計測金属１２及び参照金属１３は、基板１１の上に形成されている。被覆部材１４は、計測金属１２の一部及び参照金属１３の全部を覆って形成されている。

基板１１は、例えばプラスチック基板である。基板１１は、金属等の導体であってもよく、その場合、基板１１と計測金属１２との間、及び基板１１と参照金属１３との間に絶縁体を配置すればよい。

計測金属１２は、評価対象となる金属からなる。計測金属１２は、平面視でＵ字型の形状を有している。計測金属１２の初期の厚さは、金属の種類や環境、測定の目的によって異なるので一概にはいえないが、例えば０．０１〜１０ｍｍであり、好ましくは０．０２〜１．０ｍｍである。計測金属１２の初期の厚さは、計測金属１２の全体にわたって均一であることが好ましい。

計測金属１２は、端子１２ａ及び１２ｂを有しており、配線２１ａ及び２２ａを介して抵抗測定器２０に電気的に接続される。計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂの近傍は、腐食によって配線２１ａ及び２２ａが断線するのを防止するため、被覆部材１４によって被覆されている。

計測金属１２は、測定環境に暴露される面を有している。具体的には、計測金属１２の上面及び側面（より正確には、側面のうち被覆部材１４と接する部分以外の部分）が測定環境に露出している。

参照金属１３は、計測金属１２と同じ種類の金属からなる。参照金属１３は、平面視でＵ字型の形状を有している。参照金属１３は、計測金属１２と同一の寸法であることが好ましい。参照金属１３は、計測金属１２と同様に、端子１３ａ及び１３ｂを有しており、配線２１ａ及び２３ａを介して抵抗測定器２０に電気的に接続される。

参照金属１３は、測定環境から遮断されている。参照金属１３は、具体的には、基板１０と接している面以外の面の全面が被覆部材１４で覆われている。参照金属１３は、計測金属１２と異なり、測定環境に暴露される面を有していない。

計測金属１２の端子１２ｂと参照金属１３の端子１３ａとは、電気的に接続されている。すなわち、計測金属１２と参照金属１３とは、直列に接続されている。端子１２ｂと端子１３ａとを電気的に接続する方法は、これに限定されないが、両端子に半田や溶接で配線を接続する方法、両端子を導電性テープで接続する方法等が挙げられる。

被覆部材１４は、計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂの近傍、並びに参照金属１３を腐食から保護する。被覆部材１４は、例えば防食性の塗料である。

［抵抗測定器の構成］
抵抗測定器２０は、定電流電源２１、並びに電圧計２２及び２３を備えている。

定電流電源２１は、配線２１ａを介して計測金属１２の端子１２ａ及び参照金属１３の端子１３ｂに電気的に接続される。上述のとおり、計測金属１２と参照金属１３とは直列に接続されている。そのため、計測金属１２及び参照金属１３には、同じ大きさの電流Ｉが流れる。

電圧計２２は、配線２２ａを介して計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂに電気的に接続され、端子１２ａと端子１２ｂとの間の電圧Ｖ１を測定する。電圧Ｖ１を電流Ｉで除すことで、計測金属１２の電気抵抗Ｒ_ｍｅａを求めることができる。

同様に、電圧計２３は、配線２３ａを介して参照金属１３の端子１３ａ及び１３ｂに電気的に接続され、端子１３ａと端子１３ｂとの間の電圧Ｖ２を測定する。電圧Ｖ２を電流Ｉで除すことで、比較金属１３の電気抵抗Ｒ_ｒｅｆを求めることができる。

本実施形態では、後述するように、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆから計測金属１２の残存板厚を求める。残存板厚を正確に求めるためには、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆをできるだけ正確に計測することが好ましい。特に、腐食モニタリング装置１は、直射日光や放射熱の影響を受ける屋外での使用を念頭に置いていることから、装置各部の温度差に起因する熱起電力や、外部電磁場により生じる誘導起電力が計測ノイズとして電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆの計測に大きく影響する。特に、直射日光など放射熱で加熱される場合、日光の当たり方や計測金属１２の腐食状態によっては、端子１２ａと端子１２ｂとの間、及び、端子１３ａと１３ｂとの間に温度差が生じやすくなる。この温度差による熱起電力は、ノイズとなって電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆの正確な計測の大きな妨げとなる。

以上のことから、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆを正確に計測するために、計測金属１２及び参照金属１３と配線２１ａ、２２ａ及び２３ａとの接続部分の熱起電力による計測ノイズを除去する対策を施すことが好ましい。熱起電力の影響を軽減するための具体的なノイズ対策法としては、（１）大きな測定電流で検出電圧を上げる、（２）測定電流のオフ時の電圧分をオン時の電圧から差し引いた値を電圧として計測する、（３）測定電流の極性を反転し、それぞれの場合の電圧の絶対値の平均値を電圧として計測する、（４）検出信号を交流（表皮効果を考慮し、１００ｋＨｚ以下の低周波域とすることが好ましい）にする、等が考えられる。

さらに、配線２１ａ、２２ａ及び２３ａとして、同軸ケーブル又は撚り線を採用することが好ましい。これにより、配線２１ａ、２２ａ及び２３ａによる外部電磁場が抵抗計測に与える影響を低減し、誘導起電力による計測ノイズを除去することができる。

上述した抵抗測定器２０の構成は例示である。腐食モニタリング装置１は、抵抗測定器２０に代えて、他の構成によって計測金属１２及び参照金属１３の電気抵抗を計測する抵抗測定器を備えていてもよい。抵抗測定器は例えば、計測金属１２及び参照金属１３に一定電圧を印加し、電流値から抵抗を計測するものであってもよい。

［制御装置の構成及び動作、並びに腐食モニタリング方法］
制御装置３０は、抵抗測定器２０を制御する。なお、抵抗測定器２０と制御装置３０とは、各々が独立した装置である必要はなく、一体化された装置であってもよい。

制御装置３０は、より具体的には、演算装置３１、記憶装置３２、及び駆動装置３３を含んでいる。演算装置３１は、記録装置３２に格納されたプログラムにしたがって、駆動装置３３を介して抵抗測定器２０を制御して、以下に説明する腐食モニタリング方法を実行する。

図３は、本発明の一実施形態による腐食モニタリング方法のフロー図である。この腐食モニタリング方法は、加熱工程（ステップＳ１）と、抵抗測定工程（ステップＳ２）とを備えている。

まず、計測金属１２及び参照金属１３に電流を流して、計測金属１２及び参照金属１３を加熱する（ステップＳ１）。具体的には、定電流電源２１を駆動して計測金属１２及び参照金属１３に所定の大きさの電流を流し、ジュール熱によって計測金属１２及び参照金属１３を加熱する。加熱工程の好ましい条件については後述する。

加熱工程後、抵抗測定器２０によって計測金属１２の電気抵抗Ｒ_ｍｅａ、及び参照金属１３の電気抵抗Ｒ_ｒｅｆを測定する（ステップＳ２）。

制御装置３０は、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆを記録する記録装置の役割を兼ねている。すなわち、制御装置３０は、抵抗測定器２０から図示しない入出力インターフェースを介して電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆを受け取り、必要に応じて演算装置３１による処理をした後、これを記憶装置３２に記録する。

計測金属１２の電気抵抗Ｒ_ｍｅａに加えて参照金属１３の電気抵抗Ｒ_ｒｅｆを記録しておくことで、測定環境の温度変化の影響を補償することができる。具体的には、参照金属１３の初期の厚さをｄ_０、計測金属１２の初期の電気抵抗をＲ_{ｍｅａ＿ｉｎｉｔ}、参照金属１３の初期の電気抵抗をＲ_{ｒｅｆ＿ｉｎｉｔ}としたとき、計測金属の板厚減少量Δｄは、下記の式から求めることができる。

なお、計測金属１２及び参照金属１３に一定電流を流し、電圧の変化から電気抵抗を測定する場合、計測金属の板厚減少量Δｄは、下記の式から求められる。ここで、Ｖ_ｍｅａ及びＶ_ｒｅｆはそれぞれ計測金属１２及び参照金属１３の電圧、Ｖ_{ｍｅａ_ｉｎｉｔ}及びＶ_{ｒｅｆ_ｉｎｉｔ}はそれぞれ計測金属１２及び参照金属１３の初期の電圧である。

［本実施形態の効果］
被覆部材１４で覆われた参照金属１３は、測定環境の温度変化に追随する速度が遅く、計測金属１２との温度差が大きくなる場合がある。そのため、特に温度変化の激しい測定環境においては、正確な温度補償が行えず、測定対象となる金属の耐食性を正確に評価できない場合がある。

本実施形態では、抵抗測定工程（ステップＳ２）の前に、加熱工程（ステップＳ１）を行う。これによって、以下に説明するように、計測金属１２と参照金属１３との温度差を小さくすることができる。

図４は、測定環境の温度が高くなる方向に変動したときの腐食センサ１０の温度分布を模式的に示す図である。

図４では、基板１０の裏面（計測金属１２や参照金属１３が形成されていない側の面）が十分に大きな構造物（例えば外壁材）に接しており、この構造物が熱浴として作用することで、基板１０の裏面の温度は短期的には一定（外壁材と同じ温度）であると仮定している。後掲の図５〜図７においても同様である。

以下、この基板１０の裏面の温度をＴ_ＯＵＴとし、測定環境の温度をＴ_ＩＮ、計測金属１２の温度をＴ_ｍｅａ、参照金属１３の温度をＴ_ｒｅｆとする。なお、「計測金属１２の温度」は計測金属１２の平均温度を意味するものとし、「参照金属１３の温度」は参照金属１３の平均温度を意味するものとする。

測定環境の温度Ｔ_ＩＮが高くなる方向に変動したとき（Ｔ_ＯＵＴ＜Ｔ_ＩＮのとき）、計測金属１２の温度Ｔ_ｍｅａ及び参照金属１３の温度Ｔ_ｒｅｆも上昇する。しかし、被覆部材１４の熱伝導率は金属である計測金属１２や参照金属１３の熱伝導率と比較して小さいため、参照金属１３の温度Ｔ_ｒｅｆは計測金属１２の温度Ｔ_ｍｅａよりも低くなる。

図５は、図４の状態から、計測金属１２及び参照金属１３に電流を流して、計測金属１２及び参照金属１３を加熱したときの温度分布を模式的に示す図である。

計測金属１２及び参照金属１３を加熱した場合、両者のいずれにおいても発熱量に対して放熱量が小さいため、金属自体はほぼ同じ温度に上昇する。そして、発熱量を高くすればするほど、計測金属１２と参照金属１３との温度差は次第に小さくなる。

図６は、測定環境の温度Ｔ_ＩＮが低くなる方向に変動したとき（Ｔ_ＯＵＴ＞Ｔ_ＩＮのとき）の腐食センサ１０の温度分布を模式的に示す図である。このとき、計測金属１２の温度Ｔ_ｍｅａ及び参照金属１３の温度Ｔ_ｒｅｆも低下する。しかし、被覆部材１４の熱伝導率は金属である計測金属１２や参照金属１３の熱伝導率と比較して小さいため、参照金属１３の温度Ｔ_ｒｅｆは計測金属１２の温度Ｔ_ｍｅａよりも高くなる。

図７は、図６の状態から、計測金属１２及び参照金属１３に電流を流して、計測金属１２及び参照金属１３を加熱したときの温度分布を模式的に示す図である。この場合も、図５の場合と同様の理由によって、計測金属１２と参照金属１３との温度差は次第に小さくなる。

以上のとおり、測定環境の温度Ｔ_ＩＮが高くなる方向に変動したとき（Ｔ_ＯＵＴ＜Ｔ_ＩＮのとき（図４））、及び測定環境の温度Ｔ_ＩＮが低くなる方向に変動したとき（Ｔ_ＯＵＴ＞Ｔ_ＩＮのとき（図６））のいずれにおいても、加熱工程（ステップＳ１）を行うことによって、計測金属１２と参照金属１３との温度差を小さくすることができる。

［加熱工程の条件］
計測金属１２と参照金属１３との温度差は、上記の原理から、計測金属１２及び参照金属１３の各々の温度上昇量を大きくする程小さくできる。そのため、加熱工程（ステップＳ２）では、計測金属１２及び参照金属１３の各々の温度を５℃以上上昇させることが好ましい。上昇させる温度は、より好ましくは１０℃以上であり、さらに好ましくは２０℃以上である。

加熱工程（ステップＳ２）では、計測金属１２と参照金属１３との温度差が５℃以下になるようにすることが好ましい。計測金属１２と参照金属１３との温度差は、より好ましくは３℃以下であり、さらに好ましくは１℃以下である。

計測金属１２及び参照金属１３の温度を所定量だけ上昇させるために必要な電流の大きさ及び時間は、計測金属１２及び参照金属１３の比抵抗、形状、密度、及び比熱から求めることができる。

金属の比抵抗をρ［Ω・ｍ］、幅をｗ［ｍ］、厚さをｚ［ｍ］、長さをＬ［ｍ］とする。この金属に電流Ｉ［Ａ］を時間ｔ［ｓ］だけ流した場合、発生するジュール熱Ｑ（Ｊ）は、下記の式で表すことができる。

金属の密度をｄ［ｋｇ／ｍ^３］、比熱をｃ［Ｊ／（ｋｇ・℃）］とすると、上昇する温度ΔＴ（℃）は、下記の式で表すことができる。

例えば、ρ＝１．８×１０^−７［Ω・ｍ］、ｄ＝７．８×１０^−３［ｋｇ／ｍ^３］、ｃ＝４６０［Ｊ／（ｋｇ・℃）］、ｗ＝１．０×１０^−３［ｍ］、ｚ＝０．０３×１０^−３［ｍ］としたとき、ΔＴを５℃以上にするためには、Ｉ^２ｔの値が約０．０９以上になるようにＩ及びｔを決めればよい。

加熱工程は、これに限定されないが、０．１Ａ以上の電流を１０秒間以上流すことが好ましい。電流の大きさは、より好ましくは０．２Ａ以上であり、さらに好ましくは０．５Ａ以上であり、さらに好ましくは１．０Ａ以上である。電流を流す時間は、より好ましくは２０秒間以上であり、さらに好ましくは３０秒間以上であり、さらに好ましくは６０秒間以上である。

以上、本発明の一実施形態による腐食モニタリング装置１、及び腐食モニタリング方法を説明した。本実施形態によれば、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定することができる。

上記の実施形態では、計測金属１２と参照金属１３とが同じ種類の金属である場合を説明した。計測金属１２と参照金属１３とは、同じ種類の金属であることが好ましいが、比抵抗の温度依存性に大きな差がなければ、異なる種類の金属であってもよい。

上記の実施形態では、計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂが被覆部材１４で覆われている場合を示した。しかし、端子１２a及び１２ｂは被覆部材１４とは別の被覆部材で覆われていてもよい。端子１２a及び１２ｂは例えば、絶縁テープで覆われていてもよい。

上記の実施形態では、制御装置３０が、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆを記録する記録装置の役割を兼ねている場合を説明した。しかし、腐食モニタリング装置は、制御装置３０とは別に記録装置を備えていてもよい。この場合の記録装置は、ディジタル方式のものでもよいし、アナログ方式のものでもよい。また、電気抵抗Ｒ_ｍｅａ及びＲ_ｒｅｆは、制御装置３０を介して記録装置に送信されるようにしてもよいし、制御装置３０を介さずに直接記録装置に送信されるようにしてもよい。

上記の実施形態では、制御装置３０が、抵抗測定器２０の定電流電源２１を駆動して、計測金属１２及び参照金属１３に所定の大きさの電流を流す場合を説明した。この構成は、追加の電源や切り替え回路等が不要であり、装置を複雑化せずに済むため好ましい。しかし、本実施形態による腐食モニタリング方法の加熱工程（ステップＳ２）において、抵抗測定器２０の定電流電源２１を用いて加熱することは必須ではなく、他の電源を用いて計測金属１２及び参照金属１３を加熱してもよい。

上記の実施形態では、腐食モニタリング装置１が制御装置３０を備え、制御装置３０が腐食モニタリング方法を実行する場合を説明した。しかし、本実施形態による腐食モニタリング方法は、作業者が手動で行ってもよい。その場合、腐食モニタリング装置１は、制御装置３０を備えていなくてもよい。

［腐食センサ１０の変形例］
図１に示した計測金属及び参照金属の形状は例示であって、計測金属及び参照金属は任意の形状であってよい。計測金属及び参照金属の形状は、以下に説明するとおり、測定の目的に応じて種々選択することができる。

図８は、腐食センサ１０の変形例である腐食センサ１０Ａの構成を模式的に示す図である。腐食センサ１０Ａは、腐食センサ１０（図１）の計測金属１２及び参照金属１３に代えて、計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａを備えている。計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａは、計測金属１２及び参照金属１３と比較して平面形状が異なっている。

計測金属及び参照金属は、幅（電流が流れる方向及び厚さ方向と垂直な方向の寸法）が狭いほど、あるいは長さ（電流が流れる方向に沿った寸法）が長いほど、測定精度を高くすることができる。すなわち、計測金属及び参照金属が細長い形状であるほど、測定精度が高くなる。そのため、計測金属及び参照金属を計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａのように長尺状（メアンダリング状）の形状とすることで、設置面積当たりの計測金属及び参照金属の長さを長くすることができ、測定精度を高くすることができる。

図９は、腐食センサ１０の他の変形例である腐食センサ１０Ｂの構成を模式的に示す図である。腐食センサ１０Ｂは、腐食センサ１０（図１）の計測金属１２及び参照金属１３に代えて、計測金属１２Ｂ及び参照金属１３Ｂを備えている。計測金属１２Ｂ及び参照金属１３Ｂは、一つの矩形板状の金属片から構成されている。このような矩形板状の形状にすることで、腐食センサ１０Ｂの構成をシンプルにすることができるとともに、局所的な腐食による影響を受けにくくすることができる。

以下、実施例によって本発明をより具体的に説明する。本発明はこれらの実施例に限定されない。

図９に示した腐食センサ１０Ｂと同様の構成を有する腐食センサを使用して、製鉄設備内で腐食モニタリングを行った。測定対象の金属（計測金属及び参照金属の材質）として、ＳＳ４００（一般構造用鋼）、ＳＵＳ３０４（オーステナイト系ステンレス鋼）、ＳＵＳ３１６（オーステナイト系ステンレス鋼）、及びＳ３２３０４（二相ステンレス鋼）を使用した。各金属の寸法は、幅１０ｍｍ×厚さ１ｍｍ×長さ２７０ｍｍとした。なお、電圧計測部の長さはそれぞれ８０ｍｍとした。

図１０は、測定前に通電加熱を行わずに抵抗測定をした場合における、測定環境の温度及び各金属の抵抗比（Ｒ_ｍｅａ／Ｒ_ｒｅｆ）の時間変化を示すグラフである。図１０から、抵抗比（Ｒ_ｍｅａ／Ｒ_ｒｅｆ）は、測定環境の温度変動の影響を強く受けていることが分かる。

次に、同じ腐食センサを使用して、３Ａの電流を５分間通電させた後、抵抗測定を行った。測定環境の温度が７３．６℃のときの結果を表１に、測定環境の温度が２７．０℃のときの測定結果を表２に、それぞれ示す。表１と表２との間で減肉量がほぼ同じ値になっていることから、温度による影響を正しく補正できていることが分かる。

以上、本発明の実施形態を説明したが、上述した実施形態は本発明を実施するための例示にすぎない。よって、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で、上述した実施形態を適宜変形して実施することが可能である。

１ 腐食モニタリング装置
１０，１０Ａ，１０Ｂ 腐食センサ
１１ 基板
１２，１２Ａ，１２Ｂ 計測金属
１３，１３Ａ，１３Ｂ 参照金属
１４ 被覆部材
２０ 抵抗測定器
２１ 定電流電源
２２，２３ 電圧計
３０ 制御装置
３１ 演算装置
３２ 駆動装置
３３ 記憶装置

Claims (6)

1. 測定環境に暴露される面を有する計測金属、及び前記測定環境から遮断された参照金属を含む腐食センサと、前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定器と、を用いた腐食モニタリング方法であって、
   前記計測金属及び前記参照金属に電流を流して、前記計測金属及び前記参照金属を加熱する加熱工程と、
   前記加熱工程後、前記抵抗測定器によって前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定工程と、を備える、腐食モニタリング方法。
2. 請求項１に記載の腐食モニタリング方法であって、
   前記抵抗測定工程は、前記計測金属及び前記参照金属に定電流を流し、前記計測金属及び前記参照金属の各々の電圧を測定する工程である、腐食モニタリング方法。
3. 請求項１又は２に記載の腐食モニタリング方法であって、
   前記加熱工程は、前記計測金属及び前記参照金属の各々の温度を５℃以上上昇させる、腐食モニタリング方法。
4. 請求項１〜３のいずれか一項に記載の腐食モニタリング方法であって、
   前記加熱工程は、前記計測金属の温度と前記参照金属の温度との差を５℃以下にする、腐食モニタリング方法。
5. 請求項１〜４のいずれか一項に記載の腐食モニタリング方法であって、
   前記加熱工程は、前記計測金属及び前記参照金属に０．１Ａ以上の電流を１０秒間以上流す、腐食モニタリング方法。
6. 測定環境に暴露される面を有する計測金属、及び前記測定環境から遮断された参照金属を含む腐食センサと、
   前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定器と、
   前記抵抗測器を制御する制御装置と、を備え、
   前記制御装置は、
   前記計測金属及び前記参照金属に電流を流して、前記計測金属及び前記参照金属を加熱する加熱工程と、
   前記加熱工程後、前記抵抗測定器によって前記計測金属及び前記参照金属の各々の電気抵抗を測定する抵抗測定工程と、を実行する、腐食モニタリング装置。

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