JP2002158421A - プリント基板における信号観測方法及びその装置 - Google Patents
プリント基板における信号観測方法及びその装置Info
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- JP2002158421A JP2002158421A JP2000354776A JP2000354776A JP2002158421A JP 2002158421 A JP2002158421 A JP 2002158421A JP 2000354776 A JP2000354776 A JP 2000354776A JP 2000354776 A JP2000354776 A JP 2000354776A JP 2002158421 A JP2002158421 A JP 2002158421A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 ジャンパー線を用いずにプリント基板上のパ
ターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行え、信
号観測を行う治具である棒材の構造が簡単でコストダウ
ンを図れるプリント基板における信号観測方法及び装置
を提供する。 【解決手段】 基板１上のパターン２に平面視略コ字形
の水平向きに凹んだパターン無し部３を設け、このパタ
ーン無し部３に所定間隔を置いて先端部分が食い込む平
面視凸形状の貫通穴４を形成して、下端に三方又は四方
に向けてバネ性導線５を設けた棒材６を、平面視凸形状
の貫通穴４の幅広部４ａに挿入した後に、この貫通穴４
の先端部分４ｂに棒材６を移動して、この棒材６の下端
のバネ性導線５をパターン２の平面視コ字形の凹んだパ
ターン無し部３を跨いでその三方のパターン２の端縁近
傍箇所のテストポイント部に接触させて導電状態を検査
し、その信号を観測するようにしたものである。
ターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行え、信
号観測を行う治具である棒材の構造が簡単でコストダウ
ンを図れるプリント基板における信号観測方法及び装置
を提供する。 【解決手段】 基板１上のパターン２に平面視略コ字形
の水平向きに凹んだパターン無し部３を設け、このパタ
ーン無し部３に所定間隔を置いて先端部分が食い込む平
面視凸形状の貫通穴４を形成して、下端に三方又は四方
に向けてバネ性導線５を設けた棒材６を、平面視凸形状
の貫通穴４の幅広部４ａに挿入した後に、この貫通穴４
の先端部分４ｂに棒材６を移動して、この棒材６の下端
のバネ性導線５をパターン２の平面視コ字形の凹んだパ
ターン無し部３を跨いでその三方のパターン２の端縁近
傍箇所のテストポイント部に接触させて導電状態を検査
し、その信号を観測するようにしたものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板上に
プリントされたパターンのテストポイント部の信号観測
を行うためのプリント基板における信号観測方法及びそ
の装置に関する。
プリントされたパターンのテストポイント部の信号観測
を行うためのプリント基板における信号観測方法及びそ
の装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のプリント基板における信
号観測方法は、ジャンパー線をプリント基板上のパター
ンに一本配置して、そこをライン治具及びプローグ等で
触って行っていた。ところが、これにおいては、ジャン
パー線を必要とするために、コスト高になるという問題
があった。
号観測方法は、ジャンパー線をプリント基板上のパター
ンに一本配置して、そこをライン治具及びプローグ等で
触って行っていた。ところが、これにおいては、ジャン
パー線を必要とするために、コスト高になるという問題
があった。
【０００３】また、実公昭５７−１２０２６０号公報に
は、プリント配線基板が記載されている。これは、図５
（ａ）（ｂ）、図６（ａ）（ｂ）に示すように、パター
ン面１０２に近接してテストポイント用治具１０５の挿
入用孔１０４を設けたものである。 ところが、これに
おいては、図５（ｂ）、図６（ｂ）に示すように、テス
トポイント用治具１０５の構造が複雑であり、これを制
作するのに費用が高くなるという問題があった。
は、プリント配線基板が記載されている。これは、図５
（ａ）（ｂ）、図６（ａ）（ｂ）に示すように、パター
ン面１０２に近接してテストポイント用治具１０５の挿
入用孔１０４を設けたものである。 ところが、これに
おいては、図５（ｂ）、図６（ｂ）に示すように、テス
トポイント用治具１０５の構造が複雑であり、これを制
作するのに費用が高くなるという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来の
問題を解消し、ジャンパー線を用いずにプリント基板上
のパターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行う
ことができ、信号観測を行うための治具である棒材の構
造が簡単でコストダウンを図ることができるプリント基
板における信号観測方法及び装置を提供することを目的
としている。
問題を解消し、ジャンパー線を用いずにプリント基板上
のパターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行う
ことができ、信号観測を行うための治具である棒材の構
造が簡単でコストダウンを図ることができるプリント基
板における信号観測方法及び装置を提供することを目的
としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために提案されたものであって、請求項１に記載
の発明は、基板上のパターンに平面視略コ字形の水平向
きに凹んだパターン無し部を設け、このパターン無し部
に所定間隔を置いて先端部分が食い込む平面視凸形状の
貫通穴を形成して、下端に三方又は四方に向けてバネ性
導線を設けた棒材を、前記平面視凸形状の貫通穴の幅広
部に挿入した後に、この貫通穴の先端部分に前記棒材を
移動して、この棒材の下端のバネ性導線を前記パターン
の平面視コ字形の凹んだパターン無し部を跨いでその三
方のパターンの端縁近傍箇所のテストポイント部に接触
させて導電状態を検査し、その信号を観測するようにし
たことを特徴としている。
決するために提案されたものであって、請求項１に記載
の発明は、基板上のパターンに平面視略コ字形の水平向
きに凹んだパターン無し部を設け、このパターン無し部
に所定間隔を置いて先端部分が食い込む平面視凸形状の
貫通穴を形成して、下端に三方又は四方に向けてバネ性
導線を設けた棒材を、前記平面視凸形状の貫通穴の幅広
部に挿入した後に、この貫通穴の先端部分に前記棒材を
移動して、この棒材の下端のバネ性導線を前記パターン
の平面視コ字形の凹んだパターン無し部を跨いでその三
方のパターンの端縁近傍箇所のテストポイント部に接触
させて導電状態を検査し、その信号を観測するようにし
たことを特徴としている。
【０００６】請求項２に記載の発明は、基板上のパター
ンに平面視略コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部
が設けられていて、このパターン無し部に所定間隔を置
いて先端部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴が
形成されており、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を前記平面視コ字形の貫通穴の幅広部に
挿入し、更に貫通穴の先端部分に移動して下端のバネ性
導線を前記パターンの三方のテストポイント部に接触さ
せることによって導電状態を検査して、その信号を観測
するように構成したことを特徴としている。請求項３に
記載の発明は、前記棒材が導体からなり、この棒材を介
して信号を観測するようにしたことを特徴としている。
ンに平面視略コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部
が設けられていて、このパターン無し部に所定間隔を置
いて先端部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴が
形成されており、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を前記平面視コ字形の貫通穴の幅広部に
挿入し、更に貫通穴の先端部分に移動して下端のバネ性
導線を前記パターンの三方のテストポイント部に接触さ
せることによって導電状態を検査して、その信号を観測
するように構成したことを特徴としている。請求項３に
記載の発明は、前記棒材が導体からなり、この棒材を介
して信号を観測するようにしたことを特徴としている。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るプリント基板
における信号観測方法及びその装置の実施の形態につい
て、図を参照しつつ説明する。図１は本発明の実施形態
のプリント基板における信号観測方法の初期工程を示
し、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はその縦断面図、図２
は実施形態のプリント基板における信号観測方法の途中
の工程を示す斜視図、図３は実施形態のプリント基板に
おける信号観測方法の信号観測中の工程を示し、（ａ）
はその斜視図、（ｂ）はその底面図、（ｃ）はその縦断
面図である。
における信号観測方法及びその装置の実施の形態につい
て、図を参照しつつ説明する。図１は本発明の実施形態
のプリント基板における信号観測方法の初期工程を示
し、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はその縦断面図、図２
は実施形態のプリント基板における信号観測方法の途中
の工程を示す斜視図、図３は実施形態のプリント基板に
おける信号観測方法の信号観測中の工程を示し、（ａ）
はその斜視図、（ｂ）はその底面図、（ｃ）はその縦断
面図である。
【０００８】本実施形態のプリント基板における信号観
測装置は、図１（ａ）（ｂ）、図２、図３（ａ）（ｂ）
（ｃ）に示すように、基板１上のパターン２に平面視略
コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部３が設けられ
ていて、このパターン無し部３に所定間隔を置いて先端
部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴４が形成さ
れており、下端に三方に向けてバネ性導線５を設けた棒
材６を平面視コ字形の貫通穴４の幅広部４ａに挿入し、
更に貫通穴４の先端部分４ｂに移動して下端のバネ性導
線５をパターン２の三方のテストポイント部２ａ、２
ｂ、２ｃに接触させることによって導電状態を検査し
て、その信号を観測するように構成している。
測装置は、図１（ａ）（ｂ）、図２、図３（ａ）（ｂ）
（ｃ）に示すように、基板１上のパターン２に平面視略
コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部３が設けられ
ていて、このパターン無し部３に所定間隔を置いて先端
部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴４が形成さ
れており、下端に三方に向けてバネ性導線５を設けた棒
材６を平面視コ字形の貫通穴４の幅広部４ａに挿入し、
更に貫通穴４の先端部分４ｂに移動して下端のバネ性導
線５をパターン２の三方のテストポイント部２ａ、２
ｂ、２ｃに接触させることによって導電状態を検査し
て、その信号を観測するように構成している。
【０００９】そして、その信号観測方法は、図１（ａ）
（ｂ）に示すように、基板１の平面視凸形状の貫通穴４
の幅広部４ａに、下端に三方に向けてバネ性導線５を設
けた棒材６を上側から挿入して図２に示す状態とし、こ
の状態から、図３（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、貫
通穴４の先端部分４ｂに棒材６を移動して、この棒材６
の下端の三方に向いたバネ性導線５をパターン２の平面
視コ字形の凹んだパターン無し部３を跨いでその三方の
パターン２の端縁近傍箇所のテストポイント部２ａ、２
ｂ、２ｃに接触させて導電状態を検査し、その信号を観
測する。尚、棒材６は導体からなることが好ましく、こ
の棒材６を介して信号を観測するとよい。
（ｂ）に示すように、基板１の平面視凸形状の貫通穴４
の幅広部４ａに、下端に三方に向けてバネ性導線５を設
けた棒材６を上側から挿入して図２に示す状態とし、こ
の状態から、図３（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、貫
通穴４の先端部分４ｂに棒材６を移動して、この棒材６
の下端の三方に向いたバネ性導線５をパターン２の平面
視コ字形の凹んだパターン無し部３を跨いでその三方の
パターン２の端縁近傍箇所のテストポイント部２ａ、２
ｂ、２ｃに接触させて導電状態を検査し、その信号を観
測する。尚、棒材６は導体からなることが好ましく、こ
の棒材６を介して信号を観測するとよい。
【００１０】図３は、棒材６にゴム輪７を上下移動可能
に取り付けて、棒材６の下端の三方に向いたバネ性導線
５を基板１上のパターン２の三方のテストポイント部２
ａ、２ｂ、２ｃに接触させているときに、このゴム輪７
を棒材６の下部側に移動して、バネ性導線５とこのゴム
輪７とで、基板１を挟むようにして、棒材６を基板１に
固定した状態で、三方のパターン２の端縁近傍箇所のテ
ストポイント部２ａ、２ｂ、２ｃの導電状態を検査し、
その信号を観測するようにしたものである。尚、金属か
らなる輪状体の内側に雌ネジを形成し、棒材６の周面に
雄ネジを形成して、輪状体を棒材６に嵌め込んだ状態
で、輪状体を回転して棒材６の下側に移動して棒材６を
基板１に固定させるように構成してもよい。
に取り付けて、棒材６の下端の三方に向いたバネ性導線
５を基板１上のパターン２の三方のテストポイント部２
ａ、２ｂ、２ｃに接触させているときに、このゴム輪７
を棒材６の下部側に移動して、バネ性導線５とこのゴム
輪７とで、基板１を挟むようにして、棒材６を基板１に
固定した状態で、三方のパターン２の端縁近傍箇所のテ
ストポイント部２ａ、２ｂ、２ｃの導電状態を検査し、
その信号を観測するようにしたものである。尚、金属か
らなる輪状体の内側に雌ネジを形成し、棒材６の周面に
雄ネジを形成して、輪状体を棒材６に嵌め込んだ状態
で、輪状体を回転して棒材６の下側に移動して棒材６を
基板１に固定させるように構成してもよい。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明は、基板上のパターンに平面視略コ字形の水平向き
に凹んだパターン無し部を設け、このパターン無し部に
所定間隔を置いて先端部分が食い込む平面視凸形状の貫
通穴を形成して、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を、平面視凸形状の貫通穴の幅広部に挿
入した後に、この貫通穴の先端部分に棒材を移動して、
この棒材の下端のバネ性導線をパターンの平面視コ字形
の凹んだパターン無し部を跨いでその三方のパターンの
端縁近傍箇所のテストポイント部に接触させて導電状態
を検査し、その信号を観測するようにしたものであるか
ら、以下に述べる効果を奏する。即ち、ジャンパー線を
用いずにプリント基板上のパターンのテストポイント部
の信号観測を簡単に行うことができ、信号観測を行うた
めの治具である棒材の構造が簡単でコストダウンを図る
ことができる、
発明は、基板上のパターンに平面視略コ字形の水平向き
に凹んだパターン無し部を設け、このパターン無し部に
所定間隔を置いて先端部分が食い込む平面視凸形状の貫
通穴を形成して、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を、平面視凸形状の貫通穴の幅広部に挿
入した後に、この貫通穴の先端部分に棒材を移動して、
この棒材の下端のバネ性導線をパターンの平面視コ字形
の凹んだパターン無し部を跨いでその三方のパターンの
端縁近傍箇所のテストポイント部に接触させて導電状態
を検査し、その信号を観測するようにしたものであるか
ら、以下に述べる効果を奏する。即ち、ジャンパー線を
用いずにプリント基板上のパターンのテストポイント部
の信号観測を簡単に行うことができ、信号観測を行うた
めの治具である棒材の構造が簡単でコストダウンを図る
ことができる、
【００１２】請求項２に記載の発明は、基板上のパター
ンに平面視略コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部
が設けられていて、このパターン無し部に所定間隔を置
いて先端部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴が
形成されており、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を平面視コ字形の貫通穴の幅広部に挿入
し、更に貫通穴の先端部分に移動して下端のバネ性導線
をパターンの三方のテストポイント部に接触させること
によって導電状態を検査して、その信号を観測するよう
に構成したものであるから、以下に述べる効果を奏す
る。即ち、ジャンパー線を用いずにプリント基板上のパ
ターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行うこと
ができ、信号観測を行うための治具である棒材の構造が
簡単でコストダウンを図ることができる
ンに平面視略コ字形の水平向きに凹んだパターン無し部
が設けられていて、このパターン無し部に所定間隔を置
いて先端部分が食い込むように平面視凸形状の貫通穴が
形成されており、下端に三方又は四方に向けてバネ性導
線を設けた棒材を平面視コ字形の貫通穴の幅広部に挿入
し、更に貫通穴の先端部分に移動して下端のバネ性導線
をパターンの三方のテストポイント部に接触させること
によって導電状態を検査して、その信号を観測するよう
に構成したものであるから、以下に述べる効果を奏す
る。即ち、ジャンパー線を用いずにプリント基板上のパ
ターンのテストポイント部の信号観測を簡単に行うこと
ができ、信号観測を行うための治具である棒材の構造が
簡単でコストダウンを図ることができる
【００１３】請求項３に記載の発明は、棒材が導体から
なり、この棒材を介して信号を観測するようにしたもの
であるから、棒材から直接信号を観測することができて
便利である。
なり、この棒材を介して信号を観測するようにしたもの
であるから、棒材から直接信号を観測することができて
便利である。
【図１】本発明の実施形態のプリント基板における信号
観測方法の初期工程を示し、（ａ）はその斜視図、
（ｂ）はその縦断面図である。
観測方法の初期工程を示し、（ａ）はその斜視図、
（ｂ）はその縦断面図である。
【図２】実施形態のプリント基板における信号観測方法
の途中の工程を示す斜視図である。
の途中の工程を示す斜視図である。
【図３】実施形態のプリント基板における信号観測方法
の信号観測中の工程を示し、（ａ）はその斜視図、
（ｂ）はその底面図、（ｃ）はその縦断面図である。
の信号観測中の工程を示し、（ａ）はその斜視図、
（ｂ）はその底面図、（ｃ）はその縦断面図である。
【図４】実施形態のプリント基板における信号観測装置
において、棒材にゴム輪を取り付けて、このゴム輪を棒
材の下側に移動して、棒材を基板に固定した状態を示す
縦断面図である。
において、棒材にゴム輪を取り付けて、このゴム輪を棒
材の下側に移動して、棒材を基板に固定した状態を示す
縦断面図である。
【図５】従来のプリント配線基板の一例を示し、（ａ）
はその平面図、（ｂ）はそのテストポイント治具の正面
図である。
はその平面図、（ｂ）はそのテストポイント治具の正面
図である。
【図６】従来のプリント配線基板の別例を示し、（ａ）
はその平面図、（ｂ）はそのテストポイント治具の正面
図である。
はその平面図、（ｂ）はそのテストポイント治具の正面
図である。
１ 基板 ２ パターン ２ａ、２ｂ、２ｃ テストポイント部 ３ パターン無し部 ４ 平面視凸形状の貫通穴 ４ａ 幅広部 ４ｂ 先端部分 ５ バネ性導線 ６ 棒材
Claims (3)
- 【請求項１】 基板上のパターンに平面視略コ字形の水
平向きに凹んだパターン無し部を設け、このパターン無
し部に所定間隔を置いて先端部分が食い込む平面視凸形
状の貫通穴を形成して、下端に三方又は四方に向けてバ
ネ性導線を設けた棒材を、前記平面視凸形状の貫通穴の
幅広部に挿入した後に、この貫通穴の先端部分に前記棒
材を移動して、この棒材の下端のバネ性導線を前記パタ
ーンの平面視コ字形の凹んだパターン無し部を跨いでそ
の三方のパターンの端縁近傍箇所のテストポイント部に
接触させて導電状態を検査し、その信号を観測するよう
にしたことを特徴とするプリント基板における信号観測
方法 - 【請求項２】 基板上のパターンに平面視略コ字形の水
平向きに凹んだパターン無し部が設けられていて、この
パターン無し部に所定間隔を置いて先端部分が食い込む
ように平面視凸形状の貫通穴が形成されており、下端に
三方又は四方に向けてバネ性導線を設けた棒材を前記平
面視コ字形の貫通穴の幅広部に挿入し、更に貫通穴の先
端部分に移動して下端のバネ性導線を前記パターンの三
方のテストポイント部に接触させることによって導電状
態を検査して、その信号を観測するように構成したこと
を特徴とするプリント基板における信号観測装置。 - 【請求項３】 前記棒材が導体からなり、この棒材を介
して信号を観測するようにしたことを特徴とする請求項
２に記載のプリント基板における信号観測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000354776A JP2002158421A (ja) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | プリント基板における信号観測方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000354776A JP2002158421A (ja) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | プリント基板における信号観測方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002158421A true JP2002158421A (ja) | 2002-05-31 |
Family
ID=18827302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000354776A Pending JP2002158421A (ja) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | プリント基板における信号観測方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002158421A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8780583B2 (en) | 2011-03-11 | 2014-07-15 | Funai Electric Co., Ltd. | Printed wiring board and electronic device |
-
2000
- 2000-11-21 JP JP2000354776A patent/JP2002158421A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8780583B2 (en) | 2011-03-11 | 2014-07-15 | Funai Electric Co., Ltd. | Printed wiring board and electronic device |
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