JP4698300B2 - 電気接続部材と電気接触子との接続構造および接続方法 - Google Patents

Description

本発明は、電気接続部材に所定の配列で設けられた複数の電気的接点にそれぞれ電気接触子を接続するための電気接続部材と電気接触子との接続構造および接続方法に関する。

従来から、例えば、電極パターンを有するプリント基板の回線を電気導通の有無により検査することが行われており、この場合、プリント基板に設けた電気的接点に検査装置の接触端子を接触させて検査を行っている（例えば、特許文献１）。このような検査装置では、多数の接触端子が移動可能な可動部に取り付けられており、その各接触端子に配線が接続されている。そして、配線の他端は固定部に設けられ接触端子から送られる検出信号を計測する計測部に接続されている。

また、このような配線は、一般に計測部に接続された接続部材と、接触端子に接続された接続部材とで構成され、計測部に接続された接続部材と接触子に接続された接続部材とはハンダにより接合されている。また、着脱可能な一対のコネクタを用い、計測部に接続された接続部材とコネクタの一方とをハンダ付けするとともに、接触子に接続された接続部材とコネクタの他方とをハンダ付けし、両コネクタを接続することにより計測部に接続された接続部材と接触子に接続された接続部材とを接続したものもある。
特開２００４−２１９３３７号公報

しかしながら、前述した従来の検査装置が備える接続構造では、多数の配線をハンダを用いて接続しているため、配線部分に大きなスペースが必要になるとともに、製造が煩雑になりコストが高くなるという問題がある。また、ハンダによる接合部分に接触不良が生じることがあるという問題や、接触不良が生じた場合の修復に大きな手間や費用がかかるという問題もある。また、コネクタを用いて計測部に接続された接続部材と接触端子に接続された接続部材とを接続した場合には、さらにコストが高くなるという問題が生じる。

本発明は、前述した問題に対処するためになされたもので、その目的は、小型化、低コスト化が図れるとともに、接続不良を無くすことのできる電気接続部材と電気接触子との接続構造および接続方法を提供することである。

前述した目的を達成するため、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造の構成上の特徴は、電気回路部と複数の電気接触子とを帯状の電気接続部材を介して電気的に接続するための電気接続部材と電気接触子との接続構造であって、スリットが形成された板体を備え、電気接続部材の一端側が板体の一方の面からスリットを挿通して板体の他方の面に固定される支持部材と、帯状の電気接続部材の少なくとも一端側に所定の配列で設置された複数の電気的接点と、複数の電気接触子が複数の電気的接点と対向する配列で取り付けられ、複数の電気接触子をそれぞれ対向する電気的接点に押圧接触させた状態で、板体の他方の面に対して固定される固定部材とを備えたことにある。

前述したように構成した本発明によれば、電気接触子と電気接続部材の電気的接点との接合をハンダを用いて行うのではなく、電気接触子を電気的接点に押圧接触させることにより電気的に接続するように構成している。そして、電気接触子が取り付けられた固定部材を電気接続部材に対して固定することにより、複数の電気接触子を対応する電気的接点に押圧接触させた状態を維持するようにしている。

この場合、電気接続部材が硬質のものであれば、固定部材を直接電気接続部材に固定してもよいし、例えば、電気接続部材を支持するための支持部材等を介して、固定部材を電気接続部材に固定してもよい。したがって、電気接触子の電気的接点への接続が簡単になるとともに確実な電気的接続が可能になる。また、電気接触子と電気的接点とを押圧接触させるだけであるため、電気接触子と電気的接点の接続部分のスペースが小さくて済むようになり装置の小型化が図れる。さらに、接続構造が単純になるとともに接続作業が簡単になるため低コスト化が図れる。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造の他の構成上の特徴は、電気接続部材およびスリットが複数個設けられ、固定部材に取り付けられた電気接触子が、複数の電気接続部材のそれぞれに対応するように所定の数ごとに配置されていることにある。この場合、複数個の電気接続部材は同一のもので構成することが好ましい。これによると、電気接続部材を共通する複数個の電気接続部材に分割して製作することができるため、製作コストを低減することができる。また、電気接触子は、１個の固定部材に分割した状態で取り付けてもよいし、電気接続部材の数に応じた固定部材を用い、各固定部材に所定数の電気接触子を取り付けてもよい。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造のさらに他の構成上の特徴は、電気接触子が、端部側にばね部材が収容された筒状または棒状の本体と、ばね部材によって本体の内部側から外部側に付勢された接触部とで構成されていることにある。これによると、接触部がばね部材の弾性によって電気的接点に押圧されるため、電気接触子と電気的接点との接続がより確実になる。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造のさらに他の構成上の特徴は、電気接続部材と電気接触子との接続構造が、検査対象物の導通検査または絶縁検査を行うための検査装置に含まれるものであり、電気接触子に検査プローブを接続したことにある。これによると、例えばプリント基板等の導通検査または絶縁検査を行うための検査装置に、小型で安価につく、より好ましい電気接続部材と電気接触子との接続構造を組み込むことができる。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造のさらに他の構成上の特徴は、電気接続部材がフレキシブル基板で構成されていることにある。これによると、電気接続部材が、例えばケーブルで構成された電気接続部材と比べて薄くなるため、電気接続部材を取り付けるためのスペースを小さくすることができ、装置の小型化が可能になる。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続方法の構成上の特徴は、電気回路部と複数の電気接触子とを帯状の電気接続部材を介して電気的に接続するための電気接続部材と電気接触子との接続方法であって、電気接続部材の少なくとも一端側に所定の配列で複数の電気的接点を設置する設置工程と、電気接続部材の一端側を、スリットが形成された板体の一方の面からスリットを挿通して板体の他方の面に固定する固定工程と、複数の電気接触子を板体の他方の面に位置する複数の電気的接点と対向する配列で固定部材に取り付ける取付工程と、固定部材に取り付けられた複数の電気接触子をそれぞれ対向する電気的接点に押圧接触させる押圧接触工程と、複数の電気接触子をそれぞれ対向する電気的接点に押圧接触させた状態で固定部材を板体に対して固定する固定工程とを備えたことにある。

また、この場合、電気接続部材を複数個設け、固定部材に取り付けられる電気接触子を、複数の電気接続部材のそれぞれに対応するように所定の数ごとに分割して配置することもできる。また、押圧接触工程における電気接触子と電気的接点との押圧接触を、ばね部材の弾性を利用して行うことができる。さらに、電気接触子に、検査対象物の導通検査または絶縁検査を行うための検査プローブを接続する接続工程を備えることもできる。また、電気接続部材を、一端側部分に複数の電気的接点が設けられた帯状のフレキシブル基板で構成し、フレキシブル基板の一端側部分を支持部材に取り付けることもできる。

（第１実施形態）
以下、本発明の第１実施形態を図面を用いて詳しく説明する。図１は同実施形態に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造２０を備えたプリント基板の検査装置１０の要部を示している。この検査装置１０は、検査対象物であるプリント基板１１に設けられた電極パターン（図示せず）が適正に導通または絶縁しているか否かを検査するための検査装置である。

そして、この検査装置１０は、プリント基板１１を設置するための設置装置（図示せず）と、移動装置（図示せず）に取り付けられ移動装置の駆動によってプリント基板１１の表面に沿って移動する検査プローブ治具１２と、検査装置１０が備える各装置を制御するための制御装置を含む検査装置本体１３と、検査装置本体１３と検査プローブ治具１２とを接続する接続構造２０とで構成されている。なお、検査装置本体１３は、本発明の電気回路部を構成する。

また、プリント基板１１の表面には、電極パターンとその電極パターンに導通する複数の電気的接点１１ａが設けられており、このプリント基板１１は、テンションを掛けられ平面状に張られた状態で四隅を把持されて設置装置の所定の設置位置に固定されている。そして、検査プローブ治具１２は、移動装置の駆動によって、プリント基板１１の上面における左右方向、前後方向、プリント基板１１の上下面に直交する方向およびプリント基板１１の上下面に直交する所定の軸の軸周りの方向にそれぞれ移動可能または回転可能になっている。

この検査プローブ治具１２は、図２に示したように、矩形の治具本体１２ａの前面の上端縁部に前方に突出する枠状の把持部１２ｂを取り付けて構成されている。そして、治具本体１２ａの下部には、複数の検査プローブ１４が間隔を保って取り付けられ、治具本体１２ａの上面には、検査プローブ１４に接続された電極部（図示せず）が間隔を保って配置されている。また、検査プローブ１４は細い針状に形成されており、各検査プローブ１４の下端部は、検査プローブ治具１２の下面から下方に向って僅かに突出している。

この検査プローブ１４は、検査プローブ治具１２の移動によって、プリント基板１１の電気的接点１１ａに接触する。そして、検査プローブ１４が電気的接点１１ａに接触したときに各検査プローブ１４間が通電され、その電気抵抗値の大小によってプリント基板１１の電極パターンが適正に導通しているか否かが判定される。この場合、検出信号が、検査プローブ１４から電極部および接続構造２０を介して検査装置本体１３に送信される。

また、予め良品のプリント基板１１の電気抵抗値をもとにして検査判定閾値が設定されており、検出した電気抵抗値の検査判定閾値に対する比率で検査したプリント基板１１の良否の判定が行われる。このとき、検査が導通検査である場合には、検出した電気抵抗値が検査判定閾値に対して所定比率以下であれば、良品と判定し、所定比率以上であれば不良品と判定する。また、検査が絶縁検査である場合には、検出した電気抵抗値が検査判定閾値に対して所定比率以上であれば、良品と判定し、所定比率以下であれば不良品と判定する。

また、検査プローブ治具１２の上面に設けられた電極部は、所定数のグループごとに分割されて配置されている。この場合、図２の検査プローブ治具１２の上面（図示せず）における左右方向に直線状に並べた１６個の電極部の列を前後に平行する４列にして合計６４個の電極部で１つのグループが形成されている。そして、このグループを前後に平行させて１２グループ並べ、さらにその１２グループの列を左右に２列配置して、合計２４のグループからなる電極部が形成されている。なお、この電極部の配置は、後述する図７に示したパッド部４４の電気的接点４７の配置と同様になる。

また、治具本体１２ａの左右の両側部の上端側部分には、それぞれ外部に向って突出した突条１６ａ，１６ｂが側部の前後方向に延びるように形成され、その前後方向の略中央の外部側に、位置決め用の切欠き部（図示せず）が形成されている。さらに、治具本体１２ａの上面の左右方向における中央部の前部側と後部側に、上方に突出する位置決め用のピン（図示せず）がそれぞれ設けられている。

このように構成された検査プローブ治具１２は、図２に示したヘッド部２１に着脱可能な状態で取り付けられている。このヘッド部２１は、接続構造２０の一部を構成するもので、検査プローブ治具１２が取り付けられる取付部２２と、本発明の固定部材としてのプローブブロック２３と、本発明の支持部材としての接続用ブロック２４とで構成されている。そして、取付部２２は、間隔を保った状態で対向して配置された左右対称の側枠部２２ａ，２２ｂと、側枠部２２ａ，２２ｂの後端部を連結する連結部（図示せず）とからなる前部が開放された枠体で構成されている。

また、側枠部２２ａ，２２ｂの内面には、それぞれ検査プローブ治具１２の突条１６ａ，１６ｂがスライド可能な状態で係合できる溝状レール２５ａ，２５ｂが前後方向に形成されている。そして、側枠部２２ａ，２２ｂの前後方向の略中央には、位置決め用のプランジャ（図示せず）がそれぞれ先端部を溝状レール２５ａ，２５ｂの表面（底面）から突出可能にして設けられている。このプランジャの先端部は、ばね部材によって外部側（溝状レール２５ａ，２５ｂの表面側）に付勢されている。

このため、検査プローブ治具１２の突条１６ａ，１６ｂを溝状レール２５ａ，２５ｂに位置決めした状態で検査プローブ治具１２を取付部２２内に押し込むと、プランジャの先端部は、突条１６ａ，１６ｂによって押されて溝状レール２５ａ，２５ｂの表面位置に後退し、切欠き部と対向したときに、溝状レール２５ａ，２５ｂの表面から突出して切欠き部に係合する。これによって、検査プローブ治具１２は、取付部２２内で切欠き部がプランジャの先端部と係合する位置に位置決めされる。また、連結部の両側部分には、それぞれ装着確認スイッチ（図示せず）が設けられている。この装着確認スイッチによって取付部２２に検査プローブ治具１２が取り付けられているか否かの確認を行うことができる。

プローブブロック２３は、内部に複数の電気接触子２８が所定間隔を保った状態で取り付けられたブロック体で構成されている。電気接触子２８は、図３に示したように、両端部分に収容凹部２９ａ，２９ｂが形成された棒状の本体２９と、収容凹部２９ａ，２９ｂ内にそれぞれ設けられた棒状の接触部３１ａ，３１ｂと、収容凹部２９ａ，２９ｂ内に配置され一端が本体２９に固定され、他端が接触部３１ａ，３１ｂに固定されて、接触部３１ａ，３１ｂを収容凹部２９ａ，２９ｂから進退可能な状態で支持するばね部材３２ａ，３２ｂとで構成されている。

プローブブロック２３は、このように構成された複数の電気接触子２８を、接触部３１ａを下面から突出させ、接触部３１ｂを上面から突出させた状態で保持している。また、電気接触子２８は、検査プローブ治具１２の電極部に接触できるように、電極部と同じ配列に配置されている。さらに、プローブブロック２３の両側部分には、図４に示したように、下方に延びる軸部３３ａ，３３ｂが設けられており、前述した取付部２２はこの軸部３３ａ，３３ｂに沿って上下に移動可能な状態で取り付けられている。

なお、取付部２２にはエアシリンダ（図示せず）が設けられており、エアシリンダの駆動によって、取付部２２はプローブブロック２３に対して進退する。取付部２２が下方に位置している場合には、図４に示した状態になり、取付部２２が上方に位置した場合には、図２に示した状態になる。そして、取付部２２が上方に位置したときに、検査プローブ治具１２の電極部は、プローブブロック２３の電気接触子２８に接触する。また、プローブブロック２３の上面には、図５および図６に示したように、複数の位置決め用の凹部３４が所定間隔を保って設けられ、プローブブロック２３の両側には、複数のねじ挿通穴３５が所定間隔を保って設けられている。

接続用ブロック２４は、下板２４ａと上板２４ｂとで構成されている。そして、下板２４ａは、図５ないし図７に示したように複数のスリット３６が形成された板体で構成されている。このスリット３６は、検査プローブ治具１２の上面に形成された電極部の各グループと同じ間隔を保ち同じ配列で２４個設けられている。そして、下板２４ａの下面には、プローブブロック２３の凹部３４と係合可能な複数の位置決めピン３７が設けられ、下板２４ａの両側には、複数のねじ穴３８が間隔を保って設けられている。

上板２４ｂは、平面視が下板２４ａの外形と略同形の板体で構成されており、下板２４ａの上面に重ねたときに、下面におけるスリット３６に対向する部分が空間部になるように挿通用凹部３９が形成されている。この挿通用凹部３９は、重なった状態の下板２４ａと上板２４ｂとの一方（図５および図６の右側）が開口し、その他の部分は閉塞されている。この挿通用凹部３９およびスリット３６を同一構造からなる複数のフレキシブル基板４１の一端側部分が挿通して接続用ブロック２４の下面に固定されている。

また、この接続用ブロック２４の下面には、図６に示したように、ボルト４２を介してプローブブロック２３が固定される。ボルト４２は、プローブブロック２３のねじ挿通穴３５を挿通し、下板２４ａのねじ穴３８に係合することにより、プローブブロック２３を接続用ブロック２４に固定する。その際、接続用ブロック２４とプローブブロック２３との間にはスペーサ４３が取り付けられる。このスペーサ４３の中央部には穴部４３ａが形成されており、ボルト４２は、この穴部４３ａ内を挿通している。

フレキシブル基板４１は、図８（ａ），（ｂ）に示したように構成されており、接続用ブロック２４に取り付けられるパッド部４４と、帯状の配線部４５と、検査装置本体１３に接続されるランド部４６とで構成されている。そして、パッド部４４の表面には、検査プローブ治具１２の電極部の１つのグループと同じ配列に配置された６４個の電気的接点４７が形成されている。この電気的接点４７は、配線部４５に設けられた各配線４５ａの端子部分を構成する。

また、パッド部４４の両側部分には、下板２４ａの位置決めピン３７が挿通できる位置決め穴４４ａ，４４ｂが形成されている。パッド部４４は、位置決め穴４４ａ，４４ｂに位置決めピン３７を挿通させた状態で、プローブブロック２３と接続用ブロック２４とに挟まれて固定される。また、ランド部４６の表面には、コネクタ４８が取り付けられており、このコネクタ４８を介して、フレキシブル基板４１は、検査装置本体１３に接続される。また、この検査装置１０では、２４個のフレキシブル基板４１が用いられており、各フレキシブル基板４１は、図７に示したようにして接続用ブロック２４に取り付けられている。

すなわち、各フレキシブル基板４１のパッド部４４は、接続用ブロック２４の側面から挿通用凹部３９内に入り、所定のスリット３６を通過して接続用ブロック２４の下面から突出する。そして、接続用ブロック２４の下面に沿うように折り曲げられて、位置決め穴４４ａ，４４ｂに位置決めピン３７を挿通させる。また、検査装置本体１３は、検査プローブ１４から送られてくる検出信号を計測する回路からなる計測部や、制御装置等の各装置を備えている。計測部は、フレキシブル基板４１等からなる接続構造２０を介して検査プローブ１４に検査信号を出力するとともに、検査プローブ１４を介してプリント基板１１を通ったのちに戻ってくる検出信号を入力する。

制御装置は、ＣＰＵ，ＲＯＭおよびＲＡＭを備えており、ＲＯＭには、設置装置や移動装置を作動させるためのプログラム等の各種のプログラムが記憶されている。また、ＲＡＭには、前述した検出信号等、導通検査を行うために必要な各種のデータが書き換え可能に記憶されている。ＣＰＵは、ＲＯＭおよびＲＡＭが記憶する各種のプログラムやデータに基づいて、検査装置１０を制御するとともに、計測部が計測した計測結果から検査結果の判定を行う。また、この検査装置１０は、操作者が各操作を行うための操作パネルや、検査結果を表示するための表示パネルも備えている。

この構成において、検査装置１０を用いてプリント基板１１の導通検査を行う場合には、まず、所定のフレキシブル基板４１のパッド部４４を接続用ブロック２４に取り付けるとともに、接続用ブロック２４にプローブブロック２３を取り付けて、フレキシブル基板４１のパッド部４４を固定する。ついで、フレキシブル基板４１のランド部４６をコネクタ４８を介して検査装置本体１３に接続する。つぎに、ヘッド部２１の取付部２２に検査プローブ治具１２を挿し込んで取り付ける。そして、プリント基板１１を、設置装置に設置する。

ついで、移動装置を駆動させることによりヘッド部２１を移動させて、検査プローブ治具１２をプリント基板１１の所定の電気的接点１１ａの上方に移動させる。つぎに、検査プローブ治具１２をヘッド部２１とともに下降させて、検査プローブ１４を電気的接点１１ａに接触させる。この状態でプリント基板１１の電極パターンの電気検査が行われる。また、プリント基板１１におけるつぎの検査部分の電気検査を行う場合には、再度各移動装置を駆動させることにより、ヘッド部２１を上昇させるとともに、つぎの検査位置に移動させる。そして、検査プローブ治具１２を下降させてその部分の電気検査を行う。そして、前述した操作を順次繰り返していくことにより、プリント基板１１における全ての電気的接点１１ａの検査を行う。

このように、本実施形態に係る検査装置１０が備える接続構造２０では、電気接触子２８とフレキシブル基板４１の電気的接点４７との接合をハンダを用いて行うのではなく、電気接触子２８を電気的接点４７に押圧接触させることにより電気的に接続するように構成している。そして、電気接触子２８が取り付けられたプローブブロック２３とフレキシブル基板４１のパッド部４４が取り付けられた接続用ブロック２４とをボルト４２で固定することにより、電気接触子２８と電気的接点４７との接触状態を維持するようにしている。

したがって、電気接触子２８をフレキシブル基板４１の電気的接点４７に接続させるための作業が簡単になるとともに確実な電気的接続が可能になる。また、電気接触子２８と電気的接点４７の接続部分のスペースが小さくて済むため接続構造２０および検査装置１０の小型化が図れる。さらに、接続構造２０の構造が単純になるとともに電気接触子２８を電気的接点４７に接続させるための作業が簡単になるため低コスト化が図れる。

また、電気接触子２８の両端部が、ばね部材３２ａ，３２ｂによって外部側に付勢された接触部３１ａ，３１ｂで構成されているため、電気接触子２８と電気的接点４７との接続がより確実になる。さらに、電極部や電気接触子２８が所定数のグループに区分され、各グループの電気接触子２８にそれぞれ、１個のフレキシブル基板４１の電気的接点４７が接続されるため、フレキシブル基板４１と電気接触子２８との接続がし易くなる。また、複数個のフレキシブル基板４１が同一構造のもので構成されているため、製造が容易になり低コスト化が図れる。すなわち、１個の大きなフレキシブル基板を用いるより、同じ構造の複数のフレキシブル基板に分割して用いた方が、フレキシブル基板の製造コストが安価になる。

（第２実施形態）
図９は、本発明の第２実施形態に係る接続構造２０ａを備えた検査装置１０ａを示している。前述した接続構造２０では、取付部２２に取り付けられた検査プローブ治具１２を取付部２２とともに上昇させることにより、検査プローブ治具１２に設けられた電極部とプローブブロック２３に取り付けられた電気接触子２８とを接触させるようになっているが、この接続構造２０ａでは、電極部と電気接触子２８とを予め接触させた状態で検査プローブ治具１２、取付部２２およびプローブブロック２３が組み付けられている。

そして、プローブブロック２３を検査プローブ治具１２および取付部２２とともに、接続用ブロック２４に接近させることにより、電気接触子２８と、フレキシブル基板４１の電気的接点４７とを接触させる構成になっている。この接続構造２０ａを備えた検査装置１０ａのそれ以外の部分の構成については、前述した検査装置１０と同一である。したがって、同一部分に同一符号を記して説明は省略する。

この接続構造５０によれば、検査プローブ１４に接続された電極部に、プローブブロック２３の電気接触子２８の機能を持たせることができ、装置の小型化は可能になる。この接続構造２０ａを備えた検査装置１０ａのそれ以外の作用効果については、前述した検査装置１０と同様である。

（第３実施形態）
図１０は、本発明の第３実施形態に係る接続構造５０を備えた検査装置１０ｂを示している。この接続構造５０では、前述した第１実施形態の接続構造２０のプローブブロック２３と、接続用ブロック２４との間に、プローブブロック２３と同様の接続用プローブブロック５３を設けている。この接続構造５０を備えた検査装置１０ｂのそれ以外の部分の構成については、前述した第１実施形態の検査装置１０と同一である。したがって、同一部分に同一符号を記して説明は省略する。

この接続構造５０によれば、予め、フレキシブル基板４１を接続用ブロック２４と接続用プローブブロック５３とに取り付けておくとともに、検査プローブ治具１２を取付部２２を介してプローブブロック２３に取り付けておき、プローブブロック２３と接続用プローブブロック５３とをねじ部材等によって固定することにより、ヘッド部の組み付けができる。このため組み付けの操作が簡単になる。この接続構造５０を備えた検査装置１０ｂのそれ以外の作用効果については、前述した検査装置１０と同様である。

また、本発明に係る電気接続部材と電気接触子との接続構造および接続方法は、前述した実施形態に限定するものでなく、適宜変更して実施することができる。例えば、前述した実施形態では、電気接続部材をフレキシブル基板４１としたが、この電気接続部材としては、リジット基板を用いてもよい。この場合、接続用ブロック２４を省略して、プローブブロック２３や接続用プローブブロック５３を直接電気接続部材に固定することもできる。

また、前述した実施形態では、電気接触子２８の両端に、ばね部材３２ａ，３２ｂによって外部側に付勢された接触部３１ａ，３１ｂを設けているが、この電気接触子としては、ばね部材等を含まない棒状のもので構成してもよいし、一方の端部にだけ、ばね部材で付勢された接触部を設けてもよい。さらに、電気接触子の本体は、棒状でなく全体が筒状になったものを用いてもよい。また、接続構造や検査装置を構成するそれ以外の部分の構成についても適宜変更することができる。さらに、本発明に係る接続構造は、導通検査や絶縁検査を行うための装置以外の装置に設けることもできる。

本発明の第１実施形態に係る接続構造を備えた検査装置の要部を示した概略構成図である。 ヘッド部に検査プローブ治具を取り付けた状態を示した一部切欠き断面図である。 電気接触子を示した断面図である。 検査プローブ治具の電極部とヘッド部の電気接触子とを接触させる状態を示した一部切欠き断面図である。 接続用ブロックとプローブブロックとを組み付けた状態を示した断面図である。 接続用ブロックにプローブブロックを組み付ける状態を示した断面図である。 接続用ブロックの上板を示した平面図である。 フレキシブル基板を示しており、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。 本発明の第２実施形態に係る接続構造を備えた検査装置の要部を示した概略構成図である。 本発明の第３実施形態に係る接続構造を備えた検査装置の要部を示した概略構成図である。

符号の説明

１０，１０ａ…検査装置、１１…プリント基板、１４…検査プローブ、２０，５０…接続構造、２３…プローブブロック、２４…接続用ブロック、２８…電気接触子、２９…本体、２９ａ，２９ｂ…収容凹部、３１ａ，３１ｂ…接触部、３２ａ，３２ｂ…ばね部材、４１…フレキシブル基板、４４…パッド部、４７…電気的接点、５３…接続用プローブブロック。

Claims (6)

1. 電気回路部と複数の電気接触子とを帯状の電気接続部材を介して電気的に接続するための電気接続部材と電気接触子との接続構造であって、
   スリットが形成された板体を備え、前記電気接続部材の一端側が前記板体の一方の面から前記スリットを挿通して前記板体の他方の面に固定される支持部材と、
   前記帯状の電気接続部材の少なくとも一端側に所定の配列で設置された複数の電気的接点と、
   前記複数の電気接触子が前記複数の電気的接点と対向する配列で取り付けられ、前記複数の電気接触子をそれぞれ対向する前記電気的接点に押圧接触させた状態で、前記板体の他方の面に対して固定される固定部材と
   を備えたことを特徴とする電気接続部材と電気接触子との接続構造。
2. 前記電気接続部材および前記スリットが複数個設けられ、前記固定部材に取り付けられた電気接触子が、前記複数の電気接続部材のそれぞれに対応するように所定の数ごとに配置されている請求項１に記載の電気接続部材と電気接触子との接続構造。
3. 前記電気接触子が、端部側にばね部材が収容された筒状または棒状の本体と、前記ばね部材によって前記本体の内部側から外部側に付勢された接触部とで構成されている請求項１または２に記載の電気接続部材と電気接触子との接続構造。
4. 前記電気接続部材と電気接触子との接続構造が、検査対象物の導通検査または絶縁検査を行うための検査装置に含まれるものであり、前記電気接触子に検査プローブを接続した請求項１ないし３のうちのいずれか一つに記載の電気接続部材と電気接触子との接続構造。
5. 前記電気接続部材がフレキシブル基板で構成されている請求項１ないし４のうちのいずれか一つに記載の電気接続部材と電気接触子との接続構造。
6. 電気回路部と複数の電気接触子とを帯状の電気接続部材を介して電気的に接続するための電気接続部材と電気接触子との接続方法であって、
   前記電気接続部材の少なくとも一端側に所定の配列で複数の電気的接点を設置する設置工程と、
   前記電気接続部材の一端側を、スリットが形成された板体の一方の面から前記スリットを挿通して前記板体の他方の面に固定する固定工程と、
   複数の電気接触子を前記板体の他方の面に位置する前記複数の電気的接点と対向する配列で固定部材に取り付ける取付工程と、
   前記固定部材に取り付けられた複数の電気接触子をそれぞれ対向する前記電気的接点に押圧接触させる押圧接触工程と、
   前記複数の電気接触子をそれぞれ対向する前記電気的接点に押圧接触させた状態で前記固定部材を前記板体に対して固定する固定工程と
   を備えたことを特徴とする電気接続部材と電気接触子との接続方法。

Images