JP2002158053A - 圧接挟持型コネクタ及びその接続構造 - Google Patents
圧接挟持型コネクタ及びその接続構造Info
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- JP2002158053A JP2002158053A JP2000354805A JP2000354805A JP2002158053A JP 2002158053 A JP2002158053 A JP 2002158053A JP 2000354805 A JP2000354805 A JP 2000354805A JP 2000354805 A JP2000354805 A JP 2000354805A JP 2002158053 A JP2002158053 A JP 2002158053A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 位置決め精度やアセンブリ性を向上させ、高
さ寸法を小さくして導通経路を短縮し、低荷重で接続可
能な圧接挟持型コネクタ及びその接続構造を提供する。 【解決手段】 絶縁性のハウジング20と、ハウジング
20の複数の貫通孔23にハウジング下面からスライド
可能に嵌通される導電トーピン28と、各貫通孔23に
ハウジング上面からスライド可能に嵌通されて導電トー
ピン28に嵌合する導電ピン30と、各貫通孔23に嵌
合されて導電トーピン28の開口上端部に支持され、導
電ピン30に貫通されるコイルスプリング32とを備え
る。ハウジング上面側に位置する各貫通孔23の上端部
を小径孔27に形成し、各導電ピン30の周面に、貫通
孔23の拡径孔26と小径孔27の段差に規制される係
止フランジ31を形成し、係止フランジ31にコイルス
プリング32を接触させる。
さ寸法を小さくして導通経路を短縮し、低荷重で接続可
能な圧接挟持型コネクタ及びその接続構造を提供する。 【解決手段】 絶縁性のハウジング20と、ハウジング
20の複数の貫通孔23にハウジング下面からスライド
可能に嵌通される導電トーピン28と、各貫通孔23に
ハウジング上面からスライド可能に嵌通されて導電トー
ピン28に嵌合する導電ピン30と、各貫通孔23に嵌
合されて導電トーピン28の開口上端部に支持され、導
電ピン30に貫通されるコイルスプリング32とを備え
る。ハウジング上面側に位置する各貫通孔23の上端部
を小径孔27に形成し、各導電ピン30の周面に、貫通
孔23の拡径孔26と小径孔27の段差に規制される係
止フランジ31を形成し、係止フランジ31にコイルス
プリング32を接触させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路基板と液
晶モジュール、電子回路基板と電子回路基板、電子回路
基板と各種ICパッケージ、電子回路基板と携帯電話用
のマイクやスピーカ等との電気的な接続に用いられる圧
接挟持型コネクタ及びその接続構造に関するものであ
る。
晶モジュール、電子回路基板と電子回路基板、電子回路
基板と各種ICパッケージ、電子回路基板と携帯電話用
のマイクやスピーカ等との電気的な接続に用いられる圧
接挟持型コネクタ及びその接続構造に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、携帯電話用の電子回路基板と液晶
モジュールとを電気的に導通する場合には、図示しない
が、断面略半小判形あるいは断面略U字を呈した弾性エ
ラストマーの湾曲面に複数本の金属細線を一列に並べ備
えた圧接挟持型コネクタを使用したり、又は特開平7‐
161401号公報の電気接続用コネクタピンを使用し
ている。
モジュールとを電気的に導通する場合には、図示しない
が、断面略半小判形あるいは断面略U字を呈した弾性エ
ラストマーの湾曲面に複数本の金属細線を一列に並べ備
えた圧接挟持型コネクタを使用したり、又は特開平7‐
161401号公報の電気接続用コネクタピンを使用し
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来に
おける圧接挟持型コネクタや電気接続用コネクタピン
は、ホルダを省略した状態で電子回路基板と液晶モジュ
ールとの間に単に介在されるので、電子回路基板自体に
実装することができず、位置決め精度やアセンブリ(a
ssembly)性の悪化を招くおそれが少なくない。
また、近年における携帯電話の薄型化、軽量化、小型化
に伴い、圧接挟持型コネクタや電気接続用コネクタピン
の高さ寸法を小さくする必要があるが、高さ寸法(現在
は5mm程度)を支障なく小さくするのは非常に困難で
あり、これにより導通経路の短縮を図ることもできな
い。さらに、低荷重で接続することもきわめて困難であ
るという問題がある。
おける圧接挟持型コネクタや電気接続用コネクタピン
は、ホルダを省略した状態で電子回路基板と液晶モジュ
ールとの間に単に介在されるので、電子回路基板自体に
実装することができず、位置決め精度やアセンブリ(a
ssembly)性の悪化を招くおそれが少なくない。
また、近年における携帯電話の薄型化、軽量化、小型化
に伴い、圧接挟持型コネクタや電気接続用コネクタピン
の高さ寸法を小さくする必要があるが、高さ寸法(現在
は5mm程度)を支障なく小さくするのは非常に困難で
あり、これにより導通経路の短縮を図ることもできな
い。さらに、低荷重で接続することもきわめて困難であ
るという問題がある。
【0004】本発明は、上記に鑑みなされたもので、位
置決め精度やアセンブリ性を向上させ、高さ寸法を小さ
くして導通経路を短縮し、しかも、低荷重の接続をも可
能とする圧接挟持型コネクタ及びその接続構造を提供す
ることを目的としている。
置決め精度やアセンブリ性を向上させ、高さ寸法を小さ
くして導通経路を短縮し、しかも、低荷重の接続をも可
能とする圧接挟持型コネクタ及びその接続構造を提供す
ることを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明にお
いては、上記課題を達成するため、絶縁性のハウジング
と、このハウジングの厚さ方向に設けられる複数の貫通
孔と、各貫通孔に該ハウジングの一面側からスライド可
能に嵌められる略キャップ状の導電トーピンと、各貫通
孔に該ハウジングの他面側からスライド可能に嵌められ
て該導電トーピン内に嵌まる導電ピンと、各貫通孔に嵌
められて該導電トーピンの開口端部に接触し、上記導電
ピンに貫通されるスプリングとを含んでなるものであっ
て、上記ハウジングの他面側に位置する上記各貫通孔の
端部を小径孔に形成し、各導電ピンの周面に、上記貫通
孔と上記小径孔との段差に規制される係止フランジを形
成するとともに、この係止フランジに上記スプリングの
自由端部を接触させ、このスプリングの付勢力で上記導
電トーピンと上記導電ピンとを上記ハウジングからそれ
ぞれ突出させるようにしたことを特徴としている。
いては、上記課題を達成するため、絶縁性のハウジング
と、このハウジングの厚さ方向に設けられる複数の貫通
孔と、各貫通孔に該ハウジングの一面側からスライド可
能に嵌められる略キャップ状の導電トーピンと、各貫通
孔に該ハウジングの他面側からスライド可能に嵌められ
て該導電トーピン内に嵌まる導電ピンと、各貫通孔に嵌
められて該導電トーピンの開口端部に接触し、上記導電
ピンに貫通されるスプリングとを含んでなるものであっ
て、上記ハウジングの他面側に位置する上記各貫通孔の
端部を小径孔に形成し、各導電ピンの周面に、上記貫通
孔と上記小径孔との段差に規制される係止フランジを形
成するとともに、この係止フランジに上記スプリングの
自由端部を接触させ、このスプリングの付勢力で上記導
電トーピンと上記導電ピンとを上記ハウジングからそれ
ぞれ突出させるようにしたことを特徴としている。
【0006】なお、上記ハウジングの一面側に位置する
上記各貫通孔の端部を縮径孔に形成し、各導電トーピン
の外周面に、上記貫通孔と上記縮径孔との段差に規制さ
れるフランジを形成することが好ましい。また、請求項
2記載の発明においては、上記課題を達成するため、相
対向する電極の間に、請求項1又は2記載の圧接挟持型
コネクタを介在させて導通するようにしたことを特徴と
している。
上記各貫通孔の端部を縮径孔に形成し、各導電トーピン
の外周面に、上記貫通孔と上記縮径孔との段差に規制さ
れるフランジを形成することが好ましい。また、請求項
2記載の発明においては、上記課題を達成するため、相
対向する電極の間に、請求項1又は2記載の圧接挟持型
コネクタを介在させて導通するようにしたことを特徴と
している。
【0007】ここで、特許請求の範囲におけるハウジン
グは、正方形、多角形、楕円形、円形、小判形等に形成
することができる。複数の貫通孔の数や配列は、一列で
も良いが、二列等の複数列でも良く、この場合には、二
列平行で一列当たり1〜4個、好ましくは二列平行で一
列当たり1〜2個程度がコスト上望ましい。勿論、必要
に応じて増減変更することができる。また、導電ピンの
端部は、所定の角度で尖った形、断面半円形、断面半楕
円形、断面半小判形、単数複数のピン、クラウン状、略
ジベル鋲状等に適宜形成することが可能である。特に、
導電ピンの端部を円錐や角錐等の鋭利な形に形成すれ
ば、電極のハンダの酸化膜を破壊して良好な導通を得る
ことが可能になる。さらに、電極を有する電気的接合物
には、少なくとも各種回路基板、検査回路基板、BGA
等の各種ICパッケージが含まれる。
グは、正方形、多角形、楕円形、円形、小判形等に形成
することができる。複数の貫通孔の数や配列は、一列で
も良いが、二列等の複数列でも良く、この場合には、二
列平行で一列当たり1〜4個、好ましくは二列平行で一
列当たり1〜2個程度がコスト上望ましい。勿論、必要
に応じて増減変更することができる。また、導電ピンの
端部は、所定の角度で尖った形、断面半円形、断面半楕
円形、断面半小判形、単数複数のピン、クラウン状、略
ジベル鋲状等に適宜形成することが可能である。特に、
導電ピンの端部を円錐や角錐等の鋭利な形に形成すれ
ば、電極のハンダの酸化膜を破壊して良好な導通を得る
ことが可能になる。さらに、電極を有する電気的接合物
には、少なくとも各種回路基板、検査回路基板、BGA
等の各種ICパッケージが含まれる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
ましい実施形態を説明すると、本実施形態における圧接
挟持型コネクタ及びその接続構造は、図1ないし図3に
示すように、電子回路基板1と電気接合物10との間に
介在配置される圧接挟持型コネクタを、細長い絶縁性の
ハウジング20と、このハウジング20の上下厚さ方向
に穿孔される複数の貫通孔23と、各貫通孔23にハウ
ジング20の下面側からスライド可能に嵌通されるキャ
ップ状の導電トーピン28と、各貫通孔23にハウジン
グ20の上面側からスライド可能に嵌通されて導電トー
ピン28内に嵌合する導電ピン30と、各貫通孔23に
嵌合されて導電トーピン28の開口上端部に接触支持さ
れ、導電ピン30に貫通されるコイルスプリング32と
から構成し、このコイルスプリング32の弾圧付勢力で
導電トーピン28と導電ピン30とをハウジング20の
上下両面からそれぞれ弾発的に突出させるようにしてい
る。
ましい実施形態を説明すると、本実施形態における圧接
挟持型コネクタ及びその接続構造は、図1ないし図3に
示すように、電子回路基板1と電気接合物10との間に
介在配置される圧接挟持型コネクタを、細長い絶縁性の
ハウジング20と、このハウジング20の上下厚さ方向
に穿孔される複数の貫通孔23と、各貫通孔23にハウ
ジング20の下面側からスライド可能に嵌通されるキャ
ップ状の導電トーピン28と、各貫通孔23にハウジン
グ20の上面側からスライド可能に嵌通されて導電トー
ピン28内に嵌合する導電ピン30と、各貫通孔23に
嵌合されて導電トーピン28の開口上端部に接触支持さ
れ、導電ピン30に貫通されるコイルスプリング32と
から構成し、このコイルスプリング32の弾圧付勢力で
導電トーピン28と導電ピン30とをハウジング20の
上下両面からそれぞれ弾発的に突出させるようにしてい
る。
【0009】電子回路基板1は、図1に示すように、例
えばプリント配線板からなり、その表面に複数の電極2
が平坦に配列されており、各電極2にクリームハンダか
らなるハンダ層あるいはACF(anisotropi
c conductivefilm:異方性導電膜)等
が導通接続時に形成される。電気接合物10は、同図に
示すように、例えばCOGの液晶モジュールからなり、
下方の電子回路基板1の表面に近接対向する。この電気
接合物10には、ITO電極からなる複数の電極11が
並設されている。
えばプリント配線板からなり、その表面に複数の電極2
が平坦に配列されており、各電極2にクリームハンダか
らなるハンダ層あるいはACF(anisotropi
c conductivefilm:異方性導電膜)等
が導通接続時に形成される。電気接合物10は、同図に
示すように、例えばCOGの液晶モジュールからなり、
下方の電子回路基板1の表面に近接対向する。この電気
接合物10には、ITO電極からなる複数の電極11が
並設されている。
【0010】ハウジング20は、図1ないし図3に示す
ように、上下一対の薄いハウジング板21・22が積層
されることにより平面長方形・板形に形成され、長手方
向に小径の貫通孔23が所定のピッチ(例えば、0.5
mm〜1.27mm)で一列の単列に並べて穿孔されて
いる。各ハウジング板21・22は、耐熱性、寸法安定
性、成形性等に優れる汎用のエンジニアリングプラスチ
ック(例えば、ABS樹脂、ポリカーボネート、ポリプ
ロピレン、塩ビ、ポリエチレン等)を使用して成形され
る。これらの材料の中でも、加工性やコスト等を考慮す
ると、ABS樹脂が材料としては最適である。ハウジン
グ20は、その両端下部に位置決めピン24がそれぞれ
下方向に向けて植設され、各位置決めピン24が電子回
路基板1の図示しない位置決め孔に挿入されることによ
り、位置決め固定される。
ように、上下一対の薄いハウジング板21・22が積層
されることにより平面長方形・板形に形成され、長手方
向に小径の貫通孔23が所定のピッチ(例えば、0.5
mm〜1.27mm)で一列の単列に並べて穿孔されて
いる。各ハウジング板21・22は、耐熱性、寸法安定
性、成形性等に優れる汎用のエンジニアリングプラスチ
ック(例えば、ABS樹脂、ポリカーボネート、ポリプ
ロピレン、塩ビ、ポリエチレン等)を使用して成形され
る。これらの材料の中でも、加工性やコスト等を考慮す
ると、ABS樹脂が材料としては最適である。ハウジン
グ20は、その両端下部に位置決めピン24がそれぞれ
下方向に向けて植設され、各位置決めピン24が電子回
路基板1の図示しない位置決め孔に挿入されることによ
り、位置決め固定される。
【0011】各貫通孔23は、図1に示すように、下方
のハウジング板21に穿孔されて電子回路基板1側に位
置する縮径孔25と、ハウジング板21・22に穿孔さ
れて縮径孔25の上端部に段差を介し縦長に連続形成さ
れる拡径孔26と、上方のハウジング板22に穿孔され
て拡径孔26の上端部に段差を介して連続するととも
に、電気接合物10側に位置する小径孔27とから形成
されている。
のハウジング板21に穿孔されて電子回路基板1側に位
置する縮径孔25と、ハウジング板21・22に穿孔さ
れて縮径孔25の上端部に段差を介し縦長に連続形成さ
れる拡径孔26と、上方のハウジング板22に穿孔され
て拡径孔26の上端部に段差を介して連続するととも
に、電気接合物10側に位置する小径孔27とから形成
されている。
【0012】各導電トーピン28は、同図に示すよう
に、金メッキされた導電性の材料、例えば銅、真鍮、ア
ルミニウムを用いて断面略U字に形成されている。この
導電トーピン28は、そのハウジング20の下面から僅
かに突出する閉塞端面(突出量は、0.1〜1.5m
m、好ましくは0.5〜1.0mm程度)が電子回路基
板1の電極2に接触したり、電子回路基板1の電極2に
ハンダ層やACF等を介し適宜固定され、導通を確実化
する。導電トーピン28の外周面上部には、リング状の
フランジ29が半径外方向に突出形成され、このフラン
ジ29が縮径孔25と拡径孔26との段差に係止するこ
とにより、導電トーピン28の下降や脱落がきわめて有
効に規制される。
に、金メッキされた導電性の材料、例えば銅、真鍮、ア
ルミニウムを用いて断面略U字に形成されている。この
導電トーピン28は、そのハウジング20の下面から僅
かに突出する閉塞端面(突出量は、0.1〜1.5m
m、好ましくは0.5〜1.0mm程度)が電子回路基
板1の電極2に接触したり、電子回路基板1の電極2に
ハンダ層やACF等を介し適宜固定され、導通を確実化
する。導電トーピン28の外周面上部には、リング状の
フランジ29が半径外方向に突出形成され、このフラン
ジ29が縮径孔25と拡径孔26との段差に係止するこ
とにより、導電トーピン28の下降や脱落がきわめて有
効に規制される。
【0013】各導電ピン30は、図1や図3に示すよう
に、例えば金メッキされた導電性の銅、真鍮、アルミニ
ウム、導電性エラストマー等を用いたピンからなる。こ
の導電ピン30は、その周面上部から拡径孔26内に位
置するリング状の係止フランジ31が半径外方向に突出
し、この係止フランジ31が拡径孔26と小径孔27と
の段差に係止することにより、導電ピン30の抜け等が
有効に規制される。導電ピン30は、その上端面が断面
略半円弧状に湾曲形成され、この上端面がハウジング2
0の上面から僅かに突出(突出量は、0.1〜1.5m
m、好ましくは0.5〜1.0mm程度)して電気接合
物10の電極11に接触し、導通を確保する。
に、例えば金メッキされた導電性の銅、真鍮、アルミニ
ウム、導電性エラストマー等を用いたピンからなる。こ
の導電ピン30は、その周面上部から拡径孔26内に位
置するリング状の係止フランジ31が半径外方向に突出
し、この係止フランジ31が拡径孔26と小径孔27と
の段差に係止することにより、導電ピン30の抜け等が
有効に規制される。導電ピン30は、その上端面が断面
略半円弧状に湾曲形成され、この上端面がハウジング2
0の上面から僅かに突出(突出量は、0.1〜1.5m
m、好ましくは0.5〜1.0mm程度)して電気接合
物10の電極11に接触し、導通を確保する。
【0014】複数本のコイルスプリング32は、電子回
路基板1、検査回路基板、表面実装型のICパッケー
ジ、液晶モジュールとの接続の場合には、これらの電極
2・11と同本数が使用される。各コイルスプリング3
2は、例えば直径30〜100μm、好ましくは30〜
80μmの直径を有する所定の金属細線が例えば50μ
mの等ピッチで巻回されることにより形成され、0.5
mmの圧縮時に30g〜60gの荷重を発生させる。金
属細線の径を30〜80μmとするのは、この値の範囲
を選択すれば、低コストや低荷重接続の実現が容易とな
るからである。圧縮時の荷重は、接続状況に応じて適宜
選択すれば良い。各コイルスプリング32を形成する金
属細線としては、リン青銅、銅、ステンレス、ベリリウ
ム銅、ピアノ線等の金属線、あるいはこれらの金属線に
金メッキした金属細線があげられる。
路基板1、検査回路基板、表面実装型のICパッケー
ジ、液晶モジュールとの接続の場合には、これらの電極
2・11と同本数が使用される。各コイルスプリング3
2は、例えば直径30〜100μm、好ましくは30〜
80μmの直径を有する所定の金属細線が例えば50μ
mの等ピッチで巻回されることにより形成され、0.5
mmの圧縮時に30g〜60gの荷重を発生させる。金
属細線の径を30〜80μmとするのは、この値の範囲
を選択すれば、低コストや低荷重接続の実現が容易とな
るからである。圧縮時の荷重は、接続状況に応じて適宜
選択すれば良い。各コイルスプリング32を形成する金
属細線としては、リン青銅、銅、ステンレス、ベリリウ
ム銅、ピアノ線等の金属線、あるいはこれらの金属線に
金メッキした金属細線があげられる。
【0015】各コイルスプリング32の長さとしては、
例えば0.5〜3.0mm、好ましくは1.0〜1.5
mmが良い。係る範囲とすれば、外部からのノイズによ
る悪影響を回避し、弾性特性を維持することが可能にな
るからである。各コイルスプリング32は、図1に示す
ように、その下端部が導電トーピン28の開口上端部に
接触する拡径に形成され、自由端部である上端部が係止
フランジ31に当接する。
例えば0.5〜3.0mm、好ましくは1.0〜1.5
mmが良い。係る範囲とすれば、外部からのノイズによ
る悪影響を回避し、弾性特性を維持することが可能にな
るからである。各コイルスプリング32は、図1に示す
ように、その下端部が導電トーピン28の開口上端部に
接触する拡径に形成され、自由端部である上端部が係止
フランジ31に当接する。
【0016】上記構成において、電子回路基板1に圧接
挟持型コネクタを位置決め固定し、電子回路基板1と電
気接合物10とに圧接挟持型コネクタを位置決め挟持さ
せ、電子回路基板1の各電極2と導電トーピン28を接
触させるとともに、電気接合物10の各電極11と導電
ピン30を面接触させる。そして、電子回路基板1に対
して電気接合物10を少々加圧圧縮すれば、各コイルス
プリング32が圧縮変形して導電トーピン28と導電ピ
ン30がそれぞれ上下動し、電子回路基板1と電気接合
物10を導電トーピン28、導電ピン30を介し電気的
・弾発的に導通することができる(図1参照)。
挟持型コネクタを位置決め固定し、電子回路基板1と電
気接合物10とに圧接挟持型コネクタを位置決め挟持さ
せ、電子回路基板1の各電極2と導電トーピン28を接
触させるとともに、電気接合物10の各電極11と導電
ピン30を面接触させる。そして、電子回路基板1に対
して電気接合物10を少々加圧圧縮すれば、各コイルス
プリング32が圧縮変形して導電トーピン28と導電ピ
ン30がそれぞれ上下動し、電子回路基板1と電気接合
物10を導電トーピン28、導電ピン30を介し電気的
・弾発的に導通することができる(図1参照)。
【0017】上記構成によれば、電子回路基板1と電気
接合物10との間に圧接挟持型コネクタをハウジング2
0を介して介在するので、電子回路基板1自体に圧接挟
持型コネクタを簡単に組み込んだり、実装することがで
き、位置決め精度やアセンブリ性を著しく向上させるこ
とができる。また、導電ピン30とコイルスプリング3
2とを一体化し、導電トーピン28の内部に導電ピン3
0を往復動可能に嵌入するので、挟持圧縮導通時の圧接
挟持型コネクタの高さ寸法を問題なく小さくする(1.
50mm〜2.00mm程度)ことができ、従来の1/
3程度の低抵抗、低荷重接続(例えば、30g〜60g
/ピン)も大いに期待できる。
接合物10との間に圧接挟持型コネクタをハウジング2
0を介して介在するので、電子回路基板1自体に圧接挟
持型コネクタを簡単に組み込んだり、実装することがで
き、位置決め精度やアセンブリ性を著しく向上させるこ
とができる。また、導電ピン30とコイルスプリング3
2とを一体化し、導電トーピン28の内部に導電ピン3
0を往復動可能に嵌入するので、挟持圧縮導通時の圧接
挟持型コネクタの高さ寸法を問題なく小さくする(1.
50mm〜2.00mm程度)ことができ、従来の1/
3程度の低抵抗、低荷重接続(例えば、30g〜60g
/ピン)も大いに期待できる。
【0018】また、導電トーピン28と導電ピン30と
が周面で常時直接接触し、最短の導通経路を形成するの
で、螺旋状に巻かれた長いコイルスプリング32のみを
導通経路とする場合と異なり、導通経路を短縮してイン
ダクタンスの著しい低下、すなわち高周波特性を実現す
ることができ、加えて導電ピン30の全長を短くするこ
ともできる。また、導電ピン30の上端面を半球状、半
楕球状とするので、例えコイルスプリング32が前後左
右に少々傾斜しても、導通の安定性を確保することがで
きる。さらに、一対のハウジング板21・22で導電部
分を上下から挟むよう圧接挟持型コネクタを組み立てる
ので、簡易な構成で導電トーピン28、導電ピン30、
コイルスプリング32の位置ずれ、脱落、抜け等をきわ
めて有効に抑制防止することができる。
が周面で常時直接接触し、最短の導通経路を形成するの
で、螺旋状に巻かれた長いコイルスプリング32のみを
導通経路とする場合と異なり、導通経路を短縮してイン
ダクタンスの著しい低下、すなわち高周波特性を実現す
ることができ、加えて導電ピン30の全長を短くするこ
ともできる。また、導電ピン30の上端面を半球状、半
楕球状とするので、例えコイルスプリング32が前後左
右に少々傾斜しても、導通の安定性を確保することがで
きる。さらに、一対のハウジング板21・22で導電部
分を上下から挟むよう圧接挟持型コネクタを組み立てる
ので、簡易な構成で導電トーピン28、導電ピン30、
コイルスプリング32の位置ずれ、脱落、抜け等をきわ
めて有効に抑制防止することができる。
【0019】次に、図4は本発明の第2の実施形態を示
すもので、この場合には、ハウジング20の長手方向に
小径の貫通孔23を所定のピッチでマトリクスの複数列
に並べて穿孔し、マトリクスの電極2・11に対応させ
るようにしている。その他の部分については、上記実施
形態と同様であるので説明を省略する。
すもので、この場合には、ハウジング20の長手方向に
小径の貫通孔23を所定のピッチでマトリクスの複数列
に並べて穿孔し、マトリクスの電極2・11に対応させ
るようにしている。その他の部分については、上記実施
形態と同様であるので説明を省略する。
【0020】次に、図5は本発明の第3の実施形態を示
すもので、この場合には、ハウジング20の長手方向に
小径の貫通孔23を所定のピッチで複数列に並べて穿孔
するとともに、複数の貫通孔23を千鳥状に配列し、マ
トリクスの電極2・11に対応させるようにしている。
その他の部分については、上記実施形態と同様であるの
で説明を省略する。
すもので、この場合には、ハウジング20の長手方向に
小径の貫通孔23を所定のピッチで複数列に並べて穿孔
するとともに、複数の貫通孔23を千鳥状に配列し、マ
トリクスの電極2・11に対応させるようにしている。
その他の部分については、上記実施形態と同様であるの
で説明を省略する。
【0021】次に、図6は本発明の第4の実施形態を示
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端部を円
錐に形成し、この上端部を電気接合物10の電極11に
接触させて電極11のハンダの酸化膜を破壊するように
し、良好な導通を確保するようにしている。その他の部
分については、上記実施形態と同様であるので説明を省
略する。
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端部を円
錐に形成し、この上端部を電気接合物10の電極11に
接触させて電極11のハンダの酸化膜を破壊するように
し、良好な導通を確保するようにしている。その他の部
分については、上記実施形態と同様であるので説明を省
略する。
【0022】次に、図7は本発明の第5の実施形態を示
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端面中心
に尖った円錐を小さく突出形成し、この円錐部分を電気
接合物10の電極11に接触させてそのハンダの酸化膜
を破壊するようにしている。その他の部分については、
上記実施形態と同様であるので説明を省略する。
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端面中心
に尖った円錐を小さく突出形成し、この円錐部分を電気
接合物10の電極11に接触させてそのハンダの酸化膜
を破壊するようにしている。その他の部分については、
上記実施形態と同様であるので説明を省略する。
【0023】次に、図8は本発明の第6の実施形態を示
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端部を拡
径のクラウン状、略ジベル状に突出形成するとともに、
この上端部を電気接合物10の電極11(特に、BGA
の電極ハンダボールに対しては位置ずれもなく、有効で
ある)に接触させてそのハンダの酸化膜を破壊するよう
にしている。その他の部分については、上記実施形態と
同様であるので説明を省略する。
すもので、この場合には、各導電ピン30の上端部を拡
径のクラウン状、略ジベル状に突出形成するとともに、
この上端部を電気接合物10の電極11(特に、BGA
の電極ハンダボールに対しては位置ずれもなく、有効で
ある)に接触させてそのハンダの酸化膜を破壊するよう
にしている。その他の部分については、上記実施形態と
同様であるので説明を省略する。
【0024】なお、上記実施形態ではハウジング20の
両端下部に位置決めピン24をそれぞれ下方向に向けて
植設したが、これらの位置決めピン24は省略すること
が可能である。また、ハウジング20の両側面に、導電
ピン30等の本数に応じて複数の溝を形成し、この溝を
用いてハウジング20を任意の箇所で分割するようにし
ても良い。
両端下部に位置決めピン24をそれぞれ下方向に向けて
植設したが、これらの位置決めピン24は省略すること
が可能である。また、ハウジング20の両側面に、導電
ピン30等の本数に応じて複数の溝を形成し、この溝を
用いてハウジング20を任意の箇所で分割するようにし
ても良い。
【0025】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、位置決め
精度やアセンブリ性を向上させることができるという効
果がある。また、高さ寸法を小さくして導通経路を短縮
し、電極を備えた電気接合物を低荷重で接続することが
可能となる。
精度やアセンブリ性を向上させることができるという効
果がある。また、高さ寸法を小さくして導通経路を短縮
し、電極を備えた電気接合物を低荷重で接続することが
可能となる。
【図1】本発明に係る圧接挟持型コネクタ及びその接続
構造の実施形態を示す断面説明図である。
構造の実施形態を示す断面説明図である。
【図2】本発明に係る圧接挟持型コネクタの実施形態に
おけるハウジングを示す平面図である。
おけるハウジングを示す平面図である。
【図3】本発明に係る圧接挟持型コネクタの実施形態を
示す一部断面説明図である。
示す一部断面説明図である。
【図4】本発明に係る圧接挟持型コネクタの第2の実施
形態におけるハウジングを示す平面図である。
形態におけるハウジングを示す平面図である。
【図5】本発明に係る圧接挟持型コネクタの第3の実施
形態におけるハウジングを示す平面図である。
形態におけるハウジングを示す平面図である。
【図6】本発明に係る圧接挟持型コネクタの第4の実施
形態を示す断面説明図である。
形態を示す断面説明図である。
【図7】本発明に係る圧接挟持型コネクタの第5の実施
形態を示す断面説明図である。
形態を示す断面説明図である。
【図8】本発明に係る圧接挟持型コネクタの第6の実施
形態を示す一部断面説明図である。
形態を示す一部断面説明図である。
1 電子回路基板 2 電極 10 電気接合物 11 電極 20 ハウジング 21 ハウジング板 22 ハウジング板 23 貫通孔 25 縮径孔 26 拡径孔 27 小径孔 28 導電トーピン 29 フランジ 30 導電ピン 31 係止フランジ 32 コイルスプリング(スプリング)
Claims (3)
- 【請求項1】 絶縁性のハウジングと、このハウジング
の厚さ方向に設けられる複数の貫通孔と、各貫通孔に該
ハウジングの一面側からスライド可能に嵌められる略キ
ャップ状の導電トーピンと、各貫通孔に該ハウジングの
他面側からスライド可能に嵌められて該導電トーピン内
に嵌まる導電ピンと、各貫通孔に嵌められて該導電トー
ピンの開口端部に接触し、上記導電ピンに貫通されるス
プリングとを含んでなる圧接挟持型コネクタであって、 上記ハウジングの他面側に位置する上記各貫通孔の端部
を小径孔に形成し、各導電ピンの周面に、上記貫通孔と
上記小径孔との段差に規制される係止フランジを形成す
るとともに、この係止フランジに上記スプリングの自由
端部を接触させ、このスプリングの付勢力で上記導電ト
ーピンと上記導電ピンとを上記ハウジングからそれぞれ
突出させるようにしたことを特徴とする圧接挟持型コネ
クタ。 - 【請求項2】 上記ハウジングの一面側に位置する上記
各貫通孔の端部を縮径孔に形成し、各導電トーピンの外
周面に、上記貫通孔と上記縮径孔との段差に規制される
フランジを形成した請求項1記載の圧接挟持型コネク
タ。 - 【請求項3】 相対向する電極の間に、請求項1又は2
記載の圧接挟持型コネクタを介在させて導通するように
したことを特徴とする圧接挟持型コネクタの接続構造。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000354805A JP2002158053A (ja) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | 圧接挟持型コネクタ及びその接続構造 |
US10/381,078 US6908347B2 (en) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | Compression type connector and the connecting structure thereof |
AT01974667T ATE381124T1 (de) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | Pressverbinder und entsprechende verbindungsstruktur |
KR1020037005747A KR100562602B1 (ko) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | 압접 협지형 커넥터 및 그 접속 구조 |
CNB018180221A CN100557890C (zh) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | 压接夹持型连接器及其连接结构 |
EP01974667A EP1329991B1 (en) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | Compression type connector and the connecting structure thereof |
DE60131876T DE60131876T2 (de) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | Pressverbinder und entsprechende verbindungsstruktur |
PCT/JP2001/008708 WO2002035656A1 (fr) | 2000-10-26 | 2001-10-03 | Connecteur de serrage a contact par pression et sa structure de connexion |
TW090125947A TW526329B (en) | 2000-10-26 | 2001-10-19 | Pressure contact pinching type connector and its connecting structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000354805A JP2002158053A (ja) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | 圧接挟持型コネクタ及びその接続構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002158053A true JP2002158053A (ja) | 2002-05-31 |
Family
ID=18827329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000354805A Pending JP2002158053A (ja) | 2000-10-26 | 2000-11-21 | 圧接挟持型コネクタ及びその接続構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002158053A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004084356A1 (ja) * | 2003-03-18 | 2004-09-30 | Shin-Etsu Polymer Co. Ltd. | 圧接挟持型コネクタ |
JP2008516398A (ja) * | 2004-10-06 | 2008-05-15 | プラストロニックス・ソケット・パートナーズ, エルピー | 電子デバイスのためのコンタクト |
JP2010521779A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-06-24 | ラム リサーチ コーポレーション | 積層ヒータ用高電力電気コネクタ |
JP5408509B2 (ja) * | 2009-08-24 | 2014-02-05 | トヨタ自動車株式会社 | 非水電解液型リチウムイオン二次電池の製造方法 |
WO2024171088A1 (en) * | 2023-02-16 | 2024-08-22 | Molex, Llc | Low profile board-to-board interface contactors |
-
2000
- 2000-11-21 JP JP2000354805A patent/JP2002158053A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004084356A1 (ja) * | 2003-03-18 | 2004-09-30 | Shin-Etsu Polymer Co. Ltd. | 圧接挟持型コネクタ |
US7201613B2 (en) | 2003-03-18 | 2007-04-10 | Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. | Pressure contact holding-type connector |
JP2008516398A (ja) * | 2004-10-06 | 2008-05-15 | プラストロニックス・ソケット・パートナーズ, エルピー | 電子デバイスのためのコンタクト |
JP2010521779A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-06-24 | ラム リサーチ コーポレーション | 積層ヒータ用高電力電気コネクタ |
JP5408509B2 (ja) * | 2009-08-24 | 2014-02-05 | トヨタ自動車株式会社 | 非水電解液型リチウムイオン二次電池の製造方法 |
WO2024171088A1 (en) * | 2023-02-16 | 2024-08-22 | Molex, Llc | Low profile board-to-board interface contactors |
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