JP2002157813A

JP2002157813A - 磁気ディスク装置及びそれを用いた情報処理システム

Info

Publication number: JP2002157813A
Application number: JP2000351708A
Authority: JP
Inventors: Takeji Hirata; 武二平田
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 2000-11-17
Filing date: 2000-11-17
Publication date: 2002-05-31

Abstract

(57)【要約】【課題】磁気ディスク装置及びそれを用いた情報処理シ
ステムにおける使用(劣化）情報の告知及び対策による
長寿命化を図る。【解決手段】磁気ディスク装置及びそれを用いた情報処
理システムにおいて、スピンドル起動の延時間をタイマ
回路１１を用いて計測、また全／セクタ毎延シーク(リ
ード／ライト)回数及びヘッドのロード／アンロード回
数を計測した上で累積時間・回数をＭＰＵ１０にて計算
し、予めメモリ１２等記録手段に設定したしきい値を超
えた時に表示部１３を利用してユーザに告知するととも
に、しきい値を超えたものの状況に応じた対応を施す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク装置及
びそれを用いた情報処理システムに関し、特に使用(劣
化)状況確認と長寿命化を図った磁気ディスク装置及び
それを用いた情報処理システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気ディスク装置は、スピンドルモータ
ドライバ（以下、ＳＰＭドライバ、と称す）を利用し
て、スピンドルモータ(以下、ＳＰＭ、と称す)の制御を
行い、ＳＰＭが高速に回転することによって、ＳＰＭに
接続されたディスク媒体が高速回転を行う。

【０００３】またボイスコイルモータドライバ（以下、
ＶＣＭドライバ、と称す）を利用して、ボイスコイルモ
ータ（以下、ＶＣＭ、と称す）への電流制御を行い、Ｖ
ＣＭは電流を力に変えることでディスク上を磁気ヘッド
が移動する。

【０００４】そして、磁気ヘッド中のヘッド素子へ電流
を通電しディスク上のサーボ情報と呼ばれるトラック位
置の目盛りを読み取ることにより、特定のトラックまで
の位置決めを行うというシーク動作を行う。

【０００５】近年の磁気ディスク装置の制御では大容量
化・高速データ転送化が要求された結果、ディスク回転
数の増加、磁気ヘッドの移動スピードの高速化、データ
のディスク媒体への高密度配置等が望まれている。

【０００６】しかしながら磁気ディスク装置は機械・機
構部分が多く、電気回路部と比較すると部品劣化による
不具合が発生しやすいという状況である。

【０００７】この問題を解決するための磁気ディスク装
置が特開平６−１２８５３号公報（第１の従来技術）に
提案されている。この第１の従来技術は、装置の電源投
入累積時間、電源供給のオン・オフ回数を計測・表示す
るもので不具合発生時の原因を装置寿命によるものかど
うか判定するものである。

【０００８】また、特開平６−５１９１５号公報（第２
の従来技術）には、磁気ディスクの実働状況を計測し、
寿命比較値と比較し、しきい値を越えたディスクを交換
する技術が開示されている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら第１の従
来技術では、使用状況を表示することで不具合発生時の
原因をつかむだけであり、装置として不具合を発生させ
ないような対策を行っていないという問題点を有する。

【００１０】また第２の従来技術では、対策がディスク
の交換のみであるから効率が悪く、膨大なシステムを形
成しなければならないという問題点を有する。

【００１１】したがって本発明の目的は、上記した従来
技術の問題点を解決し、装置内のＳＰＭ延起動時間、ヘ
ッドのロード／アンロード延回数、ディスク媒体上の全
体及びセクタ単位でのシーク(リード／ライト)延回数に
関する使用(劣化)状況を計測し、予め設定したしきい値
と比較した結果劣化状態にある場合には、使用者に告知
するとともにそれぞれの結果に応じた形で対策を施すこ
とによって、長寿命化をはかることができる磁気ディス
ク装置及びそれを用いた情報システムを提供することで
ある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置及びそれを用いた情報処理システムは、装置を構成し
ているＳＰＭ・ヘッド・全体及びセクタ単位でのディス
ク媒体の使用(劣化)状況を計測し、しきい値を超えた時
点で使用者に告知する手段を有し、さらにその結果をふ
まえた上で、場面に応じた対策を施すことにより装置の
長寿命化をはかる手段を有する。すなわち本発明は、装
置内の複数の部品の使用(劣化)状況を計測する計測手段
と、予め記録手段に設定したそれぞれのしきい値との比
較を行う比較手段と、しきい値と比較した結果しきい値
を超えた時に使用者に告知する告知手段と、スピンドル
モータの延起動時間を計測ししきい値と比較した結果、
スピンドルの回転速度を抑える手段とを有する磁気ディ
スク装置にある。

【００１３】あるいは本発明は、装置内の複数の部品の
使用(劣化)状況を計測する計測手段と、予め記録手段に
設定したそれぞれのしきい値との比較を行う比較手段
と、しきい値と比較した結果しきい値を超えた時に使用
者に告知する告知手段と、装置中のヘッドのロード／ア
ンロード延回数を計測ししきい値と比較した結果、ヘッ
ドの移動速度を抑える手段とを有する磁気ディスク装置
にある。

【００１４】あるいは本発明は、装置内の複数の部品の
使用(劣化)状況を計測する計測手段と、予め記録手段に
設定したそれぞれのしきい値との比較を行う比較手段
と、しきい値と比較した結果しきい値を超えた時に使用
者に告知する告知手段と、装置中のディスク媒体上の全
体のシーク(リード／ライト)延回数を計測ししきい値と
比較した結果、ヘッド素子への通電量を抑える手段とを
有する磁気ディスク装置にある。

【００１５】あるいは本発明は、装置内の複数の部品の
使用(劣化)状況を計測する計測手段と、予め記録手段に
設定したそれぞれのしきい値との比較を行う比較手段
と、しきい値と比較した結果しきい値を超えた時に使用
者に告知する告知手段と、装置中のディスク媒体上のセ
クタ単位のシーク(リード／ライト)延回数を計測ししき
い値と比較した結果、シーク(リード／ライト)時のリト
ライ回数を増加させる手段とを有する磁気ディスク装置
にある。

【００１６】あるいは本発明は、装置内のスピンドルモ
ータ延起動時間、ヘッドのロード／アンロード延回数、
ディスク媒体上の全体及びセクタ単位でのシーク(リー
ド／ライト)延回数に関する使用(劣化)状況を計測する
計測手段と、予め記録手段に設定したそれぞれのしきい
値との比較を行う比較手段と、しきい値と比較した結果
しきい値を超えた時に使用者に告知する告知手段と、ス
ピンドルモータ延起動時間に関するしきい値を超えた場
合にはスピンドルモータの回転速度を抑える手段と、ヘ
ッドロード／アンロード延回数に関するしきい値を超え
た場合には、ヘッド移動速度を抑える手段と、ディスク
媒体上の全体シーク(リード／ライト)延回数に関するし
きい値を超えた場合にはヘッド素子への通電量を抑える
手段と、ディスク媒体上のセクタ単位でのシーク(リー
ド／ライト)延回数に関するしきい値を超えた場合には
シーク(リード／ライト)時のリトライ回数を増加させる
手段とを有する磁気ディスク装置にある。

【００１７】あるいは本発明は、磁気ディスク装置を有
する情報処理システムであり、上記したいずれかに記載
の磁気ディスク装置における部品の使用(劣化)状況を計
測する計測手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該計
測手段及び該磁気ディスク装置を具備してシステムを構
成する情報処理システムにある。

【００１８】あるいは本発明は、磁気ディスク装置を有
する情報処理システムであり、上記したいずれかに記載
の磁気ディスク装置におけるしきい値に関する情報を記
録する記録手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該記
録手段及び該磁気ディスク装置を具備してシステムを構
成する情報処理システムにある。

【００１９】あるいは本発明は、磁気ディスク装置を有
する情報処理システムであり、上記したいずれかに記載
の磁気ディスク装置における告知する告知手段を磁気デ
ィスク装置とは別に設け、該告知手段及び該磁気ディス
ク装置を具備してシステムを構成する情報処理システム
にある。

【００２０】あるいは本発明は、磁気ディスク装置を有
する情報処理システムであり、上記したいずれかに記載
の磁気ディスク装置における計測手段、記録手段及び告
知手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該計測手段、
記録手段及び告知手段並びに該磁気ディスク装置を具備
してシステムを構成する情報処理システムにある。

【００２１】このような本発明によれば、電源投入時等
によるＳＰＭの起動開始から、電源切断時等によるＳＰ
Ｍの停止までの時間をタイマ回路を利用して計測し、そ
の時間をメモリ等の記録手段に保存することにより、Ｓ
ＰＭの使用（劣化）状況が判別可能となる。

【００２２】同様に、ヘッドロード／アンロードの回数
・媒体上の全体及びセクタ単位でのシーク（リード／ラ
イト）回数もメモリ等に保存することができる。

【００２３】そして、それぞれの時間・回数をメモリ等
の記録手段に予め設定し記録したしきい値と比較する。
しきい値を超えた時点で使用者に磁気ディスク装置上の
表示機能を用いて告知するとともにしきい値を超えた部
分別に応じた対策を施すことにより装置の長寿命化をは
かることができる。

【００２４】ＳＰＭが劣化状態の場合にはＳＰＭの回転
数減少、ヘッドロード／アンロード回数過多によるヘッ
ド部の劣化の場合にはヘッド移動スピード低減、シーク
（リード／ライト）回数過多によるヘッド素子もしくは
磁気ディスク媒体の劣化の場合にはヘッド素子への通電
量減少及びリトライ回数の増加である。

【００２５】以上の内容から装置の長寿命化をはかるこ
とが可能となる。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。

【００２７】図１は、本発明の第一の実施の形態による
磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。

【００２８】図１の磁気ディスク装置１は、ディスク媒
体２と、ディスク媒体２を高速に回転させるＳＰＭ３
と、ＳＰＭ３を制御するためのＳＰＭドライバ４と、デ
ィスク媒体２へデータをリード／ライトするためのヘッ
ド５と、ヘッド５への制御を行うＶＣＭ６とＶＣＭ６を
制御するためのＶＣＭドライバ７と、ＳＰＭドライバ４
とＶＣＭドライバ７を制御するためのサーボ回路８とを
有する。

【００２９】さらに図１の磁気ディスク装置１は、デー
タ読み書き・コントロール・データ読み書きのためのデ
ータ変換等を行うＲ／Ｗ回路９と、磁気ディスク装置１
自身の制御を行うＭＰＵ１０と、ＳＰＭ起動開始から停
止迄の時間を計測するためのタイマ回路１１と、ＳＰＭ
起動時間、ヘッドロード／アンロード回数、シーク(リ
ード／ライト)回数判定のためのしきい値を保存するた
めのメモリ１２と、延時間・延回数としきい値との判定
結果により使用者に注意を促すための表示部１３とを有
する。

【００３０】次に図１に示す磁気ディスク装置１の処理
動作について、その流れを示す図４及び図５のフローチ
ャートを用いて説明する。

【００３１】磁気ディスク装置１のＭＰＵ１０が電源投
入後ＳＰＭ起動コマンドを発行した時に(ＳＴＥＰ１)、
タイマ回路１１を用いて時間計測(ＴＳ)を開始する(Ｓ
ＴＥＰ２)。

【００３２】そしてＭＰＵ１０がメモリ１２から、前回
迄のＳＰＭ延起動時間(Ｔ)とＳＰＭ起動時間しきい値
(Ｔ_High)を読み取る(ＳＴＥＰ３)。

【００３３】読み取った２値の比較を行い(ＳＴＥＰ
４)、比較結果でしきい値をオーバーしている場合に
は、ＳＰＭ３が劣化状態であると判断し、ＭＰＵ１０が
表示部１３を制御しその旨表示させ(ＳＴＥＰ５)、また
サーボ回路８を経由してＳＰＭ３・ＳＰＭドライバ４を
制御するとともにＲ／Ｗ回路９の設定をして、低速ＳＰ
Ｍ回転数モードを実行する(ＳＴＥＰ６)。

【００３４】しきい値をオーバーしていない時は、ＭＰ
Ｕ１０がサーボ回路８を経由してＳＰＭ３・ＳＰＭドラ
イバ４を制御して、今迄どおり通常のＳＰＭ回転数モー
ドを実行する(ＳＴＥＰ７)。

【００３５】ＳＰＭ３が劣化状態にある場合に、使用者
に告知するとともにＳＰＭ３の回転速度を落とすことで
ＳＰＭ３部の磨耗等によるさらなる劣化を防ぎ、装置の
長寿命化をはかることができる。

【００３６】続いてＭＰＵ１０がヘッドロードコマンド
を発行した時(ＳＴＥＰ８)も同様に、メモリ１２から前
回迄のヘッドロード／アンロード延回数(Ｈ)とヘッドロ
ード／アンロード回数しきい値(Ｈ_High)を読み取る(Ｓ
ＴＥＰ９)。

【００３７】そして、ヘッドロード／アンロード延回数
を更新し(ＳＴＥＰ１０)、ヘッドロード／アンロード回
数しきい値と比較を行う(ＳＴＥＰ１１)。

【００３８】比較結果でしきい値をオーバーした場合に
は、ヘッド部が劣化状態であると判断し、ＭＰＵ１０が
表示部１３を制御しその旨表示する(ＳＴＥＰ１２)。

【００３９】そして、サーボ回路８を経由してヘッド５
を制御して、ヘッド低速移動モードを実行する(ＳＴＥ
Ｐ１３)。

【００４０】しきい値をオーバーしていない時は、ＭＰ
Ｕ１０がサーボ回路８を経由して、ヘッド５の制御を行
い、今迄どおり通常の速さでヘッドを移動させる(ＳＴ
ＥＰ１４)。

【００４１】ヘッド部が劣化状態にある場合に、使用者
に告知するとともにヘッド移動速度を抑えることでヘッ
ド部の磨耗等によるさらなる劣化を防ぎ、装置の長寿命
化をはかることができる。

【００４２】同様にＭＰＵ１０があるアドレスのセクタ
に対しシーク(リード／ライト)コマンドを発行した時
(ＳＴＥＰ１５)、メモリ１２から前回迄の全シーク(リ
ード／ライト)延回数(Ａ)と全シーク(リード／ライト)
回数しきい値(Ａ_High)、該当セクタに対するシーク(リ
ード／ライト)延回数(Ｓ)と該当セクタに対するシーク
(リード／ライト)回数しきい値(Ｓ_High)を読み取る(Ｓ
ＴＥＰ１６)。

【００４３】そして、まず全シーク(リード／ライト)延
回数を更新し(ＳＴＥＰ１７)、全シーク(リード／ライ
ト)回数しきい値と比較を行う(ＳＴＥＰ１８)。

【００４４】比較結果でしきい値をオーバーした場合に
は、ヘッド部への延電流通電回数が多いことによってヘ
ッド素子が劣化状態であると判断し、ＭＰＵ１０が表示
部１３を制御しその旨表示し(ＳＴＥＰ１９)、Ｒ／Ｗ回
路９を経由してヘッド５を制御しヘッド５中のヘッド素
子への通電を通常時よりも低い状態で行う(ＳＴＥＰ２
０)。しきい値をオーバーしていない時には、ＭＰＵが
Ｒ／Ｗ回路９を経由してヘッド５を制御し、今迄どおり
の電流通電量でヘッド５中のヘッド素子への通電を行う
(ＳＴＥＰ２１)。

【００４５】劣化状態時にヘッド素子への通電量を減ら
し損傷等を起きにくくさせることでさらなる劣化を防
ぎ、装置の長寿命化をはかることができる。

【００４６】また、該当セクタに対するシーク(リード
／ライト)延回数を更新し(ＳＴＥＰ２２)、該当セクタ
に対するシーク(リード／ライト)回数しきい値と比較を
行う(ＳＴＥＰ２３)。

【００４７】比較結果でしきい値をオーバーした場合に
は、磁気ディスク媒体中の該当セクタが劣化状態である
と判断し、ＭＰＵ１０が表示部１３を制御してその旨表
示する(ＳＴＥＰ２４)。

【００４８】そして、Ｒ／Ｗ回路９を制御して、シーク
(リード／ライト)に対するリトライ回数を通常時と比
較して増加させる(ＳＴＥＰ２５)。

【００４９】しきい値をオーバーしていない時は、Ｒ／
Ｗ回路９を制御して、今迄どおり通常のリトライ回数を
設定し(ＳＴＥＰ２６)、その後シーク(リード／ライト)
を行う(ＳＴＥＰ２７)。

【００５０】劣化状態時に該当セクタへのリトライ回数
を増やすことによって、シーク(リード／ライト)エラー
回数を減らすことができ、装置の長寿命化をはかること
ができる。

【００５１】また、ＭＰＵ１０がヘッドアンロードコマ
ンドを発行した時は(ＳＴＥＰ２８)、ヘッドの動きはロ
ード時と同様なので、ヘッドロード時と同じようにメモ
リ１２から前回迄のヘッドロード／アンロード延回数
(Ｈ)としきい値(Ｈ_High)を読み取る(ＳＴＥＰ２９)。

【００５２】そして、ヘッドロード／アンロード延回数
を更新し(ＳＴＥＰ３０)、しきい値との比較を行い(Ｓ
ＴＥＰ３１)、しきい値を超えた時にはヘッド部が使用
過多状態であると判断し、表示部１３にその旨表示し
(ＳＴＥＰ３２)、ヘッド移動低速モードを実行する(Ｓ
ＴＥＰ３３)。

【００５３】しきい値を超えていない時は、今迄どおり
通常の速さでヘッドを移動させる(ＳＴＥＰ３４)。ヘッ
ドアンロード時も、ヘッドロード時と同様にヘッド部が
劣化状態にある場合に、使用者に告知するとともにヘッ
ド移動速度を抑えることでヘッド部の磨耗等によるさら
なる劣化を防ぎ、装置の長寿命化をはかることができ
る。

【００５４】電源切断時等にＭＰＵ１０がＳＰＭ停止コ
マンドを発行した時は(ＳＴＥＰ３５)、ＳＰＭ停止コマ
ンドを実行する(ＳＴＥＰ３６)と同時に、ＳＰＭ起動コ
マンドを発行した時(ＳＴＥＰ１)に動作させたタイマ回
路１１を停止させ時間計測(ＴＥ)を行う(ＳＴＥＰ３
７)。

【００５５】そして、今回のＳＰＭ起動から停止迄の時
間(ＴＥ−ＴＳ)を計算し、メモリ１２からＳＰＭ延時間
(Ｔ)を読み取り、メモリ１２へ延時間データの更新(Ｔ
＋(ＴＥ−ＴＳ))を行う(ＳＴＥＰ３８)。

【００５６】更新されたＳＰＭ延起動時間は、次回ＳＰ
Ｍ起動コマンドを発行した時に(ＳＴＥＰ１)参照され
る。

【００５７】図２は、本発明の第二の実施の形態による
磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。

【００５８】図２において図１と同一もしくは類似の箇
所は同じ符号を付してあるから重複する説明は省略す
る。また、図２の磁気ディスク装置１Ａの処理動作は図
４及び図５のフローチャートと同様である。

【００５９】図１の第一の実施の形態による磁気ディス
ク装置１では、ＭＰＵ１０とは別にタイマ回路１１を設
けていた。しかしこの図２の第二の実施の形態による磁
気ディスク装置１Ａでは、ＭＰＵ１０Ａの内部にタイマ
回路（タイマ機能）を有している。

【００６０】すなわち、第一の実施の形態では、ＭＰＵ
１０がＳＰＭ３の起動から停止迄の時間を計測するの
に、外部回路のタイマ回路１１を使用していたのが、こ
の第二の実施の形態では、ＭＰＵ１０Ａ内の内部回路で
あるタイマ回路部を使用してＳＰＭ３の起動から停止迄
の時間を計測する。

【００６１】図３は、本発明の第三の実施の形態による
情報処理システムの構成を示すブロック図である。

【００６２】図３において図１と同一もしくは類似の箇
所は同じ符号を付してあるから重複する説明は省略す
る。また、図３の情報処理システムの処理動作は図４及
び図５のフローチャートと同様である。

【００６３】図１の第一の実施の形態による磁気ディス
ク装置１にはタイマ回路１１、メモリ１２及び表示部１
３を有していた。

【００６４】この実施の形態における情報処理システム
２２の磁気ディスク装置１Ｂは、図１の磁気ディスク装
置１からタイマ回路１１、メモリ１２及び表示部１３の
うちの少なくとも１つの要素を除去して、その要素を磁
気ディスク装置１Ｂとは別に情報処理システム２２の要
素として設けている。

【００６５】図３では、タイマ回路１１、メモリ１２及
び表示部１３を全て磁気ディスク装置から除去し、磁気
ディスク装置１Ｂとは別にそれらを情報処理システム２
２の要素として設けた場合を示している。

【００６６】すなわち図３において情報処理システム２
２自身は情報処理システム２２内のＣＰＵ２１によって
制御されている以外は第一の実施の形態と同じである。

【００６７】情報処理システム２２のＣＰＵ２１が同じ
システム内のタイマ回路１１・メモリ１２を利用して、
第一の実施の形態と同様にコマンド発行時にＳＰＭ延起
動時間(Ｔ)・ＳＰＭ起動時間しきい値(Ｔ_High)・ヘッド
ロード／アンロード延回数(Ｈ)・ヘッドロード／アン
ロード回数しきい値(Ｈ_High)・全シーク(リード／ライ
ト) 延回数(Ａ)・全シーク(リード／ライト)回数しきい
値(Ａ_High)・該当セクタシーク(リード／ライト)延回数
(Ｓ)・該当セクタシーク(リード／ライト)回数しきい値
(Ｓ_High)を確認し、しきい値を超えている場合はその旨
を表示部１３に表示する。

【００６８】上記したように、図３の場合は磁気ディス
ク装置を用いた情報処理システム２２がタイマ回路１１
・メモリ１２・表示部１３の全てを有した構成となって
いるが、いずれかを情報処理システム２２が有しその他
を磁気ディスク装置１Ｂが有する構成でも可能である。

【００６９】また第一の実施の形態から第三の実施の形
態において、ＳＰＭ延起動時間、ヘッドロード／アンロ
ード延回数、全シーク(リード／ライト)延回数、該当セ
クタシーク(リード／ライト)延回数とそれぞれのしきい
値を比較し対応を取ることで装置の長寿命化をはかった
が、記載した全計数・判断手段をもつことなく、一部の
計数・判断手段をもつだけでも装置の長寿命化をはかる
ことが可能である。

【００７０】

【発明の効果】以上の説明から本発明によれば、装置内
のＳＰＭ・ヘッド・全及びセクタ単位でのディスク媒体
の使用状況を計測する手段と、それぞれの部品使用回数
のしきい値とを基に、使用者への告知を行うとともに複
数の対策の中からしきい値を超えたものへの対策を選択
・実行することで長寿命化をはかることができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態を示すブロック図で
ある。

【図２】本発明の第二の実施の形態を示すブロック図で
ある。

【図３】本発明の第三の実施の形態を示すブロック図で
ある。

【図４】本発明の実施の形態の流れを示すチャート１で
ある。

【図５】本発明の実施の形態の流れを示すチャート２で
ある。

【符号の説明】

１磁気ディスク装置１Ａ磁気ディスク装置１Ｂ磁気ディスク装置２ディスク媒体３ＳＰＭ４ＳＰＭドライバ５ヘッド６ＶＣＭ７ＶＣＭドライバ８サーボ回路９Ｒ／Ｗ回路１０ＭＰＵ１０ＡＭＰＵ１１タイマ回路１２メモリ１３表示部２１ＣＰＵ２２情報処理システム

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】装置内の複数の部品の使用(劣化)状況を
計測する計測手段と、予め記録手段に設定したそれぞれ
のしきい値との比較を行う比較手段と、しきい値と比較
した結果しきい値を超えた時に使用者に告知する告知手
段と、スピンドルモータの延起動時間を計測ししきい値
と比較した結果、スピンドルの回転速度を抑える手段と
を有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】装置内の複数の部品の使用(劣化)状況を
計測する計測手段と、予め記録手段に設定したそれぞれ
のしきい値との比較を行う比較手段と、しきい値と比較
した結果しきい値を超えた時に使用者に告知する告知手
段と、装置中のヘッドのロード／アンロード延回数を計
測ししきい値と比較した結果、ヘッドの移動速度を抑え
る手段とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】装置内の複数の部品の使用(劣化)状況を
計測する計測手段と、予め記録手段に設定したそれぞれ
のしきい値との比較を行う比較手段と、しきい値と比較
した結果しきい値を超えた時に使用者に告知する告知手
段と、装置中のディスク媒体上の全体のシーク(リード
／ライト)延回数を計測ししきい値と比較した結果、ヘ
ッド素子への通電量を抑える手段とを有することを特徴
とする磁気ディスク装置。
【請求項４】装置内の複数の部品の使用(劣化)状況を
計測する計測手段と、予め記録手段に設定したそれぞれ
のしきい値との比較を行う比較手段と、しきい値と比較
した結果しきい値を超えた時に使用者に告知する告知手
段と、装置中のディスク媒体上のセクタ単位のシーク
(リード／ライト)延回数を計測ししきい値と比較した結
果、シーク(リード／ライト)時のリトライ回数を増加さ
せる手段とを有することを特徴とする磁気ディスク装
置。
【請求項５】装置内のスピンドルモータ延起動時間、
ヘッドのロード／アンロード延回数、ディスク媒体上の
全体及びセクタ単位でのシーク(リード／ライト)延回数
に関する使用(劣化)状況を計測する計測手段と、予め記
録手段に設定したそれぞれのしきい値との比較を行う比
較手段と、しきい値と比較した結果しきい値を超えた時
に使用者に告知する告知手段と、スピンドルモータ延起
動時間に関するしきい値を超えた場合にはスピンドルモ
ータの回転速度を抑える手段と、ヘッドロード／アンロ
ード延回数に関するしきい値を超えた場合には、ヘッド
移動速度を抑える手段と、ディスク媒体上の全体シーク
(リード／ライト)延回数に関するしきい値を超えた場合
にはヘッド素子への通電量を抑える手段と、ディスク媒
体上のセクタ単位でのシーク(リード／ライト)延回数に
関するしきい値を超えた場合にはシーク(リード／ライ
ト)時のリトライ回数を増加させる手段とを有すること
を特徴とした磁気ディスク装置。
【請求項６】磁気ディスク装置を有する情報処理シス
テムであり、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の
磁気ディスク装置における部品の使用(劣化)状況を計測
する計測手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該計測
手段及び該磁気ディスク装置を具備してシステムを構成
することを特徴とした情報処理システム。
【請求項７】磁気ディスク装置を有する情報処理シス
テムであり、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の
磁気ディスク装置におけるしきい値に関する情報を記録
する記録手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該記録
手段及び該磁気ディスク装置を具備してシステムを構成
することを特徴とした情報処理システム。
【請求項８】磁気ディスク装置を有する情報処理シス
テムであり、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の
磁気ディスク装置における告知する告知手段を磁気ディ
スク装置とは別に設け、該告知手段及び該磁気ディスク
装置を具備してシステムを構成することを特徴とした情
報処理システム。
【請求項９】磁気ディスク装置を有する情報処理シス
テムであり、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の
磁気ディスク装置における計測手段、記録手段及び告知
手段を磁気ディスク装置とは別に設け、該計測手段、記
録手段及び告知手段並びに該磁気ディスク装置を具備し
てシステムを構成することを特徴とした情報処理システ
ム。