JP2002156337A - 透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体 - Google Patents
透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体Info
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- JP2002156337A JP2002156337A JP2000349235A JP2000349235A JP2002156337A JP 2002156337 A JP2002156337 A JP 2002156337A JP 2000349235 A JP2000349235 A JP 2000349235A JP 2000349235 A JP2000349235 A JP 2000349235A JP 2002156337 A JP2002156337 A JP 2002156337A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラス管等の光の透過体の透過光を撮像し、
それにより微細な欠陥を検出する検査方法と、その撮像
画像の画像処理アルゴリズムおよびそれらを用いた装置
を提供すること。 【解決手段】 照明光にスリット光5Lを用い、このス
リット光5Lは、被検査体1の回転軸と平行か、この回
転軸に対して水平方向で交差するように設定する。
それにより微細な欠陥を検出する検査方法と、その撮像
画像の画像処理アルゴリズムおよびそれらを用いた装置
を提供すること。 【解決手段】 照明光にスリット光5Lを用い、このス
リット光5Lは、被検査体1の回転軸と平行か、この回
転軸に対して水平方向で交差するように設定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は透明なガラス管等の
透光体の欠陥検出に関する。
透光体の欠陥検出に関する。
【0002】
【従来の技術】透明なガラス管に発生している微細な欠
陥は、撮像カメラで撮像して画像処理装置で処理した場
合、通常の周囲照明や同軸落射照明や透過照明では明瞭
な画像を得ることができない。このため、現状の検査工
程では、熟練した作業者がガラス管を手で回転させなが
ら光線の変化の具合から判断して欠陥を検出している。
陥は、撮像カメラで撮像して画像処理装置で処理した場
合、通常の周囲照明や同軸落射照明や透過照明では明瞭
な画像を得ることができない。このため、現状の検査工
程では、熟練した作業者がガラス管を手で回転させなが
ら光線の変化の具合から判断して欠陥を検出している。
【0003】しかし、この方法では作業者の疲労が大き
く、また、検査時間が長いばかりでなく、作業者の熟練
を要する。そのため、作業者による個人差も大きく検査
基準が一定しないという問題や、ガラス管の外周のどの
位置に欠陥が存在するかを予測できないため、作業者が
欠陥を見落とす可能性もある。
く、また、検査時間が長いばかりでなく、作業者の熟練
を要する。そのため、作業者による個人差も大きく検査
基準が一定しないという問題や、ガラス管の外周のどの
位置に欠陥が存在するかを予測できないため、作業者が
欠陥を見落とす可能性もある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、透明
なガラス管に発生したガラス管の軸方向に長さをもつ微
細な欠陥の検出は、従来の撮像カメラと画像処理装置に
よる検出方法では、明瞭な画像が得ることができない。
また、作業者の人手による方法でも検出時間がかかり、
また、作業者ごとに判断基準が不安定であるため、品質
管理を適切に行なうことができない。
なガラス管に発生したガラス管の軸方向に長さをもつ微
細な欠陥の検出は、従来の撮像カメラと画像処理装置に
よる検出方法では、明瞭な画像が得ることができない。
また、作業者の人手による方法でも検出時間がかかり、
また、作業者ごとに判断基準が不安定であるため、品質
管理を適切に行なうことができない。
【0005】本発明は、これらの事情にもとづいてなさ
れたもので、ガラス管等の透光体の透過光を撮像し、それ
により微細な欠陥を検出する検査方法とその装置および
検査プログラムと、検査プログラムを記録した記録媒体
を提供することを目的としている。
れたもので、ガラス管等の透光体の透過光を撮像し、それ
により微細な欠陥を検出する検査方法とその装置および
検査プログラムと、検査プログラムを記録した記録媒体
を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明による手
段によれば、透光体で形成された被検査体を回転可能に
保持する工程と、前記被検査体の一側方に対してスリッ
ト光を照射する工程と、前記被検査体を透過したスリッ
ト光を受光する工程と、受光したスリット光から前記被
検査体の欠陥を検出する工程とを有することを特徴とす
る透光体の検査方法である。
段によれば、透光体で形成された被検査体を回転可能に
保持する工程と、前記被検査体の一側方に対してスリッ
ト光を照射する工程と、前記被検査体を透過したスリッ
ト光を受光する工程と、受光したスリット光から前記被
検査体の欠陥を検出する工程とを有することを特徴とす
る透光体の検査方法である。
【0007】また請求項2の発明による手段によれば、
透光体で形成された被検査体を回転させる回転手段と、
前記被検査体の一側方に対してスリット光を照射する照
明手段と、前記被検査体を透過したスリット光を受光す
る受光手段と、受光したスリット光から前記被検査体の
欠陥を検出する検出手段とを有することを特徴とする透
光体の検査装置である。
透光体で形成された被検査体を回転させる回転手段と、
前記被検査体の一側方に対してスリット光を照射する照
明手段と、前記被検査体を透過したスリット光を受光す
る受光手段と、受光したスリット光から前記被検査体の
欠陥を検出する検出手段とを有することを特徴とする透
光体の検査装置である。
【0008】また請求項3の発明による手段によれば、
透光体で形成された被検査体を透過したスリット光を含
む画像に対して所定ピッチで検査ラインを設定するステ
ップと、前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するス
テップと、前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差か
ら被検査体の欠陥を検出するステップとを有することを
特徴とする透光体の検査プログラムである。
透光体で形成された被検査体を透過したスリット光を含
む画像に対して所定ピッチで検査ラインを設定するステ
ップと、前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するス
テップと、前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差か
ら被検査体の欠陥を検出するステップとを有することを
特徴とする透光体の検査プログラムである。
【0009】また請求項4の発明による手段によれば、
透光体で形成された被検査体を透過したスリット光を含
む画像に対して所定ピッチで検査ラインを設定するステ
ップと、前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するス
テップと、前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差か
ら被検査体の欠陥を検出するステップとを有する透光体
の検査プログラムを格納した記録媒体である。
透光体で形成された被検査体を透過したスリット光を含
む画像に対して所定ピッチで検査ラインを設定するステ
ップと、前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するス
テップと、前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差か
ら被検査体の欠陥を検出するステップとを有する透光体
の検査プログラムを格納した記録媒体である。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の透光体の検査につ
いての実施の形態を、図面を参照して説明する。
いての実施の形態を、図面を参照して説明する。
【0011】まず、本発明の被検査体の透光体の一例で
あるガラス管の形状について説明する。ガラス管は鉛フ
リーガラス等で形成された蛍光灯の部品で、両端が密閉
封止され、所定の加工が施されて蛍光灯を形成する。こ
の蛍光灯は、例えば、ノートパソコン等の表示部で用いら
れている液晶表示装置のバックライトとして使用される
ものである。この場合、ガラス管の封止個所に、微細な
ものでも傷が存在すると、封止による良好な密閉が得ら
れない恐れがある。したがって、検査により、それらの
封止個所に傷の存在するガラス管は、欠陥部品として組
立工程から排除する必要がある。
あるガラス管の形状について説明する。ガラス管は鉛フ
リーガラス等で形成された蛍光灯の部品で、両端が密閉
封止され、所定の加工が施されて蛍光灯を形成する。こ
の蛍光灯は、例えば、ノートパソコン等の表示部で用いら
れている液晶表示装置のバックライトとして使用される
ものである。この場合、ガラス管の封止個所に、微細な
ものでも傷が存在すると、封止による良好な密閉が得ら
れない恐れがある。したがって、検査により、それらの
封止個所に傷の存在するガラス管は、欠陥部品として組
立工程から排除する必要がある。
【0012】図1は、ガラス管の外観形状の斜視図で、
ガラス管1は外形がφ2〜4mmで、肉厚は0.1〜
0.5mmであり、全長が100〜400mmである。
それぞれの数値に幅が存在するのは、組み込む製品によ
って寸法が異なるためである。
ガラス管1は外形がφ2〜4mmで、肉厚は0.1〜
0.5mmであり、全長が100〜400mmである。
それぞれの数値に幅が存在するのは、組み込む製品によ
って寸法が異なるためである。
【0013】図2は、本発明のガラス管検査の原理を示
す模式図である。ガラス管1は、一端がモータ等のアク
チュエータ2のチャック3に把持され、アクチュエータ
2の回転軸を中心にアクチュエータ2の回転に伴って矢
印A方向に回転する。ガラス管1の一方(図中下方)に
はスリット光源4が設けられている。この光源4の、ハ
ロゲンランプ(不図示)の前方(ガラス管1側)には、
スリット5が形成されたスリット板6が設けられてい
る。このスリット5はガラス管1の回転軸とXY平面で
一致するように設けられており、位置的には少なくとも
ガラス管1の封止部および近傍を照射する位置に配置さ
れている。
す模式図である。ガラス管1は、一端がモータ等のアク
チュエータ2のチャック3に把持され、アクチュエータ
2の回転軸を中心にアクチュエータ2の回転に伴って矢
印A方向に回転する。ガラス管1の一方(図中下方)に
はスリット光源4が設けられている。この光源4の、ハ
ロゲンランプ(不図示)の前方(ガラス管1側)には、
スリット5が形成されたスリット板6が設けられてい
る。このスリット5はガラス管1の回転軸とXY平面で
一致するように設けられており、位置的には少なくとも
ガラス管1の封止部および近傍を照射する位置に配置さ
れている。
【0014】また、ガラス管1の光源4と対向する側
(図中上方)にはCCDカメラ7が設けられている。こ
のCCDカメラ7には画像取込部8と、それに接続した
画像処理部9が設けられている。
(図中上方)にはCCDカメラ7が設けられている。こ
のCCDカメラ7には画像取込部8と、それに接続した
画像処理部9が設けられている。
【0015】これらの構成により、図3に模式図を示す
ように、光源4からの光はスリット板6に設けられたス
リット5により、ガラス管1の回転軸と同方向のスリッ
ト光5Lに整形されてガラス管1に入射する。ガラス管
1に入射したスリット光5Lは、順次、ガラス→空気→ガ
ラス→空気と拡がりながら、それぞれの媒体を伝達して
CCDカメラ7で受光される。この場合、ガラス管1に
欠陥10が存在していると、その個所まで進んできたス
リット光5Lは、欠陥10により遮断されたり散乱され
たりする。
ように、光源4からの光はスリット板6に設けられたス
リット5により、ガラス管1の回転軸と同方向のスリッ
ト光5Lに整形されてガラス管1に入射する。ガラス管
1に入射したスリット光5Lは、順次、ガラス→空気→ガ
ラス→空気と拡がりながら、それぞれの媒体を伝達して
CCDカメラ7で受光される。この場合、ガラス管1に
欠陥10が存在していると、その個所まで進んできたス
リット光5Lは、欠陥10により遮断されたり散乱され
たりする。
【0016】図4は、CCDカメラ7での受光の画面の
状態を示した説明図である。画面全体の黒地は被検査体
であるガラス管1であり、縦方向に白い点線で示してい
るのがCCDカメラにおける検査ライン12a、12
b、12c…12nである。また、画面の中央部に横方
向に10度〜15度程度傾斜して表現されているグレー
の帯はスリット光5Lである。スリット光5Lの上に現
れた横方向の黒い線が欠陥10(又は欠陥候補)であ
る。この欠陥10(又は欠陥候補)により、その個所の
スリット光5Lは影響を受けて透過光量が低下した状態
でCCDカメラ7に受光される。なお、スリット光5L
が傾斜して設けられているのは、スリット光5Lでの検
出する領域を拡げるためである。
状態を示した説明図である。画面全体の黒地は被検査体
であるガラス管1であり、縦方向に白い点線で示してい
るのがCCDカメラにおける検査ライン12a、12
b、12c…12nである。また、画面の中央部に横方
向に10度〜15度程度傾斜して表現されているグレー
の帯はスリット光5Lである。スリット光5Lの上に現
れた横方向の黒い線が欠陥10(又は欠陥候補)であ
る。この欠陥10(又は欠陥候補)により、その個所の
スリット光5Lは影響を受けて透過光量が低下した状態
でCCDカメラ7に受光される。なお、スリット光5L
が傾斜して設けられているのは、スリット光5Lでの検
出する領域を拡げるためである。
【0017】図5は、CCDカメラ7の1つの検査ライ
ン12a、12b、12c…12nの任意の一点での、
CCDカメラ7による回転しているガラス管1からスリ
ット光5Lを順次受光した結果を示すグラフである。ガ
ラス管1に欠陥10が存在している場合、その欠陥10
の大きさに応じて、ガラス管1の濃度値(透過光量)の
差が異なって検出され、U字状の窪み(以後、ストライ
プ14と称する)の大きさとして示される。濃度値の差
(以下、濃度差と称する)の大きなストライプは血管の
一部である可能性が高いものである。
ン12a、12b、12c…12nの任意の一点での、
CCDカメラ7による回転しているガラス管1からスリ
ット光5Lを順次受光した結果を示すグラフである。ガ
ラス管1に欠陥10が存在している場合、その欠陥10
の大きさに応じて、ガラス管1の濃度値(透過光量)の
差が異なって検出され、U字状の窪み(以後、ストライ
プ14と称する)の大きさとして示される。濃度値の差
(以下、濃度差と称する)の大きなストライプは血管の
一部である可能性が高いものである。
【0018】図6(a)および(b)は、CCDカメラ
7で受光した欠陥10(又は欠陥候補)についての直線
判定を行なっている画面の説明図である。図6(a)に
示すように、濃度差が最大のストライプが所定数以上直
線状に存在している場合は欠陥と判断し、濃度差が最大
のストライプが所定数以下しか直線状に存在していない
場合は、欠陥と判断しない。したがって、図6(b)の
場合は、いずれも、濃度差が最大のストライプが所定数
以下しか直線状に並んでいないので、欠陥10は無し、
と判断している。
7で受光した欠陥10(又は欠陥候補)についての直線
判定を行なっている画面の説明図である。図6(a)に
示すように、濃度差が最大のストライプが所定数以上直
線状に存在している場合は欠陥と判断し、濃度差が最大
のストライプが所定数以下しか直線状に存在していない
場合は、欠陥と判断しない。したがって、図6(b)の
場合は、いずれも、濃度差が最大のストライプが所定数
以下しか直線状に並んでいないので、欠陥10は無し、
と判断している。
【0019】次に、本発明のガラス管の検査プログラム
のアルゴリズムを説明する。まず、全体の検査アルゴリ
ズムを図7を参照して説明し、その後に、各ステップに
おける個別の説明をそれぞれ行なう。
のアルゴリズムを説明する。まず、全体の検査アルゴリ
ズムを図7を参照して説明し、その後に、各ステップに
おける個別の説明をそれぞれ行なう。
【0020】全体の検査プログラムのアルゴリズムは、
まず、図4に示したように、CCDカメラ7により等間
隔にガラス管1の回転方向(Y方向)に検査ライン12
a、12b、12c…12nを設定する(S1)。CC
Dカメラ7により各検査ライン12a、12b、12c
…12nでストライプ14を検出する。このストライプ
14の検出は、各検査ライン12a、12b、12c…
12n毎に、図5に示したように欠陥10の大きさに応
じてストライプ14の大きさ(濃度値の差の大きさ)と
して検出される(S2)。次に、検査ライン12a、1
2b、12c…12n毎に検出されたストライプ14
を、予め設定されている閾値と比較して選択・判別する
(S3)。それらが全検査ライン12a、12b、12
c…12nで検出完了したか否かを判断し、もし、完了
していない場合は(S2)に戻り、フローにしたがって
それ以降のステップを順次行なう(S4)。次に、スト
ライプ14が検査ライン12a、12b、12c…12
n間で直線状に並んでいるか否かの直線判断を行なう
(S5)。直線判断の結果として直線が存在すると判断
された場合は、ガラス管1に欠陥ありと判断する(S
6)。一方、直線判断の結果として直線が存在しないと
判断された場合は、ガラス管1に欠陥なしと判断する
(S7)。これらにより検査を終了する。なお、ガラス
管1に欠陥10が存在した場合は、そのガラス管1は製
造ラインから外される。
まず、図4に示したように、CCDカメラ7により等間
隔にガラス管1の回転方向(Y方向)に検査ライン12
a、12b、12c…12nを設定する(S1)。CC
Dカメラ7により各検査ライン12a、12b、12c
…12nでストライプ14を検出する。このストライプ
14の検出は、各検査ライン12a、12b、12c…
12n毎に、図5に示したように欠陥10の大きさに応
じてストライプ14の大きさ(濃度値の差の大きさ)と
して検出される(S2)。次に、検査ライン12a、1
2b、12c…12n毎に検出されたストライプ14
を、予め設定されている閾値と比較して選択・判別する
(S3)。それらが全検査ライン12a、12b、12
c…12nで検出完了したか否かを判断し、もし、完了
していない場合は(S2)に戻り、フローにしたがって
それ以降のステップを順次行なう(S4)。次に、スト
ライプ14が検査ライン12a、12b、12c…12
n間で直線状に並んでいるか否かの直線判断を行なう
(S5)。直線判断の結果として直線が存在すると判断
された場合は、ガラス管1に欠陥ありと判断する(S
6)。一方、直線判断の結果として直線が存在しないと
判断された場合は、ガラス管1に欠陥なしと判断する
(S7)。これらにより検査を終了する。なお、ガラス
管1に欠陥10が存在した場合は、そのガラス管1は製
造ラインから外される。
【0021】次に、各ステップでの個別の説明を行な
う。
う。
【0022】まず、図7におけるステップS2でのスト
ライプ14の検出について説明する。ストライプ14の
検出は、各検査ライン12a、12b、12c…12n
で、白→黒エッジと、黒→白エッジを検出することより
ストライプ14を求める。図8(a)は白→黒エッジ検
出の説明図であり、図8(b)は黒→白エッジ検出の説
明図である。
ライプ14の検出について説明する。ストライプ14の
検出は、各検査ライン12a、12b、12c…12n
で、白→黒エッジと、黒→白エッジを検出することより
ストライプ14を求める。図8(a)は白→黒エッジ検
出の説明図であり、図8(b)は黒→白エッジ検出の説
明図である。
【0023】最初に、各検査ライン12a、12b、1
2c…12n毎に、各点でのCCDカメラ7で受光した
濃淡データをGray[i](i=0…)とし、この濃
淡データでの各点での傾きである Def[i]Gra
y[i+1]−Gray〔i+1〕を求める。さらに、
傾きの最大値Def_Max、最小値Def_Minを
計算し、エッジ検出の閾値を以下の式で求める。
2c…12n毎に、各点でのCCDカメラ7で受光した
濃淡データをGray[i](i=0…)とし、この濃
淡データでの各点での傾きである Def[i]Gra
y[i+1]−Gray〔i+1〕を求める。さらに、
傾きの最大値Def_Max、最小値Def_Minを
計算し、エッジ検出の閾値を以下の式で求める。
【0024】白→黒エッジ閾値 Min_Thl=0.
3×Def_Min 黒→白エッジ閾値 Max_Thl=0.3×Def_
Max ただし、係数である0.3は、実験により統計的に求め
た値である。
3×Def_Min 黒→白エッジ閾値 Max_Thl=0.3×Def_
Max ただし、係数である0.3は、実験により統計的に求め
た値である。
【0025】白→黒エッジの検出は、図8(a)に示す
ように、検査ライン12a、12b、12c…12nに
沿ってDef[i]が閾値Min_Thlより小さい点
を探す。次に、その点から「ストライプ14の幅の最大
値」までの間でDef[i]が最小となる点を探し、白
→黒エッジとする。
ように、検査ライン12a、12b、12c…12nに
沿ってDef[i]が閾値Min_Thlより小さい点
を探す。次に、その点から「ストライプ14の幅の最大
値」までの間でDef[i]が最小となる点を探し、白
→黒エッジとする。
【0026】また、黒→白エッジの検出は、図8(b)
に示すように、(白→黒エッジ)から(ストライプ14
の幅の最小値)〜(ストライプ14の幅の最大値)の範
囲で、Def[i]が最大値になる点を探す。その際の
Def[i]が閾値Max_Thlより大きければ、黒
→白エッジとする。
に示すように、(白→黒エッジ)から(ストライプ14
の幅の最小値)〜(ストライプ14の幅の最大値)の範
囲で、Def[i]が最大値になる点を探す。その際の
Def[i]が閾値Max_Thlより大きければ、黒
→白エッジとする。
【0027】これらにより、白→黒、黒→白エッジを求
め、両エッジを合わせてストライプ14とする。この段
階では、上記の条件を満たすストライプ14を最大で1
0個程度を検出する。
め、両エッジを合わせてストライプ14とする。この段
階では、上記の条件を満たすストライプ14を最大で1
0個程度を検出する。
【0028】なお、ストライプ14の幅の最小値および
最大値は、画面からユーザが任意に設定できる数値であ
る。
最大値は、画面からユーザが任意に設定できる数値であ
る。
【0029】次に、図7におけるステップS3での、ス
トライプ14の選択・判別について説明する。
トライプ14の選択・判別について説明する。
【0030】ストライプ14の選択・判定では、ステッ
プ(S2)で検出した、1本の検査ライン12a又は1
2b又は12c又は12nに対して最大で10個のスト
ライプ14について、欠陥10の一部である可能性の高
いストライプ14のみを選ぶもので、選択・判定の基準
は、ストライプ14とその周辺の濃度差を用いて行う。
プ(S2)で検出した、1本の検査ライン12a又は1
2b又は12c又は12nに対して最大で10個のスト
ライプ14について、欠陥10の一部である可能性の高
いストライプ14のみを選ぶもので、選択・判定の基準
は、ストライプ14とその周辺の濃度差を用いて行う。
【0031】図9に示すように、ステップS2で検出し
た両エッジを用いて両エッジの中点である(ストライプ
中心)を求め、以下の値が最大となるストライプ14を
選択する。
た両エッジを用いて両エッジの中点である(ストライプ
中心)を求め、以下の値が最大となるストライプ14を
選択する。
【0032】(前後エッジと中心の濃度差)=(白→黒
エッジの濃度値)−(両エッジの中心の濃度値)+(黒
→白エッジの濃度値)−(両エッジの中心の濃度値) ストライプ14の判定 選択したストライプ14について、(ストライプ中心)
から、ストライプ14の幅だけ離れた位置を(白→黒エ
ッジ前点)、(白→黒エッジ後点)とする。そして、以
下の式により(周辺濃度差(前))、(周辺濃度差
(後))を求める。
エッジの濃度値)−(両エッジの中心の濃度値)+(黒
→白エッジの濃度値)−(両エッジの中心の濃度値) ストライプ14の判定 選択したストライプ14について、(ストライプ中心)
から、ストライプ14の幅だけ離れた位置を(白→黒エ
ッジ前点)、(白→黒エッジ後点)とする。そして、以
下の式により(周辺濃度差(前))、(周辺濃度差
(後))を求める。
【0033】(周辺濃度差(前))=(白→黒エッジ前
の濃度値)−(両エッジの中心の濃度値) (周辺濃度差(後))=(黒→白エッジ後の濃度値)−
(両エッジの中心の濃度値) (周辺濃度差(前))、(周辺濃度差(後))の両方
が、ユーザが画面から設定した「ストライプ14の中心
と周辺の濃淡差レベル」よりも大きい場合に、ストライ
プ14は有効としてガラス管1の欠陥とする。
の濃度値)−(両エッジの中心の濃度値) (周辺濃度差(後))=(黒→白エッジ後の濃度値)−
(両エッジの中心の濃度値) (周辺濃度差(前))、(周辺濃度差(後))の両方
が、ユーザが画面から設定した「ストライプ14の中心
と周辺の濃淡差レベル」よりも大きい場合に、ストライ
プ14は有効としてガラス管1の欠陥とする。
【0034】次に、図7におけるステップ(S5)での
直線判定について説明する。
直線判定について説明する。
【0035】直線判定では、ガラス管1の検査対象の欠
陥10は、必ず直線状であることから、各検査ライン1
2a、12b、12c…12nで得られたストライプ1
4が、所定長さ以上の直線位置に並んでいるか否かで、
欠陥10の有無を判定する。
陥10は、必ず直線状であることから、各検査ライン1
2a、12b、12c…12nで得られたストライプ1
4が、所定長さ以上の直線位置に並んでいるか否かで、
欠陥10の有無を判定する。
【0036】図10は、直線判定のステップを示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【0037】まず、図11(a)に示したように、各検
査ライン12a、12b、12c…12nの横方向にス
リット光5L内のストライプ14を検出し、1個のスト
ライプ14を1度として、図11(b)に示したよう
に、それに対応したヒストグラム(度数分布図)を作成
する(S21)。それらの結果から、図12に示すよう
に、最大度数の近傍のストライプ14のみを有効とし
て、そのストライプ14の個数を検出する(S22)。
検出したストライプ14の個数を、予め定められている
欠陥と判断するストライプ14の個数と比較する(S2
3)。
査ライン12a、12b、12c…12nの横方向にス
リット光5L内のストライプ14を検出し、1個のスト
ライプ14を1度として、図11(b)に示したよう
に、それに対応したヒストグラム(度数分布図)を作成
する(S21)。それらの結果から、図12に示すよう
に、最大度数の近傍のストライプ14のみを有効とし
て、そのストライプ14の個数を検出する(S22)。
検出したストライプ14の個数を、予め定められている
欠陥と判断するストライプ14の個数と比較する(S2
3)。
【0038】その結果、検出したストライプ14の個数
の方が少ない場合は、ガラス管1に欠陥なしと判断する
(S27)。一方、検出したストライプ14の個数が等
しいか多い場合は、図13に示したように、最小二乗法に
より検出したストライプ14による近似直線16を求め
る(S24)。この近似直線16の近傍にあると判断で
きるストライプ14の個数と、予め定められている欠陥
と判断するストライプ14の個数と比較する(S2
5)。この場合、ストライプ14が近傍にあるか否かの
判断は、近似直線16からの距離(所定の距離内にある
か否か)により判断する。
の方が少ない場合は、ガラス管1に欠陥なしと判断する
(S27)。一方、検出したストライプ14の個数が等
しいか多い場合は、図13に示したように、最小二乗法に
より検出したストライプ14による近似直線16を求め
る(S24)。この近似直線16の近傍にあると判断で
きるストライプ14の個数と、予め定められている欠陥
と判断するストライプ14の個数と比較する(S2
5)。この場合、ストライプ14が近傍にあるか否かの
判断は、近似直線16からの距離(所定の距離内にある
か否か)により判断する。
【0039】その結果、近似直線16の近傍にあると判
断できるストライプ14の個数の方が等しいか多い場合
は、欠陥ありと判断してそのガラス管1は欠陥があると
判断する(S26)。一方、近似直線16の近傍にある
と判断できるストライプ14の個数の方が少ない場合
は、S23に戻り、それ以降はフローチャートに従って、
順次、各ステップを繰り返す。
断できるストライプ14の個数の方が等しいか多い場合
は、欠陥ありと判断してそのガラス管1は欠陥があると
判断する(S26)。一方、近似直線16の近傍にある
と判断できるストライプ14の個数の方が少ない場合
は、S23に戻り、それ以降はフローチャートに従って、
順次、各ステップを繰り返す。
【0040】次に、図14を参照して本発明のガラス管
1検査装置を説明する。
1検査装置を説明する。
【0041】モータ31の回転軸に軸継手32を介して
第1回転軸33が固定されている。この第1回転軸33
には所定間隔を離間して一対の同径のローラ34a、3
4bが形成されている。また、第1回転軸33と平行に
第2回転軸35が設けられている。この第2回転軸35
にも第1回転軸33と同様に、ローラ34a、34bと
対応する一対の同径のローラ36a、36bが設けられ
ている。また、両回転軸33、35に設けられた各ロー
ラ34a、34b、36a、36bは、その軸方向に微
小なギャップで対向し、径方向に若干重なるように配置
されている。なお、第2回転軸35は、第1回転軸33
のモータ31と反対側に設けられた伝動ベルト37によ
り第1回転軸33と同方向(矢印B方向)に同速度で回
転駆動される。この両回転軸33、35に設けられた対
向するローラ(34aと36aおよび34bと36b)
の交差する個所の上にガラス管1が載置されると、ガラ
ス管1は各ローラ34a、34b、36a、36bの回
転に伴い矢印C方向に回転する。
第1回転軸33が固定されている。この第1回転軸33
には所定間隔を離間して一対の同径のローラ34a、3
4bが形成されている。また、第1回転軸33と平行に
第2回転軸35が設けられている。この第2回転軸35
にも第1回転軸33と同様に、ローラ34a、34bと
対応する一対の同径のローラ36a、36bが設けられ
ている。また、両回転軸33、35に設けられた各ロー
ラ34a、34b、36a、36bは、その軸方向に微
小なギャップで対向し、径方向に若干重なるように配置
されている。なお、第2回転軸35は、第1回転軸33
のモータ31と反対側に設けられた伝動ベルト37によ
り第1回転軸33と同方向(矢印B方向)に同速度で回
転駆動される。この両回転軸33、35に設けられた対
向するローラ(34aと36aおよび34bと36b)
の交差する個所の上にガラス管1が載置されると、ガラ
ス管1は各ローラ34a、34b、36a、36bの回
転に伴い矢印C方向に回転する。
【0042】ガラス管1の下方の第1回転軸33と第2
回転軸35との間には、ガラス管1の検査位置にそれぞ
れ対応してハロゲンランプを有する光源38、39が配
置されている。光源38、39の上方にはスリット(不
図示)が形成されたスリット板41、42が設けられて
いる。なお、スリット板41、42のスリットの方向
は、ガラス管1の回転光軸と僅かに傾斜(10度〜15
度程度)している。
回転軸35との間には、ガラス管1の検査位置にそれぞ
れ対応してハロゲンランプを有する光源38、39が配
置されている。光源38、39の上方にはスリット(不
図示)が形成されたスリット板41、42が設けられて
いる。なお、スリット板41、42のスリットの方向
は、ガラス管1の回転光軸と僅かに傾斜(10度〜15
度程度)している。
【0043】スリット板41、42に対向してガラス管
1の上方には、それぞれCCDカメラ44、45が配置
されている。各CCDカメラ44、45は出力側が画像
処理装置である制御用パソコン47に接続されている。
1の上方には、それぞれCCDカメラ44、45が配置
されている。各CCDカメラ44、45は出力側が画像
処理装置である制御用パソコン47に接続されている。
【0044】これらの構成により、第1回転軸33と第
2回転軸35との対向するローラ(34aと36aおよ
び34bと36b)の交差する個所に載置されたガラス
管1が回転駆動された状態で、下方からスリット光が照
射され、このスリット光はガラス管1を透過してCCD
カメラ44、45で受光される。CCDカメラ44、4
5で受光されたスリット光による画像処理については上
記に説明した通りである。それらにより、ガラス管1の
回転に伴いガラス管1の全周について欠陥の有無が検査
される。
2回転軸35との対向するローラ(34aと36aおよ
び34bと36b)の交差する個所に載置されたガラス
管1が回転駆動された状態で、下方からスリット光が照
射され、このスリット光はガラス管1を透過してCCD
カメラ44、45で受光される。CCDカメラ44、4
5で受光されたスリット光による画像処理については上
記に説明した通りである。それらにより、ガラス管1の
回転に伴いガラス管1の全周について欠陥の有無が検査
される。
【0045】なお、上述の検査プログラムはプログラム
言語に変換されて、ハードディスクやCD−ROMやF
D等の記録媒体に記録されている。
言語に変換されて、ハードディスクやCD−ROMやF
D等の記録媒体に記録されている。
【0046】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、本発明はこれ以外にも、例えば、以下のように種々
の変形可能である。
たが、本発明はこれ以外にも、例えば、以下のように種々
の変形可能である。
【0047】上述の実施の形態においては、CCDカメ
ラによりスリット光による画像の撮像により欠陥の検出
をおこなったが、肉眼あるいは顕微鏡により人間が欠陥
を検出する際にも、同様の照明方法を用いることができ
る。
ラによりスリット光による画像の撮像により欠陥の検出
をおこなったが、肉眼あるいは顕微鏡により人間が欠陥
を検出する際にも、同様の照明方法を用いることができ
る。
【0048】また、上述の実施の形態においては、透光
体の被検査体として、透明なガラス管を対象としたが、
他の材質や半透明な材質の場合でも、上述の方法、装置
を適用できる。さらに、形状も円筒に限らず断面が多角
形の筒などにも適用することができる。
体の被検査体として、透明なガラス管を対象としたが、
他の材質や半透明な材質の場合でも、上述の方法、装置
を適用できる。さらに、形状も円筒に限らず断面が多角
形の筒などにも適用することができる。
【0049】また、上述の実施の形態では、照明光源と
して1本のスリット光を用いたが、複数本のスリットを
用いることもできる。その場合は、図15に示すような
スリット5a、5b、5cに対応した画像が得られ、そ
の画像について上述と同様の画像処理を施せば、ガラス
管1の欠陥をより迅速に検査することができる。
して1本のスリット光を用いたが、複数本のスリットを
用いることもできる。その場合は、図15に示すような
スリット5a、5b、5cに対応した画像が得られ、そ
の画像について上述と同様の画像処理を施せば、ガラス
管1の欠陥をより迅速に検査することができる。
【0050】
【発明の効果】本発明によれば、透光体に発生した微細
な傷等の欠陥を迅速に検出することができる。
な傷等の欠陥を迅速に検出することができる。
【図1】ガラス管の外観形状の斜視図。
【図2】本発明のガラス管検査の原理を示す模式図。
【図3】スリット光の進路を示すに模式図。
【図4】検査ラインの説明図。
【図5】検査ラインで順次受光した結果を示すグラフ。
【図6】(a)および(b)は直線判定を行なっている
画面の説明図。
画面の説明図。
【図7】検査アルゴリズム示すフローチャート。
【図8】(a)は白→黒エッジ検出の説明図、(b)は
黒→白エッジ検出の説明図。
黒→白エッジ検出の説明図。
【図9】ストライプの選択・判定の説明図。
【図10】直線判定のステップを示すフローチャート。
【図11】(a)各検査ラインの横方向にスリット光内
のストライプの検出の説明画面、 (b)そのヒストグラム。
のストライプの検出の説明画面、 (b)そのヒストグラム。
【図12】最大度数近傍のストライプ個数の検出説明画
面。
面。
【図13】近似直線近傍のストライプ個数の検出説明画
面。
面。
【図14】本発明のガラス管検査装置の模式図。
【図15】複数のスリットを用いた際の説明画面。
1…ガラス管、4、38、39…光源、5、5a、5
b、5c…スリット、5L…スリット光、7、44、4
5…CCDカメラ、9…画像処理部、12a、12b、
12c〜12n…検査ライン、14…ストライプ、16
…近似直線
b、5c…スリット、5L…スリット光、7、44、4
5…CCDカメラ、9…画像処理部、12a、12b、
12c〜12n…検査ライン、14…ストライプ、16
…近似直線
Claims (4)
- 【請求項1】 透光体で形成された被検査体を回転可能
に保持する工程と、 前記被検査体の一側方に対してスリット光を照射する工
程と、 前記被検査体を透過したスリット光を受光する工程と、 受光したスリット光から前記被検査体の欠陥を検出する
工程とを有することを特徴とする透光体の検査方法。 - 【請求項2】 透光体で形成された被検査体を回転させ
る回転手段と、 前記被検査体の一側方に対してスリット光を照射する照
明手段と、 前記被検査体を透過したスリット光を受光する受光手段
と、 受光したスリット光から前記被検査体の欠陥を検出する
検出手段とを有することを特徴とする透光体の検査装
置。 - 【請求項3】 透光体で形成された被検査体を透過した
スリット光を含む画像に対して所定ピッチで検査ライン
を設定するステップと、 前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するステップ
と、 前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差から被検査体
の欠陥を検出するステップとを有することを特徴とする
透光体の検査プログラム。 - 【請求項4】 透光体で形成された被検査体を透過した
スリット光を含む画像に対して所定ピッチで検査ライン
を設定するステップと、 前記各検査ライン毎に光の濃度差を検出するステップ
と、 前記各検査ライン毎に検出した光の濃度差から被検査体
の欠陥を検出するステップとを有する透光体の検査プロ
グラムを格納した記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000349235A JP2002156337A (ja) | 2000-11-16 | 2000-11-16 | 透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000349235A JP2002156337A (ja) | 2000-11-16 | 2000-11-16 | 透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002156337A true JP2002156337A (ja) | 2002-05-31 |
| JP2002156337A5 JP2002156337A5 (ja) | 2007-12-27 |
Family
ID=18822678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000349235A Withdrawn JP2002156337A (ja) | 2000-11-16 | 2000-11-16 | 透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002156337A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008076223A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置 |
| JP2009300181A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Asahi Glass Co Ltd | 管体の検査装置及び検査システム |
| JP2010014599A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Asahi Glass Co Ltd | 透明管体の外観検査装置及び外観検査システム |
| CN108169247A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-15 | 星阵(广州)基因科技有限公司 | 一种毛细玻璃管品质检测装置 |
| JP2019007951A (ja) * | 2017-06-26 | 2019-01-17 | 日本電気硝子株式会社 | 波長変換部材の検査方法及びその検査装置 |
-
2000
- 2000-11-16 JP JP2000349235A patent/JP2002156337A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008076223A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置 |
| JP2009300181A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Asahi Glass Co Ltd | 管体の検査装置及び検査システム |
| JP2010014599A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Asahi Glass Co Ltd | 透明管体の外観検査装置及び外観検査システム |
| JP2019007951A (ja) * | 2017-06-26 | 2019-01-17 | 日本電気硝子株式会社 | 波長変換部材の検査方法及びその検査装置 |
| JP7068656B2 (ja) | 2017-06-26 | 2022-05-17 | 日本電気硝子株式会社 | 波長変換部材の検査方法及びその検査装置 |
| JP2022090138A (ja) * | 2017-06-26 | 2022-06-16 | 日本電気硝子株式会社 | 波長変換部材の検査方法、波長変換部材の検査装置及び波長変換部材の製造方法 |
| JP7305109B2 (ja) | 2017-06-26 | 2023-07-10 | 日本電気硝子株式会社 | 波長変換部材の検査方法、波長変換部材の検査装置及び波長変換部材の製造方法 |
| CN108169247A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-15 | 星阵(广州)基因科技有限公司 | 一种毛细玻璃管品质检测装置 |
| CN108169247B (zh) * | 2017-12-29 | 2023-12-01 | 星阵(广州)基因科技有限公司 | 一种毛细玻璃管品质检测装置 |
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|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081128 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20091019 |