JP2002151449A - 加工装置のバキューム生成機構 - Google Patents

加工装置のバキューム生成機構

Info

Publication number
JP2002151449A
JP2002151449A JP2000344153A JP2000344153A JP2002151449A JP 2002151449 A JP2002151449 A JP 2002151449A JP 2000344153 A JP2000344153 A JP 2000344153A JP 2000344153 A JP2000344153 A JP 2000344153A JP 2002151449 A JP2002151449 A JP 2002151449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
water
water supply
temperature
flow rate
tank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000344153A
Other languages
English (en)
Inventor
Miki Yoshida
幹 吉田
Masaru Arai
賢 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2000344153A priority Critical patent/JP2002151449A/ja
Publication of JP2002151449A publication Critical patent/JP2002151449A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱交換器を用いることなく、冷水の消費量を
節減することができる加工装置のバキューム生成機構を
提供する。 【解決手段】 被加工物を保持するチャックテーブルに
吸引力を作用せしめる加工装置のバキューム生成機構で
あって、吸引口と排出口と水供給口とを有する水封式バ
キュームポンプと、吸引口とチャックテーブルとを連通
する吸引経路と、排出口から排出される排水を貯留する
排水タンクと、排水タンクと水供給口と連通する循環経
路と、水供給口と連通する給水経路と、給水経路に配設
され冷水の流量を調整する冷水流量調整手段と、排水タ
ンクに貯留された排水の温度を検出する排水温度検出手
段と、制御手段とを具備している。制御手段は、排水タ
ンクに貯留された排水の温度が所定温度以上に達したら
冷水流量調整手段を流量が増加するように制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエーハ等
の被加工物を研削する研削装置や被加工物を切削する切
削装置等の加工装置に装備されるバキューム生成機構に
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエーハ等の被加工物を研削する
研削装置や被加工物を切削する切削装置等の加工装置
は、被加工物を吸引保持するチャックテーブルを備えて
いる。このチャックテーブルは、保持する被加工物に吸
引力を作用せしめるバキューム生成機構に接続されてい
る。バキューム生成機構には、バキュームを生成するバ
キュームポンプとしてケーシングと羽根車が非接触の状
態で作動する水封式バキュームポンプが一般に用いられ
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】而して、上述した水封
式バキュームポンプは、20°C程度の冷水を封水とし
て常時供給し、供給量に相当する量の封水を排出する必
要がある。この水封式バキュームポンプに封水として供
給される冷水は、1分間に5リットル(5リットル/
分)程度の量が必要であり、相当多量に消費される。そ
こで、水封式バキュームポンプから排出された封水、即
ち排水を循環して使用することにより、冷水の消費量を
節約することができるが、排水を循環して使用すると排
水の温度が1分間に2°C〜3°C上昇するため、水封
式バキュームポンプが正常に稼働する限界温度(50°
C)に10分足らずで到達してしまい長時間の連続稼働
が困難となる。このような問題を解消するためには、排
水の循環経路に排水を冷却するための熱交換器を配設す
ればよいが、バキューム生成機構のコストが増大する。
【0004】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その主たる技術課題は、熱交換器を用いることな
く、冷水の消費量を節減することができる加工装置のバ
キューム生成機構を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記主たる技術課題を解
決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャ
ックテーブルに吸引力を作用せしめる加工装置のバキュ
ーム生成機構において、吸引口と排出口と水供給口とを
有する水封式バキュームポンプと、該吸引口と該チャッ
クテーブルとを連通する吸引経路と、該排出口と連通し
該排出口から排出される排水を貯留する排水タンクと、
該排水タンクと該水供給口と連通し該排水タンクに貯留
された排水を該水封式バキュームポンプに封水として循
環せしめる循環経路と、該水供給口と連通し冷水を該水
封式バキュームポンプに封水として供給する給水経路
と、該給水経路に配設され冷水の流量を調整する冷水流
量調整手段と、該排水タンクに貯留された排水の温度を
検出する排水温度検出手段と、該排水温度検出手段から
の検出信号に基づいて該冷水流量調整手段を制御する制
御手段と、を具備し、該制御手段は、該排水タンクに貯
留された排水の温度が所定温度以上に達したら該冷水流
量調整手段を流量が増加するように制御する、ことを特
徴とする加工装置のバキューム生成機構が提供される。
【0006】また、本発明によれば、給水経路は第1の
給水経路と第2の給水経路を備え、上記冷水流量調整手
段は第1の給水経路に配設された第1の絞り弁と第2の
給水経路に配設された第2の絞り弁および開閉弁とを具
備しており、上記制御手段は上記排水タンクに貯留され
た排水の温度が所定温度に達しない状態では該開閉弁を
閉止し、排水の温度が所定温度以上に達したら該開閉弁
を開口する加工装置のバキューム生成機構が提供され
る。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明に従って構成された
加工装置のバキューム生成機構の好適な実施形態につい
て、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0008】図1には、本発明に従って構成されたバキ
ューム生成機構を備えた加工装置としてのダイシング装
置の斜視図が示されている。図示の実施形態におけるダ
イシング装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具備
している。この装置ハウジング2内には、被加工物を保
持するチャックテーブル3が切削送り方向である矢印X
で示す方向に移動可能に配設されている。チャックテー
ブル3は、吸着チャック支持台31と、該吸着チャック
支持台31上に装着された吸着チャック32を具備して
おり、該吸着チャック32の表面である載置面上に被加
工物である例えば円盤状の半導体ウエーハを後述するバ
キューム生成機構によって生成されるバキュームの吸引
作用によって保持するようになっている。また、チャッ
クテーブル3は、図示しない回転機構によって回動可能
に構成されている。なお、チャックテーブル3およびバ
キューム生成機構の具体的な構成については、後で詳細
に説明する。
【0009】図示の実施形態におけるダイシング装置
は、切削手段としてのスピンドルユニット4を具備して
いる。スピンドルユニット4は、図示しない移動基台に
装着され割り出し方向である矢印Yで示す方向および切
り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるス
ピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング4
1に回転自在に支持され図示しない回転駆動機構によっ
て回転駆動される回転スピンドル42と、該回転スピン
ドル42に装着された切削ブレード43とを具備してい
る。
【0010】図示の実施形態におけるダイシング装置
は、上記チャックテーブル3を構成する吸着チャック3
2の表面に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切
削ブレード43によって切削すべき領域を検出したり、
切削溝の状態を確認したりするための撮像機構5を具備
している。この撮像機構5は顕微鏡やCCDカメラ等の
光学手段からなっている。また、ダイシング装置は、撮
像機構5によって撮像された画像を表示する表示手段6
を具備している。
【0011】図示の実施形態におけるダイシング装置
は、被加工物としての半導体ウエーハ8をストックする
カセット7を具備している。半導体ウエーハ8は、支持
フレーム9にテープ10によって支持されており、支持
フレーム9に支持された状態で上記カセット7に収容さ
れる。なお、カセット7は、図示しない昇降手段によっ
て上下に移動可能に配設されたカセットテーブル71上
に載置される。
【0012】図示の実施形態におけるダイシング装置
は、カセット7に収容された被加工物としての半導体ウ
エーハ8(支持フレーム9にテープ10によって支持さ
れた状態)を被加工物載置領域11に搬出する被加工物
搬出手段12と、該被加工物搬出手段12によって搬出
された半導体ウエーハ8を上記チャックテーブル3上に
搬送する被加工物搬送手段13と、チャックテーブル3
で切削加工された半導体ウエーハ8を洗浄する洗浄手段
14と、チャックテーブル3で切削加工された半導体ウ
エーハ8を洗浄手段14へ搬送する洗浄搬送手段15を
具備している。
【0013】次に、上述したダイシング装置の加工処理
動作について簡単に説明する。カセット7の所定位置に
収容された支持フレーム9にテープ10を介して支持さ
れた状態の半導体ウエーハ8(以下、支持フレーム9に
テープ10によって支持された状態の半導体ウエーハ8
を単に半導体ウエーハ8という)は、図示しない昇降手
段によってカセットテーブル71が上下動することによ
り搬出位置に位置付けられる。次に、被加工物搬出手段
12が進退作動して搬出位置に位置付けられた半導体ウ
エーハ8を被加工物載置領域11に搬出する。被加工物
載置領域11に搬出された半導体ウエーハ8は、被加工
物搬送手段13の旋回動作によって上記チャックテーブ
ル3を構成する吸着チャック32の載置面に搬送され、
後述するバキューム生成機構によって生成されるバキュ
ームの吸引作用によって吸着チャック32に吸引保持さ
れる。このようにして半導体ウエーハ8を吸引保持した
チャックテーブル3は、撮像機構5の直下まで移動せし
められる。チャックテーブル3が撮像機構5の直下に位
置付けられると、撮像機構5によって半導体ウエーハ8
に形成されている切断ラインが検出され、スピンドルユ
ニット4の割り出し方向である矢印Y方向に移動調節し
て精密位置合わせ作業が行われる。
【0014】その後、切削ブレード43を所定の方向に
回転させつつ、半導体ウエーハ8を吸引保持したチャッ
クテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す方向
(切削ブレード43の回転軸と直交する方向)に所定の
切削送り速度で移動することにより、チャックテーブル
3に保持された半導体ウエーハ8は切削ブレード43に
より所定の切断ライン(ストリート)に沿って切断され
る。即ち、切削ブレード43は割り出し方向である矢印
Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方
向に移動調整されて位置決めされたスピンドルユニット
4に装着され、回転駆動されているので、チャックテー
ブル3を切削ブレード43の下側に沿って切削送り方向
に移動することにより、チャックテーブル3に保持され
た半導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定の切
断ラインに沿って切削される。切断ラインに沿って切断
すると、半導体ウエーハ8は個々の半導体チップに分割
される。分割された半導体チップは、テープ10の作用
によってバラバラにはならず、フレーム9に支持された
半導体ウエーハ8の状態が維持されている。このように
して半導体ウエーハ8の切断が終了した後、半導体ウエ
ーハ8を保持したチャックテーブル3は、最初に半導体
ウエーハ8を吸引保持した位置に戻され、ここで後述す
るバキューム生成機構によって生成されるバキュームの
作用が断たれ、半導体ウエーハ8の吸引保持を解除す
る。次に、半導体ウエーハ8は、洗浄搬送手段15によ
って洗浄手段14に搬送され、ここで洗浄される。この
ようにして洗浄された半導体ウエーハ8は、被加工物搬
送手段13によって被加工物載置領域11に搬出され
る。そして、半導体ウエーハ8は、被加工物搬出手段1
2によってカセット7の所定位置に収納される。
【0015】次に、上述したチャックテーブル3および
バキューム生成機構の一実施形態について、図2を参照
して説明する。チャックテーブル3を構成する吸着チャ
ック支持台31は、ステンレス鋼等の金属材料によって
円盤状に構成され、その下面中央部には回転軸部311
が突出して形成されている。吸着チャック支持台31の
上面には上方が開放された円形状の凹部312が形成さ
れており、この凹部312は回転軸部311に設けられ
た連通路313と連通している。チャックテーブル3を
構成する吸着チャック32は、ポーラスセラミック盤に
よって形成され、上記吸着チャック支持台31に形成さ
れた凹部312に嵌合されている。このように構成され
たチャックテーブル3は、回転軸部311に設けられた
連通路313がバキューム生成機構100に連通され
る。
【0016】図示の実施形態におけるバキューム生成機
構100は、バキューム生成源としての水封式バキュー
ムポンプ110を具備している。この水封式バキューム
ポンプ110は、電動モータ115(M)によって駆動
される。水封式バキュームポンプ110は、吸引口11
1と排出口112と水供給口113とを備えており、水
供給口113から封水を導入し、吸引口111から空気
を吸引するとともに、排出口112から封水を排水とし
て吸引した空気とともに排出する。このように構成され
た水封式バキュームポンプ110の吸引口111は、上
記吸着チャック支持台31の回転軸部311に設けられ
た連通路313と吸引経路120を介して連通される。
この吸引経路120には、連通路313側から吸引口1
11側への流通は許容するが吸引口111側から連通路
313側への流通を遮断する逆止弁121が配設されて
いる。また、水封式バキュームポンプ110の排出口1
12は、排水経路130を介して排水タンク140に連
通されている。排水タンク140は、水封式バキューム
ポンプ110の排出口112から排出される排水および
空気を導入し、排水と空気を分離して空気を大気に放出
するとともに、排水を貯留する。排水タンク140の下
部には排出管141が接続されており、この排出管14
1に開閉弁142が配設されている。また、排水タンク
140の中央部より上側にはオーバーフロー管143の
一端が接続されており、このオーバーフロー管143の
他端が上記排出管141における開閉弁142より排出
側に接続されている。
【0017】水封式バキュームポンプ110の水供給口
113は、給水経路150を介して市水等の冷水を貯留
する給水タンク160に連通されている。給水経路15
0は第1の給水経路151と第2の給水経路152とを
備えており、この第1の給水経路151および第2の給
水経路152は給水管153を介して水供給口113に
連通するとともに給水管154を介して給水タンク16
0に連通されている。給水管154中には電磁開閉弁1
55(V1)が配設されている。この電磁開閉弁155
(V1)は除勢されているときには図示のように閉路し
ており、付勢されると開路するように構成されている。
【0018】上記第1の給水経路151および第2の給
水経路152には給水経路150を流れる冷水の流量を
調整する冷水流量調整手段170が配設されている。図
示の実施形態における冷水流量調整手段170は、第1
の給水経路151に配設された第1の絞り弁171と、
第2の給水経路152に配設された第2の絞り弁172
および電磁開閉弁173(V2)とからなっている。第
1の絞り弁171と第2の絞り弁172は可変絞り弁か
らなっており、図示の実施形態においては第1の絞り弁
171の開口面積が第2の絞り弁172の開口面積の5
分の1(1/5)程度、例えば1分間に1リットル(1
リットル/分)程度の流量になるように調整されてい
る。電磁開閉弁173(V2)は、除勢されているとき
には図示のように閉路しており、付勢されると開路する
ように構成されている。
【0019】図示の実施形態におけるバキューム生成機
構100は、上記排水タンク140の下部と上記給水管
153とを連通する循環経路180を備えている。この
循環経路180には、排水タンク140側から給水管1
53側への流通は許容するが給水管153側から排水タ
ンク140側への流通を遮断する逆止弁181が配設さ
れている。上記排水タンク140には該排水タンク14
0内に貯留された排水の温度を検出する排水温度検出セ
ンサー190が配設されており、この排水温度検出セン
サー190はその検出信号を後述する制御手段に出力す
る。
【0020】図示の実施形態におけるバキューム生成機
構は制御手段200を具備している。制御手段200
は、マイクロコンピュータによって構成されており、制
御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CP
U)201と、制御プログラム等を格納するリードオン
リメモリ(ROM)202と、演算結果等を格納する読
み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)303
と、入力インターフェース204および出力インターフ
ェース205とを備えている。このように構成された制
御手段200の入力インターフェース204には、上記
排水温度検出センサー190の検出信号が入力される。
また、入力インターフェース204には、バキューム生
成機構の作動を指示する作動スイッチ210(SW1)
の信号が入力される。なお、作動スイッチ210(SW
1)からの信号は、バキューム生成機構の作動および停
止を指示する制御手段200からの制御信号でもよい。
一方、上記出力インターフェース205からは上記水封
式バキュームポンプ110を駆動する電動モータ115
(M)、上記電磁開閉弁155(V1)および電磁開閉
弁173(V2)等に制御信号を出力する。
【0021】次に、上述したバキューム生成機構の作動
について、図3に示すフローチャートをも参照して説明
する。制御手段200は、先ず作動スイッチ210(S
W1)がONされたか否か、即ちバキューム生成機構の
作動が指示されたか否かをチェックする(ステップS
1)。ステップS1において作動スイッチ210(SW
1)がONされていなければ、制御手段200はバキュ
ーム生成機構の作動が指示されていないと判断し、作動
スイッチ210(SW1)がONされるまで待つ。ステ
ップS1において作動スイッチ210(SW1)がON
されたならば、制御手段200はバキューム生成機構の
作動が指示されていると判断し、ステップS2に進んで
電動モータ115(M)を駆動するとともに電磁開閉弁
155(V1)を付勢する。この結果、水封式バキュー
ムポンプ110が作動されるとともに電磁開閉弁155
(V1)が開路せしめられ、給水タンク160内の冷水
が給水管154、第1の給水経路151、給水管153
を通って水封式バキュームポンプ110の水供給口11
3に封水として供給される。水封式バキュームポンプ1
10が作動すると、排水タンク140内の排水も循環経
路180および給水管153を通って水封式バキューム
ポンプ110の水供給口113に封水として供給され
る。このとき、給水タンク160内の冷水は第1の給水
経路151に配設された開口面積の小さい第1の絞り弁
171によって絞られるため、水供給口113には大部
分が循環経路180を通る排水が封水として供給され
る。従って、給水タンク160内の冷水の消費量は極め
て少ない。このようにして水封式バキュームポンプ11
0が作動すると、吸引口111に負圧が発生し吸引経路
120を介してチャックテーブル3内の空気が吸引さ
れ、チャックテーブル3に吸引力が発生する。上記のよ
うにして水供給口113から水封式バキュームポンプ1
10に封水として供給された冷水および排水と吸引口1
11から水封式バキュームポンプ110に吸引された空
気は、排出口112から排水経路130を介して排水タ
ンク140に排出される。排水タンク140に排出され
た排水と空気は、ここで気液分離され、空気は大気に放
出されとともに、排水が排水タンク140に貯留され
る。
【0022】上述したようにステップS2において電動
モータ115(M)を駆動するとともに電磁開閉弁15
5(V1)を付勢して水封式バキュームポンプ110が
作動したならば、制御手段200はステップS3に進ん
で排水温度検出センサー190からの信号に基づいて、
排水タンク140内に貯留された排水の温度(T)が第
1の設定温度(T1)以上になったか否かをチェックす
る。なお、第1の設定温度(T1)は、水封式バキュー
ムポンプ110が正常に稼働する上限温度で例えば35
°Cに設定されている。ステップS3において排水の温
度(T)が第1の設定温度(T1)に達してなければ、
制御手段200は現在の状態で作動しても問題がないと
判断し、上記ステップS2に戻ってステップS2および
ステップS3を繰り返し実行する。このように、排水の
温度(T)が第1の設定温度(T1)に達するまでは、
水封式バキュームポンプ110には大部分が排水タンク
131に貯留された排水が循環して供給されるため、冷
水の消費量を大幅に節減することができる。ステップS
3において排水の温度(T)が第1の設定温度(T1)
以上の場合には、制御手段200は水封式バキュームポ
ンプ110の正常な稼働に支障が生じると判断し、ステ
ップS4に進んで電磁開閉弁173(V2)を付勢す
る。この結果、電磁開閉弁173(V2)が開路するた
め、給水タンク160内の20°C程度の冷水が例えば
1分間に5リットル(5リットル/分)程度、給水管1
54、第1の給水経路151および第2の給水経路15
2、給水管153を通って水封式バキュームポンプ11
0の水供給口113に供給される。従って、水供給口1
13に供給される給水タンク160内の冷水の量は上記
第1の給水経路151だけを通る場合と比較して略6倍
(例えば6リットル/分)程度となるため、循環経路1
80を通って水供給口113に供給される循環水の量が
極僅かとなり、水封式バキュームポンプ110内で作動
する水の温度を低下させることができる。
【0023】上記ステップS4において電磁開閉弁17
3(V2)を付勢したならば、制御手段200はステッ
プS5に進んで排水温度検出センサー190からの信号
に基づいて、排水タンク140内に貯留された排水の温
度(T)が第2の設定温度(T2)以下になったか否か
をチェックする。なお、第2の設定温度(T2)は第1
の設定温度(T1)より10°C程度低い例えば25°
Cに設定されている。ステップS5において排水の温度
(T)が第2の設定温度(T2)まで低下しない場合
は、制御手段200は現在の作動状態を維持する必要が
あると判断し、上記ステップS4に戻ってステップS4
およびステップS5を繰り返し実行する。ステップS5
において排水の温度(T)が第2の設定温度(T2)以
下になった場合には、制御手段200は給水タンク16
0内の冷水の供給により水封式バキュームポンプ110
内で作動する封水の温度が十分に低下したと判断し、ス
テップS6に進んで電磁開閉弁173(V2)を除勢し
て第2の給水経路152を閉路する。この結果、給水タ
ンク160内の冷水の供給は第1の給水経路151から
のみとなって、循環経路180を通って水供給口113
に封水として供給される排水の量が再び増加する。
【0024】上記ステップS6において電磁開閉弁17
3(V2)を除勢したら、制御手段200はステップS
7に進んで作動スイッチ210(SW1)がOFFされ
たか否か、即ちバキューム生成機構の作動の停止が指示
されたか否かをチェックする。ステップS7において作
動スイッチ210(SW1)がOFFされていなけれ
ば、制御手段200はバキューム生成機構の作動が指示
されているものと判断し、上記ステップS2に戻ってス
テップS2乃至ステップS7を繰り返し実行する。ステ
ップS7において作動スイッチ210(SW1)がOF
Fされていれば、制御手段200はバキューム生成機構
の作動の停止が指示されたものと判断し、上記ステップ
S8に進んで電動モータ115(M)の駆動を停止する
とともに電磁開閉弁155(V1)を除勢する。この結
果、水封式バキュームポンプ110の作動が停止される
とともに電磁開閉弁155(V1)が閉路せしめられて
バキューム生成機構の作動の停止する。
【0025】以上、本発明を図示の実施形態に基づいて
説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるもので
はない。例えば、実施形態においては切削装置としての
ダイシング装置に本発明を適用した例を示したが、本発
明は研削装置等の他の加工装置に適用することも可能で
ある。
【0026】
【発明の効果】本発明による加工装置のバキューム生成
機構は以上のように構成されているので、次の作用効果
を奏する。
【0027】即ち、本発明によれば、排水タンクに貯留
された排水を該水封式バキュームポンプに封水として循
環せしめる循環経路と冷水を水封式バキュームポンプに
封水として供給する給水経路と、該給水経路に配設され
冷水の流量を調整する冷水流量調整手段と、排水タンク
に貯留された排水の温度を検出する排水温度検出手段
と、制御手段とを具備し、該制御手段は、排水タンクに
貯留された排水の温度が所定温度以上に達したら冷水流
量調整手段を流量が増加するように制御するようにした
ので、排水の温度が所定温度に達するまでは、水封式バ
キュームポンプには大部分が排水タンクに貯留された排
水が循環して供給されるため、冷水の消費量を大幅に節
減することができる。また、本発明においては、排水を
冷却するための熱交換器を用いないので、バキューム生
成機構のコストの低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるバキューム生成機構を適用する加
工装置としてのダイシング装置の斜視図。
【図2】本発明に従って構成されたバキューム生成機構
のブロック構成図。
【図3】図2に示すバキューム生成機構の制御手段の動
作手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
2:装置ハウジング 3:チャックテーブル 31:吸着チャック支持台 32:吸着チャック 4:スピンドルユニット 41:スピンドルハウジング 42:回転スピンドル 43:切削ブレード 5:撮像機構 6:表示手段 7:カセット 71:カセットテーブル 8:半導体ウエーハ 9:支持フレーム 10:テープ 11:被加工物載置領域 12:被加工物搬出手段 13:被加工物搬送手段 14:洗浄手段 15:洗浄搬送手段 100:バキューム生成機構 110:水封式バキュームポンプ 115:電動モータ(M) 111:水封式バキュームポンプの吸引口 112:水封式バキュームポンプの排出口 113:水封式バキュームポンプの水供給口 120:吸引経路 121:逆止弁 130:排水経路 140:排水タンク 141:排出管 142:開閉弁 143:オーバーフロー管 150:給水経路 151:第1の給水経路 152:第2の給水経路 153:給水管 154:給水管 155:電磁開閉弁(V1) 160:給水タンク 170:冷水流量調整手段 171:第1の絞り弁 172:第2の絞り弁 173:電磁開閉弁(V2) 180:循環経路 181:逆止弁 190:排水温度検出センサー 200:制御手段 210:作動スイッチ(SW1)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を保持するチャックテーブルに
    吸引力を作用せしめる加工装置のバキューム生成機構に
    おいて、 吸引口と排出口と水供給口とを有する水封式バキューム
    ポンプと、 該吸引口と該チャックテーブルとを連通する吸引経路
    と、 該排出口と連通し該排出口から排出される排水を貯留す
    る排水タンクと、 該排水タンクと該水供給口と連通し該排水タンクに貯留
    された排水を該水封式バキュームポンプに封水として循
    環せしめる循環経路と、 該水供給口と連通し冷水を該水封式バキュームポンプに
    封水として供給する給水経路と、 該給水経路に配設され冷水の流量を調整する冷水流量調
    整手段と、 該排水タンクに貯留された排水の温度を検出する排水温
    度検出手段と、 該排水温度検出手段からの検出信号に基づいて該冷水流
    量調整手段を制御する制御手段と、を具備し、 該制御手段は、該排水タンクに貯留された排水の温度が
    所定温度以上に達したら該冷水流量調整手段を流量が増
    加するように制御する、 ことを特徴とする加工装置のバキューム生成機構。
  2. 【請求項2】 該給水経路は、第1の給水経路と第2の
    給水経路を備え、 該冷水流量調整手段は、該第1の給水経路に配設された
    第1の絞り弁と、該第2の給水経路に配設された第2の
    絞り弁および開閉弁とを具備しており、 該制御手段は、該排水タンクに貯留された排水の温度が
    所定温度に達しない状態では該開閉弁を閉止し、排水の
    温度が所定温度以上に達したら該開閉弁を開口する、請
    求項1記載の加工装置のバキューム生成機構。
JP2000344153A 2000-11-10 2000-11-10 加工装置のバキューム生成機構 Pending JP2002151449A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000344153A JP2002151449A (ja) 2000-11-10 2000-11-10 加工装置のバキューム生成機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000344153A JP2002151449A (ja) 2000-11-10 2000-11-10 加工装置のバキューム生成機構

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002151449A true JP2002151449A (ja) 2002-05-24

Family

ID=18818402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000344153A Pending JP2002151449A (ja) 2000-11-10 2000-11-10 加工装置のバキューム生成機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002151449A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014124701A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Disco Abrasive Syst Ltd 負圧生成装置
CN105563187A (zh) * 2015-02-05 2016-05-11 上海蓝强机械制造有限公司 数控机床真空系统
JP2017166413A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 三浦工業株式会社 水封式真空ポンプの運転方法及び利用装置
TWI718309B (zh) * 2016-07-25 2021-02-11 日商牛尾電機股份有限公司 工件平台及曝光裝置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS611886A (ja) * 1984-05-30 1986-01-07 レーヴェ プンペンファブリーク ゲー エム ベー ハー 水封真空ポンプ用制御装置
JPH0992711A (ja) * 1995-09-22 1997-04-04 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブル及びそれが配設されたダイサー
JPH09151873A (ja) * 1995-12-04 1997-06-10 Miura Co Ltd 水封式真空ポンプの運転方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS611886A (ja) * 1984-05-30 1986-01-07 レーヴェ プンペンファブリーク ゲー エム ベー ハー 水封真空ポンプ用制御装置
JPH0992711A (ja) * 1995-09-22 1997-04-04 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブル及びそれが配設されたダイサー
JPH09151873A (ja) * 1995-12-04 1997-06-10 Miura Co Ltd 水封式真空ポンプの運転方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014124701A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Disco Abrasive Syst Ltd 負圧生成装置
CN105563187A (zh) * 2015-02-05 2016-05-11 上海蓝强机械制造有限公司 数控机床真空系统
JP2017166413A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 三浦工業株式会社 水封式真空ポンプの運転方法及び利用装置
TWI718309B (zh) * 2016-07-25 2021-02-11 日商牛尾電機股份有限公司 工件平台及曝光裝置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101487364B1 (ko) 처리액 공급 장치
US7867337B2 (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP2001259961A (ja) 加工装置
JPH08108125A (ja) 液供給装置
KR970006206B1 (ko) 자동 도포 시스템
JP5712101B2 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
US11883858B2 (en) Substrate processing device and substrate processing method
US7211145B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP5154102B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP3189821U (ja) 処理液供給配管回路
JP2002151449A (ja) 加工装置のバキューム生成機構
JP2003145377A (ja) 被加工物の保持装置
JP4608074B2 (ja) 加工装置のバキューム生成機構
JP2001244233A (ja) ウェット処理装置
KR20100015359A (ko) 경사진 진공 도관을 갖는 근접 헤드 시스템, 장치 및 방법
KR102585104B1 (ko) 액 처리 장치 및 약액 제어 방법
JPH0969488A (ja) 乾燥方法および装置
JPH02250771A (ja) 半導体ウェーハの研削装置
JP2002224931A (ja) 加工液供給装置
JP4351981B2 (ja) 半導体基板の洗浄方法及びその装置
JP3862435B2 (ja) ポリッシング装置
JP2021019137A (ja) 保持装置及び加工装置
US20240066659A1 (en) Processing apparatus
KR0122871Y1 (ko) 반도체 제조용 세척조의 온도 및 유량 자동제어장치
JP2001244237A (ja) 半導体製造装置用冷媒パージ方法および冷媒パージシステム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071010

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090901

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110316

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110517