JP2002148742A - 放射線画像読取装置 - Google Patents
放射線画像読取装置Info
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Abstract
像を多数の光電変換素子を直線状に配列したラインセン
サにより読み取る放射線画像読取装置において、折り返
し歪みが生じるのを防止することにより最終画像におけ
るモアレの発生を抑制する。 【解決手段】 輝尽発光光Mを平行光束とする第1のセ
ルフォックレンズアレイ15、第1のセルフォックレン
ズアレイにより平行光束にされた輝尽発光光を透過する
ダイクロイックミラー14およびラインセンサ20に集
光させる第2のセルフォックレンズアレイ16から構成
される集光光学系18が、そのMTFが光電変換素子2
1のX方向の幅により決定されるナイキスト周波数にお
いて50%以下となるように第1、第2のセルフォック
レンズアレイの屈折率および第1、第2のセルフォック
レンズアレイおよびダイクロイックミラー14の位置関
係を調整する。
Description
等に蓄積された放射線画像を多数の光電変換素子を直線
状に配列したラインセンサにより読み取る放射線画像読
取装置に関するものである。
と、この放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後、
可視光やレーザ光などの励起光を照射すると、蓄積され
た放射線エネルギーに応じて輝尽発光光が発光される。
この蓄積性蛍光体(輝尽性蛍光体)を利用して、例えば
支持体上にこの蓄積性蛍光体を積層した蓄積性蛍光体シ
ートに人体などの被写体を透過した放射線を照射するこ
とにより、放射線画像情報を一旦蓄積記録し、この蓄積
性蛍光体シートにレーザ光などの励起光を照射して、輝
尽発光光を生じさせ、この輝尽発光光を光電変換して画
像信号を得る放射線画像読取装置がCR(Computed Radio
graphy)として、広く実用に供されている。
は、観察読影に適した階調処理や周波数処理などの画像
処理が施され、これらの処理が施された後の画像信号は
診断用可視画像(最終画像)としてフィルムに記録さ
れ、または高精細なCRTに表示されて医師などによる診
断に提供される。
射線画像読取装置においては、輝尽発光光の読取時間の
短縮や、装置のコンパクト化およびコストの低減の視点
から、励起光源として、シートに対して線状に励起光を
照射するライン光源を使用し、ライン光源により励起光
が照射されたシートの線状の部分の長さ方向(以下、主
走査方向とする)に沿って多数の光電変換素子が配列さ
れたラインセンサを使用するとともに、上記ライン光源
およびラインセンサと上記蛍光体シートとの一方を他方
に対して相対的に、上記線状の部分の長さ方向に略直交
する方向(以下、副走査方向とする)に移動させる走査
手段を備えた構成が提案されている(特開昭60-111568
号公報、特開昭60-236354号公報、特開平1-101540号公
報など)。
ような多数の光電変換素子が配列されたラインセンサを
使用して放射線画像に基づく輝尽発光光を受光した場
合、光電変換素子は一定のピッチで配列されているため
輝尽発光光はその1画素ごとにサンプリングされる。従
って、このとき、ラインセンサにより受光される放射線
画像に基づく輝尽発光光の信号成分において、サンプリ
ングの周波数の2分の1(以下、ナイキスト周波数と呼
ぶ。)より高い周波数の信号成分あった場合、最終画像
のモアレの発生の原因となり画質を低下させる。
のような問題点に鑑みて、蓄積性蛍光体シート等に蓄積
された放射線画像を多数の光電変換素子を直線状に配列
したラインセンサにより読み取る放射線画像読取装置に
おいて、折り返し歪みが生じるのを防止することにより
最終画像におけるモアレの発生を抑制することができる
放射線画像読取装置を提供することを目的とするもので
ある。
線画像読取装置は、放射線画像が蓄積された蓄積性蛍光
体シートの表面の一部に励起光を線状に照射する照射手
段と、照射手段により蛍光体シートに励起光が線状に照
射された部分から発光された輝尽発光光を集光する集光
レンズを有する集光光学系および集光光学系により集光
された輝尽発光光を受光して光電変換する多数の光電変
換素子が直線状に一定のピッチで配列されてなるライン
センサを有する検出手段と、照射手段および検出手段と
蛍光体シートの一方を他方に対して相対的に照射された
部分の長さ方向と異なる方向に移動させる走査手段と、
ラインセンサの出力を移動に応じて順次読み取る読取手
段とを備えた放射線画像読取装置において、集光光学系
のMTFが、一定のピッチから規定されるナイキスト周
波数において50%以下になることを特徴とするもので
ある。
ズからなるものに限らず、複数の集光レンズを備えるも
の、また、集光レンズ以外の他の光学的作用を示すもの
を有するものも含む。
ば、図4に示すとおり放射線画像に基づく輝尽発光光の
信号成分の周波数が高くなるほど低くなっいく。また、
「一定のピッチから規定されるナイキスト周波数」と
は、ラインセンサにおける光電変換素子の配列されるピ
ッチから規定されるサンプリング周波数の2分の1の周
波数のことである。一般的に、このナイキスト周波数よ
り高い周波数の信号成分があると折り返し歪みを生じ
る。「集光光学系のMTFが、一定のピッチから規定さ
れるナイキスト周波数において50%以下になる」と
は、集光光学系のMTFによりナイキスト周波数におけ
る信号成分が50%以下になることを意味する。
5に示すように一定のピッチから規定されるナイキスト
周波数において20%以下になるようにすることもでき
る。
は、放射線画像が蓄積された蓄積性蛍光体シートの表面
の一部に励起光を線状に照射する照射手段と、照射手段
により蛍光体シートに励起光が線状に照射された部分か
ら発光された輝尽発光光を集光する集光レンズを有する
集光光学系および集光光学系により集光された輝尽発光
光を受光して光電変換する多数の光電変換素子が直線状
に一定のピッチで配列されてなるラインセンサを有する
検出手段と、照射手段および検出手段と蛍光体シートの
一方を他方に対して相対的に照射された部分の長さ方向
と異なる方向に移動させる走査手段と、ラインセンサの
出力を移動に応じて順次読み取り、最終画像を構成する
データを得る読取手段とを備えた放射線画像読取装置に
おいて、一定のピッチが最終画像の画素の幅より小さ
く、ラインセンサから出力される一定のピッチに基づく
画素密度の画像信号を最終画像の画素密度に変換する画
素密度変換フィルタを備え、画素密度変換フィルタの周
波数特性が、最終画像の画素密度から規定されるナイキ
スト周波数において50%以下になることを特徴とする
ものである。
の幅より小さい」とは、一定のピッチを最終画像の画素
の主走査方向の幅より小さくすることによりサンプリン
グ周波数を高くして折り返し歪みを減少させることを意
味する。また、「画素密度変換フィルタの周波数特性」
は、例えば、図8に示すとおり放射線画像に基づく輝尽
発光光の信号成分の周波数が高くなるほど低くなっい
く。また、「最終画像の画素密度から規定されるナイキ
スト周波数」とは、最終画像の画素の主走査方向の幅か
ら規定されるサンプリング周波数の2分の1の周波数の
ことである。「画素密度変換フィルタの周波数特性が、
最終画像の画素密度から規定されるナイキスト周波数に
おいて50%以下になる」とは、画素密度変換フィルタ
により主走査方向画素密度変換を行なうとき、その周波
数特性によりナイキスト周波数における輝尽発光光の信
号成分が50%以下になることを意味する。
はフィルタ係数やフィルタのタップ数により定まるの
で、フィルタ係数やフィルタのタップ数を適宜選択した
所望の周波数特性を実現すればよい。
は、例えば、図9に示すように最終画像の画素密度から
規定されるナイキスト周波数において20%以下になる
ようにすることもできる。
線画像読取装置において、励起光が線状に照射された部
分の相対的に移動させる方向の幅が最終画像の画素の幅
より小さく、ラインセンサから出力される前記照射され
た部分の相対的に移動させる方向の幅に基づく画素密度
の画像信号を最終画像の画素密度に変換する第2の画素
密度変換フィルタを備え、第2の画素密度変換フィルタ
の周波数特性が、最終画像の画素の幅から規定されるナ
イキスト周波数において50%以下になるようにするこ
とができる。
の相対的に移動させる方向の幅が最終画像の画素の幅よ
り小さい」とは、例えば、図10に示すとおり励起光が
線状に照射された部分の副走査方向(Y方向)の幅が1
画素の幅より小さい(図10では、1画素の4分の1の
幅となる)ことを意味する。
記照射された部分の相対的に移動させる方向の幅に基づ
く画素密度の画像信号を最終画像の画素密度に変換す
る」とは、最終画像の1画素の画像信号が、励起光の照
射された部分の副走査方向(Y方向)の幅に区切られた
複数の領域の画像信号から構成されるよう変換すること
を意味する。
るナイキスト周波数」とは、最終画像の副走査方向の画
素の幅から規定されるサンプリング周波数の2分の1の
周波数を意味する。また、「第2の画素密度変換フィル
タの周波数特性が、最終画像の画素の幅から規定される
ナイキスト周波数において50%以下になる」とは、第
2の画素密度変換フィルタにより副走査方向の画素密度
変換をするとき、その周波数特性によりナイキスト周波
数における信号成分が50%以下になることを意味す
る。
数特性は、例えば、図9に示すように最終画像の画素密
度から規定されるナイキスト周波数において20%以下
になるようにすることができる。
によれば、励起光の照射により蛍光体シートから発せら
れる放射線画像に基づく輝尽発光光をラインセンサに集
光する集光光学系のMTFが、ラインセンサの光電変換
素子が配列される一定のピッチから規定されるナイキス
ト周波数において50%以下になるようにしたので、折
り返し歪みを減少させることができ、最終画像における
モアレの発生を抑制することができる。
チから規定されるナイキスト周波数において20%以下
になるようにした場合には、さらに折り返し歪みを減少
させることができ、モアレの発生を抑制することができ
る。
よれば、励起光の照射により蛍光体シートから発せられ
る放射線画像に基づく輝尽発光光を受光するラインセン
サの光電変換素子のピッチの幅を最終画像の画素の幅よ
りも小さくしてナイキスト周波数を高くし、ラインセン
サにより受光され光電変換された画像信号を最終画像の
所望の画素密度に変換する画素密度変換フィルタを備
え、その画素密度変換フィルタの周波数特性が最終画像
の画素密度から規定されるナイキスト周波数において5
0%以下になるようにしたので、折り返し歪みを減少さ
せることができ、最終画像におけるモアレの発生を抑制
することができる。
が、最終画像の画素密度から規定されるナイキスト周波
数において20%以下になるようにした場合には、さら
に折り返し歪みを減少させることができ、モアレの発生
を抑制することができる。
線画像読取装置において、励起光が線状に照射された部
分の相対的に移動させる方向の幅を最終画像の画素の幅
より小さくして、ラインセンサから出力される画像信号
の相対的に移動させる方向の幅に基づく画素密度を最終
画像の画素密度に変換する第2の画素密度変換フィルタ
を備え、第2の画素密度変換フィルタの周波数特性が、
最終画像の画素の幅から規定されるナイキスト周波数に
おいて50%以下になるようにした場合には、副走査方
向における画素密度変換においても折り返し歪みを減少
させることができ、さらにモアレの発生を抑制すること
ができる。
数特性が、最終画像の画素の幅から規定されるナイキス
ト周波数において20%以下になるようにした場合に
は、上記同様モアレの発生の抑制をより効果的に行うこ
とができる。
態について図面を用いて説明する。本発明による放射線
画像読取装置の一実施形態の概略構成図を図1および図
2に示す。図1は本実施形態の放射線画像読取装置の斜
視図、図2は図1に示した放射線画像読取装置のI−I
線断面を示す断面図、また、図3は図1と図2に示した
放射線画像読取装置のラインセンサ20の詳細構成を示
す図である。
線画像が蓄積記録された蓄積性蛍光体シート(以下、蛍
光体シートという)50を載置して矢印Y方向に搬送す
る走査ベルト40、線状の2次励起光(以下、単に励起
光という)Lを蛍光体シート50表面に略平行に出射す
る励起光源11、励起光源11から出射された線状の励
起光Lを集光するコリメータレンズおよび一方向にのみ
ビームを拡げるトーリックレンズの組合せからなる光学
系12、蛍光体シート50表面に対して45度の角度を
傾けて配置され、励起光Lを蛍光体シート50に向かっ
て略垂直方向に反射し後述する輝尽発光光Mを透過する
ように設定されたダイクロイックミラー14、ダイクロ
イックミラー14により反射された線状の励起光Lを、
蛍光体シート50上にX方向に沿って延びる線状に集光
するとともに、励起光の照射により蛍光体シート50か
ら発せられる蓄積記録された放射線画像に応じた輝尽発
光光Mを平行光束とする屈折率分布形レンズアレイ15
(多数の屈折率分布形レンズが配列されてなるレンズで
あり、以下、第1のセルフォックレンズアレイとい
う)、この第1のセルフォックレンズアレイ15により
平行光束とされ、ダイクロイックミラー14を透過した
輝尽発光光Mを、後述するラインセンサ20に集光させ
る第2のセルフォックレンズアレイ16、第2のセルフ
ォックレンズアレイ16を透過した輝尽発光光Mに僅か
に混在する、蛍光体シート50表面で反射した励起光L
をカットし、輝尽発光光Mは透過する励起光カットフィ
ルタ17、励起光カットフィルタ17を透過した輝尽発
光光Mを受光して光電変換するラインセンサ20、ライ
ンセンサ20から出力された信号を読み取る画像読取手
段30を備えている。
光を射出するものでもよいし、光学系により線状にする
ようにしてもよい。
ズからなる光学系12は、励起光源11からの励起光L
を蛍光体シート50上に所望の照射域に拡大する。
ように、光電変換素子21がX方向に沿って多数(例え
ば1000個以上)配列した構成となっている。
6は、ラインセンサの受光面において、蛍光体シート5
0上における輝尽発光光Mの像を1対1の大きさで結像
する像面とする作用をなす。
1のセルフォックレンズアレイ15、第1のセルフォッ
クレンズアレイ15により平行光束にされた輝尽発光光
を透過するダイクロイックミラー14およびラインセン
サ20に集光させる第2のセルフォックレンズアレイ1
6から構成される集光光学系18は、図4に示すように
そのMTFが光電変換素子21のX方向の幅により決定
されるナイキスト周波数において50%以下となるよう
に第1、第2のセルフォックレンズアレイの屈折率およ
び第1、第2のセルフォックレンズアレイおよびダイク
ロイックミラー14の位置関係を調整したものである。
置の作用について説明する。まず、走査ベルト40が矢
印Y方向に移動することにより、この走査ベルト40上
に載置された、放射線画像が蓄積記録された蛍光体シー
ト50を矢印Y方向に搬送する。このときの蛍光体シー
トの搬送速度はベルト40の移動速度に等しく、ベルト
40の移動速度は画像読取手段30に入力される。
を、蛍光体シート50表面に対して略平行に出射し、こ
の励起光Lは、その光路上に設けられたコリメータレン
ズおよびトーリックレンズからなる光学系12により平
行ビームとされ、ダイクロイックミラー14により蛍光
体シート50に垂直に入射する直交方向に反射され、そ
の反射光は第1のセルフォックレンズアレイ15によ
り、蛍光体シート50上に配置された蛍光体シート50
上にX方向に沿って延びる線状に略垂直に入射される。
Lによりその集光域の蓄積性蛍光体を励起するとともに
集光域から蛍光体シート50内部に入射して集光域の近
傍部分に拡散し、集光域の近傍部分の蓄積性蛍光体も励
起する。その結果、蛍光体シート50の集光域およびそ
の近傍から、蓄積記録されている放射線画像に応じた強
度の輝尽発光光Mが発光される。この輝尽発光光Mは、
第1のセルフォックレンズアレイ15により平行光束と
され、ダイクロイックミラー14を透過し、第2のセル
フォックレンズアレイ16により、ラインセンサ20の
光電変換素子21に集光される。この際、第2のセルフ
ォックレンズアレイ16を透過した輝尽発光光Mに蛍光
体シート50表面で反射した励起光Lが僅かに存在して
いたとしても、励起光カットフィルタ17によりカット
されるので、ラインセンサ表面には入射しない。また、
第1のセルフォックレンズアレイ15、ダイクロイック
ミラー14および第2のセルフォックレンズアレイ16
から構成される集光光学系18は、そのMTFが光電変
換素子21のX方向の幅により決定されるナイキスト周
波数において50%以下となるように第1、第2のセル
フォックレンズアレイの屈折率および第1、第2のセル
フォックレンズアレイおよびダイクロイックミラー14
の位置関係を調整してあるので、ラインセンサ20の光
電変換素子21により輝尽発光光が受光されてサンプリ
ングされる際に生じる折り返し歪みを減少させることが
できる。
変換され、その画像信号は画像読取手段30により読み
取られ、画像処理装置等に出力される。
は、そのMTFが光電変換素子21のX方向の幅により
決定されるナイキスト周波数において50%以下となる
ようにしたが、望ましくは図5に示すように20%以下
である。
よれば、励起光の照射により蛍光体シート50から発せ
られる放射線画像に基づく輝尽発光光Mをラインセンサ
20に集光する集光光学系18のMTFが、光電変換素
子のX方向の幅から規定されるナイキスト周波数におい
て50%以下になるものとしたので、折り返し歪みを減
少させることができ、最終画像におけるモアレの発生を
抑制することができる。
換素子のX方向の幅から規定されるナイキスト周波数に
おいて20%以下になるようにした場合には、さらに折
り返し歪みを減少させることができ、モアレの発生を抑
制することができる。
装置の一実施形態について説明する。本発明による第2
の放射線画像読取装置の一実施形態の概略構成図を図6
に示す。また、図7は図6に示した放射線画像読取装置
のラインセンサ22の詳細構成を示す図である。その構
成は、本実施の形態における放射線画像読取装置は、上
記第1の放射線画像読取装置の実施形態とほぼ同様のた
め、異なる要素のみ図6および図7内に要素番号を記載
する。なお、第1の放射線画像読取装置の実施形態と同
等の要素についての説明は特に必要のない限り省略す
る。
は、蛍光体シート50から発光された輝尽発光光を受光
して光電変換するラインセンサ22の光電変換素子23
のX方向の幅が所望の画像の画素の幅より小さく構成さ
れている。
2の光電変換素子23により光電変換された画像信号を
読み取り、読み取られた画像信号を画素密度変換して所
望の画像の画素密度に変換する画素密度変換フィルタ3
2を備えている。さらに、画素密度変換フィルタ32
は、図8に示すようにその周波数特性が所望の画像の画
素密度により規定されるナイキスト周波数において50
%以下となるようにしたものである。
はフィルタ係数やフィルタのタップ数により定まるの
で、フィルタ係数やフィルタのタップ数を適宜選択した
所望の周波数特性を実現すればよい。
装置の作用について説明する。本実施の形態の放射線画
像読取装置では、蛍光体シート50から発光された輝尽
発光光は、所望の画像の画素密度よりX方向の幅が小さ
い光電変換素子23からなるラインセンサ22により受
光されて光電変換され、画像読取手段31により読み取
られる。このとき、光電変換素子23のX方向の幅は、
所望の画像の画素密度より小さくなるように構成されて
いるので、ラインセンサ22でのサンプリング時に折り
返し歪みを減少させることができる。
れた画像信号は、画素密度変換フィルタ32により所望
の画像の画素密度に変換された後、デジタル化等され画
像処理装置等に出力される。
の周波数特性が所望の画像の画素密度により規定される
ナイキスト周波数において50%以下となるよう構成さ
れたものなので、画素密度変換に伴う折り返し歪みを減
少させることができる。
ィルタ32は、その周波数特性が所望の画像の画素密度
により規定されるナイキスト周波数において50%以下
となるようしたが、望ましくは図9に示すように20%
以下である。
よれば、励起光の照射により蛍光体シート50から発せ
られる放射線画像に基づく輝尽発光光Mを受光するライ
ンセンサ22の光電変換素子23の幅を最終画像の画素
密度よりも小さくしてナイキスト周波数を高くし、ライ
ンセンサ22により受光され光電変換された画像信号を
最終画像の画素密度に変換する画素密度変換フィルタ3
1を備え、その画素密度変換フィルタ31の周波数特性
が最終画像の画素密度から規定されるナイキスト周波数
において50%以下になるものとしたので、折り返し歪
みを減少させることができ、最終画像におけるモアレの
発生を抑制することができる。
特性が、最終画像の画素密度から規定されるナイキスト
周波数において20%以下になるものとした場合には、
さらに折り返し歪みを減少させることができ、モアレの
発生を抑制することができる。
形態における放射線画像読取装置は、図8に示すように
励起光が蛍光体シートに照射される部分のY方向の幅を
所望の画像の画素密度より小さくして、その励起光の照
射部分の幅に基づく画素密度を所望の画像の画素密度に
画素密度変換する第2の画素密度変換フィルタを備える
ようにすることもできる。このとき、第2の画素密度変
換フィルタの周波数特性を、所望の画像の画素密度から
規定されるナイキスト周波数において50%以下になる
ようにすることができる。また、望ましくは20%以下
である。このことによりY方向における画素密度変換に
おいても、折り返し歪みを減少させることができる。
は、上述した実施形態に限るものではなく、光源、光源
とシートとの間の集光光学系、シートとラインセンサと
の間の光学系、ラインセンサ、公知の種々の構成を採用
することができる。また、画像情報読取手段から出力さ
れた信号に対して種々の信号処理を施す画像処理装置を
さらに備えた構成や、励起が完了したシートになお残存
する放射線エネルギーを適切に放出せしめる消去手段を
さらに備えた構成を採用することもできる。
施形態の概略構成図
面を示す断面図
おけるラインセンサの詳細図
(ナイキスト周波数において50%以下)を示す図
(ナイキスト周波数において20%以下)を示す図
施形態の概略構成図
ンセンサの詳細図
の周波数特性(ナイキスト周波数において50%以下)
を示す図
の周波数特性(ナイキスト周波数において20%以下)
を示す図
Claims (6)
- 【請求項1】 放射線画像が蓄積された蓄積性蛍光体シ
ートの表面の一部に励起光を線状に照射する照射手段
と、該照射手段により前記蛍光体シートに前記励起光が
線状に照射された部分から発光された輝尽発光光を集光
する集光レンズを有する集光光学系および該集光光学系
により集光された前記輝尽発光光を受光して光電変換す
る多数の光電変換素子が直線状に一定のピッチで配列さ
れてなるラインセンサを有する検出手段と、前記照射手
段および前記検出手段と前記蛍光体シートの一方を他方
に対して相対的に前記照射された部分の長さ方向と異な
る方向に移動させる走査手段と、前記ラインセンサの出
力を前記移動に応じて順次読み取る読取手段とを備えた
放射線画像読取装置において、 前記集光光学系のMTFが、前記一定のピッチから規定
されるナイキスト周波数において50%以下になること
を特徴とする放射線画像読取装置。 - 【請求項2】 前記集光光学系のMTFが、前記一定の
ピッチから規定されるナイキスト周波数において20%
以下になることを特徴とする請求項1記載の放射線画像
読取装置。 - 【請求項3】 放射線画像が蓄積された蓄積性蛍光体シ
ートの表面の一部に励起光を線状に照射する照射手段
と、該照射手段により前記蛍光体シートに前記励起光が
線状に照射された部分から発光された輝尽発光光を集光
する集光レンズを有する集光光学系および該集光光学系
により集光された前記輝尽発光光を受光して光電変換す
る多数の光電変換素子が直線状に一定のピッチで配列さ
れてなるラインセンサを有する検出手段と、前記照射手
段および前記検出手段と前記蛍光体シートの一方を他方
に対して相対的に前記照射された部分の長さ方向と異な
る方向に移動させる走査手段と、前記ラインセンサの出
力を前記移動に応じて順次読み取り、最終画像を構成す
るデータを得る読取手段とを備えた放射線画像読取装置
において、 前記一定のピッチが前記最終画像の画素の幅より小さ
く、 前記ラインセンサから出力される前記一定のピッチに基
づく画素密度の画像信号を前記最終画像の画素密度に変
換する画素密度変換フィルタを備え、 該画素密度変換フィルタの周波数特性が、前記最終画像
の画素密度から規定されるナイキスト周波数において5
0%以下になることを特徴とする放射線画像読取装置。 - 【請求項4】 前記画素密度変換フィルタの周波数特性
が、前記最終画像の画素密度から規定されるナイキスト
周波数において20%以下になることを特徴とする請求
項3記載の放射線画像読取装置。 - 【請求項5】 前記励起光が線状に照射された部分の前
記相対的に移動させる方向の幅が前記最終画像の画素の
幅より小さく、 前記ラインセンサから出力される前記照射された部分の
前記相対的に移動させる方向の幅に基づく画素密度の画
像信号を前記最終画像の画素密度に変換する第2の画素
密度変換フィルタを備え、 該第2の画素密度変換フィルタの周波数特性が、前記最
終画像の画素密度から規定されるナイキスト周波数にお
いて50%以下になることを特徴とする請求項1から4
いずれか1項記載の放射線画像読取装置。 - 【請求項6】 前記第2の画素密度変換フィルタの周波
数特性が、前記最終画像の画素密度から規定されるナイ
キスト周波数において20%以下になることを特徴とす
る請求項1から5いずれか1項記載の放射線画像読取装
置。
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