JPH10232452A - 放射線画像情報読取方法および読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線画像情報読取装置において、輝尽発光
残光補正処理の演算処理速度を向上させる。 【解決手段】 Ａ／Ｄ変換回路22のサンプリング周期に
したがって、所望とする画素密度よりも高密度で得られ
た画像データＱ１について、画素密度変換手段24により
所望とする密度に画素密度を低下させることによって、
残光補正処理の対象となる画像データを減少させ、この
減少せしめられた画像データに対して残光補正手段25に
より残光補正処理を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は放射線画像情報が蓄
積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を照射
し、この蓄積性蛍光体シートから発せられた輝尽発光光
を光電的に検出して放射線画像情報を示す画像信号を得
る放射線画像情報読取方法および装置に関し、詳細には
輝尽発光（ＰＳＬ）残光の影響を補正して、走査点の画
像データを正確に得るようにした放射線画像情報読取方
法および装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子
線、紫外線等）を照射すると、この放射線エネルギーの
一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると
蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍
光体（輝尽性蛍光体）を利用して、人体等の被写体の放
射線画像情報を一旦シート状の蓄積性蛍光体（蓄積性蛍
光体シート）に記録し、この蓄積性蛍光体シートにレー
ザー光を走査して輝尽発光光を生じせしめ、得られた輝
尽発光光を光電的に読み取って画像信号を得、この画像
信号に基づき写真感光材料等の記録媒体、ＣＲＴ等の表
示装置に被写体の放射線画像を可視像として出力させる
放射線画像情報記録再生システムがすでに知られている
（特開昭55-12429号、同56-11395号、同56-11397号な
ど）。

【０００３】このシステムは、従来の銀塩写真を用いる
放射線写真システムと比較して極めて広い放射線露出域
にわたって画像を記録しうるという実用的な利点を有し
ている。

【０００４】上記放射線画像情報記録再生システムにお
いて、蓄積性蛍光体シートから放射線画像情報を読み取
る具体的な方法としては、画像情報が記録された蓄積性
蛍光体シートをレーザビーム等の光ビームで２次元的に
走査し、そのときシートから発せられた輝尽発光光を、
主走査線に沿って延びる光入射端面を有する集光体を介
してフォトマルチプライヤー等の光検出器に伝え、この
光検出器によって輝尽発光光を時系列的に検出して画素
単位の画像信号を得るようにしている。

【０００５】ところで、蓄積性蛍光体は前述したように
励起光を照射すると蛍光体中に蓄積されている放射線エ
ネルギーを輝尽発光光として放出する性質を有するが、
この輝尽発光光は図２に示すように、励起光照射開始時
点ｔ０から急速に（例えば数ナノ秒で）ほぼ最高の発光
強度ｐ０に達し、その後、発光強度はゆっくりと低下
し、励起光照射が終ってもいわゆる残光（輝尽発光残
光；単にＰＳＬ残光ということもある）としてその蛍光
体特有の応答時間だけ発光が続く。

【０００６】したがって蓄積性蛍光体シートを励起光で
走査し、輝尽発光光を前述のような集光体を介して光検
出器に送ると、光検出器は励起光照射中の走査点（画
素）からの発光成分だけでなく、既に励起光照射が終っ
た画素からの残光成分も励起光照射中の画素の放射線画
像情報成分として検出するため、画素間の信号の分離が
完全になされず、再生される画像の鮮鋭度が低下すると
いう問題がある。

【０００７】このような、複数の画素間の輝尽発光強度
の検出の分解能は、励起光の走査速度と蛍光体の応答時
間が大きくなるほど低下する。したがって、励起に対し
て応答の遅い（輝尽発光残光の長い）蛍光体を使用した
場合、あるいは走査速度を高めた場合は、再生画像の鮮
鋭度が低下し、実用上十分に高画質の放射線画像を得る
ことができないという問題が生じることになる。

【０００８】一方、医療分野等においては短時間に多量
の蓄積性蛍光体シートを処理しうる読取装置の出現が望
まれている。このためには励起光走査速度を高めて高速
読取りを実現するか、あるいは蛍光体自体を改良してそ
の輝尽発光残光特性を改善することが必要であるが、こ
の残光特性の改善については実在する蛍光体に限りがあ
るため実質的に限界が存在する。したがって、上記放射
線画像の鮮鋭度低下を防止しつつ励起光の走査速度を高
めた読取方法を実現する必要がある。

【０００９】そこで特開昭59-105759 号、同59-232337
号、同62-18536号、特開平3-219229号、同3-245137号、
同7-129764号、同7-225437号等において、得られた画像
データからＰＳＬ残光成分を除去する補正を行なうこと
が提案されている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしＰＳＬ残光成分
を除去する補正処理（以下、単に残光補正処理という）
は一般に、計算処理の負荷が大きいという問題がある。
すなわち、上記放射線画像情報記録再生システムにおい
ては検出された輝尽発光の光量に対応する画像信号をデ
ジタル画像データ化する場合、まず画像信号をログ変換
（対数変換）し、その後にＡ／Ｄ変換を行なうことによ
って、画像信号の広いダイナミックレンジをデジタル画
像データにおいても確保している。しかし上記残光補正
処理は、デジタル画像データをアンチログ変換した領域
で行なう必要があるため、デジタル画像データの全体を
一旦アンチログ変換し、この変換した領域で補正処理を
行ない、再度ログ変換するという計算処理を行なわなけ
ればならない。

【００１１】つまり補正画像データＱ（ｘ）’を求める
に際して、得られた画像データＱ（ｘ）は対数変換され
た画像データであるため、まずこれを例えば式（１）に
したがってアンチログ変換し、アンチログ変換された領
域のデータｙ（ｘ）、すなわち輝尽発光の光量を表すデ
ータを得る。

【００１２】

【数１】

【００１３】次いで、走査点ｘにおける、輝尽発光残光
の影響を補正した補正後光量ｙ（ｘ）’を、輝尽発光残
光の光量ｆ（ｎ）と励起光を走査している走査点までの
画素数ｎとが予め対応付けられたテーブルを参照しつ
つ、下記式（２）にしたがって求める。

【００１４】

【数２】

【００１５】この得られた補正後光量ｙ（ｘ）’を式
（１）の逆変換、すなわち式（４）に示すログ変換する
ことにより補正画像データＱ（ｘ）’を得る。

【００１６】

【数４】

【００１７】このためアンチログ変換、ログ変換の演算
処理の負荷が非常に大きく、処理に時間が掛かるという
問題がある。

【００１８】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
って、従来よりも演算処理時間が短い残光補正処理を可
能にした放射線画像情報読取方法および読取装置を提供
することを目的とするものである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の放射線画
像情報読取方法および読取装置は、残光補正処理の対象
となる画像データを間引く等の処理によりまず減少さ
せ、その減少して残った画像データに対して残光補正処
理を施すことにより、残光補正処理に係る処理時間の短
縮を図ったものである。

【００２０】すなわち本発明の第１の放射線画像情報読
取方法は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されてい
る蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートか
ら発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み
取って画像信号を得、該画像信号を、所望とする画素密
度よりも高密度となるようにサンプリングして高密度の
画像データを得、該高密度の画像データに対して、その
画素密度が前記所望とする画素密度となるように画素密
度変換処理を施すことにより、所望とする画素密度の画
像データを得る放射線画像情報読取方法において、前記
画素密度変換処理後の画像データから、前記輝尽発光光
の残光に基づく影響を除去するように、該画素密度変換
処理後の画像データに対して残光補正処理を施すことを
特徴とするものである。

【００２１】ここで所望とする画素密度よりも高密度と
なるようなサンプリングとしては、サンプリング周期を
短縮し、もしくは励起光の走査速度を遅くし、またはこ
れらを組み合わせるなどの方法を採ることができる。

【００２２】また上記画素密度変換処理が、少なくとも
前記励起光の主走査方向についての画素密度を変換する
処理である場合において、前記サンプリングの周期およ
び前記励起光の主走査速度とにより定められる画素密度
と前記輝尽発光光の残光特性とを対応付けて予めテーブ
ルを作成し、前記画素密度変換処理後の画像データに対
する前記残光補正処理を施すに際しては、前記テーブル
を参照して、該画素密度変換処理後の画素密度に応じた
残光特性に基づいた残光補正処理を施すようにしてもよ
い。

【００２３】本発明の第１の放射線画像情報読取装置
は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積
性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発光
された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取って
画像信号を得、該画像信号を、所望とする画素密度より
も高密度となるようにサンプリングして高密度の画像デ
ータを得る画像データ読取手段と、得られた高密度の画
像データに対して、その画素密度が前記所望とする画素
密度となるように画素密度変換処理を施す画素密度変換
処理手段とを備えた放射線画像情報読取装置において、
前記画素密度変換処理手段により画素密度変換処理され
た後の画像データから前記輝尽発光光の残光に基づく影
響を除去するように、該画素密度変換処理後の画像デー
タに対して残光補正処理を施す残光補正処理手段をさら
に備えたことを特徴とするものである。

【００２４】ここで上記画素密度変換処理手段が、少な
くとも励起光の主走査方向についての画素密度を変換処
理する手段であり、上記残光補正処理手段は、サンプリ
ングの周期および励起光の主走査速度とにより定められ
る画素密度と輝尽発光光の残光特性とが対応付けられて
予め作成されたテーブルをさらに備え、このテーブルを
参照して、画素密度変換処理後の画素密度に応じた残光
特性に基づいた残光補正処理を施すものであってもよ
い。

【００２５】本発明の第２の放射線画像情報読取方法お
よび読取装置は、残光補正処理の対象となる画像データ
から代表となる１または２以上の主走査線を選択し、そ
れらの代表の走査線上の画素についての残光補正処理の
ための補正係数を求め、その代表の主走査線の近傍の主
走査線については、各線上の画素についての補正係数を
求めず、対応する代表の主走査線上の画素についての補
正係数をそのまま適用することにより、補正係数算出に
係る処理時間の短縮を図ったものである。

【００２６】すなわち本発明第２の放射線画像情報読取
方法は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている
蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから
発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取
って画像信号を得、該画像信号を所望とする画素密度と
なるようにサンプリングして画像データを得る放射線画
像情報読取方法において、前記励起光の主走査方向と略
直交する副走査方向の所定間隔ごとに、該各所定間隔の
範囲内に含まれる複数の主走査線を代表する１つの主走
査線をそれぞれ選択し、該選択された各主走査線上の各
画素ごとに、前記輝尽発光光の残光特性に基づいた残光
補正処理のための補正係数を求め、該選択された各主走
査線がそれぞれ属する前記各範囲内にそれぞれ含まれる
すべての主走査線上の画素についての補正係数を、それ
ぞれ対応する前記選択された主走査線上の画素について
の前記補正係数として、前記残光補正処理を施すことを
特徴とするものである。

【００２７】すなわち、例えば画像を主走査線１０本ご
との間隔（領域）に分け、これらの各領域のうち１つの
主走査線上の各画素に対応する画像データについての残
光補正用係数を求め、この係数を他の９本の主走査線能
の各画素にも適用することにより、係数の算出負荷を１
／10に低減するものである。

【００２８】また本発明の第２の放射線画像情報読取装
置は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄
積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発
光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取っ
て画像信号を得、該画像信号を所望とする画素密度とな
るようにサンプリングして画像データを得る放射線画像
情報読取装置において、前記励起光の主走査方向と略直
交する副走査方向の所定間隔ごとに、該各所定間隔の範
囲内に含まれる複数の主走査線を代表する１つの主走査
線をそれぞれ選択する代表主走査線選択手段と、該選択
された各主走査線上の各画素ごとに、前記輝尽発光光の
残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係数を求
める補正係数算出手段とをさらに備え、前記代表主走査
線選択手段により選択された各主走査線がそれぞれ属す
る前記各範囲内にそれぞれ含まれるすべての主走査線上
の画素についての補正係数を、それぞれ対応する前記選
択された主走査線上の画素についての前記補正係数算出
手段により算出された前記補正係数として、前記残光補
正処理を施すことを特徴とするものである。

【００２９】

【発明の効果】本発明の第１の放射線画像情報読取方法
または読取装置によれば、画質向上のために予め、所望
の画素密度よりも高密度となるようにサンプリングして
得られた画像データに対して残光補正処理を施すのでは
なく、この高画素密度の画像データを各種信号処理（画
像処理）した後に所望の画素密度とされた画像データに
対して残光補正処理を施すことにより、係る補正処理の
対象となる画像データ数を少なくすることができ、これ
によって残光補正処理に要する全体の処理時間を短縮さ
せることができる。

【００３０】本発明の第２の放射線画像情報読取方法ま
たは読取装置によれば、画像データから選択された代表
の主走査線上の画素についてのみ残光補正処理用の補正
係数を求め、その代表の主走査線の近傍の主走査線につ
いては、各線上の画素についての補正係数を個別に求め
る必要がないため、補正係数算出に係る処理時間を短縮
させることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の放射線画像情報読
取装置の具体的な実施の形態について、図面を用いて説
明する。

【００３２】図１は本発明の第１の放射線画像情報読取
装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図２は図１
に示す放射線画像情報読取装置に用いられる蓄積性蛍光
体シートの輝尽発光光の残光特性を示す特性図、図３は
図２に示す残光特性を有する蓄積性蛍光体シートを、画
素密度を変えてサンプリングしたときの、残光特性を示
すグラフと、励起光を走査している走査点ｘよりも以前
に走査した走査点による輝尽発光残光の光量ｆi(n)と励
起光を走査している走査点までの画素数ｎとを対応付け
て予め設定されたテーブルとの一例を示す図である。

【００３３】図示の放射線画像情報読取装置は、図示し
ないモータにより回転せしめられるエンドレスベルト19
上に蓄積性蛍光体シート（以下、シートという）50が配
置され、シート50の上方には、シート50を励起するレー
ザ光Ｌを発するレーザ光源11と、そのレーザ光Ｌを反射
偏向する回転多面鏡13と、この回転多面鏡13を回転させ
るモータ12と、回転多面鏡13で反射偏向されたレーザ光
Ｌをシート50上に収束し、かつ等速度で走査させる走査
レンズ14が配されている。

【００３４】さらに、前記レーザ光Ｌが走査されるシー
ト50の直上には、そのレーザ光Ｌによる励起でシート50
の上面から発せられる輝尽発光光Ｍを上方より集光する
光ガイド15が近接して配置されている。光ガイド15には
それぞれ、集光した輝尽発光光Ｍを光電的に検出してア
ナログ画像信号ｙに変換するフォトマルチプライヤ（光
電子増倍管）16が接続されている。

【００３５】また、フォトマルチプライヤ16には対数増
幅器21が接続され、対数増幅器21はアナログ画像信号ｙ
をログ変換して対数化画像信号ｑを出力する。対数増幅
器21にはさらにアナログ／デジタル変換回路（以下、Ａ
／Ｄ変換回路という）22が接続され、このＡ／Ｄ変換回
路22により対数化画像信号ｑは所定のサンプリング周期
Ｔでサンプリングされ、デジタル画像データＱ１に変換
される。

【００３６】さらにＡ／Ｄ変換回路22には画像処理手段
23が接続され、デジタル画像データＱに対して階調処
理、周波数処理等の画像処理を施す。

【００３７】この画像処理手段23には画素密度変換手段
24が接続されている。この画素密度変換手段24はＡ／Ｄ
変換回路22によるサンプリングの周期Ｔで決定された、
レーザー光Ｌの主走査方向（矢印Ｘ方向）についての画
素密度Ｒ１（例えば4000画素／20cm）を、この画素密度
Ｒ１以下の所望の画素密度Ｒ２（画素／mm；例えば2000
画素／20cm）まで減少させるように変換処理する。

【００３８】このように主走査方向の画素密度がＲ２ま
で減少されたデジタル画像データＱ２は残光補正手段25
に入力され、残光補正手段25はデジタル画像データＱ２
から輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像データ
（デジタル）Ｑ２′を外部に出力する処理をなす。

【００３９】この残光補正手段25について以下に詳しく
説明する。

【００４０】シート50から発せられる輝尽発光光Ｍは図
２に示すごとく、レーザー光Ｌの照射開始時点ｔ０から
急速に（例えば数ナノ秒で）ほぼ最高の発光強度ｐ０に
達し、その後、発光強度は時間の経過とともにゆっくり
と低下し、レーザー光Ｌの照射が終っても残光としてそ
の蛍光体特有の応答時間だけ発光が続く。したがってレ
ーザー光の照射後の時刻ｔ１においては発光強度ｐ１の
残光成分、時刻ｔ２においては発光強度ｐ２の残光成
分、時刻ｔ３においては発光強度ｐ３の残光成分、…、
というようにレーザー光照射後の経過時間に依存した発
光強度の残光が検出される。

【００４１】ここで上述したように、残光の発光強度は
励起光照射後の経過時間に依存するため、回転多面鏡13
の回転速度が一定であるとき、すなわち主走査速度が一
定であるときは、その主走査方向の画素密度に応じて、
互いに隣接する画素間の走査時間差が変化する。したが
ってレーザー光Ｌが現在走査している走査点（画素）よ
りもｎ画素だけ過去に走査してからの経過時間も画素密
度に応じて相違し、当該ｎ画素手前の画素による輝尽発
光残光の強度ｆi(n)も変化する。

【００４２】本実施形態の放射線画像情報読取装置は、
Ａ／Ｄ回路22によるサンプリング周期により画素密度が
一義的に定められるが、その後の画素密度変換手段24に
よる画素密度の変換処理により、入力された画像データ
の画素密度を任意に変動させることができる。これは画
像処理の段階では、高画素密度で取得した画像データに
処理を行なうのが高画質となるからである。一方、ＣＲ
Ｔ等の画像再生手段、画像再生媒体側の制約から、際限
なく高画素密度であればよいというものではなく、所定
の画素密度を超えればこれらに再生される画像の画質に
変化は認められない。このためＡ／Ｄ回路22では、最終
的に画像再生手段等を考慮した所望の画素密度を超える
高密度で画像データを取得して画像処理に供し、最終的
に所望とする画素密度の画像データに変換した後に外部
に出力する構成を採用している。

【００４３】そして本実施形態の残光補正手段25は、画
素密度が互いに異なる例えば２つの、画素密度と残光特
性との対応関係をそれぞれ予めテーブル化してメモリ25
a に記憶せしめて備えるとともに、入力された画像デー
タＱ（ｘ）に対応する輝尽発光の光量ｙ（ｘ）（デジタ
ル値）を、その画像データＱ（ｘ）に基づいて下記式
（１）にしたがって求める光量算出手段25b と、その画
像データＱ（ｘ）に対応する走査点ｘにおける輝尽発光
残光の影響を補正した補正後光量ｙ（ｘ）’を、メモリ
25a に記憶せしめられた、画素密度変換処理後の画素密
度に対応する一つのテーブルを参照しつつ、下記式
（２）にしたがって求める補正後光量算出手段25c と、
走査点ｘにおける、輝尽発光残光の影響を補正した補正
後画像データＱ（ｘ）’を下記式（３）にしたがって求
める補正後画像データ算出手段25d とを備えている。

【００４４】

【数１】

【００４５】

【数２】

【００４６】

【数３】

【００４７】なお、上記メモリ25に記憶された各テーブ
ルの画素密度はそれぞれ、画素密度変換手段24が変換し
得る画素密度に対応したものとなっている。すなわち図
３（１）に示すように画素密度4000画素／20cmの高密度
用テーブル、同図（２）に示すように画素密度2000画素
／20cmの標準密度用テーブルの２つである。

【００４８】次に本実施形態の放射線画像情報読取装置
の作用について説明する。

【００４９】放射線画像情報の蓄積記録された蓄積性蛍
光体シート50は、エンドレスベルト19上の所定の位置に
セットされる。この所定位置にセットされたシート50
は、エンドレスベルト19により、矢印Ｙ方向に搬送（副
走査）される。

【００５０】一方、レーザ光源11から発せられたレーザ
ー光Ｌは、モータ12により駆動され矢印方向に高速回転
する回転多面鏡13によって反射偏向され、この偏向され
たレーザー光Ｌは走査レンズ14によりシート50の表面上
で収束され、かつ等速度で走査されて、このシート50の
表面を矢印Ｘ方向に主走査する。レーザー光Ｌの主走査
とシート50の副走査とにより、シート50は全面に亘って
レーザー光Ｌが照射されることになる。

【００５１】シート50を照射したレーザー光Ｌはシート
50の蓄積性蛍光体を励起し、シート50に蓄積記録されて
いる放射線画像情報に応じた輝尽発光光Ｍを発光せしめ
る。

【００５２】シート50から発光した輝尽発光光Ｍはシー
ト50の上面に近接して配された光ガイド15によってフォ
トマルチプライヤ16に導かれ、フォトマルチプライヤ16
によって光電的に検出される。光ガイド15はアクリル板
等の導光性材料を成形して作られたものであり、直線状
をなす入射端面が蓄積性蛍光体シート50上の主走査線に
沿って延びるように配され、円環状に形成された出射端
面に上記フォトマルチプライヤ16の受光面が結合されて
いる。上記入射端面から光ガイド15内に入射した輝尽発
光光Ｍは、該光ガイド15の内部を全反射を繰り返して進
み、出射端面から出射してフォトマルチプライヤ16に受
光され、放射線画像情報を表わす輝尽発光光Ｍの光量ｐ
がフォトマルチプライヤ16によってアナログ画像信号ｙ
に変換される。

【００５３】フォトマルチプライヤ16から出力されたア
ナログ信号ｙは対数増幅器21で対数的に増幅されて、対
数化画像信号ｑに変換される。

【００５４】このように対数増幅された対数化画像信号
ｑはＡ／Ｄ変換回路22に入力され、Ａ／Ｄ変換回路22は
レーザ光Ｌの走査に同期してこの対数化画像信号ｑを、
所望の画素密度よりも高密度に対応したサンプリング間
隔でサンプリングし量子化により画素ごとのデジタル画
像データＱ１に変換する。

【００５５】ここでシート50の蓄積性蛍光体は、レーザ
ー光Ｌの照射開始時点から急速にほぼ最高の発光強度ｐ
０に達し、その後、ＰＳＬ残光としてその蛍光体特有の
応答時間だけ発光が続く残光特性を有するため、得られ
たデジタル画像データＱには、すでにレーザー光Ｌの走
査が終了した画素からの残光に起因する画像データΔＱ
１をも包含したものとなっている。

【００５６】しかし本実施形態の放射線画像情報読取装
置は、この段階では残光の補正を行なわない。

【００５７】デジタル画像データＱ１は画像処理手段23
に入力され、画像処理手段23はデジタル画像データＱ１
に対して階調処理、周波数処理等の画像処理を施す。

【００５８】画像処理の施された処理後画像データＱ１
は画素密度変換手段24に入力され、画素密度変換手段24
は入力された処理後画像データＱ１（画素密度は例えば
図３（３）に示すもの）に対して、画素密度を標準密度
（例えば図３（１）参照）まで減少させる処理を施す。
この処理は単純にデータの間引きであってもよいし、他
の平滑化処理を伴っての間引きであってもよい。

【００５９】データが間引かれて主走査方向の画素密度
が減少されたデジタル画像データＱ２は残光補正手段25
に入力され、残光補正手段25はデジタル画像データＱ２
から輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像データ
（デジタル）Ｑ２′を外部に出力する処理をなす。

【００６０】ここで残光補正手段25による具体的な残光
補正処理作用について説明する。

【００６１】まず残光補正手段25に画像データＱ２
（ｘ）が入力されると、メモリ25a に記憶された２つの
参照テーブルのうち、この画像データＱ２の画素密度に
対応する参照テーブル（図３（２））が選択される。

【００６２】ここで画像データＱ２（ｘ）を主走査方向
の位置ｘ（主走査方向の第ｘ番目の画素とする）におい
て検出された輝尽発光の光量ｙ（ｘ）に基づくものであ
るとしたとき、この画像データＱ２（ｘ）には、同一の
主走査ライン上であって、既に走査が終わった第ｘ−１
番目の画素（原画像データＱ１においては第ｘ−２番目
の画素に相当する），第ｘ−２番目の画素（同第ｘ−４
番目の画素に相当），…，第２番目の画素，第１番目の
画素から発せられた輝尽発光光の残光が重畳している。

【００６３】すなわち図２に示すように、例えば第ｘ−
１番目の画素が時刻ｔ０において励起されたとき、励起
と略同時の時刻ｔ０において第ｘ−１番目の画素からは
発光強度ｐ０の輝尽発光光が発せられるが、その後の時
刻ｔ１′においてレーザー光Ｌが第ｘ−１番目の画素の
次の画素である第ｘ番目の画素を励起しているときにあ
っては、その第ｘ番目の画素から発せられる強度ｐ０の
輝尽発光光の他に、第ｘ−１番目の画素からの強度ｐ
１′の残光が検出される。

【００６４】そこで、得られた画像データＱ２（ｘ）は
光量算出手段25b に入力されて、上記式（１）にしたが
ったアンチログ変換がなされ、検出された輝尽発光の光
量ｙ２（ｘ）に相当するデジタル値が算出される。なお
上記各式を画像データＱ２（ｘ）に適用するにあたって
は、Ｑ（ｘ）をＱ２（ｘ）、Ｑ（ｘ）’をＱ２
（ｘ）’、ｙ（ｘ）をｙ２（ｘ）、ｙ（ｘ）’をｙ２
（ｘ）’とそれぞれ置き換えるものとする。

【００６５】次いでこの光量ｙ２（ｘ）に相当するデジ
タル値は補正後光量算出手段25c に入力され、補正後光
量算出手段25c は入力された光量ｙ２（ｘ）を選択され
た参照テーブルを参照しつつ式（２）にしたがって補正
後光量ｙ２（ｘ）’に変換する。

【００６６】すなわちまず画像データＱ２における主走
査ライン上で最初に走査する画素である第１画素につい
ての補正後光量ｙ２（１）’は、第１画素よりも以前に
走査した同一主走査ライン上の画素は存在しないため、
補正前の光量ｙ２（１）に等しい。したがって、まず光
量ｙ２（１）がそのときの画像データＱ２（１）に基づ
いて光量算出手段25b により式（１）にしたがって算出
され、ｙ２（１）’が求められる。

【００６７】次いで第２画素以降の補正後光量ｙ２
（２）’、ｙ２（３）’、…、ｙ２（ｘ）’が式（２）
にしたがって順次求められる。

【００６８】このようにして第ｘ画素以前までの画素
（第１画素〜第ｘ−１画素）に対応した補正後光量ｙ２
（１）’、ｙ２（２）’、ｙ２（３）’、…、ｙ２（ｘ
−１）’と、第ｘ画素における原画像データＱ２（ｘ）
と、この原画像データＱ２（ｘ）に対応する補正前光量
ｙ２（ｘ）とに基づいて、補正後画像データ算出手段25
d が式（３）にしたがって、輝尽発光残光の影響を補正
した補正後画像データＱ２（ｘ）’を算出する。

【００６９】以上の作用により算出された補正後画像デ
ータＱ２（ｘ）’は、この放射線画像情報読取装置から
出力され、ＣＲＴ等の画像再生手段や写真フイルム等に
対応する可視像として出力され、診断等に供される。

【００７０】このように本実施形態の放射線画像情報読
取装置によれば、画質向上のために予め、所望の画素密
度よりも高密度となるようにサンプリングして得られた
画像データに対して残光補正処理を施すのではなく、こ
の高画素密度の画像データを各種信号処理（画像処理）
した後に所望の画素密度とされた画像データに対して残
光補正処理を施すことにより、係る補正処理の対象とな
る画像データ数を少なくすることができ、これによって
残光補正処理に要する全体の処理時間を短縮させること
ができる。また、得られた画像データＱ（ｘ）から計算
により求められた補正分を減算するだけで残光補正処理
ができる（式（３）参照）ため、演算処理の軽減を図る
こともできる。

【００７１】なお本実施形態の放射線画像情報読取装置
では、Ａ／Ｄ回路によるサンプリング周期を短くするこ
とにより画素密度を所望のものよりも高密度とした例に
ついて説明したが、画素密度の高密度化はこの例に限る
ものではなく、例えば、Ａ／Ｄ回路によるサンプリング
周期はそのままとして回転多面鏡の回転速度を遅くする
ことによっても、主走査方向の高密度化を図ることがで
きる。

【００７２】また所望とする画素密度が複数種類ある場
合には、それぞれの画素密度に対応した残光特性の参照
テーブルを準備しておけばよい。

【００７３】図４は本発明の第２の放射線画像情報読取
装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図５は図４
に示したシート50上のレーザー光Ｌによる主走査線を模
式的に表した図である。

【００７４】図示の放射線画像情報読取装置は、図示し
ないモータにより回転せしめられるエンドレスベルト19
上に蓄積性蛍光体シート50が配置され、シート50の上方
には、シート50を励起するレーザ光Ｌを発するレーザ光
源11と、そのレーザ光Ｌを反射偏向する回転多面鏡13
と、この回転多面鏡13を回転させるモータ12と、回転多
面鏡13で反射偏向されたレーザ光Ｌをシート50上に収束
し、かつ等速度で走査させる走査レンズ14が配されてい
る。

【００７５】さらに、前記レーザ光Ｌが走査されるシー
ト50の直上には、そのレーザ光Ｌによる励起でシート50
の上面から発せられる輝尽発光光Ｍを上方より集光する
光ガイド15が近接して配置されている。光ガイド15には
それぞれ、集光した輝尽発光光Ｍを光電的に検出してア
ナログ画像信号ｙに変換するフォトマルチプライヤ（光
電子増倍管）16が接続されている。

【００７６】また、フォトマルチプライヤ16には対数増
幅器21が接続され、対数増幅器21はアナログ画像信号ｙ
をログ変換して対数化画像信号ｑを出力する。対数増幅
器21にはさらにＡ／Ｄ変換回路22が接続され、このＡ／
Ｄ変換回路22により対数化画像信号ｑは所定のサンプリ
ング周期Ｔでサンプリングされ、デジタル画像データＱ
に変換される。

【００７７】さらにＡ／Ｄ変換回路22には残光補正手段
25′が接続され、残光補正手段25はデジタル画像データ
Ｑから輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像デー
タ（デジタル）Ｑ′を外部に出力する処理をなす。

【００７８】残光補正手段25′はさらに詳しくは、入力
された画像データＱを記憶するメモリ25′a と、レーザ
ー光Ｌの主走査方向Ｘと略直交する副走査方向Ｙの所定
間隔ごとに、各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主走
査線のうち、それらを代表する１つの主走査線（図５参
照）をそれぞれ各所定間隔の範囲ごとに選択する代表主
走査線選択手段25′b と、選択された各主走査線上の各
画素ごとに、輝尽発光光の残光特性に基づいた残光補正
処理のための補正係数を求める補正係数算出手段25′c
と、代表主走査線選択手段25′b により選択された各主
走査線がそれぞれ属する各範囲内にそれぞれ含まれるす
べての主走査線上の画素についての補正係数を、それぞ
れ対応する選択された主走査線上の画素についての補正
係数算出手段25′c により算出された補正係数として残
光補正処理を演算手段25′d とを備えた構成である。

【００７９】ここで残光補正処理のための補正係数とは
具体的には、上記式（３）の第２項のΣ｛ｙ（ｉ）’×
ｆ（ｘ−ｉ）／ｙ（ｘ）｝の部分の演算結果を意味す
る。この演算の具体的な方法については前述した本発明
の第１の放射線画像情報演算装置の実施形態について説
明したため省略するが、残光特性を表す参照テーブル等
を備えておくことが必要である。

【００８０】次に本実施形態の放射線画像情報読取装置
の作用について説明する。

【００８１】蓄積性蛍光体シート50がエンドレスベルト
19上の所定の位置にセットされてから、対数化画像信号
ｑがＡ／Ｄ変換回路22に入力されるまでの作用は前述の
実施形態の放射線画像情報読取装置の作用と同様である
ので説明を省略する。

【００８２】Ａ／Ｄ変換回路22により対数化画像信号ｑ
は所定のサンプリング周期でデジタル画像データ化され
る。そしてこのデジタル画像データＱは残光補正手段2
5′に入力される。

【００８３】残光補正手段25′は、入力された画像デー
タＱをメモリ25′a に記憶するとともに、例えば図５に
示す可視像を表す画像データＱを代表主走査線選択手段
25′b が、レーザー光Ｌの副走査方向に複数の領域に分
割するとともに、各領域内に含まれる複数の主走査線の
うちそれぞれ１本の主走査線を当該領域の代表主走査線
として選択する。

【００８４】この代表主走査線選択手段25′b の領域を
分割する作用は実際には、先頭の主走査線から例えば１
０本の主走査線ごとに領域を分けることによって行なわ
れる。また各領域から代表主走査線を選択する作用は、
各領域ともに例えば先頭の主走査線を選択し、または中
央の主走査線を選択する、というように、各領域間で対
応する位置の主走査線を選択するのが望ましい。

【００８５】各領域ごとにそれぞれ選択された各代表主
走査線上の画素に対応する画像データは補正係数算出手
段25′c に入力され、補正係数算出手段25′c は各代表
主走査線上の画素ごとに、当該各線上の画素に対応する
画像データを用いて式（１），（２），（３）にしたが
って、前述した残光補正処理のための補正係数（式
（３）の第２項のΣ｛ｙ（ｉ）’×ｆ（ｘ−ｉ）／ｙ
（ｘ）｝）を算出する。

【００８６】この算出された補正係数が、それぞれの領
域に含まれる他の主走査線上の各画素にそのまま適用さ
れる。すなわち、演算手段25′d が各領域ごとにメモリ
25′a から画像データを読み出して、各領域の代表主走
査線についての補正係数を当該領域内の他の主走査線上
の画素についての補正係数として適用して、残光補正処
理を施す。

【００８７】そしてこのような補正係数を適用して残光
補正処理された後の画像データＱ′が出力される。

【００８８】このように本実施形態の放射線画像情報読
取装置によれば、画像データから選択された代表の主走
査線上の画素についてのみ残光補正処理用の補正係数を
求め、その代表の主走査線の近傍の主走査線について
は、各線上の画素についての補正係数を個別に求めない
ため、補正係数算出に係る処理時間を短縮させることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の放射線画像情報読取装置の一実
施形態を示す図

【図２】輝尽発光光の残光特性を示すグラフ

【図３】画素密度ごとの参照テーブルの例を示す図、
（１）は高密度、（２）は標準密度のものをそれぞれを
表す

【図４】本発明の第２の放射線画像情報読取装置の一実
施形態を示す図

【図５】図４に示したシート上のレーザー光Ｌによる主
走査線を模式的に表した図

【符号の説明】

11 レーザ光源 12 モータ 13 回転多面鏡 14 走査レンズ 15 光ガイド 16 フォトマルチプライヤ 21 対数増幅器 22 Ａ／Ｄ変換回路 23 画像処理手段 24 画素密度変換手段 25 残光補正手段 25a テーブル 25b 光量算出手段 25c 補正後光量算出手段 25d 補正後画像データ算出手段 50 蓄積性蛍光体シート Ｌ レーザー光 Ｍ 輝尽発光光 ｙ アナログ画像信号 ｑ 対数化画像信号 Ｑ１ 原画像データ Ｑ２ 画素密度変換後画像データ Ｑ２′ 残光補正後画像データ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写体の放射線画像情報が蓄積記録され
   ている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シー
   トから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に
   読み取って画像信号を得、該画像信号を、所望とする画
   素密度よりも高密度となるようにサンプリングして高密
   度の画像データを得、該高密度の画像データに対して、
   その画素密度が前記所望とする画素密度となるように画
   素密度変換処理を施すことにより、所望とする画素密度
   の画像データを得る放射線画像情報読取方法において、 前記画素密度変換処理後の画像データから、前記輝尽発
   光光の残光に基づく影響を除去するように、該画素密度
   変換処理後の画像データに対して残光補正処理を施すこ
   とを特徴とする放射線画像情報読取方法。
2. 【請求項２】 前記画素密度変換処理が、少なくとも前
   記励起光の主走査方向についての画素密度を変換する処
   理である場合において、 前記サンプリングの周期および前記励起光の主走査速度
   とにより定められる画素密度と前記輝尽発光光の残光特
   性とを対応付けて予めテーブルを作成し、 前記画素密度変換処理後の画像データに対する前記残光
   補正処理を施すに際しては、前記テーブルを参照して、
   該画素密度変換処理後の画素密度に応じた残光特性に基
   づいた残光補正処理を施すことを特徴とする請求項１記
   載の放射線画像情報読取方法。
3. 【請求項３】 被写体の放射線画像情報が蓄積記録され
   ている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シー
   トから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に
   読み取って画像信号を得、該画像信号を所望とする画素
   密度となるようにサンプリングして画像データを得る放
   射線画像情報読取方法において、 前記励起光の主走査方向と略直交する副走査方向の所定
   間隔ごとに、該各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主
   走査線を代表する１つの主走査線をそれぞれ選択し、 該選択された各主走査線上の各画素ごとに、前記輝尽発
   光光の残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係
   数を求め、 該選択された各主走査線がそれぞれ属する前記各範囲内
   にそれぞれ含まれるすべての主走査線上の画素について
   の補正係数を、それぞれ対応する前記選択された主走査
   線上の画素についての前記補正係数として、前記残光補
   正処理を施すことを特徴とする放射線画像情報読取方
   法。
4. 【請求項４】 被写体の放射線画像情報が蓄積記録され
   ている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シー
   トから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に
   読み取って画像信号を得、該画像信号を、所望とする画
   素密度よりも高密度となるようにサンプリングして高密
   度の画像データを得る画像データ読取手段と、得られた
   高密度の画像データに対して、その画素密度が前記所望
   とする画素密度となるように画素密度変換処理を施す画
   素密度変換処理手段とを備えた放射線画像情報読取装置
   において、 前記画素密度変換処理手段により画素密度変換処理され
   た後の画像データから前記輝尽発光光の残光に基づく影
   響を除去するように、該画素密度変換処理後の画像デー
   タに対して残光補正処理を施す残光補正処理手段をさら
   に備えたことを特徴とする放射線画像情報読取装置。
5. 【請求項５】 前記画素密度変換処理手段が、少なくと
   も前記励起光の主走査方向についての画素密度を変換処
   理する手段であり、 前記残光補正処理手段は、前記サンプリングの周期およ
   び前記励起光の主走査速度とにより定められる画素密度
   と前記輝尽発光光の残光特性とが対応付けられて予め作
   成されたテーブルをさらに備え、 該テーブルを参照して、該画素密度変換処理後の画素密
   度に応じた残光特性に基づいた残光補正処理を施すもの
   であることを特徴とする請求項４記載の放射線画像情報
   読取装置。
6. 【請求項６】 被写体の放射線画像情報が蓄積記録され
   ている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シー
   トから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に
   読み取って画像信号を得、該画像信号を所望とする画素
   密度となるようにサンプリングして画像データを得る放
   射線画像情報読取装置において、 前記励起光の主走査方向と略直交する副走査方向の所定
   間隔ごとに、該各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主
   走査線を代表する１つの主走査線をそれぞれ選択する代
   表主走査線選択手段と、 該選択された各主走査線上の各画素ごとに、前記輝尽発
   光光の残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係
   数を求める補正係数算出手段とをさらに備え、 前記代表主走査線選択手段により選択された各主走査線
   がそれぞれ属する前記各範囲内にそれぞれ含まれるすべ
   ての主走査線上の画素についての補正係数を、それぞれ
   対応する前記選択された主走査線上の画素についての前
   記補正係数算出手段により算出された前記補正係数とし
   て、前記残光補正処理を施すことを特徴とする放射線画
   像情報読取装置。