JP2002138274A - 研磨材 - Google Patents
研磨材Info
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- JP2002138274A JP2002138274A JP2001163397A JP2001163397A JP2002138274A JP 2002138274 A JP2002138274 A JP 2002138274A JP 2001163397 A JP2001163397 A JP 2001163397A JP 2001163397 A JP2001163397 A JP 2001163397A JP 2002138274 A JP2002138274 A JP 2002138274A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abrasive
- polishing
- manufactured
- average particle
- volume average
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 半導体製造のCMP工程において高い研磨効
率でシリコンウェハーを研磨でき、シリコンウェハー上
パターンの微細化に対応できる研磨材を提供する。 【解決手段】 デュロメーターによる硬さ(JIS K
6253−1997)がE80〜D90である軟質物中
に、ビッカース硬さ試験法(JIS Z2244−19
98)による硬さが200〜3,000である硬質物を
分散させてなる研磨材。
率でシリコンウェハーを研磨でき、シリコンウェハー上
パターンの微細化に対応できる研磨材を提供する。 【解決手段】 デュロメーターによる硬さ(JIS K
6253−1997)がE80〜D90である軟質物中
に、ビッカース硬さ試験法(JIS Z2244−19
98)による硬さが200〜3,000である硬質物を
分散させてなる研磨材。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、研磨材に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造時のシリコンウェハー表面に
は多くの凹凸が存在し、これを効率良く平坦化するため
に、軟質/硬質の2層構造の研磨パッドを使用し、ウェ
ハー全体の均一性とミクロな平坦性を両立させている
(例えば、「半導体平坦化CMP技術」:土肥俊郎著/
工業調査会)。
は多くの凹凸が存在し、これを効率良く平坦化するため
に、軟質/硬質の2層構造の研磨パッドを使用し、ウェ
ハー全体の均一性とミクロな平坦性を両立させている
(例えば、「半導体平坦化CMP技術」:土肥俊郎著/
工業調査会)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】シリコンウェハー全体
をマクロ的にみるとシリコンウエハーは全体的に反り及
びうねりが存在しているが、従来の研磨パッドでは、ウ
ェハーの反り及びうねりに追従しきれないため、研磨パ
ットにより強く接触する部分、すなわち、反り及びうね
りの凸部がより多く研磨される。そして、ウエハー全体
を均一に研磨するため反り及びうねりの凹部も研磨しよ
うとすると、さらに反り及びうねりの凸部も不必要に研
磨されるため、この余分な量(凸部)を見越して酸化膜
を成膜する必要がある。
をマクロ的にみるとシリコンウエハーは全体的に反り及
びうねりが存在しているが、従来の研磨パッドでは、ウ
ェハーの反り及びうねりに追従しきれないため、研磨パ
ットにより強く接触する部分、すなわち、反り及びうね
りの凸部がより多く研磨される。そして、ウエハー全体
を均一に研磨するため反り及びうねりの凹部も研磨しよ
うとすると、さらに反り及びうねりの凸部も不必要に研
磨されるため、この余分な量(凸部)を見越して酸化膜
を成膜する必要がある。
【0004】また、シリコンウェハー表面をミクロ的に
みるとシリコンウエハー表面にはミクロな凹凸部が存在
しているが、従来の研磨パットでは、ミクロな凸部と同
時に削る必要のないミクロな凹部も研磨除去されてしま
うため、この余分な量(凹部)の量を見越して酸化膜を
成膜する必要がある。従って、従来の研磨パットを使用
する限り、過剰な酸化膜の成膜が必要であるという問題
と、過剰な研磨時間が必要であるという問題がある。
みるとシリコンウエハー表面にはミクロな凹凸部が存在
しているが、従来の研磨パットでは、ミクロな凸部と同
時に削る必要のないミクロな凹部も研磨除去されてしま
うため、この余分な量(凹部)の量を見越して酸化膜を
成膜する必要がある。従って、従来の研磨パットを使用
する限り、過剰な酸化膜の成膜が必要であるという問題
と、過剰な研磨時間が必要であるという問題がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、かかる問
題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、特定の軟質
物に特定の硬質物を分散させた研磨材の研磨効率が顕著
に向上することを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明の研磨材の特徴は、デュロメーターに
よる硬さ(JIS K6253−1997)がE80〜
D90である軟質物中に、ビッカース硬さ試験法(JI
S Z2244−1998)による硬さが200〜3,
000である硬質物を分散させてなることである。
題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、特定の軟質
物に特定の硬質物を分散させた研磨材の研磨効率が顕著
に向上することを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明の研磨材の特徴は、デュロメーターに
よる硬さ(JIS K6253−1997)がE80〜
D90である軟質物中に、ビッカース硬さ試験法(JI
S Z2244−1998)による硬さが200〜3,
000である硬質物を分散させてなることである。
【0006】
【実施の形態】本発明の軟質物の硬度は、デュロメータ
ーによる硬さで、通常E80〜D90であり、好ましく
はA30〜D80、さらに好ましくはA40〜D70で
ある。なお、デュロメーターによる硬さは、JIS K
6253−1997、第5項デュロメーター硬さ試験の
項に準拠して測定するものである。また、硬さの値の最
初についているアルファベットは、それぞれタイプA、
タイプD又はタイプEのデュロメーターで測定した値で
あること意味する。
ーによる硬さで、通常E80〜D90であり、好ましく
はA30〜D80、さらに好ましくはA40〜D70で
ある。なお、デュロメーターによる硬さは、JIS K
6253−1997、第5項デュロメーター硬さ試験の
項に準拠して測定するものである。また、硬さの値の最
初についているアルファベットは、それぞれタイプA、
タイプD又はタイプEのデュロメーターで測定した値で
あること意味する。
【0007】本発明の軟質物としては、上記の硬さを有
する物であれば公知の物が使用でき、例えば、一般的な
ゴム及び熱可塑性エラストマー等が使用できる。一般的
なゴムとしては、例えば、天然ゴム(デュロメータ硬度
A20〜A90)、スチレン−ブタジエン共重合ゴム
(ムーニー粘度(100℃)30〜125、デュロメー
タ硬度A40〜A90)、イソプレンゴム(ムーニー粘
度(100℃)45〜85、デュロメータ硬度A20〜
A90)、クロロスルホン化ポリエチレンゴム(ムーニ
ー粘度(100℃)25〜60、デュロメータ硬度A4
5〜A95)、ブタジエンゴム(ムーニー粘度(100
℃)30〜80、デュロメータ硬度A20〜A90)、
ニトリルゴム(ムーニー粘度(100℃)30〜70、
デュロメータ硬度A20〜A95)、クロロプレンゴム
(ムーニー粘度(100℃)35〜120、デュロメー
タ硬度A20〜A90)、エチレン−プロピレンゴム
(ムーニー粘度(100℃)35〜105、デュロメー
タ硬度A45〜A95)、アクリルゴム(ムーニー粘度
(100℃)25〜60、デュロメータ硬度A40〜A
90)、ブチルゴム(ムーニー粘度(100℃)30〜
90、デュロメータ硬度A40〜A75)、フッ素ゴム
(ムーニー粘度(100℃)60〜120、デュロメー
タ硬度A20〜A90)及びシリコーンゴム(重量平均
分子量10万〜100万、デュロメータ硬度A10〜A
85)等が挙げられる。
する物であれば公知の物が使用でき、例えば、一般的な
ゴム及び熱可塑性エラストマー等が使用できる。一般的
なゴムとしては、例えば、天然ゴム(デュロメータ硬度
A20〜A90)、スチレン−ブタジエン共重合ゴム
(ムーニー粘度(100℃)30〜125、デュロメー
タ硬度A40〜A90)、イソプレンゴム(ムーニー粘
度(100℃)45〜85、デュロメータ硬度A20〜
A90)、クロロスルホン化ポリエチレンゴム(ムーニ
ー粘度(100℃)25〜60、デュロメータ硬度A4
5〜A95)、ブタジエンゴム(ムーニー粘度(100
℃)30〜80、デュロメータ硬度A20〜A90)、
ニトリルゴム(ムーニー粘度(100℃)30〜70、
デュロメータ硬度A20〜A95)、クロロプレンゴム
(ムーニー粘度(100℃)35〜120、デュロメー
タ硬度A20〜A90)、エチレン−プロピレンゴム
(ムーニー粘度(100℃)35〜105、デュロメー
タ硬度A45〜A95)、アクリルゴム(ムーニー粘度
(100℃)25〜60、デュロメータ硬度A40〜A
90)、ブチルゴム(ムーニー粘度(100℃)30〜
90、デュロメータ硬度A40〜A75)、フッ素ゴム
(ムーニー粘度(100℃)60〜120、デュロメー
タ硬度A20〜A90)及びシリコーンゴム(重量平均
分子量10万〜100万、デュロメータ硬度A10〜A
85)等が挙げられる。
【0008】フッ素ゴムとしては、例えば、フッ化ビニ
リデンゴム、フルオロシリコーンゴム、テトラフルオロ
エチレン−プロピレンゴム、フルオロホスファゼンゴム
及びテトラフルオロエチレン−パーフルオロビニルエー
テルゴム等が挙げられる。シリコーンゴムとしては、例
えば、ポリジメチルシリコーンゴム、メチルビニルシリ
コーンゴム、メチルフェニルシリコーンゴム及びフルオ
ロシリコーンゴム等が挙げられる。上記以外の特殊ゴム
として、ヒドリンゴム(ムーニー粘度(100℃)35
〜120、デュロメータ硬度A40〜A90)、多硫化
ゴム(ムーニー粘度(100℃)25〜50、デュロメ
ータ硬度A20〜A80)、ウレタンゴム(ムーニー粘
度(100℃)25〜60)等も使用できる。なお、ム
ーニー粘度(100℃)は、JIS K6300−19
94、第6項ムーニー粘度試験方法に準拠して測定する
ものである。
リデンゴム、フルオロシリコーンゴム、テトラフルオロ
エチレン−プロピレンゴム、フルオロホスファゼンゴム
及びテトラフルオロエチレン−パーフルオロビニルエー
テルゴム等が挙げられる。シリコーンゴムとしては、例
えば、ポリジメチルシリコーンゴム、メチルビニルシリ
コーンゴム、メチルフェニルシリコーンゴム及びフルオ
ロシリコーンゴム等が挙げられる。上記以外の特殊ゴム
として、ヒドリンゴム(ムーニー粘度(100℃)35
〜120、デュロメータ硬度A40〜A90)、多硫化
ゴム(ムーニー粘度(100℃)25〜50、デュロメ
ータ硬度A20〜A80)、ウレタンゴム(ムーニー粘
度(100℃)25〜60)等も使用できる。なお、ム
ーニー粘度(100℃)は、JIS K6300−19
94、第6項ムーニー粘度試験方法に準拠して測定する
ものである。
【0009】熱可塑性エラストマーとしては、例えば、
熱可塑性ポリウレタン、熱可塑性ポリスチレン、熱可塑
性ポリオレフィン、熱可塑性ポリエステル及び熱可塑性
ポリアミド等が使用できる。なお、熱可塑性エラストマ
ーの重量平均分子量は、3,000〜100,000が好
ましく、さらに好ましくは4,000〜70,000、
特に好ましくは5,000〜50,000である。これ
らの熱可塑性ポリウレタンには、公知のものが使用で
き、例えば、特開2000−103957号公報に記載
されている芳香環含有ジオールからなるジオール成分と
脂肪族系ジイソシアネートを主構成成分としてなる熱可
塑性ポリウレタン樹脂粉末等が使用できる。
熱可塑性ポリウレタン、熱可塑性ポリスチレン、熱可塑
性ポリオレフィン、熱可塑性ポリエステル及び熱可塑性
ポリアミド等が使用できる。なお、熱可塑性エラストマ
ーの重量平均分子量は、3,000〜100,000が好
ましく、さらに好ましくは4,000〜70,000、
特に好ましくは5,000〜50,000である。これ
らの熱可塑性ポリウレタンには、公知のものが使用で
き、例えば、特開2000−103957号公報に記載
されている芳香環含有ジオールからなるジオール成分と
脂肪族系ジイソシアネートを主構成成分としてなる熱可
塑性ポリウレタン樹脂粉末等が使用できる。
【0010】熱可塑性ポリスチレンとしては、ポリスチ
レン及びポリビニルトルエン等の他に、スチレンと、メ
タクリル酸メチル、アクリロニトリル及びブタジエンか
らなる群より選ばれる1種以上の単量体との共重合体
(例えば、スチレン/アクリロニトリル共重合体(AS
樹脂)、アクリロニトリル/ブタジエン/スチレン共重
合体(ABS樹脂)、スチレン/メタクリル酸メチル/
アクリロニトリル共重合体、メタクリル酸メチル/ブタ
ジエン/スチレン共重合体(MBS樹脂)、スチレン/
ブタジエン共重合体等)等が挙げられる。
レン及びポリビニルトルエン等の他に、スチレンと、メ
タクリル酸メチル、アクリロニトリル及びブタジエンか
らなる群より選ばれる1種以上の単量体との共重合体
(例えば、スチレン/アクリロニトリル共重合体(AS
樹脂)、アクリロニトリル/ブタジエン/スチレン共重
合体(ABS樹脂)、スチレン/メタクリル酸メチル/
アクリロニトリル共重合体、メタクリル酸メチル/ブタ
ジエン/スチレン共重合体(MBS樹脂)、スチレン/
ブタジエン共重合体等)等が挙げられる。
【0011】熱可塑性ポリオレフィンとしては、ポリプ
ロピレン、ポリエチレン、プロピレンとエチレンの共重
合体、プロピレン及び/又はエチレンと他のα−オレフ
ィン(炭素数4〜10、例えば、ブチレン、オクチレン
及びデシレン等)との共重合体(ランダム又はブロッ
ク)、エチレン/酢酸ビニル共重合樹脂(EVA)、エ
チレン/エチルアクリレート共重合樹脂(EEA)等が
挙げられる。
ロピレン、ポリエチレン、プロピレンとエチレンの共重
合体、プロピレン及び/又はエチレンと他のα−オレフ
ィン(炭素数4〜10、例えば、ブチレン、オクチレン
及びデシレン等)との共重合体(ランダム又はブロッ
ク)、エチレン/酢酸ビニル共重合樹脂(EVA)、エ
チレン/エチルアクリレート共重合樹脂(EEA)等が
挙げられる。
【0012】熱可塑性ポリエステルとしては、芳香族ポ
リエステル(例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポ
リブチレンテレフタレート及びポリシクロヘキサンジメ
チレンテレフタレート等)及び脂肪族ポリエステル(例
えば、ポリブチレンアジペート、ポリエチレンアジペー
ト及びポリ−ε−カプロラクトン等)等が挙げられる。
リエステル(例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポ
リブチレンテレフタレート及びポリシクロヘキサンジメ
チレンテレフタレート等)及び脂肪族ポリエステル(例
えば、ポリブチレンアジペート、ポリエチレンアジペー
ト及びポリ−ε−カプロラクトン等)等が挙げられる。
【0013】熱可塑性ポリアミドとしては、ナイロン6
6、ナイロン69、ナイロン610、ナイロン612、
ナイロン6、ナイロン11、ナイロン12、ナイロン4
6、ナイロン6/66及びナイロン6/12等が挙げら
れる。これらの軟質物は、1種又は2種以上を組み合わ
せて用いることもできる。上記で例示した軟質物の中
で、シリコーンゴム及び熱可塑性ポリウレタンが好まし
い。
6、ナイロン69、ナイロン610、ナイロン612、
ナイロン6、ナイロン11、ナイロン12、ナイロン4
6、ナイロン6/66及びナイロン6/12等が挙げら
れる。これらの軟質物は、1種又は2種以上を組み合わ
せて用いることもできる。上記で例示した軟質物の中
で、シリコーンゴム及び熱可塑性ポリウレタンが好まし
い。
【0014】本発明の硬質物の硬度は、ビッカース硬度
で、通常200〜3,000であり、好ましくは230
〜2,000、さらに好ましくは260〜1,000、
特に好ましくは300〜700である。ビッカース硬度
は、JIS Z2244−1998、ビッカース硬さ試
験方法に準拠して測定されるものである。
で、通常200〜3,000であり、好ましくは230
〜2,000、さらに好ましくは260〜1,000、
特に好ましくは300〜700である。ビッカース硬度
は、JIS Z2244−1998、ビッカース硬さ試
験方法に準拠して測定されるものである。
【0015】硬質物としては、一般的に研磨材として使
われている金属、金属酸化物及びその他の鉱物等が使用
できる。金属としては、鉄(ビッカース硬度200〜3
00)、チタン、クロム(ビッカース硬度1400〜1
500)及びタングステン(ビッカース硬度600〜1
000)等が挙げられる。
われている金属、金属酸化物及びその他の鉱物等が使用
できる。金属としては、鉄(ビッカース硬度200〜3
00)、チタン、クロム(ビッカース硬度1400〜1
500)及びタングステン(ビッカース硬度600〜1
000)等が挙げられる。
【0016】金属酸化物としては、例えば、酸化鉄(F
eO、Fe2O3、Fe3O4)、酸化銅(CuO、Cu2
O)、酸化ジルコニウム(ZrO2)、酸化クロム(C
r2O3)、酸化チタン(TiO、Ti2O3、TiO
2)、酸化タングステン(WO2、WO3)及び酸化タン
タル(Ta2O5)、酸化ケイ素(SiO2、ビッカース
硬度450〜700)、酸化セリウム(CeO2、ビッ
カース硬度500〜700)、酸化アルミニウム(Al
2O3、ビッカース硬度1200〜1500)及び酸化マ
ンガン(MnO2、Mn2O3)等が挙げられる。
eO、Fe2O3、Fe3O4)、酸化銅(CuO、Cu2
O)、酸化ジルコニウム(ZrO2)、酸化クロム(C
r2O3)、酸化チタン(TiO、Ti2O3、TiO
2)、酸化タングステン(WO2、WO3)及び酸化タン
タル(Ta2O5)、酸化ケイ素(SiO2、ビッカース
硬度450〜700)、酸化セリウム(CeO2、ビッ
カース硬度500〜700)、酸化アルミニウム(Al
2O3、ビッカース硬度1200〜1500)及び酸化マ
ンガン(MnO2、Mn2O3)等が挙げられる。
【0017】酸化ケイ素としては、例えば、コロイダル
シリカ(商品シリーズ名:スノーテックス、日産化学工
業(株)製)及びフュームドシリカ(商品シリーズ名:
アエロジル 日本アエロジル製)等が挙げられる。
シリカ(商品シリーズ名:スノーテックス、日産化学工
業(株)製)及びフュームドシリカ(商品シリーズ名:
アエロジル 日本アエロジル製)等が挙げられる。
【0018】その他の鉱物等としては、例えば、ダイヤ
モンド、炭酸カルシウム(CaCO3、重質、軽質)、
雲母、タルク、グラファイト、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化ジルコニウム(ZrN)、窒化チタン(Ti
N)、窒化銅(Cu3N)、窒化鉄(Fe2N、Fe4
N)及び炭化ケイ素等が挙げられる。半導体製造工程に
使用する場合、シリコンウエハーへの硬質物の残存に起
因する不良品の発生を避けるため、硬質物は、導電性の
低いものを使用することが好まし。すなわち、非導電性
の硬質物が好ましく用いられ、さらに好ましくは酸化ケ
イ素、酸化セリウム、酸化アルミニウム及び酸化マンガ
ンであり、特に好ましくは酸化ケイ素及び酸化セリウム
である。
モンド、炭酸カルシウム(CaCO3、重質、軽質)、
雲母、タルク、グラファイト、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化ジルコニウム(ZrN)、窒化チタン(Ti
N)、窒化銅(Cu3N)、窒化鉄(Fe2N、Fe4
N)及び炭化ケイ素等が挙げられる。半導体製造工程に
使用する場合、シリコンウエハーへの硬質物の残存に起
因する不良品の発生を避けるため、硬質物は、導電性の
低いものを使用することが好まし。すなわち、非導電性
の硬質物が好ましく用いられ、さらに好ましくは酸化ケ
イ素、酸化セリウム、酸化アルミニウム及び酸化マンガ
ンであり、特に好ましくは酸化ケイ素及び酸化セリウム
である。
【0019】硬質物の体積平均粒子径は、0.030〜
1.0μmが好ましく、さらに好ましくは0.040〜
0.80μm、特に好ましくは0.050〜0.60μ
mである。また、この粒子径分布として、50重量%以
上の粒子が体積平均粒子径の±20%以内に存在してい
ることが好ましく、さらに好ましくは55重量%以上、
さらに好ましくは60重量%以上、特に好ましくは70
重量%以上の粒子が、体積平均粒子径の±20%以内に
存在しているものである。硬質物の体積平均粒子径は、
硬質物を軟質物中に分散させた後の体積平均粒子径であ
り、分散前は上記の体積平均粒子径と異なっていても構
わないが、分散前の硬質物の体積平均粒子径も上記の範
囲であることが好ましい。なお、体積平均粒子径は、J
IS R1629−1997 ファインセラミックス原
料のレーザー回折・散乱方による粒子径分布測定方法に
準拠して測定するものである。
1.0μmが好ましく、さらに好ましくは0.040〜
0.80μm、特に好ましくは0.050〜0.60μ
mである。また、この粒子径分布として、50重量%以
上の粒子が体積平均粒子径の±20%以内に存在してい
ることが好ましく、さらに好ましくは55重量%以上、
さらに好ましくは60重量%以上、特に好ましくは70
重量%以上の粒子が、体積平均粒子径の±20%以内に
存在しているものである。硬質物の体積平均粒子径は、
硬質物を軟質物中に分散させた後の体積平均粒子径であ
り、分散前は上記の体積平均粒子径と異なっていても構
わないが、分散前の硬質物の体積平均粒子径も上記の範
囲であることが好ましい。なお、体積平均粒子径は、J
IS R1629−1997 ファインセラミックス原
料のレーザー回折・散乱方による粒子径分布測定方法に
準拠して測定するものである。
【0020】本発明の研磨材の体積平均粒子径は、1.
0〜50μmが好ましく、さらに好ましくは2.0〜4
0μmであり、特に好ましくは3.0〜30μmであ
る。体積平均粒子径及び粒子径分布は、JIS R16
29−1997 ファインセラミックス原料のレーザー
回折・散乱法による粒子径分布測定方法に準拠して測定
するものである。本発明の研磨材の粒子径分布εは、0
〜3.0が好ましく、さらに好ましくは0.1〜2.
9、特に好ましくは0.5〜2.7、最も好ましくは、
1.0〜2.5である。なお、εは、ε=(D90−D
10)/D50で定義される量であり、D90、D10
及びD50はそれぞれ相対累積粒子径分布曲線における
累積量が90重量%、10重量%及び50重量%のとき
の粒子径である。
0〜50μmが好ましく、さらに好ましくは2.0〜4
0μmであり、特に好ましくは3.0〜30μmであ
る。体積平均粒子径及び粒子径分布は、JIS R16
29−1997 ファインセラミックス原料のレーザー
回折・散乱法による粒子径分布測定方法に準拠して測定
するものである。本発明の研磨材の粒子径分布εは、0
〜3.0が好ましく、さらに好ましくは0.1〜2.
9、特に好ましくは0.5〜2.7、最も好ましくは、
1.0〜2.5である。なお、εは、ε=(D90−D
10)/D50で定義される量であり、D90、D10
及びD50はそれぞれ相対累積粒子径分布曲線における
累積量が90重量%、10重量%及び50重量%のとき
の粒子径である。
【0021】軟質物と硬質物との含有比率は、重量比
で、5:95〜90:10が好ましく、さらに好ましく
は10:90〜65:35、特に好ましくは15:85
〜40:60である。
で、5:95〜90:10が好ましく、さらに好ましく
は10:90〜65:35、特に好ましくは15:85
〜40:60である。
【0022】軟質物中に硬質物を分散させる方法として
は、公知の方法が使用でき、例えば、特開2000−1
03957号公報及び特開平10−338733号公報
に記載されているポリウレタン樹脂粉末の製造法等が使
用できる。例えば、ジイソシアネートとポリオールとか
らなるプレポリマー中に硬質物を分散させておき、この
プレポリマーと硬質物とを分散媒(例えば、水、トルエ
ン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチル、アセトン及び
MEK等)中に分散させて研磨材を製造することができ
る(必要に応じて分散媒を除去する。)。
は、公知の方法が使用でき、例えば、特開2000−1
03957号公報及び特開平10−338733号公報
に記載されているポリウレタン樹脂粉末の製造法等が使
用できる。例えば、ジイソシアネートとポリオールとか
らなるプレポリマー中に硬質物を分散させておき、この
プレポリマーと硬質物とを分散媒(例えば、水、トルエ
ン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチル、アセトン及び
MEK等)中に分散させて研磨材を製造することができ
る(必要に応じて分散媒を除去する。)。
【0023】また、水に対する溶解度が10〜50重量
%である疎水性溶媒(例えば、MEK、MIBK、酢酸
メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、トルエン、キシレン
及びアセトニトリル等)で希釈したイソシアネート末端
ウレタンプレポリマー中に硬質物を分散させておき、硬
質物を含んだプレポリマーを水中に分散するとともに、
プレポリマーとケチミン化合物を反応させ、必要により
任意の段階でブロック化ポリイソシアネートを含有させ
ることで研磨材を製造することができる(必要に応じて
分散媒を除去する。)。プレポリマーと反応させるケチ
ミン化合物は公知のものが使用でき、特開平10−33
8733に記載されているポリアミンとケトンとの反応
した構造を有する化合物等が使用できる。これらのプレ
ポリマーの粘度は、500〜20,000mPa・sが
好ましく、さらに好ましくは700〜15,000mP
a・s、特に好ましくは1,000〜10,000であ
る。
%である疎水性溶媒(例えば、MEK、MIBK、酢酸
メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、トルエン、キシレン
及びアセトニトリル等)で希釈したイソシアネート末端
ウレタンプレポリマー中に硬質物を分散させておき、硬
質物を含んだプレポリマーを水中に分散するとともに、
プレポリマーとケチミン化合物を反応させ、必要により
任意の段階でブロック化ポリイソシアネートを含有させ
ることで研磨材を製造することができる(必要に応じて
分散媒を除去する。)。プレポリマーと反応させるケチ
ミン化合物は公知のものが使用でき、特開平10−33
8733に記載されているポリアミンとケトンとの反応
した構造を有する化合物等が使用できる。これらのプレ
ポリマーの粘度は、500〜20,000mPa・sが
好ましく、さらに好ましくは700〜15,000mP
a・s、特に好ましくは1,000〜10,000であ
る。
【0024】また、天然ゴム等の軟質物と硬質物とを、
混練機にて混練し分散させておき、この混練物を分散媒
(例えば、水、MEK、MIBK、酢酸メチル、酢酸エ
チル、酢酸ブチル、トルエン、キシレン及びアセトニト
リル等)中に分散させて研磨材を製造することができる
(必要に応じて分散媒を除去する。)。この混練物と分
散媒との重量比は、15:85〜65:35が好まし
く、さらに好ましくは20:80〜60:40、特に好
ましくは25:75〜55:45、最も好ましくは3
0:70〜50:50である。
混練機にて混練し分散させておき、この混練物を分散媒
(例えば、水、MEK、MIBK、酢酸メチル、酢酸エ
チル、酢酸ブチル、トルエン、キシレン及びアセトニト
リル等)中に分散させて研磨材を製造することができる
(必要に応じて分散媒を除去する。)。この混練物と分
散媒との重量比は、15:85〜65:35が好まし
く、さらに好ましくは20:80〜60:40、特に好
ましくは25:75〜55:45、最も好ましくは3
0:70〜50:50である。
【0025】また、ジイソシアネート、高分子ジオール
及び必要に応じ低分子ジオールをあらかじめ反応させ末
端に遊離イソシアネート基を有するウレタンプレポリマ
ーを形成させ、これに硬質物を分散させた後、これにジ
アミン及びモノアミンを反応させることにより得られる
ペレット状又はブロック状の固形物を得た後、冷凍粉
砕、氷結粉砕等の方法で粉砕し、研磨材を製造すること
ができる。また、硬質物を軟質物に分散させたものを溶
媒(例えばDMF、THF等)に溶解させ、これをスプ
レードライすることにより、研磨材を製造することがで
きる。
及び必要に応じ低分子ジオールをあらかじめ反応させ末
端に遊離イソシアネート基を有するウレタンプレポリマ
ーを形成させ、これに硬質物を分散させた後、これにジ
アミン及びモノアミンを反応させることにより得られる
ペレット状又はブロック状の固形物を得た後、冷凍粉
砕、氷結粉砕等の方法で粉砕し、研磨材を製造すること
ができる。また、硬質物を軟質物に分散させたものを溶
媒(例えばDMF、THF等)に溶解させ、これをスプ
レードライすることにより、研磨材を製造することがで
きる。
【0026】硬質物を軟質物又はプレポリマーへ分散す
る際の分散機としては、公知の分散機が使用でき、例え
ば、低速せん断型分散機(例えば、ホソカワミクロン製
「ナウタミキサー」)、高速せん断型分散機(例えば、
ヤマト科学製「ウルトラディスパーザー」、荏原製作所
製「エバラマイルダー」、特殊機化製「フィルミック
ス」及び三井鉱山製「ヘンシェルミキサー」等)、静止
型分散機(例えば、タクミナ製「スタティックミキサ
ー」、混練機(例えば、1軸押し出し機及び2軸押し出
し機(Krauss−Maffei社)、ニーダー、バ
ンバリーミキサー並びにニーダールーダー等)、摩擦型
分散機、高圧ジェット型分散機、超音波型分散機及び静
止型分散機等が挙げられる。これらのうち、好ましいも
のは高速せん断式分散機、静止型分散機及び混練機であ
る。攪拌羽根の周速は、1〜100m/secが好まし
く、さらに好ましくは5〜80m/secである。攪拌
羽根の回転数は、羽根の回転直径を考慮して周速が上記
範囲内になるように設定されるが、通常100〜10,
000rpm、好ましくは500〜5、000rpmで
ある。分散時の温度は、通常20〜70℃であり、好ま
しくは25〜60℃である。分散時間は、通常1秒〜1
0時間、好ましくは2秒〜1時間である。
る際の分散機としては、公知の分散機が使用でき、例え
ば、低速せん断型分散機(例えば、ホソカワミクロン製
「ナウタミキサー」)、高速せん断型分散機(例えば、
ヤマト科学製「ウルトラディスパーザー」、荏原製作所
製「エバラマイルダー」、特殊機化製「フィルミック
ス」及び三井鉱山製「ヘンシェルミキサー」等)、静止
型分散機(例えば、タクミナ製「スタティックミキサ
ー」、混練機(例えば、1軸押し出し機及び2軸押し出
し機(Krauss−Maffei社)、ニーダー、バ
ンバリーミキサー並びにニーダールーダー等)、摩擦型
分散機、高圧ジェット型分散機、超音波型分散機及び静
止型分散機等が挙げられる。これらのうち、好ましいも
のは高速せん断式分散機、静止型分散機及び混練機であ
る。攪拌羽根の周速は、1〜100m/secが好まし
く、さらに好ましくは5〜80m/secである。攪拌
羽根の回転数は、羽根の回転直径を考慮して周速が上記
範囲内になるように設定されるが、通常100〜10,
000rpm、好ましくは500〜5、000rpmで
ある。分散時の温度は、通常20〜70℃であり、好ま
しくは25〜60℃である。分散時間は、通常1秒〜1
0時間、好ましくは2秒〜1時間である。
【0027】硬質物を天然ゴム等の軟質物(ポリマー)
へ分散する際の混合機としては、公知の混合機が使用で
き、例えば、上記の分散機の他に、リボンブレンダー、
ボールミル、混練ロール、バンバリーミキサー、混練専
門押し出し機、単軸押し出し機等が挙げられる。分散時
の温度は、軟質物が溶融する温度であればよく、通常8
0〜220℃、好ましくは100〜200℃、さらに好
ましくは120〜180℃、特に好ましくは140〜1
60℃である。
へ分散する際の混合機としては、公知の混合機が使用で
き、例えば、上記の分散機の他に、リボンブレンダー、
ボールミル、混練ロール、バンバリーミキサー、混練専
門押し出し機、単軸押し出し機等が挙げられる。分散時
の温度は、軟質物が溶融する温度であればよく、通常8
0〜220℃、好ましくは100〜200℃、さらに好
ましくは120〜180℃、特に好ましくは140〜1
60℃である。
【0028】硬質物とプレポリマー又は軟質物とからな
る分散体を分散媒中へ分散する際の分散機としては、特
に限定されず公知の分散機が使用でき、例えば、低速せ
ん断型分散機、高速せん断型分散機、摩擦型分散機、高
圧ジェット型分散機、超音波型分散機、静止型分散機
(例えば、タクミナ製「スタティックミキサー」、ホソ
カワミクロン製「ナウタミキサー」、特殊機化工業製
「T.K.ROSLPDミキサー」、住友機械製「スル
ーザーミキサー」等)等及び混練機(例えば、1軸押し
出し機及び2軸押し出し機(Krauss−Maffe
i社)、ニーダー、バンバリーミキサー並びにニーダー
ルーダー)等が挙げられる。これらのうち、好ましいも
のは静止型分散機である。
る分散体を分散媒中へ分散する際の分散機としては、特
に限定されず公知の分散機が使用でき、例えば、低速せ
ん断型分散機、高速せん断型分散機、摩擦型分散機、高
圧ジェット型分散機、超音波型分散機、静止型分散機
(例えば、タクミナ製「スタティックミキサー」、ホソ
カワミクロン製「ナウタミキサー」、特殊機化工業製
「T.K.ROSLPDミキサー」、住友機械製「スル
ーザーミキサー」等)等及び混練機(例えば、1軸押し
出し機及び2軸押し出し機(Krauss−Maffe
i社)、ニーダー、バンバリーミキサー並びにニーダー
ルーダー)等が挙げられる。これらのうち、好ましいも
のは静止型分散機である。
【0029】攪拌羽根の形状、攪拌羽根の周速及び分散
時間等は、使用する分散機ごとに、目的とする研磨材の
体積平均粒子径に応じて適宜選択できる。攪拌羽根の形
状は、例えば、プロペラ羽根、ディスクタービン羽根、
ハツキインペラ羽根、バドルタービン羽根、ミリングホ
イール羽根及びワイヤーホイール羽根等が挙げられる。
分散機内の羽根の位置は、例えば、特に制限はないが、
円筒容器の内周面近傍に羽根の端部がくるものが好まし
い。攪拌羽根の周速は、通常1〜200m/sec、好
ましくは、5〜150m/secである。攪拌羽根の回
転数は、羽根の回転直径を考慮して周速が上記範囲内に
なるように設定されるが、通常100〜40,000r
pm、好ましくは500〜20,000rpmである。
時間等は、使用する分散機ごとに、目的とする研磨材の
体積平均粒子径に応じて適宜選択できる。攪拌羽根の形
状は、例えば、プロペラ羽根、ディスクタービン羽根、
ハツキインペラ羽根、バドルタービン羽根、ミリングホ
イール羽根及びワイヤーホイール羽根等が挙げられる。
分散機内の羽根の位置は、例えば、特に制限はないが、
円筒容器の内周面近傍に羽根の端部がくるものが好まし
い。攪拌羽根の周速は、通常1〜200m/sec、好
ましくは、5〜150m/secである。攪拌羽根の回
転数は、羽根の回転直径を考慮して周速が上記範囲内に
なるように設定されるが、通常100〜40,000r
pm、好ましくは500〜20,000rpmである。
【0030】水中にプレポリマーを分散させる際の温度
は、特に限定はないが、通常20〜100℃、好ましく
は30〜60℃である。分散時間は通常1秒〜10時
間、好ましくは2秒〜1時間である。プレポリマー又は
軟質物と硬質物との水への分散は、バッチ式又は連続式
のいずれでもよいが、連続式が好ましい。
は、特に限定はないが、通常20〜100℃、好ましく
は30〜60℃である。分散時間は通常1秒〜10時
間、好ましくは2秒〜1時間である。プレポリマー又は
軟質物と硬質物との水への分散は、バッチ式又は連続式
のいずれでもよいが、連続式が好ましい。
【0031】水中に分散したプレポリマーを必要により
加熱反応及び/又は脱分散媒することにより研磨材を得
ることができる。加熱反応の温度及び時間は、特に限定
はないが、反応温度は通常5〜100℃、好ましくは2
0〜80℃である。例えば、反応温度が50℃であれ
ば、反応時間は通常1時間〜40時間、好ましくは5時
間〜20時間である。脱分散媒の温度は、通常、分散媒
の沸点の近傍±20℃であり、好ましくは、±15℃で
ある。必要により、減圧下において分散媒の沸点の近傍
±20℃であり、好ましくは、±15℃で脱分散媒を行
うことができる。
加熱反応及び/又は脱分散媒することにより研磨材を得
ることができる。加熱反応の温度及び時間は、特に限定
はないが、反応温度は通常5〜100℃、好ましくは2
0〜80℃である。例えば、反応温度が50℃であれ
ば、反応時間は通常1時間〜40時間、好ましくは5時
間〜20時間である。脱分散媒の温度は、通常、分散媒
の沸点の近傍±20℃であり、好ましくは、±15℃で
ある。必要により、減圧下において分散媒の沸点の近傍
±20℃であり、好ましくは、±15℃で脱分散媒を行
うことができる。
【0032】硬質物をプレポリマー又は軟質物に分散さ
せる際に、分散剤を用いてもよい。分散剤としては、特
に限定されず公知のものが使用でき、例えば、アニオン
界面活性剤、ノニオン界面活性剤、カチオン界面活性剤
及び両性界面活性剤等を用いることができる。
せる際に、分散剤を用いてもよい。分散剤としては、特
に限定されず公知のものが使用でき、例えば、アニオン
界面活性剤、ノニオン界面活性剤、カチオン界面活性剤
及び両性界面活性剤等を用いることができる。
【0033】アニオン性界面活性剤としては、アルコー
ル(炭素数8〜24)から誘導される構造を有するエー
テルカルボン酸[例えば、(ポリ)オキシエチレン(重
合度=1〜100)ラウリルエーテル酢酸及びそのナト
リウム塩等]、アルコール(炭素数8〜24)から誘導
される構造を有する硫酸エステル若しくはエーテル硫酸
エステル又はこれらの塩[例えば、ラウリル硫酸ナトリ
ウム、(ポリ)オキシエチレン(重合度=1〜100)
ラウリルエーテル硫酸ナトリウム塩、(ポリ)オキシエ
チレン(重合度=1〜100)オレイル硫酸トリエタノ
ールアミン等]、炭素数8〜24のスルホン酸塩[例え
ば、ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム塩等]、脂
肪酸(炭素数8〜24)から誘導される構造を有する脂
肪酸アミドエーテル硫酸エステル塩[例えば、(ポリ)
オキシエチレン(重合度=1〜100)ヤシ油脂肪酸モ
ノエタノールアミド硫酸ナトリウム塩等]、炭素数8〜
24の炭化水素基を1又は2個有するスルホコハク酸エ
ステル塩[例えば、ジアルキル(炭素数8〜24)スル
ホコハク酸エステルのモノナトリウム塩、モノアルキル
(炭素数8〜24)スルホコハク酸エステルのジカリウ
ム塩、ジ{アルキル(ポリ)オキシエチレン(重合度=
1〜100)}スルホコハク酸エステルのモノナトリウ
ム塩、モノ{アルキル(ポリ)オキシエチレン(重合度
=1〜100)}スルホコハク酸エステルのジアンモニ
ウム塩等]、アルコール(炭素数8〜24)から誘導さ
れる構造を有するリン酸エステル若しくはエーテルリン
酸エステル又はこれらの塩[例えば、ラウリル酸ナトリ
ウム塩、(ポリ)オキシエチレン(重合度=1〜10
0)ラウリルエーテルリン酸ナトリウム塩等]、炭素数
8〜24の脂肪酸塩[例えば、ラウリル酸ナトリウム
塩、ラウリル酸トリエタノールアミン塩等]、炭素数8
〜24の炭化水素基を有するアシル化アミノ酸(アシル
化アミノカルボン酸又はアシル化アミノスルホン酸)塩
[例えば、ヤシ油脂肪酸メチルタウリンナトリウム塩、
ヤシ油脂肪酸ザルコシンナトリウム塩、ヤシ油脂肪酸サ
ルコシントリエタノールアミン塩、N―ヤシ油脂肪酸ア
シル−L−グルタルミン酸トリエタノールアミン塩、N
―ヤシ油脂肪酸アシル−L−グルタルミン酸ナトリウム
塩、ラウリロイルメチル―β―アラニンナトリウム塩
等]、リグニンスルホン酸塩[例えば、リグニンスルホ
ン酸ナトリウム塩等]、アルキルナフタレンスルホン酸
塩[例えば、n―ブチルナフタレンスルホン酸ナトリウ
ム塩等]等が挙げられる。
ル(炭素数8〜24)から誘導される構造を有するエー
テルカルボン酸[例えば、(ポリ)オキシエチレン(重
合度=1〜100)ラウリルエーテル酢酸及びそのナト
リウム塩等]、アルコール(炭素数8〜24)から誘導
される構造を有する硫酸エステル若しくはエーテル硫酸
エステル又はこれらの塩[例えば、ラウリル硫酸ナトリ
ウム、(ポリ)オキシエチレン(重合度=1〜100)
ラウリルエーテル硫酸ナトリウム塩、(ポリ)オキシエ
チレン(重合度=1〜100)オレイル硫酸トリエタノ
ールアミン等]、炭素数8〜24のスルホン酸塩[例え
ば、ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム塩等]、脂
肪酸(炭素数8〜24)から誘導される構造を有する脂
肪酸アミドエーテル硫酸エステル塩[例えば、(ポリ)
オキシエチレン(重合度=1〜100)ヤシ油脂肪酸モ
ノエタノールアミド硫酸ナトリウム塩等]、炭素数8〜
24の炭化水素基を1又は2個有するスルホコハク酸エ
ステル塩[例えば、ジアルキル(炭素数8〜24)スル
ホコハク酸エステルのモノナトリウム塩、モノアルキル
(炭素数8〜24)スルホコハク酸エステルのジカリウ
ム塩、ジ{アルキル(ポリ)オキシエチレン(重合度=
1〜100)}スルホコハク酸エステルのモノナトリウ
ム塩、モノ{アルキル(ポリ)オキシエチレン(重合度
=1〜100)}スルホコハク酸エステルのジアンモニ
ウム塩等]、アルコール(炭素数8〜24)から誘導さ
れる構造を有するリン酸エステル若しくはエーテルリン
酸エステル又はこれらの塩[例えば、ラウリル酸ナトリ
ウム塩、(ポリ)オキシエチレン(重合度=1〜10
0)ラウリルエーテルリン酸ナトリウム塩等]、炭素数
8〜24の脂肪酸塩[例えば、ラウリル酸ナトリウム
塩、ラウリル酸トリエタノールアミン塩等]、炭素数8
〜24の炭化水素基を有するアシル化アミノ酸(アシル
化アミノカルボン酸又はアシル化アミノスルホン酸)塩
[例えば、ヤシ油脂肪酸メチルタウリンナトリウム塩、
ヤシ油脂肪酸ザルコシンナトリウム塩、ヤシ油脂肪酸サ
ルコシントリエタノールアミン塩、N―ヤシ油脂肪酸ア
シル−L−グルタルミン酸トリエタノールアミン塩、N
―ヤシ油脂肪酸アシル−L−グルタルミン酸ナトリウム
塩、ラウリロイルメチル―β―アラニンナトリウム塩
等]、リグニンスルホン酸塩[例えば、リグニンスルホ
ン酸ナトリウム塩等]、アルキルナフタレンスルホン酸
塩[例えば、n―ブチルナフタレンスルホン酸ナトリウ
ム塩等]等が挙げられる。
【0034】ノニオン性界面活性剤としては、脂肪族ア
ルコール(炭素数8〜24)アルキレンオキサイド(炭
素数2〜8)付加物(重合度1〜100)[例えば、ラ
ウリルアルコールのエチレンオキサイド付加物(重合度
=15)等]、ポリオキシアルキレン(アルキレン基の
炭素数2〜8、重合度1〜100)高級脂肪酸(炭素数
8〜24)エステル[例えば、モノステアリン酸ポリエ
チレングリコール(重合度=20)、ジステアリン酸ポ
リエチレングリコール(重合度=30)等]、多価(2
価〜10価又はそれ以上)アルコール脂肪酸エステル
(エステルの炭素数8〜24)[例えば、モノステアリ
ン酸グリセリン、モノステアリン酸エチレングリコー
ル、モノラウリル酸ソルビタン等]、(ポリ)オキシア
ルキレン(アルキレン基の炭素数2〜8、重合度=1〜
100)多価(2価〜10価又はそれ以上)アルコール
高級脂肪酸エステル(エステルの炭素数8〜24)[例
えば、モノラウリン酸ポリオキシエチレン(重合度=1
0)ソルビタン、ポリオキシエチレン(重合度=50)
ジオレイン酸メチルグルコシド等]、脂肪酸(炭素数8
〜24)アルカノールアミド[例えば、オレイン酸モノ
エタノールアミド等]、(ポリ)オキシアルキレン(ア
ルキレン基の炭素数2〜8、重合度1〜100)アルキ
ル(炭素数8〜24)アミノエーテル及びアルキル(炭
素数8〜24)ジアルキル(炭素数1〜6)アミンオキ
シド[例えば、ラウリルジメチルアミンオキシド等]等
が挙げられる。
ルコール(炭素数8〜24)アルキレンオキサイド(炭
素数2〜8)付加物(重合度1〜100)[例えば、ラ
ウリルアルコールのエチレンオキサイド付加物(重合度
=15)等]、ポリオキシアルキレン(アルキレン基の
炭素数2〜8、重合度1〜100)高級脂肪酸(炭素数
8〜24)エステル[例えば、モノステアリン酸ポリエ
チレングリコール(重合度=20)、ジステアリン酸ポ
リエチレングリコール(重合度=30)等]、多価(2
価〜10価又はそれ以上)アルコール脂肪酸エステル
(エステルの炭素数8〜24)[例えば、モノステアリ
ン酸グリセリン、モノステアリン酸エチレングリコー
ル、モノラウリル酸ソルビタン等]、(ポリ)オキシア
ルキレン(アルキレン基の炭素数2〜8、重合度=1〜
100)多価(2価〜10価又はそれ以上)アルコール
高級脂肪酸エステル(エステルの炭素数8〜24)[例
えば、モノラウリン酸ポリオキシエチレン(重合度=1
0)ソルビタン、ポリオキシエチレン(重合度=50)
ジオレイン酸メチルグルコシド等]、脂肪酸(炭素数8
〜24)アルカノールアミド[例えば、オレイン酸モノ
エタノールアミド等]、(ポリ)オキシアルキレン(ア
ルキレン基の炭素数2〜8、重合度1〜100)アルキ
ル(炭素数8〜24)アミノエーテル及びアルキル(炭
素数8〜24)ジアルキル(炭素数1〜6)アミンオキ
シド[例えば、ラウリルジメチルアミンオキシド等]等
が挙げられる。
【0035】カチオン性界面活性剤としては、第4級ア
ンモニウム塩[例えば、塩化ステアリルトリメチルアン
モニウム塩、塩化ベヘニルトリメチルアンモニウム塩、
塩化ジステアリルジメチルアンモニウム塩、エチル硫酸
ラノリン脂肪酸アミドプロピルエチルジメチルアンモニ
ウム塩等]、アミン塩型[例えば、ステアリン酸ジエチ
ルアミノエチルアミド乳酸塩、ジラウリルアミン塩酸
塩、オレイルアミン乳酸塩等]等が挙げられる。
ンモニウム塩[例えば、塩化ステアリルトリメチルアン
モニウム塩、塩化ベヘニルトリメチルアンモニウム塩、
塩化ジステアリルジメチルアンモニウム塩、エチル硫酸
ラノリン脂肪酸アミドプロピルエチルジメチルアンモニ
ウム塩等]、アミン塩型[例えば、ステアリン酸ジエチ
ルアミノエチルアミド乳酸塩、ジラウリルアミン塩酸
塩、オレイルアミン乳酸塩等]等が挙げられる。
【0036】両性界面活性剤としては、ベタイン型両性
界面活性剤[例えば、ヤシ油脂肪酸アミドプロピルジメ
チルアミノ酢酸ベタイン、ラウリルジメチルアミノ酢酸
ベタイン、2−アルキル−N―ヒドロキシエチルイミダ
ゾリニウムベタン、ラウリルヒドロキシスルホベタイン
等]、アミノ酸型両性界面活性剤[例えば、β−ラウリ
ルアミノプロピオン酸ナトリウム等]が挙げられる。こ
れらの1種又は2種以上が使用できる。この他に、公知
の高分子型の分散剤等も使用できる。
界面活性剤[例えば、ヤシ油脂肪酸アミドプロピルジメ
チルアミノ酢酸ベタイン、ラウリルジメチルアミノ酢酸
ベタイン、2−アルキル−N―ヒドロキシエチルイミダ
ゾリニウムベタン、ラウリルヒドロキシスルホベタイン
等]、アミノ酸型両性界面活性剤[例えば、β−ラウリ
ルアミノプロピオン酸ナトリウム等]が挙げられる。こ
れらの1種又は2種以上が使用できる。この他に、公知
の高分子型の分散剤等も使用できる。
【0037】分散剤を使用する場合、分散剤の含有量
は、プレポリマー又は軟質物の重量に基づいて、0.0
1〜30重量%が好ましく、さらに好ましくは0.05
〜20重量%、特に好ましくは0.1〜15重量%であ
る。
は、プレポリマー又は軟質物の重量に基づいて、0.0
1〜30重量%が好ましく、さらに好ましくは0.05
〜20重量%、特に好ましくは0.1〜15重量%であ
る。
【0038】また、プレポリマー又は軟質物と硬質物と
からなる分散体を分散媒へ分散する際に、上記の分散剤
の他に分散安定剤を使用してもよい。分散安定剤は特に
限定されず、公知の分散安定剤を使用でき、例えば、メ
チルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロ
キシプロピルメチルセルロース及びカルボキシメチルセ
ルロース等のセルロース系水溶性樹脂、ポリビニルアル
コール、ポリアクリル酸塩、ポリビニルピロリドン、ポ
リアクリルアミド並びに第三燐酸塩等が挙げられる。こ
れらの数平均分子量は、500〜20,000が好まし
く、さらに好ましくは600〜17,000、特に好ま
しくは700〜15,000である。これらのうち、メ
チルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ポリビ
ニルアルコール、ポリアクリル酸塩及びポリアクリルア
ミドが好ましく、さらに好ましくはヒドロキシエチルセ
ルロース、ポリビニルアルコール及びポリアクリルアミ
ド、特に好ましくはポリビニルアルコールである。
からなる分散体を分散媒へ分散する際に、上記の分散剤
の他に分散安定剤を使用してもよい。分散安定剤は特に
限定されず、公知の分散安定剤を使用でき、例えば、メ
チルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロ
キシプロピルメチルセルロース及びカルボキシメチルセ
ルロース等のセルロース系水溶性樹脂、ポリビニルアル
コール、ポリアクリル酸塩、ポリビニルピロリドン、ポ
リアクリルアミド並びに第三燐酸塩等が挙げられる。こ
れらの数平均分子量は、500〜20,000が好まし
く、さらに好ましくは600〜17,000、特に好ま
しくは700〜15,000である。これらのうち、メ
チルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ポリビ
ニルアルコール、ポリアクリル酸塩及びポリアクリルア
ミドが好ましく、さらに好ましくはヒドロキシエチルセ
ルロース、ポリビニルアルコール及びポリアクリルアミ
ド、特に好ましくはポリビニルアルコールである。
【0039】分散安定剤を使用する場合、分散安定剤の
使用量は、分散媒の重量に基づいて、0.005〜10
重量%が好ましく、さらに好ましくは0.01〜5重量
%、特に好ましくは0.1〜3重量%である。
使用量は、分散媒の重量に基づいて、0.005〜10
重量%が好ましく、さらに好ましくは0.01〜5重量
%、特に好ましくは0.1〜3重量%である。
【0040】研磨材は、デンカンテーション、濾過及び
蒸留(減圧蒸留を含む。)等により、分散媒の除去及び
洗浄を行うことができる。さらに、製造された研磨材
は、必要に応じ、ジメチルホルムアミド等の溶剤で、研
磨材表面をエッチングし、表面に軟質物の内部に存在し
ている硬質物を現出させることもできる。
蒸留(減圧蒸留を含む。)等により、分散媒の除去及び
洗浄を行うことができる。さらに、製造された研磨材
は、必要に応じ、ジメチルホルムアミド等の溶剤で、研
磨材表面をエッチングし、表面に軟質物の内部に存在し
ている硬質物を現出させることもできる。
【0041】本発明の研磨材は、CMP用の研磨液(C
MPスラリー)の研磨材として使用することができる。
通常、CMPスラリーは、pHをアルカリ性若しくは中
性に調整したイオン交換水中に1次粒子径0.010〜
0.30μmの酸化ケイ素又は酸化セリウム微粒子等を
分散させてなるが、酸化ケイ素及び酸化セリウム微粒子
に替えて、本発明の研磨材をアルカリ性若しくは中性に
調整したイオン交換水中に分散させることによりCMP
スラリーを容易に調製できる。
MPスラリー)の研磨材として使用することができる。
通常、CMPスラリーは、pHをアルカリ性若しくは中
性に調整したイオン交換水中に1次粒子径0.010〜
0.30μmの酸化ケイ素又は酸化セリウム微粒子等を
分散させてなるが、酸化ケイ素及び酸化セリウム微粒子
に替えて、本発明の研磨材をアルカリ性若しくは中性に
調整したイオン交換水中に分散させることによりCMP
スラリーを容易に調製できる。
【0042】本発明の研磨材は、CMP工程に適用する
と高い研磨効率を示し、半導体製造の生産性を大幅に高
めることができる。さらに、CMP工程以外に、シリコ
ンウェハーのラッピング、シリコンウェハーのポリッシ
ング等の半導体製造工程にも好適である。また、本発明
の研磨材は、半導体製造工程以外に、ハードディスク用
ガラス基板のポリッシング、精密機械製造の精密研磨、
工作物の接着面の表面処理及び木材加工等にも用いられ
る。
と高い研磨効率を示し、半導体製造の生産性を大幅に高
めることができる。さらに、CMP工程以外に、シリコ
ンウェハーのラッピング、シリコンウェハーのポリッシ
ング等の半導体製造工程にも好適である。また、本発明
の研磨材は、半導体製造工程以外に、ハードディスク用
ガラス基板のポリッシング、精密機械製造の精密研磨、
工作物の接着面の表面処理及び木材加工等にも用いられ
る。
【0043】本発明の研磨材を用いたCMPの方法は、
公知の方法が使用できる。例えば、研磨機(例えば、ラ
ップマスター社製LPH−15)を用い、研磨材を分散
させたCMPスラリーを一定流量で供給しながら、研磨
する方法が用いられる。研磨後のウエハーの表面粗さ
は、触針式表面粗さ計(例えば、P−15:KLAテン
コール社製)等を用いて測定することができ、研磨量
は、膜厚測定器(例えば、M6100A:ナノメトリク
ス社製)等を用いて測定することができる。
公知の方法が使用できる。例えば、研磨機(例えば、ラ
ップマスター社製LPH−15)を用い、研磨材を分散
させたCMPスラリーを一定流量で供給しながら、研磨
する方法が用いられる。研磨後のウエハーの表面粗さ
は、触針式表面粗さ計(例えば、P−15:KLAテン
コール社製)等を用いて測定することができ、研磨量
は、膜厚測定器(例えば、M6100A:ナノメトリク
ス社製)等を用いて測定することができる。
【0044】
【実施例】以下、実施例により本発明をさらに説明する
が、本発明はこれに限定されるものではない。以下の記
載において「部」は重量部、「%」は重量%を示す。 製造例1 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、ネオ
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量2000、ヒドロキシル価が
56)654部を投入し、3mmHgの減圧下で120
℃に加熱して1時間脱水を行った。続いて、酸化ケイ素
(商品名:AEROSIL OX50、日本アエロジル
株式会社製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカース
硬度500)350部、イソホロンジイソシアネート
(IPDI)146部を投入し、110℃で10時間反
応を行い酸化ケイ素を分散させたウレタンプレポリマー
(1)を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート基
含量は2.8%であった。
が、本発明はこれに限定されるものではない。以下の記
載において「部」は重量部、「%」は重量%を示す。 製造例1 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、ネオ
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量2000、ヒドロキシル価が
56)654部を投入し、3mmHgの減圧下で120
℃に加熱して1時間脱水を行った。続いて、酸化ケイ素
(商品名:AEROSIL OX50、日本アエロジル
株式会社製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカース
硬度500)350部、イソホロンジイソシアネート
(IPDI)146部を投入し、110℃で10時間反
応を行い酸化ケイ素を分散させたウレタンプレポリマー
(1)を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート基
含量は2.8%であった。
【0045】製造例2 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、ネオ
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量1000、ヒドロキシル価が
112)878部、酸化ケイ素(商品名:AEROSI
L OX50、日本アエロジル株式会社製、体積平均粒
子径0.05μm ビッカース硬度500)250部を
投入し、110℃で2時間加熱して、脱水・分散させ
た。続いて、水添MDI 122部を投入し、110℃
で6時間反応を行い、酸化ケイ素を分散させたウレタン
プレポリマー(2)を得た。該プレポリマーの遊離イソ
シアネート含量は3.6%であった。
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量1000、ヒドロキシル価が
112)878部、酸化ケイ素(商品名:AEROSI
L OX50、日本アエロジル株式会社製、体積平均粒
子径0.05μm ビッカース硬度500)250部を
投入し、110℃で2時間加熱して、脱水・分散させ
た。続いて、水添MDI 122部を投入し、110℃
で6時間反応を行い、酸化ケイ素を分散させたウレタン
プレポリマー(2)を得た。該プレポリマーの遊離イソ
シアネート含量は3.6%であった。
【0046】製造例3 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、ネオ
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量2000、ヒドロキシル価が
56)878部、体積平均粒子径0.80μmの酸化セ
リウム(昭和電工製、商品名:ROX、ビッカース硬度
650)250部を投入し、110℃で2時間加熱し
て、脱水・分散させた。続いて、水添MDI 122部
を投入し、110℃で6時間反応を行い、酸化セリウム
を分散させたウレタンプレポリマー(3)を得た。該プ
レポリマーの遊離イソシアネート含量は3.5%であっ
た。
ペンチルグリコールとアジピン酸とからなるポリエステ
ルジオール(数平均分子量2000、ヒドロキシル価が
56)878部、体積平均粒子径0.80μmの酸化セ
リウム(昭和電工製、商品名:ROX、ビッカース硬度
650)250部を投入し、110℃で2時間加熱し
て、脱水・分散させた。続いて、水添MDI 122部
を投入し、110℃で6時間反応を行い、酸化セリウム
を分散させたウレタンプレポリマー(3)を得た。該プ
レポリマーの遊離イソシアネート含量は3.5%であっ
た。
【0047】製造例4 酸化ケイ素(商品名:AEROSIL OX50、日本
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、アルミナ(商品名:WA30
000、フジミインコーポレーテッド製、体積平均粒子
径0.30μm、ビッカース硬度1500)を使用した
以外は製造例2と同様にして、アルミナを分散させたウ
レタンプレポリマー(4)を得た。該プレポリマーの遊
離イソシアネート含量は3.6%であった。
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、アルミナ(商品名:WA30
000、フジミインコーポレーテッド製、体積平均粒子
径0.30μm、ビッカース硬度1500)を使用した
以外は製造例2と同様にして、アルミナを分散させたウ
レタンプレポリマー(4)を得た。該プレポリマーの遊
離イソシアネート含量は3.6%であった。
【0048】製造例5 酸化ケイ素(商品名:AEROSIL OX50、日本
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、酸化ケイ素(商品名:AER
OSIL 50、日本アエロジル製、体積平均粒子径
0.03μm、ビッカース硬度500)を使用した以外
は製造例2と同様にして、酸化ケイ素を分散させたウレ
タンプレポリマー(5)を得た。該プレポリマーの遊離
イソシアネート含量は3.6%であった。
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、酸化ケイ素(商品名:AER
OSIL 50、日本アエロジル製、体積平均粒子径
0.03μm、ビッカース硬度500)を使用した以外
は製造例2と同様にして、酸化ケイ素を分散させたウレ
タンプレポリマー(5)を得た。該プレポリマーの遊離
イソシアネート含量は3.6%であった。
【0049】製造例6 酸化ケイ素(商品名:AEROSIL OX50、日本
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、鉄(体積平均粒子径0.1μ
m、ビッカース硬度200)を使用した以外は製造例2
と同様にして、鉄を分散させたウレタンプレポリマー
(6)を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート含
量は3.6%であった。
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、鉄(体積平均粒子径0.1μ
m、ビッカース硬度200)を使用した以外は製造例2
と同様にして、鉄を分散させたウレタンプレポリマー
(6)を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート含
量は3.6%であった。
【0050】製造例7 <ポリエステルジオールの調製>撹拌棒及び温度計をセ
ットした4つ口フラスコに、イソフタル酸ジメチル38
8部とビスフェノールAエチレンオキサイド2モル付加
物(商品名:ニューポールBPE−20T、三洋化成工
業(株)製)790部とを投入し、120℃で溶解した
後、酢酸亜鉛0.5部を投入して、5mmHgの減圧
下、200℃で12時間加熱して縮合エステル化を行
い、重量平均分子量約2,000、水酸基価55の芳香
環含有ポリエステルジオール(1)を得た。
ットした4つ口フラスコに、イソフタル酸ジメチル38
8部とビスフェノールAエチレンオキサイド2モル付加
物(商品名:ニューポールBPE−20T、三洋化成工
業(株)製)790部とを投入し、120℃で溶解した
後、酢酸亜鉛0.5部を投入して、5mmHgの減圧
下、200℃で12時間加熱して縮合エステル化を行
い、重量平均分子量約2,000、水酸基価55の芳香
環含有ポリエステルジオール(1)を得た。
【0051】<ウレタンプレポリマー(7)の調製>撹
拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、芳香環
含有ポリエステルジオール(1)878部、酸化ケイ素
(商品名:スノーテックス、日産化学製、体積平均粒子
径0.10μm、ビッカース硬度500)250部を投
入し、110℃で分散させた。続いて水添MDIを12
2部を投入し、110℃で6時間反応を行い、酸化ケイ
素を分散させたウレタンプレポリマー(7)を得た。該
プレポリマーの遊離イソシアネート含量は3.6%であ
った。
拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、芳香環
含有ポリエステルジオール(1)878部、酸化ケイ素
(商品名:スノーテックス、日産化学製、体積平均粒子
径0.10μm、ビッカース硬度500)250部を投
入し、110℃で分散させた。続いて水添MDIを12
2部を投入し、110℃で6時間反応を行い、酸化ケイ
素を分散させたウレタンプレポリマー(7)を得た。該
プレポリマーの遊離イソシアネート含量は3.6%であ
った。
【0052】製造例8 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、芳香
環含有ポリエステルジオール(1)878部、体積平均
粒子径0.20μmの酸化セリウム(昭和電工製、商品
名:ROX、ビッカース硬度650)250部を投入
し、110℃で分散させた。続いて水添MDIを122
部を投入し、110℃で6時間反応を行い、イソシアネ
ート基末端ウレタンプレポリマー(8)を得た。該プレ
ポリマーの遊離イソシアネート含量は3.5%であっ
た。
環含有ポリエステルジオール(1)878部、体積平均
粒子径0.20μmの酸化セリウム(昭和電工製、商品
名:ROX、ビッカース硬度650)250部を投入
し、110℃で分散させた。続いて水添MDIを122
部を投入し、110℃で6時間反応を行い、イソシアネ
ート基末端ウレタンプレポリマー(8)を得た。該プレ
ポリマーの遊離イソシアネート含量は3.5%であっ
た。
【0053】製造例9 撹拌棒及び温度計をセットした4つ口フラスコに、イソ
ホロンジアミン50部とメチルエチルケトン(MEK)
50部を仕込み、50℃で5時間反応を行った後、ジエ
タノールアミンを5部加えて、ケチミン化合物を得た。
ホロンジアミン50部とメチルエチルケトン(MEK)
50部を仕込み、50℃で5時間反応を行った後、ジエ
タノールアミンを5部加えて、ケチミン化合物を得た。
【0054】比較製造例1 酸化ケイ素(商品名:AEROSIL OX50、日本
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、銅(昭和化学製、体積平均粒
子径1.0μm、ビッカース硬度150)を使用した以
外は製造例2と同様にしてウレタンプレポリマー(9)
を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート含量は
3.6%であった。
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、銅(昭和化学製、体積平均粒
子径1.0μm、ビッカース硬度150)を使用した以
外は製造例2と同様にしてウレタンプレポリマー(9)
を得た。該プレポリマーの遊離イソシアネート含量は
3.6%であった。
【0055】比較製造例2 酸化ケイ素(商品名:AEROSIL OX50、日本
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、ダイヤモンド(デュポン製、
体積平均粒子径0.05μm、ビッカース硬度845
0)を使用した以外は製造例2と同様にしてウレタンプ
レポリマー(10)を得た。該プレポリマーの遊離イソ
シアネート含量は3.6%であった。
アエロジル製、体積平均粒子径0.05μm、ビッカー
ス硬度500)に替えて、ダイヤモンド(デュポン製、
体積平均粒子径0.05μm、ビッカース硬度845
0)を使用した以外は製造例2と同様にしてウレタンプ
レポリマー(10)を得た。該プレポリマーの遊離イソ
シアネート含量は3.6%であった。
【0056】実施例1 <研磨材(1)の調製>ビーカー内で、ウレタンプレポ
リマー(1)180部と、IPDIの3量体をε−カプ
ロラクタムでブロック化した変性体(ヒュルスジャパン
株式会社製、商品名:VESTAGON B1530)
10部とを混合した後、さらに製造例9で得たケチミン
化合物22.0部を混合した。この混合物に、ポリビニ
ルアルコール(ケン価度88%、株式会社クラレ、商品
名:PVA−235)1部を水100部に溶解したポリ
ビニルアルコール水溶液250部を添加した後、ウルト
ラディスパーザー(ヤマト科学株式会社製)を使用して
回転数9000rpmで1分間混合分散(20〜30
℃)して、分散液を得た。次いで、撹拌棒及び温度計を
セットした4つ口フラスコに上記分散液を導入し、撹拌
しながら50℃で6時間反応を行い、ポリウレタン樹脂
水性分散体を得た。この水性分散体を濾別後、50℃で
1時間乾燥を行い研磨材(1)を得た。得られた研磨材
(1)の体積平均粒子径は20μmであった。また、研
磨材(1)の軟質部分の数平均分子量は40,000、
同じくデュロメータ硬度はA80であった。
リマー(1)180部と、IPDIの3量体をε−カプ
ロラクタムでブロック化した変性体(ヒュルスジャパン
株式会社製、商品名:VESTAGON B1530)
10部とを混合した後、さらに製造例9で得たケチミン
化合物22.0部を混合した。この混合物に、ポリビニ
ルアルコール(ケン価度88%、株式会社クラレ、商品
名:PVA−235)1部を水100部に溶解したポリ
ビニルアルコール水溶液250部を添加した後、ウルト
ラディスパーザー(ヤマト科学株式会社製)を使用して
回転数9000rpmで1分間混合分散(20〜30
℃)して、分散液を得た。次いで、撹拌棒及び温度計を
セットした4つ口フラスコに上記分散液を導入し、撹拌
しながら50℃で6時間反応を行い、ポリウレタン樹脂
水性分散体を得た。この水性分散体を濾別後、50℃で
1時間乾燥を行い研磨材(1)を得た。得られた研磨材
(1)の体積平均粒子径は20μmであった。また、研
磨材(1)の軟質部分の数平均分子量は40,000、
同じくデュロメータ硬度はA80であった。
【0057】<研磨液(L1)の調製>攪拌捧をセット
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(1)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L1)を得た。
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(1)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L1)を得た。
【0058】<評価1>CMP研磨液(L1)を用いて
以下の条件で絶縁酸化膜パターン付きシリコンウェハー
(熱酸化膜パターン付きウェハー、酸化膜の厚さ1μ
m、直径6インチ)10枚の研磨を行い、以下の評価条
件で研磨除去量と表面粗さの評価を行った。その結果を
表1に示す。
以下の条件で絶縁酸化膜パターン付きシリコンウェハー
(熱酸化膜パターン付きウェハー、酸化膜の厚さ1μ
m、直径6インチ)10枚の研磨を行い、以下の評価条
件で研磨除去量と表面粗さの評価を行った。その結果を
表1に示す。
【0059】・研磨条件 研 磨 機 :ラップマスター社製LPH−15改良型 研磨盤直径 :15インチ 磨盤回転数 :90rpm 圧 力 :180g/cm2 研磨液温度 :30℃ 研磨液供給量:100ml/分 研磨時間 :3分
【0060】・評価条件 研磨前のウェハーの最大厚み(t1)、研磨後のウェハ
ー厚み(t2)をテンコール(Tencor)FT75
0を用いて測定した。また、表面粗さ(Ra)をTOP
O−3D(WYKO(米)社製)を用いて、ヘッド40
倍で測定した。研磨後の表面粗さ(Ra)と研磨除去量
(t1−t2)の大きさで研磨効率を比較した。
ー厚み(t2)をテンコール(Tencor)FT75
0を用いて測定した。また、表面粗さ(Ra)をTOP
O−3D(WYKO(米)社製)を用いて、ヘッド40
倍で測定した。研磨後の表面粗さ(Ra)と研磨除去量
(t1−t2)の大きさで研磨効率を比較した。
【0061】<評価2>CMP研磨液(L1)を用い、
研磨時間を1分とした以外は評価1と同じ条件で絶縁酸
化膜パターン付きシリコンウェハーの研磨を行い、評価
1と同様にして評価した。その結果を表2に示す。
研磨時間を1分とした以外は評価1と同じ条件で絶縁酸
化膜パターン付きシリコンウェハーの研磨を行い、評価
1と同様にして評価した。その結果を表2に示す。
【0062】実施例2 <研磨材(2)の調製>ビーカー内に、ウレタンプレポ
リマー(2)220部を投入し、ポリビニルアルコール
(ケン化度88%、商品名:PVA−235、株式会社
クラレ)3部を含む水溶液750部を添加し、ウルトラ
ディスパーザー(ヤマト科学製)を使用して、室温(2
0〜30℃)で、回転数9000rpmで4分間混合し
た。この混合液を撹拌棒及び温度計をセットした4つ口
フラスコに移し、攪拌しながらイソホロンジアミン2
7.5部とジブチルアミン2.5部を投入し、50℃で
10時間反応を行い、ポリウレタン樹脂水性分散体を得
た。この水性分散体を濾別後、50℃で1時間乾燥を行
い研磨材(2)を得た。得られた研磨材(2)の体積平
均粒子径は、5μmであった。また、研磨材(2)の軟
質部分の数平均分子量は5,000、同じくデュロメー
タ硬度はA40であった。
リマー(2)220部を投入し、ポリビニルアルコール
(ケン化度88%、商品名:PVA−235、株式会社
クラレ)3部を含む水溶液750部を添加し、ウルトラ
ディスパーザー(ヤマト科学製)を使用して、室温(2
0〜30℃)で、回転数9000rpmで4分間混合し
た。この混合液を撹拌棒及び温度計をセットした4つ口
フラスコに移し、攪拌しながらイソホロンジアミン2
7.5部とジブチルアミン2.5部を投入し、50℃で
10時間反応を行い、ポリウレタン樹脂水性分散体を得
た。この水性分散体を濾別後、50℃で1時間乾燥を行
い研磨材(2)を得た。得られた研磨材(2)の体積平
均粒子径は、5μmであった。また、研磨材(2)の軟
質部分の数平均分子量は5,000、同じくデュロメー
タ硬度はA40であった。
【0063】<研磨液(L2)の調製>攪拌捧をセット
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(2)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L2)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(2)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L2)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0064】実施例3 <研磨材(3)の調製>ビーカー内に、ウレタンプレポ
リマー(3)220部を投入し、ポリビニルアルコール
(ケン化度88%、商品名:PVA−235、株式会社
クラレ)3部を含む水溶液750部を添加し、ウルトラ
ディスパーザー(ヤマト科学製)を使用して、室温(2
0〜30℃)で、回転数12000rpmで4分間混合
した。この混合液を撹拌棒及び温度計をセットした4つ
口フラスコに移し、攪拌しながらイソホロンジアミン2
7.5部とジブチルアミン2.5部を投入し、50℃で
10時間反応を行い、ポリウレタン樹脂水性分散体を得
た。この水性分散体を濾別後、50℃で1時間乾燥を行
い研磨材(3)を得た。得られた研磨材(3)の体積平
均粒径は、20μmであった。また、研磨材(3)の軟
質部分の数平均分子量は25,000、同じくデュロメ
ータ硬度はD80であった。
リマー(3)220部を投入し、ポリビニルアルコール
(ケン化度88%、商品名:PVA−235、株式会社
クラレ)3部を含む水溶液750部を添加し、ウルトラ
ディスパーザー(ヤマト科学製)を使用して、室温(2
0〜30℃)で、回転数12000rpmで4分間混合
した。この混合液を撹拌棒及び温度計をセットした4つ
口フラスコに移し、攪拌しながらイソホロンジアミン2
7.5部とジブチルアミン2.5部を投入し、50℃で
10時間反応を行い、ポリウレタン樹脂水性分散体を得
た。この水性分散体を濾別後、50℃で1時間乾燥を行
い研磨材(3)を得た。得られた研磨材(3)の体積平
均粒径は、20μmであった。また、研磨材(3)の軟
質部分の数平均分子量は25,000、同じくデュロメ
ータ硬度はD80であった。
【0065】<研磨液(L3)の調製>攪拌捧をセット
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(3)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L3)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
したビーカー内にイオン交換水100部を投入し、研磨
材(3)25部を添加し、スタティックミキサー(タク
ミナ製)を使用して回転数400rpm、25℃で攪拌
し、CMP研磨液(L3)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0066】実施例4 <研磨材(4)の調製>ウレタンプレポリマー(1)に
替えて、ウレタンプレポリマー(4)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(4)を得た。得られた研磨
材(4)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(4)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
替えて、ウレタンプレポリマー(4)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(4)を得た。得られた研磨
材(4)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(4)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
【0067】<研磨液(L4)の調製>研磨材(1)に
替えて、研磨材(4)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L4)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(4)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L4)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0068】実施例5 <研磨材(5)の調製>ウレタンプレポリマー(1)に
替えて、ウレタンプレポリマー(5)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(5)を得た。得られた研磨
材(5)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(5)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
替えて、ウレタンプレポリマー(5)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(5)を得た。得られた研磨
材(5)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(5)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
【0069】<研磨液(L5)の調製>研磨材(1)に
替えて、研磨材(5)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L5)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(5)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L5)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0070】実施例6 <研磨材(6)の調製>撹拌棒及び温度計をセットした
4つ口フラスコに、シリコーンゴム(商品名;A703
6、柴田工業、デュロメーター硬度A60 )50部を
投入し、120℃に加熱した。続いて酸化ケイ素(商品
名:AEROSIL OX50、日本アエロジル製体積
平均粒子径0.05μm、ビッカース硬度500)50
部を投入し、加熱混練ロール(江藤製作所製)を用いて
120℃で1時間混練した。得られた混練物を氷結粉砕
し、研磨材(6)を得た。得られた研磨材の体積平均粒
径は25μmであった。
4つ口フラスコに、シリコーンゴム(商品名;A703
6、柴田工業、デュロメーター硬度A60 )50部を
投入し、120℃に加熱した。続いて酸化ケイ素(商品
名:AEROSIL OX50、日本アエロジル製体積
平均粒子径0.05μm、ビッカース硬度500)50
部を投入し、加熱混練ロール(江藤製作所製)を用いて
120℃で1時間混練した。得られた混練物を氷結粉砕
し、研磨材(6)を得た。得られた研磨材の体積平均粒
径は25μmであった。
【0071】<研磨液(L6)の調製>研磨材(1)に
替えて、研磨材(6)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L6)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(6)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L6)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0072】実施例7 <研磨材(7)の調製>シリコーンゴム(商品名:A7
036、柴田工業、デュロメーター硬度A60)に替え
て、シリコーンゴム(商品名:サーコンGR、富士高分
子工業、デュロメーター硬度A20)を用いた以外は、
実施例6と同様にして研磨材(7)を得た。得られた研
磨材の体積平均粒径は20μmであった。
036、柴田工業、デュロメーター硬度A60)に替え
て、シリコーンゴム(商品名:サーコンGR、富士高分
子工業、デュロメーター硬度A20)を用いた以外は、
実施例6と同様にして研磨材(7)を得た。得られた研
磨材の体積平均粒径は20μmであった。
【0073】<研磨液(L7)の調整>研磨材(1)に
替えて、研磨材(7)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L7)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(7)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L7)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0074】実施例8 <研磨材(8)の調製>実施例1の<研磨材(1)の調
製>において、ウレタンプレポリマー(1)を含む混合
物と、ポリビニルアルコール水溶液とをウルトラディス
パーザー(ヤマト科学株式会社製)を使用して回転数9
000rpmで1分間混合分散する替わりに、ウルトラ
ディスパーサーを回転数4000rpm、4分間で混合
分散する以外は実施例1と同様にして研磨材(8)を得
た。得られた研磨材(8)の体積平均粒子径は100μ
mであった。また、研磨材(1)の軟質部分の数平均分
子量は40,000、同じくデュロメータ硬度はA80
であった。
製>において、ウレタンプレポリマー(1)を含む混合
物と、ポリビニルアルコール水溶液とをウルトラディス
パーザー(ヤマト科学株式会社製)を使用して回転数9
000rpmで1分間混合分散する替わりに、ウルトラ
ディスパーサーを回転数4000rpm、4分間で混合
分散する以外は実施例1と同様にして研磨材(8)を得
た。得られた研磨材(8)の体積平均粒子径は100μ
mであった。また、研磨材(1)の軟質部分の数平均分
子量は40,000、同じくデュロメータ硬度はA80
であった。
【0075】<研磨液(L8)の調製>研磨材(1)に
替えて、研磨材(8)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L8)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(8)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L8)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0076】実施例9 <研磨材(9)の調製>ウレタンプレポリマー(1)に
替えて、ウレタンプレポリマー(6)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(9)を得た。得られた研磨
材(9)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
替えて、ウレタンプレポリマー(6)を用いた以外実施
例1と同様にして、研磨材(9)を得た。得られた研磨
材(9)の体積平均粒径は、20μmであった。また、
研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は25,00
0、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
【0077】<研磨液(L9)の調製>研磨材(1)に
替えて、研磨材(9)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L9)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
替えて、研磨材(9)を使用した以外は実施例1と同様
にしてCMP研磨液(L9)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0078】実施例10 <研磨材(10)の調製>ウレタンプレポリマー(2)
に替えて、ウレタンプレポリマー(7)を用いた以外実
施例2と同様にして、研磨材(10)を得た。得られた
研磨材(10)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(10)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD50であっ
た。
に替えて、ウレタンプレポリマー(7)を用いた以外実
施例2と同様にして、研磨材(10)を得た。得られた
研磨材(10)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(10)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD50であっ
た。
【0079】<研磨液(L10)の調製>研磨材(2)
に替えて、研磨材(10)を使用した以外は実施例2と
同様にしてCMP研磨液(L10)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
に替えて、研磨材(10)を使用した以外は実施例2と
同様にしてCMP研磨液(L10)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0080】実施例11 <研磨材(11)の調製>ウレタンプレポリマー(2)
に替えて、ウレタンプレポリマー(8)を用いた以外実
施例2と同様にして、研磨材(11)を得た。得られた
研磨材(11)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(10)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD50であっ
た。
に替えて、ウレタンプレポリマー(8)を用いた以外実
施例2と同様にして、研磨材(11)を得た。得られた
研磨材(11)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(10)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD50であっ
た。
【0081】<研磨液(L11)の調製>研磨材(2)
に替えて、研磨材(11)を使用した以外は実施例2と
同様にしてCMP研磨液(L11)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
に替えて、研磨材(11)を使用した以外は実施例2と
同様にしてCMP研磨液(L11)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0082】比較例1 <研磨材(12)の調製>ウレタンプレポリマー(1)
に替えて、ウレタンプレポリマー(9)を用いた以外実
施例1と同様にして、研磨材(12)を得た。得られた
研磨材(12)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は25,
000、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
に替えて、ウレタンプレポリマー(9)を用いた以外実
施例1と同様にして、研磨材(12)を得た。得られた
研磨材(12)の体積平均粒径は、20μmであった。
また、研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は25,
000、同じくデュロメータ硬度はD30であった。
【0083】<研磨液(L12)の調製>研磨材(1)
に替えて、研磨材(12)を使用した以外は実施例1と
同様にしてCMP研磨液(L12)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
に替えて、研磨材(12)を使用した以外は実施例1と
同様にしてCMP研磨液(L12)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0084】比較例2 <研磨剤(13)の調製>ウレタンプレポリマー(1)
に替えて、ウレタンプレポリマー(10)を用いた以外
実施例1と同様にして、研磨材(13)を得た。得られ
た研磨材(13)の体積平均粒径は、20μmであっ
た。また、研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD30であっ
た。
に替えて、ウレタンプレポリマー(10)を用いた以外
実施例1と同様にして、研磨材(13)を得た。得られ
た研磨材(13)の体積平均粒径は、20μmであっ
た。また、研磨材(9)の軟質部分の数平均分子量は2
5,000、同じくデュロメータ硬度はD30であっ
た。
【0085】<研磨液L(13)の調製>研磨材(1)
に替えて、研磨材(13)を使用した以外は、実施例1
と同様にしてCMP研磨液(L13)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
に替えて、研磨材(13)を使用した以外は、実施例1
と同様にしてCMP研磨液(L13)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0086】比較例3 <研磨液(L14)の調製>攪拌捧をセットしたビーカ
ー内にイオン交換水100部を投入し、超微粉シリカ
(体積平均粒子径25nm、日本アエロジル(株)製)
を25部を添加し回転数400rpm、25℃で攪拌し
た。ジエチレントリアミンにてpH10.5に調整し研
磨液とし、CMP研磨液(L14)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
ー内にイオン交換水100部を投入し、超微粉シリカ
(体積平均粒子径25nm、日本アエロジル(株)製)
を25部を添加し回転数400rpm、25℃で攪拌し
た。ジエチレントリアミンにてpH10.5に調整し研
磨液とし、CMP研磨液(L14)を得た。 <評価1及び2>実施例1と同様にして、研磨・評価を
行った。その結果を表1及び2に示す。
【0087】
【表1】
【0088】
【表2】
【0089】これらの実施例及び比較例から明らかなよ
うに、本発明の研磨材を使用した場合、ウエハーに少な
い研磨量で優れた平滑性を得ることができ、また短い研
磨時間で平坦な研磨面を得ることができる。すなわち、
本発明の研磨材は、種々の形状を持つ被研磨物を極めて
高い研磨効率で研磨でき、研磨時間を短縮するととも
に、平坦面を得るための多量の研磨を想定した過剰な成
膜工程を省くことができる。
うに、本発明の研磨材を使用した場合、ウエハーに少な
い研磨量で優れた平滑性を得ることができ、また短い研
磨時間で平坦な研磨面を得ることができる。すなわち、
本発明の研磨材は、種々の形状を持つ被研磨物を極めて
高い研磨効率で研磨でき、研磨時間を短縮するととも
に、平坦面を得るための多量の研磨を想定した過剰な成
膜工程を省くことができる。
【0090】
【発明の効果】本発明の研磨材は、半導体製造のCMP
工程において、極めて高い研磨効率でシリコンウェハー
を研磨することができる。従って、余分な酸化膜の制膜
をする必要がなくなり、歩留まりが向上する(生産性の
向上)。さらに、本発明の研磨材は、シリコンウエハー
上パターンのさらなる微細化に対応できるという従来の
研磨材にないメリットがあり、産業上極めて有用であ
る。
工程において、極めて高い研磨効率でシリコンウェハー
を研磨することができる。従って、余分な酸化膜の制膜
をする必要がなくなり、歩留まりが向上する(生産性の
向上)。さらに、本発明の研磨材は、シリコンウエハー
上パターンのさらなる微細化に対応できるという従来の
研磨材にないメリットがあり、産業上極めて有用であ
る。
Claims (4)
- 【請求項1】 デュロメーターによる硬さ(JIS K
6253−1997)がE80〜D90である軟質物中
に、ビッカース硬さ試験法(JIS Z2244−19
98)による硬さが200〜3,000である硬質物を
分散させてなることを特徴とする研磨材。 - 【請求項2】 硬質物の体積平均粒子径が、0.030
〜1.0μmである請求項1記載の研磨材。 - 【請求項3】 化学的機械研磨工程用である請求項1又
は2記載の研磨材。 - 【請求項4】 請求項1〜3の何れかに記載の研磨材を
用いる半導体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001163397A JP2002138274A (ja) | 2000-05-30 | 2001-05-30 | 研磨材 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000160821 | 2000-05-30 | ||
JP2000-160821 | 2000-05-30 | ||
JP2001163397A JP2002138274A (ja) | 2000-05-30 | 2001-05-30 | 研磨材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002138274A true JP2002138274A (ja) | 2002-05-14 |
Family
ID=26592936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001163397A Pending JP2002138274A (ja) | 2000-05-30 | 2001-05-30 | 研磨材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002138274A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006506809A (ja) * | 2002-11-12 | 2006-02-23 | アーケマ・インコーポレイテッド | スルホン化両性剤を使用した銅の化学的機械的研磨溶液 |
JP2007042923A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Cu膜研磨用研磨パッド |
JP2007053214A (ja) * | 2005-08-17 | 2007-03-01 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 研磨用組成物 |
KR101040333B1 (ko) * | 2008-06-19 | 2011-06-10 | 주식회사 엠앤이 | 반도체 cmp 공정용 고 인장 실리콘 멤브레인 |
JP2013252638A (ja) * | 2012-06-06 | 2013-12-19 | Toto Ltd | 樹脂成形品 |
JP2014175166A (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Toyota Industries Corp | 電極製造装置 |
-
2001
- 2001-05-30 JP JP2001163397A patent/JP2002138274A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006506809A (ja) * | 2002-11-12 | 2006-02-23 | アーケマ・インコーポレイテッド | スルホン化両性剤を使用した銅の化学的機械的研磨溶液 |
JP2007042923A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Cu膜研磨用研磨パッド |
JP2007053214A (ja) * | 2005-08-17 | 2007-03-01 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 研磨用組成物 |
KR101040333B1 (ko) * | 2008-06-19 | 2011-06-10 | 주식회사 엠앤이 | 반도체 cmp 공정용 고 인장 실리콘 멤브레인 |
JP2013252638A (ja) * | 2012-06-06 | 2013-12-19 | Toto Ltd | 樹脂成形品 |
JP2014175166A (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Toyota Industries Corp | 電極製造装置 |
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