JP2002136498A - 位相誤差測定方法および装置、位相誤差補正方法および装置、記録媒体並びに磁気共鳴撮影装置 - Google Patents
位相誤差測定方法および装置、位相誤差補正方法および装置、記録媒体並びに磁気共鳴撮影装置Info
- Publication number
- JP2002136498A JP2002136498A JP2000320827A JP2000320827A JP2002136498A JP 2002136498 A JP2002136498 A JP 2002136498A JP 2000320827 A JP2000320827 A JP 2000320827A JP 2000320827 A JP2000320827 A JP 2000320827A JP 2002136498 A JP2002136498 A JP 2002136498A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- excitation
- magnetic field
- spin
- time
- gradient magnetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/05—Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves
- A61B5/055—Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves involving electronic [EMR] or nuclear [NMR] magnetic resonance, e.g. magnetic resonance imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56518—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities due to eddy currents, e.g. caused by switching of the gradient magnetic field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56563—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities caused by a distortion of the main magnetic field B0, e.g. temporal variation of the magnitude or spatial inhomogeneity of B0
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 位相軸方向のスピンの位相誤差を正しく測定
して補正する。 【解決手段】 １回目と２回目の１８０°励起の間の期
間に、積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加し
て第１のスピンエコーＳＥ１を読み出し、２回目と３回
目の１８０°励起の間の期間に、積分値が０となる勾配
磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコーＳＥ２
を読み出し、これらスピンエコーに基づいて残留磁化Ｇ
ｐ０の影響による位相誤差を求める。
して補正する。 【解決手段】 １回目と２回目の１８０°励起の間の期
間に、積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加し
て第１のスピンエコーＳＥ１を読み出し、２回目と３回
目の１８０°励起の間の期間に、積分値が０となる勾配
磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコーＳＥ２
を読み出し、これらスピンエコーに基づいて残留磁化Ｇ
ｐ０の影響による位相誤差を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相誤差測定方法
および装置、位相誤差補正方法および装置、記録媒体並
びに磁気共鳴撮影装置に関し、とくに、残留磁化等の影
響によるスピン（ｓｐｉｎ）の位相誤差を測定する方法
および装置、そのような位相誤差を補正する方法および
装置、位相誤差測定機能をコンピュータ（ｃｏｍｐｕｔ
ｅｒ）に実現させるプログラム（ｐｒｏｇｒａｍ）を記
録した記録媒体、位相誤差補正機能をコンピュータに実
現させるプログラムを記録した記録媒体、位相誤差測定
手段を備えた磁気共鳴撮影装置、並びに、位相誤差補正
手段を備えた磁気共鳴撮影装置に関する。
および装置、位相誤差補正方法および装置、記録媒体並
びに磁気共鳴撮影装置に関し、とくに、残留磁化等の影
響によるスピン（ｓｐｉｎ）の位相誤差を測定する方法
および装置、そのような位相誤差を補正する方法および
装置、位相誤差測定機能をコンピュータ（ｃｏｍｐｕｔ
ｅｒ）に実現させるプログラム（ｐｒｏｇｒａｍ）を記
録した記録媒体、位相誤差補正機能をコンピュータに実
現させるプログラムを記録した記録媒体、位相誤差測定
手段を備えた磁気共鳴撮影装置、並びに、位相誤差補正
手段を備えた磁気共鳴撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気共鳴撮影（ＭＲＩ：Ｍａｇｎｅｔｉ
ｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ Ｉｍａｇｉｎｇ）装置では、
マグネットシステム（ｍａｇｎｅｔ ｓｙｓｔｅｍ）の
内部空間、すなわち、静磁場を形成した空間に撮影の対
象を搬入し、勾配磁場および高周波磁場を印加して対象
内のスピン（ｓｐｉｎ）から磁気共鳴信号を発生させ、
その受信信号に基づいて画像を再構成する。
ｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ Ｉｍａｇｉｎｇ）装置では、
マグネットシステム（ｍａｇｎｅｔ ｓｙｓｔｅｍ）の
内部空間、すなわち、静磁場を形成した空間に撮影の対
象を搬入し、勾配磁場および高周波磁場を印加して対象
内のスピン（ｓｐｉｎ）から磁気共鳴信号を発生させ、
その受信信号に基づいて画像を再構成する。
【０００３】勾配磁場は互いに垂直な３軸方向にそれぞ
れ印加される。互いに垂直な３軸は、スライス（ｓｌｉ
ｃｅ）軸、位相軸および周波数軸である。スライス軸方
向の勾配磁場は、スライス軸上の所望のスライスをＲＦ
（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）励起信号により選
択的に励起することを可能にするもので、スライス勾配
とも呼ばれる。位相軸方向の勾配磁場はスピンの位相エ
ンコード（ｅｎｃｏｄｅ）を可能にするもので、位相エ
ンコード勾配とも呼ばれる。周波数軸方向の勾配磁場は
磁気共鳴信号の読み出しを可能にするもので、リードア
ウト（ｒｅａｄｏｕｔ）勾配とも呼ばれる。磁気共鳴信
号はエコー（ｅｃｈｏ）信号として読み出される。
れ印加される。互いに垂直な３軸は、スライス（ｓｌｉ
ｃｅ）軸、位相軸および周波数軸である。スライス軸方
向の勾配磁場は、スライス軸上の所望のスライスをＲＦ
（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）励起信号により選
択的に励起することを可能にするもので、スライス勾配
とも呼ばれる。位相軸方向の勾配磁場はスピンの位相エ
ンコード（ｅｎｃｏｄｅ）を可能にするもので、位相エ
ンコード勾配とも呼ばれる。周波数軸方向の勾配磁場は
磁気共鳴信号の読み出しを可能にするもので、リードア
ウト（ｒｅａｄｏｕｔ）勾配とも呼ばれる。磁気共鳴信
号はエコー（ｅｃｈｏ）信号として読み出される。
【０００４】磁気共鳴撮影法の１つにファースト・スピ
ンエコー（ＦＳＥ：Ｆａｓｔ Ｓｐｉｎ Ｅｃｈｏ）法
がある。これは、スピンを９０°励起した後、１８０°
励起によるスピンの反転を複数回繰り返し、１回の９０
°励起につき複数ビュー（ｖｉｅｗ）のスピンエコーを
獲得するようにしたものである。
ンエコー（ＦＳＥ：Ｆａｓｔ Ｓｐｉｎ Ｅｃｈｏ）法
がある。これは、スピンを９０°励起した後、１８０°
励起によるスピンの反転を複数回繰り返し、１回の９０
°励起につき複数ビュー（ｖｉｅｗ）のスピンエコーを
獲得するようにしたものである。
【０００５】ＦＳＥ法のパルスシーケンス（ｐｕｌｓｅ
ｓｅｑｕｅｎｃｅ）を図９に示す。同図の（１）は９
０°励起および１８０°励起のシーケンスであり、
（２）、（３）、（４）はそれぞれスライス勾配Ｇｓ、
位相エンコード勾配Ｇｐ、リードアウト勾配Ｇｒのシー
ケンスであり、（５）はスピンエコーＳＥのシーケンス
である。これらのシーケンスは時間軸ｔに沿って進行す
る。
ｓｅｑｕｅｎｃｅ）を図９に示す。同図の（１）は９
０°励起および１８０°励起のシーケンスであり、
（２）、（３）、（４）はそれぞれスライス勾配Ｇｓ、
位相エンコード勾配Ｇｐ、リードアウト勾配Ｇｒのシー
ケンスであり、（５）はスピンエコーＳＥのシーケンス
である。これらのシーケンスは時間軸ｔに沿って進行す
る。
【０００６】同図に示すように、スライス勾配Ｇｓ１を
印加した状態で９０°励起を行う。次に、時間Ｕ１後に
スライス勾配Ｇｓ２を印加した状態で１回目の１８０°
励起を行う。次に、時間Ｕ２後にスライス勾配Ｇｓ３を
印加した状態で２回目の１８０°励起を行う。以下同様
に、時間Ｕ２ごとに、スライス勾配Ｇｓ４，Ｇｓ５，・
・・をそれぞれ印加した状態で３回目、４回目、・・・
の１８０°励起をそれぞれ行う。
印加した状態で９０°励起を行う。次に、時間Ｕ１後に
スライス勾配Ｇｓ２を印加した状態で１回目の１８０°
励起を行う。次に、時間Ｕ２後にスライス勾配Ｇｓ３を
印加した状態で２回目の１８０°励起を行う。以下同様
に、時間Ｕ２ごとに、スライス勾配Ｇｓ４，Ｇｓ５，・
・・をそれぞれ印加した状態で３回目、４回目、・・・
の１８０°励起をそれぞれ行う。
【０００７】９０°励起から１回目の１８０°励起まで
の期間にリードアウト勾配Ｇｒ１を印加してスピンの位
相分散すなわちディフェーズ（ｄｅｐｈａｓｅ）を行
う。次に、１回目の１８０°励起から２回目の１８０°
励起までの期間にリードアウト勾配Ｇｒ２を印加して、
スピンの位相収束すなわちリフェーズ（ｒｅｐｈａｓ
ｅ）を行って１回目のスピンエコーＳＥ１を発生させ
る。スピンエコーを発生させたリードアウト勾配Ｇｒ２
は後半部分でスピンをディフェーズする。
の期間にリードアウト勾配Ｇｒ１を印加してスピンの位
相分散すなわちディフェーズ（ｄｅｐｈａｓｅ）を行
う。次に、１回目の１８０°励起から２回目の１８０°
励起までの期間にリードアウト勾配Ｇｒ２を印加して、
スピンの位相収束すなわちリフェーズ（ｒｅｐｈａｓ
ｅ）を行って１回目のスピンエコーＳＥ１を発生させ
る。スピンエコーを発生させたリードアウト勾配Ｇｒ２
は後半部分でスピンをディフェーズする。
【０００８】リードアウト勾配Ｇｒ２の印加に先立って
位相エンコード勾配Ｇｐ１を印加して位相エンコードを
行い、リードアウト勾配Ｇｒ２の印加が終わった後に位
相エンコード勾配Ｇｐ１’を逆方向に印加して位相エン
コードをうち消す。
位相エンコード勾配Ｇｐ１を印加して位相エンコードを
行い、リードアウト勾配Ｇｒ２の印加が終わった後に位
相エンコード勾配Ｇｐ１’を逆方向に印加して位相エン
コードをうち消す。
【０００９】以下同様に、各１８０°励起の間の期間で
リードアウト勾配Ｇｒ３，Ｇｒ４，・・・をそれぞれ印
加してスピンエコーＳＥ２，ＳＥ３，・・・をそれぞれ
発生させる。また、位相エンコード勾配Ｇｐ２，Ｇｐ
３，・・・により、それぞれ位相エンコードを行う。位
相エンコードは毎回異ならせる。
リードアウト勾配Ｇｒ３，Ｇｒ４，・・・をそれぞれ印
加してスピンエコーＳＥ２，ＳＥ３，・・・をそれぞれ
発生させる。また、位相エンコード勾配Ｇｐ２，Ｇｐ
３，・・・により、それぞれ位相エンコードを行う。位
相エンコードは毎回異ならせる。
【００１０】スピンエコーは、エコー中心において振幅
が最大となるＲＦ信号である。１回目のスピンエコーＳ
Ｅ１の最大振幅すなわちピーク（ｐｅａｋ）は、９０°
励起から時間ＴＥ（ｅｃｈｏ ｔｉｍｅ）後に生じる。
２回目のスピンエコーＳＥ２のピークは、１回目のスピ
ンエコーＳＥ１のピークから時間ＴＥ後に生じる。以下
同様に、時間ＴＥ間隔でスピンエコーＳＥ３，ＳＥ４，
・・・のピークが生じる。ピークの発生をスピンエコー
の結像ともいう。
が最大となるＲＦ信号である。１回目のスピンエコーＳ
Ｅ１の最大振幅すなわちピーク（ｐｅａｋ）は、９０°
励起から時間ＴＥ（ｅｃｈｏ ｔｉｍｅ）後に生じる。
２回目のスピンエコーＳＥ２のピークは、１回目のスピ
ンエコーＳＥ１のピークから時間ＴＥ後に生じる。以下
同様に、時間ＴＥ間隔でスピンエコーＳＥ３，ＳＥ４，
・・・のピークが生じる。ピークの発生をスピンエコー
の結像ともいう。
【００１１】静磁場の発生を永久磁石によって行うマグ
ネットシステムでは、永久磁石のポールピース（ｐｏｌ
ｅ ｐｉｅｃｅ）が勾配磁場によって磁化されること等
により残留磁化が発生することがある。周波数軸方向の
残留磁化は、９０°励起と１８０°励起の間の期間にお
けるスピンのディフェーズに影響するので、スピンエコ
ーの結像のタイミングすなわちピーク発生のタイミング
に誤差を生じさせる。同様な現象は渦電流の影響によっ
ても生じる。
ネットシステムでは、永久磁石のポールピース（ｐｏｌ
ｅ ｐｉｅｃｅ）が勾配磁場によって磁化されること等
により残留磁化が発生することがある。周波数軸方向の
残留磁化は、９０°励起と１８０°励起の間の期間にお
けるスピンのディフェーズに影響するので、スピンエコ
ーの結像のタイミングすなわちピーク発生のタイミング
に誤差を生じさせる。同様な現象は渦電流の影響によっ
ても生じる。
【００１２】結像のタイミング誤差により、例えば１回
目のスピンエコーＳＥ１が本来のＴＥよりも短い時間Ｔ
Ｅ’で結像したとすると、２回目のスピンエコーＳＥ２
は本来のＴＥよりも長い時間ＴＥ’’で結像し、３回目
のスピンエコーＳＥ３は本来のＴＥよりも短いタイミン
グＴＥ’で結像する。以下同様に、本来のＴＥよりも交
互に長短となるタイミングでスピンエコーＳＥｉ（ｉ：
４，５，６，・・・）が結像する。
目のスピンエコーＳＥ１が本来のＴＥよりも短い時間Ｔ
Ｅ’で結像したとすると、２回目のスピンエコーＳＥ２
は本来のＴＥよりも長い時間ＴＥ’’で結像し、３回目
のスピンエコーＳＥ３は本来のＴＥよりも短いタイミン
グＴＥ’で結像する。以下同様に、本来のＴＥよりも交
互に長短となるタイミングでスピンエコーＳＥｉ（ｉ：
４，５，６，・・・）が結像する。
【００１３】このような結像の誤差は再構成画像におけ
る偽像発生の原因となるので、リードアウト勾配を調整
することにより周波数軸方向の残留磁化や渦電流などの
影響を相殺し、結像の誤差を補正するようにしている。
る偽像発生の原因となるので、リードアウト勾配を調整
することにより周波数軸方向の残留磁化や渦電流などの
影響を相殺し、結像の誤差を補正するようにしている。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】残留磁化が位相軸方向
にも存在する場合は、その影響による結像誤差が生じる
が、これは勾配の軸が異なるのでリードアウト勾配の調
整によって補正することはできない。また、そもそも、
位相軸方向の残留磁化等がスピンの位相に及ぼす影響を
正しく測定することができなかった。
にも存在する場合は、その影響による結像誤差が生じる
が、これは勾配の軸が異なるのでリードアウト勾配の調
整によって補正することはできない。また、そもそも、
位相軸方向の残留磁化等がスピンの位相に及ぼす影響を
正しく測定することができなかった。
【００１５】そこで、本発明の課題は、位相軸方向のス
ピンの位相誤差を正しく測定する方法および装置、その
ような位相誤差を補正する方法および装置、位相誤差測
定機能をコンピュータに実現させるプログラムを記録し
た記録媒体、位相誤差補正機能をコンピュータに実現さ
せるプログラムを記録した記録媒体、位相誤差測定手段
を備えた磁気共鳴撮影装置、並びに、位相誤差補正手段
を備えた磁気共鳴撮影装置を実現することである。
ピンの位相誤差を正しく測定する方法および装置、その
ような位相誤差を補正する方法および装置、位相誤差測
定機能をコンピュータに実現させるプログラムを記録し
た記録媒体、位相誤差補正機能をコンピュータに実現さ
せるプログラムを記録した記録媒体、位相誤差測定手段
を備えた磁気共鳴撮影装置、並びに、位相誤差補正手段
を備えた磁気共鳴撮影装置を実現することである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】（１）上記の課題を解決
するための１つの観点での発明は、対象のスピンについ
て９０°励起を行い、前記９０°励起から第１の時間後
に１回目の１８０°励起を行い、前記１回目の１８０°
励起から第２の時間後に２回目の１８０°励起を行い、
前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記第１のスピンエコー信号
と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９０°励
起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の位相軸
方向のスピンの位相誤差を求める、ことを特徴とする位
相誤差測定方法である。
するための１つの観点での発明は、対象のスピンについ
て９０°励起を行い、前記９０°励起から第１の時間後
に１回目の１８０°励起を行い、前記１回目の１８０°
励起から第２の時間後に２回目の１８０°励起を行い、
前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記第１のスピンエコー信号
と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９０°励
起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の位相軸
方向のスピンの位相誤差を求める、ことを特徴とする位
相誤差測定方法である。
【００１７】（２）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１の
スピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づ
いて前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起まで
の期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相
誤差計算手段と、を具備することを特徴とする位相誤差
測定装置である。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１の
スピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づ
いて前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起まで
の期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相
誤差計算手段と、を具備することを特徴とする位相誤差
測定装置である。
【００１８】（３）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、機能をコンピュータに実現させるプロ
グラムをコンピュータで読み取り可能なように記録した
ことを特徴とする記録媒体である。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、機能をコンピュータに実現させるプロ
グラムをコンピュータで読み取り可能なように記録した
ことを特徴とする記録媒体である。
【００１９】（４）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を用
いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気共
鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置であ
って、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記９
０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行
い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回
目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起か
ら前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピ
ン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信
号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信
号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算手
段と、を具備することを特徴とする磁気共鳴撮影装置で
ある。
点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を用
いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気共
鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置であ
って、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記９
０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行
い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回
目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起か
ら前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピ
ン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信
号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信
号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算手
段と、を具備することを特徴とする磁気共鳴撮影装置で
ある。
【００２０】（１）〜（４）に記載の各観点での発明で
は、９０°励起と１８０°励起の間の期間では位相軸方
向に勾配磁場を印加せず、各１８０°励起の間の期間に
おいて、時間積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に
印加してそれぞれスピンエコー信号を読み出すので、９
０°励起と１８０°励起の間の期間における位相軸方向
の残留磁化等の影響を互いに逆に受けた２つのスピンエ
コー信号を得ることができる。したがって、それらスピ
ンエコー信号からスピンの位相誤差を計算によって求め
ることができる。
は、９０°励起と１８０°励起の間の期間では位相軸方
向に勾配磁場を印加せず、各１８０°励起の間の期間に
おいて、時間積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に
印加してそれぞれスピンエコー信号を読み出すので、９
０°励起と１８０°励起の間の期間における位相軸方向
の残留磁化等の影響を互いに逆に受けた２つのスピンエ
コー信号を得ることができる。したがって、それらスピ
ンエコー信号からスピンの位相誤差を計算によって求め
ることができる。
【００２１】（１）〜（４）に記載の各観点での発明で
は、各１８０°励起の前後において周波数軸方向にクラ
ッシャとしての勾配磁場を印加することにより、ＦＩＤ
信号による妨害を除去し、また、スティミュレーテッド
・エコーの発生を阻止して測定の精度を向上することが
できる。
は、各１８０°励起の前後において周波数軸方向にクラ
ッシャとしての勾配磁場を印加することにより、ＦＩＤ
信号による妨害を除去し、また、スティミュレーテッド
・エコーの発生を阻止して測定の精度を向上することが
できる。
【００２２】（５）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求める、ことを特徴とする位相誤差測定方法で
ある。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求める、ことを特徴とする位相誤差測定方法で
ある。
【００２３】（６）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°
励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間
後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０
°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を
行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から
前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が
０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピン
エコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から
前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が
０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピン
エコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のス
ピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づい
て前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの
期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤
差計算手段と、前記スピン励起手段によるスピン励起、
前記エコー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび
前記位相誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁
場の極性を反転して２回試行させる制御手段と、先に求
めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均
計算手段と、を具備することを特徴とする位相誤差測定
装置である。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°
励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間
後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０
°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を
行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から
前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が
０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピン
エコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から
前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が
０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピン
エコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のス
ピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づい
て前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの
期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤
差計算手段と、前記スピン励起手段によるスピン励起、
前記エコー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび
前記位相誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁
場の極性を反転して２回試行させる制御手段と、先に求
めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均
計算手段と、を具備することを特徴とする位相誤差測定
装置である。
【００２４】（７）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求める、機能をコンピュータに実現させるプロ
グラムをコンピュータで読み取り可能なように記録した
ことを特徴とする記録媒体である。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求める、機能をコンピュータに実現させるプロ
グラムをコンピュータで読み取り可能なように記録した
ことを特徴とする記録媒体である。
【００２５】（８）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を用
いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気共
鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置であ
って、対象のスピンについて９０°励起を行い、記９０
°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行
い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回
目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起か
ら前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピ
ン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信
号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信
号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算手
段と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコ
ー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相
誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性
を反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた位相
誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算手段
と、を具備することを特徴とする磁気共鳴撮影装置であ
る。
点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を用
いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気共
鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置であ
って、対象のスピンについて９０°励起を行い、記９０
°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行
い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回
目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起か
ら前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピ
ン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信
号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回
目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる
勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信
号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算手
段と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコ
ー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相
誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性
を反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた位相
誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算手段
と、を具備することを特徴とする磁気共鳴撮影装置であ
る。
【００２６】（５）〜（８）に記載の各観点での発明で
は、９０°励起と１８０°励起の間の期間では位相軸方
向に勾配磁場を印加せず、各１８０°励起の間の期間に
おいて、時間積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に
印加してそれぞれスピンエコー信号を読み出すので、９
０°励起と１８０°励起の間の期間における位相軸方向
の残留磁化等の影響を互いに逆に受けた２つのスピンエ
コー信号を得ることができる。したがって、それらスピ
ンエコー信号からスピンの位相誤差を計算によって求め
ることができる。
は、９０°励起と１８０°励起の間の期間では位相軸方
向に勾配磁場を印加せず、各１８０°励起の間の期間に
おいて、時間積分値が０となる勾配磁場を位相軸方向に
印加してそれぞれスピンエコー信号を読み出すので、９
０°励起と１８０°励起の間の期間における位相軸方向
の残留磁化等の影響を互いに逆に受けた２つのスピンエ
コー信号を得ることができる。したがって、それらスピ
ンエコー信号からスピンの位相誤差を計算によって求め
ることができる。
【００２７】このような位相誤差測定を、勾配磁場の極
性を反転して２回試行し、得られた測定値を平均するこ
とにより、各１８０°励起の間の期間に印加する勾配磁
場が測定値に及ぼす影響を相殺し、高精度の測定値を得
ることができる。
性を反転して２回試行し、得られた測定値を平均するこ
とにより、各１８０°励起の間の期間に印加する勾配磁
場が測定値に及ぼす影響を相殺し、高精度の測定値を得
ることができる。
【００２８】（５）〜（８）に記載の各観点での発明で
は、各１８０°励起の前後において周波数軸方向にクラ
ッシャとしての勾配磁場を印加することにより、ＦＩＤ
信号による妨害を除去し、また、スティミュレーテッド
・エコーを除去して測定の精度をさらに向上することが
できる。
は、各１８０°励起の前後において周波数軸方向にクラ
ッシャとしての勾配磁場を印加することにより、ＦＩＤ
信号による妨害を除去し、また、スティミュレーテッド
・エコーを除去して測定の精度をさらに向上することが
できる。
【００２９】その場合、２回の試行においてクラッシャ
としての勾配磁場の極性を反転して印加することによ
り、クラッシャとして印加した勾配磁場が測定値に及ぼ
す影響を相殺し、一層高精度の測定を行うことができ
る。
としての勾配磁場の極性を反転して印加することによ
り、クラッシャとして印加した勾配磁場が測定値に及ぼ
す影響を相殺し、一層高精度の測定を行うことができ
る。
【００３０】（９）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求め、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する、とする位相誤差補正方法である。
点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求め、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する、とする位相誤差補正方法である。
【００３１】（１０）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１の
スピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づ
いて前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起まで
の期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相
誤差計算手段と、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９
０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に
印加する補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特
徴とする位相誤差補正装置である。
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１の
スピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づ
いて前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起まで
の期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相
誤差計算手段と、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９
０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に
印加する補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特
徴とする位相誤差補正装置である。
【００３２】（１１）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求め、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する、機能をコンピュータに実現させるプログラムを
コンピュータで読み取り可能なように記録したことを特
徴とする記録媒体である。
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求め、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する、機能をコンピュータに実現させるプログラムを
コンピュータで読み取り可能なように記録したことを特
徴とする記録媒体である。
【００３３】（１２）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記
９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を
行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２
回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起
から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うス
ピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー
信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー
信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエ
コー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記
９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中
の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算
手段と、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起
から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する
補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とする
磁気共鳴撮影装置である。
観点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記
９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を
行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２
回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起
から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うス
ピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー
信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー
信号を読み出すエコー読出手段と、前記第１のスピンエ
コー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記
９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中
の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算
手段と、前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起
から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する
補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とする
磁気共鳴撮影装置である。
【００３４】（９）〜（１２）に記載の各観点での発明
では、（１）〜（４）に記載の各観点での発明と同様に
して位相誤差を測定し、この位相誤差を０にする勾配磁
場を９０°励起から１回目の１８０°励起までの期間中
に位相軸方向に印加するので、位相軸方向の残留勾配磁
場による位相誤差を補正することができる。
では、（１）〜（４）に記載の各観点での発明と同様に
して位相誤差を測定し、この位相誤差を０にする勾配磁
場を９０°励起から１回目の１８０°励起までの期間中
に位相軸方向に印加するので、位相軸方向の残留勾配磁
場による位相誤差を補正することができる。
【００３５】（１３）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求め、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場
を９０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方
向に印加する、ことを特徴とする位相誤差補正方法であ
る。
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求め、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場
を９０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方
向に印加する、ことを特徴とする位相誤差補正方法であ
る。
【００３６】（１４）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、記第１のス
ピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づい
て前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの
期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤
差計算と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記
エコー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記
位相誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の
極性を反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた
位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算
手段と、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴
とする位相誤差補正装置である。
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起か
ら前記２回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピ
ンエコー信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起か
ら前記３回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値
が０となる勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピ
ンエコー信号を読み出すエコー読出手段と、記第１のス
ピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づい
て前記９０°励起から前記１回目の１８０°励起までの
期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤
差計算と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記
エコー読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記
位相誤差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の
極性を反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた
位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算
手段と、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０
°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印
加する補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴
とする位相誤差補正装置である。
【００３７】（１５）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求め、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場
を９０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方
向に印加する、機能をコンピュータに実現させるプログ
ラムをコンピュータで読み取り可能なように記録したこ
とを特徴とする記録媒体である。
観点での発明は、対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行い、前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読
み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１
８０°励起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁
場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読
み出し、前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピ
ンエコー信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目
の１８０°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位
相誤差を求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して
２回試行し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差
の平均を求め、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場
を９０°励起から１８０°励起までの期間中に位相軸方
向に印加する、機能をコンピュータに実現させるプログ
ラムをコンピュータで読み取り可能なように記録したこ
とを特徴とする記録媒体である。
【００３８】（１６）上記の課題を解決するための他の
観点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記
９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を
行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２
回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起
から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うス
ピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー
信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー
信号を読み出すエコー読出手段と、記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算
と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー
読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤
差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を
反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた位相誤
差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算手段
と、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励
起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加す
る補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とす
る磁気共鳴撮影装置である。
観点での発明は、静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、対象のスピンについて９０°励起を行い、前記
９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を
行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２
回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起
から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うス
ピン励起手段と、前記１回目の１８０°励起から前記２
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第１のスピンエコー
信号を読み出し、前記２回目の１８０°励起から前記３
回目の１８０°励起までの期間に、時間積分値が０とな
る勾配磁場を位相軸方向に印加して第２のスピンエコー
信号を読み出すエコー読出手段と、記第１のスピンエコ
ー信号と前記第２のスピンエコー信号に基づいて前記９
０°励起から前記１回目の１８０°励起までの期間中の
位相軸方向のスピンの位相誤差を求める位相誤差計算
と、前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー
読出手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤
差計算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を
反転して２回試行させる制御手段と、先に求めた位相誤
差と後で求めた位相誤差の平均を求める平均計算手段
と、前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励
起から１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加す
る補正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とす
る磁気共鳴撮影装置である。
【００３９】（１３）〜（１６）に記載の各観点での発
明では、（５）〜（８）に記載の各観点での発明と同様
にして位相誤差を測定し、この位相誤差を０にする勾配
磁場を９０°励起から１回目の１８０°励起までの期間
中に位相軸方向に印加するので、位相軸方向の残留勾配
磁場による位相誤差をより正確に補正することができ
る。
明では、（５）〜（８）に記載の各観点での発明と同様
にして位相誤差を測定し、この位相誤差を０にする勾配
磁場を９０°励起から１回目の１８０°励起までの期間
中に位相軸方向に印加するので、位相軸方向の残留勾配
磁場による位相誤差をより正確に補正することができ
る。
【００４０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１に磁気共鳴撮影装置の
ブロック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。本装置は本発明の実
施の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明
の装置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の
動作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例
が示される。
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１に磁気共鳴撮影装置の
ブロック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。本装置は本発明の実
施の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明
の装置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の
動作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例
が示される。
【００４１】図１に示すように、本装置はマグネットシ
ステム１００を有する。マグネットシステム１００は主
磁場マグネット部１０２、勾配コイル部１０６およびＲ
Ｆコイル部１０８を有する。これら主磁場マグネット部
１０２および各コイル部は、いずれも空間を挟んで互い
に対向する１対のものからなる。また、いずれも概ね円
盤状の形状を有し中心軸を共有して配置されている。マ
グネットシステム１００の内部空間（ボア）に、対象３
００がクレードル５００に搭載されて図示しない搬送手
段により搬入および搬出される。
ステム１００を有する。マグネットシステム１００は主
磁場マグネット部１０２、勾配コイル部１０６およびＲ
Ｆコイル部１０８を有する。これら主磁場マグネット部
１０２および各コイル部は、いずれも空間を挟んで互い
に対向する１対のものからなる。また、いずれも概ね円
盤状の形状を有し中心軸を共有して配置されている。マ
グネットシステム１００の内部空間（ボア）に、対象３
００がクレードル５００に搭載されて図示しない搬送手
段により搬入および搬出される。
【００４２】主磁場マグネット部１０２はマグネットシ
ステム１００の内部空間に静磁場を形成する。静磁場の
方向は概ね対象３００の体軸方向と直交する。すなわち
いわゆる垂直磁場を形成する。主磁場マグネット部１０
２は例えば永久磁石等を用いて構成される。
ステム１００の内部空間に静磁場を形成する。静磁場の
方向は概ね対象３００の体軸方向と直交する。すなわち
いわゆる垂直磁場を形成する。主磁場マグネット部１０
２は例えば永久磁石等を用いて構成される。
【００４３】勾配コイル部１０６は、互いに垂直な３軸
すなわちスライス軸、位相軸および周波数軸の方向にお
いて、それぞれ静磁場強度に勾配を持たせるための３つ
の勾配磁場を生じる。
すなわちスライス軸、位相軸および周波数軸の方向にお
いて、それぞれ静磁場強度に勾配を持たせるための３つ
の勾配磁場を生じる。
【００４４】静磁場空間における互いに垂直な座標軸を
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。
ｘ，ｙ，ｚとしたとき、いずれの軸もスライス軸とする
ことができる。その場合、残り２軸のうちの一方を位相
軸とし、他方を周波数軸とする。また、スライス軸、位
相軸および周波数軸は、相互間の垂直性を保ったまま
ｘ，ｙ，ｚ軸に関して任意の傾きを持たせることも可能
である。
【００４５】スライス軸方向の勾配磁場をスライス勾配
磁場という。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード勾
配磁場という。周波数軸方向の勾配磁場をリードアウト
勾配磁場という。このような勾配磁場の発生を可能にす
るために、勾配コイル部１０６は図示しない３系統の勾
配コイルを有する。以下、勾配磁場を単に勾配ともい
う。
磁場という。位相軸方向の勾配磁場を位相エンコード勾
配磁場という。周波数軸方向の勾配磁場をリードアウト
勾配磁場という。このような勾配磁場の発生を可能にす
るために、勾配コイル部１０６は図示しない３系統の勾
配コイルを有する。以下、勾配磁場を単に勾配ともい
う。
【００４６】ＲＦコイル部１０８は静磁場空間に対象３
００の体内のスピンを励起するためのＲＦ励起信号を送
信する。ＲＦコイル部１０８は、また、励起されたスピ
ンが生じる磁気共鳴信号を受信する。
００の体内のスピンを励起するためのＲＦ励起信号を送
信する。ＲＦコイル部１０８は、また、励起されたスピ
ンが生じる磁気共鳴信号を受信する。
【００４７】ＲＦコイル部１０８は図示しない送信用の
コイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイル
および受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかある
いはそれぞれ専用のコイルを用いる。
コイルおよび受信用のコイルを有する。送信用のコイル
および受信用のコイルは、同じコイルを兼用するかある
いはそれぞれ専用のコイルを用いる。
【００４８】勾配コイル部１０６には勾配駆動部１３０
が接続されている。勾配駆動部１３０は勾配コイル部１
０６に駆動信号を与えて勾配磁場を発生させる。勾配駆
動部１３０は、勾配コイル部１０６における３系統の勾
配コイルに対応して、図示しない３系統の駆動回路を有
する。
が接続されている。勾配駆動部１３０は勾配コイル部１
０６に駆動信号を与えて勾配磁場を発生させる。勾配駆
動部１３０は、勾配コイル部１０６における３系統の勾
配コイルに対応して、図示しない３系統の駆動回路を有
する。
【００４９】ＲＦコイル部１０８にはＲＦ駆動部１４０
が接続されている。ＲＦ駆動部１４０はＲＦコイル部１
０８に駆動信号を与えてＲＦ励起信号を送信し、対象３
００の体内のスピンを励起する。
が接続されている。ＲＦ駆動部１４０はＲＦコイル部１
０８に駆動信号を与えてＲＦ励起信号を送信し、対象３
００の体内のスピンを励起する。
【００５０】ＲＦコイル部１０８にはデータ収集部１５
０が接続されている。データ収集部１５０は、ＲＦコイ
ル部１０８が受信した受信信号をサンプリング（ｓａｍ
ｐｌｉｎｇ）によって取り込み、それをディジタルデー
タ（ｄｉｇｉｔａｌ ｄａｔａ）として収集する。
０が接続されている。データ収集部１５０は、ＲＦコイ
ル部１０８が受信した受信信号をサンプリング（ｓａｍ
ｐｌｉｎｇ）によって取り込み、それをディジタルデー
タ（ｄｉｇｉｔａｌ ｄａｔａ）として収集する。
【００５１】勾配駆動部１３０、ＲＦ駆動部１４０およ
びデータ収集部１５０には制御部１６０が接続されてい
る。制御部１６０は、勾配駆動部１３０ないしデータ収
集部１５０をそれぞれ制御して撮影を遂行する。
びデータ収集部１５０には制御部１６０が接続されてい
る。制御部１６０は、勾配駆動部１３０ないしデータ収
集部１５０をそれぞれ制御して撮影を遂行する。
【００５２】制御部１６０は、例えばコンピュータ等を
用いて構成される。制御部１６０は図示しないメモリ
（ｍｅｍｏｒｙ）を有する。メモリは制御部１６０用の
プログラムおよび各種のデータを記憶している。制御部
１６０の機能は、コンピュータがメモリに記憶されたプ
ログラムを実行することにより実現される。
用いて構成される。制御部１６０は図示しないメモリ
（ｍｅｍｏｒｙ）を有する。メモリは制御部１６０用の
プログラムおよび各種のデータを記憶している。制御部
１６０の機能は、コンピュータがメモリに記憶されたプ
ログラムを実行することにより実現される。
【００５３】データ収集部１５０の出力側はデータ処理
部１７０に接続されている。データ収集部１５０が収集
したデータがデータ処理部１７０に入力される。データ
処理部１７０は、例えばコンピュータ等を用いて構成さ
れる。データ処理部１７０は図示しないメモリを有す
る。メモリはデータ処理部１７０用のプログラムおよび
各種のデータを記憶している。
部１７０に接続されている。データ収集部１５０が収集
したデータがデータ処理部１７０に入力される。データ
処理部１７０は、例えばコンピュータ等を用いて構成さ
れる。データ処理部１７０は図示しないメモリを有す
る。メモリはデータ処理部１７０用のプログラムおよび
各種のデータを記憶している。
【００５４】データ処理部１７０には制御部１６０が接
続されている。データ処理部１７０は制御部１６０の上
位にあってそれを統括する。本装置の機能は、データ処
理部１７０がメモリに記憶されたプログラムを実行する
ことによりを実現される。
続されている。データ処理部１７０は制御部１６０の上
位にあってそれを統括する。本装置の機能は、データ処
理部１７０がメモリに記憶されたプログラムを実行する
ことによりを実現される。
【００５５】データ処理部１７０は、データ収集部１５
０が収集したデータをメモリに記憶する。メモリ内には
データ空間が形成される。このデータ空間は、２次元フ
ーリエ（Ｆｏｕｒｉｅｒ）空間を構成する。以下、フー
リエ空間をｋスペース（ｋ−ｓｐａｃｅ）ともいう。デ
ータ処理部１７０は、ｋスペースのデータを２次元逆フ
−リエ変換することにより対象３００の画像を再構成す
る。
０が収集したデータをメモリに記憶する。メモリ内には
データ空間が形成される。このデータ空間は、２次元フ
ーリエ（Ｆｏｕｒｉｅｒ）空間を構成する。以下、フー
リエ空間をｋスペース（ｋ−ｓｐａｃｅ）ともいう。デ
ータ処理部１７０は、ｋスペースのデータを２次元逆フ
−リエ変換することにより対象３００の画像を再構成す
る。
【００５６】データ処理部１７０には表示部１８０およ
び操作部１９０が接続されている。表示部１８０は、グ
ラフィックディスプレー（ｇｒａｐｈｉｃ ｄｉｓｐｌ
ａｙ）等で構成される。操作部１９０はポインティング
デバイス（ｐｏｉｎｔｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）を備えたキ
ーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）等で構成される。
び操作部１９０が接続されている。表示部１８０は、グ
ラフィックディスプレー（ｇｒａｐｈｉｃ ｄｉｓｐｌ
ａｙ）等で構成される。操作部１９０はポインティング
デバイス（ｐｏｉｎｔｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）を備えたキ
ーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）等で構成される。
【００５７】表示部１８０は、データ処理部１７０から
出力される再構成画像および各種の情報を表示する。操
作部１９０は、使用者によって操作され、各種の指令や
情報等をデータ処理部１７０に入力する。使用者は表示
部１８０および操作部１９０を通じてインタラクティブ
（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。
出力される再構成画像および各種の情報を表示する。操
作部１９０は、使用者によって操作され、各種の指令や
情報等をデータ処理部１７０に入力する。使用者は表示
部１８０および操作部１９０を通じてインタラクティブ
（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。
【００５８】本装置のこのような構成を利用して、位相
軸方向の残留磁化による位相誤差の測定および補正を行
う。マグネットシステム１００、勾配駆動部１３０、Ｒ
Ｆ駆動部１４０、データ収集部１５０、制御部１６０お
よびデータ処理部１７０からなる部分は、本発明の位相
誤差測定装置の実施の形態の一例である。また、本発明
の位相誤差補正装置の実施の形態の一例である。本装置
の構成によって、本発明の装置に関する実施の形態の一
例が示される。本装置の動作によって、本発明の方法に
関する実施の形態の一例が示される。
軸方向の残留磁化による位相誤差の測定および補正を行
う。マグネットシステム１００、勾配駆動部１３０、Ｒ
Ｆ駆動部１４０、データ収集部１５０、制御部１６０お
よびデータ処理部１７０からなる部分は、本発明の位相
誤差測定装置の実施の形態の一例である。また、本発明
の位相誤差補正装置の実施の形態の一例である。本装置
の構成によって、本発明の装置に関する実施の形態の一
例が示される。本装置の動作によって、本発明の方法に
関する実施の形態の一例が示される。
【００５９】図２に、位相誤差を測定するために本装置
が実行するパルスシーケンスの一例を示す。同図の
（１）はＲＦ励起のシーケンス、（２）はスライス勾配
Ｇｓのシーケンス、（３）は位相軸方向の勾配Ｇｐのシ
ーケンス、（４）は周波数軸方向の勾配Ｇｒのシーケン
ス、（５）はスピンエコーＳＥのシーケンスである。各
シーケンスは時間ｔに沿って進行する。
が実行するパルスシーケンスの一例を示す。同図の
（１）はＲＦ励起のシーケンス、（２）はスライス勾配
Ｇｓのシーケンス、（３）は位相軸方向の勾配Ｇｐのシ
ーケンス、（４）は周波数軸方向の勾配Ｇｒのシーケン
ス、（５）はスピンエコーＳＥのシーケンスである。各
シーケンスは時間ｔに沿って進行する。
【００６０】（１）および（２）に示す選択励起のシー
ケンスは図９に示した選択励起のシーケンスと同様であ
る。このシーケンスの実行に関わるマグネットシステム
１００、勾配駆動部１３０およびＲＦ駆動部１４０から
なる部分は、本発明におけるスピン励起手段の実施の形
態の一例である。
ケンスは図９に示した選択励起のシーケンスと同様であ
る。このシーケンスの実行に関わるマグネットシステム
１００、勾配駆動部１３０およびＲＦ駆動部１４０から
なる部分は、本発明におけるスピン励起手段の実施の形
態の一例である。
【００６１】位相軸方向には、（３）に示すように、１
回目の１８０°励起と２回目の１８０°励起の間の期間
に、極性が２回交代する勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ
１３を印加し、２回目の１８０°励起と３回目の１８０
°励起の間の期間に、極性が２回交代する勾配Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３を印加する。なお、９０°励起
と１回目の１８０°励起の間の期間では勾配を印加しな
い。また、（４）に示すように、この例では周波数軸方
向には勾配を印加しない。
回目の１８０°励起と２回目の１８０°励起の間の期間
に、極性が２回交代する勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ
１３を印加し、２回目の１８０°励起と３回目の１８０
°励起の間の期間に、極性が２回交代する勾配Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３を印加する。なお、９０°励起
と１回目の１８０°励起の間の期間では勾配を印加しな
い。また、（４）に示すように、この例では周波数軸方
向には勾配を印加しない。
【００６２】１回目の１８０°励起と２回目の１８０°
励起の間の期間では、先ず負極性の勾配Ｇｐ１１を印加
し、次に極性を切り換えて正極性の勾配Ｇｐ１２を印加
し、次にまた極性を切り換えて負極性の勾配Ｇ１３を印
加する。
励起の間の期間では、先ず負極性の勾配Ｇｐ１１を印加
し、次に極性を切り換えて正極性の勾配Ｇｐ１２を印加
し、次にまた極性を切り換えて負極性の勾配Ｇ１３を印
加する。
【００６３】２回目の１８０°励起と３回目の１８０°
励起の間の期間でも同様に、先ず負極性の勾配Ｇｐ２１
を印加し、次に極性を切り換えて正極性の勾配Ｇｐ２２
を印加し、次にまた極性を切り換えて負極性の勾配Ｇ２
３を印加する。
励起の間の期間でも同様に、先ず負極性の勾配Ｇｐ２１
を印加し、次に極性を切り換えて正極性の勾配Ｇｐ２２
を印加し、次にまた極性を切り換えて負極性の勾配Ｇ２
３を印加する。
【００６４】このような勾配により、位相軸方向におい
てスピンのディフェーズとリフェーズが交互に行われ
る。すなわち、勾配Ｇｐ１１によりディフェーズが行わ
れ、勾配Ｇｐ１２によりリフェーズが行われ、勾配Ｇ１
３によりディフェーズが行われる。勾配Ｇｐ２１，Ｇｐ
２２，Ｇｐ２３によっても同様に、ディフェーズ、リフ
ェーズ、ディフェーズがそれぞれ行われる。
てスピンのディフェーズとリフェーズが交互に行われ
る。すなわち、勾配Ｇｐ１１によりディフェーズが行わ
れ、勾配Ｇｐ１２によりリフェーズが行われ、勾配Ｇ１
３によりディフェーズが行われる。勾配Ｇｐ２１，Ｇｐ
２２，Ｇｐ２３によっても同様に、ディフェーズ、リフ
ェーズ、ディフェーズがそれぞれ行われる。
【００６５】勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３は、全
体を通じての時間積分値が０となるように設定してあ
る。すなわち、勾配Ｇ１２の前半分の時間積分値は勾配
Ｇｐ１１の時間積分値と等しく、後半分の時間積分値は
勾配Ｇ１３の時間積分値と等しくしてある。勾配Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２１３についても同様である。以
下、時間積分値を単に積分値ともいう。
体を通じての時間積分値が０となるように設定してあ
る。すなわち、勾配Ｇ１２の前半分の時間積分値は勾配
Ｇｐ１１の時間積分値と等しく、後半分の時間積分値は
勾配Ｇ１３の時間積分値と等しくしてある。勾配Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２１３についても同様である。以
下、時間積分値を単に積分値ともいう。
【００６６】勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３によっ
て、（５）に示すように、スピンエコーＳＥ１が生じ
る。スピンエコーＳＥ１は、勾配Ｇｐ１２によるリフェ
ーズがそれまでのディフェーズと釣り合ったところで結
像し、この時点に振幅の最大値すなわちピークを有す
る。
て、（５）に示すように、スピンエコーＳＥ１が生じ
る。スピンエコーＳＥ１は、勾配Ｇｐ１２によるリフェ
ーズがそれまでのディフェーズと釣り合ったところで結
像し、この時点に振幅の最大値すなわちピークを有す
る。
【００６７】スピンエコーＳＥ１のピークは、本来、勾
配Ｇｐ１２の積分値が勾配Ｇｐ１１の積分値と等しくな
る時点、すなわち、９０°励起から時間ＴＥ後に生じる
べきであるが、位相軸方向に残留磁化Ｇｐ０があるとき
は、この勾配Ｇｐ０による９０°励起と１８０°励起の
間の期間におけるディフェーズにより、スピンエコーＳ
Ｅ１のピーク出現時期に誤差Δｔ１が生じる。渦電流が
発生したときも同様な影響を受ける。以下残留磁化で代
表する。
配Ｇｐ１２の積分値が勾配Ｇｐ１１の積分値と等しくな
る時点、すなわち、９０°励起から時間ＴＥ後に生じる
べきであるが、位相軸方向に残留磁化Ｇｐ０があるとき
は、この勾配Ｇｐ０による９０°励起と１８０°励起の
間の期間におけるディフェーズにより、スピンエコーＳ
Ｅ１のピーク出現時期に誤差Δｔ１が生じる。渦電流が
発生したときも同様な影響を受ける。以下残留磁化で代
表する。
【００６８】誤差Δｔ１は、残留磁化Ｇｐ０によるディ
フェーズの方向が勾配Ｇｐ１１によるディフェーズと同
じになるときは正となり、逆方向となるときは負とな
る。以下、誤差が正の例で説明するが、誤差が負の場合
は、正負が入れ替わる以外は同様になる。
フェーズの方向が勾配Ｇｐ１１によるディフェーズと同
じになるときは正となり、逆方向となるときは負とな
る。以下、誤差が正の例で説明するが、誤差が負の場合
は、正負が入れ替わる以外は同様になる。
【００６９】勾配Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３によっ
てスピンエコーＳＥ２が生じる。スピンエコーＳＥ２
は、勾配Ｇｐ２２によるリフェーズがそれまでのディフ
ェーズと釣り合ったところで結像する。すなわち、勾配
Ｇｐ２１，Ｇ２２の積分値が、スピンエコーＳＥ１のピ
ーク発生以後の勾配Ｇｐ１２，Ｇｐ１３の積分値と等し
くなった時点で結像する。これによって、スピンエコー
ＳＥ２は本来の結像時点よりも−Δｔ２異なる時点にピ
ークを持つようになる。
てスピンエコーＳＥ２が生じる。スピンエコーＳＥ２
は、勾配Ｇｐ２２によるリフェーズがそれまでのディフ
ェーズと釣り合ったところで結像する。すなわち、勾配
Ｇｐ２１，Ｇ２２の積分値が、スピンエコーＳＥ１のピ
ーク発生以後の勾配Ｇｐ１２，Ｇｐ１３の積分値と等し
くなった時点で結像する。これによって、スピンエコー
ＳＥ２は本来の結像時点よりも−Δｔ２異なる時点にピ
ークを持つようになる。
【００７０】スピンエコーＳＥ１，ＳＥ２に関するデー
タがデータ収集部１５０によって収集される。スピンエ
コーＳＥ１，ＳＥ２の発生およびそのデータ収集に関わ
るマグネットシステム１００、勾配駆動部１３０および
データ収集部１５０からなる部分は、本発明におけるエ
コー読出手段の実施の形態の一例である。
タがデータ収集部１５０によって収集される。スピンエ
コーＳＥ１，ＳＥ２の発生およびそのデータ収集に関わ
るマグネットシステム１００、勾配駆動部１３０および
データ収集部１５０からなる部分は、本発明におけるエ
コー読出手段の実施の形態の一例である。
【００７１】誤差＋Δｔ１と−Δｔ２の差が、９０°励
起と１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０に
よるスピンの位相誤差を表す。位相誤差は、同期間にお
ける残留磁化Ｇｐ０の積分値に比例する。
起と１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０に
よるスピンの位相誤差を表す。位相誤差は、同期間にお
ける残留磁化Ｇｐ０の積分値に比例する。
【００７２】このパルスシーケンスでは、９０°励起か
ら１８０°励起までの間に位相軸方向には残留磁化Ｇｐ
０以外の勾配が存在しないので、＋Δｔ１と−Δｔ２の
差は、残留磁化Ｇｐ０の影響による位相誤差を正しく表
すものとなる。
ら１８０°励起までの間に位相軸方向には残留磁化Ｇｐ
０以外の勾配が存在しないので、＋Δｔ１と−Δｔ２の
差は、残留磁化Ｇｐ０の影響による位相誤差を正しく表
すものとなる。
【００７３】スピンエコーＳＥ１，ＳＥ２に関するデー
タはデータ処理部１７０に入力される。データ処理部１
７０はこれら入力データを用いて計算を行い、位相誤差
の測定値を求める。
タはデータ処理部１７０に入力される。データ処理部１
７０はこれら入力データを用いて計算を行い、位相誤差
の測定値を求める。
【００７４】図３に、データ処理部１７０による位相誤
差計算の概念図を示す。スピンエコーＳＥ１のデータ
は、図３の（１）の左側のグラフ（ｇｒａｐｈ）で示す
ように、ピークの位置が時間軸ｔ上で原点から＋Δｔ１
変位したものとなる。
差計算の概念図を示す。スピンエコーＳＥ１のデータ
は、図３の（１）の左側のグラフ（ｇｒａｐｈ）で示す
ように、ピークの位置が時間軸ｔ上で原点から＋Δｔ１
変位したものとなる。
【００７５】このようなエコーデータをフーリエ変換す
ると複素数のデータ列が得られる。この複素数データ列
の位相プロファイル（ｐｒｏｆｉｌｅ）は、右側のグラ
フで示すように、原点に関して対称的なリニア（ｌｉｎ
ｅａｒ）なプロファイルとなる。ただし、Δｔ＝０のと
きの位相プロファイルは、位相が全て０となるプロファ
イルになると仮定する。以下同様である。
ると複素数のデータ列が得られる。この複素数データ列
の位相プロファイル（ｐｒｏｆｉｌｅ）は、右側のグラ
フで示すように、原点に関して対称的なリニア（ｌｉｎ
ｅａｒ）なプロファイルとなる。ただし、Δｔ＝０のと
きの位相プロファイルは、位相が全て０となるプロファ
イルになると仮定する。以下同様である。
【００７６】位相プロファイルはその傾斜によってスピ
ンエコーＳＥ１のピーク位置変化＋Δｔ１を表す。傾斜
の大きさはピーク位置の変化量Δｔ１に比例する。傾斜
の符号はピーク位置変化の符号に一致して正となる。
ンエコーＳＥ１のピーク位置変化＋Δｔ１を表す。傾斜
の大きさはピーク位置の変化量Δｔ１に比例する。傾斜
の符号はピーク位置変化の符号に一致して正となる。
【００７７】スピンエコーＳＥ２のデータは、図３の
（２）の左側のグラフで示すように、ピークの位置が時
間軸ｔ上で原点から−Δｔ２変位したものとなる。この
ようなエコーデータをフーリエ変換すると、位相プロフ
ァイルは、右側のグラフで示すように、原点に関して対
称的なリニアなプロファイルとなる。
（２）の左側のグラフで示すように、ピークの位置が時
間軸ｔ上で原点から−Δｔ２変位したものとなる。この
ようなエコーデータをフーリエ変換すると、位相プロフ
ァイルは、右側のグラフで示すように、原点に関して対
称的なリニアなプロファイルとなる。
【００７８】この位相プロファイルの傾斜はピーク位置
の変化量Δｔ２に比例する。傾斜の符号はピーク位置変
化の符号に一致して負となる。これら位相プロファイル
の差を求めることにより、（３）に示すような位相差プ
ロファイルが得られる。この位相差プロファイルは、２
つのスピンエコーのピーク位置変化の差すなわち９０°
励起と１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０
によるスピンの位相誤差を表す。位相差プロファイル
は、傾斜の大きさが位相誤差の大きさを表し、傾斜の符
号が位相誤差の符号を表す。
の変化量Δｔ２に比例する。傾斜の符号はピーク位置変
化の符号に一致して負となる。これら位相プロファイル
の差を求めることにより、（３）に示すような位相差プ
ロファイルが得られる。この位相差プロファイルは、２
つのスピンエコーのピーク位置変化の差すなわち９０°
励起と１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０
によるスピンの位相誤差を表す。位相差プロファイル
は、傾斜の大きさが位相誤差の大きさを表し、傾斜の符
号が位相誤差の符号を表す。
【００７９】以上のような位相差プロファイルの計算は
データ処理部１７０において行われる。データ処理部１
７０は、本発明における位相誤差計算手段の実施の形態
の一例である。
データ処理部１７０において行われる。データ処理部１
７０は、本発明における位相誤差計算手段の実施の形態
の一例である。
【００８０】勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ
２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３を印加することによって付随
的な残留磁化が発生する場合は、位相誤差測定値にはそ
の影響による誤差が含まれる可能性がある。
２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３を印加することによって付随
的な残留磁化が発生する場合は、位相誤差測定値にはそ
の影響による誤差が含まれる可能性がある。
【００８１】そのような事態への対策として、勾配Ｇｐ
１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ
２３の極性を全て反転させた、例えば図４に示すような
シーケンスを用いてスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’を
収集する。
１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ
２３の極性を全て反転させた、例えば図４に示すような
シーケンスを用いてスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’を
収集する。
【００８２】図４における勾配Ｇｐ１１’，Ｇｐ１
２’，Ｇｐ１３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２
３’は、それぞれ、図２における勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１
２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３の極性を
逆にしたものである。極性以外の条件は両者同一であ
る。
２’，Ｇｐ１３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２
３’は、それぞれ、図２における勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１
２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３の極性を
逆にしたものである。極性以外の条件は両者同一であ
る。
【００８３】このようなスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ
２’の結像タイミングの誤差−Δｔ１’，＋Δｔ２’の
差に基づいて位相誤差を求めれば、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３による
付随的な残留磁化の影響が逆になった測定値を得ること
ができる。
２’の結像タイミングの誤差−Δｔ１’，＋Δｔ２’の
差に基づいて位相誤差を求めれば、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３による
付随的な残留磁化の影響が逆になった測定値を得ること
ができる。
【００８４】図５に、スピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’
に基づく位相誤差計算の概念図を示す。スピンエコーＳ
Ｅ１’のデータは、同図の（１）の左側のグラフで示す
ように、ピークの位置が時間軸ｔ上で原点から−Δｔ
１’変位したものとなる。
に基づく位相誤差計算の概念図を示す。スピンエコーＳ
Ｅ１’のデータは、同図の（１）の左側のグラフで示す
ように、ピークの位置が時間軸ｔ上で原点から−Δｔ
１’変位したものとなる。
【００８５】このエコーデータをフーリエ変換して得ら
れる複素数のデータ列の位相プロファイルは、右側のグ
ラフで示すようになる。位相プロファイルの傾斜がピー
ク位置の変化量Δｔ１’に比例する。傾斜の符号はピー
ク位置の変化方向に対応して負となる。
れる複素数のデータ列の位相プロファイルは、右側のグ
ラフで示すようになる。位相プロファイルの傾斜がピー
ク位置の変化量Δｔ１’に比例する。傾斜の符号はピー
ク位置の変化方向に対応して負となる。
【００８６】スピンエコーＳＥ２’のデータは、（２）
の左側のグラフで示すように、ピークの位置が時間軸ｔ
上で原点から＋Δｔ２’変位したものとなる。このよう
なエコーデータをフーリエ変換して得られる位相プロフ
ァイルは右側のグラフで示すようになる。位相プロファ
イルの傾斜がピーク位置の変化量Δｔ２’に比例する。
傾斜の符号はピーク位置の変化方向に対応して正とな
る。
の左側のグラフで示すように、ピークの位置が時間軸ｔ
上で原点から＋Δｔ２’変位したものとなる。このよう
なエコーデータをフーリエ変換して得られる位相プロフ
ァイルは右側のグラフで示すようになる。位相プロファ
イルの傾斜がピーク位置の変化量Δｔ２’に比例する。
傾斜の符号はピーク位置の変化方向に対応して正とな
る。
【００８７】これら位相プロファイルの差を求めること
により、（３）に示すような位相差プロファイルが得ら
れる。ただし、勾配Ｇｐ１１’，Ｇｐ１２’，Ｇｐ１
３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２３’の極性を反
転させたことにより、（２）−（１）の引き算により位
相差プロファイルを求める。
により、（３）に示すような位相差プロファイルが得ら
れる。ただし、勾配Ｇｐ１１’，Ｇｐ１２’，Ｇｐ１
３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２３’の極性を反
転させたことにより、（２）−（１）の引き算により位
相差プロファイルを求める。
【００８８】この位相差プロファイルも、９０°励起と
１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０による
スピンの位相誤差を表す。ただし、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３に付随
する残留磁化の影響が逆になっている。
１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０による
スピンの位相誤差を表す。ただし、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３に付随
する残留磁化の影響が逆になっている。
【００８９】図２に示したパルスシーケンスの実行およ
び２つのスピンエコーＳＥ１，ＳＥ２に基づく位相誤差
計算と、図４に示したパルスシーケンスの実行および２
つのスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’に基づく位相誤差
計算は、制御部１６０による制御の元で順次に行われ
る。制御部１６０は、本発明における制御手段の実施の
形態の一例である。
び２つのスピンエコーＳＥ１，ＳＥ２に基づく位相誤差
計算と、図４に示したパルスシーケンスの実行および２
つのスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’に基づく位相誤差
計算は、制御部１６０による制御の元で順次に行われ
る。制御部１６０は、本発明における制御手段の実施の
形態の一例である。
【００９０】図３の（３）の位相差プロファイルと図５
の（３）の位相差プロファイルを平均することにより、
付随的な残留磁化の影響による誤差を相殺することがで
き、それによって精度のよい位相差プロファイルすなわ
ち位相誤差測定値を得ることができる。
の（３）の位相差プロファイルを平均することにより、
付随的な残留磁化の影響による誤差を相殺することがで
き、それによって精度のよい位相差プロファイルすなわ
ち位相誤差測定値を得ることができる。
【００９１】２つの位相差プロファイルの平均はデータ
処理部１７０によって行われる。データ処理部１７０
は、本発明における平均計算手段の実施の形態の一例で
ある。スピンエコーＳＥ１には、１回目の１８０°励起
に伴って発生するＦＩＤ（Ｆｒｅｅ Ｉｎｄｕｃｔｉｏ
ｎ Ｄｅｃａｙ）信号がノイズ（ｎｏｉｓｅ）となって
混入し、位相誤差測定の精度に悪影響を及ぼす。
処理部１７０によって行われる。データ処理部１７０
は、本発明における平均計算手段の実施の形態の一例で
ある。スピンエコーＳＥ１には、１回目の１８０°励起
に伴って発生するＦＩＤ（Ｆｒｅｅ Ｉｎｄｕｃｔｉｏ
ｎ Ｄｅｃａｙ）信号がノイズ（ｎｏｉｓｅ）となって
混入し、位相誤差測定の精度に悪影響を及ぼす。
【００９２】そこで、ＦＩＤ信号基づくノイズを除去す
るために、例えば図６の（４）に示すように、周波数軸
方向に、１回目の１８０°励起の前と後に勾配Ｇｒ１１
およびＧｒ１２をそれぞれ印加し、２回目の１８０°励
起の前と後に勾配Ｇｒ２１およびＧｒ２２をそれぞれ印
加する。
るために、例えば図６の（４）に示すように、周波数軸
方向に、１回目の１８０°励起の前と後に勾配Ｇｒ１１
およびＧｒ１２をそれぞれ印加し、２回目の１８０°励
起の前と後に勾配Ｇｒ２１およびＧｒ２２をそれぞれ印
加する。
【００９３】１回目の１８０°励起の後に印加する勾配
Ｇｒ１２は、いわゆるクラッシャ（ｃｒｕｓｈｅｒ）で
あり、励起されたスピンの位相を分散させてＦＩＤ信号
の信号強度を０にし、スピンエコーＳＥ１に対してノイ
ズとなるのを防止する。
Ｇｒ１２は、いわゆるクラッシャ（ｃｒｕｓｈｅｒ）で
あり、励起されたスピンの位相を分散させてＦＩＤ信号
の信号強度を０にし、スピンエコーＳＥ１に対してノイ
ズとなるのを防止する。
【００９４】１回目の１８０°励起の前に印加する勾配
Ｇｒ１１は、スピンエコーＳＥ１がクラッシャの影響を
受けないようにするため、予めスピンの位相を分散させ
る勾配である。この勾配Ｇｒ１１によって分散した位相
は、１８０°励起後に印加される勾配Ｇｒ１２によって
リフェーズされて元に戻る。
Ｇｒ１１は、スピンエコーＳＥ１がクラッシャの影響を
受けないようにするため、予めスピンの位相を分散させ
る勾配である。この勾配Ｇｒ１１によって分散した位相
は、１８０°励起後に印加される勾配Ｇｒ１２によって
リフェーズされて元に戻る。
【００９５】２回目の１８０°励起の後に印加する勾配
Ｇｒ２２もクラッシャであり、励起されたスピンの位相
を分散させてＦＩＤ信号の信号強度を０にし、スピンエ
コーＳＥ２へのノイズとなることを防止する。
Ｇｒ２２もクラッシャであり、励起されたスピンの位相
を分散させてＦＩＤ信号の信号強度を０にし、スピンエ
コーＳＥ２へのノイズとなることを防止する。
【００９６】２回目の１８０°励起の前に印加する勾配
Ｇｒ２１は、スピンエコーＳＥ２がクラッシャの影響を
受けないようにするため、予めスピンの位相を分散させ
る勾配である。勾配Ｇｒ２１によって分散した位相は、
１８０°励起後に印加される勾配Ｇｒ２２によってリフ
ェーズされ元に戻る。
Ｇｒ２１は、スピンエコーＳＥ２がクラッシャの影響を
受けないようにするため、予めスピンの位相を分散させ
る勾配である。勾配Ｇｒ２１によって分散した位相は、
１８０°励起後に印加される勾配Ｇｒ２２によってリフ
ェーズされ元に戻る。
【００９７】２回目の１８０°励起の後に印加する勾配
Ｇｒ２２は、スティミュレーテッド・エコー（ｓｔｉｍ
ｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ）に対するクラッシャともな
る。スティミュレーテッド・エコーを生じるスピンは、
１回目の１８０°励起から２回目の１８０°励起までの
間は縦磁化として存在し、その間は勾配磁場の影響を受
けない。
Ｇｒ２２は、スティミュレーテッド・エコー（ｓｔｉｍ
ｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ）に対するクラッシャともな
る。スティミュレーテッド・エコーを生じるスピンは、
１回目の１８０°励起から２回目の１８０°励起までの
間は縦磁化として存在し、その間は勾配磁場の影響を受
けない。
【００９８】この縦磁化は２回目の１８０°励起によっ
て横磁化となり、スティミュレーテッド・エコーの発生
源となるが、クラッシャＧｒ２２で位相を分散させるこ
とによりエコーの結像を阻止し、スティミュレーテッド
・エコーの発生を防止する。これによって、スティミュ
レーテッド・エコーがスピンエコーＳＥ２に混入し位相
誤差測定の妨げになることが回避される。
て横磁化となり、スティミュレーテッド・エコーの発生
源となるが、クラッシャＧｒ２２で位相を分散させるこ
とによりエコーの結像を阻止し、スティミュレーテッド
・エコーの発生を防止する。これによって、スティミュ
レーテッド・エコーがスピンエコーＳＥ２に混入し位相
誤差測定の妨げになることが回避される。
【００９９】勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，Ｇｒ
２２の印加に関わるマグネットシステム１００および勾
配駆動部１３０からなる部分は、本発明におけるクラッ
シャ勾配磁場印加手段の実施の形態の一例である。
２２の印加に関わるマグネットシステム１００および勾
配駆動部１３０からなる部分は、本発明におけるクラッ
シャ勾配磁場印加手段の実施の形態の一例である。
【０１００】勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，Ｇｒ
２２を印加することによって付随的な残留磁化が発生す
る場合は、位相誤差測定値にはその影響による誤差が含
まれる可能性がある。
２２を印加することによって付随的な残留磁化が発生す
る場合は、位相誤差測定値にはその影響による誤差が含
まれる可能性がある。
【０１０１】そのような事態への対策として、勾配Ｇｐ
１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ
２３の極性および勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，
Ｇｒ２２の極性を全て反転させた、例えば図７に示すよ
うなシーケンスを用いてスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ
２’を収集する。
１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ
２３の極性および勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，
Ｇｒ２２の極性を全て反転させた、例えば図７に示すよ
うなシーケンスを用いてスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ
２’を収集する。
【０１０２】図７における勾配Ｇｐ１１’，Ｇｐ１
２’，Ｇｐ１３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２
３’および勾配Ｇｒ１１’，Ｇｒ１２’，Ｇｒ２１’，
Ｇｒ２２’は、それぞれ、図６における勾配Ｇｐ１１，
Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３お
よび勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，Ｇｒ２２の極
性を逆にしたものである。極性以外の条件は両者同一で
ある。
２’，Ｇｐ１３’，Ｇｐ２１’，Ｇｐ２２’，Ｇｐ２
３’および勾配Ｇｒ１１’，Ｇｒ１２’，Ｇｒ２１’，
Ｇｒ２２’は、それぞれ、図６における勾配Ｇｐ１１，
Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３お
よび勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２，Ｇｒ２１，Ｇｒ２２の極
性を逆にしたものである。極性以外の条件は両者同一で
ある。
【０１０３】このようなスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ
２’の結像タイミングの誤差−Δｔ１’，＋Δｔ２’の
差に基づいて位相誤差を求めれば、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３および
勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２Ｇｒ２１，Ｇｒ２２による付随
的な残留磁化の影響が逆になった測定値を得ることがで
きる。
２’の結像タイミングの誤差−Δｔ１’，＋Δｔ２’の
差に基づいて位相誤差を求めれば、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ
１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３および
勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２Ｇｒ２１，Ｇｒ２２による付随
的な残留磁化の影響が逆になった測定値を得ることがで
きる。
【０１０４】したがって、図６のスピンエコーＳＥ１，
ＳＥ２から求めた位相誤差すなわち位相差プロファイル
と、図７のスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’から求めた
位相誤差すなわち位相差プロファイルとを平均すること
により、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３および勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２
Ｇｒ２１，Ｇｒ２２による付随的な残留磁化の影響を受
けない位相誤差測定値を得ることができる。
ＳＥ２から求めた位相誤差すなわち位相差プロファイル
と、図７のスピンエコーＳＥ１’，ＳＥ２’から求めた
位相誤差すなわち位相差プロファイルとを平均すること
により、勾配Ｇｐ１１，Ｇｐ１２，Ｇｐ１３，Ｇｐ２
１，Ｇｐ２２，Ｇｐ２３および勾配Ｇｒ１１，Ｇｒ１２
Ｇｒ２１，Ｇｒ２２による付随的な残留磁化の影響を受
けない位相誤差測定値を得ることができる。
【０１０５】以上のようにして求めた位相誤差に基づい
て、位相誤差の補正を行う。位相誤差は、９０°励起と
１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０による
ディフェーズによって生じるものであるから、同期間に
おける残留磁化Ｇｐ０の積分値と等しい積分値を持つ勾
配を逆に印加すればよい。
て、位相誤差の補正を行う。位相誤差は、９０°励起と
１８０°励起の間の期間における残留磁化Ｇｐ０による
ディフェーズによって生じるものであるから、同期間に
おける残留磁化Ｇｐ０の積分値と等しい積分値を持つ勾
配を逆に印加すればよい。
【０１０６】勾配の積分値とディフェーズ量の関係は理
論的に決まっているので、位相誤差測定値に基づいて、
位相誤差補正用の勾配の積分値を計算により求めること
ができる。
論的に決まっているので、位相誤差測定値に基づいて、
位相誤差補正用の勾配の積分値を計算により求めること
ができる。
【０１０７】ＦＳＥ法による磁気共鳴撮影を行うとき
は、そのような積分値を持つ勾配を位相軸方向に付加し
たパルスシーケンスによってスキャンを行う。そのよう
なパルスシーケンスの一例を図８に示す。
は、そのような積分値を持つ勾配を位相軸方向に付加し
たパルスシーケンスによってスキャンを行う。そのよう
なパルスシーケンスの一例を図８に示す。
【０１０８】同図の（３）に示すように、９０°励起と
１８０°励起の間の期間において、位相軸方向に勾配Ｇ
ｐ０’を印加する。勾配Ｇｐ０’の積分値は、同期間に
おける残留磁化Ｇｐ０の積分値に等しく極性が反対とな
っている。これによって、同期間におけるディフェーズ
を０とし位相誤差を無くすことができる。勾配Ｇｐ０’
の印加に関わるマグネットシステム１００および勾配駆
動部１３０からなる部分は、本発明における補正勾配磁
場印加手段の実施の形態の一例である。
１８０°励起の間の期間において、位相軸方向に勾配Ｇ
ｐ０’を印加する。勾配Ｇｐ０’の積分値は、同期間に
おける残留磁化Ｇｐ０の積分値に等しく極性が反対とな
っている。これによって、同期間におけるディフェーズ
を０とし位相誤差を無くすことができる。勾配Ｇｐ０’
の印加に関わるマグネットシステム１００および勾配駆
動部１３０からなる部分は、本発明における補正勾配磁
場印加手段の実施の形態の一例である。
【０１０９】勾配Ｇｐ０’以外は、図９に示した通常の
ＦＳＥ法のパルスシーケンスと同じである。このパルス
シーケンスによって、１回の９０°励起あたり例えば１
６ビューのスピンエコーデータが収集される。これを例
えば３２回繰り返すことにより５１２ビューのスピンエ
コーデータが得られる。これらスピンエコーデータを２
次元逆フーリエ変換することにより画像が再構成され
る。
ＦＳＥ法のパルスシーケンスと同じである。このパルス
シーケンスによって、１回の９０°励起あたり例えば１
６ビューのスピンエコーデータが収集される。これを例
えば３２回繰り返すことにより５１２ビューのスピンエ
コーデータが得られる。これらスピンエコーデータを２
次元逆フーリエ変換することにより画像が再構成され
る。
【０１１０】位相誤差がないことにより、全てのスピン
エコーのピークは正規のタイミングで生じる。したがっ
て、位相誤差による偽像を含まない高品質な再構成画像
を得ることができる。
エコーのピークは正規のタイミングで生じる。したがっ
て、位相誤差による偽像を含まない高品質な再構成画像
を得ることができる。
【０１１１】位相誤差の測定と補正は、ＦＳＥ法による
撮影を行う前に毎回行うようにするのがよい。これによ
って、それ以前に行われたスキャンによって残留磁化の
状体が変化しても常に最新の状態に適応することがで
き、常に高品質の再構成画像を得ることができる。
撮影を行う前に毎回行うようにするのがよい。これによ
って、それ以前に行われたスキャンによって残留磁化の
状体が変化しても常に最新の状態に適応することがで
き、常に高品質の再構成画像を得ることができる。
【０１１２】なお、上記の位相誤差測定および補正は、
ＦＳＥ法ばかりでなく、例えばＩＲ−ＦＳＥ（Ｉｎｖｅ
ｒｓｉｏｎ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ ＦＳＥ）法や、Ｆａｓ
ｔＦＬＡＩＲ（Ｆａｓｔ Ｆｌｕｉｄ Ａｔｔｅｎｕａ
ｔｅｄ Ｉｎｖｅｒｓｉｏｎ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ）法
等、ＦＳＥ法系列のパルスシーケンスを使用する撮影と
組み合わせて行うことができる。
ＦＳＥ法ばかりでなく、例えばＩＲ−ＦＳＥ（Ｉｎｖｅ
ｒｓｉｏｎ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ ＦＳＥ）法や、Ｆａｓ
ｔＦＬＡＩＲ（Ｆａｓｔ Ｆｌｕｉｄ Ａｔｔｅｎｕａ
ｔｅｄ Ｉｎｖｅｒｓｉｏｎ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ）法
等、ＦＳＥ法系列のパルスシーケンスを使用する撮影と
組み合わせて行うことができる。
【０１１３】以上のような位相誤差測定機能をコンピュ
ータに実現させるプログラムが、記録媒体に、コンピュ
ータで読み取り可能なように記録される。記録媒体とし
ては、例えば、磁気記録媒体、光記録媒体、光磁気記録
媒体およびその他の方式の適宜の記録媒体が用いられ
る。記録媒体は半導体記憶媒体であってもよい。本書で
は記憶媒体は記録媒体と同義である。
ータに実現させるプログラムが、記録媒体に、コンピュ
ータで読み取り可能なように記録される。記録媒体とし
ては、例えば、磁気記録媒体、光記録媒体、光磁気記録
媒体およびその他の方式の適宜の記録媒体が用いられ
る。記録媒体は半導体記憶媒体であってもよい。本書で
は記憶媒体は記録媒体と同義である。
【０１１４】また、以上のような位相誤差補正機能をコ
ンピュータに実現させるプログラムが、記録媒体に、コ
ンピュータで読み取り可能なように記録される。記録媒
体としては、例えば、磁気記録媒体、光記録媒体、光磁
気記録媒体およびその他の方式の適宜の記録媒体が用い
られる。記録媒体は半導体記憶媒体であってもよい。本
書では記憶媒体は記録媒体と同義である。
ンピュータに実現させるプログラムが、記録媒体に、コ
ンピュータで読み取り可能なように記録される。記録媒
体としては、例えば、磁気記録媒体、光記録媒体、光磁
気記録媒体およびその他の方式の適宜の記録媒体が用い
られる。記録媒体は半導体記憶媒体であってもよい。本
書では記憶媒体は記録媒体と同義である。
【０１１５】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、位相軸方向のスピンの位相誤差を正しく測定する
方法および装置、そのような位相誤差を補正する方法お
よび装置、位相誤差測定機能をコンピュータに実現させ
るプログラムを記録した記録媒体、位相誤差補正機能を
コンピュータに実現させるプログラムを記録した記録媒
体、位相誤差測定手段を備えた磁気共鳴撮影装置、並び
に、位相誤差補正手段を備えた磁気共鳴撮影装置を実現
することことができる。
れば、位相軸方向のスピンの位相誤差を正しく測定する
方法および装置、そのような位相誤差を補正する方法お
よび装置、位相誤差測定機能をコンピュータに実現させ
るプログラムを記録した記録媒体、位相誤差補正機能を
コンピュータに実現させるプログラムを記録した記録媒
体、位相誤差測定手段を備えた磁気共鳴撮影装置、並び
に、位相誤差補正手段を備えた磁気共鳴撮影装置を実現
することことができる。
【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
である。
【図２】位相誤差測定用のパルスシーケンスの一例を示
す図である。
す図である。
【図３】位相誤差計算の概念図である。
【図４】位相誤差測定用のパルスシーケンスの一例を示
す図である。
す図である。
【図５】位相誤差計算の概念図である。
【図６】位相誤差測定用のパルスシーケンスの一例を示
す図である。
す図である。
【図７】位相誤差測定用のパルスシーケンスの一例を示
す図である。
す図である。
【図８】磁気共鳴撮影用のパルスシーケンスの一例を示
す図である。
す図である。
【図９】ＦＳＥ法のパルスシーケンスを示す図である。
１００ マグネットシステム １０２ 主磁場マグネット部 １０６ 勾配コイル部 １０８ ＲＦコイル部 １３０ 勾配駆動部 １４０ ＲＦ駆動部 １５０ データ収集部 １６０ 制御部 １７０ データ処理部 １８０ 表示部 １９０ 操作部 ３００ 対象 ５００ クレードル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三好 光晴 東京都日野市旭が丘四丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 山崎 亜紀 東京都日野市旭が丘四丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Ｆターム(参考） 4C096 AA01 AB05 AB11 AD06 BA05 DA06 DA11
Claims (40)
- 【請求項１】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、ことを特徴とする位相誤差測定方法。 - 【請求項２】 前記各１８０°励起の前後において周波
数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、こ
とを特徴とする請求項１に記載の位相誤差測定方法。 - 【請求項３】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して２回試行
し、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る、ことを特徴とする位相誤差測定方法。 - 【請求項４】 前記各１８０°励起の前後において周波
数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、こ
とを特徴とする請求項３に記載の位相誤差測定方法。 - 【請求項５】 前記２回の試行において前記クラッシャ
としての勾配磁場の極性を反転して印加する、ことを特
徴とする請求項４に記載の位相誤差測定方法。 - 【請求項６】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求め、 前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起から１８
０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する、ことを
特徴とするとする位相誤差補正方法。 - 【請求項７】 前記各１８０°励起の前後において周波
数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、こ
とを特徴とする請求項６に記載の位相誤差補正方法。 - 【請求項８】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して２回試行
し、先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を
求め、 前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励起か
ら１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する、
ことを特徴とする位相誤差補正方法。 - 【請求項９】 前記各１８０°励起の前後において周波
数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、こ
とを特徴とする請求項８に記載の位相誤差補正方法。 - 【請求項１０】 前記２回の試行において前記クラッシ
ャとしての勾配磁場の極性を反転して印加する、ことを
特徴とする請求項９に記載の位相誤差補正方法。 - 【請求項１１】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、を具備することを特徴とす
る位相誤差測定装置。 - 【請求項１２】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項１１に記載の位相誤差測定装置。 - 【請求項１３】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°
励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時間
後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８０
°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起を
行うスピン励起手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、 前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー読出
手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤差計
算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を反転
して２回試行させる制御手段と、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る平均計算手段と、を具備することを特徴とする位相誤
差測定装置。 - 【請求項１４】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項１３に記載の位相誤差測定装置。 - 【請求項１５】 前記制御手段は前記クラッシャ勾配磁
場印加手段に前記２回の試行において前記クラッシャと
しての勾配磁場の極性を反転して印加させる、ことを特
徴とする請求項１４に記載の位相誤差測定装置。 - 【請求項１６】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、 前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起から１８
０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する補正勾配
磁場印加手段と、を具備することを特徴とする位相誤差
補正装置。 - 【請求項１７】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項１６に記載の位相誤差補正装置。 - 【請求項１８】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０
°励起を行い、前記１回目の１８０°励起から第２の時
間後に２回目の１８０°励起を行い、前記２回目の１８
０°励起から前記第２の時間後に３回目の１８０°励起
を行うスピン励起手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信
号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０°
励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求
める位相誤差計算と、 前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー読出
手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤差計
算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を反転
して２回試行させる制御手段と、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る平均計算手段と、 前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励起か
ら１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する補
正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とする位
相誤差補正装置。 - 【請求項１９】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項１８に記載の位相誤差補正装置。 - 【請求項２０】 前記制御手段は前記クラッシャ勾配磁
場印加手段に前記２回の試行において前記クラッシャと
しての勾配磁場の極性を反転して印加させる、ことを特
徴とする請求項１９に記載の位相誤差補正装置。 - 【請求項２１】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、機能をコンピュータに実現させるプログラムを
コンピュータで読み取り可能なように記録したことを特
徴とする記録媒体。 - 【請求項２２】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、
機能をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュ
ータで読み取り可能なように記録したことを特徴とする
請求項２１に記載の記録媒体。 - 【請求項２３】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して２回試行
し、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る、機能をコンピュータに実現させるプログラムをコン
ピュータで読み取り可能なように記録したことを特徴と
する記録媒体。 - 【請求項２４】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、
機能をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュ
ータで読み取り可能なように記録したことを特徴とする
請求項２３に記載の記録媒体。 - 【請求項２５】 前記２回の試行において前記クラッシ
ャとしての勾配磁場の極性を反転して印加する、機能を
コンピュータに実現させるプログラムをコンピュータで
読み取り可能なように記録したことを特徴とする請求項
２４に記載の記録媒体。 - 【請求項２６】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求め、 前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起から１８
０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する、機能を
コンピュータに実現させるプログラムをコンピュータで
読み取り可能なように記録したことを特徴とする記録媒
体。 - 【請求項２７】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、
機能をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュ
ータで読み取り可能なように記録したことを特徴とする
請求項２６に記載の記録媒体。 - 【請求項２８】 対象のスピンについて９０°励起を行
い、 前記９０°励起から第１の時間後に１回目の１８０°励
起を行い、 前記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の
１８０°励起を行い、 前記２回目の１８０°励起から前記第２の時間後に３回
目の１８０°励起を行い、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、 前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出し、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める、ことを前記勾配磁場の極性を反転して２回試行
し、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求
め、 前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励起か
ら１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する、
機能をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュ
ータで読み取り可能なように記録したことを特徴とする
記録媒体。 - 【請求項２９】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加する、
機能をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュ
ータで読み取り可能なように記録したことを特徴とする
請求項２８に記載の記録媒体。 - 【請求項３０】 前記２回の試行において前記クラッシ
ャとしての勾配磁場の極性を反転して印加する、機能を
コンピュータに実現させるプログラムをコンピュータで
読み取り可能なように記録したことを特徴とする請求項
２９に記載の記録媒体。 - 【請求項３１】 静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、 対象のスピンについて９０°励起を行い、前記９０°励
起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行い、前
記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の１
８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起から前記
第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピン励起
手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、を具備することを特徴とす
る磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項３２】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項３１に記載の磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項３３】 静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、 対象のスピンについて９０°励起を行い、記９０°励起
から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行い、前記
１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の１８
０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起から前記第
２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピン励起手
段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、 前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー読出
手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤差計
算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を反転
して２回試行させる制御手段と、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る平均計算手段と、を具備することを特徴とする磁気共
鳴撮影装置。 - 【請求項３４】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項３３に記載の磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項３５】 前記制御手段は前記クラッシャ勾配磁
場印加手段に前記２回の試行において前記クラッシャと
しての勾配磁場の極性を反転して印加させる、ことを特
徴とする請求項３４に記載の磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項３６】 静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、 対象のスピンについて９０°励起を行い、前記９０°励
起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行い、前
記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の１
８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起から前記
第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピン励起
手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 前記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー
信号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０
°励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を
求める位相誤差計算手段と、 前記位相誤差を０にする勾配磁場を９０°励起から１８
０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する補正勾配
磁場印加手段と、を具備することを特徴とする磁気共鳴
撮影装置。 - 【請求項３７】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項３６に記載の磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項３８】 静磁場、勾配磁場および高周波磁場を
用いて対象から磁気共鳴信号を獲得し前記獲得した磁気
共鳴信号に基づいて画像を構成する磁気共鳴撮影装置で
あって、 対象のスピンについて９０°励起を行い、前記９０°励
起から第１の時間後に１回目の１８０°励起を行い、前
記１回目の１８０°励起から第２の時間後に２回目の１
８０°励起を行い、前記２回目の１８０°励起から前記
第２の時間後に３回目の１８０°励起を行うスピン励起
手段と、 前記１回目の１８０°励起から前記２回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第１のスピンエコー信号を読み出し、
前記２回目の１８０°励起から前記３回目の１８０°励
起までの期間に、時間積分値が０となる勾配磁場を位相
軸方向に印加して第２のスピンエコー信号を読み出すエ
コー読出手段と、 記第１のスピンエコー信号と前記第２のスピンエコー信
号に基づいて前記９０°励起から前記１回目の１８０°
励起までの期間中の位相軸方向のスピンの位相誤差を求
める位相誤差計算と、 前記スピン励起手段によるスピン励起、前記エコー読出
手段によるスピンエコー読み出しおよび前記位相誤差計
算手段による位相誤差計算を前記勾配磁場の極性を反転
して２回試行させる制御手段と、 先に求めた位相誤差と後で求めた位相誤差の平均を求め
る平均計算手段と、 前記位相誤差の平均を０にする勾配磁場を９０°励起か
ら１８０°励起までの期間中に位相軸方向に印加する補
正勾配磁場印加手段と、を具備することを特徴とする磁
気共鳴撮影装置。 - 【請求項３９】 前記各１８０°励起の前後において周
波数軸方向にクラッシャとしての勾配磁場を印加するク
ラッシャ勾配磁場印加手段、を具備することを特徴とす
る請求項３８に記載の磁気共鳴撮影装置。 - 【請求項４０】 前記制御手段は前記クラッシャ勾配磁
場印加手段に前記２回の試行において前記クラッシャと
しての勾配磁場の極性を反転して印加させる、ことを特
徴とする請求項３９に記載の磁気共鳴撮影装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000320827A JP3875479B2 (ja) | 2000-10-20 | 2000-10-20 | 磁気共鳴撮影装置 |
| US09/933,423 US6664787B2 (en) | 2000-10-20 | 2001-08-20 | Method, apparatus and recording medium for measuring and correcting phase error in spins in a phase axis direction |
| EP01308776A EP1199578A3 (en) | 2000-10-20 | 2001-10-16 | Phase error measuring method and apparatus, phase error correcting method and apparatus, recording medium and magnetic resonance imaging apparatus |
| CNB011357940A CN1196930C (zh) | 2000-10-20 | 2001-10-19 | 相位误差测量方法、校正方法和装置、磁共振成像装置 |
| KR10-2001-0064555A KR100458774B1 (ko) | 2000-10-20 | 2001-10-19 | 위상 오차 측정 방법 및 장치, 기록 매체 및 자기 공명 촬상 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000320827A JP3875479B2 (ja) | 2000-10-20 | 2000-10-20 | 磁気共鳴撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002136498A true JP2002136498A (ja) | 2002-05-14 |
| JP3875479B2 JP3875479B2 (ja) | 2007-01-31 |
Family
ID=18799048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000320827A Expired - Fee Related JP3875479B2 (ja) | 2000-10-20 | 2000-10-20 | 磁気共鳴撮影装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6664787B2 (ja) |
| EP (1) | EP1199578A3 (ja) |
| JP (1) | JP3875479B2 (ja) |
| KR (1) | KR100458774B1 (ja) |
| CN (1) | CN1196930C (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3453089B2 (ja) * | 1999-08-20 | 2003-10-06 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｍｒｉ装置 |
| GB2374672A (en) * | 2001-04-20 | 2002-10-23 | Marconi Medical Systems Uk Ltd | Magnetic Resonance Imaging |
| WO2003052445A1 (en) * | 2001-12-19 | 2003-06-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Diffusion weighted multiple spin echo (rare) sequence with periodically amplitude-modulated crusher gradients |
| CN100375904C (zh) * | 2002-12-24 | 2008-03-19 | 深圳安科高技术股份有限公司 | 一种射频脉冲直角相位设置方法及电路 |
| JP2005152114A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｍｒｉ方法およびｍｒｉ装置 |
| JP3968352B2 (ja) | 2004-02-03 | 2007-08-29 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| JP3968353B2 (ja) * | 2004-02-18 | 2007-08-29 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| JP4619674B2 (ja) * | 2004-03-24 | 2011-01-26 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP4347788B2 (ja) * | 2004-12-01 | 2009-10-21 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| US7187171B2 (en) * | 2005-02-10 | 2007-03-06 | Kaburhiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus and its control method |
| DE102005015069B4 (de) * | 2005-04-01 | 2008-03-27 | Siemens Ag | Verfahren zur Vermeidung linearer Phasenfehler in der Magnetresonanz-Spektroskopie |
| US7515742B2 (en) * | 2006-06-29 | 2009-04-07 | Vassol. Inc. | Automatic segmentation of stationary tissue in PCMR imaging |
| US8085041B2 (en) * | 2008-04-10 | 2011-12-27 | General Electric Company | Three-point method and system for fast and robust field mapping for EPI geometric distortion correction |
| DE102012205587B4 (de) | 2012-04-04 | 2013-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Schichtspezifische Phasenkorrektur bei Schicht-Multiplexing |
| KR101474757B1 (ko) * | 2013-07-08 | 2014-12-19 | 삼성전자주식회사 | 자장 측정 방법 및 장치 |
| JP6496311B2 (ja) * | 2013-10-21 | 2019-04-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 温度マッピングを伴うｍｒイメージング |
| CN104458785B (zh) * | 2014-12-12 | 2016-09-07 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 一种核磁共振波谱谱峰对齐及谱峰提取方法 |
| US10126402B2 (en) * | 2015-06-02 | 2018-11-13 | Case Western Reserve University | Magnetic resonance imaging (MRI) with artifact-free T2 mapping |
| CN106814339B (zh) * | 2015-11-27 | 2019-11-12 | 西门子(深圳)磁共振有限公司 | 相位信息获取方法、系统及磁共振成像系统 |
| CN107024670B (zh) * | 2016-01-29 | 2020-08-04 | 上海联影医疗科技有限公司 | 磁共振系统的校正方法及装置 |
| CN106353706B (zh) | 2016-10-08 | 2019-07-23 | 上海东软医疗科技有限公司 | 磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备 |
| CN110988765B (zh) * | 2019-12-25 | 2022-03-04 | 东软医疗系统股份有限公司 | 一种磁共振相位校正方法和装置 |
| DE102020212281B4 (de) * | 2020-09-29 | 2022-05-12 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zur zeitsparenden Erzeugung einer B0-Karte basierend auf einer Doppelecho-Sequenz mit stimulierten Echos und Magnetresonanzvorrichtung |
| CN115685032B (zh) * | 2022-11-02 | 2023-06-23 | 佛山瑞加图医疗科技有限公司 | 一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统 |
Family Cites Families (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4714884A (en) * | 1986-06-13 | 1987-12-22 | General Electric Company | Method of eliminating effects of spurious NMR signals caused by imperfect 180 degree RF pulses |
| US4978918A (en) * | 1988-04-24 | 1990-12-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic resonance imaging method |
| DE4027252A1 (de) * | 1990-08-29 | 1992-03-05 | Philips Patentverwaltung | Verfahren fuer die zweidimensionale kernresonanzspektroskopie |
| US5270654A (en) * | 1991-07-05 | 1993-12-14 | Feinberg David A | Ultra-fast multi-section MRI using gradient and spin echo (grase) imaging |
| US5493224A (en) * | 1992-03-03 | 1996-02-20 | Hitachi, Ltd. | Ultra high-speed magnetic resonance imaging method and apparatus |
| EP0577188B1 (en) * | 1992-06-29 | 1999-09-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and apparatus for magnetic resonance imaging |
| US5281916A (en) * | 1992-07-29 | 1994-01-25 | General Electric Company | NMR angiography using fast spin echo pulse sequences |
| JP3246020B2 (ja) * | 1992-12-31 | 2002-01-15 | 株式会社島津製作所 | Ｍｒイメージング装置 |
| JPH06217959A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-09 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージングにおける位相エンコード量調整法 |
| EP0633480A1 (en) * | 1993-07-09 | 1995-01-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Artefact suppression in GRASE MR imaging |
| US5378985A (en) * | 1993-07-15 | 1995-01-03 | General Electric Company | Fast spin echo prescan for MRI system |
| WO1995005610A1 (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-23 | The Government Of The United States Of America As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services | Method for magnetic resonance spectroscopic imaging with multiple spin-echoes |
| JP3688773B2 (ja) * | 1995-10-31 | 2005-08-31 | 株式会社東芝 | Ｍｒｉ装置 |
| JP3573570B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2004-10-06 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP3384944B2 (ja) * | 1996-07-11 | 2003-03-10 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｍｒｉ装置 |
| US6078176A (en) * | 1996-11-08 | 2000-06-20 | General Electric Company | Fast spin echo pulse sequence for diffusion weighted imaging |
| US6008647A (en) * | 1997-02-11 | 1999-12-28 | General Electric Company | Method for reducing Maxwell term artifacts in fast spin echo MR images |
| US5899858A (en) * | 1997-04-10 | 1999-05-04 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | MR imaging with enhanced sensitivity of specific spin motion |
| US6011392A (en) * | 1997-04-10 | 2000-01-04 | General Electric Company | Method for reducing Maxwell term artifacts in fast spin echo MR images |
| DE19826864A1 (de) * | 1998-06-17 | 1999-12-23 | Philips Patentverwaltung | MR-Verfahren |
| US6369568B1 (en) * | 1999-06-03 | 2002-04-09 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Fast spin echo phase correction for MRI system |
| JP3365983B2 (ja) * | 1999-09-28 | 2003-01-14 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｍｒｉ装置 |
| KR100331449B1 (ko) * | 1999-11-12 | 2002-04-09 | 윤종용 | 패스트 스핀 에코 영상법에서 위상 부호화 경사 자계펄스의 위상 오류 보정방법 |
| US6392411B1 (en) * | 2000-01-03 | 2002-05-21 | Ge Yokogawa Medical Systems, Limited | MR imaging method, phase shift measuring method and MR imaging system |
| JP3440049B2 (ja) * | 2000-02-25 | 2003-08-25 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| US6541971B1 (en) * | 2001-06-28 | 2003-04-01 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Multi-dimensional spatial NMR excitation |
-
2000
- 2000-10-20 JP JP2000320827A patent/JP3875479B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-20 US US09/933,423 patent/US6664787B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-16 EP EP01308776A patent/EP1199578A3/en not_active Withdrawn
- 2001-10-19 KR KR10-2001-0064555A patent/KR100458774B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-10-19 CN CNB011357940A patent/CN1196930C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6664787B2 (en) | 2003-12-16 |
| KR20020031061A (ko) | 2002-04-26 |
| KR100458774B1 (ko) | 2004-12-03 |
| CN1350176A (zh) | 2002-05-22 |
| EP1199578A2 (en) | 2002-04-24 |
| US20020047708A1 (en) | 2002-04-25 |
| JP3875479B2 (ja) | 2007-01-31 |
| CN1196930C (zh) | 2005-04-13 |
| EP1199578A3 (en) | 2004-06-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2002136498A (ja) | 位相誤差測定方法および装置、位相誤差補正方法および装置、記録媒体並びに磁気共鳴撮影装置 | |
| Morgan et al. | Correction of spatial distortion in EPI due to inhomogeneous static magnetic fields using the reversed gradient method | |
| US7619411B2 (en) | Generalized method for MRI chemical species separation using arbitrary k-space trajectories | |
| US7323873B2 (en) | Phase error measuring method, MR imaging method, and MRI system | |
| JPH1075940A (ja) | 位相シフト測定方法、位相シフト補正方法およびｍｒｉ装置 | |
| JPH07171122A (ja) | Ｅｐｉ及びｇｒａｓｅ ｍｒｉにおける読み出し傾斜磁界極性の補正方法 | |
| WO2008027813A2 (en) | Method for aligning multiple mr images acquired with alternating readout gradient | |
| EP0835454B1 (en) | Echo planar imaging involving echo time shifting and motion compensation | |
| JPH04279148A (ja) | 核磁気共鳴装置 | |
| JPH0687847B2 (ja) | 磁気共鳴映像装置 | |
| EP0223279B1 (en) | Method of and device for the phase correction of mr inversion recovery images | |
| US20020050816A1 (en) | MR imaging method, phase error measuring method, and MRI apparatus | |
| JP5562095B2 (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| JP3585897B2 (ja) | 磁気共鳴映像装置 | |
| US20060074291A1 (en) | Magnetic resonance imaging system and method | |
| JP3576641B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JPH0856920A (ja) | 磁気共鳴イメージング方法 | |
| JP3868754B2 (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| JP4247511B2 (ja) | 勾配磁場測定方法および装置並びに磁気共鳴撮影装置 | |
| JP3680856B2 (ja) | 磁気共鳴映像装置 | |
| JPH0252499B2 (ja) | ||
| Wu | Dynamic field mapping and distortion correction using single‐shot blip‐rewound EPI and joint multi‐echo reconstruction | |
| JPH0811113B2 (ja) | Ｎｍｒイメージング方法 | |
| JPH04189344A (ja) | 磁気共鳴装置 | |
| JP2003061928A (ja) | 磁気共鳴信号獲得装置および磁気共鳴撮影装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20040714 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060315 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060411 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060616 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060926 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061026 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131102 Year of fee payment: 7 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |