JP2002134270A - 有機電界発光素子 - Google Patents

有機電界発光素子

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JP2002134270A
JP2002134270A JP2000329536A JP2000329536A JP2002134270A JP 2002134270 A JP2002134270 A JP 2002134270A JP 2000329536 A JP2000329536 A JP 2000329536A JP 2000329536 A JP2000329536 A JP 2000329536A JP 2002134270 A JP2002134270 A JP 2002134270A
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Junji Kido
淳二 城戸
Yukihiro Kondo
行廣 近藤
Yasuhisa Kishigami
泰久 岸上
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    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 水分の十分な遮蔽効果を得ることができ、長
期間に亘って安定した発光特性を維持することができる
有機電界発光素子を提供する。 【解決手段】 基板1と、基板1に形成された透明導電
膜からなる陽極2と、陽極2に形成された有機発光層3
及び陰極4を備えた有機電界発光素子に関する。陽極2
側と陰極4側の外表面の少なくとも一方に、少なくとも
一層の吸水膜5と保護膜6を設ける。またこの保護膜6
を窒化珪素膜で形成する。吸水膜5による吸水と保護膜
6による水分の遮断によって、水分が素子内部に作用す
ることを防止することができる。しかも保護膜6にピン
ホールやクラックが存在していても、通過する水分を吸
水膜5で吸水して素子内部に水分が作用することを防ぐ
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種ディスプレ
ー、表示装置、液晶用バックライト等に用いられる有機
電界発光素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】有機材料を発光体として用いた有機電界
発光素子、すなわち有機エレクトロルミネッセンス素子
は古くから注目され、様々な検討が行われてきたが、発
光効率が非常に悪いことから本格的な実用化研究には至
らなかった。しかし、1987年にコダック社のC.
W.Tangらにより、有機材料をホール輸送層と発光
層の2層に分けた機能分離型の積層構造を有する有機エ
レクトロルミネッセンスが提案され、このものでは10
V以下の低電圧にも関わらず、1000cd/m2以上
の高い発光輝度が得られることが明らかになった。そし
てこれ以降、有機エレクトロルミネッセンス素子が注目
されはじめ、活発な研究が行われるようになった。
【0003】このような研究開発がなされた結果、現在
では有機エレクトロルミネッセンス素子は、10V程度
の低電圧で100〜100000cd/m2程度の高輝
度の面発光が可能となり、また蛍光物質の種類を選択す
ることにより青色から赤色までの発光が可能となってい
る。
【0004】しかし、有機エレクトロルミネッセンス素
子は、一定期間駆動すると、ダークスポットと呼ばれる
非発光部の発生と成長が起こり、発光特性が劣化してい
く課題がある。このようなダークスポットが発生する原
因としては、水分及び酸素の影響が最も大きいとされて
おり、特に水分は極めて微量でも大きな影響を及ぼすも
のとされている。
【0005】そのため、何らかの方法で素子を封止して
水分の作用を遮蔽する必要があり、保護膜による封止が
種々検討されている。この保護膜による封止として従来
から知られているのは、特開平7−161474号公報
で提供されている、炭素又は珪素を含有する無機アモル
ファス保護膜によるもの、特開平8−111286号公
報で提供されている、ECRプラズマCVD法でSiO
2又はSi34からなる保護膜を形成するようにしたも
の、特開平11−242994号公報で提供されてい
る、室温反応性プラズマCVD法で保護膜を形成するよ
うにしたものがある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような保護膜で素子の封止を行なう方法では、保護膜に
ピンホールが存在することが多く、また保護膜を成膜す
る際の内部残留応力によって経時的にクラックが発生す
るおそれがあり、水分の十分な遮蔽効果を得ることがで
きず、長期間に亘って安定した発光特性を維持すること
が困難であった。
【0007】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、水分の十分な遮蔽効果を得ることができ、長期間
に亘って安定した発光特性を維持することができる有機
電界発光素子を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
有機電界発光素子は、基板1と、基板1に形成された透
明導電膜からなる陽極2と、陽極2に形成された有機発
光層3及び陰極4を備えた有機電界発光素子において、
陽極2側と陰極4側の外表面の少なくとも一方に、少な
くとも一層の吸水膜5と保護膜6を設け、保護膜6を窒
化珪素膜で形成して成ることを特徴とするものである。
【0009】また請求項2の発明は、請求項1におい
て、保護膜6を低温プラズマCVD法で作製される窒化
珪素膜で形成して成ることを特徴とするものである。
【0010】また請求項3の発明は、請求項2におい
て、保護膜6が、シランと窒素を原料ガスとして、ある
いはシランと窒素とアンモニアを原料ガスとして、低温
プラズマCVD法で作製される窒化珪素膜で形成されて
いることを特徴とするものである。
【0011】また請求項4の発明は、請求項2又は3に
おいて、保護膜6が、シランと窒素を原料ガスとして、
あるいはシランと窒素とアンモニアを原料ガスとして、
低温プラズマCVD法で作製される窒化珪素膜で、複数
層に形成されていることを特徴とするものである。
【0012】また請求項5の発明は、請求項1乃至4の
いずれかにおいて、保護膜6の最表面に、無機物からな
る封止部7が形成されていることを特徴とするものであ
る。
【0013】また請求項6の発明は、請求項1乃至4の
いずれかにおいて、保護膜6の最表面に、有機物からな
る封止部7が形成されていることを特徴とするものであ
る。
【0014】また請求項7の発明は、請求項1乃至6の
いずれかにおいて、吸水膜5が、水分を化学的に吸着す
る吸水剤によって形成されていることを特徴とするもの
である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
【0016】図1は本発明の実施の形態の一例を示すも
のであり、基板1の表面上に透明導電膜からなる陽極2
を積層し、陽極2の表面上にホール輸送層11を介して
有機発光層3を積層すると共に、さらに有機発光層3の
表面上に電子輸送層12を介して陰極4を積層してあ
る。これを基本構成として有機電界発光素子、すなわち
有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)を
形成することができるものであり、陽極2に正電圧を、
陰極4に負電圧を印加すると、電子輸送層12を介して
有機発光層3に注入された電子と、ホール輸送層11を
介して有機発光層3に注入されたホールとが、有機発光
層3内にて再結合して発光が起こるものである。
【0017】上記の基板1としては、ソーダライムガラ
スや無アルカリガラスなどの透明ガラス基板や、透明プ
ラスチック基板などを用いることができる。また素子に
ホールを注入するための電極である陽極2としては、仕
事関数の大きい金属、合金、電気伝導性化合物、あるい
はこれらの混合物からなる電極材料を用いるのが好まし
く、特に仕事関数が4eV以上の電極材料を用いること
が好ましい。このような電極材料としては、具体的に
は、金などの金属、CuI、ITO(インジウムチンオ
キサイド)、SnO2、ZnO等の導電性透明材料があ
げられる。例えばこれらの電極材料を基板1上に真空蒸
着法やスパッタリング法等の方法で成膜することによっ
て、陽極2を薄膜として作製することができる。
【0018】ここで、基板1として透明基板を用い、有
機発光層3における発光を陽極2を透過させて基板1か
ら外部に照射する場合には、陽極2の光透過率が10%
以上であることが好ましい。また、陽極2のシート抵抗
は数百Ω/□以下であることが好ましく、特に100Ω
/□以下であることが好ましい。さらに陽極2の膜厚
は、陽極2の光透過率、シート抵抗等の特性を上記のよ
うに制御するために、材料により異なるが、通常500
nm以下であり、好ましくは10〜200nmの範囲で
ある。
【0019】一方、有機発光層3中に電子を注入するた
めの電極である陰極4は、仕事関数の小さい金属、合
金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物からなる電極
材料を用いることが好ましく、仕事関数が5eV以下の
電極材料を用いるのが好ましい。このような電極材料と
しては、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、リチ
ウム、マグネシウム、アルミニウム、マグネシウム−銀
混合物、マグネシウム−インジウム混合物、アルミニウ
ム−リチウム合金、Al/Al23混合物、Al/Li
F混合物などを挙げることができる。この陰極4は、例
えばこれらの電極材料を、真空蒸着法やスパッタリング
法等の方法により、薄膜に形成することによって作製す
ることができる。また、有機発光層3における発光を陰
極4を透過させて外部に照射する場合には、陰極4は光
透過率が10%以上であることが好ましい。ここで、陰
極4の膜厚は、陰極4の光透過率等の特性を上記のよう
に制御するために、材料により異なるが、通常500n
m以下であり、好ましくは100〜200nmの範囲で
ある。
【0020】また本発明において有機発光層3に使用で
きる発光材料またはドーピング材料としては、アントラ
セン、ナフタレン、ピレン、テトラセン、コロネン、ペ
リレン、フタロペリレン、ナフタロペリレン、ジフェニ
ルブタジエン、テトラフェニルブタジエン、クマリン、
オキサジアゾール、ビスベンゾキサゾリン、ビススチリ
ル、シクロペンタジエン、キノリン金属錯体、トリス
(8−ヒドロキシキノリナート)アルミニウム錯体、ト
リス(4-メチル−8−キノリナート)アルミニウム錯
体、トリス(5−フェニル−8−キノリナート)アルミ
ニウム錯体、アミノキノリン金属錯体、ベンゾキノリン
金属錯体、トリ−(p−ターフェニル−4−イル)アミ
ン、1−アリール−2,5−ジ(2−チエニル)ピロー
ル誘導体、ピラン、キナクリドン、ルブレン、ジスチル
ベンゼン誘導体、ジスチルアリーレン誘導体、及び各種
蛍光色素等があるが、これに限定されるものではない。
またこれらの化合物のうちから選択される発光材料を9
0〜99.5質量部、ドーピング材料0.5〜10質量
部含むようにすることも好ましい。この有機発光層3の
厚みは0.5〜500nmが好ましく、特に0.5〜2
00nmが好ましい。
【0021】またホール輸送層11を構成するホール輸
送材料としては、ホールを輸送する能力を有し、陽極2
からのホール注入効果を有するとともに、有機発光層3
または発光材料に対して優れたホール注入効果を有し、
さらに電子のホール輸送層11への移動を防止し、かつ
薄膜形成能力の優れた化合物を挙げることができる。具
体的にはフタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導
体、ポルフィリン誘導体、N,N’−ビス(3−メチル
フェニル)−(1,1'−ビフェニル)−4,4'−ジア
ミン(TPD)や4,4’−ビス[N−(ナフチル)−
N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPD)等の
芳香族ジアミン化合物、オキサゾール、オキサジアゾー
ル、トリアゾール、イミダゾール、イミダゾロン、スチ
ルベン誘導体、ピラゾリン誘導体、テトラヒドロイミダ
ゾール、ポリアリールアルカン、ブタジエン、4,
4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−
フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDAT
A)、及びポリビニルカルバゾール、ポリシラン、ポリ
エチレンジオイサイドチオフェン(PEDOT)等の導
電性高分子などの高分子材料が挙げられるが、これらに
限定されるものではない。
【0022】また電子輸送層12を構成する電子輸送材
料としては、電子を輸送する能力を有し、陰極4からの
電子注入効果を有するとともに、有機発光層3または発
光材料に対して優れた電子注入効果を有し、さらにホー
ルの電子輸送層12への移動を防止し、かつ薄膜形成能
力の優れた化合物を挙げることができる。具体的には、
フルオレン、バソフェナントロリン、バソクプロイン、
アントラキノジメタン、ジフェノキノン、オキサゾー
ル、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、
アントラキノジメタン等やそれらの化合物、金属錯体化
合物もしくは含窒素五員環誘導体である。具体的には、
金属錯体化合物としては、トリス(8−ヒドロキシキノ
リナート)アルミニウム、トリ(2−メチル−8−ヒド
ロキシキノリナート)アルミニウム、トリス(8−ヒド
ロキシキノリナート)ガリウム、ビス(10−ヒドロキ
シベンゾ[h]キノリナート)ベリリウム、ビス(10
−ヒドロキシベンゾ[h]キノリナート)亜鉛、ビス(2
−メチル−8−キノリナート)(o−クレゾラート)ガ
リウム、ビス(2−メチル−8−キノリナート)(1−
ナフトラート)アルミニウム等があるが、これらに限定
されるものではない。また含窒素五員環誘導体として
は、オキサゾール、チアゾール、オキサジアゾール、チ
アジアゾールもしくはトリアゾール誘導体が好ましい。
具体的には、2,5−ビス(1−フェニル)−1,3,
4−オキサゾール、2,5−ビス(1−フェニル)−
1,3,4−チアゾール、2,5−ビス(1−フェニ
ル)−1,3,4−オキサジアゾール、2−(4'−ter
t−ブチルフェニル)−5−(4''−ビフェニル)1,
3,4−オキサジアゾール、2,5−ビス(1−ナフチ
ル)−1,3,4−オキサジアゾール、1,4−ビス
[2−(5−フェニルチアジアゾリル)]ベンゼン、
2,5−ビス(1−ナフチル)−1,3,4−トリアゾ
ール、3−(4−ビフェニルイル)−4−フェニル−5
−(4−t−ブチルフェニル)−1,2,4−トリアゾ
ール等があるが、これらに限定されるものではない。さ
らにポリマー有機エレクトロルミネッセンス素子に使用
されるポリマー材料も使用することができる。例えば、
ポリパラフェニレン及びその誘導体、フルオレン及びそ
の誘導体等である。
【0023】そして図1の有機EL素子にあって、基板
1の上に積層された陽極2とホール輸送層11と有機発
光層3と電子輸送層12と陰極4の積層構成体の、陽極
2側と陰極4側の外表面の少なくとも一方に、吸水膜5
及び保護膜6が形成してある。図1の実施の形態では、
陰極4側の外表面において、陽極2とホール輸送層11
と有機発光層3と電子輸送層12と陰極4の露出する表
面を覆うように吸水膜5と保護膜6を形成してある。
【0024】吸水膜5は、化学的に水分を吸着する吸水
剤によって形成されるものであり、外部から微量浸入し
てくる水分や、素子内部から出てくる水分を吸水膜5に
よって吸水し、素子の発光特性の劣化を防止することが
できるものである。吸水膜5の膜厚は、特に限定される
ものではないが、0.01〜100μmの範囲に設定す
るのが好ましい。
【0025】この吸水膜5を形成する吸水剤としては、
酸化カルシウム、酸化バリウム等のアルカリ金属酸化物
や有機物などを挙げることができ、またイソシアネート
基を有する有機物を用いることができる。このイソシア
ネート基を有する有機物は、次の反応式に示すように、
化学的に水分を吸着する能力が高く、また水分を吸着し
た吸湿後も固体状態のままを維持するものであり、液化
することがないものである。
【0026】R−NCO + H2O → R−NH2
+ CO2 このイソシアネート基を有する有機物としては、具体的
には、ナフチレンジイソシアネート、4,4−ジフェニ
ルメタンジイソシアネート(MDI)、パラフェニレン
ジイソシアネート、イソプロピリデンビス(4−シクロ
ヘキシルイソシアネート)(IPC)、シクロヘキシル
ジイソシアネート、トリジンジイソシアネート、リジン
ジイソシアネート、テトラメチルキシリレンジイソシア
ネート、トリレンジイソシアネート(TDI)、キシリ
レンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネー
ト、ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、イソホ
ロンジイシシアネート、水添キシリレンジイソシアネー
トなどを挙げることができるが、特にこれらに限定され
るものではない。これらのイソシアネート基を有する有
機物のうちでも、耐熱性の点から融点50℃以上のもの
であることが特に好ましい。また上記したイソシアネー
ト基を有する有機物を重合して得られるポリマーを用い
ることができ、この場合も耐熱性の点からガラス転移温
度が50℃以上であることが好ましい。
【0027】また図1の有機EL素子にあって、保護膜
6は吸水膜5の全外表面を覆うように形成してある。こ
の保護膜6は水分と酸素を遮断する機能を有するもので
あり、窒化珪素の膜で形成してある。窒化珪素膜は水分
や酸素を遮断する機能が高く、しかも室温程度の低温に
おいて行なう低温プラズマCVDによって形成すること
ができる。従って、低温プラズマCVDで作製される窒
化珪素膜によって保護膜6を形成することにより、高温
の作用で有機発光層3を劣化させたりするようなことが
なくなるものである。窒化珪素膜を成膜するにあたって
は、原料ガスとしてシランと窒素を用いたり、あるいは
原料ガスとしてシランと窒素とアンモニアを用いたりし
て行なうことができる。保護膜6の膜厚は、特に限定さ
れるものではないが、0.01〜100μmの範囲に設
定するのが好ましい。
【0028】上記の吸水膜5と保護膜6はいずれが外側
でも内側でもよく、また吸水膜5と保護膜6は一層で形
成する他に、複数層で形成するようにしてもよい。そし
て吸水膜5と保護膜6を設けて形成される図1の有機E
L素子にあって、吸水膜5による吸水と保護膜6による
水分の遮断によって、水分が素子に作用することを防止
して、ダークスポットと呼ばれる非発光部の発生と成長
を防ぐことができるものである。しかも、保護膜6にピ
ンホールやクラックが存在して水分の遮断を完全に行な
えない場合にあっても、保護膜6の内側に吸水膜5を有
すると、保護膜6を通過する水分は吸水膜5で吸水さ
れ、素子内部に水分が作用することを防ぐことができる
ものであり、ガラス板等を用いて素子全体を封止しなく
ても、非発光部の発生と成長を防ぐことができるもので
ある。水分の通過を確実に阻止するためには、吸水膜5
と保護膜6は複数層に形成するほうが好ましい。
【0029】図2は本発明の他の実施の形態を示すもの
であり、吸水膜5を覆うように設けた保護膜6を複数層
に形成してある。その他の構成は図1のものと同じであ
る。低温プラズマCVDで成膜した窒化珪素膜で保護膜
6を形成するにあたって、既述のようにシランと窒素を
原料ガスとして用いる方法と、シランと窒素とアンモニ
アを原料ガスとして用いる方法とがあるが、図2の実施
の形態のように2層で保護膜6a,6bを形成する場合
には、まずシランと窒素を原料ガスとして窒化珪素膜を
成膜して保護層6aを形成した後に、その上にシランと
窒素とアンモニアを原料ガスとして窒化珪素膜を成膜し
て保護層6bを形成するようにするのがよい。シランと
窒素を原料ガスとして成膜される窒化珪素膜よりも、シ
ランと窒素とアンモニアを原料ガスとして成膜される窒
化珪素膜のほうがピンホールが少なく、水分を遮断する
膜としての機能に優れるが、原料ガス中のアンモニアが
素子の発光特性を低下させるおそれがあるので、上記の
順に窒化珪素膜を成膜して、複数層に保護膜6を形成す
るのが好ましい。
【0030】図3は本発明のさらに他の実施の形態を示
すものであり、保護膜6を2層に形成し、保護膜6a、
吸水膜5、保護膜6bの順に積層するようにしてある。
その他の構成は図1のものと同じである。この場合も、
シランと窒素を原料ガスとして窒化珪素膜を成膜して内
側の保護層6aを形成し、シランと窒素とアンモニアを
原料ガスとして窒化珪素膜を成膜して外側の保護層6b
を形成するのが好ましい。勿論、吸水膜5や保護膜6の
積層構造、保護膜6の窒化珪素膜の原料ガス組成につい
ては、上記したものに限定されるものではなく、水分の
透過や膜の残留応力が小さくなるように適宜選定される
ものである。
【0031】図4は本発明のさらに他の実施の形態を示
すものであり、吸水膜5や保護膜6のさらに最表面を覆
って封止部7が設けてある。その他の構成は図1のもの
と同じである。このように封止部7で素子の有機発光層
3などを封止することによって、外部からの水分や酸素
の浸入を完全に阻止し、一層、長期に亘って発光特性を
安定化することができるものである。
【0032】封止部7を形成する材料としては、保護膜
6に存在するピンホールの孔埋めをし、また水分や酸素
を遮断することができるものであればよく、特に限定さ
れるものではないが、例えば、無機物として、アルミニ
ウム、銀、金などの金属、酸化珪素、酸化マグネシウ
ム、酸化チタンなどの金属酸化物を挙げることができ
る。また、有機物として、ポリパラキシリレン、テフロ
ン(登録商標)系ポリマー、ポリイミド、エポキシやア
クリル系の熱硬化樹脂及び光硬化性樹脂などの高分子材
料、有機電界発光素子に用いられ、製膜性に優れる4,
4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−
フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDAT
A)やトリス(8ーヒドロキシキノリナート)アルミニ
ウムなど真空蒸着可能な低分子材料を挙げることができ
る。更に、機械的強度を持たせるために、ガラス板やス
テンレス板などを張り合わせるようにしてもよい。封止
部7の厚みは、特に限定されるものではないが、0.0
1μm〜5mmの範囲に設定するのが好ましい。
【0033】
【実施例】次に、本発明を実施例によって具体的に説明
する。
【0034】(実施例1)厚み0.7mmのガラス基板
1の上に、ITO(インジウム−スズ酸化物)をスパッ
タしてシート抵抗7Ω/□の透明電極からなる陽極2を
設けて形成される、ITOガラス(三容真空社製)を用
いた。このITOガラス基板をアセトン、純水、イソプ
ロピルアルコールで15分間超音波洗浄し、乾燥させた
後、さらにUVオゾン洗浄した。
【0035】次に、このITOガラス基板を真空蒸着装
置にセットし、1×10-6Torr(1.33×10-4
Pa)の減圧下、4,4’−ビス[N−(ナフチル)−
N−フェニル−アミノ]ビフェニル((株)同仁化学研
究所製)を、1〜2Å/sの蒸着速度で400Å厚に蒸
着し、陽極2の上にホール輸送層11を形成した。
【0036】次に、トリス(8−ヒドロキシキノリナー
ト)アルミニウム錯体((株)同仁化学研究所製)を1
〜2Å/sの蒸着速度で400Å厚に蒸着し、ホール輸
送層11の上に有機発光層3と電子輸送層12を兼用す
る層を形成した。
【0037】次に、まずLiFを0.5〜1.0Åの蒸
着速度で、厚み5Å蒸着し、続いて、Alを10Å/s
の蒸着速度で厚み1500Å蒸着することによって、有
機発光層3と電子輸送層12を兼用する層の上に陰極4
を形成した。
【0038】この後、ナフチレンジイソシアネートを、
真空蒸着法によって陰極4上に蒸着し、厚み1μmの吸
水膜5を形成した。
【0039】そしてさらに、低温プラズマCVD法で吸
水膜5の上に保護膜6を形成した。このとき、まず、シ
ランと窒素を原料ガスとして0.4μm厚の窒化珪素膜
6aを成膜し、次いでシランと窒素とアンモニアを原料
ガスとして0.6μm厚の窒化珪素膜6bを0.6μm
の厚みで成膜して保護膜6を形成した。
【0040】上記のようにして図2のような有機電界発
光素子を作製し、この有機電界発光素子について、10
mA/cm2の定電流を通電して連続発光試験を500
時間行った。その結果、ダークスポットの発生成長はみ
られず、初期輝度と同等の400cd/m2の発光輝度
が得られた。
【0041】(実施例2)実施例1と同様にして、IT
Oガラス(三容真空社製)を用い、陽極2の上にホール
輸送層11、有機発光層3と電子輸送層12を兼用する
層、陰極4をそれぞれ形成した。
【0042】次に、シランと窒素を原料ガスとして、低
温プラズマCVD法で陰極4の上に厚み0.5μmの窒
化珪素膜6aを成膜した。次いで酸化カルシウムを真空
蒸着法によって蒸着し、窒化珪素膜6aの上に厚み1μ
mの吸水膜5を形成した。さらにシランと窒素とアンモ
ニアを原料ガスとして、低温プラズマCVD法で吸水膜
5の上に厚み0.5μmの窒化珪素膜6bを成膜した。
【0043】上記のようにして図3のような有機電界発
光素子を作製し、この有機電界発光素子について、10
mA/cm2の定電流を通電して連続発光試験を500
時間行った。その結果、ダークスポットの発生成長はみ
られず、初期輝度と同等の395cd/m2の発光輝度
が得られた。
【0044】(実施例3)実施例1において、窒化珪素
膜6bを形成した後、アルミニウムをスパッタ法で成膜
し、窒化珪素膜6bの上に厚み10μmの封止部7を設
けた。
【0045】上記のようにして図2のものに封止部7を
図4のように設けた有機電界発光素子を作製し、この有
機電界発光素子について、10mA/cm2の定電流を
通電して連続発光試験を500時間行った。その結果、
ダークスポットの発生成長はみられず、初期輝度と同等
の410cd/m2の発光輝度が得られた。
【0046】(実施例4)実施例2において、窒化珪素
膜6bを形成した後、ポリパラキシリレンをCVD法で
成膜し、窒化珪素膜6bの上に厚み10μmの封止部7
を設けた。
【0047】上記のようにして図3のものに封止部7を
図4のように設けた有機電界発光素子を作製し、この有
機電界発光素子について、10mA/cm2の定電流を
通電して連続発光試験を500時間行った。その結果、
ダークスポットの発生成長はみられず、初期輝度と同等
の410cd/m2の発光輝度が得られた。
【0048】(比較例1)実施例1と同様にして、IT
Oガラス(三容真空社製)を用い、陽極2の上にホール
輸送層11、有機発光層3と電子輸送層12を兼用する
層、陰極4をそれぞれ形成した。そしてシランと窒素の
混合ガスを原料ガスとして、実施例1と同様にして低温
プラズマCVDを行なって、陰極4の上に厚み1.0μ
mの窒化珪素膜を成膜して保護膜6を形成した。
【0049】上記のようにして吸水膜を有しない他は、
図1と同様な構成の有機電界発光素子を作製し、この有
機電界発光素子について、10mA/cm2の定電流を
通電して連続発光試験を500時間行った。その結果、
ダークスポットの発生成長が確認され、また100cd
/m2の発光輝度しか得られなかった。
【0050】
【発明の効果】上記のように本発明の請求項1に係る有
機電界発光素子は、基板と、基板に形成された透明導電
膜からなる陽極と、陽極に形成された有機発光層及び陰
極を備えた有機電界発光素子において、陽極側と陰極側
の外表面の少なくとも一方に、少なくとも一層の吸水膜
と保護膜を設け、保護膜を窒化珪素膜で形成するように
したので、吸水膜による吸水と保護膜による水分の遮断
によって、水分が素子内部に作用することを防止するこ
とができ、しかも保護膜にピンホールやクラックが存在
していても、通過する水分を吸水膜で吸水して素子内部
に水分が作用することを防ぐことができるものであり、
発光特性を長期間に亘って安定して維持することができ
るものである。加えて、窒化珪素膜で形成される保護膜
は水分や酸素の遮断性が高く、発光特性をより長期間に
亘って安定して維持することができるものである。
【0051】また請求項2の発明は、保護膜を低温プラ
ズマCVD法で作製される窒化珪素膜で形成するように
したので、室温程度の低温で保護膜を形成することがで
き、高温の作用で有機発光層を劣化させたりするような
ことがなくなるものである。
【0052】また請求項3の発明は、保護膜を、シラン
と窒素を原料ガスとして、あるいはシランと窒素とアン
モニアを原料ガスとして、低温プラズマCVD法で作製
される窒化珪素膜で形成するようにしたので、シランと
窒素とアンモニアを原料ガスとして成膜することによっ
て、ピンホールの少ない窒化珪素膜を形成することがで
きるものであり、またシランと窒素を原料ガスとして成
膜することによって、原料ガス中のアンモニアが素子の
発光特性を低下させるようなことなく窒化珪素膜を形成
することができるものである。
【0053】また請求項4の発明は、保護膜を、シラン
と窒素を原料ガスとして、あるいはシランと窒素とアン
モニアを原料ガスとして、低温プラズマCVD法で作製
される窒化珪素膜で、複数層に形成するようにしたの
で、シランと窒素を原料ガスとして形成した窒化珪素膜
と、シランと窒素とアンモニアを原料ガスとして形成し
た窒化珪素膜を積層することによって、原料ガス中のア
ンモニアで素子の発光特性を低下させるようなことな
く、ピンホールの少ない保護膜を形成することができる
ものである。
【0054】また請求項5の発明は、保護膜の最表面
に、無機物からなる封止部を形成するようにしたので、
外部からの水分や酸素の浸入を封止部で完全に阻止する
ことができ、一層、長期に亘って発光特性を安定化する
ことができるものである。
【0055】また請求項6の発明は、保護膜の最表面
に、有機物からなる封止部を形成するようにしたので、
外部からの水分や酸素の浸入を封止部で完全に阻止する
ことができ、一層、長期に亘って発光特性を安定化する
ことができるものである。
【0056】また請求項7の発明は、吸水膜を、水分を
化学的に吸着する吸水剤によって形成するようにしたの
で、吸水膜の吸水能力を高く得ることができ、素子に作
用する水分を効果的に除去して、発光特性を一層長期間
に亘って安定して維持することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示す断面図であ
る。
【図2】本発明の実施の形態の他の一例を示す断面図で
ある。
【図3】本発明の実施の形態のさらに他の一例を示す断
面図である。
【図4】本発明の実施の形態のさらに他の一例を示す断
面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 陽極 3 有機発光層 4 陰極 5 吸水膜 6 保護膜 7 封止部
フロントページの続き (72)発明者 城戸 淳二 奈良県北葛城郡広陵町馬見北9−4−3 (72)発明者 近藤 行廣 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 岸上 泰久 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 3K007 AB13 AB18 BB05 CA01 CB01 DA01 DB03 EA01 EB00 FA01 FA02 4K030 AA06 AA13 AA18 BA40 CA06 FA01 HA04 LA18

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、基板に形成された透明導電膜か
    らなる陽極と、陽極に形成された有機発光層及び陰極を
    備えた有機電界発光素子において、陽極側と陰極側の外
    表面の少なくとも一方に、少なくとも一層の吸水膜と保
    護膜を設け、保護膜を窒化珪素膜で形成して成ることを
    特徴とする有機電界発光素子。
  2. 【請求項2】 保護膜を低温プラズマCVD法で作製さ
    れる窒化珪素膜で形成して成ることを特徴とする請求項
    1に記載の有機電界発光素子。
  3. 【請求項3】 保護膜が、シランと窒素を原料ガスとし
    て、あるいはシランと窒素とアンモニアを原料ガスとし
    て、低温プラズマCVD法で作製される窒化珪素膜で形
    成されていることを特徴とする請求項2に記載の有機電
    界発光素子。
  4. 【請求項4】 保護膜が、シランと窒素を原料ガスとし
    て、あるいはシランと窒素とアンモニアを原料ガスとし
    て、低温プラズマCVD法で作製される窒化珪素膜で、
    複数層に形成されていることを特徴とする請求項2又は
    3に記載の有機電界発光素子。
  5. 【請求項5】 保護膜の最表面に、無機物からなる封止
    部が形成されていることを特徴とする請求項1乃至4の
    いずれかに記載の有機電界発光素子。
  6. 【請求項6】 保護膜の最表面に、有機物からなる封止
    部が形成されていることを特徴とする請求項1乃至4の
    いずれかに記載の有機電界発光素子。
  7. 【請求項7】 吸水膜が、水分を化学的に吸着する吸水
    剤によって形成されていることを特徴とする請求項1乃
    至6のいずれかに記載の有機電界発光素子。
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Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004084027A (ja) * 2002-08-28 2004-03-18 Konica Minolta Holdings Inc 機能体及びその形成方法
JP2004095551A (ja) * 2002-08-09 2004-03-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
JP2004139991A (ja) * 2002-10-18 2004-05-13 Lg Electron Inc 有機el素子
WO2004054010A2 (en) * 2002-12-11 2004-06-24 Applied Materials, Inc. Low temperature process for passivation applications
EP1503436A2 (en) * 2003-08-01 2005-02-02 Kabushiki Kaisha Toyota Jidoshokki EL device and method for manufacturing the same
US6882104B2 (en) 2001-11-28 2005-04-19 Hitachi, Ltd. Electroluminescent device with resin protective film
JP2005166655A (ja) * 2003-12-01 2005-06-23 Samsung Electronics Co Ltd 発光装置及びこれを有する表示装置、並びにその製造方法
JP2006338947A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Sanyo Electric Co Ltd 保護膜形成方法および保護膜
JP2007220593A (ja) * 2006-02-20 2007-08-30 Hitachi Displays Ltd 有機el表示装置
CN100358173C (zh) * 2004-05-31 2007-12-26 友达光电股份有限公司 有机发光显示组件及其制造方法
JP2008181832A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 有機エレクトロルミネッセンス発光装置及び有機エレクトロルミネッセンス照明装置
WO2009004690A1 (ja) * 2007-06-29 2009-01-08 Pioneer Corporation 有機半導体デバイスおよび有機半導体デバイスの製造方法
WO2009017024A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Sumitomo Chemical Company, Limited 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
KR100897455B1 (ko) * 2002-06-19 2009-05-14 오리온오엘이디 주식회사 유기 el 소자의 봉지 구조
WO2009099009A1 (ja) * 2008-02-08 2009-08-13 Fuji Electric Holdings Co., Ltd. 有機elディスプレイおよびその製造方法
JP2009224238A (ja) * 2008-03-18 2009-10-01 Toppan Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法
US8362487B2 (en) 2002-06-11 2013-01-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device comprising film having hygroscopic property and transparency
US8822982B2 (en) 2001-06-20 2014-09-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic apparatus
US9105855B2 (en) 2004-05-20 2015-08-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
US9166180B2 (en) 2001-06-20 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device having an organic light emitting diode that emits white light

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9276224B2 (en) 2001-06-20 2016-03-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organic light emitting device having dual flexible substrates
US9178168B2 (en) 2001-06-20 2015-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. White light emitting device
US9166180B2 (en) 2001-06-20 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device having an organic light emitting diode that emits white light
US8822982B2 (en) 2001-06-20 2014-09-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic apparatus
US6882104B2 (en) 2001-11-28 2005-04-19 Hitachi, Ltd. Electroluminescent device with resin protective film
US8362487B2 (en) 2002-06-11 2013-01-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device comprising film having hygroscopic property and transparency
KR100897455B1 (ko) * 2002-06-19 2009-05-14 오리온오엘이디 주식회사 유기 el 소자의 봉지 구조
JP2004095551A (ja) * 2002-08-09 2004-03-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
JP2004084027A (ja) * 2002-08-28 2004-03-18 Konica Minolta Holdings Inc 機能体及びその形成方法
JP4686956B2 (ja) * 2002-08-28 2011-05-25 コニカミノルタホールディングス株式会社 機能体の形成方法
JP2004139991A (ja) * 2002-10-18 2004-05-13 Lg Electron Inc 有機el素子
WO2004054010A2 (en) * 2002-12-11 2004-06-24 Applied Materials, Inc. Low temperature process for passivation applications
WO2004054010A3 (en) * 2002-12-11 2004-11-18 Applied Materials Inc Low temperature process for passivation applications
US7086918B2 (en) 2002-12-11 2006-08-08 Applied Materials, Inc. Low temperature process for passivation applications
EP1503436A2 (en) * 2003-08-01 2005-02-02 Kabushiki Kaisha Toyota Jidoshokki EL device and method for manufacturing the same
EP1503436A3 (en) * 2003-08-01 2010-06-23 Kabushiki Kaisha Toyota Jidoshokki EL device and method for manufacturing the same
JP2005166655A (ja) * 2003-12-01 2005-06-23 Samsung Electronics Co Ltd 発光装置及びこれを有する表示装置、並びにその製造方法
US9349775B2 (en) 2004-05-20 2016-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
US9614012B2 (en) 2004-05-20 2017-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
US10784465B2 (en) 2004-05-20 2020-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device having white light emission
US11063236B2 (en) 2004-05-20 2021-07-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
US11683952B2 (en) 2004-05-20 2023-06-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
US9105855B2 (en) 2004-05-20 2015-08-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
CN100358173C (zh) * 2004-05-31 2007-12-26 友达光电股份有限公司 有机发光显示组件及其制造方法
JP2006338947A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Sanyo Electric Co Ltd 保護膜形成方法および保護膜
JP2007220593A (ja) * 2006-02-20 2007-08-30 Hitachi Displays Ltd 有機el表示装置
JP2008181832A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 有機エレクトロルミネッセンス発光装置及び有機エレクトロルミネッセンス照明装置
WO2009004690A1 (ja) * 2007-06-29 2009-01-08 Pioneer Corporation 有機半導体デバイスおよび有機半導体デバイスの製造方法
US8278126B2 (en) 2007-07-31 2012-10-02 Sumitomo Chemical Company, Limited Method for manufacturing organic electroluminescence device
GB2464636B (en) * 2007-07-31 2011-12-28 Sumitomo Chemical Co Method for manufacturing organic electroluminescence device
GB2464636A (en) * 2007-07-31 2010-04-28 Sumitomo Chemical Co Method for manufacturing organic electroluminescence device
JP2009037811A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Sumitomo Chemical Co Ltd 有機el装置の製造方法
WO2009017024A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Sumitomo Chemical Company, Limited 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
WO2009099009A1 (ja) * 2008-02-08 2009-08-13 Fuji Electric Holdings Co., Ltd. 有機elディスプレイおよびその製造方法
JP2009224238A (ja) * 2008-03-18 2009-10-01 Toppan Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法

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