JP2002122402A - デジタルゲージの検査方法及び装置 - Google Patents

デジタルゲージの検査方法及び装置

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JP2002122402A
JP2002122402A JP2000313895A JP2000313895A JP2002122402A JP 2002122402 A JP2002122402 A JP 2002122402A JP 2000313895 A JP2000313895 A JP 2000313895A JP 2000313895 A JP2000313895 A JP 2000313895A JP 2002122402 A JP2002122402 A JP 2002122402A
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gauge
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digital
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gage
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JP2000313895A
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English (en)
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Giyokubu Chiyou
玉武 張
Masayoshi Yamagata
正意 山縣
Shiro Igasaki
史朗 伊賀崎
Eiichi Tsunoda
栄一 角田
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 デジタルゲージの量子化誤差に拘らず、最小
表示量より高い精度でデジタルゲージの指示精度を検査
可能とする。 【解決手段】 ゲージの最小表示量より短い間隔で測定
スピンドル22を動かし、ゲージの表示が変わった時の
ゲージ8の読みと検査機10の読みを測定値とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタルゲージの
検査方法及び装置に係り、特に、ダイヤルゲージやイン
ジケータ等のデータ出力機能を持つデジタルゲージの指
示精度を検査する際に用いるのに好適な、ゲージの指示
精度をゲージの最小表示量よりも高い精度で検査するこ
とが可能なデジタルゲージの検査方法及び装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、各企業におけるダイヤルゲージ等
の使用数はますます増加する傾向にある。これは、ダイ
ヤルゲージ等を汎用的な比較測定器として使用する従来
の方法に加え、ダイヤルゲージ等を専用測定治具等に取
り付け、ワークの合否を連続して測定する目的で使用さ
れる例が増加しているためである。
【0003】ところで、ダイヤルゲージ等の管理につい
ては、JISあるいはJMAS(日本精密測定機器工業
会規格)によって検査方法が規格化されている。このた
め、従来のダイヤルゲージ等の検査装置では、JISあ
るいはJMAS規格による検査方法を予めプログラム化
しておき、このプログラムに従ってダイヤルゲージ等の
検査を行えるようにした検査機が開発されている(例え
ば特開昭63−91508)。
【0004】このような検査機を用いてダイヤルゲージ
等の検査を行う際には、それぞれの測定位置に測定スピ
ンドルを駆動して、ゲージの読みと検査機の読みを入力
し、そして、それぞれの測定位置の「ゲージの読み−検
査機の読み」を対応の測定位置の指示精度としていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、測定機
がデジタル表示器を備えたデジタルゲージである場合に
は、検査機の読みとゲージの読みが図1に示すような関
係となり、測定スピンドルの位置によって、ゲージの最
小表示量と同じくらいの測定誤差が発生する。即ち、測
定された指示精度には、デジタルゲージの量子化誤差が
含まれてしまう。従って、許容誤差が最小表示量に近い
場合には、実際には指示精度が問題ないデジタルゲージ
であっても、量子化誤差が加わるために不良品扱いにな
ってしまう等の問題点を有していた。
【0006】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、最小表示量よりも高い精度でデジタ
ルゲージの指示精度を検査可能とすることを課題とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象の測
定子に当接される測定スピンドルを所定位置に変位させ
た時の検査対象の表示値により、デジタルゲージの指示
精度を検査する際に、ゲージの最小表示量より短い間隔
で測定スピンドルを動かし、ゲージの表示が変わった時
のゲージの読みと検査機の読みを測定値とするようにし
て、前記課題を解決したものである。
【0008】又、前記測定スピンドルを、測定位置の近
傍でのみ、ゲージの最小表示量より短い間隔で動かすよ
うにして、測定時間が過大にならないようにしたもので
ある。
【0009】本発明は、又、検査対象の測定子に当接さ
れる測定スピンドルを所定位置に変位させた時の検査対
象の表示値により、デジタルゲージの指示精度を検査す
るためのデジタルゲージの検査装置において、ゲージの
最小表示量より短い間隔で測定スピンドルを動かすスピ
ンドル駆動手段と、ゲージの表示が変わった時のゲージ
の読みと検査機の読みを測定値として、ゲージの指示精
度を評価するための精度評価手段とを備えることによ
り、前記課題を解決したものである。
【0010】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施形態を詳細に説明する。
【0011】本発明が適用されたダイヤルゲージ検査機
は、図2に示す如く、大別して、検査機本体10と、操
作ボックス50と、データ処理装置60から構成され
る。
【0012】前記検査機本体10は、検査対象であるデ
ジタル表示のダイヤルゲージ8を固定する保持具12が
上面に取り付けられた筐体14を有する。
【0013】前記筐体14内には、モータ16と、該モ
ータ16によりタイミングベルト18を介して回転駆動
され、軸方向に移動自在なボールねじ20と、該ボール
ねじ20の上端部に設けられた測定スピンドル22と、
前記ボールねじ20の中程に取り付けられた中間部材2
4と、該中間部材24の移動範囲に対向して設けられた
高さ検出用のスケール26と、前記モータ16等からの
複数の信号線が集められた中継基板32とを備えてい
る。
【0014】前記ボールねじ20は、その下端部に取り
付けられたナット34と螺合し、該ナット34に対して
回転且つ軸方向移動自在に軸支されている。前記ナット
34の外側はホイールに形成されており、このホイール
と、前記モータ16の出力軸に取り付けられたホイール
36との間にかけ渡された前記タイミングベルト18を
介して、モータ16の回転動力が伝達されると、ボール
ねじ20は回り止めされており、モータ16の回転量に
応じた距離だけ軸方向(高さ方向)に移動する。
【0015】前記中間部材24のスケール26と対向す
る面には、例えば発光ダイオード等の光源及びフォトセ
ル等の受光素子(図示省略)が取り付けられており、ス
ケール26からの反射光を検出するようにされている。
受光素子からの検出信号は、プリアンプ(図示省略)で
波形整形された後、中継基板32を介して外部に出力さ
れ、測定スピンドル22の位置(高さ)を特定するため
に使用される。
【0016】前記モータ16には、タコジェネレータ
(TG)38が軸支されており、該タコジェネレータ3
8からの速度信号は、中継基板32を介して外部に出力
され、モータ16の回転速度を検出するために使用され
る。
【0017】このような構成を有する検査機本体10で
は、中継基板32を介してモータ16に駆動信号が与え
られると、モータ16が回転し、その駆動力はタイミン
グベルト18を介してナット34に伝達され、ボールね
じ20が軸方向に移動を開始する。測定スピンドル22
が指示された位置に到達すると、測定スピンドル22の
移動は停止し、ダイヤルゲージ8の検査開始状態とな
る。このときの測定スピンドル22の初期位置は、中間
部材24に取り付けられた受光素子からの出力信号に基
づいて特定される。
【0018】そして、所定の検査手順に従って、測定ス
ピンドル22を所定量移動させ、ゲージ先端8aを押圧
移動させることにより、ダイヤルゲージ8の検査が行わ
れる。
【0019】前記操作ボックス50は、使用者によって
操作されるものであり、前記中継基板32に接続されて
いる。この操作ボックス50の前面には、測定値を取り
込むためのデータ入力ボタン51、現在の測定をやり直
すためのリトライボタン52、直前の測定値を取り消す
ためのキャンセルボタン53、測定スピンドル22を駆
動するモータ16を緊急停止するためのモータ停止ボタ
ン54、及び、測定スピンドル22の上下を操作するた
めのジョグダイヤル56が設けられている。
【0020】更に、必要に応じて、前記データ入力ボタ
ン51と同じ働きを持つフットスイッチ58も、前記中
継基板32に接続可能とされている。
【0021】前記データ処理装置60は、例えば汎用の
パーソナルコンピュータシステムから構成されており、
パソコン本体62及びデスプレイ装置64を有する。該
データ処理装置60のパソコン本体62内の例えばPC
Iバスには、前記検査機本体10に接続される制御部7
0が基板として装着されている。図2においては、制御
部70を分かり易くするために、パソコン本体62から
取り出した状態を示している。
【0022】前記制御部70は、図3に詳細に示す如
く、パソコン本体62のPCIバスに接続されるPCI
ブリッジ72と、該PCIブリッジ72に接続され、検
査機本体10の制御を行うCPU74と、制御部70内
のバス76に接続されるカウンタ78、モータコントロ
ーラ80、ジョグカウンタ84、操作ボックスインター
フェイス(I/F)86、フットスイッチI/F88、
ダイヤルゲージの測定値を入力するためのダイヤルゲー
ジI/F90等が設けられている。
【0023】前記CPU74は、ROM、RAM等を内
蔵するワンチップマイクロコンピュータから構成され
る。又、前記モータコントローラ80の出力側には、モ
ータドライバ92が接続されている。該モータドライバ
92の出力側は、中継基板32のモータ(MOTOR)
端子を通じてモータ16に接続されている。前記モータ
コントローラ80は、CPU74から送られてくる測定
スピンドル22の位置に応じた指令値に従って、モータ
16を駆動するための速度指令(制御パルス信号)を、
モータドライバ92に出力する。
【0024】前記カウンタ78は、中継基板32のスケ
ール(SCALE)端子を通じて送られてくる、プリア
ンプ(図示省略)で波形整形された受光素子からの出力
信号を受信し、測定スピンドル22の位置を特定するた
めにカウントする。
【0025】前記ジョグカウンタ84は、中継基板32
のジョグ(JOG)端子を通じて操作ボックス50のジ
ョグダイヤルに接続されている。
【0026】前記操作ボックスI/F86は、中継基板
32の操作ボックス(BOX)端子を通じて、操作ボッ
クス50のシャトルダイヤル、ボタン51〜54等に接
続されている。又、PCIブリッジ72は、PCIバス
を相互接続する回路である。
【0027】前記のようなダイヤルゲージ検査機を用い
た本発明による測定は、図4に示すような手順に従って
行われる。
【0028】即ち、図5に示す如く、まず、例えば測定
位置の1目盛手前の位置に測定スピンドル22を高速で
駆動して(ステップ100及び102)、ダイヤルゲー
ジ8の読みとスケール26によって検出された検査機の
読みをデータ入力し、それぞれPg1、Pm1とする
(ステップ104)。次いで、予め設定した、最小表示
量より短い間隔(例えばゲージの最小表示量の1/1
0)で測定スピンドル22を低速で駆動して(ステップ
106)、ゲージの読みPg2と検査機の読みPm2を
入力する(ステップ108)。
【0029】ステップ110で判定した結果、ステップ
108で入力したゲージの読みPg2が、ステップ10
4で入力したゲージの読みPg1と同じであり、未だゲ
ージの表示が変化していなければ、ステップ112に進
み、ステップ108で測定された読みPg2とPm2
を、それぞれPg1とPm1に代入して、ステップ10
6に戻る。
【0030】一方、ステップ110における判定結果が
否であり、その直前のステップ108におけるゲージの
読みPg2が、ステップ104又は112で入力したゲ
ージの読みPg1と異なれば、直前の移動においてゲー
ジの表示が変わったと判断して、ステップ114に進
み、例えばPg2と(Pm1+Pm2)/2(検査機の
読みの平均)を、それぞれ当該測定位置の測定結果Pg
とPmとする。ここで、検査機の読みの平均を測定結果
Pmとしているのは、中間位置で読みが変わったとする
ことにより、誤差を小さくするためである。
【0031】次いでステップ116に進み、ステップ1
14で決定した測定結果Pg、Pmの差を、当該測定位
置の指示精度とする。
【0032】ステップ116終了後、ステップ118に
進み、全測定位置に対する測定が終了するまで、上記操
作を繰り返す。
【0033】このようにして、ゲージの表示が変わった
時のゲージの読みと検査機の読みを測定値とすること
で、デジタルゲージの量子化誤差を排除した、高精度の
測定が可能となる。
【0034】なお、前記実施形態においては、ゲージの
表示が変わった時の検査機の読みを前回ゲージの表示が
変わった時の値との平均値としていたが、例えば、その
直前の検査機の読みPm2を、そのまま測定結果とする
ことも可能である。又、測定位置の近傍で測定スピンド
ルを低速で駆動する時の間隔も、最小表示量の1/10
に限定されず、変更可能とすることができる。
【0035】なお、前記実施形態においては、本発明
が、ダイヤルゲージ検査機に適用されていたが、本発明
の適用対象はこれに限定されず、ダイヤルゲージ以外の
デジタルゲージの検査にも同様に適用できることは明ら
かである。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、デジタルゲージの量子
化誤差に拘らず、最小表示量より高い精度でデジタルゲ
ージの指示精度を検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の問題点を説明するための、検査機の読み
とゲージの読みの関係の例を示す線図
【図2】本発明の適用対象の一例であるダイヤルゲージ
検査機の全体構成を示す図
【図3】同じく制御部の詳細構成を示すブロック図
【図4】本発明に係る実施形態の処理手順を示す流れ図
【図5】前記実施形態の処理手順による、検査機の読み
とゲージの読みの関係の例を示す線図
【符号の説明】
8…ダイヤルゲージ 10…検査機本体 16…モータ 20…ボールねじ 22…測定スピンドル 24…中間部材 26…スケール 50…操作ボックス 60…データ処理装置 70…制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊賀崎 史朗 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 角田 栄一 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 Fターム(参考) 2F061 AA16 DD23 DD40 FF04 FF34 FF56 FF64 FF72 FF81 GG04 GG10 GG11 HH02 HH72 JJ67 JJ71 JJ84 JJ89 LL22 SS12 SS13 SS14 SS18 SS28 SS43 VV03 VV22 VV25 VV51 VV72

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検査対象の測定子に当接される測定スピン
    ドルを所定位置に変位させた時の検査対象の表示値によ
    り、デジタルゲージの指示精度を検査する際に、 ゲージの最小表示量より短い間隔で測定スピンドルを動
    かし、 ゲージの表示が変わった時のゲージの読みと検査機の読
    みを測定値とすることを特徴とするデジタルゲージの検
    査方法。
  2. 【請求項2】前記測定スピンドルを、測定位置の近傍で
    のみ、ゲージの最小表示量より短い間隔で動かすことを
    特徴とする請求項1に記載のデジタルゲージの検査方
    法。
  3. 【請求項3】検査対象の測定子に当接される測定スピン
    ドルを所定位置に変位させた時の検査対象の表示値によ
    り、デジタルゲージの指示精度を検査するためのデジタ
    ルゲージの検査装置において、 ゲージの最小表示量より短い間隔で測定スピンドルを動
    かすスピンドル駆動手段と、 ゲージの表示が変わった時のゲージの読みと検査機の読
    みを測定値として、ゲージの指示精度を評価するための
    精度評価手段と、 を備えたことを特徴とするデジタルゲージの検査装置。
JP2000313895A 2000-10-13 2000-10-13 デジタルゲージの検査方法及び装置 Pending JP2002122402A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016012536A1 (de) 2015-10-23 2017-04-27 Mitutoyo Corporation Prüfmaschine und Werkzeug hierfür

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016012536A1 (de) 2015-10-23 2017-04-27 Mitutoyo Corporation Prüfmaschine und Werkzeug hierfür
US10119848B2 (en) 2015-10-23 2018-11-06 Mitutoyo Corporation Inspection machine and attachment jig therefor
DE102016012536B4 (de) 2015-10-23 2022-11-10 Mitutoyo Corporation Prüfmaschine und Werkzeug hierfür

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