JP2002102213A - X線撮影装置 - Google Patents

X線撮影装置

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JP2002102213A
JP2002102213A JP2000304109A JP2000304109A JP2002102213A JP 2002102213 A JP2002102213 A JP 2002102213A JP 2000304109 A JP2000304109 A JP 2000304109A JP 2000304109 A JP2000304109 A JP 2000304109A JP 2002102213 A JP2002102213 A JP 2002102213A
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JP
Japan
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panel
ray
fluoroscopy
imaging
detector
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JP2000304109A
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English (en)
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Tadashi Nakamura
正 中村
Shigeyuki Ikeda
重之 池田
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Hitachi Medical Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来、撮影画像と透過画像とを得るために撮
影の透視兼用の一枚のパネルを使用していたが、これを
撮影用パネルと透視用パネルとに独立させることを目的
とする。 【解決手段】 検出器2内に撮影用パネル13と透視用
パネル14とを収容し、撮影の場合には、撮影用パネル
13の検出素子アレイを被検体Mに対向させ、また、透
過撮影の場合には、透視用パネル14の検出素子アレイ
6−bを被検体Mに対向させて、それぞれ、撮影をする
ように構成したもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線撮影装置に
係り、特に撮影と透視の両方を最適に行う技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】X線面検出器においては、撮影画像と透
視画像では要求されるものが異なっている。撮影時にお
けるX線強度は透視時に比べ大きく、S/N比も高い値
となるので、大視野・高分解能で撮影できることが第一
に要求される。透視画像の場合には、検出素子からのデ
ータ読み出し・処理が高速であり、S/N比が高いこと
が要求される。しかしながら、従来の技術においては、
異なる要求がありながら、撮影・透視を1枚のパネルで
併用していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】撮影においては、大視
野・高分解能が最も必要とされ、透視においては視野・
分解能よりもS/Nの改善が最重要とされる。例とし
て、1辺200μmの面積を、従来の様に撮影・透視を
一枚のパネルで併用して透視を行う場合と透視専用のパ
ネルを用いて行う場合を考えてみる。透視・撮影併用パ
ネルでは、撮影時に高分解能が要求されるので、1ピク
セル長が100μmの素子を用い、透視専用パネルでは
透視時の分解能が撮影時程には要求されないので、1ピ
クセル長200μmの素子とする。1ピクセル長100
μmの素子では、1辺200μmの面積を透視する際
に、4素子分必要となる。しかし、透視専用パネルの場
合には、1素子だけでよいこととなる。1ピクセルに
は、検出部の他に読出し駆動部が2辺に設けられてい
る。この読出し駆動部が1ピクセル中1/10を占めて
いるとすると、4素子においては、2/5もの部分が無
効検出部となってしまう。透視専用パネルでは1ピクセ
ル長200μの1素子だけでよいので、読出し駆動部も
2辺のみなので、撮影・透視併用パネルに比べて、無効
検出部が1/4となる。また、30fpsで透視を行う際
に、撮影・透視併用パネルは、透視専用パネルに比べ
て、4倍のスピードで各画素を読み出さなくてはならな
い。このため、必要とされる周波数帯城も広くなり、高
いS/N比を維持することが難しくなる。また、透視を
行う際には、高速処理が要求されるので、撮影・透視併
用パネルにおいては、4素子それぞれから画像情報を読
出した後に、加算処理等を行うビンニング(複数の素子
を一つにまとめること)が用いられる。このため、透視
専用パネルに比べて、分割して複数の回路を使用するた
め、ノイズが増えることによりS/N比が劣化してしま
う。本説明では、撮影・透視併用パネルが2×2、透視
専用パネルが1×1として考えたが、撮影・透視併用パ
ネルが3×3、透視専用パネルが2×2とした時の1画
素の面積が等しい場合でも同じである。本発明の目的
は、撮影・透視それぞれに最適な画像を得る手段を提供
することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明はX線源と、これ
より発生した被検体を透過したX線を検出する検出器
と、この検出器の出力信号を処理する画像処理装置とを
備えたX線撮影装置において、前記検出器に撮影用パネ
ルと透視用パネルとをそれぞれ収容し、撮影時は、前記
撮影用パネルが前記X線源に対向し、透過時には、前記
透視用パネルが前記X線源に対向するように構成したも
のである。
【0005】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
例を説明する。図1は実施例に係るX線撮影装置の概略
構成を示す模式図である。本発明でのX線撮影装置は、
寝台Bに載置された被検体MにX線を照射するX線発生
器1と、被検体Mを透過した放射線を電気信号に変換す
る2次元配列の検出素子群から成るX線面検出器2、面
検出器2から読み出されたデータにより画像を構成する
画像処理装置3、面検出器を回転させるモータ4、X線
面検出器2の状態を制御する制御装置5から構成され
る。X線面検出器2の模式図を図2に示す。X線面検出
器2は、被検体を透過したX線を電荷に変換するX線検
出物質層と、この電荷を読出し電気信号に変換するTF
Tトランジスタで構成されるX線検出素子アレイ6、T
FTトランジスタで変換された電気信号を増幅する増幅
回路7、X線の入射により放出された電荷量分を充電す
る積分回路8、X線検出物質層により変換された電荷を
TFTトランジスタにより読み出すタイミングの制御を
行うライン制御回路9、アナログ信号をデジタル信号に
変換するA/Dコンバータ10、取得画像を一時ためて
おくバッファメモリ11、X線検出器2に電源を供給す
る電源部12から構成される。
【0006】X線発生器1から照射されたX線は、被検
体Mを透過し、X線検出器2内の検出素子アレイ2に入
射する。この際、X線は透過画像情報を持っている。検
出素子アレイ2に入射したX線は電荷に変換され、ライ
ン制御回路9による読出しタイミングで増幅回路7に読
み出され、増幅される。電荷量は積分回路8によって測
定され、A/Dコンバータ10に受け渡される。受け渡
されたアナログ信号はデジタル信号に変換されバッファ
メモリ11に蓄積される。まとまった画像情報がバッフ
ァメモリ11に蓄積された時点で、画像処理装置3に転
送され処理され、画像が構成される。
【0007】図3は本発明の第1の実施例を示すもの
で、撮影用パネル13は、その下面、すなわち、被検体
Mに対応する面に、検出素子アレイ6−aを配置する。
この撮影用パネル13においては、検出素子アレイ6−
aの面積が、後述の透視用パネルの検出素子アレイより
も広く、素子密度も高くなるように構成する。
【0008】透視用パネル14は、撮影用パネル13の
上側に配置する。この撮影用パネル13の上面には、検
出素子アレイ6−bを設ける。このアレイ6−bの面積
はアレイ6−aより小さく素子数も少なく構成する。面
検出器2内にはマルチプレクサチャネル15(MPX)
を設け、これを撮影用パネル13および透視用パネル1
4の出力側に接続する。検出器2とモータ4との間に
は、検出器2を支持する支持器16を設け、モータ4の
駆動により、支持器16が作動して、検出器2が回動す
るようにする。図3の検出器2の状態では、撮影用パネ
ル13の検出素子アレイ6−aは被検体Mに向いている
が、前記支持器16が作動した場合には、撮影用パネル
13は180度回動して、透視用パネル14の位置にな
り、また、透視用パネル14も180度回動して撮影用
パネル13の位置になり、その検出素子アレイ6−bの
面が被検体M側に向くように構成する。図4は、この状
態を示した図である。上記構成において、撮影を行う際
には、制御装置5(図1)から制御信号を送り、支持器
16により、撮影用パネル13が検出器2の下側で、透
視用パネル14が検出器2の上側に位置するようにす
る。すると、撮影用パネル13の検出素子アレイ6−a
は被検体M側に向く。図3はこの状態を示している。こ
の状態で、X線管1により被検体MにX線を透過する
と、検出素子アレイ6−aが透過信号を受信し、その出
力を図2の画像処理装置3に送る。
【0009】次に、透過を行う場合には、モータ4と支
持器16の作用により、撮影用パネル13と透視用パネ
ル14とを180度回動させ、その位置を入れ替えさせ
る。そうすると、透視用パネル14の検出素子アレイ6
−bが被検体M側に面するようになる。図4はこの状態
を示す。この状態で透過撮影が行われる。
【0010】次に本発明の第2の実施例を図5および図
6を用いて説明する。検出器2の横方向の長さは、図
3、図4の検出器2のそれよりも、2倍程度長く構成す
る。すなわち、撮影用パネル13の横方向の長さより、
2倍程度の横方向の長さの検出器12とする。この検出
器2内には撮影用パネル13と透視用パネル14とを重
ねて収集する。そして、両パネル13、14ともに、モ
ータ(図示せず)により、左右にスライドされるように
する。撮影の場合は、図5に示すように、モータによ
り、撮影用パネル13のみを右側の位置13’にスライ
ドさせ、被検体Mに対向させて撮影を行い、撮影が終了
すると、元の位置に戻る。透過撮影の場合には、図6に
示すように、透視用パネル14のみを右側にスライドさ
せて被検体Mに対向させて透過撮影を行い、これが終了
すると元の位置に戻る。第2の実施例では、パネル1
3、14ともに、その検出素子アレイ6−a、6−bが
被検体Mを向いて設定されるので、第1の実施例の図
3、図4のように、患者の目の前で検出器を回動させる
必要がなく、患者に不要な精神的不安を与えることが少
なくてすむ。
【0011】図7は図5、図6の応用例を示すもので、
透過撮影の場合に、撮影用パネル13および透視用パネ
ル14をともに右側にスライドさせ、それぞれ、位置1
3’、14’に位置決めする。この場合、両パネル1
3、14ともに検出素子アレイ6−a、6−bが被検体
M側に向いているので、透過の撮影の際、撮影用パネル
13を、透視用パネル14を透過したX線強度の測定に
用いることにより、自動露出調整・散乱線補正等に使用
することができる。
【0012】本発明の第3の実施例を図8に示す。検出
器2の大きさは、第2の実施例の検出器2と同等のもの
とする。この検出器2には、撮影用パネル13、透視用
パネル14を収容する。撮影用パネル13は、モータの
作用により、第1のステップとして右側にスライドし、
第2のステップとして透視用パネル14と同レベルの位
置13’まで下降させる。一方、透視用パネル14は、
右側のみにスライドさせて位置14’に位置決めし、撮
影用パネル14の位置14’と平行に並べる。これによ
り、両パネル13、14の検出素子アレイ6−a、6−
bは被検体に直接向くようになる。この第3の実施例で
は、撮影範囲が広くなるため、被検体Mが大きい場合に
も対応可能になる。この際、両パネル13、14間で特
性が異なるため、それぞれの検出素子アレイの特性の補
正が必要になるが、これは公知の手段で行うことができ
る。
【0013】
【発明の効果】この発明のX線診断装置によれば、撮影
用・透過用の両方のパネルを目的に応じて使い分けるこ
とで、それぞれの用途に適した画像を劣化させることな
く得ることができる。特に撮影用パネルにおいては、低
速読出し専用化を図ることが可能で、S/Nの向上が期
待できる。更に、透視パネルにおいても、隣接する画素
同志を加算する(ビンニング)ことが不要、もしくは、
少ない画素のビンニングで使用できるので、回路数が少
なくなることでノイズが低減可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るX線撮影装置の概略構成を示す模
式図である。
【図2】X線面検出器の構成を示す模式図である。
【図3】第1実施例において、撮影を行う際のX線面検
出器周辺の模式図である。
【図4】第1実施例において、透過を行う際のX線面検
出器周辺の模式図である。
【図5】第2実施例における、撮影を行う際のX線面検
出器の模式図である。
【図6】第2実施例における、透過を行う際のX線面検
出器の模式図である。
【図7】本発明の第2実施例における、撮影用パネルを
測定用に用いる場合のX線面検出器の模式図である。
【図8】本発明の第3実施例において、広範囲の撮影を
行う際のX線面検出器の模式図である。
【符号の説明】
1 X線発生器 2 X線面検出器 3 画像処理装置 4 モータ 5 制御装置 6 検出素子アレイ 7 増幅回路 8 積分回路 9 ライン制御回路 10 A/Dコンバータ 11 バッファメモリ 12 電源部 13 撮影用パネル 14 透視用パネル 15 MPX 16 X線面検出器支持器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線源と、これより発生した被検体を透
    過したX線を検出する検出器と、この検出器の出力信号
    を処理する画像処理装置とを備えたX線撮影装置におい
    て、前記検出器に撮影用パネルと透視用パネルとをそれ
    ぞれ収容し、撮影時は、前記撮影用パネルが前記X線源
    に対向し、透過時には、前記透視用パネルが前記X線源
    に対向するように構成したことを特徴とするX線撮影装
    置。
JP2000304109A 2000-10-03 2000-10-03 X線撮影装置 Pending JP2002102213A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012127952A (ja) * 2010-12-14 2012-07-05 General Electric Co <Ge> 一体型x線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを製造する方法
JP2012125573A (ja) * 2010-12-14 2012-07-05 General Electric Co <Ge> 積重ね型フラット・パネルx線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを製造する方法
WO2013099592A1 (ja) * 2011-12-27 2013-07-04 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、プログラムおよび放射線画像撮影方法
JP2014217615A (ja) * 2013-05-09 2014-11-20 株式会社東芝 X線診断装置

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JP2012125573A (ja) * 2010-12-14 2012-07-05 General Electric Co <Ge> 積重ね型フラット・パネルx線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを製造する方法
WO2013099592A1 (ja) * 2011-12-27 2013-07-04 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、プログラムおよび放射線画像撮影方法
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