JP2002099409A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2002099409A
JP2002099409A JP2000290376A JP2000290376A JP2002099409A JP 2002099409 A JP2002099409 A JP 2002099409A JP 2000290376 A JP2000290376 A JP 2000290376A JP 2000290376 A JP2000290376 A JP 2000290376A JP 2002099409 A JP2002099409 A JP 2002099409A
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Tamotsu Yuji
保 湯地
Yoichi Hirata
陽一 平田
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ソフトウェアのバグに対して、その不具合の
あるプログラム領域を修正するのではなくデータ領域の
情報によってデータ領域を正しい値に修正する手段で不
具合を解決する場合、従来技術ではメイン処理に一度だ
けしか実行することができなかった。そのため、各処理
との同期がとれない場合に不具合が修正できないことが
あった。 【解決手段】 本半導体装置は、実際の修正数により参
照回数を制限する事により、その演算処理時間増加を解
決することが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マスクROMを搭
載したマイクロコンピュータのソフトウエアのバグに対
して、マスクROMを変更せずにデータ領域に作用をす
ることによって、ソフトウエアのバグによる不具合、及
び演算処理時間増加を解決する方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図4は本発明の実施の形態1における半
導体装置の構成を示すブロック図である。
【0003】図において、10は各種電子機器に搭載さ
れ機器の動作制御などを行う制御手段であるマイクロコ
ンピュータ、8はマイクロコンピュータ10の外部に設
けられマイクロコンピュータ10と接続されている記憶
手段である不揮発性メモリである。不揮発性メモリ8の
内部には、後述するRAM2における任意のアドレスで
ある第1のアドレス21を指定するソースアドレス8
1、RAM2の第1のアドレス21内の第1のデータ2
1aにおける所定のビットを抽出するために演算処理を
行う第1のマスクデータ82、前述の演算結果と比較す
る比較データ83、前述の比較結果によりRAM2にお
ける第2のアドレス22内の第2のデータ22aにおけ
る所定のビットを他の値に書き換えるための第2のマス
クデータ84、後述する第2のアドレス22を特定する
ターゲットアドレス85とが配され、それぞれマイクロ
コンピュータ開発者や使用者によってデータを変更する
ことができるものである。なお、これらのデータがマイ
クロコンピュータ開発者によって書き込まれるのは、本
機器において誤動作が発生しマイクロコンピュータ10
のバグが発覚した時で、データが書き込まれる前はそれ
ぞれのデータとして「0」が書き込まれている。
【0004】3はマイクロコンピュータ10内に設けら
れ各種演算処理動作を行う中央演算処理装置(以下、C
PUと記す)、2はマイクロコンピュータ10内に設け
られマスクROM1に記録されたプログラムとともにマ
スクROM1を介してCPU3を制御するデータを記録
した書き換え可能なメモリであるRAM(Random Acces
s Memory)で、21及び22はRAM2内のデータ領域
である第1及び第2のアドレスであり、第1のアドレス
21に書き込まれた第1のデータ21aが特定のデータ
の時、第2のアドレス22に書き込まれた第2のデータ
22aが所定の結果を出力するようになっている。21
a及び22aは第1及び第2のアドレス21及び22に
それぞれ書き込まれている第1及び第2のデータであ
る。
【0005】4は不揮発性メモリ8からの第1のマスク
データ82と第1のデータ21aとを論理演算し第1の
データ21aにおける所定のビットを抽出する第1の演
算手段である第1の演算器で、本実施の形態では乗算動
作を行うものとしたが、これに限定されるものではな
い。5は第1の演算器4の演算結果と不揮発性メモリ8
からの比較データ83とを比較する比較手段である比較
器、7は比較器5の比較結果により開放(OFF)/接
続(ON)切換を行う切換手段である切換器で、後述す
る第2の演算器6の演算結果を第2のデータ22aと書
き換えるか否かを切り替えるものである。本実施の形態
の切換器7は、比較器5の比較結果が真(第1の演算器
4の演算結果と比較データ83とが一致している場合)
はONとなり、第2の演算器6の演算結果に基づき第2
のデータ22aの所定ビットが正しい値に書き換えられ
るが、比較器5の比較結果が偽(第1の演算器4の演算
結果と比較データ83とが不一致の場合)は切換器7は
OFFとなり、第2のデータ22aは書き換えられな
い。
【0006】6は第2のデータ22aと第2のマスクデ
ータ84とで論理演算する第2の演算手段である第2の
演算器で、本実施の形態では論理加算の処理を行うもの
としたが、これに限定されるものではない。1はマイク
ロコンピュータ10の内部に設けられたマスクROM
(ROM=Read Only Memory)で、CPU3をコントロ
ールするソフトウエアが書き込まれている。第2の演算
器6は、第2のデータ22aにおける所定ビットの値が
正しくない値である場合に、所定ビットが正しい値に設
定された第2のマスクデータ84と論理演算を行い、第
2のデータ22aの所定ビットを正しい値に修正するも
のである。
【0007】上記マスクROM1、RAM2、CPU
3、第1の演算器4、比較器5、第2の演算器6、切換
器7はマイクロコンピュータ10内に設けられている。
【0008】マイクロコンピュータ開発者は、マイクロ
コンピュータ10のバグの原因となっているRAM2に
おけるアドレスやビット、バグがあるアドレスやビット
を抽出するためのソースアドレス81や第1のマスクデ
ータ82、バグの有無を確認するための比較データ8
3、RAM内のデータを書き換えるための第2のマスク
データ84、ターゲットアドレス85は、予め解ってい
るものとし、不揮発性メモリ8に必要なデータを予め書
き込んでおく。
【0009】以上のように構成された本実施の形態の半
導体装置について、図1及び図2を用いてその動作を説
明する。
【0010】まず、マイクロコンピュータ10には、予
め不揮発性メモリ8が接続された状態で機器内に組み込
まれている。不揮発性メモリ8内の全てのアドレスに
は、組み込み当初は「0」が書き込まれていて、RAM
2内のデータを不用意に書き換えないようにしている。
【0011】次に、マイクロコンピュータ10が誤動作
したり、マイクロコンピュータ10の機能の一部を変更
したい時、マイクロコンピュータ10内のソフトウェア
の一部を変更する必要がある。本実施の形態では、マイ
クロコンピュータ10内のデータ領域をRAM2で構成
しているため、任意に書き換えることが可能である。書
き換えるためには、書き換えるためのデータや、書き換
えるアドレスを特定するためのデータを、マイクロコン
ピュータ開発者が不揮発性メモリ8に書き込むことで、
RAM2内のデータを書き換えることが可能になる。
【0012】不揮発性メモリ8に各データを書き込む
と、不揮発性メモリ8内のソースアドレス81によっ
て、RAM2内の任意のアドレスである第1のアドレス
21を選び、その第1のアドレス21に書き込まれた第
1のデータ21aと、不揮発性メモリ8内の第1のマス
クデータ82とを、第1の演算器4で論理演算し、第1
のデータ21aにおける所定のビットを読み出す。その
演算結果と比較データ83とを比較器5で比較する。そ
の比較結果に応じて、切換器7を切り換えるよう制御し
ている。比較データ83は、その所定ビットの値が、第
1の演算器4の演算結果の所定ビットの値と一致するよ
うなデータを書き込んでおき、この比較データ83と第
1の演算器4の演算結果とが一致した時は、第2のアド
レス22の第2のデータ22aの所定ビットの値を修正
できるよう、切換器7をONにするよう制御する。
【0013】比較器5における比較の結果、第1の演算
器4のデータと比較データ83とが一致した場合は、切
換器7をONにして第2のデータ22aを書き換える。
また、比較器5における比較の結果、第1の演算器4の
データと比較データ83とが不一致である場合は、切換
器7をOFFにして第2のデータ22aを書き換えな
い。
【0014】一方で、不揮発性メモリ8内のターゲット
アドレス85によってRAM2内の第2のアドレス22
を指定し、第2のアドレス22内の第2のデータ22a
の所定のビットを第2の演算器6に読み出す。第2の演
算器6では、不揮発性メモリ8内の第2のマスクデータ
84と論理演算を行い、切換器7に出力している。ここ
で、切換器7がONの場合は第2の演算器6の演算結果
を第2のデータ22aに書き込む(所定ビットを書き換
える)が、切換器7がOFFの場合は第2の演算器6の
演算結果は第2のデータ22aに書き込まれず、第2の
データ22aは何等変更されない。
【0015】ここで、第1のデータ21aと第2のデー
タ22aとはそれぞれ対になって動作するものであり、
第1のデータ21aの条件に基づいて、前記条件に応じ
た結果を第2のデータ22aとして出力するものであ
る。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、データ領域の情報によってデータ領域を
正しい値に修正する手段をメイン処理に一度だけしか実
行することができなかった。そのため、メイン処理内の
各サブルーチンとの同期がとれない場合に不具合が修正
できないことがあった。
【0017】そこで、データ領域の条件によってデータ
領域を正しい値に修正する処理を、あらかじめメインプ
ログラムの複数個所で設定することで、同期合わせが必
要な不具合に対しても、データ領域をタイミングよく修
正することによってソフトウエアのバグによる不具合を
解決することが可能となったが、複数箇所で修正データ
導入可能数の全ての処理を行う為、演算処理時間が増加
してしまう場合が発生した。
【0018】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、実行制限データを書き換え可能な不揮発性メモリ設
けることにより、導入可能数を調整可能なものとし、そ
れにより演算処理時間増加による不具合を解決すること
を目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の半導体装置は、プログラムが記憶されたプロ
グラム領域を有するマスクROMと前記プログラムの動
作に用いるデータを記憶したデータ領域を有する書き換
え可能なメモリと中央演算処理手段とを備えた制御手段
と、前記メモリにおける任意のデータ領域を書き換え可
能な任意のデータを複数記憶する記憶手段とを備えたも
のである。
【0020】この構成によって、修正データ導入可能の
最大数に満たない修正数であるが、演算処理時間に余裕
がない場合対しても、実行制限データにより実行回数を
減少させることや、実行可能IDを選択することにより
不具合を解決することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、プログラムが記憶されたプログラム領域を有するマ
スクROMと前記プログラムの動作に用いるデータを記
憶したデータ領域を有する書き換え可能なメモリと中央
演算処理手段とを備えた制御手段と、前記メモリにおけ
る任意のデータ領域を書き換え可能な任意のデータを複
数記憶する記憶手段とを備え、同期合わせが必要なソフ
トウェアのバグによる不具合に対しても、マスクROM
を変更せずに不具合を解決することができるという作
用、演算処理時間増加による不具合を解決することがで
きるという作用とを有する。
【0022】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。
【0023】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1における半導体装置の構成を示すブロック図であ
る。
【0024】図において、10は各種電子機器に搭載さ
れ機器の動作制御などを行う制御手段であるマイクロコ
ンピュータ、8はマイクロコンピュータ10の外部に設
けられマイクロコンピュータ10と接続されている記憶
手段である不揮発性メモリである。不揮発性メモリ8の
内部には、後述するRAM2における任意のアドレスで
ある第1のアドレス21を指定するソースアドレス8
1、RAM2の第1のアドレス21内の第1のデータ2
1aにおける所定のビットを抽出するために演算処理を
行う第1のマスクデータ82、前述の演算結果と比較す
る比較データ83、前述の比較結果によりRAM2にお
ける第2のアドレス22内の第2のデータ22aにおけ
る所定のビットを他の値に書き換えるための第2のマス
クデータ84、後述する第2のアドレス22を特定する
ターゲットアドレス85とが配され、それぞれマイクロ
コンピュータ開発者や使用者によってデータを変更する
ことができるものである。なお、これらのデータがマイ
クロコンピュータ開発者によって書き込まれるのは、本
機器において誤動作が発生しマイクロコンピュータ10
のバグが発覚した時で、データが書き込まれる前はそれ
ぞれのデータとして「0」が書き込まれている。
【0025】3はマイクロコンピュータ10内に設けら
れ各種演算処理動作を行う中央演算処理装置(以下、C
PUと記す)、2はマイクロコンピュータ10内に設け
られマスクROM1に記録されたプログラムとともにマ
スクROM1を介してCPU3を制御するデータを記録
した書き換え可能なメモリであるRAM(Random Acces
s Memory)で、21及び22はRAM2内のデータ領域
である第1及び第2のアドレスであり、第1のアドレス
21に書き込まれた第1のデータ21aが特定のデータ
の時、第2のアドレス22に書き込まれた第2のデータ
22aが所定の結果を出力するようになっている。21
a及び22aは第1及び第2のアドレス21及び22に
それぞれ書き込まれている第1及び第2のデータであ
る。
【0026】4は不揮発性メモリ8からの第1のマスク
データ82と第1のデータ21aとを論理演算し第1の
データ21aにおける所定のビットを抽出する第1の演
算手段である第1の演算器で、本実施の形態では乗算動
作を行うものとしたが、これに限定されるものではな
い。5は第1の演算器4の演算結果と不揮発性メモリ8
からの比較データ83とを比較する比較手段である比較
器、7は比較器5の比較結果により開放(OFF)/接
続(ON)切換を行う切換手段である切換器で、後述す
る第2の演算器6の演算結果を第2のデータ22aと書
き換えるか否かを切り替えるものである。本実施の形態
の切換器7は、比較器5の比較結果が真(第1の演算器
4の演算結果と比較データ83とが一致している場合)
はONとなり、第2の演算器6の演算結果に基づき第2
のデータ22aの所定ビットが正しい値に書き換えられ
るが、比較器5の比較結果が偽(第1の演算器4の演算
結果と比較データ83とが不一致の場合)は切換器7は
OFFとなり、第2のデータ22aは書き換えられな
い。
【0027】6は第2のデータ22aと第2のマスクデ
ータ84とで論理演算する第2の演算手段である第2の
演算器で、本実施の形態では論理加算の処理を行うもの
としたが、これに限定されるものではない。1はマイク
ロコンピュータ10の内部に設けられたマスクROM
(ROM=Read Only Memory)で、CPU3をコントロ
ールするソフトウエアが書き込まれている。第2の演算
器6は、第2のデータ22aにおける所定ビットの値が
正しくない値である場合に、所定ビットが正しい値に設
定された第2のマスクデータ84と論理演算を行い、第
2のデータ22aの所定ビットを正しい値に修正するも
のである。
【0028】上記マスクROM1、RAM2、CPU
3、第1の演算器4、比較器5、第2の演算器6、切換
器7はマイクロコンピュータ10内に設けられている。
【0029】マイクロコンピュータ開発者は、マイクロ
コンピュータ10のバグの原因となっているRAM2に
おけるアドレスやビット、バグがあるアドレスやビット
を抽出するためのソースアドレス81や第1のマスクデ
ータ82、バグの有無を確認するための比較データ8
3、RAM内のデータを書き換えるための第2のマスク
データ84、ターゲットアドレス85は、予め解ってい
るものとし、不揮発性メモリ8に必要なデータを予め書
き込んでおく。
【0030】ここで、ソースアドレス81、マスクデー
タ82、比較データ83、マスクデータ84、ターゲッ
トアドレス85、指定ID86、実行制限データ87
は、不揮発性メモリ8によってデータを変更することが
できるものである。
【0031】マスクROM1には、CPU3をコントロ
ールするソフトウエアを書き込んでおき、そのメインプ
ログラム上では、設定位置に対応した起動IDnを複数
箇所で設定しておく。メインプログラム実行中にある任
意の起動IDnが設定された場合、起動IDnと指定I
D86とを比較手段である比較器9で比較する。得られ
た比較結果が真である場合、切換手段である切換器10
をマスクROM1の演算部側へ切り換え、ソースアドレ
スデータ81によってRAM2の任意のアドレスである
第1のアドレス21を選び、そのアドレスのRAMの内
容とマスクデータ82とを第1の演算器4により論理演
算し、その得られた結果と比較データ83とを比較器5
で比較する。
【0032】また、ターゲットアドレス85によって任
意のアドレスである第2のRAMを選びそのRAMの内
容22を、RAMの内容22とマスクデータ84との第
2の演算器6によって得られる論理演算結果に書き変え
るか否かを、比較器5の比較結果よって切り換える。
【0033】以上の方法で、ソフトウエアのバグを擬似
的に修正し、ソフトウエアのバグによる不具合を解決す
る処理を動作させる。
【0034】また、比較器9で得られた比較結果が偽で
ある場合、第1のアドレス21のデータ領域の条件によ
って、第2のアドレス22のデータ領域を修正する処理
は動作させない。続いて次の修正データに基づき同様の
処理を行うが、その前に現在の修正回数と実行制限デー
タ87とを比較器11で比較し、比較器11で得られた
比較結果が偽である場合、現在の起動IDでの領域修正
処理を終了し、真であれば、領域修正処理を続行する。
【0035】以上のように構成された本実施の形態の半
導体装置について、図2及び図3を用いてその動作を説
明する。
【0036】まず、メインプログラム実行中(ステップ
201)に起動ID1が設定された場合(ステップ20
2)、起動ID1での領域修正処理を実行する(ステッ
プ203)。その後、同様に起動ID2及び起動ID3
も設定され(ステップ204〜206)、IDnの処理
終了(ステップ207〜209)で、ステップ201
(ID1の設定処理)へと戻り、同様の処理を継続す
る。
【0037】図3で各起動IDでの領域修正処理の動作
を説明する。まず、データ領域修正回数と実行制限デー
タ87とを比較器11で比較する。例えば、実行制限デ
ータの下位4bitが2で、データ領域修正回数が2で
あれば、データ領域修正回数と実行制限データ87とを
比較した結果は実行制限分の処理は終了していることに
なるので現在の起動IDでの領域修正処理は終了するこ
とになる。さらに実行制限データ上位4bitの実行可
能ID情報参照することにより、実行可能IDでなけれ
ば領域修正処理を終了する。
【0038】次に、起動ID1と指定ID86とを比較
器9で比較する。例えば、それぞれ8ビットのデータで
実現するとし、起動ID1に「00000001」、指
定ID86に「00000011」が入っているとす
る。起動ID1と指定ID86とを比較器9で比較した
結果は偽であるので、前記記載の第1のアドレス21の
データ領域の条件によって、第2のアドレス22のデー
タ領域を修正する処理は動作しない。
【0039】次に、メインプログラム実行中に起動ID
1が設定された場合、起動ID1と指定ID86とを比
較器9で比較する。起動ID1に「00000001」
が入っているとすると、起動ID1と指定ID86とを
比較器9で比較した結果は真であるので、前記記載の第
1のアドレス21のデータ領域の条件によって、第2の
アドレス22のデータ領域を修正する処理は動作する。
【0040】以上のように本実施の形態1によれば、メ
インプログラム上に複数箇所で起動IDを設定し、不揮
発性メモリ内に任意RAMの値を変更する指定ID領域
を設けることで、メインプログラムの、RAMのデータ
を変更したい場所でRAMのデータを変更することがで
きるので、同期合わせが必要なソフトウェアバグに対し
ても、不具合を解決することができ、多くの修正データ
領域を持つ事による演算処理時間増加に伴う不具合をも
解決することができる。
【0041】
【発明の効果】以上のように本発明は、マスクROM搭
載のマイクロコンピュータにおいて、同期合わせが必要
なソフトウエアのバグに対しても、マスクROMを変更
せずに不具合を解決することができ、また、プログラム
領域でなくデータ領域に作用するために、小容量の不揮
発性メモリによる低い費用での実現が可能であるという
優れた効果が得られ、本機能を複数もうけ、それらをカ
スケードに結合することによって、より複雑なソフトウ
エアのバグの解決が可能になる。
【0042】さらに、前もって演算処理時間を考慮せず
に、最大数の修正データ領域を確保し、使用する分だけ
実行制限を設ける事ができるので、柔軟な問題解決方法
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1における半導体装置の構
成を示すブロック図
【図2】同実施の形態1における半導体装置の構成を示
すブロック図
【図3】同実施の形態における半導体装置の動作説明の
ための説明図
【図4】半導体装置の構成を示すブロック図
【図5】従来の半導体装置の構成を示すブロック図
【符号の説明】
1 マスクROM 2 RAM 3 CPU 4 論理演算器 5 比較器 6 論理演算器 7 切換器 8 不揮発性メモリ 9 比較器 10 切換器 11 比較器 12 切換器 21 RAMの中の任意のアドレスの内容 22 RAMの中の任意のアドレスの内容 81 ソースアドレス 82 マスクデータ 83 比較データ 84 マスクデータ 85 ターゲットアドレス 86 指定ID 87 実行制限データ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B033 AA04 BB01 BF00 FA11 5B062 AA08 CC01 DD04 DD05 DD10 JJ08 5B076 EB04

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プログラムが記憶されたプログラム領域
    を有するマスクROMと前記プログラムの動作に用いる
    データを記憶したデータ領域を有する書き換え可能なメ
    モリと中央演算処理手段とを備えた制御手段と、前記メ
    モリにおける任意のデータ領域を書き換え可能な任意の
    データを複数記憶する記憶手段とを備えたことを特徴と
    する半導体装置。
  2. 【請求項2】 記憶手段は、メモリ内の第1のアドレス
    を指定するソースアドレスと、前記第1のアドレスに書
    き込まれた第1のデータの所定のビットの値を読み出す
    ための第1のマスクデータと、前記第1のマスクデータ
    と前記第1のデータとで演算処理した演算の結果データ
    と比較するための比較データと、前記メモリ内の第2の
    アドレスを指定するターゲットアドレスと、前記第2の
    アドレスに書き込まれた第2のデータと演算するための
    第2のマスクデータと、前記制御手段により所定の前記
    ソースアドレスと前記第1及び第2ののマスクデータと
    前記比較データと前記ターゲットアドレスとを指定する
    際に動作する指定IDとを備えたことを特徴とする半導
    体装置。
  3. 【請求項3】 プログラムが記憶されたプログラム領域
    を有するマスクROMと前記プログラムの動作に用いる
    データを記憶したデータ領域を有する書き換え可能なメ
    モリと中央演算処理手段とを備えた制御手段と、前記メ
    モリにおける任意のデータ領域を書き換え可能な任意の
    データを複数記憶する記憶手段とを備え、前記マスクR
    OMには、処理を起動する起動IDと、前記起動IDと
    前記記憶手段に記憶された指定IDとを比較する比較手
    段と、前記比較手段の比較結果により前記メモリのデー
    タ領域の書き換え動作を実行するか否かを切り換える切
    換手段を備えたことを特徴とする半導体装置。
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