JP2002098595A - バイポーラ・トランジスタのカーバチャと温度関数を補償する回路 - Google Patents
バイポーラ・トランジスタのカーバチャと温度関数を補償する回路Info
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- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
- G05F3/222—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
- G05F3/225—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a current or voltage as a predetermined function of the temperature
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 温度センサなどの温度が影響する製品におけ
る回路の温度の変化に対するリニア特性を改善する。 【解決手段】 動作範囲にわたってカーバチャがオフセ
ットである回路を用いてバイポーラ接合ベース・エミッ
タの温度関数におけるカーバチャをキャンセルさせる
る回路の温度の変化に対するリニア特性を改善する。 【解決手段】 動作範囲にわたってカーバチャがオフセ
ットである回路を用いてバイポーラ接合ベース・エミッ
タの温度関数におけるカーバチャをキャンセルさせる
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は一般的に電子回路に
関し、より詳細には本発明はアナログ電子回路に関す
る。
関し、より詳細には本発明はアナログ電子回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】アナログ回路は、例えば温度、圧力、音
及び広い範囲にわたる値が連続的に変わる実世界現象を
現すリニア信号又はアナログ信号で動作する。これはバ
イナリ演算の「1」又は「0」で現されるデジタル信号
とは明確に区別される。
及び広い範囲にわたる値が連続的に変わる実世界現象を
現すリニア信号又はアナログ信号で動作する。これはバ
イナリ演算の「1」又は「0」で現されるデジタル信号
とは明確に区別される。
【0003】温度センサ製品においては、絶対温度に比
例的な信号(PTAT)及び絶対温度にコンプリメント
な信号(CTAT:相補的な信号)を得て操作する。P
TAT信号すなわち電流は、一般的に異なった電流密度
で動作している二つのバイポーラ接合(トランジスタや
ダイオード)の電圧差を抵抗の両端に加えることで発生
する。バイポーラ接合を通して流れる電流は一定又は指
数関数的であるべきである。CTAT電流は単一のバイ
ポーラ接合(トランジスタやダイオード)からの電圧を
抵抗の両端に加えることで発生する。
例的な信号(PTAT)及び絶対温度にコンプリメント
な信号(CTAT:相補的な信号)を得て操作する。P
TAT信号すなわち電流は、一般的に異なった電流密度
で動作している二つのバイポーラ接合(トランジスタや
ダイオード)の電圧差を抵抗の両端に加えることで発生
する。バイポーラ接合を通して流れる電流は一定又は指
数関数的であるべきである。CTAT電流は単一のバイ
ポーラ接合(トランジスタやダイオード)からの電圧を
抵抗の両端に加えることで発生する。
【0004】電流が一定か温度の指数関数であるバイポ
ーラ接合ダイオード又はトランジスタの接合電圧は温度
にほぼ比例する。温度の関数でリニアでない部分はカー
バチャ(curvature)と呼ばれている。この負の温度係数
はバンドギャップ・レファレンス(reference)、温度セ
ンサ及びその他の製品にとって好ましくない。多くの場
合、カーバチャがキャンセルされた厳密なリニア応答が
理想的である。
ーラ接合ダイオード又はトランジスタの接合電圧は温度
にほぼ比例する。温度の関数でリニアでない部分はカー
バチャ(curvature)と呼ばれている。この負の温度係数
はバンドギャップ・レファレンス(reference)、温度セ
ンサ及びその他の製品にとって好ましくない。多くの場
合、カーバチャがキャンセルされた厳密なリニア応答が
理想的である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、バイポーラ
接合ベース−エミッタ電圧の温度関数におけるカーバチ
ャをキャンセルすることに向けられている。
接合ベース−エミッタ電圧の温度関数におけるカーバチ
ャをキャンセルすることに向けられている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明よれば、バイポー
ラ接合ベース・エミッタの温度関数におけるカーバチャ
が、動作範囲にわたってカーバチャが相殺された回路を
用いてキャンセルされる。
ラ接合ベース・エミッタの温度関数におけるカーバチャ
が、動作範囲にわたってカーバチャが相殺された回路を
用いてキャンセルされる。
【0007】2つのカドラント(すなわち低温カーバチ
ャと高温カーバチャ)に対するカーバチャが接合電圧に
対する電流対温度の非リニア部分を相殺するために組み
合わされる。1実施態様においては、第1電流源、すな
わちPTAT−CTATをダイオード接続されたトラン
ジスタを2つ直列に接続したものに接続することによっ
て1カドラントが形成される。第2電流源、すなわちP
TAT+βCTATが第3トランジスタに接続される。
第3トランジスタの制御電極(ベース又はゲート)に第
1と第2の直列接続トランジスタによる電圧が加えられ
る。第3トランジスタのエミッタ(ソース)電圧は制御
電極電圧からベース−エミッタ(ゲート−ソース)電圧
を引いたものであり、その電圧が第4トランジスタのベ
ース−エミッタ(ゲート−ソース)間に加えられる。回
路出力は第4トランジスタを通る電流である。
ャと高温カーバチャ)に対するカーバチャが接合電圧に
対する電流対温度の非リニア部分を相殺するために組み
合わされる。1実施態様においては、第1電流源、すな
わちPTAT−CTATをダイオード接続されたトラン
ジスタを2つ直列に接続したものに接続することによっ
て1カドラントが形成される。第2電流源、すなわちP
TAT+βCTATが第3トランジスタに接続される。
第3トランジスタの制御電極(ベース又はゲート)に第
1と第2の直列接続トランジスタによる電圧が加えられ
る。第3トランジスタのエミッタ(ソース)電圧は制御
電極電圧からベース−エミッタ(ゲート−ソース)電圧
を引いたものであり、その電圧が第4トランジスタのベ
ース−エミッタ(ゲート−ソース)間に加えられる。回
路出力は第4トランジスタを通る電流である。
【0008】他のカドラントが第1電流源をCTAT−
PTATで置き換えた同様の回路で得られる。2つのカ
ドラントの出力電流が電流のカーバチャを相殺するため
に組み合わされる。
PTATで置き換えた同様の回路で得られる。2つのカ
ドラントの出力電流が電流のカーバチャを相殺するため
に組み合わされる。
【0009】回路はバイポーラ・トランジスタ又はMO
SFETのいずれかで実装することができる。
SFETのいずれかで実装することができる。
【0010】発明及びその目的と特徴は添付図面ととも
に以下の詳細な説明と特許請求の範囲からより明らかに
なるであろう。
に以下の詳細な説明と特許請求の範囲からより明らかに
なるであろう。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の回路は温度の関数である
バイポーラ・ダイオード又はトランジスタの接合電圧に
対してカーバチャを相殺する。その回路の出力は以下の
通りである。
バイポーラ・ダイオード又はトランジスタの接合電圧に
対してカーバチャを相殺する。その回路の出力は以下の
通りである。
【数1】 3つの定数A、T0 及びベータはバイポーラ接合特性の
非リニア部分に一致するように選択される。ベータが1
に対してはこの式は:A(T/T0−1)2の放物線にな
る。T0 は典型的には修正されないていない電流が室温
で修正されずにトリムされるように室温に近い。
非リニア部分に一致するように選択される。ベータが1
に対してはこの式は:A(T/T0−1)2の放物線にな
る。T0 は典型的には修正されないていない電流が室温
で修正されずにトリムされるように室温に近い。
【0012】ベータは修正されるべき接合の非リニア特
性に一致するように選択される。Aは全体的なスケーリ
ング因子である。本発明は2つのカドラント(quadrant)
動作を達成するために2つの単一カドラント電流マルチ
プライアを使用することによって動作する。
性に一致するように選択される。Aは全体的なスケーリ
ング因子である。本発明は2つのカドラント(quadrant)
動作を達成するために2つの単一カドラント電流マルチ
プライアを使用することによって動作する。
【0013】図1は本発明の回路を用いた接合電圧対温
度の2つのカドラントに対するカーバチャ相殺を示して
いる。この図において、PTATとCTAT電流の差が
直列に接続された2つの接合に加えられる。そこでPT
AT+βCTAT電流で動作しているデバイスから接合
電位が差し引かれる。得られた電位が第4の接合に加え
られ、10、12として示されたような電流を生成す
る。曲線10の電流差はPTAT−CTATで、曲線1
2の電流差はCTAT−PTATである。それによっ
て、カーバチャに対する相殺が基準温度T0(すなわち室
温)の上下双方で生じる。10,12の2つの電流が1
4で加算され、16として示される組み合わされた補償
電流が与えられる。
度の2つのカドラントに対するカーバチャ相殺を示して
いる。この図において、PTATとCTAT電流の差が
直列に接続された2つの接合に加えられる。そこでPT
AT+βCTAT電流で動作しているデバイスから接合
電位が差し引かれる。得られた電位が第4の接合に加え
られ、10、12として示されたような電流を生成す
る。曲線10の電流差はPTAT−CTATで、曲線1
2の電流差はCTAT−PTATである。それによっ
て、カーバチャに対する相殺が基準温度T0(すなわち室
温)の上下双方で生じる。10,12の2つの電流が1
4で加算され、16として示される組み合わされた補償
電流が与えられる。
【0014】図1のカドラント10を生成する図2の回
路について検討する。第1電流源である(PTAT−C
TAT)電流源24が直列に接続された第1、題2半導
体デバイスであるNPNバイポーラ・トランジスタから
なる接合デバイスQ1、Q2に直列に接続されている。
第2電流源である(PTAT+βCTAT)電流源26
がNPNバイポーラ・トランジスタQ3に接続されてい
る。トランジスタQ1、Q2によって生じる電圧が第3
の電圧であるトランジスタQ3のベースに加えられ、か
つトランジスタQ3のエミッタ電圧(ベース電圧−
Vbe)がトランジスタQ4のベースに加えられる。第4
トランジスタQ4を通る電流が出力IOUTである。
路について検討する。第1電流源である(PTAT−C
TAT)電流源24が直列に接続された第1、題2半導
体デバイスであるNPNバイポーラ・トランジスタから
なる接合デバイスQ1、Q2に直列に接続されている。
第2電流源である(PTAT+βCTAT)電流源26
がNPNバイポーラ・トランジスタQ3に接続されてい
る。トランジスタQ1、Q2によって生じる電圧が第3
の電圧であるトランジスタQ3のベースに加えられ、か
つトランジスタQ3のエミッタ電圧(ベース電圧−
Vbe)がトランジスタQ4のベースに加えられる。第4
トランジスタQ4を通る電流が出力IOUTである。
【0015】温度T0でPTATとCTATが等しくI
OUTは零である。温度がT0以上ではPTATがCTAT
より大きいので出力電流を生成する。温度がT0以下で
は出力がない。
OUTは零である。温度がT0以上ではPTATがCTAT
より大きいので出力電流を生成する。温度がT0以下で
は出力がない。
【0016】図2の回路は電流補償の1つのカドラント
(高温)であり、2つの回路が組み合わされて図1の曲
線16が得られる。図3は2つのカドラント補償を行う
回路で図2の回路に等しい回路30、32を含んでい
る。ただし、回路32は上側の電流源が反対、すなわち
CTAT−PTATであり、低温度における補償を行っ
ている点が異なっている。回路30、32は図1の16
で示される組み合わされた電流出力を提供するように二
つの回路によって駆動される共通電流源26と共通トラ
ンジスタQ4を共有する。
(高温)であり、2つの回路が組み合わされて図1の曲
線16が得られる。図3は2つのカドラント補償を行う
回路で図2の回路に等しい回路30、32を含んでい
る。ただし、回路32は上側の電流源が反対、すなわち
CTAT−PTATであり、低温度における補償を行っ
ている点が異なっている。回路30、32は図1の16
で示される組み合わされた電流出力を提供するように二
つの回路によって駆動される共通電流源26と共通トラ
ンジスタQ4を共有する。
【0017】図4は図3のNPNバイポーラ・トランジ
スタを動作のサブスレッショルド条件の範囲で動作する
NMOSトランジスタで置き換えた図3の等価回路であ
る。
スタを動作のサブスレッショルド条件の範囲で動作する
NMOSトランジスタで置き換えた図3の等価回路であ
る。
【0018】
【発明の効果】本発明によるバイポーラ接合ベース−エ
ミッタ電圧の温度関数におけるカーバチャの補償によっ
て温度センサ及び他の温度に関連する製品において要求
される応答のリニア性が改善される。本発明を特殊な実
施形態に関して説明したが、この説明は発明を説明する
だけであって、発明を限定するものではない。特許請求
の範囲で定義された発明の精神と範囲から離れずに当業
者にとっては多くの変形と応用が実現可能である。
ミッタ電圧の温度関数におけるカーバチャの補償によっ
て温度センサ及び他の温度に関連する製品において要求
される応答のリニア性が改善される。本発明を特殊な実
施形態に関して説明したが、この説明は発明を説明する
だけであって、発明を限定するものではない。特許請求
の範囲で定義された発明の精神と範囲から離れずに当業
者にとっては多くの変形と応用が実現可能である。
【図1】 本発明実施形態による接合電圧対温度の2つ
のカドラントのカーバチャ相殺の図である。
のカドラントのカーバチャ相殺の図である。
【図2】 本発明実施形態による1つのカドラント・オ
フセットの回路図である。
フセットの回路図である。
【図3】 図2のカドラント回路の2つを組み合わせて
図1の温度オフセット機能を実現した回路図である。
図1の温度オフセット機能を実現した回路図である。
【図4】 MOSトランジスタで実装した図3の回路図
である。
である。
20:回路、24:電流源、26:電流源、30:回
路、32:回路。
路、32:回路。
Claims (18)
- 【請求項1】 a) デバイスを通る絶対温度に比例的
な電流(PTAT)から絶対温度にコンプリメントな電
流(CTAT)を引いた電流の第1電流源と、 b) PTATにCTATのβ倍を加えた第2電流源
と、 c) 第1と第2の半導体接合と直列に接続された第1
電流源を含む2つの電位レベル(VccGnd)の間の第1
電流経路と、 d) 制御電極を含む3端子の第1トランジスタと直列
に接続された第2電流源を含む2つの電位レベルの間の
第2電流経路と、 e) 第1と第2の半導体接合デバイスの間の電圧を第
1トランジスタの制御電極に連結する手段と、 f) 制御電極を有する3端子の第2トランジスタと、 g) 第1トランジスタからの電圧を第2トランジスタ
を通る電圧を制御するために第2トランジスタの制御電
極に結合させる手段とを有する半導体デバイスの接合電
圧の温度応答におけるカーバチャを補償する回路。 - 【請求項2】 第1と第2の半導体接合がダイオードで
ある請求項1記載の回路。 - 【請求項3】 第1と第2の半導体接合がダイオード接
続されたトランジスタである請求項1記載の回路。 - 【請求項4】 ダイオード接続されたトランジスタがコ
レクタにベースを接続したバイポーラ・トランジスタで
ある請求項31記載の回路。 - 【請求項5】 3端子の第1と第2のトランジスタがバ
イポーラ・トランジスタである請求項4記載の回路。 - 【請求項6】 バイポーラ・ダイオードがNPNである
請求項51記載の回路。 - 【請求項7】 ダイオード接続されたトランジスタがM
OSトランジスタである請求項3記載の回路。 - 【請求項8】 3端子の第1と第2トランジスタがMO
Sトランジスタである請求項7記載の回路。 - 【請求項9】 全てのMOSがNチャネルである請求項
8記載の回路。 - 【請求項10】 絶対温度にコンプリメントな電流(C
TAT)から絶対温度に比例する電流(PTAT)を引
いた電流の第3の電流源を含み、さらに請求項1のa)
〜f)の要素中の要素a)とg)の第1電流源を第3電
流源に置き換えた請求項1記載の回路。 - 【請求項11】 第1と第2の半導体接合がダイオード
である請求項1記0載の回路。 - 【請求項12】 第1と第2の半導体接合がダイオード
接続されたトランジスタである請求項10記載の回路。 - 【請求項13】 ダイオード接続されたトランジスタが
コレクタにベースを接続したバイポーラ・トランジスタ
である請求項12記載の回路。 - 【請求項14】 3端子の第1と第2のトランジスタが
バイポーラ・トランジスタである請求項13記載の回
路。 - 【請求項15】 バイポーラ・ダイオードがNPNであ
る請求項13記載の回路。 - 【請求項16】 ダイオード接続されたトランジスタが
MOSトランジスタである請求項12記載の回路。 - 【請求項17】 3端子の第1と第2トランジスタがM
OSトランジスタである請求項16記載の回路。 - 【請求項18】 全てのMOSがNチャネルである請求
項17記載の回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/569,970 US6329868B1 (en) | 2000-05-11 | 2000-05-11 | Circuit for compensating curvature and temperature function of a bipolar transistor |
US09/569,970 | 2000-05-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002098595A true JP2002098595A (ja) | 2002-04-05 |
Family
ID=24277656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001142048A Pending JP2002098595A (ja) | 2000-05-11 | 2001-05-11 | バイポーラ・トランジスタのカーバチャと温度関数を補償する回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6329868B1 (ja) |
JP (1) | JP2002098595A (ja) |
NL (1) | NL1018057C2 (ja) |
TW (1) | TW503617B (ja) |
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---|---|---|---|---|
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JP2007225614A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-09-06 | National Semiconductor Corp | 線形性補正を具備した周波数比デジタル化温度センサー |
JP2007267246A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基準電流制御回路、温度補償機能付き水晶発振器制御ic、水晶発振器、tcxoモジュールおよび携帯電話機 |
JP2009257790A (ja) * | 2008-04-11 | 2009-11-05 | Nec Electronics Corp | 温度センサ回路 |
JP2012083851A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Denso Corp | 半導体装置、及び、その製造方法 |
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