JP2002064310A - Microwave/millimeter wave device - Google Patents

Microwave/millimeter wave device

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JP2002064310A
JP2002064310A JP2000249383A JP2000249383A JP2002064310A JP 2002064310 A JP2002064310 A JP 2002064310A JP 2000249383 A JP2000249383 A JP 2000249383A JP 2000249383 A JP2000249383 A JP 2000249383A JP 2002064310 A JP2002064310 A JP 2002064310A
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JP
Japan
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line
substrate
terminal
impedance
transmission line
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JP2000249383A
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Japanese (ja)
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Hirotaka Tanaka
啓貴 田中
U Shu
雨 朱
Eiji Suematsu
英治 末松
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Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microwave/millimeter wave device capable of sufficiently compensating inductance, that a bonding wire has, in a small chip area. SOLUTION: By performing impedance matching by providing a serial transmission line 14 and a stab line 14b in one terminal part, the deterioration of reflection characteristics/transmission characteristics is prevented. Namely, when a characteristic impedance Za of the serial transmission line 14a is 50 Ω, a line length La is 500 μm, a characteristics impedance Zb of the open stub line 14b is 80 Ω and a line length Lb is 610 μm, in a frequency 60 GHz, a gap between an input/output terminal 14 and an input/output terminal 17 matches 50 Ω.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロ波・ミリ
波装置に関し、特に、高周波回路の端子間がボンディン
グワイヤ等により接続されたマイクロ波・ミリ波装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microwave / millimeter wave device, and more particularly to a microwave / millimeter wave device in which terminals of a high-frequency circuit are connected by a bonding wire or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、誘電体基板上に形成された高周波
回路の端子間の接続は、図9に示すような形態のワイヤ
ボンディングにより行われてきた。図9では、高周波回
路が形成された第1の誘電体基板62上にMIC(Mi
crowaveIntegrated Circui
t)又はMMIC(MonolithicMicrow
ave Integrated Circuit)が形成
された第2の誘電体基板68が搭載され、第1の誘電体
基板62上に設けられたマイクロストリップ線路よりな
る端子64と第2の誘電体基板68上に形成されたマイ
クロストリップ線路よりなる端子67間がボンディング
ワイヤ66により接続されている。信号線間はボンディ
ングワイヤ66により接続され、接地導体60aと接地
導体60b間はバイアホール63により接続されてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, connection between terminals of a high-frequency circuit formed on a dielectric substrate has been performed by wire bonding in a form as shown in FIG. In FIG. 9, the MIC (Mi) is formed on the first dielectric substrate 62 on which the high-frequency circuit is formed.
CroweIntegrated Circuit
t) or MMIC (MonoliticMicrow)
A second dielectric substrate 68 on which an integrated circuit (ave Integrated Circuit) is formed is mounted, and a terminal 64 composed of a microstrip line provided on the first dielectric substrate 62 and a second dielectric substrate 68 are formed on the second dielectric substrate 68. The terminals 67 made of microstrip lines are connected by bonding wires 66. The signal lines are connected by bonding wires 66, and the ground conductors 60a and 60b are connected by via holes 63.

【0003】しかし、ボンディングワイヤを用いた接続
では、周波数が高くなるに従い、ボンディングワイヤの
インダクタンスによるインピーダンスが大きくなる。そ
のため、マイクロ波・ミリ波のような高周波ではインピ
ーダンス不整合が大きくなり、反射特性、伝送特性の劣
化が顕著になる。
However, in connection using a bonding wire, the impedance due to the inductance of the bonding wire increases as the frequency increases. Therefore, at high frequencies such as microwaves and millimeter waves, the impedance mismatch increases, and the reflection characteristics and transmission characteristics deteriorate significantly.

【0004】上記のような問題を解決するため、電子情
報通信学会の信学技報(EDD−95−59、p11〜
17)には、図10に示すような構造が開示されてい
る。図10では、マイクロストリップ線路72、75は
50Ω配線であり、ボンディングワイヤ78のインピー
ダンスを補償するため、ボンディングパッド73及び7
4は50Ω配線より広くした形態が考案されている。こ
れは、ボンディングパッドを大きくして、ボンディング
パッドと接地導体間に生ずる寄生容量により、ボンディ
ングワイヤの有するインダクタンスを少しでも補償しよ
うとするものである。
In order to solve the above problems, IEICE Technical Report (EDD-95-59, pp. 11-11).
17) discloses a structure as shown in FIG. In FIG. 10, the microstrip lines 72 and 75 are 50Ω wirings, and the bonding pads 73 and 7 are used to compensate for the impedance of the bonding wire 78.
4 is designed to be wider than 50Ω wiring. This is to increase the size of the bonding pad and to compensate for the inductance of the bonding wire as much as possible due to the parasitic capacitance generated between the bonding pad and the ground conductor.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、この場合、周
波数が高くなるにつれ、ボンディングパッドの領域を大
きくする必要があるため、チップ面積が大きくなり、チ
ップコストが高くなってしまう。
However, in this case, as the frequency becomes higher, the area of the bonding pad must be increased, so that the chip area increases and the chip cost increases.

【0006】また、ボンディングパッドの容量だけでは
補償範囲が小さいため、ミリ波帯域(20GHz〜30
0GHz)のような高周波では十分な補償を行うことが
できなかった。
[0006] Further, since the compensation range is small only by the capacity of the bonding pad, the millimeter wave band (20 GHz to 30 GHz) is used.
At a high frequency such as 0 GHz, sufficient compensation could not be performed.

【0007】本発明の目的は、小さいチップ面積で、ボ
ンディングワイヤの有するインダクタンスを十分に補償
できるマイクロ波・ミリ波装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a microwave / millimeter wave device capable of sufficiently compensating for the inductance of a bonding wire with a small chip area.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のマイクロ波・ミ
リ波装置は、第1の基板上に形成した伝送線路よりなる
第1の端子と第2の基板上に形成した伝送線路よりなる
第2の端子とを電気的に接続し、少なくともいずれか一
つの端子部分に直列伝送線路とスタブ線路とを設けたこ
とを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a microwave / millimeter wave device comprising a first terminal formed of a transmission line formed on a first substrate and a first terminal formed of a transmission line formed on a second substrate. The two terminals are electrically connected, and a serial transmission line and a stub line are provided in at least one of the terminal portions.

【0009】基板としては、誘電体基板を用いることが
でき、具体的には、GaAs基板、Si基板、高抵抗S
i基板などの半導体基板や、PPO基板、アルミナセラ
ミック基板、ガラスセラミック基板などの絶縁基板を用
いることができる。
As the substrate, a dielectric substrate can be used. Specifically, a GaAs substrate, a Si substrate, a high resistance S
A semiconductor substrate such as an i-substrate or an insulating substrate such as a PPO substrate, an alumina ceramic substrate, or a glass ceramic substrate can be used.

【0010】端子間を電気的に接続する方法としては、
ワイヤーボンディング、または、バイアホールによる接
続などがある。
As a method of electrically connecting the terminals,
Examples include wire bonding or connection using via holes.

【0011】ボンディングワイヤ等により電気的に接続
される端子の少なくとも一方の端子部分に直列伝送線路
とスタブ線路を設けることにより、ボンディングワイヤ
等接続部品のインピーダンス補償を行うことができる。
これにより、ミリ波帯のような高周波においてもワイヤ
ボンディングが使用可能となり、容易に端子間の高周波
的接続を行うことが可能となり、量産性にも優れる。
By providing a series transmission line and a stub line on at least one of the terminals electrically connected by a bonding wire or the like, impedance of a connection component such as a bonding wire can be compensated.
As a result, wire bonding can be used even at a high frequency such as a millimeter wave band, high-frequency connection between terminals can be easily performed, and mass productivity is excellent.

【0012】また、本発明のマイクロ波・ミリ波装置
は、上記第2の基板が半導体から成り、上記第1の基板
上に上記第2の基板を積層し、第1の基板上には直列伝
送線路とスタブ線路とを設け、第2の基板にはMICま
たはMMICを形成したことを特徴とする。
Further, in the microwave / millimeter wave device of the present invention, the second substrate is made of a semiconductor, the second substrate is stacked on the first substrate, and the second substrate is connected in series on the first substrate. A transmission line and a stub line are provided, and MIC or MMIC is formed on the second substrate.

【0013】MIC又はMMICが形成された第2の基
板すなわち半導体基板のサイズを小さくすることができ
るため、歩留まり向上及びコスト削減に有利であり、量
産性に優れている。また、MIC又はMMICが形成さ
れた基板は複数の誘電体基板が積層される場合が多い
が、このように第2の基板が厚い場合、その厚みに応じ
てボンディングワイヤの長さが長くなり、ボンディング
ワイヤのインダクタンスが大きくなっても、本発明では
補償範囲が広いので補償可能である。
Since the size of the second substrate on which the MIC or the MMIC is formed, ie, the size of the semiconductor substrate, can be reduced, it is advantageous for improving the yield and reducing the cost, and excellent in mass productivity. In addition, the substrate on which the MIC or the MMIC is formed is often formed by stacking a plurality of dielectric substrates. When the second substrate is thick as described above, the length of the bonding wire increases according to the thickness, Even if the inductance of the bonding wire is large, the present invention can compensate because the compensation range is wide.

【0014】また、本発明のマイクロ波・ミリ波装置
は、上記第1の端子部分に直列伝送線路とスタブ線路と
を具備し、第1の端子及び第2の端子はそれぞれ特性イ
ンピーダンスZ0を有し、直列伝送線路またはスタブ線
路の存在により、スタブ線路接続部分から第2の基板を
見たインピーダンスをZ0に近づけたことを特徴とす
る。
Further, the microwave / millimeter wave device of the present invention includes a series transmission line and a stub line at the first terminal, and the first terminal and the second terminal each have a characteristic impedance Z0. In addition, the impedance when the second substrate is viewed from the stub line connection portion is close to Z0 due to the presence of the series transmission line or the stub line.

【0015】スタブ線路接続部分から第2の基板を見た
インピーダンスをZ0に整合、或いは、Z0に近づける
ことにより、接続部品によるインピーダンスを補償す
る。
The impedance of the connection component is compensated by matching or approaching the impedance of the second substrate from the stub line connection to Z0 or approaching Z0.

【0016】また、本発明のマイクロ波・ミリ波装置
は、上記第1の端子部分に直列伝送線路とスタブ線路を
具備し、第1の端子及び第2の端子はそれぞれ特性イン
ピーダンスZ01およびZ02を有し、直列伝送線路と
スタブ線路の存在により、スタブ線路接続部分から第2
の基板を見たインピーダンスをZ01、第2の端子から
第1の基板を見たインピーダンスをZ02に近づけたこ
とを特徴とする。
Further, the microwave / millimeter wave device of the present invention has a series transmission line and a stub line at the first terminal, and the first terminal and the second terminal have characteristic impedances Z01 and Z02, respectively. And the presence of the series transmission line and the stub line,
The impedance when the first substrate is viewed from the second terminal is closer to Z02, and the impedance when the first substrate is viewed from the second terminal is closer to Z02.

【0017】また、本発明のマイクロ波・ミリ波装置
は、上記第1の端子がマイクロストリップ線路またはコ
プレーナ線路により形成され、上記第2の端子がマイク
ロストリップ線路またはコプレーナ線路により形成され
たことを特徴とする。
Further, in the microwave / millimeter wave device of the present invention, the first terminal is formed by a microstrip line or a coplanar line, and the second terminal is formed by a microstrip line or a coplanar line. Features.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、実施例により、図面を用い
てさらに具体的に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments will be described more specifically with reference to the drawings.

【0019】(実施の形態1)図1は本発明の第1の実
施形態を示す平面図と側面図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a plan view and a side view showing a first embodiment of the present invention.

【0020】MICが形成された比誘電率8.9、厚み
150μmのプリント基板よりなる第1の誘電体基板1
2上に、MMIC(図示せず)が形成された厚さ150
μmのGaAsよりなる第2の誘電体基板18を配置し
ている。第2の誘電体基板18上には、マイクロストリ
ップ線路よりなる入出力端子17が形成され、特性イン
ピーダンスZ0=50Ωを有する。第1の誘電体基板1
2上には、特性インピーダンスZ0=50Ωを有するマ
イクロストリップ線路よりなる入出力端子14が形成さ
れ、さらにその先にマイクロストリップ線路よりなる、
長さLaの直列伝送線路14aと長さLbのオープンス
タブ線路14bとが形成されている。
First dielectric substrate 1 made of a printed circuit board having a relative dielectric constant of 8.9 and a thickness of 150 μm on which MIC is formed.
2 having a thickness of 150 on which an MMIC (not shown) is formed.
A second dielectric substrate 18 of μm GaAs is provided. On the second dielectric substrate 18, an input / output terminal 17 formed of a microstrip line is formed, and has a characteristic impedance Z0 = 50Ω. First dielectric substrate 1
2, an input / output terminal 14 formed of a microstrip line having a characteristic impedance Z0 = 50Ω is formed, and further formed of a microstrip line.
A serial transmission line 14a having a length La and an open stub line 14b having a length Lb are formed.

【0021】入出力端子17は直列伝送線路14aの先
端とボンディングワイヤ16により接続され、さらに直
列伝送線路14aを介して入出力端子14に接続されて
いる。ここで、入出力端子14はプリント基板12上に
形成されたMICより引き出されており、また、入出力
端子17はGaAs基板18上に形成されたMMICよ
り引き出されている。
The input / output terminal 17 is connected to the end of the serial transmission line 14a by a bonding wire 16, and further connected to the input / output terminal 14 via the serial transmission line 14a. Here, the input / output terminals 14 are drawn out of the MIC formed on the printed circuit board 12, and the input / output terminals 17 are drawn out of the MMIC formed on the GaAs substrate 18.

【0022】また、GaAs基板18上のマイクロスト
リップ線路の接地面10aはGaAs基板18の裏面に
あり、GaAs基板18及びプリント基板12の接地導
体間はバイアホール13を介して接続している。プリン
ト基板12のバイアホール13は接地インダクタンスが
通常小さくてすむため、高周波的に優れた接地が可能で
ある。
The ground plane 10a of the microstrip line on the GaAs substrate 18 is on the back surface of the GaAs substrate 18, and the ground conductors of the GaAs substrate 18 and the printed circuit board 12 are connected via via holes 13. The via hole 13 of the printed circuit board 12 usually requires only a small grounding inductance, so that excellent grounding at high frequencies is possible.

【0023】以下、図1の形態を表した図2(a)に示
す等価回路を用いてボンディングワイヤのインピーダン
スが補償される理由について説明する。
Hereinafter, the reason why the impedance of the bonding wire is compensated for using the equivalent circuit shown in FIG. 2A showing the form of FIG. 1 will be described.

【0024】図2(a)の等価回路は、第2の誘電体基
板上の特性インピーダンスZ0を有する入出力端子84
にボンディングワイヤの有するインダクタンス83が接
続され、次に、第1の誘電体基板上のボンディングワイ
ヤ接続部分に設けられた特性インピーダンスZaを有す
る長さLaの直列伝送線路82に接続し、次に、特性イ
ンピーダンスZbを有する長さLbのオープンスタブ線
路86が接続され、次に、特性インピーダンスZ0を有
する入出力端子81に接続した形態を示している。
The equivalent circuit shown in FIG. 2A has an input / output terminal 84 having a characteristic impedance Z0 on a second dielectric substrate.
Is connected to the serial transmission line 82 having a characteristic impedance Za and having a length La provided at a bonding wire connection portion on the first dielectric substrate. In this embodiment, an open stub line 86 having a length Lb having a characteristic impedance Zb is connected, and then connected to an input / output terminal 81 having a characteristic impedance Z0.

【0025】図2(a)において、111−111'よ
り右を見たインピーダンスはZ0であり、インピーダン
スZ0で規格化した場合には、図2(b)に示したスミ
スチャートの中心Aに相当する。ボンディングワイヤが
有するインダクタンス83が接続されることにより、2
22−222'より右を見たインピーダンスはZ1とな
り、スミスチャート上ではBの点まで移動する。そのた
め、第1の誘電体基板上に設けた入出力端子と第2の誘
電体基板上に設けた入出力端子をボンディングワイヤに
より直接に接続した場合には、インピーダンス不整合が
起こることになる。
In FIG. 2A, the impedance seen to the right from 111-111 'is Z0, and when normalized by the impedance Z0, it corresponds to the center A of the Smith chart shown in FIG. 2B. I do. By connecting the inductance 83 of the bonding wire, 2
The impedance looking right from 22-222 'is Z1 and moves to point B on the Smith chart. Therefore, when the input / output terminals provided on the first dielectric substrate and the input / output terminals provided on the second dielectric substrate are directly connected by bonding wires, impedance mismatch occurs.

【0026】本発明では、次に、適切な特性インピーダ
ンスZaと長さLaを有する直列伝送線路を設けること
により、333−333'より右を見たインピーダンス
をZ2とし、スミスチャート上でCの点まで移動させ
る。次に、適切な特性インピーダンスZbと長さLbを
有するオープンスタブ線路を設けることにより、444
−444'より右を見たインピーダンスをZ0とするこ
とができ、スミスチャート上ではC点から中心Aまで移
動させることが可能である。
In the present invention, next, by providing a series transmission line having an appropriate characteristic impedance Za and a length La, the impedance seen rightward from 333-333 'is Z2, and the point C on the Smith chart is set. Move up to Next, by providing an open stub line having appropriate characteristic impedance Zb and length Lb, 444
The impedance seen to the right from -444 'can be Z0, and it can be moved from point C to center A on the Smith chart.

【0027】即ち、上記のように適切な特性インピーダ
ンスと線路長を有する直列伝送線路とスタブ線路を設け
ることにより、端子間のインピーダンスをZ0に整合さ
せ、ボンディングワイヤの有するインダクタンスを補償
することができる。
That is, by providing the series transmission line and the stub line having appropriate characteristic impedance and line length as described above, the impedance between the terminals can be matched to Z0, and the inductance of the bonding wire can be compensated. .

【0028】本実施の形態において、ボンディングワイ
ヤのインダクタンスは0.2nH程度であったため、例
えば、直列伝送線路14aの特性インピーダンスZaを
50Ω、線路長Laを500μmとし、また、オープン
スタブ線路14bの特性インピーダンスZbを80Ω、
線路長Lbを610μmとすることにより、周波数60
GHzにおいて、入出力端子14と入出力端子17の間
を50Ωに整合させた。本実施の形態では上記の数値に
設定したが、要するに、スタブ線路14bの接続部分か
らGaAs基板側をみたインピーダンスが50Ωに近く
なるような組み合わせとすれば良く、その結果としてス
タブ線路14bの接続部分における反射係数の大きさを
0.3以下とすれば良い。
In this embodiment, since the inductance of the bonding wire is about 0.2 nH, for example, the characteristic impedance Za of the series transmission line 14a is set to 50Ω, the line length La is set to 500 μm, and the characteristic of the open stub line 14b is set. Impedance Zb is 80Ω,
By setting the line length Lb to 610 μm, the frequency 60
At GHz, the distance between the input / output terminal 14 and the input / output terminal 17 was matched to 50Ω. In the present embodiment, the values are set to the above values. In short, the combination may be such that the impedance seen from the connection portion of the stub line 14b to the GaAs substrate side is close to 50Ω, and as a result, the connection portion of the stub line 14b The magnitude of the reflection coefficient at should be 0.3 or less.

【0029】本実施の形態では、第1の端子及び第2の
端子は同じ特性インピーダンスZ0を有したが、異なっ
てもよい。第1の端子及び第2の端子がそれぞれ特性イ
ンピーダンスZ01およびZ02を有する場合には、直
列伝送線路とスタブ線路の存在により、スタブ線路接続
部分から第2の基板を見たインピーダンスをZ01、第
2の端子から第1の基板を見たインピーダンスをZ02
に近づけることにより、ボンディングワイヤの有するイ
ンダクタンスを補償することができる。
In the present embodiment, the first terminal and the second terminal have the same characteristic impedance Z0, but they may be different. When the first terminal and the second terminal have characteristic impedances Z01 and Z02, respectively, the impedance when the second substrate is viewed from the stub line connection portion is Z01, and the second impedance is Z2 because of the presence of the series transmission line and the stub line. The impedance when the first substrate is viewed from the terminal
, The inductance of the bonding wire can be compensated.

【0030】本実施の形態では、スタブ線路としてオー
プンスタブ線路を用いたが、スタブ線路として、ショー
トスタブ線路を用いた場合においても、図3に示すよう
に、ボンディングワイヤの有するインダクタンスを補償
することが可能である。
In this embodiment, the open stub line is used as the stub line. However, even when a short stub line is used as the stub line, the inductance of the bonding wire is compensated as shown in FIG. Is possible.

【0031】図3(a)において、111−111'よ
り右を見たインピーダンスはZ0であり、インピーダン
スZ0で規格化した場合には、図3(b)に示したスミ
スチャートの中心Aに相当する。ボンディングワイヤが
有するインダクタンス93が接続されることにより、2
22−222'より右を見たインピーダンスはZ1とな
り、スミスチャート上ではBの点まで移動する。次に、
適切な特性インピーダンスZaと長さLaを有する直列
伝送線路を設けることにより、333−333'より右
を見たインピーダンスをZ2とし、スミスチャート上で
Cの点まで移動させる。次に、適切な特性インピーダン
スZbと長さLbを有するショートスタブ線路を設ける
ことにより、444−444'より右を見たインピーダ
ンスをZ0とすることができ、スミスチャート上ではC
点から中心Aまで移動させることが可能である。
In FIG. 3A, the impedance seen to the right from 111-111 'is Z0, and when normalized by the impedance Z0, corresponds to the center A of the Smith chart shown in FIG. 3B. I do. By connecting the inductance 93 of the bonding wire, 2
The impedance looking right from 22-222 'is Z1 and moves to point B on the Smith chart. next,
By providing a series transmission line having an appropriate characteristic impedance Za and a length La, the impedance seen to the right from 333-333 'is Z2, and the impedance is moved to the point C on the Smith chart. Next, by providing a short stub line having an appropriate characteristic impedance Zb and a length Lb, the impedance seen to the right from 444-444 'can be Z0.
It is possible to move from the point to the center A.

【0032】また、オープンスタブ線路の代わりに、先
端に、例えば、MIMキャパシタよりなる容量素子を設
け、高周波的にショートしたショートスタブ線路を用い
ても、同様に補償を行うことが可能である。
Also, compensation can be performed similarly by using a short stub line short-circuited at high frequency by providing a capacitive element such as an MIM capacitor at the tip instead of the open stub line.

【0033】また、直列伝送線路14aの長さをLa=
500μmとしたが、La+n×λg1/2(nは整
数、λg1は直列伝送線路14aを伝播する信号の波
長)としても良く、また、スタブ線路14bの長さをL
b=610μmとしたが、Lb+n×λg2/2(nは
整数、λg2はスタブ線路14bを伝播する信号の波
長)としても良い。
The length of the serial transmission line 14a is La =
Although it is set to 500 μm, it may be set to La + n × λg1 / 2 (n is an integer, λg1 is a wavelength of a signal propagating through the serial transmission line 14 a), and the length of the stub line 14 b is L.
Although b = 610 μm, it may be Lb + n × λg2 / 2 (n is an integer, and λg2 is the wavelength of a signal propagating through the stub line 14b).

【0034】また、複数本のボンディングワイヤを用い
たものに対しても、直列伝送線路14aの特性インピー
ダンスZaと線路長La及びスタブ線路14bの特性イ
ンピーダンスZbと線路長Lbを適切に選ぶことによ
り、補償を行うことができる。この場合、ボンディング
ワイヤのインダクタンスが小さくなり、補償周波数範囲
を広くすることができる。
In addition, for the case of using a plurality of bonding wires, by appropriately selecting the characteristic impedance Za and the line length La of the series transmission line 14a and the characteristic impedance Zb and the line length Lb of the stub line 14b, Compensation can be made. In this case, the inductance of the bonding wire is reduced, and the compensation frequency range can be widened.

【0035】このようにして、GaAs基板18の入出
力端子17とプリント基板12上の入出力端子14間を
50Ωに整合させ、ボンディングワイヤのインピーダン
スを補償することにより、60GHzにおいて入出力端
子17と入出力端子14間の反射特性と伝送特性は、図
4に示すように、直列伝送線路14a及びオープンスタ
ブ線路14bを設けなかった場合に比較し向上した。図
4(a)は直列伝送線路14a及びオープンスタブ線路
14bを設けなかった場合の反射特性S11と伝送特性
S21を、図4(b)は直列伝送線路14a及びオープ
ンスタブ線路14bを設けた場合の反射特性S11と伝
送特性S21を示しており、周波数60GHzにおける
反射損失が、9.5dBから20dB以上に大きく改善
された。
In this manner, the distance between the input / output terminal 17 of the GaAs substrate 18 and the input / output terminal 14 on the printed circuit board 12 is matched to 50Ω, and the impedance of the bonding wire is compensated. As shown in FIG. 4, the reflection characteristics and the transmission characteristics between the input / output terminals 14 were improved as compared with the case where the series transmission line 14a and the open stub line 14b were not provided. FIG. 4A shows the reflection characteristics S11 and the transmission characteristics S21 when the series transmission line 14a and the open stub line 14b are not provided, and FIG. 4B shows the case when the series transmission line 14a and the open stub line 14b are provided. The graph shows the reflection characteristic S11 and the transmission characteristic S21, and the reflection loss at a frequency of 60 GHz is greatly improved from 9.5 dB to 20 dB or more.

【0036】本実施の形態では、反射損失が20dB以
上まで改善されたが、10dB以上であれば実用上問題
がなく、より好ましくは15dB以上であればよい。特
に、ワイヤボンディングによる接続を適用した場合、通
常、反射損失を10dB以上にすることは困難であり、
本発明の方法を用いれば容易に20dB以上とすること
が可能であり、効果が大である。
In this embodiment, the reflection loss is improved to 20 dB or more. However, if it is 10 dB or more, there is no practical problem, and more preferably 15 dB or more. In particular, when connection by wire bonding is applied, it is usually difficult to reduce the reflection loss to 10 dB or more.
By using the method of the present invention, it is possible to easily achieve 20 dB or more, and the effect is large.

【0037】(実施の形態2)図5は本発明の第2の実
施の形態を示す平面図と側面図である。
(Embodiment 2) FIG. 5 is a plan view and a side view showing a second embodiment of the present invention.

【0038】MIC又はMMICが形成された厚さ60
0μmのGaAsよりなる誘電体基板28上に設けられ
た特性インピーダンス50Ωを有するコプレーナ線路よ
りなる入出力端子27と比誘電率8.9、厚み150μ
mのプリント基板よりなる誘電体基板22上に形成され
たマイクロストリップ線路よりなる直列伝送線路24a
を2本のボンディングワイヤ26により接続し、次に、
マイクロストリップ線路よりなるオープンスタブ線路2
4bを接続し、特性インピーダンス50Ωを有するマイ
クロストリップ線路よりなる入出力端子24に接続し
た。
Thickness 60 on which MIC or MMIC is formed
An input / output terminal 27 composed of a coplanar line having a characteristic impedance of 50Ω provided on a dielectric substrate 28 made of 0 μm GaAs, a relative dielectric constant of 8.9, and a thickness of 150 μm
m serial transmission line 24a composed of a microstrip line formed on a dielectric substrate 22 composed of a m printed circuit board.
Are connected by two bonding wires 26, and then
Open stub line 2 consisting of microstrip line
4b was connected to an input / output terminal 24 composed of a microstrip line having a characteristic impedance of 50Ω.

【0039】GaAs基板の厚みに対応して、ボンディ
ングワイヤの長さが長くなり、ボンディングワイヤ2本
の有するインダクタンスは0.2nH程度であったた
め、例えば、直列伝送線路24aの特性インピーダンス
Zaを50Ω、線路長Laを500μmとし、また、オ
ープンスタブ線路24bの特性インピーダンスZbを8
0Ω、線路長Lbを610μmとすることにより、実施
の形態1同様に、周波数60GHzにおいて、入出力端
子24と入出力端子27の間を50Ωに整合させた。
According to the thickness of the GaAs substrate, the length of the bonding wire becomes longer, and the inductance of the two bonding wires is about 0.2 nH. For example, the characteristic impedance Za of the series transmission line 24a is set to 50 Ω. The line length La is set to 500 μm, and the characteristic impedance Zb of the open stub line 24b is set to 8
By setting 0Ω and the line length Lb to 610 μm, the distance between the input / output terminal 24 and the input / output terminal 27 was matched to 50Ω at a frequency of 60 GHz as in the first embodiment.

【0040】ここで、GaAs基板28及びプリント基
板22の接地導体間はボンディングワイヤ23及びバイ
アホール29を介して接続している。また、接地はボン
ディングワイヤを用いずに、GaAs基板にバイアホー
ルを形成し、バイアホールにより接続しても良い。
Here, the ground conductors of the GaAs substrate 28 and the printed circuit board 22 are connected via bonding wires 23 and via holes 29. The ground may be formed by forming a via hole in the GaAs substrate without using a bonding wire and connecting the via hole.

【0041】また、実施の形態1と同様に、オープンス
タブ線路の代わりにショートスタブ線路を用いても良
く、また、直列伝送線路24aの長さLaおよびスタブ
線路24bの長さLbは、La+n×λg1/2、Lb
+n×λg2/2としても良い。
As in the first embodiment, a short stub line may be used instead of an open stub line, and the length La of the serial transmission line 24a and the length Lb of the stub line 24b are La + n × λg1 / 2, Lb
+ N × λg2 / 2.

【0042】本実施の形態のように、誘電体基板を積層
して、それぞれの誘電体基板上の端子間をボンディング
ワイヤにより接続する場合、上側の誘電体基板の厚さを
厚くすると、ボンディングワイヤの長さが長くなり、ボ
ンディングワイヤのインダクタンスが大きくなるため、
補償範囲の広い本発明が有効である。特に、上側の誘電
体基板にコプレーナ線路を形成した場合は、基板の厚み
は線路特性に大きく影響しないため、基板の厚みを厚く
することができるが、その分、ボンディングワイヤが長
くなり、インダクタンスが大きくなってしまうため、本
発明によるインダクタンスの補償方法が有利である。
When the dielectric substrates are stacked and the terminals on the respective dielectric substrates are connected by bonding wires as in the present embodiment, when the thickness of the upper dielectric substrate is increased, the bonding wires Becomes longer, and the inductance of the bonding wire increases.
The present invention having a wide compensation range is effective. In particular, when a coplanar line is formed on the upper dielectric substrate, the thickness of the substrate does not greatly affect the line characteristics, so that the substrate can be made thicker. The method of compensating for the inductance according to the invention is advantageous because it would be large.

【0043】このようにして、周波数60GHzにおい
て、GaAs基板28の入出力端子27とプリント基板
22上の入出力端子24間を50Ωに整合させ、ボンデ
ィングワイヤのインピーダンスを補償することにより、
直列伝送線路24a及びオープンスタブ線路24bを設
けなかった場合に比較し、反射特性と伝送特性の改善が
見られた。
In this way, at the frequency of 60 GHz, the impedance between the input / output terminal 27 of the GaAs substrate 28 and the input / output terminal 24 on the printed circuit board 22 is matched to 50Ω, and the impedance of the bonding wire is compensated.
As compared with the case where the serial transmission line 24a and the open stub line 24b were not provided, the reflection characteristics and the transmission characteristics were improved.

【0044】(実施の形態3)図6は本発明の第3の実
施の形態を示す平面図と側面図である。
(Embodiment 3) FIG. 6 is a plan view and a side view showing a third embodiment of the present invention.

【0045】MIC又はMMICが形成された厚み60
0μmのGaAs基板38上に設けられた特性インピー
ダンス50Ωを有するコプレーナ線路よりなる入出力端
子37と比誘電率8.9、厚み600μmのプリント基
板32上に形成された特性インピーダンスZaを有する
長さLaのコプレーナ線路よりなる直列伝送線路34a
をボンディングワイヤ36により接続し、次に、特性イ
ンピーダンスZbを有する長さLbのコプレーナ線路よ
りなるオープンスタブ線路34bを接続し、特性インピ
ーダンス50Ωを有するコプレーナ線路よりなる入出力
端子34に接続した。
Thickness 60 on which MIC or MMIC is formed
An input / output terminal 37 composed of a coplanar line having a characteristic impedance of 50Ω provided on a GaAs substrate 38 of 0 μm and a length La having a characteristic impedance Za formed on a printed substrate 32 having a relative dielectric constant of 8.9 and a thickness of 600 μm. Series transmission line 34a composed of a coplanar line
Were connected by a bonding wire 36, and then an open stub line 34b formed of a coplanar line having a length Lb having a characteristic impedance Zb was connected to an input / output terminal 34 formed of a coplanar line having a characteristic impedance of 50Ω.

【0046】ボンディングワイヤのインダクタンスは
0.2nHと見積もられたので、直列伝送線路34aの
特性インピーダンスをZa=50Ω(中心導体幅128
μm、スロット幅50μm)、長さLa=560μmと
し、スタブ線路34bの特性インピーダンスをZb=5
0Ω(中心導体幅128μm、スロット幅50μm)、
長さLb=770μmとすることにより、実施の形態1
と同様に、周波数60GHzにおいて、入出力端子34
から入出力端子37側を見たインピーダンスを50Ωに
近づけた。
Since the inductance of the bonding wire was estimated to be 0.2 nH, the characteristic impedance of the series transmission line 34a was changed to Za = 50Ω (the center conductor width was 128
μm, slot width 50 μm), length La = 560 μm, and the characteristic impedance of the stub line 34b is Zb = 5.
0 Ω (center conductor width 128 μm, slot width 50 μm),
By setting the length Lb = 770 μm, the first embodiment
Similarly, at a frequency of 60 GHz, the input / output terminals 34
The impedance as viewed from the input / output terminal 37 side was brought close to 50Ω.

【0047】また、GaAs基板38及びプリント基板
32の接地導体間はボンディングワイヤ33により接続
しているが、バイアホールを用いて接続しても良い。
Although the ground conductors of the GaAs substrate 38 and the printed circuit board 32 are connected by the bonding wires 33, they may be connected by using via holes.

【0048】また、実施の形態1と同様に、オープンス
タブ線路の代わりにショートスタブ線路を用いても良
く、また、直列伝送線路34aの長さLaおよびスタブ
線路34bの長さLbは、La+n×λg1/2、Lb
+n×λg2/2としても良い。
As in the first embodiment, a short stub line may be used instead of an open stub line, and the length La of the serial transmission line 34a and the length Lb of the stub line 34b are La + n × λg1 / 2, Lb
+ N × λg2 / 2.

【0049】このようにして、GaAs基板38の入出
力端子37とプリント基板32上の入出力端子34間を
50Ωに整合させ、ボンディングワイヤのインピーダン
スを補償することにより、直列伝送線路34a及びオー
プンスタブ線路34bを設けなかった場合に比較し、反
射特性と伝送特性が改善された。
In this way, the impedance between the input / output terminal 37 of the GaAs substrate 38 and the input / output terminal 34 on the printed circuit board 32 is adjusted to 50Ω, and the impedance of the bonding wire is compensated. The reflection characteristics and the transmission characteristics were improved as compared with the case where the line 34b was not provided.

【0050】(実施の形態4)図7は本発明の第4の実
施形態を示す平面図と側面図である。
(Embodiment 4) FIG. 7 is a plan view and a side view showing a fourth embodiment of the present invention.

【0051】MIC又はMMICが形成された厚さ15
0μmのGaAs基板48上に設けられた特性インピー
ダンス50Ωを有するマイクロストリップ線路よりなる
入出力端子47と比誘電率8.9、厚さ600μmのプ
リント基板42上に形成された特性インピーダンスZa
を有する線路長Laのコプレーナ線路よりなる直列伝送
線路44aをボンディングワイヤ46により接続し、次
に、特性インピーダンスZbを有する線路長Lbのコプ
レーナ線路よりなるオープンスタブ線路44bを接続
し、特性インピーダンス50Ωを有するコプレーナ線路
よりなる入出力端子44に接続した。
Thickness 15 on which MIC or MMIC is formed
An input / output terminal 47 formed of a microstrip line having a characteristic impedance of 50Ω provided on a GaAs substrate 48 of 0 μm and a characteristic impedance Za formed on a printed circuit board 42 having a relative dielectric constant of 8.9 and a thickness of 600 μm.
A series transmission line 44a composed of a coplanar line having a line length La having a characteristic impedance Zb is connected to the series transmission line 44a, and an open stub line 44b composed of a coplanar line having a characteristic length Zb having a characteristic impedance Zb is connected. Connected to an input / output terminal 44 composed of a coplanar line.

【0052】本実施例では、ボンディングワイヤのイン
ダクタンスは0.2nH程度であったため、直列伝送線
路44aの特性インピーダンスをZa=50Ω(中心導
体幅128μm、スロット幅50μm)、線路長をLa
=560μmとし、スタブ線路44bの特性インピーダ
ンスをZb=50Ω(中心導体128μm、スロット幅
50μm)、線路長をLb=770μmとすることによ
り、実施の形態1と同様に、周波数60GHzにおい
て、入出力端子44から入出力端子47を見たインピー
ダンスを50Ω整合に近づけた。
In this embodiment, since the inductance of the bonding wire is about 0.2 nH, the characteristic impedance of the serial transmission line 44a is Za = 50Ω (center conductor width 128 μm, slot width 50 μm), and the line length is La.
= 560 μm, the characteristic impedance of the stub line 44b is Zb = 50Ω (center conductor 128 μm, slot width 50 μm), and the line length is Lb = 770 μm, so that the input / output terminals at a frequency of 60 GHz are similar to the first embodiment. The impedance when the input / output terminal 47 was viewed from 44 was approximated to 50Ω matching.

【0053】また、GaAs基板48の接地導体とプリ
ント基板42の接地導体は直接に接続されるので、高周
波特性に優れている。
Further, since the ground conductor of the GaAs substrate 48 and the ground conductor of the printed circuit board 42 are directly connected, the high frequency characteristics are excellent.

【0054】また、実施の形態1と同様に、オープンス
タブ線路の代わりにショートスタブ線路を用いても良
く、また、直列伝送線路44aの長さLaおよびスタブ
線路44bの長さLbは、La+n×λg1/2、Lb
+n×λg2/2としても良い。
As in the first embodiment, a short stub line may be used instead of an open stub line, and the length La of the serial transmission line 44a and the length Lb of the stub line 44b are La + n × λg1 / 2, Lb
+ N × λg2 / 2.

【0055】このようにして、GaAs基板48の入出
力端子47とプリント基板42上の入出力端子44間を
50Ωに整合させ、ボンディングワイヤのインピーダン
スを補償することにより、直列伝送線路44a及びオー
プンスタブ線路44bを設けなかった場合に比較し、反
射特性と伝送特性の改善が見られた。
In this manner, the impedance between the input / output terminal 47 of the GaAs substrate 48 and the input / output terminal 44 on the printed circuit board 42 is matched to 50Ω, and the impedance of the bonding wire is compensated. As compared to the case where the line 44b was not provided, the reflection characteristics and the transmission characteristics were improved.

【0056】(実施の形態5)図8に本発明の第5の実
施の形態を示す。
(Embodiment 5) FIG. 8 shows a fifth embodiment of the present invention.

【0057】入出力端子54と入出力端子57間の接続
をバイアホール56により行ったこと以外は実施例2と
同様である。
The second embodiment is the same as the second embodiment except that the connection between the input / output terminal 54 and the input / output terminal 57 is made by the via hole 56.

【0058】コプレーナ線路よりなる入出力端子57の
中心導体と誘電体基板52上に形成されたマイクロスト
リップ線路よりなる直列伝送線路54aをバイアホール
56により接続し、次に、マイクロストリップ線路より
なるオープンスタブ線路54bを接続し、特性インピー
ダンス50Ωを有するマイクロストリップ線路よりなる
入出力端子54に接続した。
The center conductor of the input / output terminal 57 composed of a coplanar line and the serial transmission line 54a composed of a microstrip line formed on the dielectric substrate 52 are connected by a via hole 56. The stub line 54b was connected and connected to the input / output terminal 54 composed of a microstrip line having a characteristic impedance of 50Ω.

【0059】バイアホールによる接続を行った場合で
も、直列伝送線路54aとスタブ線路54bを設けるこ
とにより、バイアホール56の有するインダクタンスの
補償が可能であった。直列伝送線路54a及びオープン
スタブ線路54bを設けなかった場合に比較し、反射特
性と伝送特性の改善が見られた。
Even in the case where the connection is performed by the via hole, the inductance of the via hole 56 can be compensated by providing the series transmission line 54a and the stub line 54b. As compared with the case where the series transmission line 54a and the open stub line 54b were not provided, the reflection characteristics and the transmission characteristics were improved.

【0060】[0060]

【発明の効果】端子間を接続する接続部品のインピーダ
ンス補償を行うことができ、小面積で容易に端子間の高
周波的接続を行うことが可能となる。
According to the present invention, it is possible to compensate for the impedance of the connecting parts for connecting the terminals, and to easily perform the high-frequency connection between the terminals in a small area.

【0061】また、請求項2記載の構造によれば、MI
C又はMMICが形成された第2の基板のサイズを小さ
くすることができるため、歩留まり及びコスト削減に有
利であり、量産性に優れる。
According to the second aspect of the present invention, the MI
Since the size of the second substrate on which C or MMIC is formed can be reduced, it is advantageous in yield and cost reduction, and is excellent in mass productivity.

【0062】また、第1の基板上の端子と第2の基板上
の端子とを接続する接続部品としてボンディングワイヤ
またはバイアホールを用いることにより、容易に接続す
る事ができ、量産性に優れる。
Further, by using a bonding wire or a via hole as a connection component for connecting the terminal on the first substrate and the terminal on the second substrate, the connection can be easily performed, and the mass productivity is excellent.

【0063】また、請求項4または5記載のように、ス
タブ線路接続部分から第2の基板を見たインピーダンス
の整合をとることにより、接続部品であるボンディング
ワイヤのインダクタンスによるインピーダンスを補償す
ることができる。ミリ波帯のような高周波においてもワ
イヤボンディングが使用可能となり、量産性に優れる。
According to the fourth or fifth aspect of the present invention, by matching the impedance when the second substrate is viewed from the stub line connection portion, it is possible to compensate for the impedance due to the inductance of the bonding wire as a connection component. it can. Wire bonding can be used even at a high frequency such as a millimeter wave band, and mass productivity is excellent.

【0064】また、端子をマイクロストリップ線路また
はコプレーナ線路で形成することにより、簡単に高周波
的に優れた接地をとることができる。
Further, by forming the terminals by microstrip lines or coplanar lines, it is possible to easily obtain excellent grounding in terms of high frequency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す平面図および
側面図である。
FIG. 1 is a plan view and a side view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の原理を説明する等価回路およびスミス
チャートである。
FIG. 2 is an equivalent circuit and a Smith chart illustrating the principle of the present invention.

【図3】本発明の原理を説明する等価回路およびスミス
チャートである。
FIG. 3 is an equivalent circuit and a Smith chart illustrating the principle of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施の形態による反射特性及び
伝送特性の改善を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing improvements in reflection characteristics and transmission characteristics according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施の形態を示す平面図および
側面図である。
FIG. 5 is a plan view and a side view showing a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第3の実施の形態を示す平面図および
側面図である。
FIG. 6 is a plan view and a side view showing a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第4の実施の形態を示す平面図および
側面図である。
FIG. 7 is a plan view and a side view showing a fourth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第5の実施の形態を示す平面図および
側面図である。
FIG. 8 is a plan view and a side view showing a fifth embodiment of the present invention.

【図9】従来技術による接続を示す平面図および側面図
である。
FIG. 9 is a plan view and a side view showing a connection according to the prior art.

【図10】従来技術による補償を示す平面図および側面
図である。
FIG. 10 is a plan view and a side view showing compensation according to the prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10a、60a…第2の基板の接地導体 10b、20、50、60b…第1の基板の接地導体 12、22、32、42、52、62、71…第1の基
板 13、29、56、59、63、77…バイアホール 14、24、54、64、72…第1の基板上に形成さ
れたマイクロストリップ線路 14a、24a、34a、44a、54a…第1の基板
上に形成された直列伝送線路 14b、24b、34b、44b、54b…第1の基板
上に形成されたスタブ線路 16、23、26、33、36、46、53、66、7
8…ボンディングワイヤ 17、47、67、75…第2の基板上に形成されたマ
イクロストリップ線路 18、28、38、48、58、68、76…第2の基
板 27、37、57…第2の基板上に形成されたコプレー
ナ線路 34、44…第1の基板上に形成されたコプレーナ線路 73、74…ボンディングパッド
10a, 60a: ground conductor of the second substrate 10b, 20, 50, 60b: ground conductor of the first substrate 12, 22, 32, 42, 52, 62, 71: first substrate 13, 29, 56, 59, 63, 77 ... Via holes 14, 24, 54, 64, 72 ... Microstrip lines 14a, 24a, 34a, 44a, 54a formed on the first substrate ... Series formed on the first substrate Transmission lines 14b, 24b, 34b, 44b, 54b ... stub lines 16, 23, 26, 33, 36, 46, 53, 66, 7 formed on the first substrate
8 Bonding wires 17, 47, 67, 75 Microstrip lines formed on the second substrate 18, 28, 38, 48, 58, 68, 76 Second substrate 27, 37, 57 Second Coplanar lines formed on the first substrate 34, 44 ... Coplanar lines 73, 74 formed on the first substrate Bonding pads

フロントページの続き (72)発明者 末松 英治 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Fターム(参考) 5E344 AA01 AA23 AA26 BB02 BB06 BB08 BB14 CC09 CD13 DD08 DD16 EE08 Continued on the front page (72) Inventor Eiji Suematsu 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka F-term (reference) 5E344 AA01 AA23 AA26 BB02 BB06 BB08 BB14 CC09 CD13 DD08 DD16 EE08

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の基板上に形成した伝送線路よりな
る第1の端子と第2の基板上に形成した伝送線路よりな
る第2の端子とを電気的に接続し、少なくともいずれか
一つの端子部分に直列伝送線路とスタブ線路とを設けた
ことを特徴とするマイクロ波・ミリ波装置。
A first terminal formed of a transmission line formed on a first substrate and a second terminal formed of a transmission line formed on a second substrate are electrically connected to each other; A microwave / millimeter wave device characterized in that a series transmission line and a stub line are provided at two terminal portions.
【請求項2】 上記第2の基板が半導体から成り、上記
第1の基板上に上記第2の基板を積層し、第1の基板上
には直列伝送線路とスタブ線路とを設け、第2の基板に
はMICまたはMMICを形成したことを特徴とする請
求項1記載のマイクロ波・ミリ波装置。
2. The second substrate comprises a semiconductor, the second substrate is laminated on the first substrate, a series transmission line and a stub line are provided on the first substrate, 2. The microwave / millimeter wave device according to claim 1, wherein MIC or MMIC is formed on said substrate.
【請求項3】 上記第1の端子と上記第2の端子とを、
ボンディングワイヤまたはバイアホールにより電気的に
接続したことを特徴とする請求項1記載のマイクロ波・
ミリ波装置。
3. The first terminal and the second terminal,
2. The microwave communication system according to claim 1, wherein the microwaves are electrically connected by bonding wires or via holes.
Millimeter wave device.
【請求項4】 上記第1の端子部分に直列伝送線路とス
タブ線路とを具備し、第1の端子及び第2の端子はそれ
ぞれ特性インピーダンスZ0を有し、直列伝送線路とス
タブ線路との存在により、スタブ線路接続部分から第2
の基板を見たインピーダンスをZ0に近づけたことを特
徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載のマイクロ
波・ミリ波装置。
4. The first terminal portion includes a series transmission line and a stub line, the first terminal and the second terminal each have a characteristic impedance Z0, and the presence of the series transmission line and the stub line. The second connection from the stub line connection
The microwave / millimeter wave device according to any one of claims 1 to 3, wherein the impedance when the substrate is viewed is brought close to Z0.
【請求項5】 上記第1の端子部分に直列伝送線路とス
タブ線路を具備し、第1の端子及び第2の端子はそれぞ
れ特性インピーダンスZ01およびZ02を有し、直列
伝送線路とスタブ線路の存在により、スタブ線路接続部
分から第2の基板を見たインピーダンスをZ01、第2
の端子から第1の基板を見たインピーダンスをZ02に
近づけたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか
に記載のマイクロ波・ミリ波装置。
5. The first terminal portion includes a series transmission line and a stub line, the first terminal and the second terminal have characteristic impedances Z01 and Z02, respectively, and the presence of the series transmission line and the stub line As a result, the impedance when the second substrate is viewed from the stub line connection portion is Z01,
The microwave / millimeter wave device according to any one of claims 1 to 3, wherein the impedance when the first substrate is viewed from the terminal of (1) is closer to Z02.
【請求項6】 上記第1の端子がマイクロストリップ線
路またはコプレーナ線路により形成され、上記第2の端
子がマイクロストリップ線路またはコプレーナ線路によ
り形成されたことを特徴とする請求項1ないし3のいず
れかに記載のマイクロ波・ミリ波装置。
6. The device according to claim 1, wherein said first terminal is formed by a microstrip line or a coplanar line, and said second terminal is formed by a microstrip line or a coplanar line. The microwave / millimeter wave device according to 1.
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