JP2002059284A - レーザ加工装置及び加工方法 - Google Patents
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Abstract
り、エネルギ利用効率を高めたレーザ加工装置を提供す
る。 【解決手段】 レーザビーム源10が、中心に中空部が
配された環状のビーム断面を有する加工用レーザビーム
を生成する。レーザビーム源で生成された加工用レーザ
ビームを、集光レンズ16が収束させ、加工対象物32
の表面上に入射させる。反射鏡15,17が、加工用レ
ーザビームのビーム断面の中空部に配置されている。こ
の反射鏡は、加工用レーザビームのうち加工対象物の表
面で反射した光を、加工対象物の表面に向けて反射させ
る。
Description
び加工方法に関し、特にエネルギ利用効率を高めたレー
ザ加工装置及び加工方法に関する。
工対象物に照射して、穴あけ、切断、溶接等を行なうレ
ーザ加工装置にレーザ出射光学部が使用される。通常、
レーザ出射光学部は、レーザ発振器に接続された光ファ
イバの先端に取り付けられる。レーザ出射光学部は、光
ファイバの先端から所定の広がり角を持って出射するレ
ーザ光を平行光に変換するコリメートレンズと、コリメ
ートレンズからの平行光を集光する集光レンズとを有し
ている。集光レンズで集光されたレーザ光が、加工対象
物の表面の被加工点に入射する。
場合、その表面に照射されたレーザ光の大部分が、加工
対象物の表面で反射する。加工対象物の表面で反射した
レーザ光は、無駄に捨てられることになる。具体的に
は、加工対象物に入射したレーザ光の全エネルギのう
ち、実際に加工に寄与するのは、その加工対象物の材質
にもよるが、高々10%程度である。即ち、加工対象物
に入射したレーザ光の全エネルギの約90%以上は無駄
になっている。特に、加工対象物がステンレスの場合、
加工に寄与するエネルギは、全エネルギの6〜9%、ア
ルミニウムの場合は、さらにその半分程度であり、エネ
ルギの利用効率が著しく悪い。
を利用することにより、エネルギ利用効率を高めたレー
ザ加工装置及び加工方法を提供することである。
と、中心に中空部が配された環状のビーム断面を有する
加工用レーザビームを生成するレーザビーム源と、前記
レーザビーム源で生成された加工用レーザビームを収束
させ、加工対象物の表面上に入射させる集光レンズと、
前記加工用レーザビームのビーム断面の前記中空部に配
置され、該加工用レーザビームのうち前記加工対象物の
表面で反射した光を、前記加工対象物の表面に向けて反
射させる第1の反射鏡とを有するレーザ加工装置が提供
される。
物に再入射する。このため、レーザビームのエネルギ利
用効率を高めることができる。
環状のレーザビームを収束させ、加工対象物の表面上に
集光させる工程と、前記加工対象物の表面で反射した光
のうち、該加工対象物に入射するレーザビームの中空部
を逆向きに伝搬する光を反射させ、該加工対象物の表面
に向かって反射させる工程とを有するレーザ加工方法が
提供される。
伝搬する光を反射させ、加工対象物の表面に再入射させ
ることにより、レーザビームのエネルギ利用効率を高め
ることができる。
よるレーザ出射光学部の構成を示す。レーザ光源10か
ら出射したレーザビームが、光ファイバ11内を伝搬
し、その出射端面から出射する。光ファイバ11の先端
から出射したレーザビームがコリメートレンズ12に入
射し、コリメートされる。
円錐プリズム13に入射し、さらに第2の円錐プリズム
14に入射する。第1の円錐プリズム13と第2の円錐
プリズム14は、レーザビームのビーム断面を環状に変
換する。環状のビーム断面を有するレーザビームが、第
1の凹面鏡15に設けられた貫通孔15Aを通過する。
貫通孔15Aの内径は、環状断面を有するレーザビーム
の外径に等しいかそれより僅かに大きい。
レーザビームが、集光レンズ16に入射する。集光レン
ズ16は、レーザビームの環状断面に対応した環状の透
過領域を有する。集光レンズ16の透過領域の内側に、
この集光レンズ16と一体となるよう構成された第2の
凹面鏡17が配置されている。
束されたレーザビームに照射される位置に、加工対象物
32を保持する。集光レンズ16の焦点が、加工対象物
32の表面上に位置するように、加工対象物32が保持
される。
金属部材の凹面に金メッキ等を施すことにより作製され
る。或いは、銅や真鍮の金属部材あるいはセラミックス
の凹面に鏡面加工を施して作製される。この第1の凹面
鏡15の曲率中心は、集光レンズ16の焦点に一致す
る。
ーザビームの入射側の面)に全反射ミラーコーティング
を施すことにより作製できる。反対側の面(加工対象物
32側の面)は平面であり、無反射コーディングが施さ
れている。また、集光レンズ16を構成するガラス材を
環状とするか、加工対象物32側の面に凹所を形成し、
そこに金属材料(例えば、銅)を埋め込み、その表面を
金メッキして反射面としてもよい。第2の凹面鏡17の
曲率中心も、第1の凹面鏡15の曲率中心と同様に集光
レンズ16の焦点に一致する。
第2の円錐プリズムと集光レンズ16との間に位置する
が、図2に示すように、第1の凹面鏡15の反射面を、
集光レンズ16よりも、加工対象物32側に配置しても
よい。例えば、集光レンズ16を第1の凹面鏡15に設
けられた貫通孔15A内に配置してもよい。この場合、
第2の凹面鏡17は、ガラス部材の加工対象物32側の
面が反射面になる。
いて説明する。レーザ発振器10から出射されたレーザ
ビームが、光ファイバ11の先端より出射されてコリメ
ートレンズ12に入射する。コリメートレンズ12は、
所定の広がり角を持って進行するレーザビームを平行光
線束に変換する。これは、コリメートレンズ12の焦点
に光ファイバ11の先端を位置させることにより実現さ
れる。なお、光ファイバ11のコア径を600μm、コ
リメートレンズ12の直径を50mm、焦点距離を13
0mmとすると、コリメートレンズ12から出射される
平行光線束のビーム径lは、34mmとなる。
光線束は、第1の円錐プリズム13に入射する。第1の
円錐プリズム13は、その中心軸がコリメートレンズ1
2の光軸と一致するように配置されている。第2の円錐
プリズム14は、第1の円錐プリズムと同軸上に配置さ
れており、第1の円錐プリズム13から偏向角δで出射
された光線束を、環状断面を有する平行光線束に変換す
る。
円錐プリズム14の各々において、入射するレーザ光の
直径(又は外径)と出射されるレーザビームの直径(外
径)とが等しいと仮定する。第1の円錐プリズム13に
入射するレーザ光の直径をl、第1の円錐プリズム13
から出射されるレーザ光の偏向角度をδ、第1の円錐プ
リズム13と第2の円錐プリズム14との距離をdと
し、第2の円錐プリズムから出射される環状断面を有す
る平行光線束の内径をD1とすると、
らわかるように、dを変化させることにより、環状断面
の平行光線束の内径D1を、その外径D2とともに変更
させることができる。つまり、第2の円錐プリズム14
をその中心軸に沿って移動可能に設けることにより、そ
こから出射される環状断面の平行光線束の内径及び外径
を変えることができる。なお、第1及び第2の円錐プリ
ズム13及び14の偏向角度及び屈折率を、それぞれ、
θ及びnとすると、第1の円錐プリズム13から出射さ
れるレーザ光の偏向角度δは、
面の平行光線束は、凹面鏡15の貫通孔15A内を通過
して、集光レンズ16に入射する。
0mm、焦点距離100mmの円環状レンズであって、
入射した平行光線束を収束させて加工対象物32の表面
上に入射させる。なお、集光レンズ16の外径は、環状
断面の平行光線束の外径D2よりも大きい直径を有して
いればよく、この条件を満たす範囲で小さい方が好まし
い。
する光の多くは反射する。この反射は、通常、乱反射
(拡散反射)となる。これは、レーザ加工の対象となる
金属材の表面が、通常、鏡面加工されていないからであ
る。但し、乱反射とはいえ、全ての方向に均一に光が反
射するわけではない。即ち、入射点における反射が正反
射(鏡面反射)であると仮定した場合の、反射の法則に
従う方向に、それ以外の方向よりも多くの光が反射す
る。このことは、以下に説明するように、図3に示す実
験結果からも容易に理解できる。
する場合、反射角45度の方向に反射する光が、他の方
向に反射する光よりも強い(分布密度が高い)こと示し
ている。加工対象物32の表面に対して垂直に加工用レ
ーザ光を入射させると、入射方向に多くの反射光が戻る
ことになる。このような戻り光による影響を防止するた
めに、光ファイバの先端には、戻り光が光ファイバに再
入射することを阻止するための反射光対策が施されてい
る。
は、加工対象物32の表面で生じた乱反射による戻り光
のうち、入射方向及びその周辺に向かって進む反射光を
反射する。上述のように、第1の凹面鏡15及び第2の
凹面鏡17は、各々の曲率中心が集光レンズ16の焦点
に一致するように設置されているので、第1の凹面鏡1
5及び第2の凹面鏡17で反射した光は、図4に示すよ
うに、再び、加工対象物の被加工点に入射する。
射し、加工対象物32の表面に再入射した光も、その多
くが加工対象物32の表面で反射する。そのうち、第1
及び第2の凹面鏡15及び17に入射する反射光は、そ
の反射面で反射し、再度、加工対象物32の表面に入射
する。光の一部は、加工対象物32と第1及び第2の凹
面鏡15及び17との間を往復する。
繰り返し入射すると、従来、加工に寄与していなかった
光が加工に寄与することになり、従来よりも高いエネル
ギ利用効率を実現できる。例えば、加工対象物32に入
射するレーザ光のうち10%が加工に寄与し、残り90
%が反射され、加工対象物32で反射したレーザ光のう
ちの1/3が、第1の凹面鏡15及び第2の凹面鏡17
で反射して加工対象物へ再入射すると仮定する。第1の
凹面鏡15及び第2の凹面鏡17で2度反射した光まで
が加工に寄与すると仮定すると、従来に比べ1.4倍以
上のエネルギ利用効率を実現できる。
ャルレーザ照射(集光レンズ24からの照射)を行なう
ものとすると、そのうち加工に寄与するのは200Wで
ある。残りの1800Wは、加工対象物の表面で反射す
る。反射光のうちの1/3(即ち、600W)が凹面鏡
15及び17で反射し、加工対象物32に再入射する。
凹面鏡15及び17で反射した加工用レーザ光(第1次
反射光)の10%にあたる60Wが加工に寄与する。
ザ光(600W)のうちの90%(540W)が、再度
加工対象物の表面で反射する。その1/3(540/3
=180W)が、再び凹面鏡15及び17で反射し、加
工対象物32に再入射する。加工対象物32に入射する
180Wの第2次反射光のうち10%、即ち18Wが加
工に寄与する。このように、2000Wの加工用レーザ
光を照射すると200W+60W+18W=278W
が、加工に寄与することとなり、凹面鏡15及び17を
取り付けない場合に比べて約1.4倍のエネルギ利用効
率を実現できる。
するためには、出力3kWクラスのレーザ発振器が必要
であった。本実例によるレーザ出射光学部を用いること
により、2kWクラスのレーザ発振器で上記パワーを実
現することができる。
るほど(反射面を広くするほど)、加工対象物へ向けて
反射するレーザ光の割合は多くなる。しかしながら、第
1の凹面鏡15の縁部に近い位置(加工対象物の近く)
で反射した光は、加工対象物32へ大きな入射角で入射
する。大きな入射角で入射する光は、加工品質に悪影響
を与える。また、反射面を大きくすると、加工装置全体
が大きくなってしまう。そこで、第1の凹面鏡15は、
その縁部で反射されたレーザ光の加工対象物への入射角
が約25度以下となるような形状及び大きさとすること
が望ましい。
施例によるレーザ加工装置ついて説明する。
レンズ12、第1の円錐プリズム13、第2の円錐プリ
ズム14は、図1に示した対応する部分と同様の構成で
ある。第2の円錐プリズム14を透過した環状断面を有
する加工用レーザビームが、折返しミラー21及び22
で反射し、円環状の透過領域を有する集光レンズ16に
入射する。折返しミラー22は、加工用レーザビームを
全反射させ、可視光を透過させる。
ームが、テーブル31の上に保持された加工対象物32
の表面に入射する。集光レンズ16の焦点が、加工対象
物32の表面上に位置するように、集光レンズ16及び
加工対象物32の位置が調節されている。
が配置され、内側に第2の凹面鏡17が配置されてい
る。集光レンズ16、第1の凹面鏡15、及び第2の凹
面鏡17は、図2に示した実施例の対応する構成部分と
同様の構成を有する。
を照明する。図5では、外部照明方法が採用されている
場合を示しているが、同軸照明方法を採用してもよい。
加工対象物32の表面で散乱した照明光が、集光レンズ
16でコリメートされ、折返しミラー22を透過する。
折返しミラー22を透過した光は、結像レンズ23に入
射する。結像レンズ23は、加工対象物32の表面を、
撮像装置24の撮像面上に結像させる。撮像装置24
は、例えばCCDカメラ等で構成される。撮像装置24
により、加工対象物32の表面の加工状態を観測するこ
とができる。
は15mm、外径は65mm、焦点距離は100mmで
ある。結像レンズ23の外径は50mm、有効口径は4
7mm、焦点距離は120mmである。集光レンズ16
と結像レンズ23とを含むレンズ系の光学倍率は1.2
倍になる。
加工対象物32の表面を観察することができた。集光レ
ンズ16の透過領域の内径を大きくすると、解像度が低
下する。透過領域の内径を18mm及び20mmとする
と、内径が15mmの時に比べて解像度は低下したが、
加工状態を観察するには十分な解像度であった。透過領
域の内径を25mmとすると、さらに解像度が低下し、
観察に必要な解像度が得られなかった。
の解像度は、集光レンズ16の透過領域の外径、内径、
及び結像レンズ23の有効口径に依存すると考えられ
る。十分な解像度を得るためには、集光レンズ16の透
過領域の外径と結像レンズ23の有効口径とのうち小さ
な方を、集光レンズ16の透過領域の内径の2.3倍以
上とすることが好ましい。
施例によるレーザ加工装置について説明する。
置の概略図を示す。第2の実施例では、環状の透過領域
を有する集光レンズ16が用いられていたが、第3の実
施例では、集光レンズ16の代わりに、全面が透過領域
とされた集光レンズ16Aが用いられる。また、第3の
実施例では、第2の凹面鏡17の代わりに、反射鏡17
Aが配置される。その他の構成は、第2の実施例による
レーザ加工装置の構成と同様である。
との間を伝搬するレーザビームの断面の中空部内に配置
されている。加工対象物32の被加工点で反射したレー
ザビームが、集光レンズ16Aで平行光線束とされ、折
返しミラー22で反射し、反射鏡17Aに入射する。反
射鏡17Aは、被加工点からの反射光を、加工対象物3
2に向けて反射させる。反射鏡17Aで反射した光線束
は、折返しミラー22で反射し、集光レンズ16Aで収
束されて加工対象物32に再入射する。
の表面で散乱した照明光が、集光レンズ16A及び結像
レンズ23を通って、撮像装置24に入射する。集光レ
ンズ16Aの実効的な口径が、第2の実施例で用いられ
ていた集光レンズ16の実効的な口径よりも大きいた
め、撮像装置24に映し出される像の解像度をより高め
ることができる。
21と22との間に配置したが、レーザビームの断面が
環状にされており、加工対象物32から撮像装置24に
至る照明光の経路から分岐した部分であれば、どの位置
に配置してもよい。
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に
自明であろう。
加工対象物の表面で反射した光を、加工対象物表面に再
入射させることにより、レーザビームのエネルギ利用効
率を高めることができる。
概略図である。
工装置の概略図である。
加工対象物へのレーザ光の入射方向と反射光の分布密度
との関係を示すグラフである。
第2の凹面鏡における反射を説明するための図である。
ある。
ある。
Claims (10)
- 【請求項1】 中心に中空部が配された環状のビーム断
面を有する加工用レーザビームを生成するレーザビーム
源と、 前記レーザビーム源で生成された加工用レーザビームを
収束させ、加工対象物の表面上に入射させる集光レンズ
と、 前記加工用レーザビームのビーム断面の前記中空部に配
置され、該加工用レーザビームのうち前記加工対象物の
表面で反射した光を、前記加工対象物の表面に向けて反
射させる第1の反射鏡とを有するレーザ加工装置。 - 【請求項2】 前記レーザビーム源が、レーザビームを
出射するレーザ発振器と、 前記レーザ発振器から出射したレーザビームをコリメー
トするコリメートレンズと、 前記コリメートレンズでコリメートされた平行光線束の
ビーム断面形状を、環状に変換するビーム形状変換装置
とを含む請求項1に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項3】 さらに、前記加工用レーザビームが伝搬
する経路の外側に配置され、前記加工用レーザビームの
うち前記加工対象物の表面で反射した光を、前記加工対
象物の表面に向けて反射させる第2の反射鏡を有する請
求項1または2に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項4】 さらに、撮像装置と、 前記加工対象物の表面で散乱し、前記集光レンズを透過
した光を収束させ、前記撮像装置の撮像面上に、前記加
工対象物の表面を結像させる結像レンズとを有する請求
項1〜3のいずれかに記載のレーザ加工装置。 - 【請求項5】 前記集光レンズが、前記加工用レーザビ
ームを透過させる環状の透過領域を有し、前記第1の反
射鏡が、前記集光レンズの環状の透過領域の内側に配置
されている請求項1〜4のいずれかに記載のレーザ加工
装置。 - 【請求項6】 前記第1の反射鏡と第2の反射鏡とが凹
面鏡であり、両者の曲率中心が一致する請求項5に記載
のレーザ加工装置。 - 【請求項7】 前記集光レンズの透過領域が円環状であ
り、該透過領域の外径と前記結像レンズの有効口径との
小さな方が、前記透過領域の内径の2.3倍以上である
請求項5または6に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項8】 さらに、前記加工対象物の表面で散乱
し、前記撮像装置に達するまでの散乱光の経路と、前記
加工用レーザビームの経路とを分岐させる分岐光学素子
を有し、 前記第1の反射鏡が、前記加工用レーザビームの経路の
うち前記散乱光の経路と重複しない部分に配置されてい
る請求項4に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項9】 ビーム断面が環状のレーザビームを収束
させ、加工対象物の表面上に集光させる工程と、 前記加工対象物の表面で反射した光のうち、該加工対象
物に入射するレーザビームの中空部を逆向きに伝搬する
光を反射させ、該加工対象物の表面に向かって反射させ
る工程とを有するレーザ加工方法。 - 【請求項10】 前記レーザビームを、前記加工対象物
の表面上に集光させる工程において、該レーザビームを
該加工対象物の表面に対して斜めに入射させる請求項9
に記載のレーザ加工方法。
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