JP2002044391A - 原稿オフセット量検出装置 - Google Patents
原稿オフセット量検出装置Info
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Abstract
できる原稿オフセット量検出装置を提供すること。 【解決手段】 原稿11を載置する透光性板材12と、
この透光性板材を介して原稿にビーム光を照射するビー
ム光照射部27と、上記ビーム光の上記透光性板材から
の反射光と原稿からの反射光とを検出する検出部32と
を備え、上記両反射光の位置から原稿の透光性板材に対
するオフセット量Dを計測するようにした原稿オフセッ
ト量検出装置。
Description
シミリ装置等の原稿読取装置において、プラテンガラス
に対するオフセット(浮き)の生じやすい書籍等の原稿
を載置した状態で、原稿のオフセット量を検出できる原
稿オフセット量検出装置に関するものである。
稿読取装置において、原稿を載置したプラテンガラスの
内側から上記原稿を照射し、反射光をCCD(Charge C
oupledDevice)等の受光部で受光することにより、原稿
を読み取るようにしたものが多用されている。
じ代を有する原稿を読み取る場合、綴じ代周辺でプラテ
ンガラス表面に対する原稿のオフセットが不可避的に生
じるため、綴じ代周辺を読み取る際には、原稿面からミ
ラー等の光学系を経て受光部に至る光路長が設定値より
長くなる。そのため、綴じ代周辺の読取時には、受光部
上で光学系の焦点が合わなくなり、読取画像が不鮮明に
なる問題があった。
原稿のオフセットにかかわらず受光部上で光学系の焦点
が合うように制御するためには、まず、原稿のオフセッ
ト量を検出する必要がある。従って、本発明では、上記
オフセット量を検出できる原稿オフセット量検出装置を
提供することを目的とする。
ット量検出装置は、原稿を載置する透光性板材と、この
透光性板材を介して原稿にビーム光を照射するビーム光
照射部と、上記ビーム光の上記透光性板材からの反射光
と原稿からの反射光とを検出する検出部を備え、両反射
光の位置から原稿の透光性板材に対するオフセット量を
計測することを特徴とするものである。
請求項1の構成において、上記ビーム光照射部と検出部
とを移動させながら連続してオフセット量を検出するこ
とを特徴とするものである。
請求項1又は2の構成において、上記透光性板材の表面
の一部に金属蒸着膜を形成したことを特徴とするもので
ある。
に基づいて説明する。まず、本実施の形態の原稿オフセ
ット量検出装置20を含む複写機能付きのファクシミリ
装置Fの全体構成につき簡単に説明する。図1に示すよ
うに、このファクシミリ装置Fは、CPU(中央処理装
置)等からなる制御部1を備えている。制御部1には、
ROM(Read Only Memory)2、RAM(Random Access M
emory)3、画像メモリ4、モデム5、回線接続部として
のNCU(Network Control Unit)6、表示部7、操作部
8、読取部9及び記録部10がバスラインBにより各々
接続されている。
体を制御するプログラム等が予め記憶されている。な
お、ROM2に代えて、フラッシュメモリ等の書換え可
能な不揮発性メモリを使用してもよい。一方、RAM3
には、制御部1による制御に必要な各種データ、例え
ば、モデム5により設定されたデータレート等が一時記
憶されるようになっている。
取られた原稿の画像データが一時的に蓄積されるように
なっている。モデム5は、送受信データの変復調、具体
的には送信データを音声帯域信号に変調してNCU6を
介して公衆回線網Lに送出する一方、公衆回線網Lから
NCU6を介して受信した音声帯域信号をディジタル信
号に復調するための装置である。
装置Fとの接続を制御するとともに、相手先のファクシ
ミリ番号に応じたダイヤルパルスを送出する機能及び着
信を検出する機能を備えている。
ミリ装置Fの上面で略水平に延び、原稿11が載置され
るプラテンガラス12(透光性板材)と、プラテンガラ
ス12の内側(下方)で各々水平方向への往復移動自在
に配置された光源ユニット13及びミラーユニット14
と、プラテンガラス12の内側の定位置に各々配置され
たレンズ15及びCCDセンサ16とを備えている。な
お、プラテンガラス12は、図示しないプラテンカバー
により開閉自在に覆われるようになっている。
は、プラテンガラス12の幅方向の略全域に渡って延び
ている。この光源ユニット13は、原稿11を照射する
光源17と、原稿11からの反射光をミラーユニット1
4側へ反射する第1反射ミラー18と、後述する原稿オ
フセット量検出装置20とを同一の支持部材21上に取
り付けてユニット化したものである。
光ダイオードや冷陰極管等を使用することができる。な
お、原稿オフセット量検出装置20は、支持部材21の
一端部に配置されるとともに、原稿11の走査時におけ
る光源ユニット13の移動方向(図2、図3の右方向)
に見て光源17より前方側に配置されている。
は、上記第1反射ミラー18からの反射光を略直角下向
きに反射する第2反射ミラー22と、第2反射ミラー2
2からの反射光を水平方向の後方側へ反射する第3反射
ミラー23とを一体的に設けた複合ミラー24と、支持
部材25と、複合ミラー24を支持部材25に対して前
後方向へ所定量だけ移動させるアクチュエータ26とを
備えている。
しないが、例えば、双方向への回転可能なモーターと、
該モーターの回転に伴って相対移動可能に螺合された雄
ねじ及び雌ねじとからなる。また、上記レンズ15は第
3反射ミラー23からの反射光の光路中に配置され、C
CDセンサ16上に結像させる役割を有する。
すれば、プラテンガラス12の上面から第1乃至第3反
射ミラー18、22、23を経てCCDセンサ16に至
る光路長は予め設定された一定値に保つ必要がある。
時に光源ユニット13とミラーユニット14とは同一の
走査用モーター(不図示)により図2の右側へ各々チェ
ーン等を介して同期して駆動されるが、光源ユニット1
3の移動速度Vに対してミラーユニット14の移動速度
がV/2となるように設定されている。従って、図4に
示すように、光源ユニット13が所定の原稿走査開始位
置から右側へLだけ移動すると、ミラーユニット14は
右側へL/2だけ移動することになる。
じ代11aの周辺でプラテンガラス12の表面に対する
原稿11のオフセット(浮き)が生じる。その場合、上
記光路長が設定値よりオフセット量Dだけ長くなるた
め、CCDセンサ16上で光学系の焦点が合わなくな
り、読取画像が不鮮明になる。
出装置20でオフセット量Dが検出された際に、制御部
1がアクチュエータ26を駆動して複合ミラー24を支
持部材25に対してD/2だけ後方(図4の左方)へ移
動させることにより、原稿11のオフセットにかかわら
ず、光路長を略一定に保つようにしている。
何ら補正を行わなければ、原稿11の表面からCCDセ
ンサ16に至る光路長は所定値よりDだけ長くなる。こ
れに対し、オフセット量Dに対応させて複合ミラー24
を後方へD/2だけ移動させた場合、反射ミラー18と
第1反射ミラー22間、及び第2反射ミラー23とCC
Dセンサ16間で各々光路長がD/2宛短くなり、双方
合わせてDだけ短くなるため、結果的にオフセット量D
が相殺されることになる。
フセット量Dが検出されてから、アクチュエータ26で
その補正が行われるまでに若干の時間遅れが生じ得る。
しかし、本実施の形態では、原稿オフセット量検出装置
20を原稿11の走査方向(図2、4の右方向)に見て
光源17より前方側へ配置することにより、オフセット
量の検出を原稿11の走査より先行させているため、上
記時間遅れに対応することができる。
と上記時間遅れとに応じて、光源17と後述のレーザー
発信器27間の間隔を定めるようにすれば、上記時間遅
れの影響を完全に排除することができる。なお、上記オ
フセットDは連続的に変化するので、それに応じてアク
チュエータ26による複合ミラー24の移動量D/2も
連続的に変化させるように制御部1で制御する。
量検出装置20(以下、検出装置20という)につき具
体的に説明する。図5には、検出装置20が原稿11の
幅方向端部周辺位置Iに存在する場合と綴じ代周辺位置
IIに存在する場合とを、便宜上、同一図面に表してい
る。
ーザー発信器27(ビーム光照射部)と、レーザー発信
器27の上方に配置され、上記レーザー光を大略垂直上
向きに指向するレンズ28及びスリット30と、プラテ
ンガラス12又は原稿11からの上記レーザー光の反射
光を集光するレンズ31と、レンズ31で集光された光
を受光するCCDラインセンサ32(検出部)とを備え
ている。
支持部材21(図5には図示せず)上に取り付けられて
いる。なお、CCDラインセンサ32は、水平面に対し
て所定角度θだけ傾斜した状態で支持部材21上に取り
付けられている。
理を説明する。書籍等のオフセットの生じ得る原稿11
であっても、図5中Iのように、レーザー発信器27が
原稿11の幅方向端部周辺に位置している段階では、通
常、オフセットは発生せず、原稿11の表面がプラテン
ガラス12の上面に密着している。
ガラス12の上面に密着している状態で原稿11の表
面、つまり、プラテンガラス12の上面からの反射光を
CCDラインセンサ32で受光する。
であるが、CCDラインセンサ32の水平面に対する傾
斜角度がθであるため、係る配置関係から、垂直方向に
対して角度θだけ傾斜した方向の反射光の強度がCCD
ラインセンサ32では極大となる。制御部1は、この場
合のCCDラインセンサ32上での反射光の極大点P1
を、例えば、RAM3内に設けたガラス上面反射光位置
記憶領域に記憶させる。
ト14の移動に伴う原稿11の走査が進行するに伴っ
て、上記レーザー光が原稿11の綴じ代11a周辺を照
射するようになると、この綴じ代周辺位置IIでは、プラ
テンガラス12に対する原稿11のオフセットが存在す
るため、原稿11の表面からの反射光のCCDラインセ
ンサ32での極大点はP2に移行する。つまり、垂直方
向に対する傾斜角度がθである反射光は、CCDライン
センサ32上の点P2で受光される。
憶されているプラテンガラス12の上面からの反射光の
極大点P1と、オフセットの生じている原稿11の表面
からの反射光の極大点P2との間の距離dを求めること
により、オフセット量D、つまり、プラテンガラス12
の上面と原稿11の表面間の上下間隔をD=d/sinθ
の計算式から算出することができる。
稿11の走査時における制御部1の制御手順を今一度説
明する。操作部8に設けた図示しない読取ボタン等によ
り原稿11の読取開始が指示されると、制御部1は、上
記走査用モーター及びレーザー発信器27を順次オンと
する(S1及びS2)。
等によって検出される読取開始位置S(図2参照)まで
光源ユニット13が移動したか否かを判定し(S3)、
読取開始位置Sに到達していなければ同一の判定を繰り
返す。
していれば、制御部1は、読取位置(X)、つまり、図
2の右方向に移動しながら原稿11の走査を行う光源ユ
ニット13の現在位置をカウントするカウンタ(不図
示)をクリア(リセット)し、以後、上記走査用モータ
ーの回転数をカウントすること等により、読取位置
(X)のカウントを開始する(S4)。
るCCDラインセンサ32が反射光を検出したか否かを
検出し(S5)、検出していなければ同一の判定を繰り
返す。一方、CCDラインセンサ32が反射光を検出し
ていれば、この読取開始直後における反射光は、図2の
ようにプラテンガラス12の上面に密着した原稿11の
幅方向端部からの反射光であるので、制御部1はこの反
射光初期位置P1をRAM3内のガラス上面反射光位置
記憶領域に記憶させる(S6)。
のカウント値に基づいて原稿11のサイズ毎に設定され
ている原稿読取終了位置Eに到達したか否かを判定し
(S7)、到達していなければ、更に読取位置(X)を
カウントする(S8)。
2が反射光を検出したか否かを判定し(S9)、検出し
ていれば、更に反射光が上記初期位置(S6)から移動
しているか否かを判定する(S10)。なお、S9又は
S10における判定結果が否定的であれば、S7に復帰
する。
初期位置から移動していれば、続いて、制御部1は反射
光の移動量d(図5中II部参照)からオフセット量Dを
算出し(S11)、オフセット量Dをアクチュエータ2
6の駆動部(図示せず)に出力(S12)した後、S7
に復帰する。なお、上記駆動部はオフセット量Dに基づ
いてアクチュエータ26をオフセット量Dの1/2だけ
図4の左方へ駆動する。
置Eに到達していれば、制御部1は上記走査用モーター
及びレーザー発信器27を順次オフとし(S13、S1
4)、原稿読取処理を終了する。
ス12の上面に密着している原稿11の幅方向端部周辺
でのレーザー発信器27の出力レーザー光の反射光に基
づいてプラテンガラス12の上面からの反射光を求める
ものとしたが、プラテンガラス12の上面からの反射光
位置P1は毎回略一定であるから、この反射光位置P1
を予め測定して記憶しておくことにより、S5及びS6
の処理を省略することもできる。
こでは、プラテンガラス12の上面における検出装置2
0の移動範囲に銀又はアルミニウム等の金属による蒸着
膜12aを形成している。図8に示すように、この蒸着
膜12aはレーザー発信器27の出力レーザー光の一部
を透過させ、他の一部を反射させる役割を果たす。
12の上面からの反射光位置P1と、オフセットの生じ
ている原稿11の表面からの反射光位置P2とをCCD
ラインセンサ32で同時に受光し、その位置ずれdに応
じてオフセット量Dを算出することができる。
検出装置20の若干の上下移動が発生したような場合で
も、検出装置20の上下位置にかかわらずオフセット量
Dを一層正確に検出して、光路長の調整を一層的確に行
えるようになる。
稿11の走査用の光源17の光が蒸着膜12aによって
弱められるため、何らの補正等を行わない場合、蒸着膜
12aに対応する領域で読取画像が暗くなる問題があ
る。しかし、周知のシェイディング補正を行うことによ
り、この問題に対応可能である。
いて、検出装置20のレーザー発信器27の周辺では、
光源17の光に加えてレーザー発信器27からのレーザ
ー光が原稿11に入射するため、読取画像が若干明るく
なりがちであるが、これについても上記シェイディング
補正で対応可能である。
はファクシミリ装置Fの幅方向一端部近傍に設けるもの
としたが、上記シェイディング補正を実施する限り、検
出装置20(及び蒸着膜12a)はファクシミリ装置F
の幅方向中間部等に設けることもできる。また、以上で
は、複写機能付きのファクシミリ装置Fに付属する原稿
オフセット量検出装置20につき説明したが、係る検出
装置20は複写専用機又はファクシミリ専用機に付属す
るものであってもよい。
性板材と、この透光性板材を介して原稿にビーム光を照
射するビーム光照射部と、上記ビーム光の上記透光性板
材からの反射光と原稿からの反射光とを検出する検出部
を備えているので、上記両反射光の位置から原稿の透光
性板材に対するオフセット量を計測することができる。
のオフセット量が大きい程大きくなるので、両反射光の
位置のずれに基づいてオフセット量を求めることができ
る。このようにして計測したオフセット量に応じて、原
稿と該原稿からの反射光を受光する受光部との間の光路
長を調整することで、光学系の焦点を合わせて鮮明な読
取画像を得ることが可能となる。
請求項1の構成において、上記ビーム光照射部と検出部
とを移動させながら連続してオフセット量を検出するも
のであるから、原稿の各部のオフセット量の変化を連続
的に検出して、各部のオフセット量に応じた光路長の調
整を行うことにより、原稿の全ての部分で光学系の焦点
を合わせて鮮明な読取画像を得ることが可能になる。
請求項1又は2の構成において、上記透光性板材の表面
の一部に金属蒸着膜を形成したものであるから、透光性
板材の透光性部分からの反射光が得られにくい場合で
も、上記金属蒸着膜からの反射光と原稿面からの反射光
とを検出することにより、原稿のオフセット量を確実に
算出することができるようになる。
置が内蔵されるファクシミリ装置の全体構成を示すブロ
ック図。
面説明図。
動した状態を示す説明図。
出装置が原稿のオフセット量を検出する原理を示す拡大
側面説明図。
ーチャート。
平面説明図。
が原稿のオフセット量を検出する原理を示す拡大側面説
明図。
Claims (3)
- 【請求項1】 原稿を載置する透光性板材と、この透光
性板材を介して原稿にビーム光を照射するビーム光照射
部と、上記ビーム光の上記透光性板材からの反射光と原
稿からの反射光とを検出する検出部とを備え、上記両反
射光の位置から原稿の透光性板材に対するオフセット量
を計測することを特徴とする原稿オフセット量検出装
置。 - 【請求項2】 上記ビーム光照射部と検出部とを移動さ
せながら連続してオフセット量を検出することを特徴と
する請求項1記載の原稿オフセット量検出装置。 - 【請求項3】 上記透光性板材の表面の一部に金属蒸着
膜を形成したことを特徴とする請求項1又は2記載の原
稿オフセット量検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000224296A JP4099689B2 (ja) | 2000-07-25 | 2000-07-25 | 原稿オフセット量検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000224296A JP4099689B2 (ja) | 2000-07-25 | 2000-07-25 | 原稿オフセット量検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2002044391A true JP2002044391A (ja) | 2002-02-08 |
JP4099689B2 JP4099689B2 (ja) | 2008-06-11 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014235129A (ja) * | 2013-06-04 | 2014-12-15 | 日産自動車株式会社 | ワイパブレードの倒れ形状計測方法および装置 |
-
2000
- 2000-07-25 JP JP2000224296A patent/JP4099689B2/ja not_active Expired - Fee Related
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