JP2002012637A - 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置 - Google Patents

樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置

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JP2002012637A
JP2002012637A JP2000195161A JP2000195161A JP2002012637A JP 2002012637 A JP2002012637 A JP 2002012637A JP 2000195161 A JP2000195161 A JP 2000195161A JP 2000195161 A JP2000195161 A JP 2000195161A JP 2002012637 A JP2002012637 A JP 2002012637A
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JP2000195161A
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English (en)
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Koichi Sawabe
浩一 沢辺
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の、半田リフロー時のリフローク
ラックの発生を低減し、信頼性を向上させることができ
るダイボンディング用樹脂ペースト組成物を提供する。 【解決手段】 (A)ブタジエンオリゴマー、(B)ア
クリル酸エステル又はメタクリル酸エステル、(C)液
状ゴム成分、(D)ラジカル開始剤、及び、(E)フィ
ラーを均一分散させてなる樹脂ペースト組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、IC、LSI等の
半導体素子を有機基板等の支持部材に接着するために好
適に用いられる樹脂ペースト組成物、及び、これを用い
た半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の実装方式は、高密度実装を
可能にするために、従来のピン挿入方式から表面実装方
式へと移行している。しかし、マザーボードへの実装に
は、マザーボード全体を赤外線等で加熱するリフローソ
ルダリングが採用されており、パッケージが200℃以
上の高温に加熱され、パッケージ内部、特に接着剤層中
又は封止材中に含まれる水分の急激な気化・膨張によっ
てパッケージクラックが発生し、半導体装置の信頼性が
低下するという問題があった。この問題は、42アロイ
リードフレームを用いたパッケージよりも、ガラスエポ
キシ基板(ガラス繊維強化エポキシ樹脂からなる基
板)、BT基板(シアネートモノマー及びそのオリゴマ
ーとビスマレイミドからなるBTレジン使用基板)等の
有機基板を用いたパッケージにおいて特に深刻である。
その理由の1つとしては、半導体素子の接着に用いられ
る接着剤の有機基板に対する接着力が低いことが挙げら
れる。もう1つの理由としては、有機基板の方が42ア
ロイリードフレームよりも線膨張係数が大きいために、
Siチップとの線膨張係数の差が大きくなることで、チ
ップクラックやチップ反りが発生するということがあ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、樹脂ペース
ト組成物の支持部材に対するピール強度、特に有機基板
に対するピール強度を向上させ、また、樹脂ペースト組
成物を低応力化することによりチップクラックやチップ
反りの発生を抑制し、有機基板を使用した際にもリフロ
ークラックのない半導体装置を提供することを目的とす
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)ブタジ
エンオリゴマー、(B)アクリル酸エステル又はメタク
リル酸エステル、(C)液状ゴム成分、(D)ラジカル
開始剤、及び、(E)フィラーを均一分散させてなる樹
脂ペースト組成物を提供するものである。
【0005】また、本発明は、本発明の樹脂ペースト組
成物を用いて半導体素子を支持部材に接着した後、封止
してなる半導体装置を提供するものである。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の樹脂ペースト組成物は、
(A)成分としてブタジエンオリゴマーを含有する。
(A)成分のブタジエンオリゴマーは、45℃における
粘度が0.1〜100Pa・sであることが好ましい。
この粘度が0.1Pa・s未満であると、樹脂ペースト
組成物のチップ反り低減効果が劣ったり、接着力が低下
する傾向があり、100Pa・sを超えると、樹脂ペー
スト組成物作製時の作業性、使用時の塗布作業性が悪く
なる傾向がある。なお、本明細書において、粘度は、E
HD型回転粘度計により、3°コーンの条件で測定した
粘度である。
【0007】また、(A)成分のブタジエンオリゴマー
の数平均分子量は、100〜5000が好ましく、80
0〜3500が更に好ましい。なお、本明細書におい
て、数平均分子量とは、ゲルパーミエションクロマトグ
ラフィーにより測定し、標準ポリスチレンの検量線を用
いて換算した値を意味する。数平均分子量が100未満
であると、樹脂ペースト組成物のチップ反り低減効果が
劣ったり、接着力が低下する傾向があり、5000を超
えると、樹脂ペースト組成物作製時の作業性、使用時の
塗布作業性が悪くなる傾向がある。
【0008】また、(A)成分のブタジエンオリゴマー
は、そのオリゴマー骨格の繰り返し単位の総数の50%
以上、好ましくは50〜100%、より好ましくは80
〜100%が1,2−ビニル付加構造を有するものであ
ることが好ましい。1,2−ビニル付加構造の割合が5
0%未満であると、チップ反り低減効果等に劣る傾向が
ある。
【0009】また、(A)成分のブタジエンオリゴマー
は、ビニル基の他に、更に水酸基若しくはカルボキシル
基を有することが好ましい。
【0010】(A)成分のブタジエンオリゴマーとして
は、例えば、一般式(1)で表されるビニル基及び水酸
基若しくはカルボキシル基を有するオリゴマー(1)、
その水素添加物、又は、オリゴマー(1)若しくはその
水素添加物の誘導体であって、数平均分子量が100〜
5000、45℃における粘度が0.1〜100Pa・
sのものであり、オリゴマー骨格の繰り返し単位の総数
の50%以上が1,2−ビニル付加構造を有するものが
好適に用いられる。
【0011】
【化7】 (式中、Rは水素、カルボキシル基又は−CH2−CH2
−OHを示し、a及びbは、各々独立に、繰り返し単位
数を示す0又は1以上の整数である。)オリゴマー
(1)の水素添加物としては、ヨウ素価が100I2
g/100g以下のものが好ましく、30I2mg/1
00g以下のもの、例えば0〜30I2mg/100g
のものがより好ましい。
【0012】上記のオリゴマー(1)の誘導体又はオリ
ゴマー(1)の水素添加物の誘導体としては、例えば、
一般式(2)で表されるアクリロイルオキシ基を有する
もの、又は一般式(3)で表されるエポキシ基を有する
ものが好ましい。
【0013】
【化8】 (式中、c、d、e及びfは各々独立に繰り返し単位数
を示す0又は1以上の整数である。)
【0014】
【化9】 (式中、g、h、i及びjは各々独立に繰り返し単位数
である0又は1以上の整数を示し、h+jは1〜30の
整数、好ましくは1〜25の整数であり、g+h+i+
jは10〜40の整数、好ましくは10〜30の整数で
ある。) また、オリゴマー(1)のうちカルボキシル基を有する
オリゴマー(1′)又はその水素添加物と、ビスフェノ
ール型エポキシ樹脂との反応物も、(C)成分のブタジ
エンオリゴマーとして使用することができる。この反応
に用いられるビスフェノール型エポキシ樹脂としては特
に制限はないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ
樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノー
ルAD型エポキシ樹脂等が挙げられる。ビスフェノール
型エポキシ樹脂としては、液状のものが好ましい。
【0015】(A)成分としては、上記のような各種の
ポリブタジエンオリゴマーを1種単独で、又は2種以上
を組み合わせて用いることができる。
【0016】(A)成分の配合量は、特に限定されない
が、樹脂ペースト組成物総量100重量部中、0.01
〜50重量部とすることが好ましく、0.1〜40重量
部とすることがより好ましく、1〜30重量部とするこ
とが特に好ましい。(A)成分の配合量が0.01重量
部未満では、樹脂ペースト組成物のチップ反り低減効果
に劣ったり、また、その接着力が著しく低下することが
ある。50重量部を超えると、樹脂ペースト組成物の粘
度が著しく高くなり、その作製時の作業性及び使用時の
塗布作業性が悪くなる傾向がある。
【0017】本発明の樹脂ペースト組成物は、(B)成
分として、アクリル酸エステル又はメタクリル酸エステ
ルを含有する。
【0018】(B)成分としては、例えば、イミドアク
リレート類、例えば、式(4)で表されるN−アクリロ
イルオキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、式(5)
で表されるN−アクリロイルオキシエチル−1,2,
3,6−テトラヒドロフタルイミド、式(6)で表され
るN−アクリロイルオキシエチル−3,4,5,6−テ
トラヒドロフタルイミド、式(7)で表されるN−アク
リロイルオキシエチルマレイミド等;
【0019】
【化10】 及び、下記一般式(8)〜(16)で表されるアクリル
酸エステル及びメタクリル酸エステル
【0020】
【化11】 [式中、R1は水素又はメチル基を示し、R2は炭素数1
〜100、好ましくは1〜50、より好ましくは1〜2
0の2価の脂肪族炭化水素基及び脂環式炭化水素基から
選ばれる単独又は2つ以上の組み合わせからなる2価の
基を示し、R3は水素、メチル基又はフェノキシメチル
基を示し、R4は水素、炭素数1〜6のアルキル基、フ
ェニル基又はベンゾイル基を示し、R5はフェニル基、
ニトリル基、−Si(OR63(R6は炭素数1〜6の
アルキル基を示す。)、
【0021】
【化12】 (R7、R8及びR9はそれぞれ独立に水素又は炭素数1
〜6のアルキル基を示し、R10は水素又は炭素数1〜6
のアルキル基又はフェニル基を示す。)を示し、R11
12、R13、R14、R15、R16、R17及びR18はそれぞ
れ独立に水素又はメチル基を示し、kは1〜50の整数
を示し、lは0、1、2又は3の数を示し、p、q及び
xはそれぞれ独立に1〜20の整数を示す。]が好適に
用いられる。
【0022】一般式(8)〜(16)で表されるアクリ
ル酸エステル、メタクリル酸エステルの具体例として
は、例えば、ラウリルアクリレート、ラウリルメタクリ
レート、ステアリルアクリレート、ステアリルメタクリ
レート、2−フェノキシエチルアクリレート、ジシクロ
ペンテニルメタクリレート、1,6−ヘキサンジオール
ジアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレ
ート、ポリエチレングリコールジアクリレート、2−
(2−エトキシエトキシ)エチルアクリレート、テトラ
ヒドロフルフリルアクリレート、イソデシルアクリレー
ト、テトラエチレングリコールジアクリレート、テトラ
ヒドロフルフリルメタクリレート、シクロヘキシルメタ
クリレート、イソデシルメタクリレート、グリシジルメ
タクリレート、ポリプロピレングリコールモノメタクリ
レート、トリエチレングリコールジメタクリレート、エ
チレングリコールジメタクリレート、テトラエチレング
リコールジメタクリレート、ポリエチレングリコールジ
メタクリレート、1,4−ブタンジオールジメタクリレ
ート、ジエチレングリコールジメタクリレート、1,6
−ヘキサンジオールジメタクリレート、ネオペンチルグ
リコールジメタクリレート、1,3−ブチレングリコー
ルジメタクリレート等が挙げられる。また、2−(ジシ
クロペンテニルオキシ)エチルアクリレート、2−(ジ
シクロペンテニルオキシ)エチルメタクリレート、トリ
メチロールプロパントリアクリレート、トリメチロール
プロパントリメタクリレート等も使用することができ
る。
【0023】これらの(B)成分であるアクリル酸エス
テル及びメタクリル酸エステルは、各々単独で用いても
よいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
【0024】(B)成分の配合量は、特に限定されない
が、樹脂ペースト組成物総量100重量部中、0.01
〜50重量部とすることが好ましく、0.1〜40重量
部とすることがより好ましく、1〜30重量部とするこ
とが特に好ましい。(B)成分の配合量が0.01重量
部未満では、樹脂ペースト組成物の粘度が著しく高くな
り、その作製時の作業性及び使用時の塗布作業性が悪く
なることがある。50重量部を超えると、樹脂ペースト
組成物の粘度が著しく低くなったり、また、その接着力
が著しく低下することがある。
【0025】本発明に用いられる(C)成分である液状
ゴム成分としてはポリブタジエン、ポリブタジエン誘導
体、ブタジエン・アクリロニトリル共重合体、又は、ブ
タジエン・アクリロニトリル共重合体の誘導体からなる
群から選択される少なくとも一種が好ましい。また、エ
ポキシ基、ビニル基、アクリロイル基、メタクリロイル
基及びカルボキシル基からなる群から選ばれる基少なく
とも1種を有するポリブタジエン誘導体、並びに、エポ
キシ基、ビニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基
及びカルボキシル基からなる群から選ばれる基少なくと
も1種を有するブタジエン・アクリロニトリル共重合体
の誘導体からなる群から選択される少なくとも1種を用
いることがより好ましい。特に、粘度(EHD型回転粘
度計を用い、3°コーン、25℃の条件で測定)が10
00Pa・s以下、好ましくは1〜500であるエポキ
シ化ポリブタジエン、メタクリル化ポリブタジエン及び
カルボキシル基末端ブタジエン・アクリロニトリル共重
合体からなる群から選択される少なくとも1種を用いる
ことが好ましい。エポキシ化ポリブタジエンとしては、
一般に、ポリブタジエンのビニル基をエポキシ化したも
のであって、エポキシ当量が10〜300であるものが
好ましく用いられる。メタクリル化ポリブタジエンとし
ては、ポリブタジエンのビニル基が、下記一般式
【0026】
【化13】 (式中、R19は2価の炭化水素基、好ましくは炭素数1
〜5の2価の炭化水素基である)で示される基で置換さ
れたものが好ましい。この基を酸価(mmol/g)と
して、0.1〜2.0有することが好ましい。具体的に
は、例えば、下記一般式(17)
【0027】
【化14】 (式中、r、s、t及びuは、各々、各繰り返し単位の
数を表す。)で示されるものが挙げられ、市販品として
は、日石ポリブタジエンMMグレード品(MM−100
0−80など)(日本石油化学(株)製)などが使用で
きる。
【0028】(C)成分の配合量は、樹脂ペースト組成
物総量100重量部中、0.01〜50重量部とするこ
とが好ましく、0.1〜40重量部とすることがより好
ましく、1〜30重量部とすることが特に好ましい。こ
の配合量が0.01重量部未満であると、樹脂ペースト
組成物のチップ反り低減効果に劣る傾向があり、また、
その接着力が著しく低下するおそれがある。また、50
重量部を超えると、樹脂ペースト組成物の粘度が著しく
高くなり、その作製時の作業性及び使用時の塗布作業性
が悪くなる傾向がある。
【0029】本発明に用いられる(D)成分のラジカル
開始剤としては、特に制限はないが、ボイド等の発生を
抑制するためには、過酸化物が好ましく、また、樹脂ペ
ースト組成物の硬化性及び粘度安定性の点から過酸化物
の分解温度としては50〜200℃が好ましい。
【0030】ラジカル開始剤として用いられる過酸化物
としては、例えば、メチルエチルケトンパーオキシド、
メチルイソブチルケトンパーオキシド、シクロヘキサノ
ンパーオキシド、メチルシクロヘキサノンパーオキシ
ド、アセチルアセトンパーオキシド、イソブチルパーオ
キシド、o−メチルベンゾイルパーオキシド、ビス−
3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキシド、ラ
ウロイルパーオキシド、ベンゾイルパーオキシド、2,
4,4−トリメチルペンチル−2−ヒドロパーオキシ
ド、ジイソプロピルベンゼンパーオキシド、クメンヒド
ロパーオキシド、tert−ブチルヒドロパーオキシ
ド、ジクミルパーオキシド、2,5−ジメチル−2,5
−ジ(tert−ブチルパーオキシ)ヘキサン、1,3
−ビス(tert−ブチルパーオキシイソプロピル)ベ
ンゼン、tert−ブチルクミルパーオキシド、ジ−t
ert−ブチルパーオキシド、2,5−ジメチル−2,
5−ジ(tert−ブチルパーオキシ)ヘキシン−3、
1,1−ジ−tert−ブチルパーオキシ−3,3,5
−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ジ−tert−
ブチルパーオキシシクロヘキサン、2,2−ジ(ter
t−ブチルパーオキシ)ブタン、4,4−ジ−tert
−ブチルパーオキシバレリック酸−n−ブチルエステ
ル、2,4,4−トリメチルペンチルパーオキシフェノ
キシアセトン、α−クミルパーオキシネオデカノエー
ト、tert−ブチルパーオキシネオデカノエート、t
ert−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエー
ト、tert−ブチルパーオキシイソブチレート、ジ−
tert−ブチルパーオキシヘキサヒドロテレフタレー
ト、tert−ブチルパーオキシアセテート、tert
−ブチルパーオキシベンゾエート等が挙げられるが、こ
れらに限定されるものではない。また、これらの過酸化
物は、各々単独で、又は2種類以上を組み合わせて用い
てもよい。
【0031】(D)成分の配合量は、特に限定されない
が、樹脂ペースト組成物総量100重量部中、0.01
〜20重量部とすることが好ましく、0.05〜10重
量部とすることがより好ましく、0.1〜5重量部とす
ることが特に好ましい。(D)成分の配合量が0.01
重量部未満では、樹脂ペースト組成物の接着力が著しく
低下することがある。20重量部を超えると、樹脂ペー
スト組成物の粘度安定性が著しく低下したり、また、そ
の接着力が著しく低下する傾向がある。
【0032】本発明に用いられる(E)成分のフィラー
としては、特に制限はなく、例えば、金、銀、銅、マン
ガン、ニッケル、鉄、アルミニウム、ステンレスの単独
若しくは合金の導電性粒子、また、酸化ケイ素、酸化ア
ルミニウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、ホウ酸ア
ルミニウム等の粉体、更に、ポリ(ビニリデンフルオラ
イド)等のポリマー粒子、導電性成分とポリマー粒子の
複合粒子等が挙げられるが、これらに限定されるもので
はない。これらの粒子、粉体の粒径は特に限定されるも
のではないが、平均粒径として通常、0.01〜100
μmであることが好ましく、0.1〜30μmであるこ
とがより好ましい。これらのフィラーは、1種単独で用
いてもよいし、2種以上を組み合わせて使用してもよ
い。
【0033】(E)成分の配合量は、特に限定されない
が、樹脂ペースト組成物総量100重量部中、1〜95
重量部とすることが好ましく、5〜90重量部とするこ
とがより好ましく、10〜85重量部とすることが特に
好ましい。(E)成分の配合量が1重量部未満である
と、樹脂ペースト組成物の粘度が著しく低くなり、その
使用時の塗布作業性が悪くなる傾向がある。また、その
接着力が著しく低下することがある。95重量部を超え
ると、樹脂ペースト組成物の粘度が著しく高くなり、そ
の作製時の作業性及び使用時の塗布作業性が悪くなるこ
とがある。
【0034】本発明の樹脂ペースト組成物には、更に必
要に応じて酸化カルシウム、酸化マグネシウム等の吸湿
剤、シランカップリング剤、チタネートカップリング
剤、アルミニウムカップリング剤、ジルコアルミネート
カップリング剤等の接着力向上剤、ノニオン系界面活性
剤、フッ素系界面活性剤等の濡れ向上剤、シリコーン油
等の消泡剤、無機イオン交換体等のイオントラップ剤、
重合禁止剤等を適宜添加することができる。
【0035】上記吸湿剤を添加する場合、その添加量
は、樹脂ペースト組成物100重量部中、0.01〜1
0重量部とすることが好ましい。上記の接着力向上剤を
添加する場合、その添加量は、樹脂ペースト組成物10
0重量部中、0.01〜10重量部とすることが好まし
い。上記の濡れ向上剤を添加する場合、その添加量は、
樹脂ペースト組成物100重量部中、0.01〜10重
量部とすることが好ましい。上記の消泡剤を添加する場
合、その添加量は、樹脂ペースト組成物100重量部
中、0.01〜10重量部とすることが好ましい。上記
のイオントラップ剤を添加する場合、その添加量は、樹
脂ペースト組成物100重量部中、0.01〜50重量
部とすることが好ましい。上記の重合禁止剤を添加する
場合、その添加量は、樹脂ペースト組成物100重量部
中、0.01〜10重量部とすることが好ましい。
【0036】上記シランカップリング剤としては、例え
ばビニルトリス(β−メトキシエトキシ)シラン、ビニ
ルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ
−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、β−
(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキ
シシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラ
ン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラ
ン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシ
ラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、ヘ
キサメチルジシラザン、N,O−(ビストリメチルシリ
ル)アセトアミド、N,N−ビス(トリメチルシリル)
ウレア、N−メチル−3−アミノプロピルトリメトキシ
シラン、3−4,5−ジヒドロイミダゾールプロピルト
リエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリエトキ
シシラン、γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシ
ラン、3−シアノプロピルトリメトキシシラン、メチル
トリ(メタクリロイルオキシエトキシ)シラン、メチル
トリ(グリシジルオキシ)シラン、2−エチルヘキシル
−2−エチルヘキシルホスホネート、γ−グリシドキシ
プロピルメチルジメトキシシラン、ビニルトリアセトキ
シシラン、γ−アニリノプロピルトリメトキシシラン、
γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、γ−
メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、N,
N−ビス(トリメチルシリル)ウレア、N−トリメチル
シリルアセトアミド、ジメチルトリメチルシリルアミ
ン、ジエチルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリ
ルイミダゾール、N−トリメチルシリルフェニルウレ
ア、トリメチルシリルイソシアネート、ジメチルシリル
ジイソシアネート、メチルシリルトリイソシアネート、
ビニルシリルトリイソシアネート、フェニルシリルトリ
イソシアネート、テトライソシアネートシラン、エトキ
シシラントリイソシアネート等が挙げられるが、これら
に限定されるものではない。
【0037】上記チタネート系カップリング剤として
は、例えば、イソプロピルトリステアロイルチタネー
ト、イソプロピルトリオクタノイルチタネート、イソプ
ロピルジメタクリルイソステアロイルチタネート、イソ
プロピルトリドデシルベンゼンスルホニルチタネート、
イソプロピルイソステアロイルジアクリルチタネート、
イソプロピルトリ(ジオクチルホスフェート)チタネー
ト、イソプロピルトリクミルフェニルチタネート、イソ
プロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)チタ
ネート、テトライソプロピルビス(ジオクチルホスファ
イト)チタネート、テトラオクチルビス(ジトリデシル
ホスファイト)チタネート、テトラ(2,2−ジアリル
オキシメチル−1−ブチル)ビス(ジトリデシル)ホス
ファイトチタネート、ジクミルフェニルオキシアセテー
トチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)
オキシアセテートチタネート、ジイソステアロイルエチ
レンチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェー
ト)エチレンチタネート、ジイソプロポキシビス(2,
4−ペンタジオネート)チタニウム(IV)、ジイソプ
ロピルビストリエタノールアミノチタネート、チタニウ
ムラクテート、アセトアセティックエステルチタネー
ト、ジ−i−プロポキシビス(アセチルアセトナト)チ
タン、ジ−n−ブトキシビス(トリエタノールアミナ
ト)チタン、ジヒドロキシビス(ラクタト)チタン、チ
タニウム−i−プロポキシオクチレングリコーレート、
チタニウムステアレート、トリ−n−ブトキシチタンモ
ノステアレート、チタンラクテートエチルエステル、チ
タントリエタノールアミネート等が挙げられるが、これ
らに限定されるものではない。
【0038】上記重合禁止剤としては、例えばキノン
類、ヒドロキノン、ニトロ・ニトロソ化合物、アミン
類、ポリオキシ化合物、p−tert−ブチルカテコー
ル、ピクリン酸、ジチオベンゾイルジスルフィド等の含
硫黄化合物、塩化第二銅、ジフェニルピクリルヒドラジ
ル、トリ−p−ニトロフェニルメチル、トリフェニルフ
ェルダジル、N−(3−N−オキシアニリノ−1,3−
ジメチルブチリデン)アニリンオキシド等が挙げられる
が、これらに限定されるものではない。
【0039】本発明の樹脂ペースト組成物には、更に必
要に応じてブリード抑制剤を添加することができる。ブ
リード抑制剤としては例えばパーフルオロオクタン酸、
オクタン酸アミド、オレイン酸等の脂肪酸、パーフルオ
ロオクチルエチルアクリレート、シリコーン等が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0040】本発明の樹脂ペースト組成物の粘度は、5
〜500Pa・sが好ましく、20〜300Pa・sが
より好ましく、40〜200Pa・sが特に好ましい
(25℃にて測定)。粘度が高すぎても低すぎてもその
作製時の作業性及び使用時の塗布作業性が劣る傾向があ
る。
【0041】なお、本発明において、粘度は、例えばE
HD型回転粘度計で測定できる。例えば、上記の樹脂ペ
ースト組成物の粘度は、EHD型回転粘度計を用い、3
°コーン、回転数0.5rpmの条件で測定することが
できる。
【0042】希釈剤は、樹脂ペースト組成物の粘度が上
記のようになるように、必要に応じて使用する。
【0043】本発明の樹脂ペースト組成物を製造するに
は、(A)ブタジエンオリゴマー、(B)アクリル酸エ
ステル又はメタクリル酸エステル、(C)液状ゴム成
分、(D)ラジカル開始剤、及び、(E)フィラーを、
必要に応じて用いられる各種添加剤とともに、一括又は
分割して撹拌器、ライカイ器、3本ロール、プラネタリ
ーミキサー等の分散・溶解装置を適宜組み合わせた装置
に投入し、必要に応じて加熱して混合、溶解、解粒混練
又は分散して均一なペースト状とすればよい。
【0044】本発明においては、更に上記のようにして
製造した樹脂ペースト組成物を用いて半導体素子と支持
部材とを接着した後、封止することにより半導体装置と
することができる。
【0045】本発明の樹脂ペースト組成物を用いて半導
体装置をガラスエポキシ基板(ガラス繊維強化エポキシ
樹脂からなる基板)、BT基板(シアネートモノマー及
びそのオリゴマーとビスマレイミドからなるBTレジン
使用基板)、その他の支持部材に接着させるには、まず
支持部材上に樹脂ペースト組成物をディスペンス法、ス
クリーン印刷法、スタンピング法等により塗布した後、
半導体素子を圧着し、その後オーブン、ヒートブロック
等の加熱装置を用いて加熱硬化することにより行うこと
ができる。加熱硬化は、通常、50〜300℃で、1秒
〜10時間加熱することにより行われる。更に、必要に
応じてワイヤボンド工程、封止工程等を経ることにより
完成された半導体装置とすることができる。
【0046】
【実施例】次に、実施例により本発明を更に詳細に説明
するが、本発明はこれによって制限されるものではな
い。
【0047】以下の実施例及び比較例で用いた材料は、
下記の方法で作製したもの、あるいは入手したものであ
る。 (1)エポキシ樹脂の調製 YDF−170(東都化成(株)製、商品名、ビスフェ
ノールF型エポキシ樹脂、エポキシ当量=170)11
重量部及びTL−980(油化シェルエポキシ(株)
製、商品名、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、エポキ
シ当量=185)11重量部を80℃に加熱し、1時間
撹拌を続け、均一なエポキシ樹脂を得た。 (2)硬化剤の調製 H−1(明和化成(株)製、フェノールノボラック樹
脂、OH当量=106)2.0重量部及び希釈剤として
PP−101(東都化成(株)製、商品名、アルキルフ
ェニルグリシジルエーテル、エポキシ当量=230)
4.0重量部を100℃に加熱し、1時間撹拌を続け、
均一なフェノール樹脂溶液を得た。 (3)硬化促進剤 2P4MHZ(四国化成(株)製、商品名、2−フェニ
ル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール)
である。 (4)フィラー TCG−1(徳力化学研究所製、商品名、銀粉、平均粒
径=2μm)である。 (5)ブタジエンオリゴマー BF−1000(日本曹達(株)製、商品名、一般式
(3)で示されるものであり、粘度10〜80Pa・s
/45℃、h+j=17〜24、g+h+i+j=20
〜30、(g+h)/(g+h+i+j)=約80%、
エポキシ当量200〜250、数平均分子量:約150
0) (6)アクリル酸エステル又はメタクリル酸エステル Aronix TO−1429(東亜合成(株)製、商
品名、N−アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタ
ルイミド)である。 (7)液状ゴム成分 E−1000−8(日本石油化学(株)製、商品名、エ
ポキシ化ポリブタジエン、エポキシ当量=200、粘度
(25℃):70〜200Pa・s、数平均分子量:約
1200) (8)ラジカル開始剤 パーブチルZ(日本油脂(株)製、商品名、tert−
ブチルパーオキシベンゾエート)である。 (9)添加剤(シランカップリング剤) A−174(日本ユニカー(株)製、商品名、γ−メタ
クリロキシプロピルトリメトキシシラン)である。
【0048】表1に示す配合割合で各材料を混合し、ラ
イカイ機を用いて混練した後、6.7×102Pa(5
Torr)以下で30分間脱泡処理を行い、樹脂ペース
ト組成物を得た。
【0049】この樹脂ペースト組成物の特性(粘度、ピ
ール強度、チップ反り及び耐半田リフロー性)を下記に
示す方法で調べた。その結果を表1に示す。
【0050】(1)粘度:EHD型回転粘度計(東京計
器(株)製)で、3°コーンを用いて25℃における粘
度(Pa・s)を測定した。
【0051】(2)ピール強度:実施例1及び比較例1
により得た樹脂ペースト組成物をガラスエポキシ基板上
に約3.2mgを塗布し、この上に8mm×8mmのS
iチップ(厚さ0.4mm)を圧着し、更にオーブンで
150℃まで30分で昇温し、150℃で1時間硬化さ
せた。これを自動接着力測定装置(日立化成工業(株)
製)を用い、240℃における引き剥し強さ(N/64
mm2)を測定した。
【0052】(3)チップ反り:実施例1及び比較例1
により得た樹脂ペースト組成物をガラスエポキシ基板上
に約3.2mgを塗布し、この上に5mm×13mmの
Siチップ(厚さ0.4mm)を圧着し、更にオーブン
で150℃まで30分で昇温し150℃で1時間硬化さ
せた。これを表面粗さ計(Salon社製、Dekta
k 3030)を用い、チップ反り(μm)を測定し
た。
【0053】(4)耐半田リフロー性:実施例及び比較
例により得た樹脂ペースト組成物を用い、下記ガラスエ
ポキシ基板とSiチップを、下記の硬化条件により硬化
し、接着した。その後、日立化成工業(株)製エポキシ
封止材(商品名CEL−9200)により封止し、耐半
田リフロー試験用パッケージを得た。そのパッケージを
温度及び湿度がそれぞれ30℃、70%の条件に設定さ
れた恒温恒湿槽中で192時間吸湿させた。その後、2
40℃/10秒のリフロー条件で半田リフローを行い、
パッケージの外部クラックの発生数を顕微鏡(倍率:1
5倍)で、また、パッケージの内部クラックの発生数を
超音波顕微鏡で観察した。5個のサンプルについてクラ
ックの発生したサンプル数を示す。
【0054】支持部材:ガラスエポキシ基板 チップサイズ:10mm×10mm(厚さ0.4mm) パッケージ:OMPAC型BGA、24mm×24mm
×1.5mm 硬化条件:150℃まで30分で昇温、150℃で1時
間硬化
【0055】
【表1】 表1の結果から、本発明の樹脂ペースト組成物(実施例
1)はエポキシ樹脂を用いた樹脂ペースト組成物(比較
例1)に比較してピール強度、チップ反りで良好な値を
示し、耐半田リフロー性も優れていたことがわかる。こ
のことから、本発明の樹脂ペースト組成物によれば、有
機基板を使用した際にも信頼性の高いパッケージが得ら
れることが確認された。
【0056】
【発明の効果】本発明の樹脂ペースト組成物は、半導体
装置のダイボンディング材として使用した場合に、有機
基板を使用した際にもチップクラックやチップ反り及び
半田リフロー時のペースト層の剥離を抑えることがで
き、リフロークラックの発生を低減させる。その結果、
半導体装置としての信頼性を向上させることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C08K 5/14 C08K 5/14 C08L 21/00 C08L 21/00 47/00 47/00 63/08 63/08 C09J 4/06 C09J 4/06 H01L 21/52 H01L 21/52 E Fターム(参考) 4J002 AC033 AC073 AC113 BD144 BL011 BL013 CD181 CD183 CH052 DA078 DA088 DA098 DA118 DC008 DE148 DF018 DJ018 DK008 EH026 EK037 EK047 EK057 EK067 EL026 EL066 EL086 EN026 EU026 EU036 EW046 FD014 FD018 FD118 FD200 FD310 GJ02 GQ05 4J027 AA03 AA04 AC03 AC04 AC06 AE05 AE07 AJ01 AJ02 AJ03 AJ06 AJ08 AJ09 BA02 BA07 BA09 BA13 BA19 BA20 BA26 CA08 CA10 CA12 CA14 CA15 CA18 CA33 CA36 CB03 CC02 CD06 4J040 CA041 CA042 CA071 CA072 DC092 FA021 FA022 FA141 FA142 FA151 FA152 FA171 FA172 GA04 GA05 GA07 GA11 HA066 HA136 HA206 HA306 HA326 HB41 JA05 JB02 KA12 KA32 KA42 LA01 MA10 MB03 NA20 PA30 5F047 AA10 BA21 BB11

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)ブタジエンオリゴマー、(B)ア
    クリル酸エステル又はメタクリル酸エステル、(C)液
    状ゴム成分、(D)ラジカル開始剤、及び、(E)フィ
    ラーを均一分散させてなる樹脂ペースト組成物。
  2. 【請求項2】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、ビニル基及び水酸基若しくはカルボキシル基を有す
    るブタジエンのオリゴマー、その水素添加物、又は、こ
    のオリゴマー若しくはその水素添加物の誘導体であっ
    て、数平均分子量が100〜5000、45℃における
    粘度が0.1〜100Pa・sのものであり、オリゴマ
    ー骨格の繰り返し単位の総数の50%以上が1,2−ビ
    ニル付加構造を有するものである請求項1記載の樹脂ペ
    ースト組成物。
  3. 【請求項3】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、一般式(1)で表されるビニル基及び水酸基若しく
    はカルボキシル基を有するオリゴマー(1)、その水素
    添加物、又は、オリゴマー(1)若しくはその水素添加
    物の誘導体であって、数平均分子量が100〜500
    0、45℃における粘度が0.1〜100Pa・sのも
    のであり、オリゴマー骨格の繰り返し単位の総数の50
    %以上が1,2−ビニル付加構造を有するものである請
    求項1記載の樹脂ペースト組成物。 【化1】 (式中、Rは水素、カルボキシル基又は−CH2−CH2
    −OHを示し、a及びbは、各々独立に、繰り返し単位
    数を示す0又は1以上の整数である。)
  4. 【請求項4】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、一般式(1)で表されるビニル基及び水酸基若しく
    はカルボキシル基を有するオリゴマー(1)の水素添加
    物であって、数平均分子量が100〜5000、45℃
    における粘度が0.1〜100Pa・sのものであり、
    オリゴマー骨格の繰り返し単位の総数の50%以上が
    1,2−ビニル付加構造を有し、ヨウ素価が100I2
    mg/100g以下のものである請求項1記載の樹脂ペ
    ースト組成物。
  5. 【請求項5】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、一般式(1)で表されるビニル基及び水酸基若しく
    はカルボキシル基を有するオリゴマー(1)の誘導体又
    はオリゴマー(1)の水素添加物の誘導体であって、数
    平均分子量が100〜5000、45℃における粘度が
    0.1〜100Pa・sのものであり、オリゴマー骨格
    の繰り返し単位の総数の50%以上が1,2−ビニル付
    加構造を有し、一般式(2)で表されるアクリロイルオ
    キシ基を有するものであるか又は一般式(3)で表され
    るエポキシ基を有するものである請求項1記載の樹脂ペ
    ースト組成物。 【化2】 (式中、c、d、e及びfは各々独立に繰り返し単位数
    を示す0又は1以上の整数である。) 【化3】 (式中、g、h、i及びjは各々独立に繰り返し単位数
    である0又は1以上の整数を示し、h+jは1〜30の
    整数であり、g+h+i+jは10〜40の整数であ
    る。)
  6. 【請求項6】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、数平均分子量が100〜5000、45℃における
    粘度が0.1〜100Pa・sのものであり、一般式
    (1)で表され、オリゴマー骨格の繰り返し単位の総数
    の50%以上が1,2−ビニル付加構造を有するもので
    あり、ビニル基及びカルボキシル基を有するオリゴマー
    (1′)又はその水素添加物と、ビスフェノール型エポ
    キシ樹脂との反応物である請求項1記載の樹脂ペースト
    組成物。
  7. 【請求項7】 (A)成分であるブタジエンオリゴマー
    が、請求項3記載のブタジエンオリゴマー、請求項4記
    載のブタジエンオリゴマー、請求項5記載のブタジエン
    オリゴマー及び請求項6記載のブタジエンオリゴマーか
    らなる群から選択される少なくとも1種のブタジエンオ
    リゴマーである請求項1記載の樹脂ペースト組成物。
  8. 【請求項8】 (B)成分であるアクリル酸エステル又
    はメタクリル酸エステルが、式(4)で表されるN−ア
    クリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、式
    (5)で表されるN−アクリロイルオキシエチル−1,
    2,3,6−テトラヒドロフタルイミド、式(6)で表
    されるN−アクリロイルオキシエチル−3,4,5,6
    −テトラヒドロフタルイミド及び式(7)で表されるN
    −アクリロイルオキシエチルマレイミドからなる群から
    選択される少なくとも1種の化合物である請求項1記載
    の樹脂ペースト組成物。 【化4】
  9. 【請求項9】 (B)成分であるアクリル酸エステル及
    びメタクリル酸エステルが、下記一般式(8)〜(1
    6)で表されるアクリル酸エステル及びメタクリル酸エ
    ステルからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物
    である請求項1記載の樹脂ペースト組成物。 【化5】 [式中、R1は水素又はメチル基を示し、R2は炭素数1
    〜100の2価の脂肪族炭化水素基及び脂環式炭化水素
    基から選ばれる単独2つ以上の組み合わせからなる2価
    の基を示し、R3は水素、メチル基又はフェノキシメチ
    ル基を示し、R4は水素、炭素数1〜6のアルキル基、
    フェニル基又はベンゾイル基を示し、R5はフェニル
    基、ニトリル基、−Si(OR63(R6は炭素数1〜
    6のアルキル基を示す。)、 【化6】 (R7、R8及びR9はそれぞれ独立に水素又は炭素数1
    〜6のアルキル基を示し、R10は水素又は炭素数1〜6
    のアルキル基又はフェニル基を示す。)を示し、R11
    12、R13、R14、R15、R16、R17及びR18はそれぞ
    れ独立に水素又はメチル基を示し、kは1〜50の整数
    を示し、lは0、1、2又は3の数を示し、p、q及び
    xはそれぞれ独立に1〜20の整数を示す。]
  10. 【請求項10】 (B)成分であるアクリル酸エステル
    又はメタクリル酸エステルが、式(4)で表されるN−
    アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、
    式(5)で表されるN−アクリロイルオキシエチル−
    1,2,3,6−テトラヒドロフタルイミド、式(6)
    で表されるN−アクリロイルオキシエチル−3,4,
    5,6−テトラヒドロフタルイミド、式(7)で表され
    るN−アクリロイルオキシエチルマレイミド並びに一般
    式(8)〜(16)で表されるアクリル酸エステル及び
    メタクリル酸エステルからなる群から選択される少なく
    とも1種である請求項1記載の樹脂ペースト組成物。
  11. 【請求項11】 (C)成分である液状ゴム成分が、ポ
    リブタジエン、ポリブタジエン誘導体、ブタジエン・ア
    クリロニトリル共重合体及びブタジエン・アクリロニト
    リル共重合体の誘導体からなる群から選択される少なく
    とも1種である請求項1記載の樹脂ペースト組成物。
  12. 【請求項12】 樹脂ペースト組成物総量100重量部
    中、(A)成分が0.01〜50重量部、(B)成分が
    0.01〜50重量部、(C)成分が0.01〜50重
    量部、(D)成分が0.01〜20重量部、(E)成分
    が1〜95重量部である請求項1〜11のいずれかに記
    載の樹脂ペースト組成物。
  13. 【請求項13】 請求項1〜12のいずれかに記載の樹
    脂ペースト組成物を用いて半導体素子を支持部材に接着
    した後、封止してなる半導体装置。
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