JP2002005786A - アッベ数測定装置及びアッベ数測定方法 - Google Patents
アッベ数測定装置及びアッベ数測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 屈折度数に起因する測定精度の低下を極力回
避しつつ測定することのできるアッベ数測定装置を提供
する。 【解決手段】 本発明のアッベ数測定装置は、被検レン
ズＴＬのアッベ数を測定するために測定光源部１０から
発生された波長の異なる測定光線が被検レンズＴＬの入
射面ＴＬａに対して略垂直に入射するように被検レンズ
ＴＬの測定光路ＳＯ中に設けられて被検レンズＴＬをサ
ポートするレンズサポート部材２１と、レンズサポート
部材２１を境に測定光源部１０とは反対側の位置に設け
られて被検レンズＴＬを通過して屈折された測定光線を
検出する検出センサ１３と、検出センサ１３の検出出力
に基づきアッベ数を演算する演算回路２２とを備えてい
る。
避しつつ測定することのできるアッベ数測定装置を提供
する。 【解決手段】 本発明のアッベ数測定装置は、被検レン
ズＴＬのアッベ数を測定するために測定光源部１０から
発生された波長の異なる測定光線が被検レンズＴＬの入
射面ＴＬａに対して略垂直に入射するように被検レンズ
ＴＬの測定光路ＳＯ中に設けられて被検レンズＴＬをサ
ポートするレンズサポート部材２１と、レンズサポート
部材２１を境に測定光源部１０とは反対側の位置に設け
られて被検レンズＴＬを通過して屈折された測定光線を
検出する検出センサ１３と、検出センサ１３の検出出力
に基づきアッベ数を演算する演算回路２２とを備えてい
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、眼鏡レンズのアッ
ベ数を、その屈折度数に起因する測定精度の低下を極力
回避しつつ測定することのできるアッベ数測定装置に関
するものである。
ベ数を、その屈折度数に起因する測定精度の低下を極力
回避しつつ測定することのできるアッベ数測定装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、眼鏡レンズのアッベ数の測定は、
その眼鏡レンズに使用する材料と同じ材料を用いて頂角
σが既知の試験プリズム１Ａを図１に示すように作成
し、この試験プリズム１ＡにＦ線、ｄ線、Ｃ線（又は
Ｆ’線、ｅ線、Ｃ’線）の各波長の測定光線を入射さ
せ、各最小ふれ角μを測定して、下記（１）式によりそ
の材料の各波長についての屈折率ｎを求め、この各屈折
率ｎに基づき、下記（２）式に基づきアッベ数νを求め
ている。 ｎ＝（sin(μ＋σ)／2）／（sin(σ／２)） …（１） νe＝（ｎe−１）／（ｎF'−ｎC'） …（２） その（２）式において、ｎeはｅ線についての屈折率、
ｎF'はＦ’線についての屈折率、ｎC'はＣ’線について
の屈折率、νeはｅ線についてのアッベ数である。
その眼鏡レンズに使用する材料と同じ材料を用いて頂角
σが既知の試験プリズム１Ａを図１に示すように作成
し、この試験プリズム１ＡにＦ線、ｄ線、Ｃ線（又は
Ｆ’線、ｅ線、Ｃ’線）の各波長の測定光線を入射さ
せ、各最小ふれ角μを測定して、下記（１）式によりそ
の材料の各波長についての屈折率ｎを求め、この各屈折
率ｎに基づき、下記（２）式に基づきアッベ数νを求め
ている。 ｎ＝（sin(μ＋σ)／2）／（sin(σ／２)） …（１） νe＝（ｎe−１）／（ｎF'−ｎC'） …（２） その（２）式において、ｎeはｅ線についての屈折率、
ｎF'はＦ’線についての屈折率、ｎC'はＣ’線について
の屈折率、νeはｅ線についてのアッベ数である。
【０００３】アッベ数νは、測定光線にＦ線、ｄ線、Ｃ
線を用いたときは、下記の（２）’式を用いても求めら
れる。 ν＝（ｎd−１）／（ｎF−ｎC） …（２）’ ｎdはｄ線についての屈折率、ｎFはＦ線についての屈折
率、ｎCはＣ線についての屈折率である。
線を用いたときは、下記の（２）’式を用いても求めら
れる。 ν＝（ｎd−１）／（ｎF−ｎC） …（２）’ ｎdはｄ線についての屈折率、ｎFはＦ線についての屈折
率、ｎCはＣ線についての屈折率である。
【０００４】この従来のアッベ数測定方法では、眼鏡レ
ンズのアッベ数を求めるために、試験プリズム１Ａを試
作する必要があり、アッベ数の測定に手間がかかるとい
う問題がある。
ンズのアッベ数を求めるために、試験プリズム１Ａを試
作する必要があり、アッベ数の測定に手間がかかるとい
う問題がある。
【０００５】そこで、レンズメータに異なる波長の測定
光線を発生する測定光源を設け、これらの波長の測定光
線を用いて被検レンズとしての眼鏡レンズの度数を測定
し、測定光線の波長毎の被検レンズの屈折度数の差から
アッベ数を求めるものも提案されている。
光線を発生する測定光源を設け、これらの波長の測定光
線を用いて被検レンズとしての眼鏡レンズの度数を測定
し、測定光線の波長毎の被検レンズの屈折度数の差から
アッベ数を求めるものも提案されている。
【０００６】図２は眼鏡レンズのアッベ数の測定に用い
るレンズメータの光学図である。
るレンズメータの光学図である。
【０００７】その図２において、１は光源部、２はコリ
メートレンズ、３は複数個の開口３ａを有するパターン
板、４はエリアセンサである。光源部１はＦ’線波長の
測定光線を発生する光源１ａ、ｅ線波長の測定光線を発
生する光源１ｂ、Ｃ’線波長の測定光線を発生する光源
１ｃ、光路合成ミラーとしてのダイクロイックミラー
５、６を有する。
メートレンズ、３は複数個の開口３ａを有するパターン
板、４はエリアセンサである。光源部１はＦ’線波長の
測定光線を発生する光源１ａ、ｅ線波長の測定光線を発
生する光源１ｂ、Ｃ’線波長の測定光線を発生する光源
１ｃ、光路合成ミラーとしてのダイクロイックミラー
５、６を有する。
【０００８】各波長（Ｆ’線、ｅ線、Ｃ’線）の測定光
線ＰF'、Ｐe、ＰC'はコリメートレンズ２により平行光
束とされ、被検レンズＴＬに導かれ、被検レンズＴＬを
透過することにより屈折され、パターン板３の開口３ａ
を通過して、エリアセンサ４に受像される。
線ＰF'、Ｐe、ＰC'はコリメートレンズ２により平行光
束とされ、被検レンズＴＬに導かれ、被検レンズＴＬを
透過することにより屈折され、パターン板３の開口３ａ
を通過して、エリアセンサ４に受像される。
【０００９】被検レンズＴＬが測定光路中にないときに
は、エリアセンサ４の受像面上の所定位置に開口３ａの
像が形成され、被検レンズＴＬが測定光路中に挿入され
ると、その受像面上での開口３ａの像の形成位置がその
被検レンズＴＬの屈折度数に基づき変化するので、この
受像面上での開口３ａの像の形成位置を検出することに
より、被検レンズＴＬの各測定光線の波長毎の屈折度数
を求め、この屈折度数から被検レンズＴＬのアッベ数を
求めている。
は、エリアセンサ４の受像面上の所定位置に開口３ａの
像が形成され、被検レンズＴＬが測定光路中に挿入され
ると、その受像面上での開口３ａの像の形成位置がその
被検レンズＴＬの屈折度数に基づき変化するので、この
受像面上での開口３ａの像の形成位置を検出することに
より、被検レンズＴＬの各測定光線の波長毎の屈折度数
を求め、この屈折度数から被検レンズＴＬのアッベ数を
求めている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このレ
ンズメータを用いてアッベ数を測定する方法では、アッ
ベ数の測定感度が被検レンズの屈折度数に依存し、屈折
度数（強度）が大きな被検レンズの場合には、満足のゆ
く測定精度でアッベ数を測定することができるが、屈折
度数の小さい被検レンズの場合には、満足のゆく測定精
度でアッベ数を測定できず、どちらかといえば、測定の
際に頻出回数の少ない強度の被検レンズのアッベ数の測
定精度が良好で、測定の際の頻出回数の多い弱度の被検
レンズのアッベ数の測定精度が良好とはいえず、眼鏡レ
ンズのアッベ数を、その屈折度数に起因する測定精度の
低下を極力回避しつつ測定することのできるアッベ数測
定装置の開発が望まれている。
ンズメータを用いてアッベ数を測定する方法では、アッ
ベ数の測定感度が被検レンズの屈折度数に依存し、屈折
度数（強度）が大きな被検レンズの場合には、満足のゆ
く測定精度でアッベ数を測定することができるが、屈折
度数の小さい被検レンズの場合には、満足のゆく測定精
度でアッベ数を測定できず、どちらかといえば、測定の
際に頻出回数の少ない強度の被検レンズのアッベ数の測
定精度が良好で、測定の際の頻出回数の多い弱度の被検
レンズのアッベ数の測定精度が良好とはいえず、眼鏡レ
ンズのアッベ数を、その屈折度数に起因する測定精度の
低下を極力回避しつつ測定することのできるアッベ数測
定装置の開発が望まれている。
【００１１】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、眼鏡レンズのアッベ数
を、その屈折度数に起因する測定精度の低下を極力回避
しつつ測定することのできるアッベ数測定装置を提供す
ることにある。
ので、その目的とするところは、眼鏡レンズのアッベ数
を、その屈折度数に起因する測定精度の低下を極力回避
しつつ測定することのできるアッベ数測定装置を提供す
ることにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載のアッベ
数測定装置は、被検レンズのアッベ数を測定するために
測定光源部から発生された波長の異なる測定光線が前記
被検レンズの入射面に対して略垂直に入射するように前
記被検レンズの測定光路中に設けられて前記被検レンズ
をサポートするレンズサポート部材と、前記レンズサポ
ート部材を境に前記測定光源部とは反対側の位置に設け
られて前記被検レンズを通過して屈折された測定光線を
検出する検出センサと、前記検出センサの検出出力に基
づき前記アッベ数を演算する演算装置とを備えているこ
とを特徴とする。
数測定装置は、被検レンズのアッベ数を測定するために
測定光源部から発生された波長の異なる測定光線が前記
被検レンズの入射面に対して略垂直に入射するように前
記被検レンズの測定光路中に設けられて前記被検レンズ
をサポートするレンズサポート部材と、前記レンズサポ
ート部材を境に前記測定光源部とは反対側の位置に設け
られて前記被検レンズを通過して屈折された測定光線を
検出する検出センサと、前記検出センサの検出出力に基
づき前記アッベ数を演算する演算装置とを備えているこ
とを特徴とする。
【００１３】請求項２に記載のアッベ数測定装置は、前
記レンズサポート部材と前記測定光源部との間に設けら
れて前記測定光線を前記レンズサポート部材に向けて透
過させるためのスリット開口を有するスリット板と、前
記被検レンズが前記測定光路に挿入されていない状態で
前記スリット板と前記検出センサとの共役関係を保持さ
せる結像センサとを備え、前記検出センサは一次元ライ
ンセンサであることを特徴とする。
記レンズサポート部材と前記測定光源部との間に設けら
れて前記測定光線を前記レンズサポート部材に向けて透
過させるためのスリット開口を有するスリット板と、前
記被検レンズが前記測定光路に挿入されていない状態で
前記スリット板と前記検出センサとの共役関係を保持さ
せる結像センサとを備え、前記検出センサは一次元ライ
ンセンサであることを特徴とする。
【００１４】請求項３に記載のアッベ数測定装置は、前
記結像レンズが前記被検レンズの度数に応じて交換可能
に複数個準備されていることを特徴とする。
記結像レンズが前記被検レンズの度数に応じて交換可能
に複数個準備されていることを特徴とする。
【００１５】請求項４に記載のアッベ数測定装置は、前
記結像レンズと前記レンズサポート部材との間にピンホ
ール板が設けられていることを特徴とする。
記結像レンズと前記レンズサポート部材との間にピンホ
ール板が設けられていることを特徴とする。
【００１６】請求項５に記載のアッベ数測定装置は、前
記測定光源部と前記スリット板との間に前記測定光源部
の各測定光源と前記ピンホール板との共役関係を保持さ
せるレンズが設けられていることを特徴とする。
記測定光源部と前記スリット板との間に前記測定光源部
の各測定光源と前記ピンホール板との共役関係を保持さ
せるレンズが設けられていることを特徴とする。
【００１７】請求項６に記載のアッベ数測定方法は、波
長の異なる測定光線が被検レンズの入射面に対して略垂
直に入射するように前記被検レンズの測定光路中に設け
られて前記被検レンズをサポートするレンズサポート部
材に、前記被検レンズを当てかつ前記被検レンズの光軸
を前記測定光路の測定光軸に対して所定量偏心させ、前
記入射面に対して略垂直に入射した測定光線の前記被検
レンズの存在に基づくふれ角に関係する物理量を検出セ
ンサにより検出してアッベ数を求めることを特徴とす
る。
長の異なる測定光線が被検レンズの入射面に対して略垂
直に入射するように前記被検レンズの測定光路中に設け
られて前記被検レンズをサポートするレンズサポート部
材に、前記被検レンズを当てかつ前記被検レンズの光軸
を前記測定光路の測定光軸に対して所定量偏心させ、前
記入射面に対して略垂直に入射した測定光線の前記被検
レンズの存在に基づくふれ角に関係する物理量を検出セ
ンサにより検出してアッベ数を求めることを特徴とす
る。
【００１８】請求項７に記載のアッベ数測定方法は、前
記被検レンズの光軸と前記測定光路の測定光軸との偏心
量を、前記被検レンズが強度の場合には前記被検レンズ
が弱度の場合に対して小さく設定しかつ前記被検レンズ
が弱度の場合には前記被検レンズが強度の場合に対して
大きく設定して、前記アッベ数を求めることを特徴とす
る。
記被検レンズの光軸と前記測定光路の測定光軸との偏心
量を、前記被検レンズが強度の場合には前記被検レンズ
が弱度の場合に対して小さく設定しかつ前記被検レンズ
が弱度の場合には前記被検レンズが強度の場合に対して
大きく設定して、前記アッベ数を求めることを特徴とす
る。
【００１９】
【発明の実施の形態】図３は本発明に係わるアッベ数測
定装置の光学図である。その図３において、１０は光源
部、１１はレンズ、１２は結像レンズ、１３はラインセ
ンサである。レンズ１１の直後にはスリット板１４が設
置されている。このスリット板１４には図４に示すよう
にスリット１４ａ、１４ｂ、１４ｃが形成されている。
定装置の光学図である。その図３において、１０は光源
部、１１はレンズ、１２は結像レンズ、１３はラインセ
ンサである。レンズ１１の直後にはスリット板１４が設
置されている。このスリット板１４には図４に示すよう
にスリット１４ａ、１４ｂ、１４ｃが形成されている。
【００２０】そのスリット１４ａは測定光軸Ｏを横切る
方向に延びており、このスリット１４ａを挟んでその両
側にスリット１４ｂ、１４ｃが測定光軸Ｏを原点として
点対称に形成されている。
方向に延びており、このスリット１４ａを挟んでその両
側にスリット１４ｂ、１４ｃが測定光軸Ｏを原点として
点対称に形成されている。
【００２１】光源部１０は光源１５〜１７、光路合成ミ
ラーとしてのダイクロイックミラー１８、１９から構成
され、光源１５はＦ’線波長（４７９．９９ｎｍ）の測
定光線ＰF'を発生し、光源部１６はｅ線波長（５４６．
９７ｎｍ）の測定光線Ｐeを発生し、光源部１７はＣ’
線波長（６４３．８５ｎｍ）の測定光線Ｐc'を発生す
る。ダイクロイックミラー１８は、Ｆ’線波長の測定光
線ＰF'を透過しかつｅ線波長の測定光線Ｐeを反射し、
ダイクロイックミラー１９は、Ｆ’線波長、ｅ線波長の
測定光線ＰF'、Ｐeを透過しかつＣ’線波長の測定光線
Ｐc'を反射する。各光源１５〜１７はレンズ１１から光
学的に等距離の位置に設けられている。
ラーとしてのダイクロイックミラー１８、１９から構成
され、光源１５はＦ’線波長（４７９．９９ｎｍ）の測
定光線ＰF'を発生し、光源部１６はｅ線波長（５４６．
９７ｎｍ）の測定光線Ｐeを発生し、光源部１７はＣ’
線波長（６４３．８５ｎｍ）の測定光線Ｐc'を発生す
る。ダイクロイックミラー１８は、Ｆ’線波長の測定光
線ＰF'を透過しかつｅ線波長の測定光線Ｐeを反射し、
ダイクロイックミラー１９は、Ｆ’線波長、ｅ線波長の
測定光線ＰF'、Ｐeを透過しかつＣ’線波長の測定光線
Ｐc'を反射する。各光源１５〜１７はレンズ１１から光
学的に等距離の位置に設けられている。
【００２２】結像レンズ１２の直後にはピンホール板２
０が設けられ、各光源１５〜１７とピンホール板２０と
はレンズ１１に関して共役であり、各光源１５〜１７の
測定光線ＰF'、Ｐe、ＰC'は、スリット板１４の各スリ
ット１４ａ〜１４ｃを透過してピンホール板２０のピン
ホール２０ａに光源像を形成する。
０が設けられ、各光源１５〜１７とピンホール板２０と
はレンズ１１に関して共役であり、各光源１５〜１７の
測定光線ＰF'、Ｐe、ＰC'は、スリット板１４の各スリ
ット１４ａ〜１４ｃを透過してピンホール板２０のピン
ホール２０ａに光源像を形成する。
【００２３】スリット板１４とラインセンサ１３とは結
像レンズ１２に関して共役位置に設けられ、被検レンズ
ＴＬが測定光路ＳＯにセットされていないときには、そ
のスリット板１４の投影像がラインセンサ１３を含む面
Ｑ内の所定位置に投影される。
像レンズ１２に関して共役位置に設けられ、被検レンズ
ＴＬが測定光路ＳＯにセットされていないときには、そ
のスリット板１４の投影像がラインセンサ１３を含む面
Ｑ内の所定位置に投影される。
【００２４】ピンホール板２０の背後にはレンズサポー
ト部材２１が設けられている。このレンズサポート部材
２１は被検レンズＴＬの凸面側の表面を受ける。このレ
ンズサポート部材２１は円環状に形成され、被検レンズ
ＴＬはこのレンズサポート部材２１に均一に押しつけら
れることにより、被検レンズＴＬの凸面側の表面を測定
光軸Ｏに対して略垂直に保持させることができる。な
お、図示を略すレンズ押さえを用いて被検レンズＴＬの
裏面側から一定荷重で均一にその被検レンズＴＬを押し
つける構成とすることもできる。
ト部材２１が設けられている。このレンズサポート部材
２１は被検レンズＴＬの凸面側の表面を受ける。このレ
ンズサポート部材２１は円環状に形成され、被検レンズ
ＴＬはこのレンズサポート部材２１に均一に押しつけら
れることにより、被検レンズＴＬの凸面側の表面を測定
光軸Ｏに対して略垂直に保持させることができる。な
お、図示を略すレンズ押さえを用いて被検レンズＴＬの
裏面側から一定荷重で均一にその被検レンズＴＬを押し
つける構成とすることもできる。
【００２５】被検レンズＴＬを測定光路ＳＯに挿入する
と、スリット板１４とラインセンサ１３を含む面Ｑとの
共役関係がずれるが、ピンホール板２０のピンホール２
０ａの径を小さくすることにより、焦点深度を深くする
ことができるので、ラインセンサ１３を含む面Ｑ内でス
リット板１４の投影像がぼけることを防止できる。
と、スリット板１４とラインセンサ１３を含む面Ｑとの
共役関係がずれるが、ピンホール板２０のピンホール２
０ａの径を小さくすることにより、焦点深度を深くする
ことができるので、ラインセンサ１３を含む面Ｑ内でス
リット板１４の投影像がぼけることを防止できる。
【００２６】なお、ピンホール２０ａの径を小さくしす
ぎると、ピンホール２０ａを通過する測定光線の光量が
少なくなり、像照度が低下し、かえってスリット像のボ
ケが発生し、Ｓ／Ｎ比が劣化するので、焦点深度をピン
ホール２０ａを用いて深くする代わりに、被検レンズＴ
Ｌの度数範囲を複数段階に区分し、被検レンズＴＬの度
数に応じて複数個の結像レンズ１２を準備し、この結像
レンズ１２を取り替え使用するかあるいはズームによっ
て可変とすることによって、スリット像のラインセンサ
１３上でのボケを回避する構成とすることもできる。
ぎると、ピンホール２０ａを通過する測定光線の光量が
少なくなり、像照度が低下し、かえってスリット像のボ
ケが発生し、Ｓ／Ｎ比が劣化するので、焦点深度をピン
ホール２０ａを用いて深くする代わりに、被検レンズＴ
Ｌの度数範囲を複数段階に区分し、被検レンズＴＬの度
数に応じて複数個の結像レンズ１２を準備し、この結像
レンズ１２を取り替え使用するかあるいはズームによっ
て可変とすることによって、スリット像のラインセンサ
１３上でのボケを回避する構成とすることもできる。
【００２７】挿入する被検レンズＴＬの度数によって、
ラインセンサ１３上の大きさが変化するため、距離Ｌ１
と距離Ｌ２との距離の和を見れば被検レンズＴＬの概略
の度数を求めることができる。
ラインセンサ１３上の大きさが変化するため、距離Ｌ１
と距離Ｌ２との距離の和を見れば被検レンズＴＬの概略
の度数を求めることができる。
【００２８】また、得られた度数から自動的に結像レン
ズ１２を適正なものに切り替える機構を有していても良
い。
ズ１２を適正なものに切り替える機構を有していても良
い。
【００２９】ラインセンサ１３上の大きさは結像レンズ
１２の焦点距離によっても異なるため、いずれの結像レ
ンズ１２が光路中にあるかを知る機構が設けられてい
る。
１２の焦点距離によっても異なるため、いずれの結像レ
ンズ１２が光路中にあるかを知る機構が設けられてい
る。
【００３０】被検レンズＴＬの光軸Ｏ１を測定光軸Ｏに
対して偏心させてその被検レンズＴＬの凸面側を測定光
軸Ｏに対してほぼ垂直にして測定光路ＳＯにセットし
て、ピンホール２０ａを介して細い各測定光線ＰF'、Ｐ
e、ＰC'を被検レンズＴＬの凸面側の入射面ＴＬａに入
射させると、各測定光線が屈折されて、出射面ＴＬｂか
ら出射されて、ラインセンサ１３に導かれる。
対して偏心させてその被検レンズＴＬの凸面側を測定光
軸Ｏに対してほぼ垂直にして測定光路ＳＯにセットし
て、ピンホール２０ａを介して細い各測定光線ＰF'、Ｐ
e、ＰC'を被検レンズＴＬの凸面側の入射面ＴＬａに入
射させると、各測定光線が屈折されて、出射面ＴＬｂか
ら出射されて、ラインセンサ１３に導かれる。
【００３１】その図３において、符号ＰＲF'はＦ’線の
測定光線ＰF'を入射面ＴＬａに入射させたときに出射面
ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、符号ＰＲeはｅ
線の測定光線Ｐeを入射面ＴＬａに入射させたときに出
射面ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、符号ＰＲC'
はＣ’線の測定光線ＰC'を入射面ＴＬａに入射させたと
きに出射面ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、ライ
ンセンサ１３上での各測定光線の結像位置Ｑ１’〜Ｑ
３’に基づき、ふれ角を検出することができる。
測定光線ＰF'を入射面ＴＬａに入射させたときに出射面
ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、符号ＰＲeはｅ
線の測定光線Ｐeを入射面ＴＬａに入射させたときに出
射面ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、符号ＰＲC'
はＣ’線の測定光線ＰC'を入射面ＴＬａに入射させたと
きに出射面ＴＬｂから出射される屈折光線を示し、ライ
ンセンサ１３上での各測定光線の結像位置Ｑ１’〜Ｑ
３’に基づき、ふれ角を検出することができる。
【００３２】被検レンズＴＬの入射面ＴＬａと出射面Ｔ
Ｌｂとの為す角度（すなわち、プリズムの頂角に相当す
る角度）をσとし、材料の屈折率をｎとし、角度σが小
さくかつ被検レンズＴＬの厚さが薄いと仮定すると、偏
角量εとσ、ｎとの関係は以下の（３）式により表すこ
とができる。
Ｌｂとの為す角度（すなわち、プリズムの頂角に相当す
る角度）をσとし、材料の屈折率をｎとし、角度σが小
さくかつ被検レンズＴＬの厚さが薄いと仮定すると、偏
角量εとσ、ｎとの関係は以下の（３）式により表すこ
とができる。
【００３３】ε＝（ｎ−１）σ … （３） 従って、Ｆ’線の測定光線ＰF'、ｅ線の測定光線Ｐe、
Ｃ’線の測定光線ＰC'を用いて各偏角量εF'、εe、ε
C'を求め、この各偏角量εF'、εe、εC'に基づき、各
屈折率ｎF'、ｎe、ｎC'を下記（４）〜（６）式に基づ
いて求めれば、アッベ数νeを（２）式に基づいて求め
ることができる。
Ｃ’線の測定光線ＰC'を用いて各偏角量εF'、εe、ε
C'を求め、この各偏角量εF'、εe、εC'に基づき、各
屈折率ｎF'、ｎe、ｎC'を下記（４）〜（６）式に基づ
いて求めれば、アッベ数νeを（２）式に基づいて求め
ることができる。
【００３４】ただし、各測定光線の被検レンズＴＬへの
入射位置を同じものとする。 ｎF'＝１＋（εF'／σ） …（４） ｎe＝１＋（εe／σ） …（５） ｎC'＝１＋（εC'／σ） …（６） 又は、 εF'＝（ｎF'−１）σ …（４）’ εe＝（ｎe−１）σ …（５）’ εC'＝（ｎC−１）σ …（６）’ を用いて下記の（７）式に基づき、アッベ数を求めるこ
とができる。 νe＝（ｎe−１）σ／（（ｎF'−１）σ−（ｎC−１）
σ） ＝εe／（εF'−εC'） …（７） 偏角量εが十分に小さいと仮定すると、下記の（８）式
が成り立つので、被検レンズＴＬからラインセンサ１３
までの光軸方向の距離ｘとラインセンサ１３上での像の
移動量ｙとに基づいて、偏角量εを求めることができ
る。 ε≒tanε＝ｙ／ｘ …（８） 距離ｘは一定であるから、各測定光線について、像の移
動量ｙe、ｙF'、ｙC'を用いて、下記の式（９）に基づ
いて、アッベ数νeを測定することができる。 νe＝ｙe／（ｙF'−ｙC'） …（９） 従って、ラインセンサ１３の検出出力に基づき移動量ｙ
e、ｙF'、ｙC'を求め、式（９）を用いてアッベ数νeを
測定する構成を採用することにすると、演算時間の短縮
を図ることができる。
入射位置を同じものとする。 ｎF'＝１＋（εF'／σ） …（４） ｎe＝１＋（εe／σ） …（５） ｎC'＝１＋（εC'／σ） …（６） 又は、 εF'＝（ｎF'−１）σ …（４）’ εe＝（ｎe−１）σ …（５）’ εC'＝（ｎC−１）σ …（６）’ を用いて下記の（７）式に基づき、アッベ数を求めるこ
とができる。 νe＝（ｎe−１）σ／（（ｎF'−１）σ−（ｎC−１）
σ） ＝εe／（εF'−εC'） …（７） 偏角量εが十分に小さいと仮定すると、下記の（８）式
が成り立つので、被検レンズＴＬからラインセンサ１３
までの光軸方向の距離ｘとラインセンサ１３上での像の
移動量ｙとに基づいて、偏角量εを求めることができ
る。 ε≒tanε＝ｙ／ｘ …（８） 距離ｘは一定であるから、各測定光線について、像の移
動量ｙe、ｙF'、ｙC'を用いて、下記の式（９）に基づ
いて、アッベ数νeを測定することができる。 νe＝ｙe／（ｙF'−ｙC'） …（９） 従って、ラインセンサ１３の検出出力に基づき移動量ｙ
e、ｙF'、ｙC'を求め、式（９）を用いてアッベ数νeを
測定する構成を採用することにすると、演算時間の短縮
を図ることができる。
【００３５】被検レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光路ＳＯ
の光軸Ｏとが一致しているとき、ラインセンサ１３を含
む面Ｑ上でのスリット像の位置は、被検レンズＴＬを挿
入する前のスリット像の位置と同じであり、変化しな
い。
の光軸Ｏとが一致しているとき、ラインセンサ１３を含
む面Ｑ上でのスリット像の位置は、被検レンズＴＬを挿
入する前のスリット像の位置と同じであり、変化しな
い。
【００３６】被検レンズＴＬを図３に示す矢印Ａ−Ａ方
向に移動させると、図５に示すように、スリット像１４
ａ’〜１４ｃ’はラインセンサ１３の画素１３ａの配列
方向に移動する。このスリット像１４ａ’〜１４ｃ’は
被検レンズＴＬが凸レンズのときはその被検レンズＴＬ
の移動方向と同方向に移動し、被検レンズＴＬが凹レン
ズのときは、スリット像１４ａ’〜１４ｃ’は被検レン
ズＴＬの移動方向と反対方向に移動する。
向に移動させると、図５に示すように、スリット像１４
ａ’〜１４ｃ’はラインセンサ１３の画素１３ａの配列
方向に移動する。このスリット像１４ａ’〜１４ｃ’は
被検レンズＴＬが凸レンズのときはその被検レンズＴＬ
の移動方向と同方向に移動し、被検レンズＴＬが凹レン
ズのときは、スリット像１４ａ’〜１４ｃ’は被検レン
ズＴＬの移動方向と反対方向に移動する。
【００３７】このとき、図６に示すように、ラインセン
サ１３上に形成されたスリット像１４ａ’〜１４ｃ’に
基づき画素１４ａから出力される検出出力Ｑ１〜Ｑ３の
ピーク間隔Ｌ１、Ｌ２が図６に示すように等しい値（Ｌ
１＝Ｌ２）に保たれたまま、スリット像１４ａ’〜１４
ｃ’が矢印Ｂ−Ｂ方向に移動する。
サ１３上に形成されたスリット像１４ａ’〜１４ｃ’に
基づき画素１４ａから出力される検出出力Ｑ１〜Ｑ３の
ピーク間隔Ｌ１、Ｌ２が図６に示すように等しい値（Ｌ
１＝Ｌ２）に保たれたまま、スリット像１４ａ’〜１４
ｃ’が矢印Ｂ−Ｂ方向に移動する。
【００３８】被検レンズＴＬを紙面に直交する平面内
で、紙面に対して垂直方向に移動させると、スリット像
１４ａ’〜１４ｃ’は図７に示すようにラインセンサ１
３の各画素１３ａの配列方向と直交する方向（矢印Ｃ−
Ｃ方向）に移動し、ラインセンサ１３上に形成されたス
リット像１４ａ’〜１４ｃ’に基づき出力される検出出
力Ｑ１〜Ｑ２のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２は、スリット像１
４ａ’〜１４ｃ’が全体に右に移動したときには、図８
に示すようにＬ１＞Ｌ２となり、スリット像１４ａ’〜
１４ｃ’が全体に逆に左に移動したときには、検出出力
Ｑ１〜Ｑ３のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２は図９に示すように
Ｌ２＞Ｌ１となり、ラインセンサ１３の検出出力Ｑ１〜
Ｑ３のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２とスリット像１４ａ’〜１
４ｃ’の移動方向とに基づき、被検レンズＴＬの測定光
学系に対する上下左右方向の移動方向を検出できる。そ
の検出出力Ｑ１〜Ｑ３は図３に示す演算回路２２に入力
され、演算回路２２はその演算結果としてのアッベ数ν
を表示装置２３に向けて出力する。
で、紙面に対して垂直方向に移動させると、スリット像
１４ａ’〜１４ｃ’は図７に示すようにラインセンサ１
３の各画素１３ａの配列方向と直交する方向（矢印Ｃ−
Ｃ方向）に移動し、ラインセンサ１３上に形成されたス
リット像１４ａ’〜１４ｃ’に基づき出力される検出出
力Ｑ１〜Ｑ２のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２は、スリット像１
４ａ’〜１４ｃ’が全体に右に移動したときには、図８
に示すようにＬ１＞Ｌ２となり、スリット像１４ａ’〜
１４ｃ’が全体に逆に左に移動したときには、検出出力
Ｑ１〜Ｑ３のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２は図９に示すように
Ｌ２＞Ｌ１となり、ラインセンサ１３の検出出力Ｑ１〜
Ｑ３のピーク間隔Ｌ１、Ｌ２とスリット像１４ａ’〜１
４ｃ’の移動方向とに基づき、被検レンズＴＬの測定光
学系に対する上下左右方向の移動方向を検出できる。そ
の検出出力Ｑ１〜Ｑ３は図３に示す演算回路２２に入力
され、演算回路２２はその演算結果としてのアッベ数ν
を表示装置２３に向けて出力する。
【００３９】レンズサポート部材２１の頂点２１ａから
ラインセンサ１３までの光軸方向距離Ｘは既知の値であ
り、ラインセンサ１３上でのスリット像１４ａ’〜１４
ｃ’の形成位置から偏角量εを求めることができるが、
被検レンズＴＬの厚さが未知であるので、被検レンズＴ
Ｌの厚さ分の誤差が偏角量εに含まれる。
ラインセンサ１３までの光軸方向距離Ｘは既知の値であ
り、ラインセンサ１３上でのスリット像１４ａ’〜１４
ｃ’の形成位置から偏角量εを求めることができるが、
被検レンズＴＬの厚さが未知であるので、被検レンズＴ
Ｌの厚さ分の誤差が偏角量εに含まれる。
【００４０】しかしながら、被検レンズＴＬの厚さは眼
鏡レンズの場合、一定の範囲内にあり、光軸方向距離Ｘ
をその被検レンズＴＬの厚さに対して十分大きくすれ
ば、被検レンズＴＬの厚さに起因する偏角量εの誤差を
無視できる程度に小さくできる。
鏡レンズの場合、一定の範囲内にあり、光軸方向距離Ｘ
をその被検レンズＴＬの厚さに対して十分大きくすれ
ば、被検レンズＴＬの厚さに起因する偏角量εの誤差を
無視できる程度に小さくできる。
【００４１】次に、測定手順を説明する。
【００４２】測定光源１５〜１７のうちの一つをアライ
メント用光源として用いる。このアライメント用光源に
はｅ線波長の測定光線Ｐeを発生する測定光源１６を用
いるのが、測定精度の向上を図る観点から望ましい。ｅ
線波長の測定光線Ｐeに基づき得られる偏角量εeはＦ’
線波長の測定光線ＰF'に基づき得られる偏角量εF'と
Ｃ’線波長の測定光線ＰC'に基づき得られる偏角量εC'
との間の略中間の値を有するからである。
メント用光源として用いる。このアライメント用光源に
はｅ線波長の測定光線Ｐeを発生する測定光源１６を用
いるのが、測定精度の向上を図る観点から望ましい。ｅ
線波長の測定光線Ｐeに基づき得られる偏角量εeはＦ’
線波長の測定光線ＰF'に基づき得られる偏角量εF'と
Ｃ’線波長の測定光線ＰC'に基づき得られる偏角量εC'
との間の略中間の値を有するからである。
【００４３】まず、測定光源のうちのアライメント用光
源を点灯させ、被検レンズＴＬを図３に示すように、矢
印Ａ−Ａ方向に移動させて被検レンズＴＬの光軸Ｏ１を
測定光路ＳＯの測定光軸Ｏに対して偏心させ、スリット
像１４ａ’〜１４ｃ’を一定量移動させる。
源を点灯させ、被検レンズＴＬを図３に示すように、矢
印Ａ−Ａ方向に移動させて被検レンズＴＬの光軸Ｏ１を
測定光路ＳＯの測定光軸Ｏに対して偏心させ、スリット
像１４ａ’〜１４ｃ’を一定量移動させる。
【００４４】その際、図３に示す表示装置２３に被検レ
ンズＴＬの移動方向を表示装置２３に表示させ、表示の
指示に従って被検レンズＴＬを移動させるようにすると
良い。
ンズＴＬの移動方向を表示装置２３に表示させ、表示の
指示に従って被検レンズＴＬを移動させるようにすると
良い。
【００４５】演算回路２２はスリット像１４ａ’〜１４
ｃ’の移動量を基準値と比較する比較手段を有する。こ
の基準値は、被検レンズＴＬの屈折力に拘わらず常に一
定とする。スリット像１４ａ’〜１４ｃ’の移動量と基
準値とが一致すると、演算回路２２はアライメント完了
信号を出力し、表示装置２３はそのアライメント完了信
号に基づいて「アライメント完了」の表示を行い、測定
者がこの状態で図示を略す測定ボタンを押すと、各測定
光源１５〜１７が順次点灯され、各スリット像１４ａ’
〜１４ｃ’の移動量が検出され、これによって、演算回
路２２がアッベ数νeを演算する。
ｃ’の移動量を基準値と比較する比較手段を有する。こ
の基準値は、被検レンズＴＬの屈折力に拘わらず常に一
定とする。スリット像１４ａ’〜１４ｃ’の移動量と基
準値とが一致すると、演算回路２２はアライメント完了
信号を出力し、表示装置２３はそのアライメント完了信
号に基づいて「アライメント完了」の表示を行い、測定
者がこの状態で図示を略す測定ボタンを押すと、各測定
光源１５〜１７が順次点灯され、各スリット像１４ａ’
〜１４ｃ’の移動量が検出され、これによって、演算回
路２２がアッベ数νeを演算する。
【００４６】ここでは、図示を略す測定ボタンを押すこ
とによりアッベ数の測定を実行させることにしたが、ア
ライメント完了信号を用いて自動的に、各測定光源１５
〜１７を点灯させ、アッベ数νeを測定する構成とする
ことができる。
とによりアッベ数の測定を実行させることにしたが、ア
ライメント完了信号を用いて自動的に、各測定光源１５
〜１７を点灯させ、アッベ数νeを測定する構成とする
ことができる。
【００４７】このような構成とすることにより、屈折力
の大きい被検レンズＴＬは小さい偏心量でアライメント
完了となり、屈折力の小さい被検レンズＴＬはより大き
い偏心量でアライメント完了となるが、偏角量εは常に
同一となる。このため、被検レンズＴＬの屈折力の大小
に拘わらず、測定精度を一定に保つことができる。
の大きい被検レンズＴＬは小さい偏心量でアライメント
完了となり、屈折力の小さい被検レンズＴＬはより大き
い偏心量でアライメント完了となるが、偏角量εは常に
同一となる。このため、被検レンズＴＬの屈折力の大小
に拘わらず、測定精度を一定に保つことができる。
【００４８】被検レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光軸Ｏと
の偏心量ＨＬが大きくなれば感度が大きくなるが、被検
レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光軸Ｏとの偏心量ＨＬが大
きすぎると、強度の被検レンズＴＬの場合、ラインセン
サ１３からスリット像１４ａ’〜１４ｃ’がはみ出す場
合がある。一方、弱度の被検レンズＴＬの場合には、よ
り一層被検レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光軸Ｏとの偏心
量ＨＬを大きくしなければならず、被検レンズＴＬが径
の小さな眼鏡レンズの場合には測定できない事態が生じ
るので、偏心量は５Δ程度が望ましい。ここで、１Δは
１ｍ当たり１ｃｍのふれ角を与えるプリズムの度をい
う。
の偏心量ＨＬが大きくなれば感度が大きくなるが、被検
レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光軸Ｏとの偏心量ＨＬが大
きすぎると、強度の被検レンズＴＬの場合、ラインセン
サ１３からスリット像１４ａ’〜１４ｃ’がはみ出す場
合がある。一方、弱度の被検レンズＴＬの場合には、よ
り一層被検レンズＴＬの光軸Ｏ１と測定光軸Ｏとの偏心
量ＨＬを大きくしなければならず、被検レンズＴＬが径
の小さな眼鏡レンズの場合には測定できない事態が生じ
るので、偏心量は５Δ程度が望ましい。ここで、１Δは
１ｍ当たり１ｃｍのふれ角を与えるプリズムの度をい
う。
【００４９】レンズの偏心量とプリズムとの関係は概略
PRENTICEの式で表すことができる。
PRENTICEの式で表すことができる。
【００５０】プリズム値＝偏心量（ｍｍ）×度数／１０ 例えば、５Ｄ（ディオプター）の被検レンズＴＬで５プ
リズムを得るためには、その光学中心から１０ｍｍ、３
Ｄの場合には１５ｍｍ偏心させて測定する必要がある。
リズムを得るためには、その光学中心から１０ｍｍ、３
Ｄの場合には１５ｍｍ偏心させて測定する必要がある。
【００５１】加工して眼鏡枠に取り付けた被検レンズＴ
Ｌを測定する際には一般的に横幅に較べて縦は短く加工
されているため、被検レンズＴＬを上下方向に偏心させ
ると、５プリズム分偏心できない場合がある。従って、
被検レンズＴＬを横方向にスライドして測定する構造が
望ましい。
Ｌを測定する際には一般的に横幅に較べて縦は短く加工
されているため、被検レンズＴＬを上下方向に偏心させ
ると、５プリズム分偏心できない場合がある。従って、
被検レンズＴＬを横方向にスライドして測定する構造が
望ましい。
【００５２】なお、測定光源としてＬＥＤを用いる場
合、ＬＥＤにより発生する光の波長が必ずしもＦ’線波
長、ｅ線波長、Ｃ’線波長と一致するとは限らないの
で、アッベ数νの既知の眼鏡レンズを用いて較正するよ
うにしても良い。
合、ＬＥＤにより発生する光の波長が必ずしもＦ’線波
長、ｅ線波長、Ｃ’線波長と一致するとは限らないの
で、アッベ数νの既知の眼鏡レンズを用いて較正するよ
うにしても良い。
【００５３】すなわち、アッベ数νが既知の標準の眼鏡
レンズを測定光路ＳＯに挿入してアッベ数νを測定し、
その既知のアッベ数ν’と測定により得られたアッベ数
νとの差に基づき補正値を求め、この補正値により補正
する構成とすれば、測定光線の波長のずれに基づく誤差
を低減させることができる。
レンズを測定光路ＳＯに挿入してアッベ数νを測定し、
その既知のアッベ数ν’と測定により得られたアッベ数
νとの差に基づき補正値を求め、この補正値により補正
する構成とすれば、測定光線の波長のずれに基づく誤差
を低減させることができる。
【００５４】なお、測定光源としてＬＥＤを用いる代わ
りに、白熱ランプとフィルターとを組み合わせ、フィル
ターとしてＦ’線波長、ｅ線波長、Ｃ’線波長の光を透
過させる特性を持たせる構成としても良い。
りに、白熱ランプとフィルターとを組み合わせ、フィル
ターとしてＦ’線波長、ｅ線波長、Ｃ’線波長の光を透
過させる特性を持たせる構成としても良い。
【００５５】
【発明の効果】本発明のアッベ数測定装置によれば、眼
鏡レンズのアッベ数を、その屈折度数に起因する測定精
度の低下を極力回避しつつ測定することができる。
鏡レンズのアッベ数を、その屈折度数に起因する測定精
度の低下を極力回避しつつ測定することができる。
【図１】 試験プリズムを用いて分散を測定するための
説明図である。
説明図である。
【図２】 眼鏡レンズの分散を測定するために使用する
レンズメータの光学図である。
レンズメータの光学図である。
【図３】 本発明に係わるアッベ数測定装置の光学図で
ある。
ある。
【図４】 図３に示すスリット板の平面図である。
【図５】 図３に示すラインセンサに形成されたスリッ
ト像の説明図である。
ト像の説明図である。
【図６】 図４に示すラインセンサから出力された検出
出力のピーク間隔の説明図である。
出力のピーク間隔の説明図である。
【図７】 図３に示す被検レンズを紙面に対して垂直な
面内で光軸に対して垂直に移動させたときにラインセン
サ上に形成されるスリット像の説明図である。
面内で光軸に対して垂直に移動させたときにラインセン
サ上に形成されるスリット像の説明図である。
【図８】 図７に示すスリット像が右に移動したときに
ラインセンサから出力される検出出力のピーク間隔を説
明するための説明図である。
ラインセンサから出力される検出出力のピーク間隔を説
明するための説明図である。
【図９】 図７に示すスリット像が左に移動したときに
ラインセンサから出力される検出出力のピーク間隔を説
明するための説明図である。
ラインセンサから出力される検出出力のピーク間隔を説
明するための説明図である。
１０…測定光源部 １３…検出センサ ２１…レンズサポート部材 ２２…演算回路 ＴＬ…被検レンズ
Claims (7)
- 【請求項１】 被検レンズのアッベ数を測定するために
測定光源部から発生された波長の異なる測定光線が前記
被検レンズの入射面に対して略垂直に入射するように前
記被検レンズの測定光路中に設けられて前記被検レンズ
をサポートするレンズサポート部材と、前記レンズサポ
ート部材を境に前記測定光源部とは反対側の位置に設け
られて前記被検レンズを通過して屈折された測定光線を
検出する検出センサと、前記検出センサの検出出力に基
づき前記アッベ数を演算する演算装置とを備えているこ
とを特徴とするアッベ数測定装置。 - 【請求項２】 前記レンズサポート部材と前記測定光源
部との間に設けられて前記測定光線を前記レンズサポー
ト部材に向けて透過させるためのスリット開口を有する
スリット板と、前記被検レンズが前記測定光路に挿入さ
れていない状態で前記スリット板と前記検出センサとの
共役関係を保持させる結像センサとを備え、前記検出セ
ンサは一次元ラインセンサであることを特徴とする請求
項１に記載のアッベ数測定装置。 - 【請求項３】 前記結像レンズが前記被検レンズの度数
に応じて交換可能に複数個準備されていることを特徴と
する請求項２に記載のアッベ数測定装置。 - 【請求項４】 前記結像レンズと前記レンズサポート部
材との間にピンホール板が設けられていることを特徴と
する請求項３に記載のアッベ数測定装置。 - 【請求項５】 前記測定光源部と前記スリット板との間
に前記測定光源部の各測定光源と前記ピンホール板との
共役関係を保持させるレンズが設けられていることを特
徴とする請求項４に記載のアッベ数測定装置。 - 【請求項６】 波長の異なる測定光線が前記被検レンズ
の入射面に対して略垂直に入射するように被検レンズの
測定光路中に設けられて前記被検レンズをサポートする
レンズサポート部材に、前記被検レンズを当てかつ前記
被検レンズの光軸を前記測定光路の測定光軸に対して所
定量偏心させ、前記入射面に対して略垂直に入射した測
定光線の前記被検レンズの存在に基づくふれ角に関係す
る物理量を検出センサにより検出してアッベ数を求める
ことを特徴とするアッベ数測定方法。 - 【請求項７】 前記被検レンズの光軸と前記測定光路の
測定光軸との偏心量を、前記被検レンズが強度の場合に
は前記被検レンズが弱度の場合に対して小さく設定しか
つ前記被検レンズが弱度の場合には前記被検レンズが強
度の場合に対して大きく設定して、前記アッベ数を求め
ることを特徴とする請求項５に記載のアッベ数測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000190415A JP4629835B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | アッベ数測定装置及びアッベ数測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000190415A JP4629835B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | アッベ数測定装置及びアッベ数測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002005786A true JP2002005786A (ja) | 2002-01-09 |
| JP4629835B2 JP4629835B2 (ja) | 2011-02-09 |
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ID=18689888
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|---|---|---|---|
| JP2000190415A Expired - Fee Related JP4629835B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | アッベ数測定装置及びアッベ数測定方法 |
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|---|---|
| JP (1) | JP4629835B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006208350A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Tomey Corporation | 液体の屈折率測定 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07294378A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Topcon Corp | コンタクトレンズ受及びレンズメータ |
| JPH10104119A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-04-24 | Topcon Corp | レンズメーター |
-
2000
- 2000-06-26 JP JP2000190415A patent/JP4629835B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07294378A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Topcon Corp | コンタクトレンズ受及びレンズメータ |
| JPH10104119A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-04-24 | Topcon Corp | レンズメーター |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006208350A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Tomey Corporation | 液体の屈折率測定 |
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