JP2001516199A - 電気リラクタンス機械の調整方法と調整装置 - Google Patents

電気リラクタンス機械の調整方法と調整装置

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JP2001516199A JP2000510200A JP2000510200A JP2001516199A JP 2001516199 A JP2001516199 A JP 2001516199A JP 2000510200 A JP2000510200 A JP 2000510200A JP 2000510200 A JP2000510200 A JP 2000510200A JP 2001516199 A JP2001516199 A JP 2001516199A
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アンデルソン、クリステル
ステンダール、ヘンリク
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エモトロン アクチボラゲット
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    • H02P25/00—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details
    • H02P25/02—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details characterised by the kind of motor
    • H02P25/08—Reluctance motors
    • H02P25/086—Commutation
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する工程に関する。この工程は、少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受け取る段階と、位相巻線を流れる電流（ｉW ）を指示する信号（ｉ Wm）を受け取る段階と、この電圧信号と電流信号とに応答して磁束を評価する段階と、電流信号（ｉWm）と磁束信号（ψest ）との間の位相関係に従って位相巻線の瞬間抵抗値を評価する段階とを有する。本発明は、電気機械を制御する方法およびこの方法を実行するための駆動装置に関する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 （発明の分野） 本発明は、電気機械の制御の方法と、電気機械の中の可動部品の相対位置を決
定するための駆動装置および方法に関する。
【０００２】 （技術の現状） 電気機械は、相互に可動である２つの部品を有する。これらの部品は、通常、
「固定子」および「回転子」と呼ばれる。最も普通の形式の電動機は、回転子を
有し、この回転子は、固定子の中で回転することができるように保持される。電
動機には、コイルが備えられている。このコイルに電流を供給することにより、
磁束を発生させることができる。回転子は、固定子と組み合わせて磁気回路を形
成し、コイルにより発生した磁界は、この磁気回路を通る。
【０００３】 回転子と固定子との間の相対位置が変化する時、磁気回路のリラクタンスは、
変化する。
【０００４】 多数個の巻線を備えたリラクタンス電動機を駆動するために、固定子に対する
回転子の位置に応じて変化する方法で電流が巻線に結合される。
【０００５】 この電流を制御する１つの既知の方法は、回転子に結合された分離した位置セ
ンサを用いて回転子の位置を感知する段階を有する方法であり、この位置センサ
は、回転子の位置に応じて変化する出力信号を生ずる。
【０００６】 位相電流の制御を達成する別の既知の方法は、固定子に対する回転子の位置に
応じて位相のインダクタンスが変化するという事実を用いる。特許出願ＰＣＴ／
ＳＥ８７／００４４２は、下記の式
【数１】 から出発して、リラクタンス機械の回転子の位置を決定する方法を開示している
。ここで、ｉは、位相巻線を流れる電流、Ｕは、位相巻線とトランジスタ弁と電
流センサ抵抗器との直列接続体の両端の電圧、Ｒは、位相巻線と作動されたトラ
ンジスタと電流測定用抵抗器との抵抗値の和に対応する予め定められた定数であ
る。
【０００７】 （発明の開示） 本発明は、リラクタンス機械のトルクの調整を改良する問題に関する。
【０００８】 本発明は、さらに、電動機の軸を利用して回転子の位置を検出するための分離
したセンサを用いることなく、電気機械のトルクの改良された調整を得る問題に
関する。
【０００９】 さらに詳細にいえば、本発明は、分離した回転子位置センサを用いることなく
、高回転速度と低回転速度との両方においてトルクの調整を改良された方法を得
る問題に関する。
【００１０】 さらに本発明は、回転子の位置を決定するために、リラクタンス値または磁束
のような位相巻線値の評価を用いて、リラクタンス電動機のトルクの制御を得る
問題に関する。本発明は、また、評価された位相巻線値を用いて電動機のトルク
を制御することに関する。この場合には、位相巻線値は、改良された精度で、お
よび電動機の回転速度および電動機巻線の温度にあまり依存しない又は完全に依
存しないで評価される。
【００１１】 リラクタンス機械は、２つの相互に可動な部品と、少なくとも１つの位相巻線
とを有する。この位相巻線の抵抗値とインダクタンスは、前記部品の相対位置に
応じて変化する。リラクタンス機械を調整するための装置は、制御可能な弁を有
する。この弁は、位相巻線と直列に接続され、本質的に開放状態と導電状態との
間で調整可能である。前記の問題点は、 ａ）位相巻線を流れる電流を測定する段階と、 ｂ）位相巻線の両端の電圧を測定する段階と、 ｃ）調整可能なパラメータを有する数式に従って、測定された電流値および測定
された電圧値に応じて変化する信号値を生ずる段階と、 ｄ）この信号値と測定された電流値との間の関係値を決定する段階と、 ｅ）この関係値に応じて変化するパラメータ値を調整する段階と、 を含む弁の制御の方法により解決される。
【００１２】 本発明は、測定された電流値に応じて変化する磁束を評価するため、および電
気機械を高い精度で制御するために、前記で説明した方式の機械に対し磁束が巻
線電流と同位相であるという事実を用いる。
【００１３】 １つの実施例に従い、下記の数式
【数２】 により磁束ψに対応して信号値が生ずる。ここで
【数３】 である。
【００１４】 調整可能なパラメータＫ1 は、位相巻線の抵抗値に関係しており、パラメータ
Ｋ2 は、弁の電圧降下に対応し、パラメータＫ3 は、この機械の実際の動作状態
に応じて変化する。
【００１５】 前記で説明した解決法により、電動機の巻線が例えば温度が変化する結果とし
て、その直列抵抗値が変化する時でも、磁束の評価が真の磁束と良好に対応する
ように、この評価が自動的に制御パラメータＫ1 を調整するという利点が得られ
る。もし電圧Ｕd が位相巻線と弁との両方にわたって決定されるならば、その場
合には、パラメータＫ1 は、また弁の可能な抵抗値変化に基づいて調整される。
【００１６】 （好ましい実施例） 説明を簡単にするために、下記において回転する機械を参照しながら本発明を
説明する。下記の説明は、本発明が回転する機械に限定されることを意味するも
のではない。線形機械、すなわち可動部分が軟磁性材料で製造され、この可動部
分が多数個の固定子巻線を備えた直線線形固定子に沿って直線的に配置されてい
る機械のような他の機械にも本発明を応用することができる。
【００１７】 図１Ａは、固定子２０とこの固定子のまわりで回転することができる回転子３
０とを有するリラクタンス電動機の１つの実施例の概要図を示す。
【００１８】 固定子２０は、３つの分離した巻線ＷA 、ＷB およびＷC をそれぞれ有する。
【００１９】 １つの実施例に従い、回転子は、軟磁性材料で製造される。図１Ａに示されて
いるように、回転子は、多数の突起部４０を有する。軟磁性材料は、強磁性体材
料であって、それが磁化された時、極めて容易に消磁することができる。すなわ
ち、この磁性材料が磁化された時に生じた磁化を取り去るのに必要な保磁力が非
常に小さい。本発明の１つの応用例に従い、回転子は、軟磁性鉄で構成される。
また１つの実施例に従い、固定子は、例えば軟磁性鉄のような軟磁性材料を有す
る。
【００２０】 回転子が中心軸のまわりで回転する時、図１Ａで角度位置θで示された位置が
変化する。図１に示されているように、電動機の中心軸にその原点を有し、２つ
の相互に直交する軸、ｘ軸およびｙ軸を有する仮想座標系を考える。すると回転
子の位置は、ｘ軸に対する回転子の突起部４０の角度位置θで定めることができ
る。
【００２１】 電流が１つの巻線、例えば巻線ＷA を流れる時、固定子から回転子を通って固
定子に戻る磁束が発生し、それにより磁気回路ができる。図１Ｂは、磁界発生巻
線ＷA が配置されている固定子の部分に回転子の突起部が対面している時、巻線
ＷA を電流が流れた場合の三相リラクタンス電動機に対する磁気回路の１つの例
を示す。図１Ｂは、磁束に対する原理を示しただけの図であって、回転子が図１
Ｂに示された位置にある時に電流が巻線を通して必ず流れなければならないと解
釈してはならない。
【００２２】 固定子に対する回転子の位置が電動機のトルクが最適であるような時に電流が
供給されるように、電動機の位相巻線に対して電流が制御されなければならない
。
【００２３】 図１Ａおよび図１Ｂは、３つの巻線を有する機械が示されている。この機械の
回転子は、８つの突起部を有し、固定子は、１２の突起部を有する。１つの好ま
しい実施例では、回転子は、いわゆる突出極と呼ばれる４つの突起部を有し、固
定子は、６つの突起部を有する。
【００２４】 図２Ａは、回転子の位置θに応じて巻線ＷA のインダクタンスがどように変化
するかを示す。
【００２５】 図２Ｂは、位相巻線が作動することにより、回転子の位置θにおいて得ること
ができるトルクを示した図である。巻線ＷA が作動することにより達成されるト
ルクＴWAの曲線と巻線ＷA に対するインダクタンスＬWAの曲線とを比較すること
により、すなわち図２Ａの実線の曲線と図２Ｂの実線の曲線とを比較することに
より、インダクタンスが正の微分係数を有する時に、この巻線が作動されるなら
ば、巻線ＷA から正のトルクが得られることが分かる。
【００２６】 （制御装置の１つの実施例） 図３は、３つの位相巻線ＷA 、ＷB およびＷC に接続された制御装置６０を示
す。制御装置６０は、電源７０を有する。電源７０は、＋Ｕd の振幅を有する直
流電圧を接続点８０に送る。位相巻線ＷA は、電圧源のアース接続点９０とプラ
ス極８０との間に接続されるが、その際、図３に示されているように、電流セン
サＳWAと電力用トランジスタＴ１A と電力用トランジスタＴ２A とを備えた回路
を通して接続される。
【００２７】 ダイオードＤ１A の陽極は、アース接続点９０に接続され、その陰極は、トラ
ンジスタＴ2Aのエミッタに接続される。
【００２８】 ダイオードＤ2Aの陰極は、電流センサＳD2A を通して電力用トランジスタＴ2A のコレクタに接続され、その陽極は、電力用トランジスタＴ1Aのコレクタに接続
される。電流センサＳD2A は、信号を制御装置１００に送り、電流がダイオード
Ｄ2Aを流れるかどうかに関する情報をこの制御装置が取得する。
【００２９】 その他の位相巻線ＷB およびＷC は、それぞれ電流センサ、電力用トランジス
タおよびダイオードに同様な方式で結合される。
【００３０】 マイクロプロセッサを有して構成される制御装置１００を配置することにより
、トランジスタ弁のオンおよびオフのスイッチングの制御を行う。制御装置１０
０は６つの出力を有する。６つの出力は、６つのトランジスタ自身のベースに、
自身の増幅器１１０を通して接続される。トランジスタ１１０は、弁制御装置と
して動作する。
【００３１】 １つの実施例では、電流センサＳWAはホール・センサである。ホール・センサ
は、測定された電流値ｉWAm を制御装置１００に供給する。同様に、巻線ＷB お
よび巻線ＷC に対して測定された電流値は、制御装置１００に供給される。
【００３２】 センサ装置１２０は、正極８０とアース接続点９０との間の電圧Ｕd を感知す
るように接続される。センサ装置１２０は、測定された電圧値Ｕdmを制御装置１
００に送る。１つの実施例に従い、センサ装置１２０は、抵抗器ＲX と抵抗器Ｒ Y とを備えた電圧分割器を有する。この電圧分割器は、正電圧接続点８０とアー
ス接続点９０との間に接続される。図３に示されているように、センサ装置１２
０の出力は、抵抗器ＲX と抵抗器ＲY との間の接続点１４０に接続される。した
がって、センサの出力信号Ｕdmは、駆動信号Ｕd に比例する。
【００３３】 図４は、図３の巻線ＷA に対する弁ブリッジを示した等価回路図である。
【００３４】 電流が例えば図３の弁Ｔ２A のような弁を流れる時、この弁の両端に電圧降下
が生ずる。弁Ｔ２A の両端の電圧降下は、図４の中の参照記号ＵT2で与えられて
いる。弁Ｔ２は、図４の中で等価回路により示されているが、電圧降下ＵT2は、
その一部分が内部直列抵抗値Ｒv に依存し、一部分が、固定された電圧降下Ｕv に依存することが、この図から明らかである。弁Ｔ１A についても同じである。
【００３５】 巻線ＷA のインピーダンスは、本質的には誘導性であるが、また抵抗成分をも
有する。図４では、このことは、純粋なインダクタンスＬW とそれに直列に接続
された抵抗値ＲW とで示されている。
【００３６】 ホール・センサＳWAは、この接続では無視することができる程に極めて小さな
インピーダンスを有する。このセンサの内部インピーダンスは、下記の解析にお
いて抵抗値ＲW と同じように処理することができることに注目される。下記の説
明から明であるように、このことは、巻線の抵抗値と電流センサの可能な抵抗値
との両方に対して評価器が補償することを意味する。
【００３７】 巻線ＷA を作動することにより得られるトルクＴWAは、下記の式のように巻線
を流れる電流と回転子の位置θとの関数である。
【数４】
【００３８】 回転子の位置θは、対応する磁気回路を貫く磁束ψと位相電流ｉWAとから計算
することができる。
【数５】
【００３９】 このことは、下記の式のように、トルクＴWAは対応する磁気回路を貫く磁束ψ A と位相電流ｉWAとの関数として表すことができることを意味する。
【数６】
【００４０】 前記で説明したように、図２Ｂに示したように必要なトルクＴW が作動された
位相巻線から得られるように、位相巻線を流れる電流ｉWAが制御される。得られ
るトルクは、一部分が巻線電流ｉW の関数であり、一部分が磁束の関数である。
次に、磁束ψは、インダクタンスＬW と電流ｉW とに応じて変化する。したがっ
て、ＴW は、ｉW とＬWAとに応じて変化する。
【数７】
【００４１】 磁束の時間的な変化ｄψ／ｄｔは、図４の純粋なインダクタンスＬWAの両端の
電圧降下の瞬間値に等しい。
【数８】
【００４２】 式（５）から、磁束ψは時間に関して積分することにより得られる。
【数９】
【００４３】 式（３）は、磁束ψを決定することができるならば、必要なトルクＴW を生じ
させることができることを意味する。式（６）は、電圧ＵLWが決定されるならば
、磁束ψを決定することができることを意味する。
【００４４】 本発明の１つの実施例に従い、磁束ψは、式（６）に従って決定され、すなわ
ち「純粋な」インダクタンスＬW の両端の電圧ＵLWを時間積分することにより決
定される。
【００４５】 電圧ＵLWを測定することはできない。それは、ＬW が、内部抵抗値による電圧
降下ＵRWをも有する巻線の中のインダクタンスであるからである。したがって、
本発明の１つの実施例に従い、電圧ＵLWに対応する値Ｕ* LWが評価工程により生
成される。下記は、さらに詳細を説明する。
【００４６】 図４は、巻線ＷA の等価回路図である。この図から、下記の式が成立すること
は明かである。
【数１０】
【００４７】 式（５）、式（６）および式（７）より、次の式が得られることが分かる。
【数１１】
【００４８】 図４を参照するならば、弁Ｔ２および弁Ｔ１のいずれが閉じているか、開いて
いるかに応じて、３つの異なる動作状態が生ずることが可能であることが分かる
。
【００４９】 （Ｉ．第１動作状態） 第１の動作状態Ｉでは、弁Ｔ２と弁Ｔ１との両方が閉じている。この時、電圧
ＵLWは、磁束を生ずる位相巻線の両端の電圧の部分である。すなわち、巻線の中
の抵抗損失が排除される。第１の動作状態では、電圧ＵLWは、下記の式で与えら
れる。
【数１２】
【００５０】 （ＩＩ．第２動作状態） 第２動作状態（ＩＩ）では、活性弁Ｔ１およびＴ２の両方が開放であり、した
がって、これらがブロックし、電流は、アース接続点９０から正接続点８０に向
かって巻線の中を流れる。この場合の電圧ＵLWは、下記の式で与えられる。
【数１３】
【００５１】 （ＩＩＩ．第３動作状態） 第３の動作状態（ＩＩＩ）では、活性弁Ｔ１または活性弁Ｔ２の一方だけが導
電状態である。ダイオードＤ１およびダイオードＤ１と活性弁Ｔ１および活性弁
Ｔ２とに対する損失が同じであると仮定するならば、位相巻線の「リアル・イン
ダクタンス」ＬW の両端の電圧ＵLWは、下記の式に従う。
【数１４】
【００５２】 電圧ＵLWを計算するための前記の式（９）、式（１０）および式（１１）と、
磁束ψを計算するための前記の式（６）と、機械がどの動作状態にあるかの情報
とを用いることにより、および実際の巻線電流ｉW を測定することにより、巻線
Ｗの作動により得ることができるトルクＴW を式（３）に従って非常に正確に計
算することができる。
【００５３】 制御装置は、ダイオード電流センサＳD2A からの入力信号と増幅器からの出力
信号１１０1Aおよび１１０1Bの助けをかりて、巻線ＷA に対する実際の動作状態
を決定する。これらの３つの信号のおのおのは、論理値「導電状態」または「非
導電状態」のいずれか１つを有する。実際の動作状態は、これらの３つの信号の
状態の組み合わせから読み出すことができる。
【００５４】 （評価装置の第１実施例） 前に説明した磁束ψに対する式（６）から出発し、電流がゼロである時にリラ
クタンス電動機の巻線から生ずる磁束がゼロであることを知るならば、本発明者
により設計された評価装置２００が図５に示されている。
【００５５】 図５は、前記の式（９）〜式（１１）および式（６）から出発し、巻線ＷA に
対する磁束ψの値を評価するための本発明の１つの実施例に従う評価装置を示す
。
【００５６】 式（９）、式（１０）および式（１１）の３つの式は、３つのパラメータＫ1 、Ｋ2 およびＫ3 に依存する１つの式に要約することができる。
【数１５】 ここで、これらのパラメータの値は、動作状態に応じて下記のように変化する。
【００５７】 動作状態Ｉでは、これらのパラメータには、下記の値が適用される。
【数１６】
【００５８】 動作状態ＩＩでは、これらのパラメータには、下記の値が適用される。
【数１７】
【００５９】 動作状態ＩＩＩでは、これらのパラメータには、下記の値が適用される。
【数１８】
【００６０】 したがって、パラメータＫ1 は、それぞれの時点における電流回路の真の全損
失抵抗値であり、パラメータＫ2 は、電流回路における電流に依存しない真の電
圧降下である。パラメータＫ3 は、絶対値１を有し、実際の動作状態に応じて正
の符号または負の符号を有する変数である。
【００６１】 評価装置２００は、センサＳD2A からの論理値を受け取る入力２０２と、活性
弁Ｔ1Aおよび活性弁Ｔ2A（図３および図４参照）に対する状態を受け取る入力２
０４および２０６とを有する。入力２０２、入力２０４および入力２０６は、状
態解析装置２０８に接続される。状態解析装置２０８は、入力信号の組合わせか
ら実際の動作状態を決定し、動作状態信号を出力２０９に送る。
【００６２】 評価装置２００は、さらに、電圧Ｕd に対応する測定された値Ｕdmに対する入
力２１０と、実際の電流値ｉW を入力する入力２２０とを有する。
【００６３】 入力２１０は、乗算装置２３２を通して加算点２３０に接続される。乗算装置
２３２は、解析装置２０８からの動作状態信号に接続された制御入力を有する。
乗算装置２３２は、電圧値Ｕd とパラメータＫ3 との乗算を行い、実際の動作状
態に応じて加算点２３０に値Ｕd 、−Ｕd または０を供給する。
【００６４】 入力２２０は、ゼロ検出器２４０の入力に接続され、乗算点２５０の入力に接
続される。ゼロ検出器２４０は、１つの出力を有し、この出力は、サンプル・ア
ンド・ホールド回路２７０のトリガ回路２６０に接続される。サンプル・アンド
・ホールド回路２７０は、磁束エラー値ψe に対する出力２８０を有する。出力
２８０は、パラメータ調整装置２９０に接続される。パラメータ調整装置２９０
は、出力に変数値Ｃを生じ、この出力は、乗算装置３００および乗算装置３１０
に接続される。
【００６５】 乗算装置３００からの出力信号は、パラメータ値Ｋ１であり、乗算装置３１０
からの出力信号は、パラメータ値Ｋ２である。乗算装置３００は、パラメータＧ
１I 、Ｇ１IIおよびＧ１III を備えたメモリ装置を有し、解析装置２０８からの
動作状態信号に接続された制御入力を有する。動作状態に応じて、Ｇ１Ｉ、Ｇ１
ＩＩまたはＧ１ＩＩＩのいずれかが変数Ｃにより乗算され、その結果は、乗算点
２５０に送られる。乗算装置３１０は、装置３００と同様に機能するが、乗算装
置３１０は、そのメモリ装置の中に３つのパラメータＧ２I 、Ｇ２IIおよびＧ２ III を有している。
【００６６】 乗算装置３００は、乗算点２５０に接続され、装置３１０は、加算点２３０に
接続される。乗算点２５０は、１つの出力を有し、この出力は、加算点２３０の
１つの入力に接続される。加算点２３０は、１つの出力を有し、この出力は、積
分器３２０に接続される。積分器３２０は、磁束の評価値ψest を生ずる。積分
器３２０は、評価装置２００の出力３３０に接続される。積分器の出力は、さら
に、サンプル・アンド・ホールド回路２７０のサンプル入力３４０に接続される
。
【００６７】 評価装置２００の機能は、下記の通りである。すなわち、電圧Ｕd に対応する
実際値が入力２１０に送り込まれ、電流ｉW に対応する実際値が入力２２０に送
り込まれる。乗算装置３００のメモリは、パラメータＧ１を備えている。このパ
ラメータＧ１は、積Ｃ* Ｇ１が式（１２）のパラメータＫ1 の１つの近似である
ように選定される。
【数１９】
【００６８】 乗算装置３１０は、パラメータ値Ｇ２を備えている。このＧ２は、積Ｃ* Ｇ２
が活性弁Ｔ１およびＴ２の電流に依存しない電圧降下の１つの近似であるように
選定される。
【数２０】
【００６９】 したがって、加算点２３０からの出力に、電圧ＵLWの評価が得られる。この評
価は、積分器３２０に送られ、磁束ψの評価が出力３３０に得られる。
【００７０】 入力２２０の電流値ｉW がゼロになる時、このことは、ゼロ検出器２４０によ
り検出され、トリガ信号がサンプルホールド回路のトリガ入力２６０に送られる
。このトリガ信号が受け取られる時、サンプルホールド回路２７０は、磁束評価
の実際値を読み出す。前記で説明したように、この値は、電流値がゼロである時
にゼロであるべきであるから、サンプルされた値は、磁束評価エラーψe を表す
。このエラー値は、パラメータ調整装置２９０に送られる。パラメータ調整装置
２９０は、磁束評価エラー値がゼロに近付くような方向に変数Ｃ（パラメータ値
Ｋ1 およびＫ2 ）の調整を実行する。評価エラーψe が正の値を有する時、磁束
評価エラー値ψe を減少させるために評価された抵抗値Ｃ* Ｇ１を増大させるこ
とが必要である。評価エラーψe が負の値を有する時、評価された抵抗値Ｃ* Ｇ
１を減少させることが必要である。抵抗値のこの評価を改善するために、および
磁束評価エラー値ψe をできるだけ小さくするために、またはゼロにするために
、この工程が繰り返される。
【００７１】 図６は、図５による評価装置２００によって生じた時の磁束に対する評価ψ* の時間の経過を示す。
【００７２】 図６において、電圧Ｕd は、定数であると仮定され、電流値ｉW は、図に示さ
れたように変化すると仮定する。図６の太い実線は、Ｃ* Ｇ１が実際の損失抵抗
値の和Ｋ1 に等しい時の磁束評価の値を示す。図６は、この時の図５の加算点２
３０により生ずる電圧ＵLWの評価Ｕ* LWをも示している。
【００７３】 図６から明らかなように、Ｃ* Ｇ１＝Ｋ1 である時、電流値がゼロになるのと
同時に磁束の評価がゼロになる。図５に関連して前に説明したように、この時、
磁束評価エラーψe の値は、ゼロになる。
【００７４】 図６は、積Ｃ* Ｇ１の絶対値がＫ1 の絶対値よりも小さい時の磁束評価の値を
も示している。図６に示されるように、積Ｃ* Ｇ１の絶対値がＫ1 の絶対値より
も小さいならば、電流ｉW がゼロを通る時、磁束評価は、正の値ψe を有する。
このことは、図５のサンプルホールド回路２７０から出力される磁束評価エラー
ψe を図６の中で読み出すことができることを意味する。
【００７５】 この図は、さらに、積Ｃ* Ｇ１の絶対値が損失抵抗値の真の値Ｋ1 の絶対値よ
りも大きい時の磁束に対する評価ψ* を示している。
【００７６】 図４に示されるように、活性弁Ｔ２および活性弁Ｔ１に対する等価図は、抵抗
器Ｒv と、スイッチと直列の一定電圧降下Ｕv を示す電圧源とを有する。全体的
に言って、この等価図は、バイポーラ・トランジスタ、サイリスタ、ＩＧＢＴの
ような活性弁およびＭＯＳＦＥＴに対して正しい。最初の述べた３つに対しては
、電圧降下Ｕv は、ゼロでない正の値を有することが真実であり、一方、ＭＯＳ
ＦＥＴに対しては、電圧降下Ｕv は、実質的にゼロに等しいことが真実である。
【００７７】 図４Ｂに示されるように受動弁Ｄ１および受動弁Ｄ２に対しては、弁が順方向
に駆動される時、すなわち、弁が電流を流す時、本質的に一定の電圧降下が起こ
ることが真実である。このような受動弁の例は、ショトッキ・ダイオードのよう
なダイオードである。電圧降下ＵD は、ゼロと異なる正の値を有し、通常は、 0
.6ボルトの程度の値を有する。
【００７８】 電圧降下ＵV および電圧降下ＵD が電圧降下ｉW （ＲW ＋ＲV ）に比べて小さ
いならば、その場合にはＵV およびＵD は、無視することができ、図５の装置３
１０を無視することができ、パラメータ調整装置２９０の出力信号は、装置３０
０の中でパラメータＧ1 により乗算されるだけである。
【００７９】 （評価装置の第２実施例） 図７は、磁束ψを評価する評価装置の第２の実施例を示す。電圧Ｕd に対応す
る値に対する入力２１０と、電流ｉW に対応する値に対する入力２２０と、磁束
評価を出力する出力３３０と、純粋なインダクタンスの両端の電圧ＵLWの評価Ｕ * LW に対応する値を生ずる加算点２３０と、電圧評価Ｕ* LWに応じて磁束評価を
生ずる積分器３２０とを有する範囲において、図７に示された評価装置４００は
、図５に示された評価装置に対応している。
【００８０】 評価装置４００は、位相エラー検出器４１０を有する点で図５に示された評価
装置とは異なる。位相エラー検出器４１０の１つの入力は、入力２２０に接続さ
れ、他の入力４３０は、積分器３２０の出力に接続される。この位相エラー検出
器は、電流信号と磁束評価信号との間の位相関係を指示する信号に対する出力を
有する。位相エラー検出器４１０からの出力信号は、本発明の１つの実施例に従
い、次の３つの論理値、レイズ（Raise）、ローワ（Lower）、フリーズ（Freeze
）の１つを取り上げることができる。このことは、例えば、位相エラー検出器が
３つのレベルの値を有する信号を供給することにより実現することができる。位
相エラー検出器の出力信号は、カウンタ４４０のカウント方向ポートに送られる
。
【００８１】 カウンタ４４０は、さらにカウンタ入力４５０を有する。カウンタ入力４５０
は、発振器４６０からの本質的に一定のパルス周波数を有するパルス信号を受け
取る。カウンタ４４０は、出力４７０を有する。この出力を通して、カウンタは
、ディジタル・カウント値を送る。このカウント値は、巻線抵抗値ＲWAの評価で
ある。
【００８２】 カウント値出力４７０は、加算器４７２に接続される。加算器４７２は、実際
の動作状態に応じて実際のパラメータ値２ＲV 、０またはＲV を受け取る。パラ
メータ装置４７４は、３つの動作状態に対する弁抵抗値のためのメモリ位置と、
入力４７８の状態信号に応じて実際の弁パラメータ値を出力するためのスイッチ
４７６とを有する。前に説明したように、状態信号は、状態解析装置２０８から
供給される。
【００８３】 加算器４７２の出力信号は、式（１２）のパラメータＫ１に対応する。この出
力信号は、ディジタル・アナログ変換器４９０の入力４８０に送られる。Ｄ／Ａ
変換器４９０は、基準電圧入力５００を有する。基準電圧入力５００は、入力２
２０に接続されて、アナログ値ｉW を受け取る。
【００８４】 評価装置４００の機能は、次の通りである。前に説明したようにリラクタンス
電動機の場合、磁束と電流が同じ時点において値ゼロを有するのは真実である。
このことは、リラクタンス電動機の電流と磁束は、相互に本質的に同位相にある
ことを意味する。位相エラー検出器４１０により、実際の電流ｉW と評価された
磁束ψest との間の位相関係が検出される。カウンタ４４０が生ずるカウント値
は、巻線の抵抗値ＲW に対応する。
【００８５】 Ｄ／Ａ変換器４９０は、電流値ｉW とカウント値Ｋ1 との乗算を行う。それは
、アナログ電流値ｉW に対応するアナログ信号ｉWmがＤ／Ａ変換器の基準入力に
送られるためである。Ｄ／Ａ変換器の出力信号は、アナログ信号であり、このア
ナログ信号の振幅は、式（１２）のパラメータＫ１が乗算された電流値に対応す
る。
【００８６】 カウンタ４４０は、発振器４６と組み合わせて、積分回路を形成する。カウン
タの出力４７０の出力信号は、時間積分の結果である。この実施例に従い、パラ
メータ値Ｋ1 は、位相エラーができるだけ小さくなるように、その位相関係に応
じて持続および調整される。すなわち、磁束の評価が評価装置の入力２２０の中
に送られる実際に測定された電流ｉW と同位相であるように調整される。このこ
とは、例えば、温度が変化する結果として、電動機の巻線の直列抵抗値ＲW が変
化する時にも、およびトランジスタＴ１およびＴ２の直列抵抗値が変化する時に
も、磁束の評価が対応するように評価装置が制御パラメータＫ1 を自動的に調整
する利点をもたらす。
【００８７】 （評価装置の第３実施例） 評価装置の第３実施例は、図７の評価装置４００に対応するが、加算器４７２
およびパラメータ・ユニット４７４が取り除かれる。すなわち、カウンタの出力
４７０がＤ／Ａ変換器の入力４８０に直接に接続される。したがって、この実施
例の評価装置は、構成が単純であるという利点を有する。この実施例は、弁の抵
抗値ＲV が無視されるという近似を含む。式（９）から、弁の抵抗値２ＲV が巻
線の抵抗値ＲW よりも十分に小さい時、磁束の正確な評価がこの第３実施例によ
っても得られることが理解できる。一定の電流値および一定の磁束値ψに対して
、ｄψ／ｄｔの符号を解析することにより、すなわちＵLWの符号を解析すること
により、回転子の位置を確定することができる。
【００８８】 好ましい実施例に従い、少なくとも２つの巻線に対して磁束評価を組み合わせ
ることにより、その位置が確定される。
【００８９】 （評価装置の第４実施例） 図８に示されている評価装置の第４実施例に従い、３つの巻線ＷA 、ＷB およ
びＷC を有する電動機に対し回転子の位置が決定される。この評価装置は、磁束
ψA の評価ψAestを得るための１つの磁束評価装置ＥA と、磁束ψB の評価ψBe st を得るための別の磁束評価装置ＥB と、磁束ψC の評価ψCestを得るための１
つの磁束評価装置ＥC とを有する。位置θは、磁束値の瞬間値ψA 、ψB 、ψC と電流の瞬間値ｉWA、ｉWB、ｉWCとの組み合わせから決定することができる。
【００９０】 一定の電動機駆動状態に対し、弁の中の抵抗損失ＲV が無視される時および弁
ＵD およびダイオードの電圧降下が無視される時、十分な制御精度が得られる。
このような場合、図８に示されているように、損失ＲV およびＵD を無視するこ
とにより、それぞれの磁束評価装置を利点をもって単純に設計することができる
。図８の実施例において、巻線の両端の電圧ＵW を示す信号が評価装置に直接に
送られる。これらの電圧信号は、図５または図７に関連して説明されたように、
乗算装置２３２により得ることができ、または測定により得ることができる。１
つの実施例に従い、巻線電圧ＵW の測定は、巻線の両端のスイッチされた電圧を
測定する段階と、有用な測定値を得るように測定された電圧信号を一定の時定数
を用いて時間的に積分する段階とを有する。
【００９１】 （制御ユニットの実施例） 図９は、図３に示された制御装置１００の１つの実施例を示したブロック図で
ある。前に説明したように、制御装置１００は、巻線電流のための入力および電
圧Ｕdmのための入力を有する。これらの信号は、瞬間磁束値およびパラメータＫ
１、ＲW を評価するように動作する評価装置ＥC 、ＥB 、ＥA に送られる。巻線
電流値および評価された磁束は、装置５２０に送られ、それに応答して位置θを
確定する。この位置値が装置５３０に送られて基準電流値ＩAref、ＩBref、Ｉcr ef を発生する。制御装置１００は、トルク基準値を受け取るための入力５１０を
有し、すなわち、必要な電動機トルクを設定するための入力を有する。装置５３
０は、トルク基準値および位置値に応答して電流基準値を発生する。調整装置５
４０は、電流基準信号ＩAref、ＩBref、Ｉcrefおよび測定された電流値ＩWA、Ｉ WB 、ＩWCに応答して、弁に制御パルスを供給する。
【００９２】 図１０は、１つの実施例に従う制御装置１００の一部分のブロック図である。
制御装置１００は、入力／出力ポート５６０に接続されたマイクロプロセッサ５
５０と、メモリ５７０と、プログラマブル論理回路（ＰＬＤ）５８０とを有する
。巻線電流を指示する信号は、一組の乗算装置４９０に送られる。この乗算装置
には、プロセッサ５５０に結合されたバスにより、それぞれの巻線抵抗値ＲWA、
ＲWB、ＲWCの更新された瞬間的評価が供給される。それぞれの乗算装置４９０の
出力は、瞬間電流と巻線抵抗値との積を指示する電圧信号である。このような電
圧信号のおのおのは、ＶＣＯに送られ、このＶＣＯは、これを振動する信号に変
換する。この振動する信号は、ＰＬＤ５８０に送られる。ＰＬＤ５８０は、電圧
Ｕd を指示する振動信号を受け取り、変換して前に説明したように電圧ＵLWを計
算する。ＰＬＤ５８０は、電圧ＵLWを時的に積分し、磁束評価を発生する。電流
の測定信号と比較することにより、リアルタイムの磁束評価エラーが発生される
。ＰＬＤ５８０は、バス５９０を通してプロセッサ５５０にリアルタイムで、結
果として得られる磁束エラーψerr 送る。プロセッサは、メモリ５７０の中に記
憶されたコンピュータ・プログラムに従って動作する。このプログラムは、抵抗
値ＲWA、ＲWB、ＲWCを評価するためのルーチンを有し、これらの評価された値が
更新され、乗算ユニット４９０に送られる。この乗算装置は、図７で説明された
ように動作することができる。ＰＬＤは、巻線電流ｉA がゼロであるそれぞれの
瞬間に磁束評価ψA の瞬間値を凍結することにより、リアルタイムの磁束評価エ
ラー値ψAerrを計算するように動作することができる。したがって、プロセッサ
は、それぞれの巻線に対してゼロ電流において得られた磁束エラー値ψAerr、ψ Berr 、ψCerrを受け取る。プロセッサは、それに応答して訂正された抵抗値を計
算する。
【００９３】 プロセッサとコンピュータ・プログラムとの組み合わせにより実施される時、
巻線抵抗値ＲW の評価を生ずる工程が図１１に示される。この工程は、ただ１つ
の位相巻線に関してだけ実行することができ、その１つの位相巻線の抵抗値を得
ることができる。機械制御目的に対して好ましい１つの実施例に従い、この工程
が複数個の巻線に対して実行される。この工程は、抵抗値評価に対して予め設定
された値（段階Ｓ６００）で開始することができる。リラクタンス機械が開始し
、機械が動作する時、それぞれの巻線の両端の電圧ＵwA、ＵwB、ＵwCが測定され
、これらの電圧が電圧Ｕd から計算され、（段階Ｓ６１０）巻線電流ｉWA、ｉWB 、ｉWCが測定され（段階Ｓ６２０）、段階Ｓ６３０において、磁束評価が前に説
明したように積分により得られる。磁束のリアルタイムの評価と電流の測定値と
を比較することにより、エラー信号が発生（段階Ｓ６４０）される。以下に説明
されるように、このエラー信号に応答して抵抗値評価が調整される。
【００９４】 １つの実施例に従い、メモリ５７０に記憶されたプログラム・ルーチンを実行
する時、マイクロプロセッサ５５０は、ＰＬＤ５８０から磁束エラー信号を受け
取るように進み、エラー信号の符号および値に応じて抵抗評価値を調整するよう
に進む。評価エラーψe が正の値である時、このプログラムは、評価された抵抗
値を増加させるようにプロセッサを進める。評価エラーψe が負の値である時、
このプログラムは、評価された抵抗値を減少するようにプロセッサを進める。そ
の後、ＰＬＤ５８０は、調整された抵抗評価値に基づいて新しい磁束値を発生す
る。巻線の中の電流がゼロである時刻における磁束値に基づいて新しいエラー信
号が発生され、このエラー信号がプロセッサ５５０に送られる。抵抗値の評価が
改善されるように、および磁束評価エラーψe ができるだけ小さくなるように、
またはゼロになるように、この工程が繰り返される。
【００９５】 別の実施例に従い、ＰＬＤは、測定された電流信号ｉWAm 、ｉWBm 、ｉWCm お
よびＵd に対応するデジタル信号をバス５９０を通してプロセッサ５５０に送る
。マイクロプロセッサ５５０は、メモリ５７０の中に記憶されたプログラム・ル
ーチンを実行する時、関連する位相巻線ＷA の両端の電圧ＵWAを指示する信号Ｕ dm を受け取るように進み、および関連した位相巻線ＷA を流れる電流ｉwAを指示
する信号ｉWAm を受け取るように進む。その後、メモリ５７０の中のプログラム
は、電圧信号と電流信号とに応答して磁束を評価するようにマイクロプロセッサ
を進める。このことは、数値積分を実行することにより達成することができる。
プログラムは、瞬間電流測定信号と評価された磁束とを比較することによりエラ
ー信号を発生するようにプロセッサを進める。次にマイクロプロセッサ５５０は
、前に説明したように、エラー信号の符号および値に応答して抵抗評価値を調整
するように進む。
【００９６】 １つの実施例に従い、このプログラムに協力して動作するプロセッサは、さら
に加えて回転子の位置を計算し、弁に対する制御信号を発生する。
【００９７】 プログラムは、Ｉ／Ｏポート５６０を通して、それを供給することにより、メ
モリ５７０に設置されることができる。または、それとは異なって、図１０に示
された回路は、非揮発性メモリ（ＰＲＯＭ）のような記録媒体を取り外し可能に
取り付けられたソケットを有する。この記録媒体は、前に説明したようにプロセ
ッサを進めるための機会を読み出すことが可能な命令を有する。
【００９８】 本発明は、抵抗値評価工程を実施するプログラムを設置することにより、リラ
クタンス機械に対する現在の技術の制御装置を改良することが利点をもって可能
である。それにより、磁束の改良された評価が達成され、および高い回転速度と
低い回転速度との両方においてトルクの制御が得られる。
【００９９】 （温度測定） 巻線の実際の抵抗値は、巻線に用いられる導電材料に関して、温度により変化
する性質を有する。したがって、巻線の抵抗値に対する評価値を用いて、巻線の
瞬間平均温度を指示することができる。一定の温度における巻線抵抗値が分かっ
ており、および巻線材料の温度係数が分かっているならば、瞬間の抵抗値ＲW か
ら温度を計算することができる。
【０１００】 （回転速度に関係しないトルクの制御） 前に説明した評価装置のいずれかを用いて活性弁Ｔ１A 、Ｔ２A 、Ｔ１B 、Ｔ
２B 、Ｔ１C 、Ｔ２C （図３を見よ）を制御することにより、機械のトルクおよ
び回転速度を高い精度と小さなエネルギ損失とで制御することができる。それは
、トルクの量が最大である時、巻線ＷA 、ＷB 、ＷC を通して電流を駆動するよ
うに弁を作動させることができるからである。さらに、本発明に従う調整は、改
良された精度で、および本質的に回転速度には無関係に機械を制御できることを
意味する。回転速度に対する依存性が減少することは、下記において判明する。
【０１０１】 図２Ａに関連して前に説明したように、リラクタンス機械が駆動される時、イ
ンダクタンスＬW は、位置θに応じて変化する。磁束ψは、インダクタンスと電
流とに応じて変化する。磁気回路が飽和していない時、次の関係が成り立つ。
【数２１】
【０１０２】 時間に関して微分すると、下記の式が得られる。
【数２２】
【０１０３】 前記の式（５）および式（７）から、下記の式が成り立つことが分かる。
【数２３】
【０１０４】 式（１４）を式（１５）に代入すると、下記の式が得られる。
【数２４】 ここでｄθ／ｄｔは、回転子の角周波数、すなわち機械の回転速度である。
【０１０５】 式（１６）の中の第２の項ｄＬW （θ）／ｄθ* ｄθ／ｄｔ* ｉW は、機械の
トルクを生ずる原因となり、一方、第３項のＲW * ｉW は、純粋な損失である。
この第２項は、回転速度に比例するから、大部分の巻線電圧ＵW は、低速回転に
おいて電力損失に導くことが分かる。
【０１０６】 同様に、巻線抵抗値ＲW が位相巻線の抵抗値の和に対応する予め定められた定
数ＲC であると仮定してリラクタンス機械が調整されるならば、実際の巻線抵抗
値ＲW が予め定められた定数ＲC からずれる時、低速回転においてエラーが最大
であることが式（１６）から分かる。巻線抵抗値は、一定の温度変化を有するた
めに、実際の巻線抵抗値ＲW は、機械の動作期間中に変化する。本発明に従う評
価装置は、機械の調整が機械の実際の巻線抵抗値に適合できるという利点をもた
らし、回転速度がどのようであっても、および広い温度範囲にわたって良好な精
度で機械の調整を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１Ａ】 ２つの相対的に可動な部分と位相巻線とを有する電気機械の概要原理図。
【図１Ｂ】 図１Ａによる機械の磁束を示した図。
【図２】 図２Ａは図１Ａによる機械の巻線のインダクタンスがこれらの可動部分の間の
相対位置に応じて変化することを示した図。 図２Ｂは位相巻線を作動することにより得ることができるトルクの位置依存性
を示した図。
【図３】 図１Ａによる電動機の位相巻線に接続された弁ブリッジを備えた制御装置の図
。
【図４】 図３の１つの弁ブリッジの等価回路図。
【図５】 図１Ａによる電動機の位相巻線に対して磁束を評価するための本発明の１つの
実施例に従う評価装置の図。
【図６】 図５による評価装置により生ずることができる磁束を評価する期間の１つの例
の図。
【図７】 図１Ａによる電動機の位相巻線に対して磁束を評価するための評価装置の第２
の実施例の図。
【図８】 評価装置の別の実施例の図。
【図９】 図３に示された制御装置の１つの実施例のブロック線図。
【図１０】 本発明の１つの実施例に従う図３に示された制御装置の一部分のブロック線図
。
【図１１】 巻線抵抗値の評価を生ずる工程の１つの実施例を示した流れ図。
【手続補正書】特許協力条約第３４条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成１２年２月１７日（２０００．２．１７）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００６】 位相電流の制御を達成する別の既知の方法は、固定子に対する回転子の位置に
応じて位相のインダクタンスが変化するという事実を用いる。特許出願ＰＣＴ／
ＳＥ８７／００４４２号は、下記の式
【数１】 から出発して、リラクタンス機械の回転子の位置を決定する方法を開示している
。ここで、ｉは、位相巻線を流れる電流、Ｕは、位相巻線とトランジスタ弁と電
流センサ抵抗器との直列接続体の両端の電圧、Ｒは、位相巻線と作動されたトラ
ンジスタと電流測定用抵抗器との抵抗値の和に対応する予め定められた定数であ
る。 ＷＯ９７／１１５２４は、少なくとも１つの導電状態位相からの位相磁束を評 価する段階と、少なくとも１つの非励起位相のインダクタンスを評価する段階と 、位相電流をサンプリングする段階と、前記評価された位相磁束を前記評価され たインダクタンスと組み合わせる段階とにより、スイッチされたリラクタンス電 動機の回転子の位置を評価する方法を開示している。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】 （発明の開示） 本発明は、リラクタンス機械の可動部品の相対位置の改良を決定する問題に関
する。 上記に説明した問題点は、位相巻線を流れる電流に対応する信号を発生する段 階と、位相巻線の両端の電圧に対応する信号を発生する段階と、パラメータ値が 位相巻線の抵抗損失に実質的に対応するとして電流信号と電圧信号とパラメータ 値とに応じて変化する振幅信号を生ずる段階と、振幅信号値に応じて変化する位 置値を確立する段階とを含む方法により扱われる。この方法は、さらに、電流信 号と振幅信号との間の関係に従ってパラメータ値を発生する段階を含む。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ) ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ， ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，Ｄ Ｋ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ， ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，Ｌ Ｖ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ， ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，Ｕ Ｓ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ２つの相互に可動である部品と少なくとも１つの位相巻線（
    ＷA 、ＷB 、ＷC ）とを有するリラクタンス機械を制御する装置１００において
    、前記位相巻線のインダクタンス（ＬW ）は、前記部品の相対位置に応じて変化
    し、調整装置１００は、制御可能な弁（Ｔ１、Ｔ２）を有し、前記制御可能な弁
    は、本質的に開放状態と導電状態との間で調整可能であり、前記弁は、前記位相
    巻線と直列に接続され、位相巻線は、抵抗値（ＲW ）を有し、 前記弁を制御する方法は、 ａ）位相巻線を流れる電流（ｉW ）を測定する段階と、 ｂ）位相巻線および弁の両端の電圧（Ｕd 、ＵW ）を測定する段階と、 ｃ）測定された電流値（ｉWm）と乗算されおよび位相巻線の抵抗値（ＲW ）に応
    じて変化する調整可能なパラメータ（Ｋ１、Ｒ* W ）を有する数式に従って、測
    定された電流値と測定された電圧値とに応じて変化する信号値（ＵLWest 、ψes t ）を生ずる段階と、 ｄ）信号値（ＵLWest 、ψest ）と測定された電流値（ｉWm）との間の関係値を
    決定する段階と、 ｅ）前記関係値に応じてパラメータ値（Ｋ１）を調整する段階と、 ｆ）信号値（ＵLWest 、ψest ）に応じて弁（Ｔ１、Ｔ２）を調整する段階と、
    を含む前記方法。
  2. 【請求項２】 請求項１記載の方法において、段階ｂ）は、位相巻線と弁と
    の両端に本質的に一定の電圧値（Ｕd ）を仮定する段階 で置き換えられるという変更が行われた前記方法。
  3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載された方法において、 生じた信号値（ＵLWest 、ψest ）が電流値とインダクタンス（ＬW ）とに応
    じて変化する大きさ（ＵLW、ψ）の評価であるように、パラメータ値（Ｋ１）の
    調整の後、少なくとも段階ａ）および段階ｃ）を繰り返す段階と、 必要なトルク（ＴWA、ＴWB、ＴWC）が得られるように信号値（ＵLWest 、ψes t ）に応じて弁（Ｔ１、Ｔ２）を調整する段階と、 をさらに含む前記方法。
  4. 【請求項４】 第１の部品と第２の部品とを有するリラクタンス機械におい
    て、前記部品は、相互に可動であり、前記第１の部品３０は、軟磁性材料で構成
    され、前記第２の部品２０は、少なくとも１つの位相巻線（ＷA 、ＷB 、ＷC ）
    を有し、前記位相巻線は、前記部品の相対位置に応じて変化するインダクタンス
    （ＬW ）を有し、前記部品の瞬間相対位置を決定する方法は、 ａ）位相巻線を流れる電流（ｉW ）を測定する段階と、 ｂ）位相巻線の両端の電圧（Ｕd ）を測定する段階と、 ｃ）測定された電流値（ｉWm）と乗算され、位相巻線の抵抗値（ＲW ）に応じて
    変化する調整可能なパラメータ（Ｋ１）を有する数式に従い、測定された電流値
    と測定された電圧値とに応じて変化する信号値（ＵLWest 、ψest ）を生ずる段
    階と、 ｄ）信号値（ＵLWest 、ψest ）と測定された電流値（ｉW ）との間の差または
    関係を決定する段階と、 ｅ）前記差の値または前記関係の値に応じてパラメータ値（Ｋ１）を調整する段
    階と、 ｆ）信号値（ＵLWest 、ψest ）に応じて前記部品の瞬間相対位置を決定する段
    階と、 を含む前記方法。
  5. 【請求項５】 請求項４記載の方法において、 生じた信号値（ＵLWest 、ψest ）が電流値とインダクタンス（ＬW ）とに応
    じて変化する大きさ（ＵLW、ψ）の評価であるように、パラメータ値（Ｋ１）の
    調整の後、少なくとも段階ａ）および段階ｃ）を繰り返す段階と、 信号値（ＵLWest 、ψest ）に応じて瞬間相対位置を決定する段階と、 をさらに含む前記方法。
  6. 【請求項６】 請求項４または請求項５に記載された方法において、パラメ
    ータ値（Ｋ１）の調整の後、少なくとも段階ｄ）を繰り返す段階をさらに含む前
    記方法。
  7. 【請求項７】 請求項４、請求項５または請求項６に記載された方法におい
    て、パラメータ値（Ｋ１）の調整が後で生ずる信号値（ＵLWest 、ψest ）に影
    響を与え、前記差値の絶対値が最小になる前記方法。
  8. 【請求項８】 請求項４〜請求項７のいずれかに記載された方法において、
    段階ｅ）は、前記差の値が第１の符号（＋）を有する時にパラメータ値（Ｋ１）
    を増加させる段階および前記差の値が第２の符号（−）を有する時にパラメータ
    値（Ｋ１）を減少させる段階を含む前記方法。
  9. 【請求項９】 請求項１〜請求項８のいずれかに記載された方法において、
    段階ｄ）は、 信号値（ＵLWest 、ψest ）と測定された電流値（ｉW ）との間の位相差を決
    定する段階と、 測定された電流値（ｉW ）の精密な振幅レベルにおいて信号値（ＵLWest 、ψ est ）の振幅を決定する段階と、 を含む前記方法。
  10. 【請求項１０】 第１の部品と第２の部品とを有する電気機械の調整のため
    の駆動装置であって、前記部品は、相対的に可動であり、前記第１の部品は、軟
    磁性材料で構成され、前記第２の部品は、少なくとも１つの位相巻線を有し、前
    記位相巻線は、前記部品の相対位置に応じて変化するインダクタンス（ＬW ）を
    有し、 本質的に開放状態と導電状態との間で調整可能である制御可能な弁（Ｔ１、Ｔ
    ２）と、 位相巻線を接続し弁と直列に接続可能であり、この直列接続が抵抗値（ＲW 、
    ＲV ）を有する第１の接続８０および第２の接続９０と、 電動機の前記部品の間の相対運動の期間中に弁を制御する制御装置１００と、 位相巻線を流れる電流（ｉW ）を測定する装置と、 位相巻線の両端の電圧（Ｕd ）を測定する装置と、 測定された電流値（ｉWm）と乗算され、位相巻線の抵抗値（ＲW ）に応じて変
    化する調整可能なパラメータ（Ｋ１）を有する数式に従い、測定された電流値と
    測定された電圧値とに応じて信号値（ＵLWest 、ψest ）を生ずる装置と、 信号値（ＵLWest 、ψest ）と測定された電流値（ｉW ）との間の関係を決定
    する装置と、 前記関係値に応じてパラメータ値（Ｋ１）を調整する装置と、 を含み、必要なトルク（ＴW ）が得られるように信号値（ＵLWest 、ψest ）に
    応じて弁（Ｔ１、Ｔ２）を制御する装置を前記制御装置が有する前記駆動装置。
  11. 【請求項１１】 第１の部品と第２の部品とを有するリラクタンス機械であ
    って、前記部品は、相互に可動であり、第２の部品２０は、抵抗値（ＲW ）とイ
    ンダクタンス（ＬW ）とを有する少なくとも１つの位相巻線（ＷA 、ＷB 、ＷC ）を有し、インダクタンス（ＬW ）は、前記部品の相対位置に応じて変化し、 ａ）位相巻線（ＷA ）を流れる電流（ｉwA）に対応する信号（ｉWAm ）を発生す
    る段階と、 ｂ）位相巻線（ＷA ）の両端の電圧（ＵWA）に対応する信号を発生する段階と、 ｃ）位相巻線（ＷA ）の中の抵抗損失（ＲWA）に実質的に対応するパラメータ値
    （Ｋ１A ）を発生する段階４４０と、 ｄ）電流信号と電圧信号とパラメータ値（Ｋ１A ）とに依存する振幅信号（ＵLW Aest ，ψAest）を生ずる段階と、 ｄ）電流信号（ｉWm）と振幅信号（ＵLWAest，ψAest）との間の関係に従ってパ
    ラメータ値（Ｋ１A ）を調整する段階と、 ｅ）振幅信号（ＵLWest ，ψest ）に応じて変化する位置値（θ）を確立する段
    階とを含む前記部品の瞬間相対位置を決定する方法。
  12. 【請求項１２】 請求項１１記載の方法において、 第２の位相巻線（ＷB ）を流れる電流（ｉwB）に対応する第２の電流信号（ｉ WBm ）を発生する段階と、 第２の位相巻線（ＷB ）の両端の電圧（ＵWB）に対応する第２の電圧信号を発
    生する段階と、 第２の位相巻線（ＷB ）の抵抗損失（ＲWB）に実質的に対応する第２のパラメ
    ータ値（Ｋ１B ）を発生する段階４４０と、 第２の電流信号と第２の電圧信号と第２のパラメータ値（Ｋ１B ）とに応じて
    変化する振幅信号（ＵLWBest、ψBest）を生ずる段階と、 第２の電流信号（ｉWBm ）と第２の振幅信号（ＵLWBest、ψBest）との間の関
    係に従って第２のパラメータ値（Ｋ１B ）を調整する段階と、 第１の振幅信号（ＵLWAest、ψAest）と第２の振幅信号（ＵLWBest、ψBest）
    とに応じて変化する位置値（θ）を決定する段階と、 をさらに含む前記方法。
  13. 【請求項１３】 リラクタンス機械の第１の部品３０と第２の部品２０の相
    対位置を決定する評価装置であって、前記第１の部品と第２の部品とは、相互に
    関して可動であり、第２の部品２０は、抵抗値（ＲW ）とインダクタンス（Ｌw ）とを有する少なくとも１つの位相巻線（ＷA 、ＷB 、ＷC ）を有し、 ａ）位相巻線を流れる電流（ｉw ）を指示する信号（ｉWm）を受け取るための入
    力２２０と、 ｂ）位相巻線の両端の電圧（ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受け取るための入
    力２１０と、 ｃ）位相巻線の抵抗損失（ＲW ）に実質的に対応するパラメータ値（Ｒ* W 、Ｋ
    １）を発生する装置４１０、４４０、４６０と、 ｄ）電流信号（ｉWm）と電圧信号（Ｕdm）とパラメータ値（Ｒ* W 、Ｋ１）とに
    応答して振幅信号（ψest ）を発生する装置５００、３２０と、 ｅ）信号値（ＵLWest 、ψest ）に応じて変化する位置値（θ）を発生する装置
    ５００、３２０と、 を含み、 ｆ）パラメータ値発生器は、電流信号（ｉWm）と振幅信号（ＵLWest 、ψest ）
    との間の位相関係に従ってパラメータ値（Ｒ* W 、Ｋ１）を調整する装置４１０
    、２４０、２７０を含む前記評価装置。
  14. 【請求項１４】 リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する工程
    であって、 少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受
    け取る段階と、 位相巻線を流れる電流（ｉw ）を指示する信号（ｉWm）を受け取る段階と、 前記電圧信号と前記電流信号とに応答して磁束を評価する段階と、 電流信号（ｉWm）と磁束信号（ψest ）との間の位相関係に従って位相巻線の
    瞬間抵抗値（ＲW ）を評価する段階と、 を含む前記工程。
  15. 【請求項１５】 請求項１４記載の工程において、評価された瞬間抵抗値（
    ＲW ）を用いて磁束評価を繰り返す段階をさらに含む前記工程。
  16. 【請求項１６】 請求項１４または請求項１５に記載された工程において、
    電流信号（ｉWm）と磁束評価値（ψest ）とに応答してリラクタンス機械の第１
    の部品と第２の部品との間の相対位置を確立する段階をさらに含む前記工程。
  17. 【請求項１７】 請求項１４、請求項１５または請求項１６に記載された工
    程において、トルク基準値と磁束評価（ψest ）とに応答して電流基準値（ｉre fA 、ｉrefB、ｉrefC）を確立する段階をさらに含む前記工程。
  18. 【請求項１８】 リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する装置
    であって、 少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受
    け取る入力と、 位相巻線を流れる電流（ｉw ）指示する信号（ｉWm）を受け取る入力と、 マイクロプロセッサと、 瞬間抵抗値を評価する工程を実行するようにマイクロプロセッサを進めるコン
    ピュータ・プログラムを有するメモリと、 を含み、 前記プログラムを実行する期間中に請求項１４〜請求項１７のいずれかによる
    工程は、前記装置により実行されるように前記マイクロプロセッサがメモリおよ
    び信号入力に結合される前記装置。
  19. 【請求項１９】 リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する装置
    と共に用いるコンピュータ・プログラム製品であって、前記装置は、位相巻線電
    流を指示する信号を受け取る入力と、少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（
    ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受け取る入力と、マイクロプロセッサと、メモ
    リとを含み、 記録媒体と、 前記記録媒体上に記録され、少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（ＵW ）
    を指示する信号（Ｕdm）を受け取るようにマイクロプロセッサを進める装置と、 前記記録媒体上に記録され、少なくとも１つの位相巻線を流れる電流（ｉW ）
    を指示する信号（ｉWm）を受け取るようにマイクロプロセッサを進める装置と、 前記記録媒体上に記録され、電圧信号と電流信号とに応答して磁束を評価する
    ようにマイクロプロセッサを進める装置と、 前記記録媒体上に記録され、電流信号（ｉWm）と磁束信号（ＵLWest 、ψest ）との間の位相関係に従い、位相巻線の瞬間抵抗値（ＲW ）を評価するようにマ
    イクロプロセッサを進める装置と、 を含む前記コンピュータ・プログラム製品。
  20. 【請求項２０】 リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する装置
    と共に用いるコンピュータ・プログラム製品であって、前記装置は、位相巻線電
    流を指示する信号を受け取る入力と、少なくとも１つの位相巻線の両端の電圧（
    ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受け取る入力と、実時間で磁束評価エラー信号
    （ψerror ）を発生する装置と、マイクロプロセッサ５５０と、メモリ５７０と
    を含み、 記録媒体と、 前記記録媒体上に記録され、少なくとも１つの位相巻線に対する磁束評価エラ
    ー信号（ψerror ）を指示する信号を受け取るようにマイクロプロセッサを進め
    る装置と、 前記記録媒体上に記録され、磁束エラー信号に応答して繰り返し訂正すること
    により少なくとも１つの抵抗評価値（Ｒ* WA、Ｒ* WB、Ｒ* WC、ＣＧ1 ）を発生
    するようにマイクロプロセッサを進める装置と、 を含む前記コンピュータ・プログラム製品。
  21. 【請求項２１】 リラクタンス機械の位相巻線の瞬間抵抗値を評価する装置
    に用いられ、実時間で磁束評価エラー信号（ψerror ）を発生する装置であって
    、 位相巻線を流れる電流（ｉw ）を指示する信号（ｉWm）を受け取るための入力
    ２２０と、 位相巻線の両端の電圧（ＵW ）を指示する信号（Ｕdm）を受け取る入力２１０
    と、 位相巻線の抵抗損失（ＲW ）に実質的に対応するパラメータ値（Ｒ* W 、Ｋ１
    ）を発生する装置４１０、４４０、４６０と、 電流信号（ｉWm）と電圧信号（Ｕdm）とパラメータ値（Ｒ* W 、Ｋ１）とに応
    答して振幅信号（ψest ）を発生する装置５００、３２０、４９０、５８０と、 電流信号（ｉWm）と振幅信号（ＵLWest 、ψest ）との間の位相関係に応じて
    エラー信号（ψerror ）を発生する装置５８０と、 を含む前記装置２３０、３２０、５８０。
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