JP2001352487A - 像捕捉における露出時間を最適化する方法及び装置 - Google Patents

像捕捉における露出時間を最適化する方法及び装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、露出中に画像センサ・アレイの画
素の領域の露出時間を最適化する方法及び装置の提供を
目的とする。 【解決手段】 本発明によれば、デジタル画像信号を生
成するよう構成された画素からなる画像センサ・アレイ
の時間間隔サンプリングが利用される。ルミナンス値が
各デジタル画像信号から抽出され、画素が最適露出に到
達したかどうかを判定するため解析される。最適露出に
到達した画素からの後続のデジタル画像信号は記録され
ず、画素が最適露出に達したとき生成された最適デジタ
ル画像信号が保存される。画素の最適露出に基づいてデ
ジタル画像信号の記録を選択的に停止する処理は、画素
毎又は画素の領域毎に行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学像を電気信号
に変換する画像センサに係り、特に、像捕捉における露
出時間を最適化する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像センサは、センサに集められた光学
像を電気信号に変換するため使用される。この画像セン
サは、典型的に、光検出器のアレイを含み、各光検出器
は、像がアレイ上に集められたときに、光検出器に衝突
した光の強度に対応した信号を生成する。これらの信号
は、たとえば、対応した画像をモニターに表示させるた
め、或いは、光学像に関する情報を提供するため使用さ
れる。
【０００３】非常に一般的なタイプの画像センサの一つ
は、電荷結合デバイス（ＣＣＤ）である。ＣＣＤ画像セ
ンサを含む集積回路チップは、特殊化された処理が含ま
れるため、歩留りがかなり低く、かつ、高価である。Ｃ
ＣＤは、電力消費量が比較的多い。その他にもＣＣＤに
はよく知られた欠点がある。
【０００４】非常に低価格タイプの画像センサは、相補
形金属酸化物半導体（ＣＭＯＳ）プロセスを用いた集積
回路として製作される。このようなＣＭＯＳ型画像セン
サの場合、フォトダイオード又はフォトトランジスタ
（或いは、その他の適当なデバイス）が光検出素子とし
て使用され、この素子の導電率は素子に衝突した光の強
度に対応する。このように光検出素子によって生成され
た可変信号は、アナログ信号であり、その振幅は、素子
に衝突した光の量に（一定の範囲内で）略比例する。
【０００５】これらの光検出素子を行及び列によってア
ドレス指定可能な２次元コア・アレイに製作することが
知られている。素子の行がアドレス指定された後、行内
の各光検出素子からのアナログ信号がアレイの夫々の列
に結合される。アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器
は、画像センサ・チップの出力でデジタル信号だけが得
られるように、列上のアナログ信号をデジタル信号に変
換するため使用される。
【０００６】従来の技術は、画像センサ・アレイの速度
と寸法の縮小だけを取り扱う。Fowlerほかに発行された
米国特許第5,461,425号には、光学像のデジタルデータ
ストリームへの変換を高速化するため、画素レベルＡ／
Ｄ変換器を使用することが開示されている。Fowlerほか
に発行された米国特許第5,801,657号には、光学像のデ
ジタルデータストリームへの変換を高速化するため、ビ
ット直列アナログ・デジタル変換を同時に実行する方法
が開示されている。しかし、これらの従来の技術は、何
れも、画像センサ・アレイのある領域内の光検出器が、
画像センサ・アレイ内の他の光検出器よりも先に飽和に
達する問題を取り扱ってはいない。これは、画像センサ
・アレイの露出過度又は露出不足の問題を生じる。
【０００７】したがって、露出中に画像センサ・アレイ
の画素の領域の露出時間を最適化するための方法及び装
置を提供する必要がある。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、露出
中に画像センサ・アレイの画素の領域の露出時間を最適
化する方法を提供することである。本発明の方法に対
し、従来技術は、１枚の画像を最適的に捕捉するため２
回の露出を必要とする。１回目の露出は最適露出パラメ
ータを決定し、２回目の露出は最適パラメータ設定値を
用いて実際に画像を捕捉する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的に鑑みて、本発
明の方法は、像捕捉システムの露出を最適化するため時
間間隔サンプリングを利用する。画像センサ・アレイ内
の画素によって生成されたデジタル信号は、画素毎のル
ミナンス値を抽出するため色分離器を通される。これら
のルミナンス値は、各画素の飽和レベルを判定するため
統計的に解析される。本発明における画素は、光検出器
とアナログ・デジタル変換回路とにより構成される。ア
ナログ信号ではなく、デジタル信号が画素によって生成
されるので、画像センサ・アレイからのデジタル信号の
読み出しは、非常に高速に実行される。これにより、本
発明の方法は、１回の露出期間中に多数の時間間隔サン
プリングを行える。
【００１０】露出期間中に、画像センサ・アレイは、各
画素の飽和レベルを判定するため多数の時間間隔でサン
プリングされる。ある画素が最適飽和限界に到達したと
判定された後、この画素からの後続のデジタル画像信号
は記録されない。これにより、画素が飽和限界に到達し
た時点でその画素によって生成された最適デジタル画像
信号を保存する。
【００１１】このように画素の飽和レベルに基づいてデ
ジタル画像信号の記録を選択的に停止する処理は、個別
の画素に対し実行され、或いは、画素の領域に対し実行
してもよい。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の上記並びに他の目的、特
徴及び効果は、添付図面を参照すると共に以下の本発明
の好ましい実施例の詳細な説明から明らかになるであろ
う。添付図面を通じて、同じ参照番号は同じ部分を示
す。
【００１３】以下の詳細な説明には、例示の目的のため
多数の具体例が含まれるが、本発明の範囲を逸脱するこ
となく、以下の詳細な具体例に多数の変形及び代替をな
し得ることが当業者には認められよう。したがって、以
下の本発明の好ましい実施例の説明は、請求項に係る発
明の一般性を損なうことがなく、かつ、請求項に係る発
明を限定するものではない。
【００１４】図１は、本発明の一実施例を示す図であ
る。画像センサ・アレイ１００は、数千個の画素１３４
を含み、画素は行と列の２次元アレイ状に配列される。
【００１５】各画素は、光検出器とアナログ・デジタル
変換器（ＡＤＣ）を含む。光検出器は、光検出器に衝突
した光強度に比例する導電率を有する任意のデバイスで
ある。このようなデバイスの例は、電荷結合デバイス
（ＣＣＤ）及びＣＭＯＳ型フォトトランジスタである。
フォトトランジスタ又はフォトゲートを流れるアナログ
電流は、ベースに衝突した光の強度に比例する。
【００１６】Fowler他に発行された米国特許第5,461,42
5号、並びに、Fowler他に発行された米国特許第5,801,6
57号に記載されたＣＭＯＳ型アーキテクチャに基づい
て、アナログ・デジタル変換を実行する回路は、各光検
出器に接続され、光検出器へ衝突した光の強度を表すア
ナログ信号を、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）によ
って処理され、或いは、後の計算のためメモリに記憶で
きるデジタル信号等価量に変換する。
【００１７】ＣＣＤ画像センサに対し、ＣＭＯＳ型画像
センサに伴う問題点の一つは、ダイナミックレンジが狭
いこと、すなわち、ＣＭＯＳベースの光検出器は、非常
に素早く飽和し、画像センサの一部の領域に露出過多を
生じさせることである。この露出過多を調節すべく露出
時間が短縮されるならば、一部の低光強度領域は露出不
足になる。この問題は、光検出器が最初にプリセット飽
和限界に達したときに、光検出器、又は、光検出器の領
域からの信号がメモリに記憶され、一方、プリセット飽
和限界に到達していない残りの光検出器は露出され続
け、残りの光検出器の信号は後でメモリに書き込まれる
ならば、本発明によって解決される。これは、光検出器
が飽和状態に到達する前に信号が早期に記憶されるの
で、高い光強度の領域が露出過多にならないこと、並び
に、信号がメモリに記憶される前に光検出器が十分に飽
和するまで、低い光強度の領域がより長い時間的期間に
亘り露出されることを保証する。
【００１８】画像センサ・アレイ１００は、監視ユニッ
ト１１２に接続される。監視ユニットの目的は、光検出
器のデジタル画像信号の示度を信号１１０によって定期
的に獲得し、この示度を信号１１４によって色分離器１
１６へ渡すことである。色分離器は、光検出器の飽和レ
ベルを示す各光検出器のルミナンス値を抽出するため、
ＲＧＢ又はＬＵＶのようなフィルタリングスキームを、
光検出器のデジタル示度に適用する。
【００１９】このルミナンス値は、次に、信号１１８を
用いて、露出コントローラ１２０へ送られる。デジタル
画像信号は、信号１２６を用いて、メモリコントローラ
１２８へも送られ、メモリユニット１３２に記憶され
る。露出コントローラ１２０は、ルミナンス値に基づい
て２種類の解析を行う。第一に、露出コントローラは、
光検出器がプリセット飽和限界に到達したかどうかを判
定する。プリセット飽和限界は、光検出器が略飽和状態
であることを示すため使用される。たとえば、特定の光
検出器に対する飽和値が例示的な８ビットのルミナンス
値目盛上で２５０であるならば、プリセット飽和限界
は、２４５ルミナンス値に設定される。光検出器がこの
プリセット飽和限界に達したとき、コントローラ１２０
は、信号１２４を介して、特定の光検出器からの後続の
デジタル画像信号のメモリユニット３２への書き込みを
停止するようメモリコントローラ１２８へ報せる。光検
出器は露出期間の終わりまで露出され続ける。光検出器
は、飽和点以降も露出されるが、画像センサ・アレイに
よって生成される最終的な画像に影響を与えない。この
光検出器によって、プリセット飽和限界を超えて生成さ
れたデジタル画像信号は、先に記憶された信号を保存す
るため、メモリユニット１３２に書き込まれない。
【００２０】露出コントローラ１２０がルミナンス値に
基づいて行う第２の解析は、各光検出器がプリセット飽
和限界に接近する程度を判定することである。たとえ
ば、プリセット飽和限界が（８ビット精度で）２４５以
上に設定され、監視ユニットによる光検出器のサンプリ
ングのプリセット周期が１００ｍｓである場合を想定す
る。光検出器が最後のサンプリングでルミナンス値２４
０をとるとき、光検出器は、ルミナンス値のプリセット
飽和限界２４５を十分に通過し、１００ｍｓ以内に行わ
れる次のサンプリングで完全な飽和に到達するかもしれ
ない。したがって、プリセット飽和限界付近の光検出器
に対し、次のサンプリング周期までの時間を短縮する必
要がある。上記の例では、次のサンプリングは、現在の
サンプリングから１０ｍｓで行われるべきである。露出
コントローラ１２０は、信号１２２を用いて監視ユニッ
ト１１２を制御するので、プリセット飽和限界付近の光
検出器は、短縮されたサンプリング時間間隔でサンプリ
ングされる。
【００２１】この処理は、全ての光検出器がプリセット
飽和限界に到達するまで、或いは、プリセット露出時間
周期が経過するまで継続する。メモリ１３２内のデータ
は、消去され、或いは、更なる処理のため永久データ記
憶媒体に転送される。画像センサ・アレイは、次の露出
のため読み出される。
【００２２】図２は、本発明の第２の実施例を示す図で
ある。図１に示された実施例の場合、各個の画素（光検
出器）は、プリセット飽和限界に到達したかどうかを判
定するため、サンプリング周期毎に飽和レベルに対し解
析される。高分解能を備えた画像センサ・アレイは、典
型的に、２０００×２０００個以上の画素アレイにより
構成される。数千個の画素を個別に解析することは、露
出コントローラにとってかなりの負荷になる。そのた
め、より強力で、かつ、より高価な露出コントローラが
必要になる。
【００２３】これに対し、画像センサ・アレイ２１０
は、領域２００、２０２、２０４及び２０６のような多
数の領域に分割してもよい。これらの領域の寸法や形状
は同一でなくてもよい。この場合も、光検出器は個別的
に、信号１１０を用いて監視ユニット１１２によってサ
ンプリングされ、信号１１４を用いて色分離器１１６に
よって色分離される。しかし、露出コントローラ１２０
は、光検出器の領域がプリセット飽和限界に到達したか
どうかを判定するため、統計的解析を使用する。露出コ
ントローラ１２０が領域はプリセット飽和限界に到達し
たと判定した場合、露出コントローラは、メモリコント
ローラ１２８に、その領域内の光検出器からの後続のデ
ジタル画像信号をメモリユニット１３２へ書き込まない
ように命令する。
【００２４】図５ａ〜５ｃには、領域がプリセット飽和
限界に到達したかどうかを判定するため、コントローラ
によって使用され得る３種類の統計的手法が示されてい
る。図５ａはピーク値法を示す図である。この場合、露
出コントローラ１２０は、プリセット飽和限界５００以
上の飽和レベルを有する少なくとも一つの画素５０２を
探す。この条件が成立したとき、露出コントローラ１２
０は、メモリコントローラ１２８に対し、この光検出器
の領域からの後続のデジタル信号のメモリユニット１３
２への書き込みを停止するよう命令する。
【００２５】図５ｂは、平均値法を示す図である。露出
コントローラ１２０は、ある領域内の全ての光検出器の
平均ルミナンス値を計算する。この平均ルミナンス値が
平均値５１２よりも大きい場合、露出コントローラ１２
０は、メモリコントローラ１２８に対し、この光検出器
の領域からの後続のデジタル信号のメモリユニット１３
２への書き込みを停止するよう命令する。動作中に、平
均値は飽和値の半分になる場合がある。飽和値は、８ビ
ット精度で２５６である。たとえば、平均値は、８ビッ
ト精度で１２８、又は、１０ビット精度で５１２にな
る。或いは、平均値はヒストグラム法によって取得して
もよい。
【００２６】図５ｃは、ヒストグラム法を示す図であ
る。ヒストグラムは、画素値が画像全体に分布する様子
を判定するため、露出コントローラ１２０によって生成
される。このヒストグラムから、平均値又は飽和限界
が、当業者に公知の統計的計算に従って動的に獲得され
る。平均値及び限界値を判定するため、ヒストグラム法
以外の別の統計的手法を使用してもよい。
【００２７】上記の各統計的手法は、単独で使用された
場合、最良の統計的結果、すなわち、最良の像露出を生
じないことに注意する必要がある。たとえば、ピーク値
法を用いる場合、領域内で非常に集束された明るいスポ
ットは、数個の画素を非常に素早くプリセット飽和限界
に到達させ、領域内の残りの画素は露出不良であるか、
或いは、全く露出されない。しかし、この領域に対する
平均ルミナンス値が計算された場合、明るいスポットの
存在が明らかになり、補償のため露出時間の調節が行わ
れる。当業者は、最も信頼性の高い統計的手法を実現す
るため、最良の統計的手法の組み合わせを決めることが
可能である。
【００２８】図６には、本発明による時間間隔サンプリ
ングの考え方が示されている。図６は、例示的な光検出
器の露出状態を表すグラフである。監視ユニット１１２
は、露出周期の始まりから、１００ｍｓ毎に光検出器を
サンプリングするようプリセットされる。同図には、露
出周期の始まりから１００ｍｓ経過後のルミナンス値６
０２と、２００ｍｓ経過後のルミナンス値６０４が示さ
れている。４００ｍｓ経過後に、光検出器は、飽和限界
６０６の近く６１２まで到達する。監視ユニット１１２
が５００ｍｓ経過後のプリセット時間に次のサンプリン
グを実行するならば、光検出器の飽和レベルは、既に飽
和限界６０６を十分に超える。したがって、監視ユニッ
ト１１２は、露出コントローラ１２０によって、たとえ
ば、４５０ｍｓの時点、すなわち、最後のサンプリング
から５０ｍｓ後に、次のサンプリングを実行するように
命令される。時点４５０ｍｓにおける光検出器の飽和レ
ベルは、飽和限界６０６であるか、或いは、飽和限界６
０６を僅かに超過し、露出コントローラは、この光検出
器からのデジタル画像信号の更なる記録を停止し、時点
４５０ｍｓで記録された最適デジタル信号を保存する。
【００２９】図７は、本発明において像露出を最適化す
る方法の概略を説明する図である。ステップ７０２及び
７１４は、特定の画素又は画素の領域の露出の開始及び
終了を表す。ステップ７０４において、デジタル画像信
号が画像センサ・アレイの個別の光検出器から読み出さ
れる。このステップは、各検出器の飽和を表すルミナン
ス値を各デジタル画像信号から抽出する。ステップ７０
６において、各光検出器から抽出されたルミナンス値に
関する統計的解析が行われる。この統計的解析は、光検
出器、又は、光検出器の領域がプリセット飽和限界に到
達したかどうかを判定するため行われる。特定の光検出
器又は光検出器の領域に対する露出時間を制御するた
め、制御パラメータがステップ７０８において生成され
る。この制御パラメータの値は、光検出器又は光検出器
の領域が飽和限界に到達したかどうかに依存する。ステ
ップ７１０において、光検出器又は光検出器の領域は更
に露光され、この場合、パス７１２が後に続き、読み出
しと解析が続けられる。光検出器が飽和限界に達した場
合、この光検出器又は光検出器の領域からの画像信号
は、これ以上は記録されず、処理がステップ７１４で終
了する。ステップ７０８で生成された制御パラメータ
は、後述のアナログ・デジタル変換回路の制御のような
他の目的のためにも使用される。
【００３０】図３は、本発明による露出コントローラ信
号１２２の別の用法を示す図である。画素３００は、光
検出器３０２と、８ビット・アナログ・デジタル変換器
（ＡＤＣ）３０６とにより構成される。上述の二つの実
施例と同様に、画素のデジタル出力１１０は、監視ユニ
ット１１２に供給され、色分離器１１６を通過し、最終
的に露出コントローラ１２０へ渡される。露出コントロ
ーラ１２０は、光検出器のルミナンス値を解析し、アナ
ログ・デジタル変換器３０６の挙動に影響を与えるた
め、信号３１０を用いてアナログ・デジタル変換器（Ａ
ＤＣ）コントローラ３１２を制御する。
【００３１】図４は、アナログ・デジタル変換器３０６
のアナログ入力信号とデジタル出力信号の関係を表すグ
ラフである。通常の条件下で、アナログ入力信号及びデ
ジタル出力信号は、曲線４１０によって表される関係を
有する。ゲイン４０２が４５度の角度であると仮定する
と、アナログ入力信号４０４の１単位は、デジタル出力
信号４０８の１単位を生ずる。しかし、アナログ・デジ
タル変換器コントローラ３１２は、曲線４１２のような
曲線を生じさせるオフセット４００を制御することがで
きる。曲線を曲線４１２のようにオフセットさせること
により、一部のアナログ入力信号４０４に対し得られる
デジタル出力信号４０６を小さくすることができる。ア
ナログ・デジタル変換器コントローラ３１２を制御し、
これにより、オフセット４００を制御することにより、
露出コントローラは、画素が飽和状態のデジタル画像信
号を出力することを効率的に防止することができる。
【００３２】当業者には明らかであるように、上述の実
施例は、本発明の範囲を逸脱することなく、多様に変更
される。したがって、本発明の範囲は、請求項に記載さ
れた事項及びその法律上の均等物によって定められるべ
きである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明の別の実施例を示すブロック図である。
【図３】本発明の第３の実施例を示すブロック図であ
る。
【図４】本発明におけるＡ／Ｄ変換器の入出力関係を示
すグラフである。
【図５ａ】本発明のピーク値統計法を示すグラフであ
る。
【図５ｂ】本発明の平均値統計法を示すグラフである。
【図５ｃ】本発明のヒストグラム法を示すグラフであ
る。
【図６】本発明の時間間隔露出を示すグラフである。
【図７】本発明の方法を説明するフローチャートであ
る。
【符号の説明】
１１２ 監視ユニット １１６ 色分離器 １２０ 露出コントローラ １２８ メモリコントローラ １３２ メモリユニット ３０６ ＡＤＣ ３１２ ＡＤＣコントローラ
フロントページの続き (72)発明者 デイヴィッド シャオ ドン ヤン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94306 マウンテン・ヴュー カリフォル ニア・アヴェニュー 2020 (72)発明者 シー ポン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95035 ミルピタス レッドウッド・アヴ ェニュー 497 (72)発明者 オデュトラ オルセイエ イウェデミー アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95112 サン・ノゼ サウス・サード・ス トリート 144 636号 (72)発明者 リカルド ハンソン モッタ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94303 パロ・アルト ヒルバー・レーン 539 (72)発明者 イー−ヘン ウェイ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95131 サン・ノゼ ブライアベリー・コ ート 1296 Ｆターム(参考） 2G065 AA04 AA06 BA06 BC14 DA18 2H002 CC00 DB01 DB06 DB19 DB24 DB25 DB27 5C022 AB03 AB17 AC42 AC69

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 像捕捉装置において露出中に画像センサ
    の露出時間を最適化する方法であって、 上記画像センサの多数の画素から同数のデジタル画像信
    号を獲得するステップと、 上記多数のデジタル画像信号から得られたルミナンス値
    に関する統計的解析を行うステップと、 統計的解析から一つ以上の制御パラメータを獲得するス
    テップと、 上記画像センサ内の上記画素に対する露出時間を変更す
    るため上記制御パラメータを使用するステップと、を有
    する方法。
  2. 【請求項２】 露出時間は多数のプリセット時間間隔を
    含み、 上記デジタル画像信号を獲得するステップは、一つのプ
    リセット時間間隔の最後に多数のデジタル信号を繰り返
    しサンプリングすることにより達成される、請求項１記
    載の方法。
  3. 【請求項３】 上記露出時間を変更するため上記制御パ
    ラメータを使用するステップは、一部のデジタル信号が
    飽和することを避けるため、プリセット時間間隔の最後
    の一つを短縮させる、請求項２記載の方法。
  4. 【請求項４】 各画素は光検出器及び回路を含み、 上記光検出器はターゲットで露光されたときにアナログ
    信号を生成し、 上記回路は上記アナログ信号を一つの上記デジタル画像
    信号に変換する、請求項１記載の方法。
  5. 【請求項５】 上記各画素の上記光検出器は相補形金属
    酸化物半導体（ＣＭＯＳ）上に製作される、請求項４記
    載の方法。
  6. 【請求項６】 上記統計的解析はデジタル信号プロセッ
    サによって行われる、請求項１記載の方法。
  7. 【請求項７】 上記一つ以上の制御パラメータは、画素
    が飽和限界に到達したかどうかを表す、請求項１記載の
    方法。
  8. 【請求項８】 上記統計的解析はピーク値統計的解析で
    ある、請求項１記載の方法。
  9. 【請求項９】 上記統計的解析は平均値統計的解析であ
    る、請求項１記載の方法。
  10. 【請求項１０】 上記統計的解析はヒストグラム分布統
    計的解析である、請求項１記載の方法。
  11. 【請求項１１】 露出時間は、上記統計的解析から獲得
    された上記一つ以上の制御パラメータに基づいて、上記
    多数の画素又は画素の領域からのデジタル信号の記録を
    選択的に停止することによって変更される、請求項１記
    載の方法。
  12. 【請求項１２】 飽和限界を有し、ターゲットで露光さ
    れたときにデジタル信号を生成する画素のアレイと、 露出時間に含まれる多数の露出プリセット時間間隔毎に
    デジタル信号をサンプリングする監視ユニットと、 上記監視ユニットと通信し、上記画素からサンプリング
    されたデジタル信号より獲得された一つ以上の制御パラ
    メータに応じて上記画素からのデジタル信号の記録を停
    止する制御回路と、を具備し、 各画素は、ターゲットで露光されたときにアナログ信号
    を生成する光検出器と、上記アナログ信号を上記デジタ
    ル信号に変換する回路とを含む、最適化された露光時間
    を有する画像センサシステム。
  13. 【請求項１３】 上記光検出器は相補形金属酸化物半導
    体（ＣＭＯＳ）に基づいている、請求項１２記載の画像
    センサシステム。
  14. 【請求項１４】 上記デジタル信号はメモリユニットに
    書き込まれる請求項１３記載の画像センサシステム。
  15. 【請求項１５】 一部の光検出器が飽和することを防止
    するため、上記一つ以上の制御パラメータに従って、プ
    リセット時間間隔の最後の一つを短縮させる、請求項１
    ２記載の画像センサシステム。
  16. 【請求項１６】 上記画素は領域に分類され、 各領域は領域的飽和レベル及び領域的飽和限界を有す
    る、請求項１２記載の画像センサシステム。
  17. 【請求項１７】 上記各領域は上記一つ以上の制御パラ
    メータを生成する、請求項１６記載の画像センサシステ
    ム。
  18. 【請求項１８】 上記画素は、各光検出器の飽和レベル
    を判定するため、露出時間中に各プリセット時間間隔で
    サンプリングされる、請求項１６記載の画像センサシス
    テム。
  19. 【請求項１９】 上記制御回路は、各領域的飽和レベル
    が対応した各領域的飽和限界に到達したかどうかを判定
    するため、統計的解析に基づいて上記一つ以上の制御パ
    ラメータを生成する、請求項１６記載の画像センサシス
    テム。
  20. 【請求項２０】 上記統計的解析は各領域内でピーク値
    を判定する、請求項１９記載の画像センサシステム。
  21. 【請求項２１】 上記統計的解析は各領域内で平均値を
    判定する、請求項１９記載の画像センサシステム。
  22. 【請求項２２】 上記統計的解析はヒストグラム分布統
    計的解析を実行する、請求項１９記載の画像センサシス
    テム。
  23. 【請求項２３】 上記デジタル画像信号の記録の停止
    は、上記光検出器毎に、又は、上記光検出器の領域毎に
    行われる、請求項１２記載の画像センサシステム。
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