JP2001351570A - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents
飛行時間型質量分析装置Info
- Publication number
- JP2001351570A JP2001351570A JP2000173982A JP2000173982A JP2001351570A JP 2001351570 A JP2001351570 A JP 2001351570A JP 2000173982 A JP2000173982 A JP 2000173982A JP 2000173982 A JP2000173982 A JP 2000173982A JP 2001351570 A JP2001351570 A JP 2001351570A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- mass
- sampling
- flight
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
プリング間隔でサンプリングしてデジタルデータに変換
するA/D変換器31と、このデータを一時的に蓄積す
るメモリ32とを備えたトランジェントレコーダ3にお
いて、切替スイッチ36によりサンプリング周波数を切
替可能な構成とする。例えば、測定を繰り返し行う場合
に、相対的に小さな質量範囲が必要であるタイミングで
制御部5はスイッチ36を切り替え、サンプリング周波
数を高くする。
Description
析装置(以下「TOFMS=Time of Flight Mass Spec
trometer」と称す)に関する。
る。図6では、質量分離部7を挟んで、左にイオン源
6、右にイオン検出器2が配置されている。この例で
は、イオン源6はマトリックス支援レーザ脱離イオン化
法によるものとなっている。イオン源6のサンプルスラ
イド62と、質量分離部7の引き出しグリッド71及び
エンドプレート72と、イオン検出器2とは、イオン光
軸Cに沿ってほぼ一直線状に配置されている。
ンプルスライド62上のサンプル63から発生した各種
イオンは、サンプルスライド62と引き出しグリッド7
1との電位差Vsにより引き出しグリッド71の方向に
引き出され、加速された後に電場及び磁場を有さない飛
行空間73に導入される。このとき、質量数の小さなイ
オンほど高い速度を与えられるため、より早く飛行空間
73を通過してイオン検出器2に到達する。イオンはイ
オン検出器2までほぼ直線的に飛行するので、この構成
のTOFMSは通常リニア型と呼ばれる。
プル63を出発してからイオン検出器2に到達するまで
の飛行時間は、そのイオンの質量数の平方根に比例する
ことが知られている。これは、上述のようなリニア型の
みならず、折返し飛行を利用したリフレクトロン型であ
っても、一様電界モデルであれば同様である。
ロ秒というきわめて短いオーダであるため、イオン検出
器2の出力信号をそのままデータ処理するのは実質的に
不可能である。そこで、イオン検出器2の出力信号は高
速のA/D変換器とメモリユニットとを備えるトランジ
ェントレコーダに入力され、一旦、所定のサンプリング
周期でサンプリングされてデジタルデータに変換され蓄
積される。そのあと、順次、所定の伝送レートでもって
データ処理装置に転送され、そこで所定のデータ処理が
実行される。すなわち、トランジェントレコーダが一種
のデータバッファとして利用される。
間はイオンの質量数mの平方根に比例するため、分解能
m/Δmにおける単位質量数Δm当たりの採取データ数
は、質量数が大きいほど多く、逆に質量数が小さいほど
少なくなる。データ処理に際してマススペクトル上で隣
接するピークを分離するには、そのピークを構成するデ
ータ数が多いほど分離が容易である。したがって、質量
数が大きい領域ではピーク分離が容易であっても、質量
数が小さいほどピーク分離は難しくなり、これにより分
析可能な質量数の下限が決まってしまう。
いくつかの方法が考え得る。1つは、飛行時間を充分に
長くするように加速電圧を小さくする、つまり上記例で
言えば電位差Vsを小さくすることである。また、第2
には、飛行空間73の距離を伸ばすことである。更に第
3には、トランジェントレコーダのA/D変換器でのサ
ンプリング周波数を高くすることである。しかしなが
ら、いずれの方法によっても、所定の質量範囲内でのデ
ータ量が増加し、それだけ大容量のメモリユニットが必
要となって、装置のコストが高くなるという問題があ
る。
グラフ装置を接続して分析を行う場合には、一定周期
で、所定の質量範囲に亘る測定を繰り返し連続的に行う
必要がある。クロマトグラムのピーク情報を精度よく取
得するためには、この測定周期を充分に短くすることが
望ましい。しかしながら、トランジェントレコーダから
データ処理装置へのデータ転送レートにはハードウエア
上の上限があるため、トータルのデータ量が多いとデー
タ転送の制限により測定周期が長くなってしまうという
問題もある。
成されたものであり、その目的とするところは、全体の
データ量を適度に抑えながら、所望の質量範囲において
分解能を上げることができるようなTOFMSを提供す
ることにある。
に成された本発明は、イオン源で発生した各種イオンを
加速した後に飛行空間内に導入し、イオンの質量数に応
じて相異なる飛行時間をもって該飛行空間を通過したイ
オンを検出器で検出する飛行時間型質量分析装置におい
て、 a)前記検出器による検出信号を所定のサンプリング周期
でサンプリングしてデジタルデータに変換するサンプリ
ング手段と、 b)該デジタルデータを一時的に蓄積するとともに、蓄積
されたデジタルデータを所定のレートでデータ処理部へ
転送するためのデータ蓄積手段と、 c)複数回の繰り返し測定を行う途中で、前記サンプリン
グ周期を変化させる制御手段と、を備えることを特徴と
している。
間型質量分析装置では、トランジェントレコーダのA/
D変換器におけるサンプリング周期は或る値に固定され
ていたのに対し、本発明に係る飛行時間型質量分析装置
では、複数回の繰り返し測定の途中でそのサンプリング
周期を2種類又はそれ以上に切り替えるようにし、サン
プリング周期を短くした(つまりサンプリング周波数を
高くした)期間の測定では、相対的に小さな質量数を有
するイオンに対応する検出信号をも精度よく(つまり細
かい質量数刻みで)測定できるようにしている。
返し実行する場合、上記制御手段は、その1回乃至複数
回の測定毎にサンプリング周期を変更する構成とする。
サンプリング周期を短くすると、データ量は増加するも
のの、上述したように、相対的に小さな質量数の領域ま
で細かい質量数刻みでデータを取得できる。したがっ
て、このようにして取得されたデータを利用してマスス
ペクトルを作成すれば、小さな質量数領域に現れている
ピークの分離も容易になるとともに、ピークトップに対
応した質量数の算出精度も向上する。また、所定質量範
囲に対する全体のデータ量は、サンプリング周期を常に
短い状態にしておく場合よりもかなり少なくて済むの
で、データ蓄積手段の容量を抑制することができるとと
もに、測定間隔も短くすることができる。
する場合、予め設定されたタイムスケジュールに従っ
て、サンプリング周期を変更する構成としてもよい。こ
の構成によれば、質量数が比較的小さな成分を分析する
タイミングを狙ってサンプリング周期を短くし、その成
分に対応するピークのデータ数を増加させることがで
き、それ以外の比較的質量数が大きい成分を分析するタ
イミングでは相対的に長いサンプリング周期でデータを
取得することにより、データ量を抑えることができる。
実行する場合、実際に測定時に得られたクロマトグラム
の形状に応じて、例えばピークトップが現れるタイミン
グに合わせてサンプリング周期を変更する構成としても
よい。この構成によれば、ピークが出現するタイミング
を狙ってサンプリング周期を短くし、ピークに関するデ
ータ数を増加させることができ、それ以外の期間には相
対的に長いサンプリング周期でデータを取得することに
より、データ量を抑えることができる。勿論、上記タイ
ムスケジュールと併用することにより、特定の時間付近
に出現するピークに対応するデータ数のみを増加させる
ようにすることもできる。
という)である飛行時間型質量分析装置を図面を参照し
て説明する。図1は、この実施例1によるTOFMSの
要部の構成図である。図1において、TOF分析部1
は、図6に示したような飛行時間型の質量分離部7であ
る。
ントレコーダ3に入力され、その出力はデータ処理部4
に送出される。トランジェントレコーダ3は、A/D変
換器31、メモリ32、メモリ制御部33を備えるほ
か、周波数がF1であるクロック信号を生成する第1ク
ロック生成部34、周波数がF2であるクロック信号を
生成する第2クロック生成部35、第1又は第2のクロ
ック信号の一方を選択してA/D変換器31及びメモリ
制御部33に供給するための切替スイッチ36を備えて
いる。
クロック信号に基づいて入力アナログ信号をサンプリン
グし、これをNビットのデジタルデータに変換する。メ
モリ32及びメモリ制御部33にあっては、上記サンプ
リング周期毎に得られるNビットのデジタルデータをメ
モリ32の所定アドレス領域に順次格納するとともに、
所定の伝送レートで読み出してデータ処理部4へと転送
する。制御部5は、イオンを飛行空間へ放出するための
トリガ信号をTOF分析部1に送出するとともに、切替
スイッチ36の切替動作を制御し、更には、その切替え
に関わる情報をデータ処理部4へと送る。
mを有するイオンの飛行時間が10μ秒であるとした場
合の、質量数と飛行時間、更には、分解能m/Δmを2
000とした場合の質量幅Δm、その質量幅Δm当たり
のデータ採取点数を示したものである。
のTOFMSを接続し、クロマトグラフにより時間的に
分離された成分をTOFMSにより順次検出するように
した構成では、所定の質量範囲に亘る測定を繰り返し行
う必要がある。そこで、いま1秒間に10回の測定を繰
り返し行うものとすると、最大データ転送速度が1MB
(メガバイト)/秒であると1回の測定当たりのデータ
量は100KBとなる。1個のデータが2バイト(16
ビット)で構成されているとすると、データ採取点数は
50000点となる。図2より、サンプリング周波数が
500MHzであると、100μ秒つまり質量数100
00以下、サンプリング周波数が1GHzであると、5
0μ秒つまり質量数2000以下の測定が可能であるこ
とになる。これが、データの転送レートからの制限であ
る。
を形成したり隣接ピークの分離を行ったりするために、
1個のピークに少なくても5点のデータが必要であると
すると、図2より、サンプリング周波数500MHzで
は質量数2000以上で、サンプリング周波数1GHz
では質量数500以上で、必要な分解能が確保できるこ
とになる。換言すれば、質量数500〜2000の範囲
において必要な分解能を得るには、サンプリング周波数
を1GHzとする必要がある。
00MHz、F2=1GHzとし、制御部5は1回の所
定質量範囲の測定毎に切替スイッチ36を切り替えるよ
うに制御を行う。つまり、1回の測定毎に、質量範囲が
500〜2000である測定と、質量範囲が2000〜
10000である測定とを交互に行うことになる。デー
タ処理部4では、このようにして得られたデータに対し
適切な補正処理を行うことによりマススペクトルを作成
し、更にこのマススペクトルに対して解析処理を行って
ピーク分離やピークトップの質量数を求めるようにすれ
ば、質量範囲500〜10000の広い範囲で高い分解
能での分析が可能となる。
2」という)によるTOFMSについて図3、図4を参
照して説明する。図3は、実施例2によるTOFMSの
要部の構成図である。図1と同一又は相当する部分は、
同一符号を付して説明を省略する。この実施例2のTO
FMSでは、制御部5はスケジュール管理部51を備え
ている。スケジュール管理部51は、ユーザがスケジュ
ール設定部52より設定したスケジュールに従って切替
スイッチ36を制御する機能を有する。
マトグラフで分離された試料成分が順次導入される。T
OF分析を行うに先立って予備的にクロマトグラフ分析
を実行し、図4(a)に示すようなクロマトグラムを作
成しておく。ユーザはこのクロマトグラムを基に、試料
成分を予測し、質量数500〜2000の範囲での測定
が必要な個所(時間)を判断する。そして、特定の時間
期間だけ高いサンプリング周波数で検出信号のサンプリ
ングが実行されるように、スケジュールを設定する。実
際に分析が開始されると、スケジュール管理部51は設
定されたスケジュール通りに切替スイッチ36を制御す
るから(図4(b)参照)、特定の成分が分析されるタ
イミングでサンプリング周波数は500MHz→1GH
zに変更される(図4(c)参照)。これにより、該成
分から発生する分子イオンに対応するマススペクトルの
ピークを、確実に且つ精度よく求めることができる。
3」という)によるTOFMSについて図5を参照して
説明する。図5は、実施例3によるTOFMSの要部の
構成図である。上記実施例2では予めユーザがタイムス
ケジュールを作成しておく必要があったが、この実施例
3による質量分析装置では、測定中のクロマトグラムの
形状に応じて、適応的にサンプリング周波数が切替えら
れるようになっている。
C(トータルイオンクロマトグラム)作成部41は、分
析時に図4(a)に示すようなクロマトグラムを時間経
過に伴い作成する。例えば、特定の位置近傍にクロマト
グラムのピークが現れた場合にサンプリング周波数を切
り替えるようにするとき、TIC作成部41では、作成
中のクロマトグラムでピークの立ち上がりを検出すると
(例えば所定以上の傾きを検出すると)制御部5に対し
指示信号を送る。また、そのピークの立ち下がりのタイ
ミングで再び制御部5に対し指示信号を送る。制御部5
ではこのような指示を受けて切替スイッチ36を制御す
る。
おかなくても、クロマトグラムに現れるピークに応じて
適宜に質量範囲を変えて、高い分解能で測定を行うこと
ができる。
て、本発明の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行えること
は明らかである。
構成図。
を2000とした場合の質量幅Δm、その質量幅Δm当
たりのデータ採取点数の関係をまとめた図。
の構成図。
形図。
の構成図。
Claims (1)
- 【請求項1】 イオン源で発生した各種イオンを加速し
た後に飛行空間内に導入し、イオンの質量数に応じて相
異なる飛行時間をもって該飛行空間を通過したイオンを
検出器で検出する飛行時間型質量分析装置において、 a)前記検出器による検出信号を所定のサンプリング周期
でサンプリングしてデジタルデータに変換するサンプリ
ング手段と、 b)該デジタルデータを一時的に蓄積するとともに、蓄積
されたデジタルデータを所定のレートでデータ処理部へ
転送するためのデータ蓄積手段と、 c)複数回の繰り返し測定を行う途中で、前記サンプリン
グ周期を変化させる制御手段と、 を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000173982A JP4345199B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 飛行時間型質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000173982A JP4345199B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 飛行時間型質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001351570A true JP2001351570A (ja) | 2001-12-21 |
JP4345199B2 JP4345199B2 (ja) | 2009-10-14 |
Family
ID=18676109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000173982A Expired - Lifetime JP4345199B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 飛行時間型質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4345199B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006511912A (ja) * | 2002-12-20 | 2006-04-06 | パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド | 複数の飛行経路を有する飛行時間型質量分析器 |
JP2006236795A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
GB2444348A (en) * | 2006-08-04 | 2008-06-04 | Agilent Technologies Inc | Dynamically adjusting effective sampling rates of a mass spectrometer |
JP2010219053A (ja) * | 2010-05-10 | 2010-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
JP2012527601A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-08 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 飛行時間取得システム |
JP2013229158A (ja) * | 2012-04-25 | 2013-11-07 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計 |
US9753127B2 (en) | 2013-11-29 | 2017-09-05 | Denso Corporation | Measurement apparatus |
JP2017195169A (ja) * | 2015-06-16 | 2017-10-26 | 株式会社リコー | 記憶装置、制御装置及び移動体 |
WO2019229942A1 (ja) * | 2018-05-31 | 2019-12-05 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
-
2000
- 2000-06-09 JP JP2000173982A patent/JP4345199B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006511912A (ja) * | 2002-12-20 | 2006-04-06 | パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド | 複数の飛行経路を有する飛行時間型質量分析器 |
JP4575193B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2010-11-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および質量分析方法 |
JP2006236795A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
GB2444348B (en) * | 2006-08-04 | 2011-06-08 | Agilent Technologies Inc | Mass spectrometers |
US7684932B2 (en) | 2006-08-04 | 2010-03-23 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for dynamically adjusting sampling rates of mass spectrometers |
GB2444348A (en) * | 2006-08-04 | 2008-06-04 | Agilent Technologies Inc | Dynamically adjusting effective sampling rates of a mass spectrometer |
JP2012527601A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-08 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 飛行時間取得システム |
US8729462B2 (en) | 2009-05-13 | 2014-05-20 | Micromass Uk Limited | Time of flight acquisition system |
JP2010219053A (ja) * | 2010-05-10 | 2010-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
JP2013229158A (ja) * | 2012-04-25 | 2013-11-07 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計 |
US9753127B2 (en) | 2013-11-29 | 2017-09-05 | Denso Corporation | Measurement apparatus |
JP2017195169A (ja) * | 2015-06-16 | 2017-10-26 | 株式会社リコー | 記憶装置、制御装置及び移動体 |
US11007896B2 (en) | 2015-06-16 | 2021-05-18 | Ricoh Company, Ltd. | Storage apparatus, control apparatus, and moving body |
WO2019229942A1 (ja) * | 2018-05-31 | 2019-12-05 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
JPWO2019229942A1 (ja) * | 2018-05-31 | 2021-01-07 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4345199B2 (ja) | 2009-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5367162A (en) | Integrating transient recorder apparatus for time array detection in time-of-flight mass spectrometry | |
US4472631A (en) | Combination of time resolution and mass dispersive techniques in mass spectrometry | |
Guilhaus et al. | Perfect timing: time‐of‐flight mass spectrometry | |
US4490806A (en) | High repetition rate transient recorder with automatic integration | |
US6094627A (en) | High-performance digital signal averager | |
JP3470724B2 (ja) | 飛行時間質量分析計及びそれに対する二重利得検出器 | |
JP5972651B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
US6861645B2 (en) | High resolution method for using time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection | |
US20060016977A1 (en) | Time-of-flight analyzer | |
GB2390936A (en) | High resolution detection for time of flight mass spectrometers | |
JP4246662B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置および分析方法 | |
GB2582455A (en) | Targeted mass analysis | |
JP2001351570A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US4583183A (en) | Masked multichannel analyzer | |
US7479629B2 (en) | Multichannel rapid sampling of chromatographic peaks by tandem mass spectrometer | |
JP2021521582A (ja) | Tof質量分析器の抽出領域内でイオンパケットを動的に濃縮する | |
Holland et al. | Design, construction, and evaluation of an integrating transient recorder for data acquisition in capillary gas chromatography/time‐of‐flight mass spectrometry | |
US20080296490A1 (en) | Time of flight mass spectrometry method and apparatus | |
JP6006322B2 (ja) | 質量分析装置および質量分離装置 | |
JP2005268152A (ja) | 質量分析用データ処理装置および方法 | |
JPH11185697A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US6031227A (en) | Time-of-flight mass spectrometer with position-sensitive detection | |
JP6885512B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
JP2000082439A (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
Ens et al. | A data system for time-of-flight measurements |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061006 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090318 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090331 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090526 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090623 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090706 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4345199 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120724 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120724 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130724 Year of fee payment: 4 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |