JP2001324527A - 水晶振動子のブランク素子測定用電極 - Google Patents

水晶振動子のブランク素子測定用電極

Info

Publication number
JP2001324527A
JP2001324527A JP2000144606A JP2000144606A JP2001324527A JP 2001324527 A JP2001324527 A JP 2001324527A JP 2000144606 A JP2000144606 A JP 2000144606A JP 2000144606 A JP2000144606 A JP 2000144606A JP 2001324527 A JP2001324527 A JP 2001324527A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
blank element
measuring
upper electrode
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000144606A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Mizushima
健 水嶋
Satoru Wakamoto
悟 若本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2000144606A priority Critical patent/JP2001324527A/ja
Publication of JP2001324527A publication Critical patent/JP2001324527A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 1次共振周波数が100MHzを越えるブランク素
子の測定で、計測値の再現性が良く、多品種にわたり測
定できる水晶振動子のブランク素子測定用電極。 【解決手段】 上電極と下電極との間に水晶振動子の
ブランク素子を搭載し、両電極間に所定の掃引正弦波の
電界を与えてブランク素子の共振周波数特性を測定する
冶具の電極であって、電極が導電性接着剤で固定され
て該電極と基板の一辺までストリップラインが構成され
ているセラミック基板と、インピーダンス整合回路が
構成されているプリント基板と、入出力端子とプリン
ト基板とセラミック基板とを固定する電極基板とを有
し、入出力端子とプリント基板とセラミック基板とを
電気的に接続した上電極部及び下電極部を具備した水晶
振動子のブランク素子測定用電極である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、水晶( Crysta
l)振動子のブランク( blank:未完成品)素子を検査
する、水晶振動子のブランク素子測定用電極に関する。
【0002】
【従来の技術】先ず、水晶振動子について若干の説明を
する。水晶の結晶をある一定の方向、寸法に加工し、こ
の結晶を電界のなかに置くと、機械的歪みを生じる。こ
の現象を圧電気逆効果といい、この現象により電子通信
機器に使用する水晶発振器などの電気通信材料として広
く利用されている。水晶振動子は、振動周波数の安定性
が非常に良く、Q値が非常に高く、電気的機械的損失の
少ない材料である。
【0003】水晶振動子は、例えば、水晶板であるブラ
ンク素子(以下、「ブランク素子」と略称する)を挟ん
で両側に電極板を設け、電極板からリード・ピンを取り
出しリード・ピンを介して電界を与えるように構成され
ている。この水晶振動子の振動周波数は、ブランク素子
によって決まる。従って、水晶振動子の製造業者は、製
品に組み立てる前にこのブランク素子の段階で良否判定
の検査を行う必要がある。
【0004】図4にブランク素子の外観図を示す。図4
(a)は四角形のブランク素子51であり、正方形や長
方形の形状がある。図4(b)は円形のブランク素子5
2である。一般的に、四角形状の一辺の長さL又は円形
の直径Ф3 の大きさは、0.5mm〜4mm程度であり、厚
さdは0.1mm以下である。この外形寸法LやΦ、及び
厚さdで振動周波数が決まる。その共振特性の一例を図
5に示す。図5はネットワークアナライザの表示画面6
3に表示させたリアクタンス−周波数特性の波形aの一
例である。共振周波数や反共振周波数が一目瞭然であ
る。
【0005】図6に、従来の水晶振動子のブランク素子
の測定装置を示す。測定装置は、水晶振動子のブランク
素子測定用冶具40とネットワークアナライザ60とこ
れらを制御する制御部55とから構成されている。水晶
振動子のブランク素子測定用冶具40は、金属性の上電
極41及び下電極42と、上電極41を精度良く上下移
動させるマイクロメータ46及びマイクロメータ46と
上電極41とを連結させている移動棒47とから構成さ
れている。
【0006】ブランク素子50の試験は、下電極42の
上部と上電極41との間にDUT(被測定デバイス)で
あるブランク素子50を搭載し、上電極41をマイクロ
メータ46の駆動によって上下方向に移動させブランク
素子50との間隔(ギャップ)を数10μm程度に調整
する。その後にネットワークアナライザ60からの信
号、例えば所定範囲の正弦(サイン)波の掃引周波数信
号を上電極41及び下電極42間に印加し、その応答信
号をネットワークアナライザ60で解析し、良否判定や
画面表示をしたりする。
【0007】ネットワークアナライザは周知のように、
線形回路網の伝送特性や反射特性などを正弦波を用いて
解析する測定器である。図示していないが、内部に掃引
発振器と、その発振周波数に対応する受信器と、受信し
た応答信号をデジタル化するA/D変換器と、A/D変
換後のデジタル信号から所定の解析をする演算器と、表
示画面等を有している。測定時は、設定した範囲の発振
周波数を出力端子から出力してDUTに与える。その応
答信号を入力端子で受信し処理して、振幅特性や位相特
性やSパラメータ等の伝送特性を測定する。また、反射
特性も測定することができる。測定ポイント数は最大で
1201ポイントまで可能である。
【0008】図6の例では、ネットワークアナライザ6
0の出力端子61から掃引信号を水晶振動子のブランク
素子測定用冶具40の入力端子43を経て上電極41に
与える。ブランク素子50は上電極41電界を受け、自
己固有の共振周波数で大きく振動する。この共振周波数
を下電極42で受け、その応答信号を出力端子45を経
てネットワークアナライザ60の入力端子62に伝送す
る。ネットワークアナライザ60はその応答信号をデジ
タル処理して良否判定や表示画面63に表示する。図6
の例では、表示面を2分割して、上表示画面63に振幅
特性の波形bを、下表示画面64に位相特性の波形cを
表示している。調整ボタン65i(i=1〜n)は、測
定の中心周波数やスパンや掃引速度等の測定条件を設定
するものであるので、調整ボタン65iに換えて、ダイ
ヤルやつまみや押しボタンやテンキー等、測定条件を設
定できるものであればよい。
【0009】制御部55は、この測定装置の全体の制御
を行う。設定した制御データを、制御ライン56を介し
て水晶振動子のブランク素子測定用冶具40に与えてマ
イクロメータの移動部等を制御し、制御ライン57を介
してネットワークアナライザ60に与えて測定の制御を
行う。
【0010】図7に上電極41及び下電極42の一例の
表面図を示す。図7(a)は上電極41の表面図であ
り、その直径Φ1 は1mm〜5mmΦ程度であり、ブランク
素子50の大きさにより適切な直径Φ1 の上電極41を
取り替えて用いる。図7(b)は下電極42の表面図で
あり、その直径Φ2 は10mmΦ程度であり、ブランク素
子の搭載場所が決められている。
【0011】ところで、ブランク素子50を測定する水
晶振動子のブランク素子測定用冶具40において、測定
に重要な点は、下電極42と上電極41との平行度と、
位置精度と、ギャップ(間隔)精度であった。下電極4
2と上電極41との平行度はブランク素子50に均一な
電界を与えるために特に重要である。位置精度はブラン
ク素子50を上電極41と下電極42との間の正しい場
所に正確に搭載しブランク素子50全体に電界を印加す
るために重要である。ギャップ精度は上電極41とブラ
ンク素子50との間、換言すると上電極41と下電極4
2との間を常に一定間隔に保ってデータの再現性を得る
ために重要である。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来の水晶振動子のブ
ランク素子の測定装置は、1次共振周波数の測定周波数
範囲が数KHzから高々数10MHzであった。この範
囲の周波数帯域では、従来の測定装置で充分の検査がで
きていた。
【0013】しかしながら、技術の進歩と時代の要請に
よって、ブランク素子50の研磨技術が向上し、水晶振
動子の1次共振周波数が100MHzを越えるように高
周波化が進んできた。1次共振周波数の周波数が100
MHzを越えるようになると、測定系のインピーダンス
と電極のインピーダンスの不整合により、測定波形にリ
ップルが顕著に現れるようになり、正確な測定が困難に
なり、計測値の再現性が無くなってくる。リップル(ri
pple)とは、周波数応答特性上の細かい変動、つまり、
信号に重畳するノイズをいう。
【0014】この発明は、ブランク素子50の1次共振
周波数が100MHzを越えても、計測値の再現性が良
く、ブランク素子50の形状や測定周波数範囲が異なる
多品種のブランク素子50を測定できる水晶振動子のブ
ランク素子測定用冶具の電極を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は上電極及び下電極(区別しない場合に
は、「電極」と略称する)の電極間の平行度を良くする
ために電極保持板を熱収縮の少ないセラミック基板と
し、更に、インピーダンスの不整合によるリップルを極
めて小さくするためにインピーダンス整合回路を搭載で
きる上電極部と下電極部として実現した。上下2つの電
極部は形状は異なるが、発明思想は同一であり、材質も
同一である。上記セラミック基板は固い材質の基板で熱
収縮の小さいサファイア等の基板に置き換えても良い。
次に発明の構成について述べる。
【0016】第1発明は、基本的な発明である。つま
り、上電極と下電極との間に被測定デバイスである水
晶振動子のブランク素子を搭載し、両電極間に所定の掃
引正弦波信号の電界を与えてブランク素子の共振周波数
特性を測定する水晶振動子のブランク素子測定用冶具の
電極部であって、電極が導電性接着剤で固定されて該
電極と基板の一辺までストリップラインが構成されてい
るセラミック基板と、インピーダンス整合回路が構成
されているプリント基板と、入出力端子とプリント基
板とセラミック基板とを固定する電極基板とを有し、
上記入出力端子と上記プリント基板と上記セラミック基
板とを電気的に接続した上電極部及び下電極部を具備し
ている水晶振動子のブランク素子測定用電極である。
【0017】第2発明は電極の平行度を保つための電極
保持基板に関する。つまり、第1発明の電極を取り付け
るセラミック基板に換えて、サファイア基板とした水晶
振動子のブランク素子測定用電極である。
【0018】
【発明の実施の形態】発明の実施の形態を実施例に基づ
き図面を参照して説明する。図1に本発明の上電極部1
0の一実施例の主要部品の組立構成図を、図2に本発明
の下電極部20の一実施例の主要部品の組立構成図を、
図3に本発明のブランク素子測定用電極を用いた水晶振
動子のブランク素子測定用冶具の一例の外観図を示す。
【0019】図1の上電極部10の一実施例の主要部品
の組立構成図について説明する。電極基板11には、イ
ンピーダンス整合回路を構成したプリント基板12と、
上電極41が固定されているセラミック基板13と、入
出力端子43とが止めネジ16i(i=1〜n)で取り
付けられる。従って、電極基板11の材質としては加工
しやすいアルミ板を用い加工して作成する。大きさは一
辺が50mm以下である。
【0020】セラミック基板13は、電極の平行度を保
つための電極保持基板である。セラミックを用いたのは
熱収縮が小さく変形が起こりにくくて電極の平行度を保
て、比較的安価のためである。サファイア基板等の固い
材質の基板を研磨し面の平行度を出して用いても良い。
この基板の一部に上電極取付穴を設けて穴の円周に金メ
ッキを施し、この部分からセラミック基板の一辺に所定
の特性インピーダンスのストリップラインを構成する。
【0021】この上電極取付穴に上電極41を導電性接
着剤で固定する。上電極41の直径Φは、1mm〜5mmと
細いために、一端に直径の大きい上電極固定部分14を
設けてセラミック基板13の上電極取付穴と固定し易い
ようにする。他端の上電極41の表面は測定面であるの
で、極めて平らに研磨する。この上電極41の材質はス
テンレスでよく、セラミック基板13と平行度を保ち導
電性接着剤で固定し易い。
【0022】このセラミック基板13は、上電極41を
取り付けた後に常温硬化型の接着剤で電極基板11に位
置決め穴を利用した位置決め手段で精度良く電極基板1
1に固定される。常温硬化型の接着剤を用いるのは位置
決め精度を向上させるためである。高温硬化型の接着剤
を用いると位置決め後に加熱するため位置決めの精度が
落ちる。
【0023】インピーダンス整合回路を構成したプリン
ト基板12は、入出力端子43とセラミック基板13と
の間に配置される。測定系の特性インピーダンスは通常
50Ωあるいは75Ω系統で設計されることが多い。と
ころが、測定対象物のインピーダンスは50Ωあるいは
75Ω系統でないため、約100MHz以上の高周波の
測定周波数では特にインピーダンスの不整合が顕著に現
れて、リップルが測定に障害するほど発生する。このリ
ップルが測定の再現性を阻害する。このインピーダンス
の不整合を解消するために、測定系と電極とのインピー
ダンス整合回路を設けて解決する。
【0024】この、インピーダンス整合回路は、上電極
部10のプリント基板12及び図2に示す下電極部20
のプリント基板22に設ける。回路は、図示していない
が、3つの抵抗によるπ型インピーダンス変換回路でよ
い。
【0025】電極基板11上に、入出力端子43とプリ
ント基板12とセラミック基板13とを止めネジ16i
で取り付け、信号の伝送路間は相互に金リボンや半田付
けで電気的に接続する。このように上電極部10に電極
基板11を設け、その電極基板11に入出力端子43と
プリント基板12とセラミック基板13を取り付けるこ
とにより、電極の測定面の平行度を確保しながらインピ
ーダンス整合回路付きの電極が容易に構成できる。
【0026】図2は、下電極部20の組立外観図であ
る。上電極部10と外観が若干異なるが内容的にはほぼ
同じである。つまり電極基板21に、入出力端子45
と、下電極42が導電性接着剤で固定されて下電極42
と基板の一辺までストリップラインが構成されているセ
ラミック基板23と、インピーダンス整合回路が構成さ
れているプリント基板22とが止めネジ26i(i=1
〜n)で取り付けられる。そして入出力端子45から下
電極42まで電気的に接続されている。下電極42の直
径Φは10mm程度であり、電極基板21の大きさは一辺
が60mm以下である。他の点は、図1の上電極部10と
同一思想で構成されている。
【0027】図3に本発明のブランク素子測定用電極を
用いて構成した水晶振動子のブランク素子測定用冶具3
0の外観図を示す。図3では、上電極部10及び下電極
部20は蓋で閉めている。そして、上電極部10と下電
極部20との間にマイクロメータ46と移動棒47が組
み込まれ、上電極部10を上下に移動させるようにして
いる。
【0028】ブランク素子50は下電極42と上電極4
1との間に搭載される。測定時にはマイクロメータ46
が駆動し、移動棒47を介して上電極部10を移動さ
せ、電極間の間隔を所定の間隔に設定する。所定の間隔
とは数10μmであり、例えば約40μmに再現性ある
ように駆動して測定を開始する。
【0029】測定時は、例えば所定範囲のサイン波の掃
引周波数信号を入出力端子43から上電極部10に伝送
し上電極41与える。被測定デバイスであるブランク素
子50は自己固有の共振周波数で共振する。下電極42
はブランク素子50の共振状況に応じた強さの応答信号
を下電極部20の入出力端子45から出力する。
【0030】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、この発明は
水晶振動子のブランク素子測定用冶具30の電極部にお
いて、電極保持基板にセラミック基板13、23あるい
はサファイア基板を用いて電極間の平行度を向上させ、
マイクロメータ46と移動棒47で上電極部10を移動
させて電極間のギャップ精度を保持した。
【0031】更に、100MHzを越える1次共振周波
数のブランク素子50に対応して、リップルによる誤測
定を防止するために、プリント基板12、22とセラミ
ック基板13、23とを固定する電極基板11、21を
設け、インピーダンス整合回路を構成したプリント基板
12、22を容易に組立できる構造とした。この発明は
実用に供して大きな効果をもたらす。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の上電極部10の一実施例の主要部品の
組立外観図である。
【図2】本発明の下電極部20の一実施例の主要部品の
組立外観図である。
【図3】本発明のブランク素子測定用電極を用いた水晶
振動子のブランク素子測定用冶具の外観図である。
【図4】本発明に用いられる水晶振動子のブランク素子
の外観図である。
【図5】水晶振動子のブランク素子のリアクタンスの周
波数特性図である。
【図6】従来の水晶振動子のブランク素子測定用冶具4
0及び測定装置の構成図である。
【図7】従来の水晶振動子のブランク素子測定用冶具4
0の上電極41及び下電極42の一例の表面図である。
【符号の説明】
10 上電極部 11、21 電極基板 12、22 プリント基板 13、23 セラミック基板 14 上電極設定部分 16i、26i(i=1〜n) 止めネジ 20 下電極部 30、40 水晶振動子のブランク素子測定用冶具 41 上電極 42 下電極 43、45 入出力端子 46 マイクロメータ 47 移動棒 50 ブランク素子 51 四角形のブランク素子 52 円形のブランク素子 55 制御部 56、57 制御ライン 60 ネットワークアナライザ 61、62 入出力端子 63、64 表示画面 65i(i=1〜n) 調整ボタン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上電極と下電極との間に被測定デバイス
    である水晶振動子のブランク素子を搭載し、上記両電極
    間に所定の掃引正弦波信号の電界を与えてブランク素子
    の共振周波数特性を測定する水晶振動子のブランク素子
    測定用冶具の電極部において、 電極が導電性接着剤で固定されて該電極と基板の一辺ま
    でストリップラインが構成されているセラミック基板
    と、 インピーダンス整合回路が構成されているプリント基板
    と、 入出力端子と上記プリント基板と上記セラミック基板と
    を固定する電極基板とを有し、 上記入出力端子と上記プリント基板と上記セラミック基
    板とを電気的に接続した上電極部及び下電極部を具備し
    ていることを特徴とする水晶振動子のブランク素子測定
    用電極。
  2. 【請求項2】 電極を取り付けるセラミック基板に換え
    て、サファイア基板としたことを特徴とする請求項1記
    載の水晶振動子のブランク素子測定用電極。
JP2000144606A 2000-05-12 2000-05-12 水晶振動子のブランク素子測定用電極 Withdrawn JP2001324527A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000144606A JP2001324527A (ja) 2000-05-12 2000-05-12 水晶振動子のブランク素子測定用電極

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000144606A JP2001324527A (ja) 2000-05-12 2000-05-12 水晶振動子のブランク素子測定用電極

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001324527A true JP2001324527A (ja) 2001-11-22

Family

ID=18651242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000144606A Withdrawn JP2001324527A (ja) 2000-05-12 2000-05-12 水晶振動子のブランク素子測定用電極

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001324527A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006047031A (ja) * 2004-08-03 2006-02-16 Seiko Instruments Inc マイクロリアクターおよびマイクロリアクターシステム
JP2006292630A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Daishinku Corp 圧電振動板の周波数測定方法および圧電振動板の周波数分類方法および圧電振動板の周波数測定装置および圧電振動板の周波数分類装置。
JP2007163369A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Sunrise Kogyo Kk バイオセンサおよび測定・分析システム、並びに、その検査方法
JP2009250939A (ja) * 2008-04-11 2009-10-29 Akim Kk 振動子片特性検査装置及び振動子片特性検査方法
JP2010002357A (ja) * 2008-06-23 2010-01-07 Akim Kk 振動子片特性検査装置及び振動子片特性検査方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006047031A (ja) * 2004-08-03 2006-02-16 Seiko Instruments Inc マイクロリアクターおよびマイクロリアクターシステム
JP4567393B2 (ja) * 2004-08-03 2010-10-20 セイコーインスツル株式会社 マイクロリアクターおよびマイクロリアクターシステム
JP2006292630A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Daishinku Corp 圧電振動板の周波数測定方法および圧電振動板の周波数分類方法および圧電振動板の周波数測定装置および圧電振動板の周波数分類装置。
JP2007163369A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Sunrise Kogyo Kk バイオセンサおよび測定・分析システム、並びに、その検査方法
JP2009250939A (ja) * 2008-04-11 2009-10-29 Akim Kk 振動子片特性検査装置及び振動子片特性検査方法
JP2010002357A (ja) * 2008-06-23 2010-01-07 Akim Kk 振動子片特性検査装置及び振動子片特性検査方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5479931B2 (ja) 圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計
KR20100092916A (ko) 압전 진동자의 제조 방법, 압전 진동자 및 발진기
JP2011190509A (ja) マスク材、圧電振動子、圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計
JP2011160350A (ja) 圧電振動片、圧電振動子、圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計
JP2001324527A (ja) 水晶振動子のブランク素子測定用電極
US20140192628A1 (en) Piezoelectric vibrating piece, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled timepiece
JP5155685B2 (ja) 圧電振動片の製造方法
EP1590642B1 (en) Resonant sensor assembly
US20110285245A1 (en) Anodic wafer bonding method, method of manufacturing packages, method of manufacturing piezoelectric vibrators, oscillator, electronic apparatus, and radio clock
JP2011049664A (ja) パッケージの製造方法、圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計
JP2013074414A (ja) 電子部品の端子接続構造、パッケージ、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計
WO2010097904A1 (ja) 圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計
US20110219593A1 (en) Pattern forming method, pattern forming apparatus, piezoelectric vibrator, method of manufacturing piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled timepiec
US4498045A (en) Apparatus and method for determining surface contour of piezoelectric wafers
JP2000252747A (ja) 水晶発振器およびその製造方法
US4110640A (en) Standard signal generating apparatus
KR200218572Y1 (ko) 세라믹진동자의 압전소자 측정장치
JP4920526B2 (ja) パレット、及び圧電振動子の製造方法
JP2012169788A (ja) パッケージ製造方法、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計
JP2014179797A (ja) 圧電振動片、圧電振動片の実装方法、圧電振動子、発振器、電子機器、および電波時計
US4446432A (en) Method for determining surface contour of piezoelectric wafers
JP4678426B2 (ja) 圧電発振器とその製造方法
JP4730401B2 (ja) 圧電発振器とその製造方法
JP2009206147A (ja) 気密端子および圧電振動子の製造方法、気密端子、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計
JP3633698B2 (ja) 圧電部品の電極構造

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070807