JP2001324422A - 金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したｐｍサンプリング測定装置 - Google Patents
金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したｐｍサンプリング測定装置Info
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- JP2001324422A JP2001324422A JP2000139665A JP2000139665A JP2001324422A JP 2001324422 A JP2001324422 A JP 2001324422A JP 2000139665 A JP2000139665 A JP 2000139665A JP 2000139665 A JP2000139665 A JP 2000139665A JP 2001324422 A JP2001324422 A JP 2001324422A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】流体的にはサンプリング困難な微粒子を効率良
く捕集し、また測定時間内の濃度変化を知ること及びフ
ィルタを繰り返し利用できるようにすること。 【構成】５０μｍ以下の線径の細線を用いて２００メッ
シュ以上の金網を単層または複数層使用して導電性フィ
ルタを使用しフィルタの上流側フィルタに対応して針状
の電極を配置して一定の高電圧を印加し、フィルタに逆
の一定高電圧を印加して０．１μｍ以下の粒径の微粒子
を含む全粒子をフィルタにサンプリングして測定すると
共に、一定の流量と温度条件において微粒子をサンプリ
ングしながらフィルタの前後圧力を連続測定して、サン
プリング経過中の微粒子濃度変化をも検出する。
く捕集し、また測定時間内の濃度変化を知ること及びフ
ィルタを繰り返し利用できるようにすること。 【構成】５０μｍ以下の線径の細線を用いて２００メッ
シュ以上の金網を単層または複数層使用して導電性フィ
ルタを使用しフィルタの上流側フィルタに対応して針状
の電極を配置して一定の高電圧を印加し、フィルタに逆
の一定高電圧を印加して０．１μｍ以下の粒径の微粒子
を含む全粒子をフィルタにサンプリングして測定すると
共に、一定の流量と温度条件において微粒子をサンプリ
ングしながらフィルタの前後圧力を連続測定して、サン
プリング経過中の微粒子濃度変化をも検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は環境大気中の微粒子や
ディーゼル排気ガスなど燃焼排気の微粒子測定に関する
もので、環境技術の分野に利用される。
ディーゼル排気ガスなど燃焼排気の微粒子測定に関する
もので、環境技術の分野に利用される。
【０００２】
【従来の技術】環境大気やディーゼル排気ガスなどの微
粒子のサンプリングには一般にテフロン（登録商標）コ
ーテングしたガラスファィバーなどの繊維状濾紙が用い
られてきた。
粒子のサンプリングには一般にテフロン（登録商標）コ
ーテングしたガラスファィバーなどの繊維状濾紙が用い
られてきた。
【０００３】
【従来技術の問題点】従来のフィルタでは個数濃度とし
て重要な０．０５μｍ（５０ｎｍ）程度以下の粒径の微
粒子の捕集は効率が悪く、最近問題にされている個数濃
度には十分な対応ができない状況にある。またフィルタ
が再利用できないなどの欠点があった。
て重要な０．０５μｍ（５０ｎｍ）程度以下の粒径の微
粒子の捕集は効率が悪く、最近問題にされている個数濃
度には十分な対応ができない状況にある。またフィルタ
が再利用できないなどの欠点があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ディーゼル排気ガスな
ど燃焼排気には０．０５μｍ程度以下の粒子も多く含ま
れており、こうした流体的にはサンプリング困難な微粒
子を効率良く捕集し、また測定時間内の濃度変化を知る
ことが主な課題であり、さらにフィルタを繰り返し利用
できるようにすることも重要な課題である。
ど燃焼排気には０．０５μｍ程度以下の粒子も多く含ま
れており、こうした流体的にはサンプリング困難な微粒
子を効率良く捕集し、また測定時間内の濃度変化を知る
ことが主な課題であり、さらにフィルタを繰り返し利用
できるようにすることも重要な課題である。
【０００５】
【課題を解決するための手段】０．０５μｍ程度以下の
粒子を効率よく捕集するためにはレイノルズ数の小さい
すなわち比較的遅い流速の試料ガスの流れにおいて粒子
の運動に荷電を利用して導電性のあるフィルタに付着さ
せる方法を採用した。微粒子濃度の変化を測定するため
には一定流量においてフィルタ前後の圧力を連続測定す
る方法を選んだ。さらにフィルタ材質が耐蝕性があり、
構造が比較的に単純で強度にも問題の少ない金属メッシ
ュを利用して洗浄によるフィルタの再生利用が可能であ
る手段を用いた。とくに微粒子の捕集量を大きくできる
ようにする場合はより細い金属線ファイバーを利用して
表面積増大ができるようにした。さらに微粒子の付着に
よるフィルタ前後の圧力の増加を適当に大きくして測定
を容易にして感度を良くするために、金属メッシュフィ
ルタの下流側に通常のガラス繊維濾紙などのフィルタを
合わせて利用する手段も可能とした。
粒子を効率よく捕集するためにはレイノルズ数の小さい
すなわち比較的遅い流速の試料ガスの流れにおいて粒子
の運動に荷電を利用して導電性のあるフィルタに付着さ
せる方法を採用した。微粒子濃度の変化を測定するため
には一定流量においてフィルタ前後の圧力を連続測定す
る方法を選んだ。さらにフィルタ材質が耐蝕性があり、
構造が比較的に単純で強度にも問題の少ない金属メッシ
ュを利用して洗浄によるフィルタの再生利用が可能であ
る手段を用いた。とくに微粒子の捕集量を大きくできる
ようにする場合はより細い金属線ファイバーを利用して
表面積増大ができるようにした。さらに微粒子の付着に
よるフィルタ前後の圧力の増加を適当に大きくして測定
を容易にして感度を良くするために、金属メッシュフィ
ルタの下流側に通常のガラス繊維濾紙などのフィルタを
合わせて利用する手段も可能とした。
【０００６】
【実施例】図１、図２、図３、図４、図５および図６に
ついて説明する。図１の測定装置１の構成例では、微粒
子を含む燃焼排気の試料ガス１１は一定温度に保たれ温
度計１７で温度を測定されたサンプリング経路１２を経
由して測定捕集部１０に導かれる。測定捕集部１０では
図２（ａ）に示すような耐蝕性に富む金属材料で５０μ
ｍ以下の線径の細線を用いて２００メッシュ以上の高い
密度で組み編んで構成した金網を単層または複数層利用
して微粒子を捕集するフィルタ１００を構成して用い
る。このフィルタ１００の周辺部１０５の端部はレーザ
や電子ビームなどによる溶断によって形成されて、端部
の細線の離脱などを防ぐと共に外周寸法の精度確保を図
っている。フィルタ１００はその周辺部１０５を耐熱性
Ｏ−リング１０６などを用いて気密に保持して用いる。
フィルタ１００は絶縁フィルタホルダ７に配置され、装
脱着が容易で測定前後に重量の精密測定が可能な構造で
ある。フィルタ１００は金網を単層で用いることもある
が、細線の方向を考慮して複層にして用いることが多
い。測定捕集部１０ではフィルタ１００の上流側の圧力
Ｐ１と下流側の圧力Ｐ２を測定する導管１４と導管１５
が配置され、さらにフィルタ１００は電気的に絶縁され
て、高圧電源（負）２、高圧電源（正）３、電圧計４、
電圧計５、高圧ケーブル６をもつ回路から高圧接触端子
１６によって高電圧が加えられるようにしてある。フィ
ルタ１００の上流側にはフィルタ１００と適当な距離を
保ち、適切な形状の針状電極５０が配置されている。フ
ィルタ１００を通過した試料ガス１１は保護用フィルタ
２１を経由し、マスフローコントローラ２２によって質
量流量を一定に制御されながら、ポンプ２３で吸引され
排出管２４から排出される。試料ガス１１の中に含まれ
る粒子は針状電極５０の近辺において電界強度の急激な
変化から帯電して、荷電粒子となる。針状電極５０には
例えば−２ｋＶ程度の負電圧を加えフィルタ１００には
＋１．５ｋＶ程度の正電圧を加える。測定捕集部１０の
内部ではフィルタ１００と針状電極５０以外は電位０に
保ち、針状電極５０の外周には放電を防止する絶縁部材
５５が配置される。針状電極５０とフィルタ１００との
間には僅かな電流が流れる状態におかれて、微粒子は荷
電された状況で流れる。これらの粒子のうち大粒子の一
部３１は形状の関係から図２（ｂ）の拡大図に示すよう
にフィルタ１００の第１層の流路１１０を構成する金属
線１０１と金属線１０２との間に捕集されるが、多くの
微粒子３２は遅い流速と粒子の荷電に影響されて電気的
な引力でフィルタ１００の金属線の表面の各部位に付着
する。とくに０．１μｍ以下の粒子は流体的な力よりも
電気的な力の影響がより大きくなって効率的に捕集され
る。フィルタ１００の第１層の金属線１０１と１０２お
よび第２層の金属線１０３と１０４に付着した微粒子は
フィルタの流路１１０を逐次狭めて、一定流量における
フィルタ１００の抵抗すなわち差圧ΔＰ＝（Ｐ１−Ｐ
２）を図３の例のように増大させる。図３の例では微粒
子の濃度ｃが一定な試料ガスの場合であり、横軸の時間
軸が捕集された微粒子の質量に対応している。捕集され
た微粒子の質量とΔＰとの関係は図３の例のようにある
捕集量以下の範囲では一定の直線的な関係が成り立ち差
圧ΔＰから捕集量を求めることが容易にできる。このよ
うにして差圧の時間微分値が微粒子の濃度に比例するこ
とから、測定時間内の微粒子濃度の変化をリアルタイム
で連続的に測定することができる。
ついて説明する。図１の測定装置１の構成例では、微粒
子を含む燃焼排気の試料ガス１１は一定温度に保たれ温
度計１７で温度を測定されたサンプリング経路１２を経
由して測定捕集部１０に導かれる。測定捕集部１０では
図２（ａ）に示すような耐蝕性に富む金属材料で５０μ
ｍ以下の線径の細線を用いて２００メッシュ以上の高い
密度で組み編んで構成した金網を単層または複数層利用
して微粒子を捕集するフィルタ１００を構成して用い
る。このフィルタ１００の周辺部１０５の端部はレーザ
や電子ビームなどによる溶断によって形成されて、端部
の細線の離脱などを防ぐと共に外周寸法の精度確保を図
っている。フィルタ１００はその周辺部１０５を耐熱性
Ｏ−リング１０６などを用いて気密に保持して用いる。
フィルタ１００は絶縁フィルタホルダ７に配置され、装
脱着が容易で測定前後に重量の精密測定が可能な構造で
ある。フィルタ１００は金網を単層で用いることもある
が、細線の方向を考慮して複層にして用いることが多
い。測定捕集部１０ではフィルタ１００の上流側の圧力
Ｐ１と下流側の圧力Ｐ２を測定する導管１４と導管１５
が配置され、さらにフィルタ１００は電気的に絶縁され
て、高圧電源（負）２、高圧電源（正）３、電圧計４、
電圧計５、高圧ケーブル６をもつ回路から高圧接触端子
１６によって高電圧が加えられるようにしてある。フィ
ルタ１００の上流側にはフィルタ１００と適当な距離を
保ち、適切な形状の針状電極５０が配置されている。フ
ィルタ１００を通過した試料ガス１１は保護用フィルタ
２１を経由し、マスフローコントローラ２２によって質
量流量を一定に制御されながら、ポンプ２３で吸引され
排出管２４から排出される。試料ガス１１の中に含まれ
る粒子は針状電極５０の近辺において電界強度の急激な
変化から帯電して、荷電粒子となる。針状電極５０には
例えば−２ｋＶ程度の負電圧を加えフィルタ１００には
＋１．５ｋＶ程度の正電圧を加える。測定捕集部１０の
内部ではフィルタ１００と針状電極５０以外は電位０に
保ち、針状電極５０の外周には放電を防止する絶縁部材
５５が配置される。針状電極５０とフィルタ１００との
間には僅かな電流が流れる状態におかれて、微粒子は荷
電された状況で流れる。これらの粒子のうち大粒子の一
部３１は形状の関係から図２（ｂ）の拡大図に示すよう
にフィルタ１００の第１層の流路１１０を構成する金属
線１０１と金属線１０２との間に捕集されるが、多くの
微粒子３２は遅い流速と粒子の荷電に影響されて電気的
な引力でフィルタ１００の金属線の表面の各部位に付着
する。とくに０．１μｍ以下の粒子は流体的な力よりも
電気的な力の影響がより大きくなって効率的に捕集され
る。フィルタ１００の第１層の金属線１０１と１０２お
よび第２層の金属線１０３と１０４に付着した微粒子は
フィルタの流路１１０を逐次狭めて、一定流量における
フィルタ１００の抵抗すなわち差圧ΔＰ＝（Ｐ１−Ｐ
２）を図３の例のように増大させる。図３の例では微粒
子の濃度ｃが一定な試料ガスの場合であり、横軸の時間
軸が捕集された微粒子の質量に対応している。捕集され
た微粒子の質量とΔＰとの関係は図３の例のようにある
捕集量以下の範囲では一定の直線的な関係が成り立ち差
圧ΔＰから捕集量を求めることが容易にできる。このよ
うにして差圧の時間微分値が微粒子の濃度に比例するこ
とから、測定時間内の微粒子濃度の変化をリアルタイム
で連続的に測定することができる。
【０００７】差圧の測定には導管１４と導管１５とに連
結された圧カセンサ８が用いられ、測定値はデータ処理
用コンピュータ９において計算され、微粒子濃度などが
求められる。
結された圧カセンサ８が用いられ、測定値はデータ処理
用コンピュータ９において計算され、微粒子濃度などが
求められる。
【０００８】金属メッシュフィルタでは表面積が制約と
なって捕集できる微粒子の量を高い測定精度で測定する
のに困難なことがある。図４の例ではフィルタの表面積
を格段に増大できる手段としてステンレス線の極めて細
いものをファイバー１１０として不織布状１１１にして
２枚の金属メッシュ１０１´，１０２´と１０３´，１
０４´との間に挟んで構成したフィルタの構造を示して
いる。この場合はフィルタとして厚みがあり、微粒子の
捕集量を大きくすることができる。
なって捕集できる微粒子の量を高い測定精度で測定する
のに困難なことがある。図４の例ではフィルタの表面積
を格段に増大できる手段としてステンレス線の極めて細
いものをファイバー１１０として不織布状１１１にして
２枚の金属メッシュ１０１´，１０２´と１０３´，１
０４´との間に挟んで構成したフィルタの構造を示して
いる。この場合はフィルタとして厚みがあり、微粒子の
捕集量を大きくすることができる。
【０００９】図５の例は金属メッシュフィルタ１０１´
´，１０２´´の下流側に通常のガラス繊維濾紙１１２
を重ねて利用する例を示す。この場合細かい粒子が荷電
の効果で金属メッシュに付着し、凝集などでやや径の大
きい粒子が主にガラス繊維濾紙に付着して全体のフィル
タによる圧力増加を主に支配する。そして金属メッシュ
に捕集される微粒子の割合を電極と金属メッシュに印加
する電圧を適当に選定することによって適切に選定でき
る。
´，１０２´´の下流側に通常のガラス繊維濾紙１１２
を重ねて利用する例を示す。この場合細かい粒子が荷電
の効果で金属メッシュに付着し、凝集などでやや径の大
きい粒子が主にガラス繊維濾紙に付着して全体のフィル
タによる圧力増加を主に支配する。そして金属メッシュ
に捕集される微粒子の割合を電極と金属メッシュに印加
する電圧を適当に選定することによって適切に選定でき
る。
【００１０】測定捕集部１０の温度Ｔｓは温度計２ｂで
測定され、外部のヒータ２５などによって制御される
が、温度Ｔｓを２００℃以上の高温度に保つことによっ
て、微粒子の内でも高沸点成分だけを捕集する事も可能
であり、簡単な成分分析の可能性を秘めている。フィル
タ１００の温度は微粒子のフィルタへの吸脱着に関係し
て重要な要素である。
測定され、外部のヒータ２５などによって制御される
が、温度Ｔｓを２００℃以上の高温度に保つことによっ
て、微粒子の内でも高沸点成分だけを捕集する事も可能
であり、簡単な成分分析の可能性を秘めている。フィル
タ１００の温度は微粒子のフィルタへの吸脱着に関係し
て重要な要素である。
【００１１】図６はディーゼル排気ガスなどのダィリュ
ーショントンネル６０から同じサンプリングプローブ６
１を経由して、測定装置１と測定装置１´を並列的に配
置し、それぞれの測定装置でフィルタの温度を含む測定
捕集部１０の温度を異なるように設定して温度による微
粒子成分に関する情報を得ようとする装置の構成を示す
例である。例えば一方の測定装置１の測定部温度を３５
℃に設定し、他の測定装置１´の測定部温度を２５０℃
とすると微粒子に含まれる低沸点成分の量や比率を簡便
に測定することが可能となる。
ーショントンネル６０から同じサンプリングプローブ６
１を経由して、測定装置１と測定装置１´を並列的に配
置し、それぞれの測定装置でフィルタの温度を含む測定
捕集部１０の温度を異なるように設定して温度による微
粒子成分に関する情報を得ようとする装置の構成を示す
例である。例えば一方の測定装置１の測定部温度を３５
℃に設定し、他の測定装置１´の測定部温度を２５０℃
とすると微粒子に含まれる低沸点成分の量や比率を簡便
に測定することが可能となる。
【００１２】微粒子を捕集したフィルタ１００は測定捕
集部から外されて、重量測定され、捕集前の測定重量と
の比較から測定時間内の捕集量すなわち平均微粒子濃度
の実測定値が求められる。また捕集された微粒子は適切
な溶剤などで抽出され、分析などに供試することができ
る。さらにこのフィルタ１００は適当な洗剤や洗浄器の
利用によって捕集した微粒子などを完全に除去すること
が可能で、再使用することもできる。
集部から外されて、重量測定され、捕集前の測定重量と
の比較から測定時間内の捕集量すなわち平均微粒子濃度
の実測定値が求められる。また捕集された微粒子は適切
な溶剤などで抽出され、分析などに供試することができ
る。さらにこのフィルタ１００は適当な洗剤や洗浄器の
利用によって捕集した微粒子などを完全に除去すること
が可能で、再使用することもできる。
【００１３】
【発明の効果】この発明によるＰＭサンプリング装置で
は環境大気やディーゼル排気ガスなどの微粒子につい
て、荷電を利用して０．０１μｍ以下の極めて細かい微
粒子までを含めて効率良く耐蝕性の金属メッシュフィル
タに捕集することができ、フィルタ前後の差圧測定から
測定時間中の微粒子濃度の変化を知ることもできる。フ
ィルタは再生利用することが可能であり、環境負荷の軽
減とコスト面でも有利な装置といえる。
は環境大気やディーゼル排気ガスなどの微粒子につい
て、荷電を利用して０．０１μｍ以下の極めて細かい微
粒子までを含めて効率良く耐蝕性の金属メッシュフィル
タに捕集することができ、フィルタ前後の差圧測定から
測定時間中の微粒子濃度の変化を知ることもできる。フ
ィルタは再生利用することが可能であり、環境負荷の軽
減とコスト面でも有利な装置といえる。
【００１４】
【図１】本発明によるＰＭサンプリング装置を示す構成
説明図
説明図
【図２】（ａ）本発明に用いる金属メッシュフィルタの
構造例を示す説明図 （ｂ）本発明に用いる金属メッシユフィルタの構造と微
粒子付着の拡大図
構造例を示す説明図 （ｂ）本発明に用いる金属メッシユフィルタの構造と微
粒子付着の拡大図
【図３】本発明によるフィルタ前後の差圧と微粒子捕集
量の関係の測定例を示すグラフ
量の関係の測定例を示すグラフ
【図４】他の金属メッシュフィルタを示す構成説明図
【図５】濾紙を組み込んだ金属メッシュフィルタを示す
構成説明図
構成説明図
【図６】本発明の他の実施例に係るＰＭサンプリング装
置を示す構成説明図
置を示す構成説明図
【符号の説明】 １ 測定装置 ２ 高圧電源（負） ３ 高圧電源（正） ４ 電圧計 ５ 電流計 ６ 高圧ケーブル ７ 絶縁フィルタホルダ ８ 圧力センサ ９ コンピュータ １０ 測定捕集部 １１ 試料ガス １２ サンプリング経路 １４ 導管 １５ 導管 １６ 高圧接触端子 １７ 温度計 ２１ 保護用フィルタ ２２ マスフローコントローラ ２３ ポンプ ２４ 排出管 ２５ 外部のヒータ ２６ 温度計 ３０ 微粒子 ３１ 大粒子の一部 ３２ 多くの微粒子 ５０ 針状電極 ６０ ダィリューショントンネル ６１ サンプリングプローブ １００ フィルタ １０１ 金属線 １０２ 金属線 １０３ 金属線 １０４ 金属線 １０５ 周辺部 １０６ 耐熱性Ｏ−リング １１０ 流路 １１１ 不織布状１１１ １０１´ 金属メッシュ １０２´ 金属メッシュ １０３´ 金属メッシュ １０４´ 金属メッシュ １１２ ガラス繊維濾紙
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｂ０３Ｃ 3/47 Ｂ０３Ｃ 3/14 Ａ (72)発明者 浦川 英俊 東京都世田谷区玉堤１丁目19番４号 株式 会社司測研内 (72)発明者 斎藤 敬三 茨城県つくば市並木１丁目２番地 工業技 術院機械技術研究所内 (72)発明者 篠崎 修 茨城県つくば市並木１丁目２番地 工業技 術院機械技術研究所内 (72)発明者 瀬戸 章文 茨城県つくば市並木１丁目２番地 工業技 術院機械技術研究所内 Ｆターム(参考） 4D054 AA02 BA01 BB04 BC03 BC08 BC12 BC21 BC24 CA14 CA20
Claims (7)
- 【請求項１】 強度と耐熱耐蝕性に富む金属材料で５０
μｍ以下の線径の細線を用いて２００メッシュ以上の高
い密度で組み編んで構成した金網を単層または複数層利
用して導電性フィルタを構成してＰＭ（微粒子）をサン
プリング測定する装置において、フィルタの上流側フィ
ルタに対応して針状の電極を単数または複数配置して一
定の高電圧を印加し、フィルタに逆の一定高電圧を印加
して０．１μｍ以下の粒径の微粒子を含む全粒子を高い
捕集効率でフィルタにサンプリングして質量を測定する
と共に、一定の流量と温度条件において微粒子をサンプ
リングしながらフィルタの前後圧力を連続測定して、サ
ンプリング経過中の微粒子濃度変化をも検出することが
できる金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したＰＭ
サンプリング測定装置。 - 【請求項２】 前項１のＰＭサンプリング装置において
フィルタの金網を複数層用いてその金網層の間に１０μ
ｍ以下の線径の金属線を含む耐熱耐蝕性に富む金属ファ
イバーを不織布状の層として配置して、表面積が格段に
増大されたフィルタを構成し、０．１μｍ以下の粒径の
微粒子を含む全粒子を高い捕集効率でフィルタにサンプ
リングして質量を測定すると共に、一定の流量と温度条
件において微粒子をサンプリングしながらフィルタの前
後圧力を連続測定して、サンプリング経過中の微粒子濃
度変化をも検出することができる金属メッシュフィルタ
と電圧印加を利用したＰＭサンプリング測定装置。 - 【請求項３】 前項１のＰＭサンプリング装置において
フィルタの金網を一層以上用いてその下流側に通常の非
導電性のガラス繊維などで作られたファイバーフィルタ
を合わせて配置し、０．１μｍ以下の粒径の微粒子は主
として金網のフィルタに捕集され、残りの微粒子は通常
のファイバーフィルタに捕集されるように構成し、一定
の流量と温度条件において微粒子をサンプリングして全
質量を測定するとともに、合わされたフィルタの前後圧
力を連続測定して、サンプリング経過中の微粒子濃度変
化をも検出することができる金属メッシュフィルタと電
圧印加を利用したＰＭサンプリング測定装置。 - 【請求項４】 前項１，２，３のＰＭサンプリング装置
において温度条件を常温から２００℃以上の範囲に亘っ
て変更設定できるようにし、温度の相違による捕集量の
変化からＰＭ成分の解析が可能となるようにした、一定
の流量と温度条件において微粒子をサンプリングしなが
らフィルタの前後圧力を連続測定して、サンプリング経
過中の微粒子濃度変化をも検出することができる金属メ
ッシュフィルタと電圧印加を利用したＰＭサンプリング
測定装置。 - 【請求項５】 前項３のＰＭサンプリング装置において
２組以上の測定装置を並列的に配置し、それぞれの温度
条件を適切な相違のある条件に設定し、連続測定の実時
間にＰＭ成分の解析が可能となるようにした、複数の装
置により一定の流量と温度条件において微粒子をサンプ
リングしながらフィルタの前後圧力を連続測定して、サ
ンプリング経過中の微粒子濃度変化をも検出することが
できる金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したＰＭ
サンプリング測定装置。 - 【請求項６】 前項１，２，３，４の金属メッシュフィ
ルタにおいて耐熱耐蝕性の金属材料としてステンレス鋼
を用いたことを特徴とするＰＭサンプリング装置。 - 【請求項７】 ＳＵＳ ３１６，３０４のように耐蝕性
に富む金属材料で５０μｍ以下の線径のファイバを濾過
材として、適切な保持材を用いて平面状にフィルタを構
成し微粒子（ＰＭ）を捕集するフィルタ装置においてフ
ィルタの上流側に針状の電極を単数または複数フィルタ
面に対応して配置し、一定の流量で微粒子を含む試料ガ
スをフィルタに通過させて微粒子をサンプリングしなが
らフィルタの前後圧力を連続測定して、サンプリング経
過中の微粒子濃度を検出すると共にフィルタに捕集され
た０．１μｍ以下の粒径の微粒子を含む全粒子濃度を高
い捕集効率で測定することができる耐蝕性金属ファイバ
フィルタと電圧印加を利用したＰＭサンプリング測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000139665A JP3494952B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したｐｍサンプリング測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000139665A JP3494952B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したｐｍサンプリング測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP3494952B2 JP3494952B2 (ja) | 2004-02-09 |
Family
ID=18647073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000139665A Expired - Fee Related JP3494952B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 金属メッシュフィルタと電圧印加を利用したｐｍサンプリング測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3494952B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN114460195A (zh) * | 2022-01-27 | 2022-05-10 | 河北科技大学 | 一种大气颗粒物中全氟和多氟烷基化合物的采样检测方法 |
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-
2000
- 2000-05-12 JP JP2000139665A patent/JP3494952B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3494952B2 (ja) | 2004-02-09 |
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