JP2001309643A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

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JP2001309643A JP2001078890A JP2001078890A JP2001309643A JP 2001309643 A JP2001309643 A JP 2001309643A JP 2001078890 A JP2001078890 A JP 2001078890A JP 2001078890 A JP2001078890 A JP 2001078890A JP 2001309643 A JP2001309643 A JP 2001309643A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源の起電圧低下時の、昇圧効率の低下を防
止する発電昇圧システムの提供。 【解決手段】 熱電変換素子の起電圧Vpを検出し、検
出信号P3を出力すると共に間欠パルス発生回路104
の間欠パルス信号P2で間欠動作する電圧検出回路10
5と、電圧検出回路105の検出信号P3を電圧検出回
路が停止している間記憶し、記憶信号P4として昇圧回
路107に出力する信号記憶回路106を設け、昇圧回
路107は、該記憶信号P4に応じて昇圧倍数を可変す
る構成とする。最適な昇圧倍数で目的の昇圧電圧に昇圧
できるので、熱電変換素子の起電圧が変動した場合の昇
圧効率の低下を防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、MOSトランジス
タと容量素子で構成した昇圧回路を内蔵する電子機器に
関する。
【0002】
【従来の技術】図18に、従来の昇圧システムを示す。
図18において、電源1801は、起電圧Vpを発生す
る。発振回路1802は、電源1801の起電圧Vpで
駆動し、クロック信号P1を出力する。昇圧回路180
3は、クロック信号P1を用いて電源1801の電圧を
昇圧し、昇圧電圧Vddを昇圧電圧出力端子1804に
出力する。
【0003】図19に、図18で示す昇圧回路1803
の回路図を示す。図19において、1901は、図18
で示す電源1801の起電圧Vpを入力する起電圧入力
端子、1902は、図18で示す発振回路1802から
出力したクロック信号P1の一つである第1のクロック
信号P11を入力する第1のクロック信号入力端子、1
903は、前記クロック信号P1の一つである第2のク
ロック信号P12を入力する第2のクロック信号入力端
子、1904は、昇圧電圧Vddを出力する昇圧電圧出
力端子、1905は昇圧ユニット、1914は、ダイオ
ードである。
【0004】また、昇圧ユニット1905を直列接続す
る個数が多いほど昇圧倍数は多くなる。昇圧ユニット1
905において、1910は、入力端子、1911は、
昇圧電圧出力端子、1912は、第1のクロック信号P
11を入力する第1のクロック信号入力端子、1913
は、第2のクロック信号P12を入力する第2のクロッ
ク信号入力端子であり、1906,1907は、ダイオ
ード、1908,1909は、コンデンサーである。
【0005】なお、上記第1のクロック信号P1を反転
した信号が、第2のクロック信号P2である。また、回
路動作については、既に良く知られているので省略す
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の電圧昇圧シ
ステムは、先ず、昇圧回路においては、ダイオードが複
数必要であり、該ダイオードによる損失があるという欠
点がある。該ダイオードには、順方向電圧降下を減らす
ためにショットキーダイオードが良く用いられる。しか
し、該ショットキーダイオードを用いても、順方向電圧
損失による電圧損失、電力損失は避けられず、該ショッ
トキーダイオード1個につき0.2V程度の損失がある
という問題がある。
【0007】次に、上記従来の昇圧システムにおいて
は、電源の電圧を検出する手段が無いので、電源の電圧
に応じて、昇圧回路の昇圧倍数を適切な値に設定できな
い。つまり、該昇圧システムの昇圧電圧をある電圧で2
次電池等に充電する場合の、電源の電圧が高く、昇圧倍
数が少なくても充電できる場合でも、わざわざ損失の大
きい高い昇圧倍数の昇圧回路を介して充電するため、充
電効率が低下したり、昇圧電圧で、IC等を駆動する場
合、電源の電圧がさらに高くなり、昇圧電圧がIC等の
駆動電圧の上限をオーバーしたりといった問題がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、第1の手段と
して、線形スイッチング素子であるMOSトランジスタ
を用いて、コンデンサーを充放電させ、昇圧を行う昇圧
回路を設ける。MOSトランジスタは、シリコン基板上
に集積できるので、従来の昇圧回路よりも小型化でき
る。また、ダイオードの様な非線形素子を使用しないの
で、昇圧損失の少ない昇圧回路が得られ、効率の良い昇
圧システムが得られる。
【0009】第2の手段として、電圧検出回路を設け、
電源の電圧を検出し、電源の電圧に応じた検出信号出力
し、昇圧回路は、該検出信号を受け、昇圧倍数を変化す
る構成とした。該構成とする事で、電源の電圧に応じた
昇圧倍数で昇圧し、昇圧電圧を2次電池等に充電できる
ので、充電損失が少なく、さらに、昇圧電圧でIC等を
駆動する場合、電源の電圧がある程度高くなっても、昇
圧電圧がIC等の駆動電圧の上限をオーバーする事を防
止できる昇圧システムが得られる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下では、P型基板Nウェルプロ
セスでNチャネル型MOSトランジスタとPチャネル型
MOSトランジスタを構成した場合について述べる。本
発明の昇圧システムの昇圧回路は、Nチャネル型MOS
トランジスタ、あるいは、Pチャネル型MOSトランジ
スタで、コンデンサーを充放電することで昇圧する構成
とする。
【0011】上記本発明の昇圧システムの昇圧回路は、
上記構成を基本とする方式であれば、どの様な方式でも
良いが、第1の方式として、コンデンサーの第1の電極
をGND端子に接続し、該コンデンサーの第2の電極に
入力電圧を供給し、その後、該第1の電極に入力電圧を
供給することで、該第2の電極に発生した入力電圧の2
倍の昇圧電圧を出力するという行為を繰り返すことによ
り2倍昇圧する昇圧回路を複数直列接続し、(2n)倍
昇圧を行う方式、あるいは、第2の方式として、複数の
コンデンサーを並列に充電し、その後、直列に接続する
ことによって(1+n)倍昇圧を行う方式、さらには、
第3の方式として、前記従来の昇圧回路のダイオードを
MOSトランジスタに変えた(1+n)倍昇圧を行う方
式の3方式を推奨する。
【0012】また、本発明の昇圧システムの昇圧回路
は、該昇圧回路を構成するMOSトランジスタは、GN
D電位に放電する役目のMOSトランジスタは、Nチャ
ネル型MOSトランジスタで良いが、電圧を供給する役
目のMOSトランジスタは、その供給する電圧に応じて
Nチャネル型MOSトランジスタとPチャネル型MOS
トランジスタを使い分けることでより高昇圧効率化が図
れ、さらに、より低電圧からの昇圧が可能になる。例え
ば、該MOSトランジスタが供給する電圧が、Pチャネ
ル型MOSトランジスタのしきい値電圧の絶対値より
も、ある程度高い電圧以上であれば、Pチャネル型MO
Sトランジスタを用い、その電圧未満であれば、Nチャ
ネル型MOSトランジスタを用いると良い。
【0013】また、本発明の昇圧システムの発振回路
は、該発振回路からのクロック信号をゲートに受けるM
OSトランジスタの能力を最大限に発揮させるために、
一番高い電圧、つまり、昇圧電圧の波高値のクロック信
号とするために、電源は昇圧電圧とすることを推奨す
る。さらに、電源の電圧が変動する場合、電源の電圧に
応じた最適な昇圧電力を得るため、クロック信号を電源
の電圧に応じて変動するようにする。つまり、電源の電
圧に応じて、前記発振回路は出力するクロック信号の周
波数を変動するようにすることを推奨する。
【0014】一方、本発明の昇圧システムは、電源の電
圧を検出する電圧検出回路を設け、該電圧検出回路の出
力する電源の電圧に応じた検出信号に応じて昇圧回路の
昇圧倍数を変更する構成とすることを推奨する。上記本
発明の電圧検出回路は、低消費電流化のため間欠動作さ
せることを推奨し、該電圧検出回路を間欠動作させるた
めに、新たに間欠パルス発生回路と信号記憶回路を設
け、該電圧検出回路を、該間欠パルス発生回路で発生さ
せた間欠パルスで間欠動作させ、該電圧検出回路の動作
時に出力する検出信号を、該信号記憶回路を介して昇圧
回路に入力し、該電圧検出回路が動作しているときの検
出信号を、次回の動作まで昇圧回路に出力し続ける構成
とすることを推奨する。
【0015】さらに、本発明の昇圧システムの各回路
は、さらなる低電圧動作化のために、該昇圧システムの
各回路を構成するMOSトランジスタは、Pチャネル型
MOSトランジスタならP型のゲート、Nチャネル型M
OSトランジスタならN型のゲートで構成、つまり、し
きい値電圧の絶対値を下げても、オフリーク電流を抑え
られる構成とすることで、各MOSトランジスタのしき
い値電圧の絶対値を低くすることを推奨する。
【0016】また、本昇圧システムの電源は、起電圧を
発生する物であればどんな物でよいが、起電圧の変動す
る熱電変換素子、太陽電池、電圧を充電したコンデンサ
ーの昇圧に有効であり、特に、上記した様に本昇圧シス
テムは、低電圧動作化、高昇圧効率化できる特徴を有し
ているので、容積の割には起電圧が得られない熱電変換
素子の昇圧に用いることで、熱電変換素子の容積を縮小
でき、熱電変換素子を電源とした腕時計等の小型の携帯
機器が実現できる。
【0017】
【実施例】本発明における実施例を図を元に説明する。
なお、断りがない限り、電源は、低電位側をGND端
子、高電位側をVdd端子とし、回路は、P基板Nウェ
ルプロセスで作製したCMOSトランジスタで、P基板
をGND端子とした構成の場合について述べる。よっ
て、全Nチャネル型MOSトランジスタの基板は共通で
ありGND端子に接続する。また、”ハイ”は昇圧電圧
Vddの電圧レベルの信号、”ロウ”はGNDレベルの
信号を意味する。
【0018】図1は、本発明における実施例である熱電
変換素子の昇圧システムのブロック図である。熱電変換
素子101と発振回路103と間欠パルス発生回路10
4と電圧検出回路105と信号記憶回路106と昇圧回
路107とダイオード102と平滑コンデンサー10
8、109とで構成している。熱電変換素子101は、
ゼーベック効果の原理によって、発電する素子であり、
図示してはいないが、Bi?Te系の材料に不純物を導
入し、P形半導体とN形半導体を形成し、各々を接続し
た素子を複数個直列接続した構成であり、低電位側の電
極がGND端子であり、発振回路103と間欠パルス発
生回路104と電圧検出回路105と信号記憶回路10
6と昇圧回路107のGND端子に接続し、もう一方の
電極から起電圧Vpをとり出す構成であり、内部抵抗約
2kΩ、起電圧は、温度差1℃で、約0.4Vである。
【0019】発振回路103は、電源端子はVddに接
続し、前記Vpに応じて、発振周波数が変動する構成で
ある。間欠パルス発生回路104は、電源端子はVdd
に接続し、該発振回路101が出力したクロック信号P
1を元に間欠パルス信号P2を発生させる回路である。
【0020】電圧検出回路105は、電源端子はVdd
に接続し、前記Vpを検出する回路であり、該Vpに応
じた検出信号P3を出力し、該間欠パルス発生回路10
4からの間欠パルス信号P2で、間欠動作する構成であ
る。信号記憶回路106は、電源端子はVddに接続
し、該電圧検出回路105の動作時の検出信号P3を、
該電圧検出回路105の次回の動作時まで記憶し、その
記憶した検出信号P3を記憶信号P4として出力する回
路である。
【0021】昇圧回路107は、電源端子はVddに接
続し、前記Vpを該Vpよりも高い電圧の昇圧電圧Vd
dに昇圧する回路であり、クロック信号P1で各MOS
トランジスターをオン、オフし、コンデンサーを充放電
することで、昇圧電圧Vddを発生させるとともに、記
憶信号P4に応じて昇圧倍数を切り替える構成である。
【0022】ダイオード102は、Vddに昇圧電圧が
溜まっていない初期段階に、熱電変換素子101の起電
圧Vpを昇圧の為の電力として使用する為と、前記Vp
が十分高く、昇圧行為が必要ない場合に、そのまま、V
ddに供給するために設けてあり、熱電変換素子101
とVdd間に、熱電変換素子101からVddの方向が
順方向となるように接続する。
【0023】さらに、熱電変換素子101の出力と、V
ddには、片側をGND端子に接続した平滑コンデンサ
ー108,109を設けてある。上記構成をとることに
より、昇圧回路107の昇圧倍数を、熱電変換素子10
1の起電圧に応じて切り替えることができるので、効率
良く前記Vpを昇圧電圧Vddに昇圧できるとともに、
前記Vpが高くなりすぎた場合におこる昇圧電圧Vdd
の過電圧を防止できる。
【0024】さらに、電圧検出回路105を間欠動作す
る事により、電圧検出回路105の消費電力を少なく抑
えることができる。つまり、昇圧に必要な電力を抑える
ことができるので、昇圧効率が向上する。なお、ダイオ
ード102は、順方向の電圧ドロップの小さいショット
キーダイオード、ダイオード接続したスレッショルド電
圧の低い(0.1V)MOSトランジスタ、あるいは、
ダイオード接続したスレッショルド電圧が低く(0.1
V)ゲートとソースあるいはドレインがP型あるいはN
型であるMOSトランジスタを推奨する。
【0025】また、本実施例では、熱電変換素子を例に
挙げて説明したが、他の外部エネルギーにより発電する
素子の起電圧を昇圧するため、あるいは、コンデンサー
や、2次電池などの蓄電素子の電圧を昇圧するためにも
応用できることは言うまでもない。図2は、図1に示す
昇圧回路107の回路図である。第1昇圧回路201第
2昇圧回路202と第3昇圧回路と第4昇圧回路と2入
力NAND回路209,211,213とインバータ回
路210,211,214とPチャネル型MOSトラン
ジスタ223,224と平滑コンデンサー205,20
6,207とダイオード208とで構成している。
【0026】先ず、各構成要素の接続状態を説明する。
熱電変換素子の起電力であるVpを入力する起電力入力
端子215は、第1昇圧回路201の入力端子と、ダイ
オード208の、プラス側の電極に接続する。第1昇圧
回路の出力端子は、一方の電極をGND端子に接続した
平滑コンデンサー205のもう片方の電極と、第2昇圧
回路202の入力端子とに接続する。
【0027】第2昇圧回路202の出力端子は、一方の
電極をGND端子に接続した平滑コンデンサー206の
もう片方の電極と、ダイオード208のマイナス側の電
極と、Pチャネル型MOSトランジスタ223のドレイ
ン端子と、第3昇圧回路203の入力端子とに接続す
る。第3昇圧回路203の出力端子は、一方の電極をG
ND端子に接続した平滑コンデンサー207のもう片方
の電極と、Pチャネル型MOSトランジスタ224のド
レイン端子と、第4昇圧回路204の入力端子とに接続
する。
【0028】第4昇圧回路204の出力端子は、Pチャ
ネル型MOSトランジスタ223と224の各々のソー
スとNウェルと、昇圧電圧Vddを出力する昇圧電圧出
力端子221に接続する。発振回路からのクロック信号
P1を入力するクロック信号入力端子216は、2入力
NAND回路209,211,213の各々の片方の入
力端子に接続する。
【0029】電圧検出回路からの検出信号の1つである
第1の検出信号を記憶した第1の記憶信号P41を入力
する第1の検出信号入力端子217は、2入力NAND
回路209のクロック信号入力端子を接続していない方
の入力端子に接続する。電圧検出回路からの検出信号の
1つである第2の検出信号を記憶した第2の記憶信号P
42を入力する第2の検出信号入力端子218は、2入
力NAND回路211のクロック信号入力端子を接続し
ていない方の入力端子と、Pチャネル型MOSトランジ
スタ223のゲート端子に接続する。
【0030】電圧検出回路からの検出信号の1つである
第3の検出信号を記憶した第3の記憶信号P43を入力
する第3の検出信号入力端子219は、2入力NAND
回路213のクロック信号入力端子を接続していない方
の入力端子と、Pチャネル型MOSトランジスタ204
のゲート端子に接続する。2入力NAND回路209の
出力端子は、インバータ回路210の入力端子と、第1
昇圧回路201と第2昇圧回路202の各々の第2のク
ロック信号入力端子に接続する。
【0031】インバータ回路210の出力端子は、第1
昇圧回路201と第2昇圧回路202の各々の第1のク
ロック信号入力端子に接続する。インバータ回路212
の出力端子は、第3昇圧回路の第1のクロック信号入力
端子に接続し、インバータ回路214の出力端子は、第
4昇圧回路の第1のクロック信号入力端子に接続する。
【0032】なお、2入力NAND回路209,21
1,213と、インバータ回路210,212,214
の各々の電源端子は、昇圧電圧Vddが入力されるVd
d入力端子107に接続し、各々のGND端子は、熱電
変換素子の低電圧側電極と接続したGND端子220に
接続する。次に動作を説明する。
【0033】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ロウ”の場合、全
ての昇圧回路に、クロック信号が入力されなくなるの
で、全ての昇圧回路が動作せず、昇圧行為は行わない。
なお、Pチャネル型MOSトランジスタ223,224
がオンしているが、該両トランジスタを介した昇圧電圧
出力端子221からの電流の漏れは、該両トランジスタ
のドレインにぶら下がる容量成分の充電電流のみであ
る。
【0034】第1の記憶信号P41が”ハイ”で、第2
の記憶信号P42と第3の記憶信号P43が”ロウ”の
場合、第1昇圧回路201と第2昇圧回路202のクロ
ック信号が入力されるので、第1昇圧回路201と第2
昇圧回路202のみ動作し、Pチャネル型MOSトラン
ジスタ223がオンするので、熱電変換素子の起電圧V
pは、先ず第1昇圧回路201で約2倍に昇圧され、さ
らに第2昇圧回路202で約2倍に昇圧され、Pチャネ
ル型MOSトランジスタ223を介してVddに供給さ
れる。つまり、昇圧倍数は約4倍であるので、Vddは
約4倍のVpとなる。なお、Pチャネル型MOSトラン
ジスタ224もオンしているが、該トランジスタを介し
た昇圧電圧出力端子221からの電流の漏れは、該トラ
ンジスタのドレインにぶら下がる容量成分の充電電流の
みである。
【0035】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42が”ハイ”で、第3の記憶信号P43が”ロウ”の
場合、第1昇圧回路201と第2昇圧回路202のクロ
ック信号が入力されるので、第1昇圧回路201と第2
昇圧回路202と第3昇圧回路203が動作し、Pチャ
ネル型MOSトランジスタ223がオフし、Pチャネル
型MOSトランジスタ224がオンするので、前記Vp
は、先ず第1昇圧回路201で約2倍に昇圧され、第2
昇圧回路202で約2倍に昇圧され、さらに、第3昇圧
回路203で約2倍に昇圧され、Pチャネル型MOSト
ランジスタ224を介して出力端子221に供給され
る。つまり、昇圧倍数は約8倍であるので、Vddは約
8倍のVpとなる。
【0036】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ハイ”の場合、全
昇圧回路にクロック信号が入力されるので、Pチャネル
型MOSトランジスタ223,224がオフし、全昇圧
回路が動作するので、前記Vpは、先ず第1昇圧回路2
01で約2倍に昇圧され、第2昇圧回路202で約2倍
に昇圧され、第3昇圧回路203で約2倍に昇圧され、
さらに第4昇圧回路204で約2倍に昇圧され、昇圧電
圧出力端子221から出力される。つまり、昇圧倍数は
約16倍であるので、Vddは約16倍のVpとなる。
【0037】なお、ダイオード208は、後で詳しく説
明するが、上記第1昇圧回路201と上記第2昇圧回路
201の特徴が、上記Vddの電圧が低い場合に昇圧能
力が小さいという特徴があり、上記Vddの電圧が低い
昇圧初期段階の昇圧速度を、第1昇圧回路201と第2
昇圧回路202を介さずに、第3昇圧回路203と第4
昇圧回路204で昇圧する事で向上させる為に設けた。
【0038】つまり、上記構成とする事により、上記し
たように、電圧検出回路の検出信号を記憶した信号記憶
回路の出力信号P41,P42,P43に応じて、昇圧
倍数を可変できる昇圧回路が実現できる。図3は、本発
明に於ける、図2で示した第1昇圧回路201の回路図
である。先ず、接続について説明する。熱電変換素子の
起電圧Vpが入力される入力端子302は、Nチャネル
型MOSトランジスタ306のドレインと、Nチャネル
型MOSトランジスタ307のソースとに接続し、第1
のクロック信号入力端子304は、Nチャネル型MOS
トランジスタ307とNチャネル型MOSトランジスタ
308のゲートに接続し、第2のクロック信号入力端子
305は、Nチャネル型MOSトランジスタ306とN
チャネル型MOSトランジスタ309のゲートに接続
し、Nチャネル型MOSトランジスタ306のソース
は、Nチャネル型MOSトランジスタ308のドレイン
と、コンデンサー310の第2の電極に接続し、コンデ
ンサー310の第1の電極は、Nチャネル型MOSトラ
ンジスタ307のドレインと、Nチャネル型MOSトラ
ンジスタ309のソースとに接続し、昇圧電圧を出力す
る出力端子303は、Nチャネル型MOSトランジスタ
309のドレインに接続し、GND入力端子311は、
Nチャネル型MOSトランジスタ308のソースに接続
する構成である。
【0039】次に、動作に付いて説明する。先ず、第1
のクロック信号入力端子304から入力される第1のク
ロック信号が、”ハイ”の時、第2のクロック信号入力
端子305から入力される第2のクロック信号は、”ロ
ウ”となり、Nチャネル型MOSトランジスタ307と
308がオンし、Nチャネル型MOSトランジスタ30
6と309がオフするので、コンデンサー310の第1
の電極は、Nチャネル型MOSトランジスタ307を介
して、入力端子302に供給された電圧が供給されるの
で、ある電圧Vaまで上昇し、該コンデンサーの第2の
電極は、Nチャネル型MOSトランジスタ308を介し
てGNDの電圧が供給されるので”ロウ”になる。
【0040】次に、第1のクロック信号入力端子304
から入力される第1のクロック信号が、”ロウ”の時、
第の2クロック信号入力端子305から入力される第2
のクロック信号は、”ハイ”となり、Nチャネル型MO
Sトランジスタ307と308がオフし、Nチャネル型
MOSトランジスタ306と309がオンするので、コ
ンデンサー310の第2の電極は、Nチャネル型MOS
トランジスタ306を介して、入力端子302に供給さ
れた電圧が供給されるので、ある電圧Vbまで上昇す
る。したがって、該コンデンサーの第1の電極は、前記
Vaと前記Vbをプラスした電圧まで上昇し、該電圧
は、Nチャネル型MOSトランジスタ309を介して、
出力端子303に供給されるので、出力端子303の電
圧は、ある電圧Vcまで上昇する。
【0041】ここで、Va,Vb,Vcの値は、Nチャ
ネル型MOSトランジスタがオンしたときに、供給でき
る最大電圧値と関係し、Nチャネル型MOSトランジス
タが、供給する電圧が、該最大電圧値以下であれば、ど
んな小さな電圧でも、供給できるが、供給する電圧が、
該最大電圧値より高ければ、どんなに大きな電圧でも、
該最大電圧値までしか供給できない。
【0042】つまり、Vaは、入力端子302から供給
される電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ307
の該最大電圧値以下のときは、入力端子302から供給
される電圧と同じ電圧となるが、入力端子302から供
給される電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ30
7の該最大電圧値より高いときは、Nチャネル型MOS
トランジスタ307の該最大電圧値となり、Vbは、入
力端子302から供給される電圧が、Nチャネル型MO
Sトランジスタ306の該最大電圧値以下のときは、入
力端子302から供給される電圧と同じ電圧となるが、
入力端子302から供給される電圧が、Nチャネル型M
OSトランジスタ306の該最大電圧値より高いとき
は、Nチャネル型MOSトランジスタ306の該最大電
圧値となり、Vcは、コンデンサー310の第1の電極
に発生するVaとVbをプラスした値が、Nチャネル型
MOSトランジスタ309の該最大電圧値以下のとき
は、VaとVbをプラスした値と同じ電圧となるが、N
チャネル型MOSトランジスタ309の該最大電圧値よ
り高いときは、Nチャネル型MOSトランジスタ309
の該最大電圧値となる。
【0043】なお、上記した各Nチャネル型MOSトラ
ンジスタの該最大電圧値とは、各Nチャネル型MOSト
ランジスタがオンしているときに、各Nチャネル型MO
Sトランジスタのゲートに入力される各クロック信号
の”ハイ”の電圧、つまり、Vddから、各Nチャネル
型MOSトランジスタのしきい値電圧をマイナスした値
である。
【0044】つまり、上記第1昇圧回路は、昇圧する電
圧が低く、各Nチャネル型MOSトランジスタが、各N
チャネル型MOSトランジスタの該最大電圧値以下の電
圧しか供給しなくてよい場合は、効率よく昇圧でき、し
かも、どんなに低い電圧からでも昇圧できる特徴を有す
が、昇圧する電圧が高い場合、あるいは、前記Vddが
低い場合で、該昇圧回路の各Nチャネル型MOSトラン
ジスタのどれか一つでも、そのNチャネル型MOSトラ
ンジスタの該最大電圧値より高い電圧を供給しなくては
ならなくなった場合、昇圧効率が悪くなり、さらに、昇
圧する電圧がより高くなった場合、あるいは、前記Vd
dがさらに低くなった場合、逆に降圧してしまう場合が
あるという特徴を有する。
【0045】よって、上記第1昇圧回路の各Nチャネル
型MOSトランジスタは、N型のゲートで構成すること
で、しきい値電圧を下げても、リーク電流を抑えられる
構成とし、しきい値電圧を極力低く(0.2V程度)す
ることで、Vddが低い場合でも、より高い電圧から昇
圧できる構成としている。なお、上記第1昇圧回路は、
該第1昇圧回路のオンしているMOSトランジスタがオ
フすると同時に、オフしていたMOSトランジスタがオ
ンする構成であるが、オンしているMOSトランジスタ
をオフしてから、オフしていたMOSトランジスタをオ
ンする構成とすることで、貫通電流を無くすことがで
き、該第1昇圧回路の昇圧効率を良くすることができ
る。
【0046】図4は、本発明に於けいる、図2で示した
第2昇圧回路202の回路図である。構成は、図3で示
した第1昇圧回路とほとんど同じ構成であり、図3の第
1昇圧回路と異なる部分は、図3の第1昇圧回路のNチ
ャネル型MOSトランジスタ309が、図4の第2昇圧
回路では、ドレインをコンデンサー410の第1電極に
接続し、ソースとNウェルを出力端子403に接続し、
ゲートを第1のクロック信号入力端子404に接続した
Pチャネル型MOSトランジスタ409に置き換わった
ところだけである。
【0047】動作も、各MOSがオン、オフするタイミ
ングは、図3で示した第1昇圧回路と同じであり、図3
の第1昇圧回路と異なるのは、Pチャネル型MOSトラ
ンジスタ409がオンしたときに、コンデンサー410
の第1の電極に発生した昇圧電圧が、Pチャネル型MO
Sトランジスタ409が供給できる最低電圧より低い場
合、該昇圧電圧がPチャネル型MOSトランジスタ40
9のP型のドレインからN型のNウェルの順方向がオン
する0.6V未満の場合は、出力端子403に全く供給
できなく、該昇圧電圧が0.6V以上の場合は、該昇圧
電圧から0.6Vをマイナスした値の電圧までしか出力
端子403に供給できないが、該昇圧電圧が、該最低電
圧以上の場合では、該昇圧電圧がどんなに高い電圧で
も、出力端子403に供給できることである。
【0048】なお、上記したPチャネル型MOSトラン
ジスタ409が供給できる最低電圧とは、Pチャネル型
MOSトランジスタが、該トランジスタのドレインから
ソース、あるいは、ソースからドレインへチャネルを介
して供給できる最低の電圧であり、該トランジスタのゲ
ートの電圧から、該トランジスタのしきい値電圧をマイ
ナスした値であるので、図4でのPチャネル型MOSト
ランジスタ409の該最低電圧は、Pチャネル型MOS
トランジスタ409のゲートの”ロウ”の電圧からしき
い値をマイナスした値、つまり、GND電圧からマイナ
スの値のしきい値をマイナスするので、しきい値電圧の
絶対値である。
【0049】つまり、上記第2昇圧回路は、昇圧しよう
とする電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ40
7,406の該最大電圧以下で、コンデンサー410の
第1の電極に発生した昇圧電圧が、Pチャネル型MOS
トランジスタ409の該最低電圧以上の場合、効率よく
昇圧できる特徴を有すが、昇圧する電圧が高くなった場
合、あるいは、前記Vddが低い場合で、昇圧しようと
する電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ407、
Nチャネル型MOSトランジスタ406のどちらか一方
の該最大電圧を越える場合、昇圧効率が悪化したり、降
圧してしまったり、該昇圧電圧が、Pチャネル型MOS
トランジスタ409の該最低電圧を下回る場合、出力端
子403に電圧が出力されない特徴も有する。
【0050】よって、上記第2昇圧回路の各MOSトラ
ンジスタは、Nチャネル型MOSトランジスタの場合
は、N型のゲートで構成し、Pチャネル型MOSトラン
ジスタの場合は、P型のゲートで構成することで、しき
い値電圧の絶対値を下げても、リーク電流を抑えられる
構成とし、しきい値電圧の絶対値を極力低く(0.2V
程度)することで、Vddが低い場合でも、より高い電
圧から昇圧でき、さらに、より低い電圧からの昇圧も可
能にした。
【0051】なお、上記第2昇圧回路は、該第2昇圧回
路のオンしているMOSトランジスタがオフすると同時
に、オフしていたMOSトランジスタがオンする構成で
あるが、オンしているMOSトランジスタをオフしてか
ら、オフしていたMOSトランジスタをオンする構成と
することで、貫通電流を無くすことができ、該第2昇圧
回路の昇圧効率を良くすることができる。
【0052】図5は、図2の第3昇圧回路203および
第4昇圧回路204の回路図である。構成は、図4で示
す第2昇圧回路のNチャネル型MOSトランジスタ30
6,307のそれぞれを、図5で示すように、Pチャネ
ル型MOSトランジスタソースとNウェルを入力端子5
02と接続し、ドレインをコンデンサー510の第2の
電極に接続し、ゲートを第1のクロック信号入力端子5
04に接続したNチャネル型MOSトランジスタ506
と、ドレインを入力端子502と接続し、ソースとNウ
ェルをコンデンサー510の第1の電極を接続し、ゲー
トを第2のクロック信号入力端子505と接続したPチ
ャネル型MOSトランジスタ507に置き換えた構成で
ある。
【0053】動作は、各MOSのオン、オフのタイミン
グは、図4の第2昇圧回路と同じであるが、Pチャネル
型MOSトランジスタ507がオンしたとき、入力端子
502から、コンデンサー510の第1の電極に電圧を
供給する際、入力端子502の電圧が、Pチャネル型M
OSトランジスタ507の供給できる前記最低電圧未満
で、該トランジスタのP型のドレインからNウェルの順
方向がオンする0.6V未満の場合は、まったく供給で
きなく、0.6V以上の場合は、入力端子502の電圧
から0.6Vをマイナスした値しか供給できないが、該
最低電圧以上の場合は、入力端子502の電圧をそのま
ま供給できることと、Pチャネル型MOSトランジスタ
506がオンしたとき、入力端子502から、コンデン
サー510の第2の電極に電圧を供給する際、入力端子
502の電圧がPチャネル型MOSトランジスタ506
の供給できる前記最低電圧未満の場合は、全く供給でき
ないが、入力端子502の電圧が、該トランジスタの前
記最低電圧以上の場合は、入力端子502の電圧がその
まま供給できることが異なる。
【0054】つまり、上記第3および第4昇圧回路は、
各Pチャネル型MOSトランジスタが供給できる前記最
低電圧未満の電圧からの昇圧はできないが、該最低電圧
以上の電圧であれば、高い電圧からでも昇圧が可能な特
徴を有する。よって、上記第3昇圧回路の各Pチャネル
型MOSトランジスタの場合は、P型のゲートで構成す
ることで、しきい値電圧の絶対値を下げても、リーク電
流を抑えられる構成とし、しきい値電圧の絶対値を極力
低く(0.2V程度)することで、より低い電圧(0.
2V)からの昇圧を可能にした。
【0055】なお、上記第3、第4昇圧回路は、該昇圧
回路のオンしているMOSトランジスタがオフすると同
時に、オフしていたMOSトランジスタがオンする構成
であるが、オンしているMOSトランジスタをオフして
から、オフしていたMOSトランジスタをオンする構成
とすることで、貫通電流を無くすことができ、該昇圧回
路の昇圧効率を良くすることができる。
【0056】本実施例の図2で示す昇圧回路107は、
上記したような特徴を有する第1から第4昇圧回路を、
第1昇圧回路が昇圧した電圧を、第2昇圧回路が昇圧
し、第2昇圧回路が昇圧した電圧を、第3昇圧回路が昇
圧し、第3昇圧回路が昇圧した電圧を第4昇圧回路が昇
圧する構成とし、第3昇圧回路が昇圧できる電圧までの
昇圧を第2昇圧回路が昇圧し、第2昇圧回路が昇圧でき
る電圧まで、第1昇圧回路が昇圧することにより、Vd
dが0.3V以上あり、起電力入力端子215から入力
された前記Vpが0.05V以上あれば、昇圧できる特
徴を有す。
【0057】本実施例では、図1に示すように、上記構
成の昇圧回路107で、熱電変換素子101の起電圧V
pの昇圧を行うことで、熱電変換素子101の起電圧V
pを効率よく昇圧でき、さらに、低い該起電力Vp
(0.05V)からでも昇圧可能な熱電変換素子昇圧シ
ステムを実現した。なお、図2で示す本実施例の昇圧回
路は、前記した性能の熱電変換素子の起電圧を、時計用
ICなどの、1.5V程度で動作するICを駆動できる
電圧まで昇圧する設計であるが、異なった性能の熱電変
換素子や、他の発電素子の起電圧を昇圧する場合や、コ
ンデンサーや2次電池などの蓄電素子の電圧を昇圧する
場合などの、昇圧する電圧が異なる場合、あるいは、駆
動するICの必要な電圧が異なる場合などの、必要な昇
圧電圧値が異なる場合は、第1昇圧回路や、第3昇圧回
路をさらに複数個直列接続するとか、第1昇圧回路を複
数個直列接続した後に第3昇圧回路を複数個直列接続し
た構成とするとか、第3昇圧回路のみを複数直列接続し
ただけの構成とするといったような設計変更をすればよ
いことは言うまでもない。
【0058】図6は、図1で示す昇圧回路107を、図
2で示す昇圧回路の構成とは別の構成とした場合の昇圧
回路608の回路図である。第1昇圧回路601から第
15昇圧回路606までの計15個の昇圧回路と、2入
力NAND回路617,619,621と、インバータ
回路616,618,620と、Pチャネル型MOSト
ランジスタ622とで構成している。
【0059】先ず、各構成要素の接続状態を説明する。
熱電変換素子の起電圧であるVpを入力する起電力入力
端子609は、第1昇圧回路601の第1の入力端子
と、第1昇圧回路601から第15昇圧回路606まで
の各昇圧回路の第2の入力端子とに接続する。第15昇
圧回路606以外の各昇圧回路の出力端子は、次に位置
する昇圧回路の第1の入力端子に接続し、第15昇圧回
路の出力端子は、Pチャネル型MOSトランジスタ62
2のドレインに接続され、Pチャネル型MOSトランジ
スタ622のソースとNウェルは、昇圧電圧Vddを出
力する昇圧電圧出力端子610に接続する。
【0060】発振回路からのクロック信号P1を入力す
るクロック信号入力端子611は、2入力NAND回路
617,619,621の各々の片方の入力端子に接続
する。電圧検出回路からの検出信号の一つである第1の
検出信号を記憶した第1の記憶信号P41を入力する第
1の検出信号入力端子612は、2入力NAND621
のクロック信号入力端子611を接続していない方の入
力端子に接続する。
【0061】電圧検出回路からの検出信号の一つである
第2の検出信号を記憶した第2の記憶信号P42を入力
する第2の検出信号入力端子613は、2入力NAND
619のクロック信号入力端子611を接続していない
方の入力端子に接続する。電圧検出回路からの検出信号
の一つである第3の検出信号を記憶した第3の記憶信号
P43を入力する第3の検出信号入力端子614は、2
入力NAND617のクロック信号入力端子611を接
続していない方の入力端子に接続する。
【0062】2入力NAND回路617の出力端子は、
インバータ回路616の入力端子と、第1昇圧回路60
1から第8昇圧回路602の各昇圧回路の第2のクロッ
ク信号入力端子に接続する。インバータ回路616の出
力端子は、第1昇圧回路601から第8昇圧回路602
の各昇圧回路の第1のクロック信号入力端子に接続す
る。
【0063】2入力NAND回路619の出力端子は、
インバータ回路618の入力端子と、第9昇圧回路60
3から第12昇圧回路604の各昇圧回路の第2のクロ
ック信号入力端子に接続する。インバータ回路618の
出力端子は、第9昇圧回路603から第12昇圧回路6
04の各昇圧回路の第1のクロック信号入力端子に接続
する。
【0064】2入力NAND回路621の出力端子は、
インバータ回路620の入力端子と、第13昇圧回路6
05から第15昇圧回路606の各昇圧回路の第2のク
ロック信号入力端子と、Pチャネル型MOSトランジス
タ622のゲートとに接続する。インバータ回路620
の出力端子は、第13昇圧回路605から第15昇圧回
路606の各昇圧回路の第1のクロック信号入力端子と
に接続する。
【0065】なお、2入力NAND回路617,61
9,621と、インバータ回路616,618,620
の各々の電源端子は、昇圧電圧Vddが入力されるVd
d入力端子608に接続し、各々のGND端子は、熱電
変換素子の低電圧側の電極と接続したGND電位入力端
子615に接続する。次に動作を説明する。
【0066】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ロウ”の場合、全
ての昇圧回路にクロック信号が入力されなくなるので、
全ての昇圧回路は動作せず、昇圧行為は行わない。第1
の記憶信号P41が”ハイ”で、第2の記憶信号P42
と第3の記憶信号P43が”ロウ”の場合、第13昇圧
回路605から第15昇圧回路606にかけての昇圧回
路のみにクロック信号が入力されるので、第13昇圧回
路605から第15昇圧回路606にかけての昇圧回路
が動作する。つまり、昇圧回路が3個動作し、1個の昇
圧回路でVpの電圧分昇圧するので、熱電変換素子の起
電圧Vpに3Vpがプラスされた4Vpの昇圧電圧が、
第15昇圧回路606の出力端子から出力される。
【0067】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42が”ハイ”で、第3の記憶信号P43が”ロウ”の
場合、第9昇圧回路603から第15昇圧回路606に
かけての昇圧回路のみにクロック信号が入力されるの
で、第9昇圧回路603から第15昇圧回路606にか
けての昇圧回路が動作する。つまり、昇圧回路が7個動
作するので、熱電変換素子の起電圧Vpに7Vpがプラ
スされた4Vpの昇圧電圧が第15昇圧回路606の出
力端子から出力される。
【0068】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ハイ”の場合、全
ての昇圧回路にクロック信号が入力されるので、全昇圧
回路が動作する。つまり、昇圧回路が15個動作するの
で、熱電変換素子の起電圧Vpに15Vpがプラスされ
た16Vpが第15昇圧回路606の出力端子から出力
される。
【0069】なお、第15昇圧回路606の出力端子か
ら昇圧電圧が出力されるが、昇圧電圧は常時出力される
のではなく、クロック信号P1が”ハイ”の時だけ出力
され、クロック信号が”ロウ”の時は、該出力端子から
は、熱電変換素子の起電圧Vpがそのまま出力される。
つまり、該出力端子をそのまま昇圧電圧出力端子610
に接続すると、クロック信号P1が”ロウ”の時に、せ
っかく出力した昇圧電圧が、熱電変換素子の起電圧Vp
まで落ちてしまう。そこで、Pチャネル型MOSトラン
ジスタ622を設け、該トランジスタをクロック信号P
1が”ハイ”の時はオン、クロック信号P1が”ロウ”
の時はオフさせることで、上記問題をクリアした。
【0070】上記してきたように、昇圧回路を図6で示
すような構成とすることにより、上記したように、電圧
検出回路の検出信号を記憶した信号記憶回路の出力する
記憶信号に応じて、昇圧倍数を可変できる昇圧回路が、
図2で示す昇圧回路とは異なった構成で実現できる。図
7は、本発明における図6で示した第1から第3昇圧回
路の回路図である。
【0071】先ず、接続に状態について説明する。第1
の入力端子703は、Nチャネル型MOSトランジスタ
708のドレインに接続し、第2の入力端子702は、
Nチャネル型MOSトランジスタ709のソースに接続
し、第1のクロック信号入力端子705は、Nチャネル
型MOSトランジスタ708のゲートに接続し、第2の
クロック信号入力端子706は、Nチャネル型MOSト
ランジスタ709,710のゲートに接続し、Nチャネ
ル型MOSトランジスタ708のソースは、Nチャネル
型MOSトランジスタ710のドレインとコンデンサー
711の第2の電極とに接続し、コンデンサー711の
第1の電極は、Nチャネル型MOSトランジスタ709
のドレインと昇圧電圧を出力する出力端子704とに接
続し、GND入力端子707は、Nチャネル型MOSト
ランジスタ710のソースに接続する構成である。
【0072】次に、動作について説明する。先ず、第1
のクロック信号入力端子705から入力される第1のク
ロック信号が”ロウ”の時、第2のクロック信号入力端
子706から入力される第2のクロック信号は”ハイ”
となり、Nチャネル型MOSトランジスタ709,71
0がオンし、Nチャネル型MOSトランジスタ708が
オフするので、コンデンサー711の第1の電極は、N
チャネル型MOSトランジスタ709を介して、第2の
入力端子702に供給された熱電変換素子の起電圧Vp
が供給されるので、ある電圧Vaまで上昇し、該コンデ
ンサーの第2の電極は、Nチャネル型MOSトランジス
タ708を介してGNDの電圧が供給されるので”ロ
ウ”になる。
【0073】次に、第1のクロック信号入力端子705
から入力される第1のクロック信号が、”ハイ”の時、
第2のクロック信号入力端子706から入力される第2
のクロック信号は、”ロウ”となり、Nチャネル型MO
Sトランジスタ709と710がオフし、Nチャネル型
MOSトランジスタ708がオンするので、コンデンサ
ー711の第2の電極は、Nチャネル型MOSトランジ
スタ708を介して、第1の入力端子703に供給され
た電圧が供給されるので、ある電圧Vbまで上昇する。
したがって、該コンデンサーの第1の電極は、前記Va
と前記Vbをプラスした電圧まで上昇し、該電圧を、出
力端子704から出力する。
【0074】ここで、Va,Vbの値は、Nチャネル型
MOSトランジスタがオンしたときに、供給できる最大
電圧値と関係し、Nチャネル型MOSトランジスタが、
供給する電圧が、該最大電圧値以下であれば、どんな小
さな電圧でも、供給できるが、供給する電圧が、該最大
電圧値より高ければ、どんなに大きな電圧でも、該最大
電圧値までしか供給できない。
【0075】つまり、Vaは、第2の入力端子702か
ら供給される電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ
709の該最大電圧値以下のときは、第2の入力端子7
02から供給される電圧と同じ電圧となるが、第2の入
力端子702から供給される電圧が、Nチャネル型MO
Sトランジスタ709の該最大電圧値より高いときは、
Nチャネル型MOSトランジスタ709の該最大電圧値
となり、Vbは、第1の入力端子703から供給される
電圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ708の該最
大電圧値以下のときは、第1の入力端子703から供給
される電圧と同じ電圧となるが、第1の入力端子703
から供給される電圧が、Nチャネル型MOSトランジス
タ708の該最大電圧値より高いときは、Nチャネル型
MOSトランジスタ708の該最大電圧値となる。
【0076】なお、上記した各Nチャネル型MOSトラ
ンジスタの該最大電圧値とは、各Nチャネル型MOSト
ランジスタがオンしているときに、各Nチャネル型MO
Sトランジスタのゲートに入力される各クロック信号
の”ハイ”の電圧、つまり、Vddから、各Nチャネル
型MOSトランジスタのしきい値電圧をマイナスした値
である。
【0077】つまり、上記した図7で示す昇圧回路は、
昇圧する電圧が低く、各Nチャネル型MOSトランジス
タが、各Nチャネル型MOSトランジスタの該最大電圧
値以下の電圧しか供給しなくてよい場合は、効率よく昇
圧でき、しかも、どんなに低い電圧からでも昇圧できる
特徴を有すが、昇圧する電圧が高い場合、あるいは、前
記Vddが低い場合で、該昇圧回路の各Nチャネル型M
OSトランジスタのどれか一つでも、そのNチャネル型
MOSトランジスタの該最大電圧値より高い電圧を供給
しなくてはならなくなった場合、昇圧効率が悪くなり、
さらに、昇圧する電圧がより高くなった場合、あるい
は、前記Vddがさらに低くなった場合、逆に降圧して
しまう場合があるという特徴を有する。
【0078】よって、上記した図7で示す昇圧回路の各
Nチャネル型MOSトランジスタは、N型のゲートで構
成することで、しきい値電圧を下げても、リーク電流を
抑えられる構成とし、しきい値電圧を極力低く(0.2
V程度)することで、Vddが低い場合でも、より高い
電圧から昇圧できる構成としている。なお、上記した図
7で示す昇圧回路は、該昇圧回路のオンしているMOS
トランジスタがオフすると同時に、オフしていたMOS
トランジスタがオンする構成であるが、オンしているM
OSトランジスタをオフしてから、オフしていたMOS
トランジスタをオンする構成とすることで、貫通電流を
無くすことができ、該昇圧回路の昇圧効率を良くするこ
とができる。
【0079】図8は、本発明における図6で示した第4
から第15昇圧回路の回路図である。 構成は、図7の
昇圧回路とほとんど同じであり、異なる部分は、図7の
昇圧回路のNチャネル型MOSトランジスタ708が、
ソースをとNウェルを第1の入力端子803に接続し、
ドレインをコンデンサー811の第2の電極に接続し、
ゲートを第2のクロック信号入力端子806に接続した
Pチャネル型MOSトランジスタ808に置き換わった
ところだけである。
【0080】動作も図7で示す昇圧回路とほぼ同じであ
り、異なる点は、Pチャネル型MOSトランジスタ80
8がオンし、第1の入力端子803に入力した電圧がP
チャネル型MOSトランジスタ808を介して、コンデ
ンサー811の第2の電極に電圧Vbが供給される際の
第1の入力端子803の電圧と該Vbとの関係であり、
第1入力端子803の電圧が、チャネル型MOSトラン
ジスタ506の供給できる最低電圧未満の場合は、全く
供給できないが、第1の入力端子803の電圧が、該ト
ランジスタの前記最低電圧以上の場合は、第1の入力端
子803の電圧がそのまま供給できるという点が異な
る。
【0081】なお、上記したPチャネル型MOSトラン
ジスタ808が供給できる最低電圧とは、Pチャネル型
MOSトランジスタが、該トランジスタのドレインから
ソース、あるいは、ソースからドレインへチャネルを介
して供給できる最低の電圧であり、該トランジスタのゲ
ートの電圧から、該トランジスタのしきい値電圧をマイ
ナスした値であるので、Pチャネル型MOSトランジス
タ808の該最低電圧は、該トランジスタ808のゲー
トの”ロウ”の電圧からしきい値をマイナスした値、つ
まり、GND電圧からマイナスの値のしきい値をマイナ
スするので、しきい値電圧の絶対値である。
【0082】つまり、上記した図8で示す昇圧回路は、
第2の入力端子802に入力する電圧が、Nチャネル型
MOSトランジスタ809の前記最大電圧以下で、第1
の入力端子803に入力する電圧が、Pチャネル型MO
Sトランジスタ808の該最低電圧以上の場合、効率よ
く昇圧できる特徴を有すが、第2の入力端子802の電
圧が、Nチャネル型MOSトランジスタ809の該最大
電圧以上の場合、昇圧効率が悪化したり、逆に降圧して
しまったり、第1の入力端子803の電圧が、Pチャネ
ル型MOSトランジスタ808の前記最低電圧未満の場
合、全く昇圧できなかったりする特徴を有する。
【0083】よって、本発明では、上記した図8で示す
昇圧回路の各MOSトランジスタは、Nチャネル型MO
Sトランジスタの場合は、N型のゲートで構成し、Pチ
ャネル型MOSトランジスタの場合は、P型のゲートで
構成することで、しきい値電圧の絶対値を下げても、リ
ーク電流を抑えられる構成とし、しきい値電圧の絶対値
を極力低く(0.2V程度)することで、Vddが低い
場合でも、より高い電圧から昇圧でき、さらに、より低
い電圧からの昇圧も可能にした。
【0084】なお、上記した図8に示す昇圧回路は、該
昇圧回路のオンしているMOSトランジスタがオフする
と同時に、オフしていたMOSトランジスタがオンする
構成であるが、オンしているMOSトランジスタをオフ
してから、オフしていたMOSトランジスタをオンする
構成とすることで、貫通電流を無くすことができ、該昇
圧回路の昇圧効率を良くすることができる。
【0085】本実施例の図6で示す昇圧回路607は、
上記したような特徴を有する第1から第3昇圧回路を前
段に、そして、上記したような特徴を有する第4から第
15昇圧回路を後段に配置し、第1から第3昇圧回路
で、第4から第15昇圧回路が苦手とする低電圧からの
昇圧を行い、第4から第15昇圧回路で、第1から第3
昇圧回路が苦手とする高電圧からの昇圧を行うようにす
ることで、Vddが0.3V以上あり、熱電変換素子の
起電圧Vpが0.05V以上あれば、昇圧可能と言う特
徴を有することができた。
【0086】本実施例では、図1に示すように、上記し
た図6で示す昇圧回路607で、熱電変換素子101の
起電圧Vpの昇圧を行うことで、熱電変換素子101の
起電圧Vpを効率よく昇圧でき、さらに、低い該起電力
Vp(0.05V)からでも昇圧可能な熱電変換素子昇
圧システムを実現した。なお、図6で示す本実施例の昇
圧回路は、前記した性能の熱電変換素子の起電圧を、時
計用ICなどの、1.5V程度で動作するICを駆動で
きる電圧まで昇圧する設計であるが、異なった性能の熱
電変換素子や、他の発電素子の起電圧を昇圧する場合
や、コンデンサーや2次電池などの蓄電素子の電圧を昇
圧する場合などの、昇圧する電圧が異なる場合、あるい
は、駆動するICの必要な電圧が異なる場合などの、必
要な昇圧電圧値が異なる場合は、前段に配置した図7で
示す昇圧回路の個数、あるいは、後段に配置した図8で
示す昇圧回路の個数を、増やす、あるいは、減らすとい
った設計変更を行えばよいことは言うまでもない。
【0087】図9は、図1で示す昇圧回路107を、図
2、あるいは、図3で示す昇圧回路の構成とは別の構成
とした場合の昇圧回路907の回路図である。先ず、接
続状態を説明する。熱電変換素子の起電圧であるVpを
入力する起電力入力端子909は、第1昇圧回路901
の入力端子と、Nチャネル型MOSトランジスタ915
のドレインとNチャネル型MOSトランジスタ917の
ドレインとに接続する。
【0088】第8昇圧回路906以外の各昇圧回路の出
力端子は、次に位置する昇圧回路の入力端子に接続し、
第8昇圧回路906の出力端子は、昇圧電圧出力端子9
10に接続する。発振回路からのクロック信号P1を入
力するクロック信号入力端子911は、2入力NAND
回路927,929,931の各々の片方の入力端子
と、インバータ回路936の入力端子と、Nチャネル型
MOSトランジスタ916,917のゲートとに接続す
る。
【0089】電圧検出回路からの検出信号の一つである
第1の検出信号を記憶した第1の記憶信号P41を入力
する第1の検出信号入力端子912は、2入力NAND
927のクロック信号入力端子911を接続していない
方の入力端子と、Nチャネル型MOSトランジスタ91
9,920のゲートとに接続する。電圧検出回路からの
検出信号の一つである第2の検出信号を記憶した第2の
記憶信号P42を入力する第2の検出信号入力端子91
3は、2入力NAND929のクロック信号入力端子9
11を接続していない方の入力端子と、Nチャネル型M
OSトランジスタ921,922のゲートと、Pチャネ
ル型MOSトランジスタ925のゲートとに接続する。
【0090】電圧検出回路からの検出信号の一つである
第3の検出信号を記憶した第3の記憶信号P43を入力
する第3の検出信号入力端子914は、2入力NAND
931のクロック信号入力端子911を接続していない
方の入力端子と、Nチャネル型MOSトランジスタ92
3,924のゲートと、Pチャネル型MOSトランジス
タ926のゲートとに接続する。
【0091】2入力NAND回路927の出力端子は、
インバータ回路928の入力端子と、第1昇圧回路90
1と第2昇圧回路902の第2のクロック信号入力端子
とに接続する。インバータ回路928の出力端子は、第
1昇圧回路901と第2昇圧回路902の第1のクロッ
ク信号入力端子に接続する。
【0092】2入力NAND回路629の出力端子は、
インバータ回路930の入力端子と、第3昇圧回路90
3と第4昇圧回路904の第2のクロック信号入力端子
とに接続する。インバータ回路930の出力端子は、第
3昇圧回路903と第4昇圧回路904の第1のクロッ
ク信号入力端子に接続する。
【0093】2入力NAND回路931の出力端子は、
インバータ回路932の入力端子と、第5昇圧回路90
5から第8昇圧回路906の各昇圧回路の第2のクロッ
ク信号入力端子に接続する。インバータ回路932の出
力端子は、第5昇圧回路905から第8昇圧回路906
の第1のクロック信号入力端子に接続する。
【0094】インバータ回路936の出力端子は、Nチ
ャネル型MOSトランジスタ915,918のゲートに
接続する。Nチャネル型MOSトランジスタ915のソ
ースは、Nチャネル型MOSトランジスタ916,91
9,921,923のドレインに接続し、Nチャネル型
MOSトランジスタ917のソースは、Nチャネル型M
OSトランジスタ918,920,922,924のド
レインに接続し、Nチャネル型MOSトランジスタ91
6,918のソースは、GND端子に接続する。
【0095】Nチャネル型MOSトランジスタ919の
ソースは、第1昇圧回路901と第2昇圧回路902の
第3のクロック信号入力端子に接続し、Nチャネル型M
OSトランジスタ920のソースは、第1昇圧回路の第
4のクロック信号入力端子に接続する。Nチャネル型M
OSトランジスタ921のソースは、第3昇圧回路90
3と第4昇圧回路904の第3のクロック信号入力端子
に接続し、Nチャネル型MOSトランジスタ922のソ
ースは、第3昇圧回路903と第2昇圧回路902の第
4のクロック信号入力端子に接続する。
【0096】Nチャネル型MOSトランジスタ923の
ソースは、第5昇圧回路905から第8昇圧回路にかけ
ての各昇圧回路の第3のクロック信号入力端子に接続
し、Nチャネル型MOSトランジスタ924のソース
は、第4の昇圧回路904から第8昇圧回路906にか
けての各昇圧回路の第4のクロック信号入力端子の接続
される。
【0097】Pチャネル型MOSトランジスタ925,
926のソースとNウェルは、昇圧電圧出力端子910
に接続する。なお、2入力NAND回路927,92
9,931と、インバータ回路928,930,93
2,936の各々の電源端子は、昇圧電圧Vddが入力
されるVdd入力端子908に接続し、各々のGND端
子は、熱電変換素子の低電圧側の電極と接続したGND
電位入力端子935に接続する。
【0098】また、GND端子に接続するということ
は、熱電変換素子の低電位側の電極と接続するGND電
位入力端子935と接続することを意味する。次に動作
を説明する。第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ロウ”の場合、全
ての昇圧回路の各クロック信号入力端子にクロック信号
が入力されなくなるので、全ての昇圧回路は動作せず、
昇圧行為は行わない。なお、Pチャネル型MOSトラン
ジスタ925,926がオンしているが、該両トランジ
スタを介した昇圧電圧出力端子910からの電流の漏れ
は、該両トランジスタのドレインにぶら下がる容量成分
の充電電流のみである。
【0099】第1の記憶信号P41が”ハイ”で、第2
の記憶信号P42と第3の記憶信号P43が”ロウ”の
場合、第1昇圧回路901の各クロック信号入力端子に
クロック信号が入力され、第2昇圧回路902の第4の
クロック信号入力端子以外のクロック信号入力端子にク
ロック信号が入力されるので、第1昇圧回路901で2
Vp分昇圧され、第2昇圧回路902でVp分昇圧さ
れ、Pチャネル型MOSトランジスタ925がオンする
ので、Pチャネル型MOSトランジスタ925を介して
昇圧電圧出力端子910に、Vpに3Vpプラスされた
4Vpの電圧が供給される。つまり、昇圧電圧は4Vp
となる。なお、Pチャネル型MOSトランジスタ926
もオンしているが、該トランジスタを介した昇圧電圧出
力端子910からの電流の漏れは、該両トランジスタの
ドレインにぶら下がる容量成分の充電電流のみである。
【0100】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42が”ハイ”で、第3の記憶信号P43が”ロウ”の
場合、第1昇圧回路901と第2昇圧回路902と第3
昇圧回路903の各昇圧回路の各クロック信号入力端子
にクロック信号が入力され、第4昇圧回路904の第4
のクロック信号入力端子以外のクロック信号入力端子
に、クロック信号が入力されるので、第1昇圧回路90
1から第3昇圧回路903の各昇圧回路で2Vp分づつ
昇圧され、第4昇圧回路904でVp分昇圧され、Pチ
ャネル型MOSトランジスタ925がオフし、Pチャネ
ル型MOSトランジスタ262がオンするので、Pチャ
ネル型MOSトランジスタ926を介して昇圧電圧出力
端子910に、Vpに7Vpプラスされた8Vpの電圧
が供給される。つまり、昇圧電圧Vddは8Vpとな
る。
【0101】第1の記憶信号P41と第2の記憶信号P
42と第3の記憶信号P43が全て”ハイ”の場合、全
ての昇圧回路の全てのクロック入力端子にクロック信号
が入力されるので、第1から第7の各昇圧回路で2Vp
づつ昇圧され、第8昇圧回路で、Vp分昇圧されるの
で、昇圧電圧出力端子910に、Vpに15Vpプラス
した16Vpの電圧が供給される。つまり、昇圧電圧V
ddは、16Vpとなる。
【0102】なお、各昇圧回路の昇圧分は2Vpあるい
はVpと述べたが、この値となるのは、Vpが、Nチャ
ネル型MOSトランジスタ915,917,919,9
20,921,922,923,924の前記した最大
電圧値以下の場合、つまり、各昇圧回路の第3あるいは
第4のクロック信号入力端子に入力されるクロック信号
の波高値がVpの場合である。Vpが該最大電圧値より
高い場合は、各昇圧回路の第3あるいは第4のクロック
信号入力端子に入力されるクロック信号の波高値が該最
大電圧値となり、各昇圧回路の昇圧分は、該最大電圧値
の2倍あるいは該最大電圧値となる。つまり、昇圧電圧
が低下してしまう。
【0103】そこで、本実施例の図9で示す昇圧回路で
は、該昇圧回路のNチャネル型MOSトランジスタ91
5,917,919,920,921,922,92
3,924は、きい値電圧を下げても、リーク電流を抑
えられるよう、ゲートをN型で構成し、しきい値電圧を
極力低く(0.2V程度)することで、前記Vpがある
程度高くても、各昇圧回路の昇圧分を2VpあるいはV
pとできるようにした。
【0104】上記してきたように、昇圧回路を図9で示
すような構成とすることにより、上記したように、電圧
検出回路の検出信号を記憶した信号記憶回路の出力する
記憶信号に応じて、昇圧倍数を可変できる昇圧回路が、
図2あるいは図6で示す昇圧回路とは異なった構成で実
現できる。図10は、本発明における図9で示した第1
と第2昇圧回路の回路図である。
【0105】先ず、接続に状態について説明する。入力
端子1002は、Nチャネル型MOSトランジスタ10
08のドレインに接続し、Nチャネル型MOSトランジ
スタのゲートは、第1のクロック信号入力端子1004
に、該トランジスタのソースは、コンデンサー1010
の第1の電極と、Nチャネル型MOSトランジスタ10
09のドレインとに接続し、コンデンサー101の第2
の電極は、第3のクロック信号入力端子1006に接続
し、Nチャネル型MOSトランジスタ1009のゲート
は、第2のクロック信号入力端子1005に、該トラン
ジスタのソースは、コンデンサー1011の第1の電極
と出力端子1003とに接続し、コンデンサー1011
の第2の電極は、第4のクロック信号入力端子1007
に接続する。
【0106】次に、動作を説明する。なお、第3あるい
は第4のクロック信号の高い方の電圧をVh、低い方の
電圧を”ロウ”とする。先ず、第4のクロック信号入力
端子1007にクロック信号を入力する場合について説
明する。第1のクロック信号入力端子1004のクロッ
ク信号を”ハイ”、第2のクロック信号入力端子100
5のクロック信号を”ロウ”、第3のクロック信号入力
端子106のクロック信号を”ロウ”、第4のクロック
信号入力端子1007のクロック信号をVhとし、Nチ
ャネル型MOSトランジスタ1008をオン、Nチャネ
ル型MOSトランジスタ1009をオフし、コンデンサ
ー1010の第1の電極を前の状態からVh分低下さ
せ、コンデンサー1011の第1の電極を前の状態から
Vh分昇圧させることで、入力端子1002から、Nチ
ャネル型MOSトランジスタ1008を介して、コンデ
ンサー1010の第1の電極に電荷を供給すると同時
に、コンデンサー1011の第1の電極から出力端子1
003に昇圧電圧を出力する第1の状態と、第1のクロ
ック信号入力端子1004のクロック信号を”ロウ”、
第2のクロック信号入力端子1005のクロック信号
を”ハイ”、第3のクロック信号入力端子106のクロ
ック信号をVh、第4のクロック信号入力端子1007
のクロック信号を”ロウ”とし、Nチャネル型MOSト
ランジスタ1008をオフ、Nチャネル型MOSトラン
ジスタ1009をオンし、コンデンサー1010の第1
の電極をまえの状態からVh分昇圧させ、コンデンサー
1011の第1の電極を前の状態からVh分低下させる
ことで、コンデンサー1010の第1の電極から、Nチ
ャネル型MOSトランジスタ1009を介して、コンデ
ンサー1011の第1の電極に電荷を供給する第2の状
態を交互に繰り返し、入力端子1002から、出力端子
1003に向かって電荷を順次供給することで出力端子
1003から昇圧電圧を出力する。
【0107】この出力端子1003から出力される昇圧
電圧は、各Nチャネル型MOSトランジスタがオンした
際、該各Nチャネル型MOSトランジスタのドレインと
ソース間の電圧差が無くなるまで、ドレインからソース
へ電荷が供給できた場合は、コンデンサー1010の第
1の電極の昇圧電圧は、入力端子1002電圧にVhを
プラスした値となり、コンデンサー1011の第1の電
極の昇圧電圧は、コンデンサー1010の昇圧電圧にV
hをプラスした値となるので、入力端子1002の電圧
に2Vhをプラスした値となるが、どちらか一方のNチ
ャネル型MOSトランジスタでも、該トランジスタがオ
ンした際に、該トランジスタのドレインの電圧がソース
の電圧よりも高いのに、該トランジスタの前記してきた
最大電圧値に該トランジスタのソースの電圧が到達して
しまった場合は、そうでない場合よりも低い値となり、
場合によっては、入力端子1002の電圧以下の値、つ
まり、降圧された値となる場合もある。
【0108】つまり、上記した昇圧回路1001は、昇
圧する電圧が低い場合、あるいは、前記したようにVd
dが高く、各Nチャネル型MOSトランジスタの前記最
大電圧値が高い場合で、各Nチャネル型MOSトランジ
スタが、該トランジスタの前記最大電圧値以下の電圧し
か供給しなくてよい場合は、効率良く昇圧でき、しか
も、どんなに低い電圧からでも昇圧できる特徴を有す
が、昇圧する電圧が高い場合、あるいは、前記したよう
にVddが低く、各Nチャネル型MOSトランジスタの
前記最大電圧値が低い場合で、どちらか一方のNチャネ
ル型MOSトランジスタでも該Nチャネル型MOSトラ
ンジスタの前記最大電圧値より高い電圧を供給しなくて
はならなくなった場合、昇圧効率が悪くなったり、ま
た、昇圧する電圧がさらに高くなったり、Vddがさら
に低くなったりした場合、逆に降圧してしまう場合があ
るという特徴を有する。
【0109】よって、上記した図10で示す昇圧回路の
各Nチャネル型MOSトランジスタは、N型のゲートで
構成することで、しきい値電圧を下げても、リーク電流
を抑えられる構成とし、しきい値電圧を極力低く(0.
2V程度)することで、Vddが低い場合でも、より高
い電圧から昇圧できる構成としている。次に、第4のク
ロック信号入力端子1007にクロック信号を入力しな
い場合について説明する。
【0110】上記した第4のクロック信号入力端子10
06にクロック信号を入力する場合と異なる点は、コン
デンサー1011が平滑コンデンサーとなり、昇圧に寄
与しない点のみである。つまり、出力端子1003に出
力される昇圧電圧は、前記Vh分低下するので、入力端
子1002の電圧に前記Vh分をプラスした値となる。
【0111】図11は本発明における図9で示した第3
から第7昇圧回路の回路図である。構成は、図10で示
す昇圧回路とほとんど同じであり、異なる点は、図10
の昇圧回路のNチャネル型MOSトランジスタ1008
を、図11で示すように、ドレインを入力端子110
2、ソースとNウェルをコンデンサー1110の第1の
電極、ゲートを第2のクロック信号入力端子に接続した
Pチャネル型MOSトランジスタ1108に置き換え、
図10で示す昇圧回路のNチャネル型MOSトランジス
タ1009を、図11で示すように、ドレインをコンデ
ンサー1110の第1の電極、ソースとNウェルをコン
デンサー1111の第1の電極、ゲートを第1のクロッ
ク信号入力端子1104に接続したPチャネル型MOS
トランジスタ1109に置き換えた点のみである。
【0112】動作も、各MOSトランジスタがオン、オ
フするタイミングと、各コンデンサーの第2の電極に入
力されるクロック信号のレベルが、Vhと”ロウ”のタ
イミングは、図10で示す昇圧回路1001と同じであ
り、異なる点は、効率よく昇圧できる、電圧の条件であ
る。つまり、図10で示す昇圧回路は、各MOSトラン
ジスタをNチャネル型MOSトランジスタで構成してい
るため、各Nチャネル型MOSトランジスタが供給する
電圧が、該トランジスタの前記最大電圧値以下の場合、
効率よく昇圧できるが、図11で示す昇圧回路は、各M
OSトランジスタをPチャネル型MOSトランジスタで
構成しているため、各Pチャネル型MOSトランジスタ
が供給する電圧が、該トランジスタの前記最低電圧以上
であれば、効率よく昇圧できるという点である。
【0113】つまり、上記した図11で示す昇圧回路
は、昇圧する電圧が高い場合で、各Pチャネル型MOS
トランジスタが、該トランジスタの前記最低電圧値以上
の電圧を供給する場合は、効率良く昇圧でき、しかも、
どんなに高い電圧からでも昇圧できる特徴を有すが、昇
圧する電圧が低い場合で、どちらか一方のNチャネル型
MOSトランジスタでも、該トランジスタの前記最低電
圧値未満の電圧を供給する場合は、昇圧効率は低下し、
場合によっては、出力端子から全く電圧が出力されない
という特徴を有する。
【0114】よって、上記した図11で示す昇圧回路の
各Pチャネル型MOSトランジスタは、P型のゲートで
構成することで、しきい値電圧の絶対値を下げても、リ
ーク電流を抑えられる構成とし、しきい値電圧の絶対値
を極力低く(0.2V程度)することで、より低い電圧
から昇圧できる構成としている。図12は本発明におけ
る図9で示した第8昇圧回路の回路図である。構成は、
図11で示す昇圧回路1101とほとんど同じであり、
異なる点は、図11で示す昇圧回路1101のコンデン
サー1111が無い点のみである。よって、図12で示
すように、第4のクロック信号入力入力端子1207に
は何も接続していない。
【0115】動作も、図11の昇圧回路1101とほと
んど同じで、異なる点は、図11で示すコンデンサー1
111が無いので、出力端子1203から出力される昇
圧電圧がVh分図11の昇圧回路1101の出力端子1
103に出力される昇圧電圧よりも低下する点である。
本実施例の図9で示す昇圧回路907は、前段の第1昇
圧回路と第2昇圧回路を、上記したような図10で示す
昇圧回路で構成し、後段の第3から第7昇圧回路を、上
記したような図11で示す昇圧回路で構成し、最後段の
第8昇圧回路を、上記したような図12で示す昇圧回路
で構成し、第1昇圧回路と第2昇圧回路で、第3から第
8昇圧回路が苦手とする低電圧からの昇圧を行い、第3
から第8昇圧回路で、第1昇圧回路と第2昇圧回路が苦
手とする高電圧からの昇圧を行うようにすることで、V
ddが0.3V以上あり、熱電変換素子の起電圧Vpが
0.05V以上あれば、昇圧可能と言う特徴を有するこ
とができた。
【0116】本実施例では、図1に示すように、上記し
た図9で示す昇圧回路907で、熱電変換素子101の
起電圧Vpの昇圧を行うことで、熱電変換素子101の
起電圧Vpを効率よく昇圧でき、さらに、低い該起電力
Vp(0.05V)からでも昇圧可能な熱電変換素子昇
圧システムを実現した。なお、図9で示す本実施例の昇
圧回路は、前記した性能の熱電変換素子の起電圧を、時
計用ICなどの、1.5V程度で動作するICを駆動で
きる電圧まで昇圧する設計であるが、異なった性能の熱
電変換素子や、他の発電素子の起電圧を昇圧する場合
や、コンデンサーや2次電池などの蓄電素子の電圧を昇
圧する場合などの、昇圧する電圧が異なる場合、あるい
は、駆動するICの必要な電圧が異なる場合などの、必
要な昇圧電圧値が異なる場合は、前段に配置した図10
で示す昇圧回路の個数、あるいは、後段に配置した図1
1で示す昇圧回路の個数を、増やす、あるいは、減らす
といった設計変更を行えばよいことは言うまでもない。
【0117】さらに、今まで述べた、図2、図6、およ
び、図10で示す各昇圧回路の構成の特徴点を組み合わ
せて構成することでも、目的とする性能を発揮する昇圧
回路が実現できることも言うまでもない。図13に、本
実施例における図1に示す発振回路103の回路図を示
す。先ず、接続状態について説明する。
【0118】熱電変換素子の起電圧Vpを入力する起電
圧入力端子1301は、ディプリーションタイプ(ノー
マリーオン型)のNチャネル型MOSトランジスタ13
06のゲートに接続し、昇圧電圧Vddが入力されるV
dd入力端子1304は、Nチャネル型MOSトランジ
スタ1306のドレインと、Pチャネル型MOSトラン
ジスタ1318,1319のソースとNウェルとに接続
する。
【0119】ディプリーションタイプのNチャネル型M
OSトランジスタ1306のソースは、Pチャネル型M
OSトランジスタ1310,1312,1314のソー
スとNウェルと、インバータ回路1308のPチャネル
型MOSトランジスタ1316のソースとNウェルとに
接続する。Pチャネル型MOSトランジスタ1310の
ドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ1311
のドレインと、コンデンサー1322の第1の電極と、
Pチャネル型MOSトランジスタ1312とNチャネル
型MOSトランジスタ1313のゲートとに接続する。
【0120】Pチャネル型MOSトランジスタ1312
のドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ131
3のドレインと、コンデンサー1323の第1の電極
と、Pチャネル型MOSトランジスタ1314とNチャ
ネル型MOSトランジスタ1315のゲートとに接続す
る。Pチャネル型MOSトランジスタ1314のドレイ
ンは、Nチャネル型MOSトランジスタ1315のドレ
インと、Pチャネル型MOSトランジスタ1310とN
チャネル型MOSトランジスタ1311のゲートと、P
チャネル型MOSトランジスタ1316とNチャネル型
MOSトランジスタ1317のゲートと、Nチャネル型
MOSトランジスタ1321のゲートとに接続する。
【0121】Pチャネル型MOSトランジスタ1316
のドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ131
7のドレインと、Nチャネル型MOSトランジスタ13
20のゲートとに接続する。Pチャネル型MOSトラン
ジスタ1318のドレインは、Pチャネル型MOSトラ
ンジスタ1319のゲートと、Nチャネル型MOSトラ
ンジスタ1320のドレインとに接続する。
【0122】Pチャネル型MOSトランジスタ1319
のドレインは、Pチャネル型MOSトランジスタ131
8のゲートと、Nチャネル型MOSトランジスタ132
1のドレインと、クロック信号P1を出力するクロック
信号出力端子1302とに接続する。Nチャネル型MO
Sトランジスタ1311,1313,1315,131
7,1320,1321のソースと、コンデンサー13
22,1323の第2の電極は、GND端子に接続す
る。
【0123】なお、点線で囲った1307は、リングオ
シレータ回路、1308はインバータ回路、1309は
レベルシフト回路の部分を示す。また、上記したGND
端子に接続するということは、熱電変換素子の低電位側
の電極と接続するGND電位入力端子1305と接続す
るということを意味する。
【0124】次に、各部の動作を説明する。ディプリー
ションタイプのNチャネル型MOSトランジスタ130
6は、Vdd入力端子1304から入力したVddの電
圧をレギュレートする。該トランジスタのレギュレート
電圧は、該トランジスタのしきい値電圧の絶対値に、該
トランジスタのゲートの電圧つまり、熱電変換素子の起
電圧Vpをプラスした値になる。つまり、該トランジス
タのレギュレート電圧は、熱電変換素子の起電圧Vpが
上昇すれば、上昇し、前記Vpが低下すれば、低下す
る。
【0125】リングオシレータ回路1307は、クロッ
ク信号を発生する。該クロック信号の周波数は、リング
オシレータ回路1307の電源電圧、つまり、前記レギ
ュレート電圧が上昇すれば、上昇し、低下すれば、低下
する。よって、熱電変換素子の起電圧Vpが上昇すれ
ば、該クロック信号の周波数は上昇し、該Vpが低下す
れば、該クロック信号の周波数は低下する。
【0126】インバータ回路1308は、前記クロック
信号を入力し、前記クロック信号の位相を反転させたク
ロック信号を出力する。レベルシフト回路1309は、
リングオシレータ回路1307からのクロック信号と、
インバータ回路1308からのクロック信号を入力し、
インバータ回路1308からのクロック信号の波高値
を、昇圧電圧Vddに変換したクロック信号を、クロッ
ク信号出力端子1302に出力する。
【0127】つまり、図13で示す上記したような構成
とする事で、熱電変換素子の起電圧Vpに応じて、出力
するクロック信号の周波数が可変できる発振回路が実現
できる。さらに、図13で示す本実施例の発振回路は、
ディプリーションタイプのNチャネル型MOSトランジ
スタ1306以外の各MOSトランジスタを、しきい値
電圧の絶対値を下げても、リーク電流を抑えられるよう
に、Pチャネル型MOSトランジスタならP型のゲー
ト、Nチャネル型MOSトランジスタなら、N型のゲー
トで構成することで、各MOSトランジスタのしきい値
電圧の絶対値を極力低く(0.2V程度)し、昇圧電圧
Vdd、あるいは、熱電変換素子の起電圧Vpが低い電
圧(0.3V程度)でもクロック信号が出力できる特徴
を持たせている。
【0128】図14は、図1で示す間欠パルス発生回路
104の回路図である。先ず、接続状態を説明する。発
振回路からのクロック信号P1を入力するクロック信号
入力端子1401は、インバータ回路1405,140
7の入力端子に接続し、インバータ回路1405の出力
端子は、第2の電極がGND端子に接続したコンデンサ
ー1408の第1の電極と、インバータ回路1406の
入力端子に接続し、インバータ回路1406の出力端子
は、2入力NAND回路1409の第1の入力端子に接
続し、インバータ回路1407の出力端子は、2入力N
AND回路1409の第2の入力端子に接続し、2入力
NAND回路1409の出力端子は、インバータ回路1
410の入力端子に接続し、インバータ回路1410の
出力端子は、間欠パルスP2を出力する間欠パルス出力
端子1402に接続する。
【0129】なお、各インバータ回路と2入力NAND
回路は、該回路の電源端子は、昇圧電圧Vddが入力さ
れるVdd入力端子1403に接続し、該回路のGND
端子は、熱電変換素子の低電圧側の電極と接続するGN
D電位入力端子1404と接続する。次に、動作を説明
する。クロック信号入力端子1401から入力されたク
ロック信号P1は、インバータ回路1405とインバー
タ回路1406を介して2入力NAND回路1409の
第1の入力端子に入力する。この2入力NAND回路1
409の第1の入力端子に入力するクロック信号は、前
記クロック信号P1より、コンデンサー1408を充放
電する時間分位相が遅れる。
【0130】一方、インバータ回路1407を介して2
入力NAND回路1409の第2の入力端子に入力する
クロック信号は、前記クロック信号P1とは位相が反転
している。2入力NAND回路1409は、該NAND
回路の入力端子に、上記したようなクロック信号を入力
するので、該NAND回路の出力端子は、該NAND回
路の第2の入力端子が”ロウ”から”ハイ”になったと
きから、コンデンサー1408を充電する時間分遅れ
て、該2入力NAND回路の第1の入力端子が”ハイ”
から”ロウ”になるまでの時間、つまり、コンデンサー
1408を充電する時間のみ、”ロウ”となるクロック
信号を出力する。
【0131】インバータ回路1401は、上記した2入
力NAND回路1409の出力するクロック信号の位相
を反転し、間欠パルス信号出力端子1402に出力す
る。間欠パルス信号出力端子1402からは、上記した
インバータ回路1410の出力するクロック信号を、間
欠パルス信号P2として出力する。なお、間欠パルス信
号P2の”ハイ”の期間は、インバータ回路1405の
駆動能力、あるいは、コンデンサー1408の容量値を
変えることにより可変できることは言うまでもない。
【0132】さらに、図14で示す本実施例の間欠パル
ス発生回路104は、各回路を構成する各MOSトラン
ジスタを、しきい値電圧の絶対値を下げても、リーク電
流を抑えられるように、Pチャネル型MOSトランジス
タならP型のゲート、Nチャネル型MOSトランジスタ
なら、N型のゲートで構成することで、各MOSトラン
ジスタのしきい値電圧の絶対値を極力低く(0.2V程
度)し、昇圧電圧Vddが低い電圧でも間欠パルス信号
が出力できる特徴を持たせている。
【0133】図15に、本実施例における図1に示す電
圧検出回路105の回路図を示す。先ず、接続状態につ
いて説明する、熱電変換素子の起電圧Vpを入力する起
電圧入力端子1501は、抵抗Ra1501の第1の電
極と、Nチャネル型MOSトランジスタ1524のゲー
トとに接続する。抵抗Raの第2の電極は、抵抗Rbの
第1の電極と、Nチャネル型MOSトランジスタ152
6のゲートとに接続する。
【0134】抵抗Rbの第2の電極は、抵抗Rcの第1
の電極と、Nチャネル型MOSトランジスタ1528の
ゲートとに接続し、抵抗Rcの第2の電極は、Nチャネ
ル型MOSトランジスタ1514のドレインに接続す
る。間欠パルス信号P2を入力する間欠パルス信号入力
端子1502は、Nチャネル型MOSトランジスタ15
14のゲートと、インバータ回路1515の入力端子と
に接続する。
【0135】インバータ回路1515の出力端子は、P
チャネル型MOSトランジスタ1516のゲートと、N
チャネル型MOSトランジスタ1517のゲートとに接
続する。ディプリーションタイプ(ノーマリーオン型)
のNチャネル型MOSトランジスタ1518は、該トラ
ンジスタのドレインは、Pチャネル型MOSトランジス
タ1516のドレインに接続し、該トランジスタのゲー
トは、該トランジスタのソースと、Nチャネル型MOS
トランジスタ1519のドレインとゲートと、Nチャネ
ル型MOSトランジスタ1517のドレインと、Pチャ
ネル型MOSトランジスタ1521とNチャネル型MO
Sトランジスタ1522のゲートとに接続する。
【0136】Pチャネル型MOSトランジスタ1520
のゲートは、該トランジスタのドレインと、Pチャネル
型MOSトランジスタ1523,1525,1527の
ゲートと、Nチャネル型MOSトランジスタ1521の
ドレインとに接続する。Nチャネル型MOSトランジス
タ1521のソースは、Nチャネル型MOSトランジス
タ1522のドレインと、Nチャネル型MOSトランジ
スタ1524,1526,1528のソースとに接続す
る。
【0137】Pチャネル型MOSトランジスタ1523
のドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ152
4のドレインと、第3の検出信号P33を出力する第3
の出力端子1503とに接続する。Pチャネル型MOS
トランジスタ1525のドレインは、Nチャネル型MO
Sトランジスタ1526のドレインと、第2の検出信号
P32を出力する第2の出力端子1504とに接続す
る。
【0138】Pチャネル型MOSトランジスタ1527
のドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ152
8のドレインと、第1の検出信号P31を出力する第1
の出力端子1505とに接続する。昇圧電圧Vddを入
力するVdd入力端子1506は、Pチャネル型MOS
トランジスタ1516,1520,1523,152
5,1527のソースとNウェルと、インバータ回路1
515の電源とに接続する。
【0139】Nチャネル型MOSトランジスタ151
4,1517,1519,1522のソースは、GND
端子と接続される。なお、図15に示す点線で囲んだ部
分は、1508が分圧抵抗部、1504が基準電圧発生
回路部、1510がコンパレータ回路部である。また、
上記したGND端子に接続するということは、熱電変換
素子の低電位側の電極と接続するGND電位入力端子1
507に接続するという意味である。
【0140】次に、各部の動作を説明する。分圧抵抗部
1508は、熱電変換素子の起電圧Vpの分圧電圧を出
力する。分圧電圧は、抵抗Ra1511と、抵抗Rb1
512と抵抗Rc1514とを直列接続した抵抗とで分
圧する第1の分圧電圧と、抵抗Ra1511と抵抗Rb
1512とを直列接続した抵抗と、抵抗Rc1514と
で分圧する第2の分圧電圧の2種類の分圧電圧を、前記
第1の分圧電圧は抵抗Rb1512の第1の電極、前記
第2の分圧電圧は抵抗Rcの第1の電極からそれぞれ出
力する。さらに、ゲートに間欠パルス信号P2を入力し
たNチャネル型MOSトランジスタ1514で、間欠パ
ルス信号P2が、”ハイ”の期間だけ、分圧電圧を出力
し、間欠パルス信号P2が”ロウ”の時は、各抵抗を流
れる電流をカットし、分圧電圧を発生しないようにする
ことで、間欠動作し低消費電流化を図っている。
【0141】基準電圧発生回路部1509は、基準電圧
を出力する。該基準電圧は、Nチャネル型MOSトラン
ジスタ1519のドレインから出力する。さらに、間欠
パルス信号P2をインバータ回路1509を介してゲー
トに入力したPチャネル型MOSトランジスタ1516
とNチャネル型MOSトランジスタ1517で、間欠パ
ルス信号P2が”ハイ”の期間だけ、基準電圧を出力
し、間欠パルス信号P2が”ロウ”の期間は、Pチャネ
ル型MOSトランジスタ1516をオフすることでVd
dから電流をカットし、Nチャネル型MOSトランジス
タ1517をオンし、基準電圧ではなくGND電位を出
力するようにすることで、間欠動作し低消費電流化を図
っている。
【0142】コンパレータ回路部1510は、カレント
ミラータイプのコンパレート方式を用いたコンパレータ
回路で、Nチャネル型MOSトランジスタ1521のゲ
ートに入力する前記基準電圧と、Nチャネル型MOSト
ランジスタ1524のゲートに入力する熱電変換素子の
起電圧Vpを比較し、前記基準電圧よりも前記Vpの電
圧の方が低い場合は”ハイ”、前記基準電圧よりも前記
Vpの電圧の方が高い場合は”ロウ”の信号を第3の検
出信号P33として第3の出力端子1503から出力す
るという動作と、前記基準電圧と、Nチャネル型MOS
トランジスタ1526のゲートに入力する分圧抵抗部1
508からの前記第1の分圧電圧を比較し、前記基準電
圧よりも前記第1の分圧電圧が低い場合は”ハイ”、前
記基準電圧よりも前記第1の分圧電圧が高い場合は”ロ
ウ”の信号を第2の検出信号P2として第2の出力端子
1504から出力するという動作と、前記基準電圧と、
Nチャネル型MOSトランジスタ1528のゲートに入
力する分圧抵抗部1508からの前記第2の分圧電圧を
比較し、前記基準電圧よりも前記第2の分圧電圧が低い
場合は”ハイ”、前記基準電圧よりも前記第1の分圧電
圧が高い場合は”ロウ”の信号を第1の検出信号P31
として第1の出力端子1505から出力するという動作
を行う。
【0143】さらに、コンパレータ回路部1510は、
ゲートに前記基準電圧を入力するNチャネル型MOSト
ランジスタ1522で、前記基準電圧が出力している
時、つまり、前記間欠パルス信号P2が”ハイ”の時
は、GND端子へ電流が流れるようにする事で、検出動
作するようにし、前記基準電圧が出力せず、GND電位
が出力している時、つまり、前記間欠パルス信号が”ロ
ウ”の時は、GND端子への電流をカットすることで、
検出動作しないようにしている。つまり、間欠的に検出
動作する事で、低消費電流化を図っている。
【0144】なお、上記第1の分圧電圧は、熱電変換素
子の起電圧Vpが0.8Vの時0.4V、上記第2の分
圧電圧は、熱電変換素子の起電圧Vpが1.6Vの時
0.4Vになるように設計し、前記基準電圧は、0.4
vになるように設計している。つまり、前記第3の検出
電圧P33は、熱電変換素子の起電圧Vpが0.4V以
上なら”ロウ”、前記Vpが0.4V未満なら”ハイ”
となり、前記第2の検出信号P2は、前記Vpが0.8
V以上なら”ロウ”、前記Vpが0.8V未満なら”ハ
イ”となり、前記第1の検出信号P31は、前記Vpが
1.6V以上なら”ロウ”、前記Vpが1.6V未満な
ら”ハイ”となる。
【0145】さらに、図15で示す本実施例の電圧検出
回路105は、各回路を構成する各MOSトランジスタ
を、しきい値電圧の絶対値を下げても、リーク電流を抑
えられるように、Pチャネル型MOSトランジスタなら
P型のゲート、Nチャネル型MOSトランジスタなら、
N型のゲートで構成することで、各MOSトランジスタ
のしきい値電圧の絶対値を極力低く(0.2V程度)
し、昇圧電圧Vdd、あるいは、熱電変換素子の起電圧
Vpが低い電圧でも、各検出信号が出力できる特徴を持
たせている。
【0146】つまり、本実施例の図1で示す電圧検出回
路105を、図15で示すような構成とすることで、間
欠パルス信号P2で、間欠動作することで、消費電流の
少ない電圧検出回路が実現できる。図16に、本実施例
における図1に示す信号記憶回路106の回路図を示
す。先ず、接続状態について説明する、電圧検出回路か
ら出力する第1の検出信号P31を入力する第1の入力
端子1601は、第1記憶回路1610の信号入力端子
に接続し、電圧検出回路から出力する第2の検出信号P
32を入力する第2の入力端子1602は、第2記憶回
路1611の信号入力端子に接続し、電圧検出回路から
出力する第3の検出信号P33を入力する第3の入力端
子1603は、第3記憶回路1612の信号入力端子に
接続する。
【0147】間欠パルス発生回路から出力する間欠パル
ス信号P2を入力する間欠パルス信号入力端子1604
は、第1記憶回路1610と第2記憶回路1611と第
3記憶回路1612のそれぞれの第1の間欠パルス信号
入力端子と、インバータ回路1613の入力端子に接続
し、インバータ回路1613の出力端子は、第1記憶回
路1610と第2記憶回路1611と第3記憶回路16
12のそれぞれの第2の間欠パルス信号入力端子に接続
する。
【0148】昇圧電圧Vddを入力するVdd入力端子
1608は、第1記憶回路1610と第2記憶回路16
11と第3記憶回路1612のそれぞれのVdd入力端
子に接続し、熱電変換素子の低電位側の電極と接続する
GND電位入力端子1609は、第1記憶回路1610
と第2記憶回路1611と第3記憶回路1612のそれ
ぞれのGND電位入力端子に接続する。
【0149】第1記憶回路1610の出力端子は、第1
の記憶信号P41を出力する第1の出力端子1605に
接続し、第2記憶回路1611の出力端子は、第2の記
憶信号P42を出力する第2の出力端子1606に接続
し、第3記憶回路1612の出力端子は、第3の記憶信
号P43を出力する第3の出力端子1607に接続す
る。
【0150】また、インバータ回路1613の電源端子
は、昇圧電圧Vddを入力するVdd入力端子1608
に接続し、インバータ回路1613のGND端子は、熱
電変換素子の低電位側の電極と接続するGND電位入力
端子1609に接続する。次に動作を説明する。先ず、
間欠パルス信号P2が”ハイ”の期間は、各記憶回路の
第1の間欠パルス信号入力端子は”ハイ”となり、各記
憶回路の第2の間欠パルス信号入力端子は”ロウ”とな
るので、第1記憶回路1610は、第1の検出信号P3
1と同じ信号を第1の出力端子1605に出力し、第2
記憶信号回路1611は、第2の検出信号P32と同じ
信号を第2の出力端子1606に出力し、第3記憶回路
1612は、第3の検出信号P33と同じ信号を第3の
出力端子1607に出力する。
【0151】次に、間欠パルス信号P2が”ハイ”に次
いで”ロウ”になる期間は、各記憶回路の第1の間欠パ
ルス信号入力端子は”ロウ”となり、各記憶回路の第2
の間欠パルス信号入力端子は”ハイ”となるので、第1
記憶回路1610は、間欠パルス信号P2が”ハイ”か
ら”ロウ”になるときの第1の検出信号P31の電圧を
記憶し、記憶した第1の検出信号P31の電圧を第1の
出力端子1605に出力しつづけ、第2記憶回路161
1は、間欠パルス信号P2が”ハイ”から”ロウ”にな
るときの第2の検出信号P32の電圧を記憶し、記憶し
た第2の検出信号P32の電圧を第2の出力端子160
6に出力しつづけ、第3記憶回路1612は、間欠パル
ス信号P2が”ハイ”から”ロウ”になるときの第3の
検出信号P33の電圧を記憶し、記憶した第3の検出信
号P33の電圧を第3の出力端子1607に出力しつづ
ける。
【0152】つまり、図1で示す信号記憶回路106を
図16で示す構成とすることで、間欠動作する電圧検出
回路が動作している期間、つまり、間欠パルス信号が”
ハイ”の期間は、電圧検出回路105の検出信号をその
まま記憶信号として出力し、電圧検出回路が動作してい
ない期間、つまり、間欠パルス信号が”ロウ”の期間
は、該期間の前の電圧検出回路が動作している期間の検
出信号を記憶し、記憶した検出信号を記憶信号として出
力する信号記憶回路が実現できる。
【0153】図17に、図16で示す第1記憶回路16
10と第2記憶回路1611と第3記憶回路1612の
回路図を示す。先ず、接続状態を説明する。検出信号を
入力する検出信号入力端子1702は、Pチャネル型M
OSトランジスタ1708のソースとNチャネル型MO
Sトランジスタ1709のドレインとに接続する。間欠
パルス信号P2が入力される第1の間欠パルス信号入力
端子1703は、Nチャネル型MOSトランジスタ17
09のゲートとPチャネル型MOSトランジスタ171
0のゲートとに接続する。
【0154】間欠パルス信号P2と位相が反転した信号
が入力される第2の間欠パルス信号入力端子1704
は、Pチャネル型MOSトランジスタ1708のゲート
とNチャネル型MOSトランジスタ1711のゲートと
に接続する。Pチャネル型MOSトランジスタ1708
のドレインは、Nチャネル型MOSトランジスタ170
9のソースと、Pチャネル型MOSトランジスタ171
0のソースと、Nチャネル型MOSトランジスタ171
1のソースと、インバータ回路1712の入力端子とに
接続し、インバータ回路1712の出力端子は、インバ
ータ回路1713の入力端子に接続する。
【0155】インバータ回路1713の出力端子は、P
チャネル型MOSトランジスタ1710のドレインと、
Nチャネル型MOSトランジスタ1711のソースと、
記憶信号を出力する記憶信号出力端子1705とに接続
する。なお、昇圧電圧Vddを入力するVdd入力端子
1706は、Pチャネル型MOSトランジスタ170
8,1710のNウェルと、インバータ回路1712,
1713の電源端子とに接続し、熱電変換素子の低電位
側の電極と接続するGND電位入力端子1707は、イ
ンバータ回路1712,1713のGND端子に接続す
る。
【0156】次に、動作を説明する。先ず、間欠パルス
信号P2が”ハイ”の時、第1の間欠パルス信号入力端
子1703は”ハイ”、第2の間欠パルス信号入力端子
1704は”ロウ”となるので、Pチャネル型MOSト
ランジスタ1708とNチャネル型MOSトランジスタ
がオンし、Pチャネル型MOSトランジスタ1710と
Nチャネル型MOSトランジスタ1711がオフし、イ
ンバータ回路1712の入力端子には、検出信号入力端
子1702から入力した検出信号が入力されるので、記
憶信号出力端子1705からは、該検出信号がそのまま
出力される。
【0157】次に、間欠パルス信号P2が、前記した”
ハイ”の状態から”ロウ”になったとき、第1の間欠パ
ルス信号入力端子1703は”ロウ”、第2の間欠パル
ス信号入力端子1704は”ハイ”となるので、Pチャ
ネル型MOSトランジスタ1708とNチャネル型MO
Sトランジスタがオフし、Pチャネル型MOSトランジ
スタ1710とNチャネル型MOSトランジスタ171
1がオンし、インバータ回路1712の入力端子には、
検出信号入力端子1702から入力した検出信号が入力
されず、前記した間欠パルス信号が”ハイ”の時の最後
の検出信号が入力されたままとなるので、記憶信号出力
端子1705からは、間欠パルス信号が”ハイ”の時の
最後の検出信号が出力され続ける。
【0158】つまり、図17で示すような構成とするこ
とで、間欠パルス信号が”ハイ”の時、つまり、電圧検
出回路が動作し、検出信号を出力している時は、そのま
ま該検出信号を記憶信号として出力し、前記した間欠パ
ルス信号”ハイ”の状態から”ロウ”になった時、つま
り、電圧検出回路が停止し、検出信号が出力されなくな
った時は、前記した間欠パルス信号が”ハイ”の時の最
後の検出信号を記憶し、次の間欠パルス信号が”ハイ”
となるときまで、該記憶した検出信号を出力し続ける記
憶回路が実現できる。
【0159】上記したように、本実施例では、図1で示
す信号記憶回路106を、図17で示すような構成の記
憶回路を用いて、図16で示すような構成とする事で、
図1で示す間欠動作する電圧検出回路105が、動作し
ている時は、該電圧検出回路の検出信号をそのまま記憶
信号として出力し、該電圧検出回路が、停止していると
きは、該電圧検出回路が停止する前、つまり、動作して
いる時の検出信号を記憶し、次に該電圧検出回路が動作
するまで、その記憶した検出信号を出力する信号記憶回
路が実現できる。
【0160】さらに、本実施例の前記信号記憶回路は、
該信号記憶回路を構成する各MOSトランジスタを、し
きい値電圧の絶対値を下げても、リーク電流を抑えられ
るように、Pチャネル型MOSトランジスタならP型の
ゲート、Nチャネル型MOSトランジスタなら、N型の
ゲートで構成することで、各MOSトランジスタのしき
い値電圧の絶対値を極力低く(0.2V程度)し、昇圧
電圧Vdd、あるいは、熱電変換素子の起電圧Vpが低
い電圧でも、記憶信号が出力できる特徴を持たせてい
る。
【0161】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を有する。Pチャ
ネル型MOSトランジスタとNチャネル型MOSトラン
ジスタを適材適所に設置し、MOSトランジスタでコン
デンサーを充放電し昇圧させることで、昇圧効率が良
く、低電圧からの昇圧が可能な昇圧回路が実現できる。
【0162】そして、該MOSトランジスタをPチャネ
ル型MOSトランジスタならP型のゲート、Nチャネル
型MOSトランジスタならN型のゲートとしたMOSト
ランジスタとする事で、各MOSトランジスタしきい値
電圧の絶対値を下げることができるので、さらに低電圧
からの昇圧が可能な昇圧回路が実現できる。また、外部
エネルギーにより発電する電源、例えば熱電変換素子の
起電圧に応じて出力するクロック信号の周波数を可変で
きる発振回路を設け、該発振回路の出力するクロック信
号で昇圧回路が熱電変換素子の起電圧を昇圧する構成と
することで、熱電変換素子の起電力を無駄無く昇圧電力
に変換することができる昇圧システムが実現できる。
【0163】さらに、該熱電変換素子の起電圧を検出
し、該起電圧に応じた検出信号を出力する電圧検出回路
を設け、該電圧検出回路の出力する検出信号で、昇圧回
路の昇圧倍数を可変するような構成とすることで、熱電
変換素子の起電圧が変動しても、熱電変換素子の起電力
を効率良く昇圧電力に変換することができる昇圧システ
ムが実現できる。
【0164】そして、さらに、発振回路からのクロック
信号から間欠パルスを作り出す間欠パルス発生回路を設
け、前記電圧検出回路を該間欠パルス信号で間欠動作さ
せ、前記電圧検出回路が動作している期間は、該電圧検
出回路が出力する前記検出信号を、記憶信号として昇圧
回路へ出力し、前記電圧検出回路が動作していない期間
は、前の該電圧検出回路が動作していた時の最終の検出
信号を記憶し、次に該電圧検出回路が動作するまでの
間、前記記憶した検出信号を、記憶信号として昇圧回路
へ出力する信号記憶回路を設け、昇圧回路は、該信号記
憶回路から出力する記憶信号に応じて昇圧倍数を可変す
る構成とすることで、前記電圧検出回路で消費される電
流が少なくなり、効率の良い昇圧システムが実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】昇圧システムの実施例を示すブロック図であ
る。
【図2】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図3】昇圧回路の回路図である。
【図4】昇圧回路の回路図である。
【図5】昇圧回路の回路図である。
【図6】昇圧回路の実施例の回路図である。
【図7】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図8】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図9】昇圧回路の実施例の回路図である。
【図10】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図11】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図12】昇圧回路の実施例を示す回路図である。
【図13】発振回路の実施例を示す回路図である。
【図14】間欠パルス発生回路の実施例を示す回路図で
ある。
【図15】電圧検出回路の実施例を示す回路図である。
【図16】信号記憶回路の実施例を示す回路図である。
【図17】信号記憶回路の実施例を示す回路図である。
【図18】従来の昇圧システムを示すブロック図であ
る。
【図19】従来の昇圧システムの昇圧回路を示す回路図
である。
【符号の説明】
101 熱電変換素子 103 発振回路 104 間欠パルス発生回路 105 信号記憶回路 107 昇圧回路 P1 クロック信号 P2 間欠パルス信号 P3 検出信号 P4 記憶信号 VP 起電圧 Vdd 昇圧電圧 GND GND端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森内 美和 千葉県千葉市美浜区中瀬1丁目8番地 セ イコーインスツルメンツ株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部エネルギーで起電力を発生する電源
    と、 前記起電力を利用して、該起電力の電圧よりも高い電圧
    の昇圧電力を発生する昇圧回路と、クロック信号を発生
    する発振回路を有し、 前記電源は、外部エネルギーの変動により前記前記起電
    力の電圧が変動する特徴を有し、 前記昇圧回路は、内部にスイッチ素子とコンデンサーを
    有し、前記スイッチ素子のスイッチング動作と、前記コ
    ンデンサーのカップリング効果を利用して前記昇圧電力
    を発生し、さらに、前記クロック信号により、前記スイ
    ッチ素子をオン、オフする構成であり、 前記発振回路は、発生するクロック信号の周波数を、前
    期起電圧の電圧が上昇する際は上昇させ、前記起電力の
    電圧が低下する際は低下させる構成であることを特徴と
    する電子機器。
  2. 【請求項2】 外部エネルギーで起電力を発生する電源
    と、 前記起電力を利用して、該起電力の電圧よりも高い電圧
    の昇圧電力を発生する昇圧回路と、クロック信号を発生
    する発振回路と、前記起電力の電圧を検出し、検出結果
    に基づく検出信号を出力する電圧検出回路を有し、 前記電源は、外部エネルギーの変動により前記前記起電
    力の電圧が変動する特徴を有し、 前記昇圧回路は、内部にスイッチ素子とコンデンサーを
    有し、前記スイッチ素子のスイッチング動作と、前記コ
    ンデンサーのカップリング効果を利用して前記昇圧電力
    を発生し、さらに、前記クロック信号により、前記スイ
    ッチ素子をオン、オフする構成であると伴に、昇圧倍数
    を可変できる構成であり、前記検出信号により、前期起
    電圧の電圧が上昇する際は昇圧倍数を低下させ、前記起
    電力の電圧が低下する際は昇圧倍数を増加させるように
    制御される構成であることを特徴とする電子機器。
  3. 【請求項3】 前記電子機器は、さらに前記電圧検出回
    路の検出信号を記憶する信号記憶回路を有し、またさら
    に、前記電圧検出回路は、間欠動作する構成を有し、 前記信号記憶回路は、前記電圧検出回路が動作している
    期間は、前記電圧検出回路からの検出信号と同じ信号を
    前記昇圧回路に出力し、前記電圧検出回路が動作してい
    ない期間は、前記電圧検出回路が動作している期間の最
    後段階に、前記電圧検出回路から出力される検出信号を
    記憶し、該記憶した検出信号を、その後の前記電圧検出
    回路の動作する期間まで前記昇圧回路に出力し続ける構
    成であることを特徴とする請求項2記載の電子機器
  4. 【請求項4】 前記電源は、温度差という外部エネルギ
    ーで起電力を発生する熱電変換素子であることを特徴と
    する請求項1から3のいずれかに記載の電子機器。
  5. 【請求項5】 前記電子機器は、腕時計であり、該腕時
    計は内部に前記昇圧回路と前記熱電変換素子と時計用I
    Cを有する構成であり、前記昇圧電力を利用して前記時
    計ICを駆動することを特徴とする請求項4記載の電子
    機器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6977828B2 (en) 2003-04-22 2005-12-20 Kabushiki Kaisha Toshiba DC-DC converter applied to semiconductor device
WO2010010710A1 (ja) * 2008-07-24 2010-01-28 三菱電機株式会社 電力変換装置
WO2023145741A1 (ja) * 2022-01-27 2023-08-03 日本ゼオン株式会社 昇圧回路及び昇圧システム

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