JP2001305145A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試薬プローブの試薬の干渉が前の測定項目を
飛び越えて影響することなく、試薬プローブの洗浄が頻
繁に入らないよう測定項目の順序を自動的に切り換え、
反応管が汚れやすい測定項目も測定可能な自動分析装置
を提供する。 【解決手段】 予め設定される試薬プローブ１３の試薬
干渉の組み合わせから、測定依頼を試薬干渉に関連しな
い測定項目群（ａ）、試薬干渉を一方的に受ける測定項
目群（ｂ）、試薬干渉を受けると共に与える測定項目群
（ｃ）、試薬干渉を与える測定項目群（ｄ）に分別し、
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）又は（ｂ）、（ｃ）、
（ｄ）、（ａ）又は（ｃ）、（ｄ）、（ａ）、（ｂ）又
は（ｄ）、（ａ）、（ｂ）、（ｃ）を測定順として決定
する。測定項目Ｔと所定数の過去の測定項目順を記憶し
ている測定履歴又は反応情報の組み合わせと、予め設定
された試薬干渉の組み合わせを比較し、試薬プローブの
洗浄方法と洗浄回数を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試薬プローブ汚染
防止および反応管からの汚染防止が可能な自動分析装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、測定項目に応じた試薬プローブで
反応管にピペットしながら多項目の測定項目を同時に測
定するランダム方式の自動分析装置が可能になった。こ
の自動分析装置においては、サイクル毎に試薬をピペッ
トした後に試薬プローブを水洗浄することにより、前に
試薬分注した測定項目の影響を除く方法がとられてい
る。

【０００３】しかし、試薬プローブを水洗浄しても、前
に試薬分注した測定項目の影響（クロスコンタミネーシ
ョン）が測定結果に現れるため、予め試薬が干渉する測
定項目の組み合わせと洗浄方法を設定することで、前に
試薬分注をした測定項目の影響を取り除く方法が取られ
ている。洗浄方法には、試薬プローブを水洗浄する方法
（水洗い）と、影響を受ける測定項目の試薬をダミーで
空き反応管に吐出して試薬プローブの内壁をなじませる
洗浄方法（試薬とも洗い）と、洗剤を試薬プローブに吸
入して空き反応管に吐出する洗浄方法（洗剤洗浄）があ
る。また、前の測定項目の試薬の影響が出ないように測
定項目の順序を自動的に切り換える方法も考案されてい
る。

【０００４】また、測定に使用した反応管を洗浄してつ
ぎの測定に使用するため、反応管を経由して前回の測定
項目の影響を除くため、予め試薬が干渉する測定項目の
組み合わせを設定し、該当する測定項目の組み合わせが
生じたときには、その反応管を測定に供さない方法が取
られている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の技
術においては、前の測定項目の試薬の影響を除去するの
に１回の試薬プローブ洗浄では足りないため、試薬プロ
ーブの洗浄回数を増加させなければならず、この種の自
動分析装置においては予め洗浄回数も設定するようにな
った。このため、測定項目の組み合わせが単に前の測定
項目だけにとどまらず、前の測定項目を飛び越えて影響
することが指摘されるに至り、臨床検査技師から測定結
果の信頼を受けるには不十分であった。また、前の測定
項目を飛び越えて影響することも考慮した測定項目の順
序を切り換える方法が考案されていないため、頻繁に入
る試薬プローブ洗浄のため処理能力を落としていた。

【０００６】近年の臨床検査室において、反応管が汚れ
易い測定項目も自動分析装置で測定したいとの要望があ
る。それらの測定項目は反応管の洗浄が１周や２周では
除去できないため、自動分析装置で測定することができ
なかった。

【０００７】本発明は、試薬プローブの試薬の干渉が前
の測定項目を飛び越えて影響することなく、試薬プロー
ブの洗浄が頻繁に入らないよう測定項目の順序を自動的
に切り換え、反応管が汚れやすい測定項目も測定可能な
自動分析装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項１に記載の本発明においては、予め試薬プロー
ブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干渉を受ける測定
項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数を設定し、該当
する測定項目の組み合わせが生じたときに設定された洗
浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピペット方式の自
動分析装置において、前記洗浄方法の試薬とも洗い、洗
剤洗浄、水洗いの順序で、かつ各洗浄方法のうちから洗
浄回数の多い試薬干渉の測定項目の組み合わせによって
測定項目の順序を求めることを特徴とする自動分析装置
をもって解決手段とする。

【０００９】また、請求項２に記載の本発明によれば、
予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干
渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数
を設定し、該当する測定項目の組み合わせが生じたとき
に設定された洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピ
ペット方式の自動分析装置において、前記洗浄方法の試
薬とも洗い、洗剤洗浄、水洗いの種別により、設定され
た前記洗浄回数の適用を変えることを特徴とする自動分
析装置をもって解決手段とする。

【００１０】また、請求項３に記載の本発明によれば、
予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測定項目と干渉試
薬を受ける測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数
を設定し、該当する測定項目の組み合わせが生じたとき
に設定された洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピ
ペット方式の自動分析装置において、過去の測定項目を
所定数記憶する測定履歴部と測定履歴部に測定しようと
している項目に影響を与える項目の有無を調べる試薬干
渉チェック部を設け、記憶している前記測定履歴部に測
定しようとしている項目に影響を与える前記測定項目が
ある場合は、前記試薬プローブを設定された回数だけ試
薬とも洗い洗浄することを特徴とする自動分析装置をも
って解決手段とする。

【００１１】また、請求項４に記載の本発明によれば、
予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干
渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数
を設定し、該当する測定項目の組み合わせが生じたとき
に設定された洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピ
ペット方式の自動分析装置において、過去の前記測定項
目を所定数記憶する測定履歴部と、この測定履歴部に測
定しようとしている項目に影響を与える項目の有無を調
べる試薬干渉チェック部を設け、記憶している前記測定
履歴部を洗浄回数だけ過去に遡り、その範囲の中に影響
を与える前記測定項目がある場合は、前記試薬プローブ
を設定された洗浄回数から影響を与える前記測定項目ま
での測定項目数を差し引いた回数だけ洗浄することを特
徴とする自動分析装置をもって解決手段とする。

【００１２】また、請求項５に記載の本発明によれば、
予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干
渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数
を設定し、該当する測定項目の組み合わせが生じたとき
に設定された洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピ
ペット方式の自動分析装置において、個々の前記測定項
目の試薬の界面活性剤の添加有無を試薬情報として予め
登録・記憶する測定パラメータ部と、過去の前記測定項
目を所定数記憶する測定履歴部と、この測定履歴部に測
定しようとしている項目に影響を与える項目の有無を調
べる試薬干渉チェック部を設け、記憶している測定履歴
部を洗浄回数と界面活性剤が無添加の項目数だけ過去に
遡り、その範囲の中に影響を与える測定項目がある場合
は、前記試薬プローブを設定された洗浄回数から影響を
与える測定項目までの界面活性剤が添加されている測定
項目数を差し引いた回数だけ洗剤洗浄することを特徴と
する自動分析装置。

【００１３】また、請求項６に記載の本発明によれば、
予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干
渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数
を設定し、該当する測定項目の組み合わせが生じたとき
に設定された洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピ
ペット方式の自動分析装置において、試薬分注位置の近
傍に試薬分注する反応管が存在するときに前記試薬プロ
ーブを水洗浄する制御部と、各前記反応管の現在の測定
項目を記憶する反応管情報部と、この反応管情報部に測
定しようとしている項目に影響を与える項目の有無を調
べる試薬干渉チェック部を設け、記憶している反応管情
報部を洗浄回数だけ過去に遡り、その範囲の中に影響を
与える測定項目がある場合は、前記試薬プローブを設定
された洗浄回数から影響を与える測定項目までのサイク
ル数を差し引いた回数だけ試薬プローブを水洗浄するこ
とを特徴とする自動分析装置をもって解決手段とする。

【００１４】また、請求項７に記載の本発明によれば、
前記測定項目から前記試薬プローブの試薬干渉を受ける
測定項目と与える測定項目とが存在する前記測定項目の
組み合わせを抽出し、測定しようとしている試料の前記
測定項目を （ａ）試薬プローブの試薬干渉に関係しない測定項目
群、（ｂ）試薬プローブの試薬干渉を一方的に受ける測
定項目群、（ｃ）試薬プローブの試薬干渉を受けるとと
もに与える測定項目群、（ｄ）試薬プローブの試薬干渉
を与える測定項目群、に分類し、（ａ），（ｂ），
（ｃ），（ｄ）順、あるいは（ｂ），（ｃ），（ｄ），
（ａ）順、あるいは（ｃ），（ｄ），（ａ），（ｂ）
順、あるいは（ｄ），（ａ），（ｂ），（ｃ）順のいず
れかに測定順序を決定する順序決定手段により、予め登
録された試薬干渉する測定項目の組み合わせと洗浄方
法、洗浄回数から試薬干渉の発生し難い測定順序を決定
することを特徴とする請求項１〜６のうちのいずれか一
つに記載の自動分析装置をもって解決手段とする。

【００１５】また、請求項８に記載の本発明によれば、
予め反応管経由で試薬干渉する測定項目と試薬干渉を受
ける測定項目の組み合わせを設定し、該当する測定項目
の組み合わせが生じたときに、その反応管を測定に使用
しないランダム方式の自動分析装置において、試薬干渉
の前記測定項目の組み合わせと洗浄回数を予め記憶して
いる前記反応管の試薬干渉表と、設定される洗浄の最大
回数分以上の前記反応管個々の測定履歴を記憶する反応
管情報部と、記憶している前記反応管情報部の測定履歴
に測定しようとしている項目に影響を与える項目有無を
調べる試薬干渉チェック部を設け、反応管経由で試薬干
渉しない場合にのみ、その反応管を測定に供することを
特徴とする自動分析装置をもって解決手段とする。

【００１６】また、請求項９に記載の本発明によれば、
予め設定される試薬プローブの試薬干渉の組み合わせに
基づいて測定依頼を分別する手段と、前記分別手段によ
る分別に基づいて、前記測定依頼の測定順を決定する手
段と、前記測定依頼と該測定順を記憶する手段と、前記
記憶と前記組み合わせを比較する手段と、前記比較に基
づいて前記試薬プローブの洗浄方法あるいは洗浄回数を
求める手段とを備えることを特徴とする自動分析装置を
もって解決手段とする。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は本発明が適用された自動分
析装置の１実施の形態を示す構成図であり、図２はその
制御系を示す図である。

【００１８】図１において、サンプラ１はサンプルディ
スク２とこれを回転させる駆動部（不図示）を備え、サ
ンプルディスク２には測定する試料液を満たした試料容
器４が円周上に並べられ、これらの試料容器は必要に応
じてサンプリングアーム３による試料吸入位置まで回転
移送される。サンプリングアーム３は、試料容器４内の
試料液を採取して反応部に分注するものであり、該サン
プリングアーム３に保持されるサンプリングプローブ５
はサンプリングアーム３の回転動作と上下動作により回
転軌道下にある試料吸入位置、サンプリングプローブ５
の洗浄プール６位置、試料分注位置で回転停止し得るよ
うになっている。そして、それぞれの位置で試料容器
内、洗浄プール内、反応容器内にサンプリングプローブ
５の先端を降ろすことができ、かつその上方へ引き上げ
ることができる。

【００１９】反応ディスク７はその円周上に複数の反応
容器８を有し、これを回転させる駆動部（不図示）を備
え、反応容器８は試料分注位置から試薬位置を経由して
洗浄エレベータ９の方向へと１回転と１反応容器ピッチ
移送する。１回転と１反応容器ピッチ回転する間に測光
部１０の光軸を横切る反応容器の光量を計測する。図３
は反応ディスク７をホームポジションにしたときの図で
反応容器番号と試料分注、試薬分注などの操作位置が記
載されている。

【００２０】また、図１に示す試薬庫１１は複数の試薬
と洗剤を各容器に蓄えるものであり、当該試薬あるいは
洗剤を分注する試薬アーム１２に保持される試薬プロー
ブ１３は試薬アーム１２の回転動と上下動により回転軌
道下にある任意の試薬瓶位置、試薬分注位置、試薬プロ
ーブ１３の洗浄プール１４位置で回転停止される。そし
て、任意の試薬瓶位置、試薬プローブ１３の洗浄プール
１４位置で試薬瓶内あるいは洗浄プール内に試薬プロー
ブ１３先端を降ろすことができ、かつその上方へ引き上
げることができるようになっている。

【００２１】また、当該自動分析装置は、その制御系と
して図２に示す如くインターフェイス４０を介してプリ
ンタ１５、ＣＲＴ１６、操作部１７、制御部１８、サン
プリングポンプ１９、試薬ポンプ２０、アルカリ洗剤２
１及び酸性洗剤２３の残量を検出する管圧センサ２２，
２４と、図１のサンプラ１、サンプリングアーム３、反
応ディスク７、洗浄エレベータ９、測光部１０、試薬ア
ーム１２に接続されている。

【００２２】図４はサンプリングプローブ５及び試薬プ
ローブ１３に接続される流路系を示す流れ図である。同
図において、サンプリングプローブ５はテフロン（登録
商標）チューブでサンプリングポンプ１９に接続され、
サンプリングポンプ１９のシリンジの横からサンプリン
グ電磁弁２７、分岐管２８、プローブ内壁洗浄ポンプ２
９へと流路が接続され、この流路には通常純水が満たさ
れている。また、サンプリング電磁弁２７のもう一方の
流路はドレインパイプ（不図示）を介し装置外部の廃水
へと流路が形成されている。そして、プローブ内壁洗浄
ポンプ２９が作動すると分岐管２８の方向へ純水が供給
され、このときサンプリング電磁弁２７が作動していな
い際には純水が廃水側へ導かれるように流路が通じ、作
動すると純水がサンプリングプローブ５へと供給され
る。

【００２３】サンプリングプローブ５の洗浄プール６は
排水孔６ａと純水噴射孔６ｂで構成され、排水孔６ａは
重力差で廃水側へと流れるように接続されている。純水
噴射孔６ｂは図示しない給水ポンプの作動で純水が供給
される。

【００２４】試薬プローブ１３はテフロンチューブで試
薬ポンプ２０に接続され、試薬ポンプ２０のシリンダの
横から試薬電磁弁２６、分岐管２８、プローブ内壁洗浄
ポンプ２９へと流路が接続され、この流路には通常純水
で満たされている。また、試薬電磁弁２６のもう一方の
流路は装置外部の廃水へと流路が形成されている。そし
て、試薬電磁弁２６が作動していないときは、純水が廃
水側へ導かれるように流路が通じ、作動させると純水が
試薬プローブ１３へと供給される。

【００２５】試薬プローブ１３の洗浄プール１４は排水
孔１４ａと純水噴射孔１４ｂで構成され、排水孔１４ａ
は重力差で廃水側へと流れるように接続されている。純
水噴射孔１４ｂは図示しない給水ポンプの作動で純水が
供給される。

【００２６】図５は図１に示した洗浄エレベータ９に接
続される流路系を示す図である。洗浄エレベータ９は６
個の洗浄ノズル３０と排水ノズル３１と乾燥棒３２を保
持し、上下動により洗浄ノズル３０と排水ノズル３０と
乾燥棒３２を反応容器８内に降ろすことができる。洗浄
ノズル３０は排水孔と噴射孔で構成され、排水孔は洗浄
ポンプ３３の排水シリンジ、集合管３４へと接続され、
洗浄ポンプ３３の作動で排水される。純水で洗浄する洗
浄ノズル３０の噴射孔は洗浄ポンプ３５の給水シリン
ジ、分岐管３６へと流路が接続され、洗浄ポンプ３５の
作動で噴射孔へ純水が供給される。

【００２７】アルカリ洗剤２１および酸性洗剤２３で洗
浄するそれぞれの洗浄ノズル３０ａ，３０ｂの噴射孔は
洗剤ポンプ３７のアルカリ性洗剤あるいは酸性洗剤の洗
剤シリンジ、アルカリ洗剤２１の瓶あるいは酸性洗剤２
３の瓶に接続され、更に、該洗剤ポンプ３７の洗剤シリ
ンジと洗浄ポンプ３５の給水シリンジが接続されてい
る。そして、洗剤ポンプ３７と洗浄ポンプ３５を同時に
作動させて希釈された洗剤を洗浄ノズル３０ａ，３０ｂ
に供給する。乾燥棒３２は管の周壁に小径の孔が開けら
れ、その周囲が吸水性のある材質で覆われたものであ
り、真空ポンプ３８の動作により乾燥棒からの排水が行
われる。

【００２８】図２に示す制御部１８はμ−ＣＰＵ３９、
プログラムを記憶するＲＯＭ４１、データを記憶するＲ
ＡＭ４２、図示しないタイマで構成され、サンプラ１、
サンプリングアーム３、サンプリングポンプ１９、サン
プリング電磁弁２７、プローブ内壁洗浄ポンプ２９、反
応ディスク７、洗浄エレベータ９、試薬アーム１２、試
薬ポンプ２０、洗浄ポンプ３３，３５、洗剤ポンプ３
７、真空ポンプ３８、測光部１０、操作部１７、ＣＲＴ
１６及びプリンタ１５をインターフェイス１０を介して
制御する。

【００２９】また、制御部１８はオペレータが操作する
操作部１７から測定条件（試料分注量、試薬位置、試薬
分注量、試薬の界面活性剤の有無、測定波長など）を受
け付け、記憶し、ＣＲＴ１６に表示する。また、同様に
試薬プローブ経由の試薬干渉する測定項目組み合わせ、
洗浄方法、洗浄回数と、反応容器経由の試薬干渉する測
定項目組み合わせ、洗浄回数を操作部１７から受け付
け、記憶し、ＣＲＴ１６に表示する。また同様に測定す
る項目、サンプラ１に置かれた試料のポジションと試料
のＩＤを操作部１７から受け付け、記憶し、ＣＲＴ１６
に表示する。測定結果は制御部１８にて計算され、プリ
ンタ１５へ出力する。

【００３０】プログラムを記憶するＲＯＭ４１は周知の
ように、タイマの計時を利用して時分割処理（ＴＳＳ）
するシステムにより構築され、多数のプログラムが時分
割された時間だけ実行されることで見かけ上、同時に処
理が行われる。

【００３１】なお、プログラムには測定動作を指揮・統
合するＭＡＩＮプログラムと試料分注シーケンスプログ
ラム、試薬分注シーケンスプログラム、プローブ洗浄シ
ーケンスプログラム、反応ディスクシーケンスプログラ
ム、演算処理プログラムがある。

【００３２】データを記憶するＲＡＭ４２には試料をカ
ウントする試料カウンタ、各反応容器に対応して測定し
ている試料番号と測定項目と試薬プローブの洗浄方法の
マークと過去に測定した測定項目履歴を記憶する反応容
器情報、試料分注位置の反応容器番号、測光部で計測し
た光量、過去の測定項目を記憶する測定履歴が記憶され
る。

【００３３】次に、図６乃至図１０に示したフローチャ
ートを参照しながら、本実施の形態の動作を説明する。
測定する試料をオペレータがサンプルディスク２に並
べ、操作部１７のスタートボタンを押すと、自動分析装
置の動作が開始される。

【００３４】図６に示す本発明の自動分析装置による分
析動作処理の流れは、まず最初に分析パラメータの登録
が行われる。この登録後に分析結果に影響する測定動作
の組み合わせの登録が行われる。この登録は装置内に記
憶される。登録された組み合わせを洗浄の程度を示す重
度に応じて洗浄順を並び替える。この順序の並び替え
は、試薬とも洗い、洗剤洗い、水洗いの順で回数の多い
順に並べられる。これは並べられた順で測定項目の試薬
干渉を調べるためである。

【００３５】次に、測定項目の依頼入力が行われる。こ
の依頼入力の後に一つの検体の測定依頼の取り出しがお
こなわれ、この取り出された依頼を試薬プローブの試薬
干渉に関係しない測定項目群（ａ）、試薬干渉を一方的
に受ける測定項目群（ｂ）、試薬干渉を受けると共に与
える測定項目群（ｃ）、試薬干渉を与える測定項目群
（ｄ）に分別する。この分別の後に分別された測定項目
群（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）の内容を接続して測
定順序の作成が行われ、測定項目Ｔをピックアップす
る。この測定項目Ｔがピックアップされた後に、試薬干
渉表を全て調べたか否かの判断が行われる。この判断が
「ｙｅｓ」ならば図６に示すように測定履歴を更新し、
その後に通常の分析ならびに測定が行われる。

【００３６】「ｎｏ」の場合には、試薬の干渉表の洗浄
方式のうち、どの洗浄方式であるかを判断する。こうし
て判断される洗浄方式は、試薬とも洗い、洗剤洗い、水
洗いの３通りであり、図７〜図１０にはそれぞれの洗浄
方式に基づいての制御の流れを示す。

【００３７】図７は、試薬とも洗いの場合であり、測定
履歴の中に測定項目Ｔに影響する測定項目があるか否か
が判断される。この判断で「Ｎｏ」ならば制御の流れを
バイパスし、「Ｙｅｓ」の場合は、次に、指定された洗
浄回数だけ測定項目Ｔの試薬をダミー吐出する。ダミー
吐出した回数だけ測定項目Ｔに測定履歴を更新する。た
とえば、測定履歴がＤ、Ｃ、Ｂ、Ａの若い順で並んでい
る場合は、測定項目Ｔを測定しようとした時点で試薬と
も洗いが４回行われる。

【００３８】図８は、洗剤洗いの第１の制御であり、測
定項目Ｔに影響するか否かが判断される。この判断で
「Ｎｏ」ならば制御の流れをバイパスし、「Ｙｅｓ」の
場合は、次に、指定された洗浄回数から影響する項目ま
での項目数を差し引いた回数だけ洗剤吐出が行われる。
洗剤吐出した回数だけ測定履歴を洗剤に更新する。この
制御の流れでは、大概の測定試薬に界面活性剤を含むた
め、測定履歴に影響する項目が有るか否かを試薬干渉組
み合わせの洗浄回数だけしらべる。たとえば、測定履歴
がＤ，Ｃ，Ｂ，Ａの若い順で並んでいる場合は、Ｄ，
Ｃ、Ｂの３項目が洗剤洗浄が必要な測定項目Ａに至るま
での間に存在する。このため４回の洗剤洗浄の指定に対
して３項目は洗剤洗浄の必要が無いので、結果として１
回の洗剤洗浄が行われる。

【００３９】図９は、洗剤洗いの第２の制御であり、測
定項目Ｔに影響するか否かが判断される。この判断で
「Ｎｏ」ならば制御の流れをバイパスし、「Ｙｅｓ」の
場合は、次に、指定された洗浄回数から影響する項目ま
での項目数を除き、この結果に界面活性剤の入っていな
い項目数分の回数だけ洗剤の吐出を行う。この洗剤洗い
の第２の制御では、界面活性剤の使用の有無に着目した
制御を行っている。

【００４０】測定履歴に影響する項目があるか試薬干渉
組み合わせの洗浄回数と、および界面活性剤なしの項目
数だけ調べる。図９において、測定履歴がＤ、Ｃ，Ｂ，
Ａである場合で、Ｄ，Ｃ，Ｂの３項目のうち項目Ｂのみ
が界面活性剤が含まれなく、項目Ｃ、項目Ｄにはそれぞ
れ界面活性剤があるとする。試薬干渉の組み合わせは測
定項目Ａを洗浄の目的・対象となる測定項目Ｔと設定す
るので、設定された洗浄回数は４回である。この洗剤洗
浄の４回の設定に対して洗剤洗浄４回から項目Ｄ，Ｃ、
Ｂの３項目を減算する。この結果に対して項目Ｂは界面
活性剤を含んでいないので、１回の洗剤洗浄として加算
する。このため合計で２回の洗剤洗浄が行われることと
なる。この洗剤洗浄の後に洗剤吐出した回数だけ測定履
歴を洗剤に更新する。

【００４１】図１０は、水洗いの制御であり、測定項目
Ｔに影響するか否かが判断される。この判断で「Ｎｏ」
ならば制御の流れをバイパスし、「Ｙｅｓ」の場合は、
次に、指定された洗浄回数から影響する項目までのサイ
クル数を減算する。この減算により得られた回数に基づ
き水洗い（空きサイクル）が行われる。

【００４２】この制御は反応管情報に測定しようとして
いる測定項目Ｔに影響する測定項目があるか試薬干渉組
み合わせの洗浄回数だけ調べる。反応管情報部において
項目設定の情報処理段階で測定項目Ｔが設定される。こ
の測定項目Ｔに影響するのは測定項目Ａであり、制御の
内容は４回の水洗いである。測定項目はＤ，Ｃ，Ｂ，Ａ
の４項目があるものの、測定項目のＤ、Ｃ、Ｂは試薬干
渉が起きないので、３回分の水洗いとしてカウントす
る。従って、４回の水洗いの設定に対して３回分は完了
することとなり、残りの１回の水洗いが項目Ａにてなさ
れるように制御される。

【００４３】以上説明した本発明によれば、予め試薬プ
ローブ経由で試薬干渉する測定項目と試薬干渉を受ける
測定項目の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数を設定し、
該当する測定項目の組み合わせが生じたときに設定され
た洗浄方法で試薬プローブを洗浄する試薬ピペット方式
の自動分析装置において、 （１）洗浄方法の試薬とも洗い、洗剤洗浄、水洗いの順
で、更に各洗浄方法の中でも洗浄回数の多い試薬干渉の
測定項目の組み合わせから、測定項目の順序を調べるこ
とを特徴としている。

【００４４】（２）試薬プローブの試薬干渉回避洗浄の
洗浄方法の試薬とも洗い、洗剤洗浄、水洗いにより、設
定された洗浄回数の適用を変えることを特徴としてい
る。

【００４５】（３）過去の測定項目を所定数記憶する測
定履歴部と測定履歴部に測定しようとしている項目に影
響を与える項目があるか調べる試薬干渉チェック部を設
け、記憶している測定履歴部に測定しようとしている項
目に影響を与える測定項目がある場合は、試薬プローブ
を設定された回数だけ試薬とも洗い洗浄する手段を備え
たことを特徴としている。

【００４６】（４）過去の測定項目を所定数記憶する測
定履歴部と測定履歴部に測定しようとしている項目に影
響を与える項目があるか調べる試薬干渉チェック部を設
け、記憶している測定履歴部を洗浄回数だけ過去に遡
り、その範囲の中に影響を与える測定項目がある場合
は、試薬プローブを設定された洗浄回数＋１から影響を
与える測定項目までのサイクル数を差し引いた回数だけ
洗浄洗浄する手段を備えたことを特徴としている。

【００４７】（５）個々の測定項目の試薬の界面活性剤
の添加有無を試薬情報として予め登録・記憶する測定パ
ラメータ部と過去の測定項目を所定数記憶する測定履歴
部と測定履歴部に測定しようとしている項目に影響を与
える項目があるか調べる試薬干渉チェック部を設け、記
憶している測定履歴部を洗浄回数と界面活性剤が無添加
の項目数だけ過去に遡り、その範囲の中に影響を与える
測定項目がある場合は、試薬プローブを設定された洗浄
回数＋１から影響を与える測定項目までの界面活性剤が
添加されている測定項目数を差し引いた回数だけ洗剤洗
浄する手段を設けたことを特徴としている。

【００４８】（６）試薬分注位置の近傍に試薬分注する
反応管が存在するときに試薬プローブを水洗浄する制御
部と、各反応管の現在の測定項目を記憶する反応管情報
部と反応管情報部に測定しようとしている項目に影響を
与える項目があるか調べる試薬干渉チェック部を設け、
記憶している反応管情報部を洗浄回数だけ過去に遡り、
その範囲の中に影響を与える測定項目がある場合は、試
薬プローブを設定された洗浄回数＋１から影響を与える
測定項目までのサイクル数を差し引いた回数だけ試薬プ
ローブを水洗浄する手段を設けたことを特徴としてい
る。

【００４９】（７）前述（１）〜（６）において、測定
しようとしている試料の測定項目から、試薬プローブの
試薬干渉を受ける測定項目と与える測定項目が存在する
測定項目の組み合わせを抽出し、測定しようとしている
試料の測定項目を （ａ）試薬プローブの試薬干渉に関係しない測定項目群 （ｂ）試薬プローブの試薬干渉を一方的に受ける測定項
目群 （ｃ）試薬プローブの試薬干渉を受けるとともに与える
測定項目群 （ｄ）試薬プローブの試薬干渉を与える測定項目群 に分類し、（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）順、あるい
は（ｂ），（ｃ），（ｄ），（ａ）順、あるいは
（ｃ），（ｄ），（ａ），（ｂ）順、あるいは（ｄ），
（ａ），（ｂ），（ｃ）順のいずれかに測定順序を決定
する手段により、予め登録された試薬干渉する測定項目
の組み合わせと洗浄方法、洗浄回数から試薬干渉の発生
し難い測定順序を決定することを特徴としている。

【００５０】また、予め反応管経由で試薬干渉する測定
項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせを設定
し、該当する測定項目の組み合わせが生じたときに、そ
の反応管を測定に使用しないランダム方式の自動分析装
置において、 （８）試薬干渉の測定項目の組み合わせと洗浄回数を予
め記憶している反応管の試薬干渉表と、設定される洗浄
の最大回数分以上の反応管個々の測定履歴を記憶する反
応管情報部と、記憶している反応管情報部の測定履歴に
測定しようとしている項目に影響を与える項目があるか
調べる試薬干渉チェック部を設け、反応管経由で試薬干
渉しない場合にのみ、その反応管を測定に供する手段を
設けたことを特徴としている。

【００５１】これらの本発明の自動分析装置の備える特
徴的な構成により、試薬プローブの試薬干渉の組み合わ
せを重度の洗浄を要するものから測定項目の順序を調べ
ることで見落とすことなく、設定された洗浄回数で測定
履歴を遡ることで前の測定項目を飛び越えて試薬干渉す
ることのない信頼性の高い測定結果を得ることができ
る。

【００５２】また、洗剤洗浄のプローブ洗浄は試薬に添
加されている界面活性剤の効果も加味して効率よく洗浄
する手段と、水洗浄のプローブ洗浄は毎サイクル行われ
るプローブの水洗浄も加味して効率よく洗浄する手段に
より、試薬プローブの試薬干渉の回避洗浄を少なくする
ことができる。また、試薬プローブの試薬干渉の発生し
にくい測定順序を自動的に判断して効率よく測定でき
る。

【００５３】また、反応管経由の試薬干渉の測定項目の
組み合わせと洗浄回数を設定し、十分に洗浄した反応管
を測定に供することにより信頼性の高い測定結果を得る
とともに、反応管が汚れやすい測定項目も自動化するこ
とが可能になる。

【００５４】なお、以上説明した実施の形態は、本発明
の理解を容易にするために記載されたものであって、本
発明を限定するために記載されたものではない。したが
って、上記の実施の形態に開示された各要素は、本発明
の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む
趣旨である。

【００５５】

【発明の効果】本発明によれば、試薬プローブの試薬の
干渉が前の測定項目を飛び越えて影響することなく、試
薬プローブの洗浄が頻繁に入らないよう測定項目の順序
を自動的に切り換え、反応管が汚れやすい測定項目も測
定可能な自動分析装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態による自動分析装置の構成
を説明するための概略図を示す。

【図２】本発明の実施の形態による自動分析装置の制御
系を説明するための概略図を示す。

【図３】本発明の実施の形態による反応容器の配列を説
明するための概略図を示す。

【図４】本発明の実施の形態によるサンプリングプロー
ブ及び試薬プローブに接続される配管系統図を示す。

【図５】本発明の実施の形態による洗浄ノズルに接続さ
れる配管系統図を示す。

【図６】本発明の実施の形態による洗浄制御を説明する
ための図を示す。

【図７】本発明の実施の形態による洗浄制御を説明する
ための図を示す。

【図８】本発明の実施の形態による洗浄制御を説明する
ための図を示す。

【図９】本発明の実施の形態による洗浄制御を説明する
ための図を示す。

【図１０】本発明の実施の形態による洗浄制御を説明す
るための図を示す。

【符号の説明】

１…サンプラ、２…サンプルディスク、３…サンプリン
グアーム、４…試料容器、５…サンプリングプローブ、
６…洗浄プール、７…反応ディスク、８…反応容器、９
…洗浄エレベータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石田 園江 東京都北区赤羽２丁目16番４号 東芝医用 システムエンジニアリング株式会社内 Ｆターム(参考） 2G058 AA05 CB05 CD04 CE08 EA02 EA04 EA11 ED03 ED31 FB06 FB14 FB21 FB25 GA03 GD05 GE06

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 前記洗浄方法の試薬とも洗い、洗剤洗浄、水洗いの順序
   で、かつ各洗浄方法のうちから洗浄回数の多い試薬干渉
   の測定項目の組み合わせによって測定項目の順序を求め
   ることを特徴とする自動分析装置。
2. 【請求項２】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 前記洗浄方法の試薬とも洗い、洗剤洗浄、水洗いの種別
   により、設定された前記洗浄回数の適用を変えることを
   特徴とする自動分析装置。
3. 【請求項３】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と干渉試薬を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 過去の測定項目を所定数記憶する測定履歴部と測定履歴
   部に測定しようとしている項目に影響を与える項目の有
   無を調べる試薬干渉チェック部を設け、 記憶している前記測定履歴部に測定しようとしている項
   目に影響を与える前記測定項目がある場合は、前記試薬
   プローブを設定された回数だけ試薬とも洗い洗浄するこ
   とを特徴とする自動分析装置。
4. 【請求項４】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 過去の前記測定項目を所定数記憶する測定履歴部と、こ
   の測定履歴部に測定しようとしている項目に影響を与え
   る項目の有無を調べる試薬干渉チェック部を設け、 記憶している前記測定履歴部を洗浄回数だけ過去に遡
   り、その範囲の中に影響を与える前記測定項目がある場
   合は、前記試薬プローブを設定された洗浄回数から影響
   を与える前記測定項目までの測定項目数を差し引いた回
   数だけ洗浄することを特徴とする自動分析装置。
5. 【請求項５】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 個々の前記測定項目の試薬の界面活性剤の添加有無を試
   薬情報として予め登録・記憶する測定パラメータ部と、 過去の前記測定項目を所定数記憶する測定履歴部と、こ
   の測定履歴部に測定しようとしている項目に影響を与え
   る項目の有無を調べる試薬干渉チェック部を設け、 記憶している測定履歴部を洗浄回数と界面活性剤が無添
   加の項目数だけ過去に遡り、その範囲の中に影響を与え
   る測定項目がある場合は、前記試薬プローブを設定され
   た洗浄回数から影響を与える測定項目までの界面活性剤
   が添加されている測定項目数を差し引いた回数だけ洗剤
   洗浄することを特徴とする自動分析装置。
6. 【請求項６】 予め試薬プローブ経由で試薬干渉する測
   定項目と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせと洗浄
   方法、洗浄回数を設定し、該当する測定項目の組み合わ
   せが生じたときに設定された洗浄方法で試薬プローブを
   洗浄する試薬ピペット方式の自動分析装置において、 試薬分注位置の近傍に試薬分注する反応管が存在すると
   きに前記試薬プローブを水洗浄する制御部と、各前記反
   応管の現在の測定項目を記憶する反応管情報部と、この
   反応管情報部に測定しようとしている項目に影響を与え
   る項目の有無を調べる試薬干渉チェック部を設け、 記憶している反応管情報部を洗浄回数だけ過去に遡り、
   その範囲の中に影響を与える測定項目がある場合は、前
   記試薬プローブを設定された洗浄回数から影響を与える
   測定項目までのサイクル数を差し引いた回数だけ試薬プ
   ローブを水洗浄することを特徴とする自動分析装置。
7. 【請求項７】 前記測定項目から前記試薬プローブの試
   薬干渉を受ける測定項目と与える測定項目とが存在する
   前記測定項目の組み合わせを抽出し、測定しようとして
   いる試料の前記測定項目を （ａ）試薬プローブの試薬干渉に関係しない測定項目
   群、 （ｂ）試薬プローブの試薬干渉を一方的に受ける測定項
   目群、 （ｃ）試薬プローブの試薬干渉を受けるとともに与える
   測定項目群、 （ｄ）試薬プローブの試薬干渉を与える測定項目群、に
   分類し、（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）順、あるいは
   （ｂ），（ｃ），（ｄ），（ａ）順、あるいは（ｃ），
   （ｄ），（ａ），（ｂ）順、あるいは（ｄ），（ａ），
   （ｂ），（ｃ）順のいずれかに測定順序を決定する順序
   決定手段により、 予め登録された試薬干渉する測定項目の組み合わせと洗
   浄方法、洗浄回数から試薬干渉の発生し難い測定順序を
   決定することを特徴とする請求項１〜６のうちのいずれ
   か一つに記載の自動分析装置。
8. 【請求項８】 予め反応管経由で試薬干渉する測定項目
   と試薬干渉を受ける測定項目の組み合わせを設定し、該
   当する測定項目の組み合わせが生じたときに、その反応
   管を測定に使用しないランダム方式の自動分析装置にお
   いて、 試薬干渉の前記測定項目の組み合わせと洗浄回数を予め
   記憶している前記反応管の試薬干渉表と、 設定される洗浄の最大回数分以上の前記反応管個々の測
   定履歴を記憶する反応管情報部と、 記憶している前記反応管情報部の測定履歴に測定しよう
   としている項目に影響を与える項目有無を調べる試薬干
   渉チェック部を設け、 反応管経由で試薬干渉しない場合にのみ、その反応管を
   測定に供することを特徴とする自動分析装置。
9. 【請求項９】 予め設定される試薬プローブの試薬干渉
   の組み合わせに基づいて測定依頼を分別する手段と、 前記分別手段による分別に基づいて、前記測定依頼の測
   定順を決定する手段と、 前記測定依頼と該測定順を記憶する手段と、 前記記憶と前記組み合わせを比較する手段と、 前記比較に基づいて前記試薬プローブの洗浄方法あるい
   は洗浄回数を求める手段とを備えることを特徴とする自
   動分析装置。