JP2001296281A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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Abstract
屈折角の設定が行え、また、探傷面での超音波の伝達損
失を極力少なくして均一に伝搬でき、また、過剰な接触
媒質による疑似疵エコーの発生を可及的に抑制するこ
と。 【解決手段】 パルス発振器、探触子、探触子ホルダ
ー、受信器及び指示器を備えた超音波探傷装置におい
て、試験材4に対する探触子11の傾動調整機構12
と、探触子11の上流側に設けられた接触媒質6の予浸
機構13と、探触子11の前方側に設けられた接触媒質
6の平滑化機構14の少なくとも何れか一つを設ける。 【効果】 探触子を大型化することなく探触子の少ない
傾動量で広い範囲の探傷屈折角の設定が行えるようにな
ったり、また、探傷面での超音波の伝達損失を極力少な
くして安定した状態で探傷できるようになったり、ま
た、過剰な接触媒質による疑似疵エコーの発生を可及的
に抑制できて、誤判定がなくなるようになる。
Description
破壊的な疵検出に使用する超音波探傷装置に関するもの
である。
振法に大別でき、また、別の見方によれば、反射法、透
過法に分けることもできるが、現在はパルス反射法が大
部分の場合に使用されている。パルス反射法は、持続時
間が0.5〜5μs程度の極めて短い超音波パルスを試
験材中に投入し、その波が試験材の欠陥によって反射さ
れるのを受信して、欠陥の位置・大きさなどを知る方法
であり、試験材の一つの面に探触子を油などの接触媒質
を介して接触させ、例えば斜角探傷の場合には試験材中
に主に横波を送信し、その反射波を受信する。
したような合成樹脂製のくさび1に貼り付けた振動子2
をケース7内に収めた構造となっており、振動子2から
放射された超音波3(縦波3a)はくさび1中を通っ
て、くさび1と試験材4の探傷面4aとの境界面で屈折
し、超音波3(横波3b及び縦波3a)が試験材4中に
伝搬する。この時、探傷面4aに対する入射角αを適当
に選ぶことで、屈折して試験材4中に入る超音波3は、
図7に示したように、横波3bのみとなる。なお、前記
境界面では、超音波3の一部は反射してくさび1内残響
となり、妨害信号の原因となるので、例えば吸音材5を
貼り付けて反射超音波3cを吸収消滅させるようにして
いる。
の探傷屈折角で探傷することが必要不可欠であるが、試
験材の探傷屈折角は製造方法や気温等によって変化す
る。そこで、探傷屈折角の変化に対応させるために、従
来は、図8に示したように、入射角αを変化させること
で、探傷屈折角θを変化させていた。なお、図8中の6
は探触子(くさび1)と試験材4との空隙に充填された
接触媒質である。
探触子として、図9に示したような、くさび1に対する
振動子2の相対位置を変化させることで、探傷面4aに
対する入射角αを変化させる可変角斜角探触子がある。
たような可変角斜角探触子では、振動子を移動させる機
構が必要となるので、探触子自体が大型化するという問
題がある。
との空隙を完全に充填し、超音波を試験材中に均一に伝
搬させることである。従って、探触子が試験材の重力方
向の下側に位置した場合などには、探触子と試験材との
空隙が接触媒質によって完全に充填され難くなって、探
傷面で超音波の伝達損失が大きくなる。
は、図10に示したように、溶接部4bの止端部などに
接触媒質(6)の溜まり6aが生じる。この溜まり6a
に超音波3が伝搬すると、溜まり6aで超音波3が反射
して疑似疵エコーが発生し、これを疵エコーと誤判定す
る場合がある。
たものであり、探触子を大型化することなく広い範囲の
探傷屈折角の設定が行え、また、探傷面での超音波の伝
達損失を極力少なくして均一に伝搬でき、また、過剰な
接触媒質による疑似疵エコーの発生を可及的に抑制でき
る超音波探傷装置を提供することを目的としている。
ために、本発明の超音波探傷装置は、試験材に対する探
触子の傾動調整機構と、探触子の上流側に設けられた接
触媒質の予浸機構と、探触子の前方側に設けられた接触
媒質の平滑化機構の少なくとも何れか一つを備えること
としている。そして、このようにすることで、探触子を
大型化することなく広い範囲の探傷屈折角の設定が行え
るようになったり、また、探傷面での超音波の伝達損失
を極力少なくして均一に伝搬できるようになったり、ま
た、過剰な接触媒質による疑似疵エコーの発生を可及的
に抑制できることになる。
ス発振器、探触子、探触子ホルダー、受信器及び指示器
を備えた超音波探傷装置において、試験材に対する探触
子の傾動調整機構と、探触子の上流側に設けられた接触
媒質の予浸機構と、探触子の前方側に設けられた接触媒
質の平滑化機構の少なくとも何れか一つを設けたもので
ある。
に対する探触子の傾動調整機構を設けた場合には、探触
子を大型化することなく探触子の少ない傾動量によって
広い範囲の探傷屈折角の設定が行えるようになる。その
理由を図3を用いて説明する。図3(a)は入射角αが
50°となるようにして試験材4に超音波3を伝搬させ
た場合の説明図で、くさび1中を伝搬する超音波3の速
度を2730m/s、接触媒質6を伝搬する超音波3の
速度を1480m/s、試験材4を伝搬する超音波3の
速度を3230m/sとすると、接触媒質6での屈折角
と接触媒質6から試験材4への入射角は共に同じiで2
4.5°、試験材4での探傷屈折角θは65°である。
角斜角探触子を用いて振動子を移動させることで入射角
をβ(=1°)だけ大きくして入射角をα+β(=51
°)とした場合には、図3(b)に示したように、接触
媒質6での屈折角と接触媒質6から試験材4への入射角
は共に同じiで24.9°、試験材4での探傷屈折角θ
は66.9°になる。すなわち、振動子を移動させるこ
とで入射角を1°大きくした場合には、探傷屈折角θは
1.9°大きくなる。
傾動調整機構を設けた本発明の超音波探傷装置のよう
に、探触子自体をβ(=1°)だけ傾動させることで入
射角をα+β(=51°)とした場合には、図3(c)
に示したように、接触媒質6での屈折角は図3(a)の
場合と同様にiで24.5°、接触媒質6から試験材4
への入射角はi+βで25.5°になって、試験材4で
の探傷屈折角θは70.2°になる。すなわち、探触子
自体を傾動させることで入射角を1°大きくした場合に
は、探傷屈折角θは5.2°大きくなる。
探触子の上流側に接触媒質の予浸機構を設けた場合に
は、試験材の探傷面に予め接触媒質を塗っておくこと
で、探触子が試験材の重力方向の下側に位置した場合な
どの場合にも、探触子と試験材との空隙を接触媒質によ
って完全に充填することができるようになるので、探傷
面での超音波の伝達損失が極力少なくなり、均一に伝搬
できるようになる。
探触子の前方側に接触媒質の平滑化機構を設けた場合に
は、溶接部の止端部などに接触媒質の溜まりが生じて
も、この溜まりを取り除いて平滑にすることができるの
で、溜まりで超音波が反射することで発生する疑似疵エ
コーを抑制できるようになる。
2に示す一実施例に基づいて説明する。図1は本発明の
超音波探傷装置における探触子の傾動調整機構の一実施
例の説明図、図2(a)は本発明の超音波探傷装置にお
ける接触媒質の予浸機構を説明するために探触子部分を
正面方向から見た図、(b)は本発明の超音波探傷装置
における接触媒質の平滑化機構を説明するために探触子
部分を側面方向から見た図である。
ば先に図7で説明したように、くさび(1)に貼り付け
た振動子(2)をケース(7)内に収め、さらに探触子
ホルダー16内に収めた構造となっており、振動子
(2)から放射された超音波(3)はくさび(1)中を
通って、くさび(1)と試験材4の探傷面4aとの境界
面で屈折し、試験材4中に伝搬するようになっている。
記した探触子11を試験材4に対して傾動できるよう
に、傾動調整機構12を介して取り付けている。この傾
動調整機構12として、図1に示した実施例では、試験
材4に対する探触子11の追従機構15の上下にエアー
シリンダ12a,12bを設置し、これらエアーシリン
ダ12a,12bのいずれか一方のロッドの出退によ
り、いずれか一方のロッド端に取り付けた止め爪12c
又は12dで、止め爪12c又は12dに係合する扇形
爪車12eを介してこの扇形爪車12eと同軸のピニオ
ン12fを時計回り又は反時計回り方向に回動させ、こ
のピニオン12fの回動によってピニオン12fに噛合
する扇形歯車12gを介して、これと一体に取り付けら
れた探触子11を回転中心11aを中心として所定の角
度傾動させるものを示している。
のエアーシリンダ12aのロッドを基準位置から所定量
突出させることで、探傷屈折角βが小さくなり、反対に
下側のエアーシリンダ12bのロッドを基準位置から所
定量突出させることで、探傷屈折角βが大きくなるもの
を示している。
の調整は、例えばエアーシリンダ12a,12bのロッ
ドの出退を5段階に行えるようにしておき、一回の駆動
で探触子11が0.2°傾くように設定することで、探
触子11を正負各々に1°ずつ傾動することができるよ
うになる。なお、この設定は例えばピニオン12fと扇
形歯車12gのピッチを変えることで変更可能である。
に設けられた接触媒質(6)の予浸機構であり、探触子
11の前後側から探触子11と試験材4との空隙に接触
媒質(6)を供給するだけでなく、探触子11の上流側
における試験材4の探傷面4aに予め接触媒質(6)を
塗っておくためのものである。従って、試験材4の探傷
面4aに予め接触媒質(6)を塗っておくことができる
ものであれば、直接はけ等を用いて塗る方式でも、ノズ
ルから噴射する方式でも良い。
触媒質(6)の平滑化機構であり、前記した接触媒質
(6)の予浸機構や、図示省略したが、探触子11の前
後側から探触子11と試験材4との空隙に接触媒質
(6)を供給する供給機構から探触子11と試験材4と
の空隙に供給された接触媒質(6)が多すぎて溶接部4
bの止端部などに溜まりを生じさせた場合には、この接
触媒質(6)の溜まりを取り除いて平滑にするものであ
り、本実施例ではブラシ14aを用いたものを示してい
る。
接触媒質(6)の溜まりを取り除いて平滑にできるもの
であれば、本実施例のようなブラシ14aを用いて平滑
にするものに限らず、高圧の気体を噴射することで平滑
にするものなどであっても良い。
構成であり、試験材4に対する探触子11の傾動調整機
構12を設けて探触子11を傾けることで入射角を変更
した場合には、図4に実線で示したように、従来の可変
角斜角探触子を用いて振動子を移動することで同じ角度
だけ入射角を変化させた場合(図4の破線で示したも
の)と比較して、探傷屈折角θを大きく変化させること
ができるようになる。そして、本発明の超音波探傷装置
では、探触子自体を大型化することもない。
(6)の予浸機構13を設け、探触子11の上流側にお
ける試験材4の探傷面4aに予め接触媒質(6)を塗っ
ておいた場合には、図5に実線で示したように、探触子
11が試験材4の重力方向の下側(図5における横軸の
円周方向位置が180°近傍)に位置した場合にも、探
触子11と試験材4との空隙を接触媒質(6)によって
完全に充填することができるようになるので、試験材4
の全周にわたってカップリングが正常となることが確認
できた。
4の探傷面4aに予め接触媒質(6)を塗っておかない
場合には、図5に破線で示したように、探触子11が試
験材4の重力方向の下側に位置した場合に、探触子11
と試験材4との空隙を接触媒質(6)によって完全に充
填することができずにカップリング不良となる傾向があ
った。なお、図5に示した結果は、外径が762mm
で、肉厚が19mmの鋼管の突合せ溶接部を超音波探傷
した場合の結果である。
(6)の平滑化機構14を設けて、溶接部の止端部など
に生じた接触媒質(6)の溜まり(6a)を取り除いて
平滑にした場合には、図6(a)(b)に示したよう
に、溶接媒質(6)の溜まり(6a)がなくなってこの
溜まり(6a)で超音波3が反射することで発生する疑
似疵エコーを抑制することができた。
(6)の溜まり(6a)が生じたままの場合には、図6
(c)(d)に示したように、溜まり(6a)で超音波
3が反射することで疑似疵エコー8が発生した。なお、
図6中の4cは疵エコー、9は裏波を示す。
12と、接触媒質(6)の予浸機構13と、接触媒質
(6)の平滑化機構14の全てを設けたものを示した
が、本発明はこれに限らず、これらのうちの何れか一
つ、或いは、何れか二つを選択的に設けたものでも良
い。
傷装置によれば、探触子を大型化することなく探触子の
少ない傾動量で広い範囲の探傷屈折角の設定が行えるよ
うになったり、また、探傷面での超音波の伝達損失を極
力少なくして安定した状態で探傷できるようになった
り、また、過剰な接触媒質による疑似疵エコーの発生を
可及的に抑制できて、誤判定がなくなるようになる。
調整機構の一実施例の説明図である。
媒質の予浸機構を説明するために探触子部分を正面方向
から見た図、(b)は本発明の超音波探傷装置における
接触媒質の平滑化機構を説明するために探触子部分を側
面方向から見た図である。
明する図で、(a)は入射角を変化させる前の状態を示
す図、(b)は振動子を移動させることで入射角を変化
させた場合を示した図、(c)は探触子を傾動させるこ
とで入射角を変化させた場合を示した図である。
測定した結果を示した図で、実線は探触子を傾動させる
ことで入射角を変化させた場合、破線は振動子を移動さ
せることで入射角を変化させた場合を示した図である。
プリングチェック結果を示した図で、実線は予浸機構に
よって予め探傷面に接触媒質を塗った場合の結果を、破
線は予め探傷面に接触媒質を塗らなかった場合の結果を
示した図である。
を示した図で、(a)は平滑化機構を用いて接触媒質の
溜まりを取り除いて平滑化した場合の平面図、(b)は
(a)の断面図、(c)は接触媒質の溜まりを取り除か
ない場合の平面図、(d)は(c)の断面図である。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 パルス発振器、探触子、探触子ホルダ
ー、受信器及び指示器を備えた超音波探傷装置におい
て、試験材に対する探触子の傾動調整機構と、探触子の
上流側に設けられた接触媒質の予浸機構と、探触子の前
方側に設けられた接触媒質の平滑化機構の少なくとも何
れか一つを設けたことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2000110425A JP3786820B2 (ja) | 2000-04-12 | 2000-04-12 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Family Applications (1)
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008089344A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Hitachi Ltd | 超音波探傷装置 |
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CN115932040A (zh) * | 2022-10-28 | 2023-04-07 | 淮阴师范学院 | 一种基于超声波探伤技术的板材检测装置 |
CN117388367A (zh) * | 2023-12-11 | 2024-01-12 | 广东石油化工学院 | 智能材料结构损伤检测装置 |
-
2000
- 2000-04-12 JP JP2000110425A patent/JP3786820B2/ja not_active Expired - Fee Related
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