JP2001284509A - Al−SiC複合体 - Google Patents

Al−SiC複合体

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JP2001284509A JP2000092896A JP2000092896A JP2001284509A JP 2001284509 A JP2001284509 A JP 2001284509A JP 2000092896 A JP2000092896 A JP 2000092896A JP 2000092896 A JP2000092896 A JP 2000092896A JP 2001284509 A JP2001284509 A JP 2001284509A
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福井  聡
Kentaro Yoshihara
賢太郎 吉原
Masahiko Oshima
昌彦 大島
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低熱膨張、高熱伝導性を有するとともに、反
りなど変形による外力の印加に対して構造体としても十
分な耐力を兼ね備えた信頼性に優れるAl−SiC複合
体を提供する。 【解決手段】 SiC多孔体にAlを主成分とする金属
を含浸したAl−SiC複合体であり、該複合体はSi
Cを40体積%以上含有し、該複合体のシャルピー衝撃
値が0.1J/cm2以上であることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、炭化ケイ素(Si
C)からなる多孔体にアルミニウム(Al)を主成分と
する金属を含浸して形成したAl−SiC複合体に関す
る。本発明のAl−SiC複合体は、低熱膨張、高熱伝
導性を有し、放熱基板、ヒートシンク、パッケージなど
半導体装置に用いられる放熱部品に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】近年、産業機器の分野では、半導体スイ
ッチングデバイスを用いて大きな電力を最適な電力に効
率よく交換制御する大電力モジュール装置の開発が進ん
でいる。例えば、電動車輌用インバータとして高電圧、
大電流動作が可能なIGBTモジュールがある。このよ
うな大電力モジュール化に伴い、半導体チップから発生
する熱も増大している。半導体チップは熱に弱く、発熱
が大きくなれば半導体回路の誤動作や破壊を招くことに
なる。そこで、半導体チップなど電子部品を搭載するた
めの回路基板の裏面にヒートシンクなどの放熱部品を設
けて、放熱部品を介して半導体チップから発生した熱を
外部に発散させ、半導体回路の動作を安定にすることが
行われている。電子部品を搭載するための回路基板とし
ては、窒化ケイ素(Si34)、窒化アルミニウム(A
lN)、酸化アルミニウム(Al23)などのセラミッ
クス基板が主に用いられている。
【0003】従来の放熱部品用材料として、銅(C
u)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)などが
ある。MoやWからなる放熱部品は高価であり、また金
属の比重が大きいため放熱部品の重量が重くなり、放熱
部品の軽量化が望まれる用途には好ましくない。
【0004】Cuからなる放熱部品は、放熱部品と接合
されるセラミックス基板との熱膨張係数の差が大きいの
で、放熱部品とセラミックス基板との加熱接合時や、使
用中の熱サイクルにより、はんだ層の破壊、熱流路の遮
断、セラミックス基板の割れを生じやすい。つまり、放
熱部品とセラミックス基板とは、はんだによりろう付け
されており、ろう材の融点以上に加熱した後、室温まで
冷却される。その際、ろう材の凝固点で互いに固定さ
れ、その後は固定されたまま放熱部品とセラミックス基
板がそれぞれ固有の熱膨張係数に従って収縮し、互いの
接合部に熱応力および熱歪みが残留するとともに反りな
どの変形を生じる。そして、モジュール装置の使用時に
熱ストレスが繰り返し与えられ、残留熱応力および熱歪
みに重畳されると、はんだ層の疲労破壊による熱流路の
遮断と、機械的に脆い性質を持つセラミックス基板の割
れを生じる。
【0005】Cu等の従来材に替わる放熱部品用材料と
して、AlまたはAl合金中にSiCを分散させた低熱
膨張・高熱伝導特性を有するAl−SiC複合体が注目
されている(特公平7−26174号、特開昭64−8
3634号等参照)。Al−SiC複合体は、粉末冶金
法、高圧鋳造法、真空鋳造法、溶融金属含浸法などによ
り製造される。Al−SiC複合体の熱膨張係数をセラ
ミックス基板の熱膨張係数に近づけようとすると、熱膨
張係数の低いSiCの含有比率を上げることが必要であ
る。しかしながら、粉末冶金法、高圧鋳造法、真空鋳造
法では、その製造法の特質上、SiCの含有量を40体
積%以上にすることが困難である。また、ネットシェイ
プ成形することが難しい、大型の加圧装置を必要とする
ため製造コストが高くなるという欠点がある。
【0006】溶融金属含浸法は、SiC粉末あるいはS
iC繊維で形成された多孔体(プリフォーム)を用い、
これを型内の空間に配置し、Alインゴットを接触させ
て、窒素雰囲気中で加圧もしくは非加圧で加熱溶融した
Alを型内の空間に流し込むことによって、SiC多孔
体に含浸させ、冷却して作製するものである。この製造
方法によれば、SiCの含有量を20〜90体積%の範
囲で選択できる。また、SiC多孔体形状の自由度が高
く、複雑な形状の製品をネットシェイプ成形できる利点
を有する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】溶融金属含浸法は、S
iCの含有量を40体積%以上にできるので、Al−S
iC複合体の熱膨張係数をセラミックス基板の熱膨張係
数に近づけることができる。このため、Al−SiC複
合体からなる放熱部品とセラミックス基板との接合部に
熱応力および熱歪みが残留することを緩和できる。した
がって、従来のCu製の放熱部品に比べ、放熱部品とセ
ラミックス基板との加熱接合や、使用中の熱サイクルに
よるはんだ層の破壊、熱流路の遮断、セラミックス基板
の割れを防止できる。
【0008】しかしながら、特にIGBT、GTOなど
大電力モジュール化の傾向に伴い、新たな特性が要求さ
れている。つまり、大電力モジュール装置においては、
複数の半導体回路が搭載されるので、これまで以上にセ
ラミックス基板の面積やろう付けの面積が大きくなる。
このため、前述の残留熱応力および熱歪みも大きくな
り、各部材の反りなど変形が促進されやすい。通常、放
熱部品は、モジュール装置を構成する金属製の支持部材
にボルトによって締め付け固定されているため、反りな
ど変形の外力が過大に印加されれば、放熱部品の変形を
招きかねない。また、3mm程度に薄肉化した放熱部品
の場合、組み立て時のハンドリングによって放熱部品を
破損しやすいのでこれを防止する必要がある。
【0009】本発明は、上記の事情に鑑みなされたもの
であって、低熱膨張、高熱伝導性を有するとともに、反
りなど変形による外力の印加に対して構造体としても十
分な耐力を兼ね備えた信頼性に優れるAl−SiC複合
体を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、SiC多孔体
にAlを主成分とする金属を含浸したAl−SiC複合
体であり、該複合体はSiCを40体積%以上含有し、
該複合体のシャルピー衝撃値が0.1J/cm2以上で
あることを特徴とするAl−SiC複合体である。
【0011】前記本発明において、Al−SiC複合体
は、室温の熱膨張係数が4×10-6〜20×10-6
K、熱伝導率が150〜280W/(m・K)であるこ
とを特徴とする。また、Al−SiC複合体の表面全体
に、Alを主成分とする金属が豊富な被覆層を設けたこ
とを特徴とする。さらに、Al−SiC複合体の表面
に、Ni系めっき層を設けたことを特徴とする。
【0012】また、本発明は、前記Al−SiC複合体
を用いてなることを特徴とする放熱部品である。加え
て、放熱部品は電子部品搭載用セラミックス基板に接合
してなることを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明のSiC多孔体は、SiC
粉末に結合剤、保形剤などを所定量添加し、所望の形状
に成形される。成形方法は、Alが含浸を完了するまで
形態を保っておりかつ含浸を阻害しないのであれば、沈
降成形法、射出成形法、CIP法など公知の方法でよ
い。本発明においては、SiC多孔体を焼結せずに成形
することが望ましい。SiC多孔体を焼結して成形する
と、SiC粉末同士が接触する比率が高まり変形能が低
下するため靭性が劣化しやすい。また、SiC多孔体を
焼結するには焼結助剤が必要であり、焼結したSiC多
孔体にAlを含浸させる場合、焼結助剤の存在が含浸を
阻害しやすい。SiC多孔体にAlを含浸させる方法
は、加圧により含浸させる、あるいは無加圧で含浸させ
るなど条件に限定はなく公知の方法でよい。SiC粉末
は1種類のみを用いてもよいが、平均粒径の異なるSi
C粉末を混合して用いれば、SiC粉末を高密度に充填
できるので好ましい。
【0014】SiC多孔体に含浸させるAlは、純A
l、Al−Si系合金、Al−Si−Mg系合金、Al
−Cu系合金が挙げられる。好ましくは、含浸するAl
合金のSi重量%を共晶組成の12重量%以下にするの
がよい。過共晶になると、脆い粗大なSi結晶が晶出す
ることにより、Al−SiC複合体の靭性を低下させ
る。Al−Si系合金、Al−Si−Mg系合金では、
合金の融点が低下し、含浸温度を下げることができる。
また、高温においてAl溶湯の粘性が低下し、含浸時間
を短縮できるので、含浸にかかる製造コスト的に有利と
なる。
【0015】本発明のAl−SiC複合体は、セラミッ
クス基板の熱膨張係数に近づけるためSiCの含有量が
40体積%以上であり、好ましくは40〜80体積%で
ある。SiCの含有量が40体積%未満では熱膨張係数
が大きくなり、80体積%を超えると強度、破壊靭性が
低下するとともに熱伝導率が低くなるので好ましくな
い。
【0016】また、本発明のAl−SiC複合体は、シ
ャルピー衝撃試験において、該複合体のシャルピー衝撃
値が0.1J/cm2以上であることを特徴とする。A
l−SiC複合体のシャルピー衝撃値は大きいほど望ま
しいが、0.1J/cm2未満では反りなどの外力の印
加に対し、Al−SiC複合体の強度が劣り、変形や破
損しやすい。Al−SiC複合体のシャルピー衝撃値を
大きくするためには、SiC多孔体にAlを含浸させる
場合、無加圧含浸では微細なポアが残存しやすいので、
高い加圧で含浸させてポアの発生を抑えるほうがよい。
また、含浸するAl合金のSi重量%を共晶組成の12
重量%以下にするのがよい。また、Al−SiC複合体
は、JIS1601−1981に準拠した4点曲げ強さ
試験において、曲げ強さが300MPa以上あることが
望ましい。
【0017】Al−SiC複合体のシャルピー衝撃試験
においては、Al−SiC複合体の表面全体にAlを主
成分とする金属が豊富な被覆層が設けられていても構わ
ない。また、Al−SiC複合体表面にNi系めっき層
が施されていても構わない。Alの被覆層を設けること
により、表面の切り欠き効果が低減され曲げ強さおよび
靭性が向上するので好ましい。
【0018】Al−SiC複合体は、室温の熱膨張係数
が4×10-6〜20×10-6/Kであり、好ましくは1
0×10-6/K以下である。室温の熱膨張係数が20×
10 -6/Kを超えると、セラミックス基板との熱膨張係
数の差が大きくなり過ぎて、加熱接合時や使用中の熱サ
イクルにより、セラミックス基板に割れが生じやすくな
る。
【0019】Al−SiC複合体の熱伝導率は、150
〜280W/(m・K)であることが望ましい。熱伝導
率が150W/(m・K)未満では、特に大電力モジュ
ール装置において放熱能力が不足しがちになる。
【0020】Al−SiC複合体の含浸完了後、Al−
SiC複合体の表面にSiC粉末が露出しないように、
Al−SiC複合体の表面全体にわたって、含浸したA
lを主成分とする金属の豊富(リッチ)な被覆層を設け
ることが好ましい。Al被覆層が存在すれば電解あるい
は無電解めっきを施しやすくなる。また、Alが軟らか
いので面加工が容易になる。さらに、Al被覆層により
表面の切り欠き効果が低減され強度と靭性が向上する。
【0021】SiC多孔体中にAlを含浸させる際に、
SiC多孔体とSiC多孔体を装入した型の内壁との隙
間に含浸Alの一部が通ることにより、Alの被覆層が
形成される。被覆層を形成するAlは、SiC多孔体に
含浸されたAlと連通し、実質的に組成が同じである。
SiC多孔体と型の内壁との隙間の大きさを調整するこ
とにより被覆層の厚みを変えることができる。被覆層の
平均厚みは、面加工後の仕上寸法精度により異なってく
るが、10μm未満ではめっきが不均一になりやすく、
300μmもあれば効果が十分なので、10〜300μ
mが好ましい。
【0022】Al−SiC複合体は、セラミックス基板
とのはんだ付けを強固にするために、Al−SiC複合
体の表面にNi、Ni−P、Ni−BなどNi系めっき
を施すことが望ましい。Ni系めっきは、電解法あるい
は無電解法のいずれでも処理してよいが、無電解法のほ
うが厚みを均一にしやすい。また、Ni系めっき層がA
l−SiC複合体の表面に二層以上施されていてもよ
い。
【0023】本発明のAl−SiC複合体は、放熱基
板、ヒートシンク、パッケージなどの放熱部品に好適で
ある。また、放熱部品は電子部品搭載用セラミックス基
板に接合して用いられ、セラミックス基板としては、熱
伝導率および曲げ強度に優れたSi34、熱伝導率に優
れたAlN、耐熱性に優れたAl23のいずれかからな
るのが好ましい。特に、Si34やAlNは絶縁性、放
熱特性にも優れているので好ましい。
【0024】
【実施例】平均粒径60μm、純度98%以上のSiC
粉末に結合剤、保形剤の溶媒を加え、これを攪拌機で混
合してSiCのスラリーを得た。スラリーを所望の形状
の金型に注入して成形後、冷却して脱型した。これを乾
燥して表1に示すSiC多孔体を作製した。
【0025】ついで、SiC多孔体と型の内壁との間に
所定の隙間を確保した状態で、SiC多孔体を型に装入
した。そして、SiC多孔体を装入した型内に加熱溶融
した表1に示す組成のAlを圧入し含浸させた。含浸完
了、冷却後、型を解体し、本発明実施例のAl−SiC
複合体を得た。
【0026】得られたAl−SiC複合体は、SiC多
孔体中にAlを含浸させる際に、SiC多孔体とSiC
多孔体を装入した型の内壁との隙間に含浸Alの一部が
通ることにより、Al−SiC複合体の表面全体にわた
って、含浸したAlを主成分とする金属の豊富な被覆層
が形成された。被覆層の厚みは平均で50μmであり、
Al−SiC複合体の表面にはSiC粉末の露出が見ら
れなかった。
【0027】また、比較例として、SiC多孔体を作製
せず、実施例と同じSiC粉末を用いて、表1に示す体
積%になるようにSiC粉末を金型に充填して、表1に
示すAl合金を金型に流し込み、プレスして、冷却後、
型を解体し、比較例のAl−SiC複合体を得た。この
Al−SiC複合体はAlの被覆層が乏しく、表面の一
部にSiC粉末の露出が見られた。
【0028】これらのAl−SiC複合体から各種試験
片を切り出し、測定を行った。結果を表1に示す。Al
−SiC複合体の熱膨張係数は、複合体から幅3mm×
厚さ6mm×長さ15mmの試験片を切り出した後、常
温から100℃の温度範囲でTMA(サーモメカニカル
アナライザー、セイコー(株)製)を用いて測定した。
【0029】Al−SiC複合体の熱伝導率は、複合体
から直径10mm×高さ3mmの試験片を切り出した
後、熱定数測定装置(LF/TCM−FA8510B、理学電機社
製)を用いて、JIS1606に準拠してレーザーフラ
ッシュ法により測定した。
【0030】Al−SiC複合体のシャルピー衝撃値
は、複合体から幅4mm×厚さ3mm×長さ60mmの
試験片を切り出した後、シャルピー衝撃試験機を用い、
試験片を40mm隔たっている二つの支持台で支え、か
つ切り欠き部を支持台間の中央において切り欠き部の背
面をハンマにより1回だけ衝撃を与えて試験片を破断
し、試験片を破断するのに要するエネルギー、すなわち
シャルピー吸収エネルギーを測定した。そして、シャル
ピー吸収エネルギーを切り欠き部の原断面積(cm 2
で除してシャルピー衝撃値を求めた。表1において、シ
ャルピー衝撃値をS衝撃値と略する。
【0031】なお、シャルピー吸収エネルギーは以下の
式を用いて測定した。 E=WR(cosβ−cosα) ここで、 E:シャルピー吸収エネルギー(J) W:ハンマの重量(kgf) R:ハンマの回転軸中心から重心までの距離(m) α:ハンマの持ち上げ角度 β:試験片破断後のハンマの振り上がり角度
【0032】 表1 含浸Al SiC 熱膨張率 熱伝導率 曲げ強さ S衝撃値 (体積%) (×10-6/K) (W/(m・K)) (MPa) (J/cm2) 実施例1 AC4A 40 13.1 205 400 0.13 実施例2 AC4C 65 7.2 202 433 0.12 実施例3 AC4A 75 7.6 182 472 0.12 比較例1 AC4A 40 9.2 190 215 0.06
【0033】また、本発明のAl−SiC複合体を研削
加工して、190mm×140mm×3mmのIGBT
用の放熱基板とし、表面に無電解Ni系めっきを施し、
厚み7μmの均一なめっき層を形成した。この放熱基板
表面に半田ペーストをスクリーン印刷し、半田ペースト
上にSi34からなるセラミックス基板を載置し、30
0℃のリフロー炉で5分間加熱処理してセラミックス基
板を接合させた。
【0034】このセラミックス基板を接合した放熱基板
を、厚さ20mmのAl製の支持板に8本のボルトによ
って締め付け固定して、−40℃〜+125℃を1サイ
クルとして1000サイクルの冷熱サイクル試験を行っ
た。ヒートサイクル試験後、放熱基板の変形、はんだ層
の破壊、熱流路の遮断、セラミックス基板の割れは見ら
れなかった。
【0035】
【発明の効果】本発明のAl−SiC複合体によれば、
低熱膨張、高熱伝導性を有するとともに、反りなど変形
による外力の印加に対して十分な耐力を兼ね備えてお
り、セラミックス基板と接合して信頼性の高い放熱部品
が得られる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4G001 BA22 BA63 BB22 BB63 BC33 BD03 4K020 AA08 AC01 BA02 BB05 5F036 AA01 BB08 BD03 BD13

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 SiC多孔体にAlを主成分とする金属
    を含浸したAl−SiC複合体であり、該複合体はSi
    Cを40体積%以上含有し、該複合体のシャルピー衝撃
    値が0.1J/cm2以上であることを特徴とするAl
    −SiC複合体。
  2. 【請求項2】 前記複合体は、室温の熱膨張係数が4×
    10-6〜20×10 -6/K、熱伝導率が150〜280
    W/(m・K)であることを特徴とする請求項1に記載
    のAl−SiC複合体。
  3. 【請求項3】 前記複合体の表面全体に、Alを主成分
    とする金属が豊富な被覆層を設けたことを特徴とする請
    求項1または2に記載のAl−SiC複合体。
  4. 【請求項4】 前記被覆層の平均厚みが10〜300μ
    mであることを特徴とする請求項3に記載のAl−Si
    C複合体。
  5. 【請求項5】 前記複合体の表面に、Ni系めっき層を
    設けたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載
    のAl−SiC複合体。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれかに記載のAl−
    SiC複合体からなることを特徴とする放熱部品。
  7. 【請求項7】 前記放熱部品が放熱基板、ヒートシン
    ク、パッケージのいずれかであることを特徴とする請求
    項6に記載の放熱部品。
  8. 【請求項8】 電子部品搭載用セラミックス基板に接合
    してなることを特徴とする請求項7に記載の放熱部品。
  9. 【請求項9】 前記セラミックス基板がSi34、Al
    N、Al23のいずれかからなることを特徴とする請求
    項8に記載の放熱部品。
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