JP2001272623A - 走査型投受光器の光学系 - Google Patents

走査型投受光器の光学系

Info

Publication number
JP2001272623A
JP2001272623A JP2000083462A JP2000083462A JP2001272623A JP 2001272623 A JP2001272623 A JP 2001272623A JP 2000083462 A JP2000083462 A JP 2000083462A JP 2000083462 A JP2000083462 A JP 2000083462A JP 2001272623 A JP2001272623 A JP 2001272623A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical system
scanning
receiving
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000083462A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4494580B2 (ja
Inventor
Osamu Shimizu
修 清水
Yoshiyuki Ikemoto
善行 池本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Signal Co Ltd
Original Assignee
Nippon Signal Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Signal Co Ltd filed Critical Nippon Signal Co Ltd
Priority to JP2000083462A priority Critical patent/JP4494580B2/ja
Publication of JP2001272623A publication Critical patent/JP2001272623A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4494580B2 publication Critical patent/JP4494580B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】光を走査して送出するとともに、その反射光を
集光して確実に受光することができる簡略な構成で安価
な走査型投受光器の光学系を提供する。 【解決手段】本発明による走査型投受光器の光学系は、
レーザ光源1から出射されるレーザ光を走査して外部に
送出する可動ミラー2と、送出光が外部で再帰反射され
て戻される反射光を集光するフレネルレンズ4と、フレ
ネルレンズ4で集光された反射光を受光するフォトセン
サ5が取り付けられた基板3と、を備えて構成される光
学系において、フレネルレンズ4および基板3それぞれ
が、送出光の光路を横切って配置されるとともに、送出
光の走査領域に対応する範囲に形成された貫通したレン
ズ穴部4Aおよび基板穴部3Aを有し、フォトセンサ5
が送出光の光路の近傍に配置されるようにしたものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光を走査しながら
外部に送出するとともに、その送出光が外部で再帰反射
されて戻される反射光を集光して受光する機能を備えた
走査型投受光器の光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば物体の位置を計測する場合
などに、走査型投受光器が光学式センサとして利用され
ることがある。この走査型投受光器は、光源から出射さ
れた光を可動ミラーなどを用いて走査させながら外部に
送出するとともに、該走査された光の反射戻り光を受光
する機能を備えたものである。このような走査型投受光
器の光学系としては、走査される光の反射戻り光を、レ
ンズ等を用いて集光した後にフォトセンサで受光する構
成が一般的である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の走査
型投受光器の構成の1つとして、走査される光の光路に
ほぼ沿った方向に反射された戻り光を受光するものがあ
り、例えば、再帰反射板によって再帰反射された光を受
光するような場合などが該当する。再帰反射板は、図8
に示すように、入射光を光源の方向に反射し、その反射
光は光源の周辺に若干の広がりを持ち、また、光源と反
射点を結ぶ軸に近いほど強い光が戻ってくるとういう性
質を有する。したがって、このような再帰反射板で反射
された光を走査型投受光器のフォトセンサで受光するた
めには、レンズを用いて集光するとともに、その集光位
置は送出した光の光路になるべく近い場所に設定するこ
とが望ましい。
【0004】しかしながら、従来の走査型投受光器の光
学系では、送出光の光路の付近に反射戻り光を集光する
レンズを配置しようとすると、その集光レンズが送出光
の走査領域内に位置するようになり、送出光が集光レン
ズで曲げられて可動ミラーの動きによらない方向へ走査
されてしまうおそれがあった。また、送出光の一部が集
光レンズの表面で反射し、その反射光がフォトセンサで
受光されてしまうといった問題があった。
【0005】本発明は上記の点に着目してなされたもの
で、光を予め設定された領域に走査して送出するととも
に、その反射光を集光して確実に受光することができる
簡略な構成で安価な走査型投受光器の光学系を提供する
ことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明による走査型投受光器の光学系の1つの態様
は、光源から出射される光を可動ミラーに照射し、予め
設定された領域を走査する光を外部に送出する投光手段
と、該投光手段からの送出光が外部で再帰反射されて戻
される反射光を集光する集光手段と、該集光手段で集光
された反射光を受光する受光手段と、を備えて構成され
た走査型投受光器の光学系において、前記集光手段が、
前記送出光の光路を横切って配置されるとともに、前記
送出光の走査領域に対応する範囲にわたって形成された
貫通した穴部を有し、前記受光手段が、前記送出光の光
路の近傍に配置されるようにしたものである。
【0007】かかる構成では、光源から出射された光
が、可動ミラーにより走査され、集光手段に形成された
穴部を通過して外部に送出される。そして、送出光は外
部で再帰反射されて戻され、その反射戻り光は集光手段
によって集光された後に、送出光の光路の近傍に配置さ
れた受光手段で受光される。これにより、送出光の一部
が集光手段で反射して受光手段で受光されてしまうとい
うようなことが回避されるようになる。
【0008】また、上記の光学系については、前記投光
手段、前記集光手段および前記受光手段を外部から遮断
して収容する筐体を備え、該筐体は、前記送出光の光路
を横切る側面が前記送出光に垂直な面に対して角度を持
つように成形されるようにしてもよい。
【0009】かかる構成によれば、光学系の各要素が筐
体によって外部と遮断されるようになって、外部からの
埃等の進入による光学系の汚損の心配がなくなるととも
に、送出光の一部が筐体の内面で反射しても該反射光が
受光手段で受光されるようなことがなくなるようにな
る。
【0010】本発明による走査型投受光器の光学系の他
の態様は、光源から出射される光を可動ミラーに照射
し、予め設定された領域を走査する光を外部に送出する
投光手段と、該投光手段からの送出光が外部で再帰反射
されて戻される反射光を集光する集光手段と、該集光手
段で集光された反射光を受光する受光手段と、を備えて
構成された走査型投受光器の光学系において、前記集光
手段が、前記送出光の光路を横切って配置されるととも
に、前記送出光の入射される側面について、前記送出光
の走査領域に対応する範囲にわたり、前記送出光に垂直
な面に対して角度を持つ入射面の形成された送出光入射
部を有し、前記受光手段が、前記送出光の光路の近傍に
配置されるものである。
【0011】かかる構成では、光源から出射された光
が、可動ミラーにより走査され、送出光入射部を介して
集光手段を透過し外部に送出される。この際、送出光の
一部が送出光入射部の入射面で反射したとしても、その
反射光が受光手段で受光されるようなことはない。そし
て、送出光は外部で再帰反射されて戻され、その反射戻
り光は集光手段によって集光された後に、送出光の光路
の近傍に配置された受光手段で受光される。
【0012】また、前述した各態様の具体的な構成とし
ては、前記受光手段が、前記集光手段で集光された反射
光を受光するフォトセンサと、該フォトセンサを前記集
光手段の焦点に応じた位置に保持する保持部材とを備
え、該保持部材が、前記送出光の光路を横切って配置さ
れ、前記送出光の走査領域に対応する範囲にわたって形
成された貫通した穴部を有するようにしてもよい。さら
に、前記集光手段が、フレネルレンズを含むようにして
も構わない。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、第1実施形態にかかる走査
型投受光器の光学系を示す斜視図である。また、図2
は、図1の走査型投受光器の側方断面図である。
【0014】図1および図2に示すように、本走査型投
受光器の光学系は、例えば、投光手段としてのレーザ光
源1および可動ミラー2と、受光手段としてのフォトセ
ンサ5およびそれを取り付ける基板3と、集光手段とし
てのフレネルレンズ4と、それらの各要素を収容する筐
体としてのケース6と、から構成される。ただし、図1
では、ケース6の表示を省略し、内部の構成が明らかに
なるようにしている。
【0015】レーザ光源1は、所要の波長のレーザ光を
発生する一般的な光源であり、発生したレーザ光が可動
ミラー2の鏡面2A中心部付近に照射されるように配置
されている。
【0016】可動ミラー2は、レーザ光源1から出射さ
れたレーザ光を揺動可能な鏡面2Aで全反射させること
により、例えば図で水平方向にレーザ光を走査する。可
動ミラー2の具体例としては、共振型ミラーやポリゴン
ミラーなどを挙げることができる。共振型ミラーを用い
る場合には、例えば、本出願人により先に提案されたマ
イクロマシニング技術を用いて製造した半導体ガルバノ
ミラーなどが好適である(特開平7−175005号公
報及び特開平7−218857号公報等参照)。
【0017】基板3は、可動ミラー2とフレネルレンズ
4の間に配置され、フレネルレンズ4に対向する平面上
にフォトセンサ5が取り付けられている。また、基板3
の中央部付近には、可動ミラー2で走査されるレーザ光
の走査領域に対応した範囲にわたって貫通した基板穴部
3Aが形成されている。この基板3としては、例えば、
ポリ塩化ビフェニル(PCB)基板等を用いることが可
能である。
【0018】フォトセンサ5は、フレネルレンズ4によ
って集光された光を受光し、電気信号に変換して外部に
出力するものである。このフォトセンサ5の基板面上の
配置は、フレネルレンズ4の焦点に相当する位置に受光
面が位置するように設定され、ここでは、例えば基板穴
部3Aの上方に取り付けられている。
【0019】なお、ここでは、レーザ光の走査領域を横
切るような形状を有する基板3を用いる場合を示した
が、この基板3はフォトセンサ5を所要の位置に保持す
るために設けられる部材であるので、レーザ光の走査領
域を横切らないような形状が可能であれば、もちろん基
板穴部3Aを設ける必要性はない。
【0020】フレネルレンズ4は、送出した光の反射光
をフォトセンサ5の受光面に集光させるための公知のレ
ンズである。このフレネルレンズ4は、輪帯状の多くの
プリズムで作られた薄いレンズであって、輪帯の中心
(以下、光学的中心とする)を通る光線を1点に集光す
る(図2参照)。また、フレネルレンズ4の中央部付近
には、基板3と同様にして、レーザ光の走査領域に対応
した範囲にわたってレンズ穴部4Aが形成され、ここで
は、例えばフレネルレンズ4の光学的中心から少し下方
にずらした部位に貫通した長穴が形成されている。な
お、本実施形態では、プラスチック製で板状のフレネル
レンズ4を使用することにより、レンズ穴部4Aの穴あ
け加工を容易にしている。ただし、フレネルレンズ4の
材質および形状は上記のものに限定されるものではな
い。図3には、フレネルレンズ4の凹凸面側を拡大して
示した平面図およびその側面図を示しておく。
【0021】ケース6は、その内部に上述したような光
学系の各要素を収容可能な筐体である。このケース6
は、送出光およびその反射光が通過する図2で左方に位
置する側面がレーザ光に対して透明な材料を用いて形成
されているものとする。具体的には、例えば黒色の可視
光カットフィルタ等を上記の側面に用いて、外乱光の影
響を避けるようにしてもよい。ケース6内に光学系を収
容することは、光学系の汚損を防止するという点で重要
である。すなわち、第1実施形態では、フレネルレンズ
4にレンズ穴部4Aを形成しているため、光学系をケー
ス6内に収容して外部と遮断しないとすれば、外部から
埃などが進入して可動ミラー2やフォトセンサ5等が汚
損し、レーザ光の通過や反射光の受光を妨げるおそれが
あるためである。また、ここでは、ケース6の光の入出
射面(上記の透明な側面)について、送出光に対して垂
直な面と平行にならないように角度が設けてある。これ
は、ケース6の内面でレーザ光が反射して生じる不要光
(図2の点線矢印)が、フォトセンサ5に向かって受光
されてしまうことを防ぐための措置である。
【0022】上記のような光学系を備えた走査型投受光
器では、レーザ光源1から出射されたレーザ光が、可動
ミラー2で反射されることにより所要の領域内で走査さ
れる。この走査されたレーザ光は、基板穴部3A、レン
ズ穴部4Aおよびケース6の透明な側面を順に通過して
外部に送出される。そして、外部に送出された光は、例
えば上述の図8で説明したような再帰反射板等に到達す
ると、再帰反射されて走査型投受光器に戻される。その
反射戻り光は、上述の図2に示したように、ある程度の
広がりをもった平行光線となって走査型投受光器に入射
し、ケース6の透明な側面を透過した後に、フレネルレ
ンズ4によってフォトセンサ5の受光面に集光される。
フォトセンサ5では、集光された反射光が電気信号に変
換されて受光信号として外部等に出力される。
【0023】このように第1実施形態によれば、外部に
送出した光が再帰反射されて戻されてくる光を効率良く
受光するために、送出光の光路の近くにフレネルレンズ
4を配置するような場合であっても、送出光の走査領域
に応じてレンズ穴部4Aを形成する簡易な加工を施すこ
とによって、送出光がフレネルレンズ4で曲げられて、
可動ミラー2の動きによらない方向へ走査されてしまう
のを防止できるのと同時に、送出光の一部がフレネルレ
ンズ4の表面で反射してフォトセンサ5で受光されてし
まうといった不具合を容易に回避できる。また、レンズ
穴部4Aを形成したフレネルレンズ4等を用いて構成さ
れた光学系の各要素については、ケース6内に収容する
ことで外部からの埃等の進入による汚損の心配がなくな
り、さらに、ケース6の光の出射面を光軸に対して傾け
るようにしたことで、ケース6の内面で反射した不要光
がフォトセンサ5で受光されることが殆どなくなり、外
部で再帰反射された光を確実に受光することが可能にな
る。このような光学系を用いた走査型投受光器は、例え
ばレーザ光の走査領域内に存在する物体の位置などを計
測するような各種機器の光学センサとして利用すること
ができる。
【0024】次に、第2実施形態について説明する。図
4は、第2実施形態にかかる走査型投受光器の光学系を
示す斜視図である。また、図5は、図4の光学系に用い
られるフレネルレンズの構造を示した断面図である。
【0025】図4および図5に示すように、第2実施形
態における光学系の構成が第1実施形態の場合と異なる
部分は、レンズ穴部4Aの形成されたフレネルレンズ4
に代えてフレネルレンズ7を設けた部分である。それ以
外の他の部分の構成は、第1実施形態の場合と同様であ
るため、ここでの説明を省略する。
【0026】フレネルレンズ7は、基板3に対向する側
の平面の中央部付近であって、レーザ光の走査領域に対
応した範囲にわたって送出光入射部7Aが形成されてい
る。この送出光入射部7Aは、図5の断面図に示すよう
に、送出光の入射される入射面が送出光に垂直な面に対
して角度を持つように、すなわち、図で下方に傾くよう
に加工された部分であって、送出光の一部がフレネルレ
ンズ7の表面で反射されることによって発生する不要光
をフォトセンサ5に向かわせないようにするために設け
られている。
【0027】上記のようにフレネルレンズについて、送
出光を通過させる貫通した穴部を設ける代わりに送出光
入射部7Aを形成するようにしても、第1実施形態の場
合と同様の作用効果を得ることができる。また、貫通し
た穴部を持たないフレネルレンズ7によって、フォトセ
ンサ5や可動ミラー2等の光学系の構成が外部と遮断さ
れるようになるため、上述の図2に示したようなケース
6について、フレネルレンズよりも外側(図2で左方)
に位置する部分が不要となり、走査型投受光器の小型化
を図ることが可能になる。
【0028】なお、上述した第1、2の実施形態では、
凹凸面側に入射される平行光線を1点に集光するタイプ
のフレネルレンズを使用する場合を説明したが、本発明
はこれに限らず、凹凸面とは反対側の平面に入射される
平行光線を1点に集光するタイプのフレネルレンズを使
用してもよい。具体的には、第1実施形態の場合、図6
の断面図に示すような、レンズ穴部4A’が形成された
フレネルレンズ4’を、その凹凸面が基板3側を向くよ
うにして配置すればよい。また、第2実施形態の場合に
は、図7の断面図に示すような、送出光入射部7A’が
形成されたフレネルレンズ7’を、その凹凸面が基板3
側を向くようにして配置すればよい。
【0029】また、フレネルレンズを用いて反射光を集
光する構成としたが、本発明はフレネルレンズと同様な
光学的機能を有する公知のレンズ(例えばレンズアレイ
等)を利用して反射光を集光するようにしても構わな
い。さらに、レーザ光を走査して送出するようにした
が、本発明における光源はレーザに限定されるものでは
ない。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、送出光の
光路の近くに集光手段を配置するような光学系の構成で
あっても、送出光の走査領域に応じて、集光手段に貫通
した穴部または送出光入射部を設けることによって、送
出光が集光手段で曲げられて、可動ミラーの動きによら
ない方向へ走査されてしまうのを防止できるのと同時
に、送出光の一部が集光手段で反射して受光手段で受光
されてしまうといった不具合を容易に回避できる。
【0031】また、貫通した穴部を形成した集光手段を
用いて構成された光学系の各要素を筐体内に収容すると
ともに、該筐体の送出光の光路を横切る側面を送出光に
垂直な面に対して傾けるようにしたことで、外部からの
埃等の進入による光学系の汚損を防ぐことができるとと
もに、筐体の内面で反射した光が受光手段で受光される
ようなことを回避できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態にかかる走査型投受光器
の光学系を示す斜視図である。
【図2】図1の走査型投受光器の側方断面図である。
【図3】第1実施形態についてフレネルレンズの凹凸面
側を拡大して示した平面図およびその側面図である。
【図4】本発明の第2実施形態にかかる走査型投受光器
の光学系を示す斜視図である。
【図5】図4の光学系に用いられるフレネルレンズの構
造を示した断面図である。
【図6】第1実施形態に関連する他のフレネルレンズの
構造を示した断面図である。
【図7】第2実施形態に関連する他のフレネルレンズの
構造を示した断面図である。
【図8】一般的な再帰反射板の光学特性を説明する図で
ある。
【符号の説明】
1…レーザ光源 2…可動ミラー 2A…鏡面 3…基板 3A…基板穴部 4,4’,7,7’…フレネルレンズ 4A,4A’…レンズ穴部 7A,7A’…送出光入射部 6…ケース
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 DD15 FF01 GG04 HH04 HH12 JJ02 JJ25 LL10 LL16 LL62 MM16 UU02 UU07 2H045 AB01 BA02 DA31

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源から出射される光を可動ミラーに照射
    し、予め設定された領域を走査する光を外部に送出する
    投光手段と、該投光手段からの送出光が外部で再帰反射
    されて戻される反射光を集光する集光手段と、該集光手
    段で集光された反射光を受光する受光手段と、を備えて
    構成された走査型投受光器の光学系において、 前記集光手段が、前記送出光の光路を横切って配置され
    るとともに、前記送出光の走査領域に対応する範囲にわ
    たって形成された貫通した穴部を有し、 前記受光手段が、前記送出光の光路の近傍に配置された
    ことを特徴とする走査型投受光器の光学系。
  2. 【請求項2】前記投光手段、前記集光手段および前記受
    光手段を外部から遮断して収容する筐体を備え、該筐体
    は、前記送出光の光路を横切る側面が前記送出光に垂直
    な面に対して角度を持つように成形されていることを特
    徴とする請求項1に記載の走査型投受光器の光学系。
  3. 【請求項3】光源から出射される光を可動ミラーに照射
    し、予め設定された領域を走査する光を外部に送出する
    投光手段と、該投光手段からの送出光が外部で再帰反射
    されて戻されてくる反射光を集光する集光手段と、該集
    光手段で集光された反射光を受光する受光手段と、を備
    えて構成された走査型投受光器の光学系において、 前記集光手段が、前記送出光の光路を横切って配置され
    るとともに、前記送出光の入射される側面について、前
    記送出光の走査領域に対応する範囲にわたり、前記送出
    光に垂直な面に対して角度を持つ入射面の形成された送
    出光入射部を有し、 前記受光手段が、前記送出光の光路の近傍に配置された
    ことを特徴とする走査型投受光器の光学系。
  4. 【請求項4】前記受光手段が、前記集光手段で集光され
    た反射光を受光するフォトセンサと、該フォトセンサを
    前記集光手段の焦点に応じた位置に保持する保持部材と
    を備え、 該保持部材が、前記送出光の光路を横切って配置され、
    前記送出光の走査領域に対応する範囲にわたって形成さ
    れた貫通した穴部を有することを特徴とする請求項1〜
    3のいずれか1つに記載の走査型投受光器の光学系。
  5. 【請求項5】前記集光手段が、フレネルレンズを含むこ
    とを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の走
    査型投受光器の光学系。
JP2000083462A 2000-03-24 2000-03-24 走査型投受光器の光学系 Expired - Lifetime JP4494580B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000083462A JP4494580B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 走査型投受光器の光学系

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000083462A JP4494580B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 走査型投受光器の光学系

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001272623A true JP2001272623A (ja) 2001-10-05
JP4494580B2 JP4494580B2 (ja) 2010-06-30

Family

ID=18600093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000083462A Expired - Lifetime JP4494580B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 走査型投受光器の光学系

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4494580B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101208573B1 (ko) 2009-03-21 2012-12-06 아주하이텍(주) 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치
US20140140087A1 (en) * 2011-05-04 2014-05-22 James I. Scholtz Multiple wavelength light source and signal collection device and methods for using the same

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0690364B2 (ja) * 1988-06-02 1994-11-14 住友電気工業株式会社 レーザ光の走査・受光装置
JPH0460606A (ja) * 1990-06-29 1992-02-26 Canon Inc 光走査装置
JPH0933842A (ja) * 1995-07-19 1997-02-07 Ricoh Co Ltd 光走査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101208573B1 (ko) 2009-03-21 2012-12-06 아주하이텍(주) 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치
US20140140087A1 (en) * 2011-05-04 2014-05-22 James I. Scholtz Multiple wavelength light source and signal collection device and methods for using the same
US9423548B2 (en) * 2011-05-04 2016-08-23 The Research Foundation Of The City University Of New York Multiple wavelength light source and signal collection device and methods for using the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP4494580B2 (ja) 2010-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102568116B1 (ko) 회전 오목 거울과 빔 조향 디바이스들의 조합을 사용한 2D 스캐닝 고정밀 LiDAR
US10996322B2 (en) Lidar sensor
CA2527113A1 (en) Laser distance measuring device
JP2772521B2 (ja) 投光反射型光検出器の光学系
KR100374244B1 (ko) 광디바이스
JPH01118795A (ja) 光カーテン装置
JP4476599B2 (ja) 集光光学系
JP4127579B2 (ja) 光波距離計
KR100191892B1 (ko) 광검출장치
JP2001272623A (ja) 走査型投受光器の光学系
US4549802A (en) Focus detection apparatus
JPS59125709A (ja) 限定反射型光電スイツチのレンズ配置構造
JP6867736B2 (ja) 光波距離測定装置
KR920008507B1 (ko) 광학적패턴 검출장치
JPH11316155A (ja) 光センサ―及び光マイクロホン
JP3297968B2 (ja) 限定反射型光電センサ
JPH06331732A (ja) 光距離センサ
JP2983183B2 (ja) 投受光センサ
JPH11174269A (ja) 導光ユニット及び小型電子機器
JP2001267625A (ja) 限定反射型光電スイッチ
JP3350826B2 (ja) 限定反射型光電センサ
JP6732442B2 (ja) 光波距離測定装置
JP2003295091A (ja) オプトエレクトロニクス装置
JPS6247016A (ja) 焦点距離検出方法
JPH06229822A (ja) 光電スイッチ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100112

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100312

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100406

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100408

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4494580

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416

Year of fee payment: 4

EXPY Cancellation because of completion of term