JP2001257136A - チップコンデンサの漏れ電流測定装置 - Google Patents

チップコンデンサの漏れ電流測定装置

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JP2001257136A
JP2001257136A JP2000066504A JP2000066504A JP2001257136A JP 2001257136 A JP2001257136 A JP 2001257136A JP 2000066504 A JP2000066504 A JP 2000066504A JP 2000066504 A JP2000066504 A JP 2000066504A JP 2001257136 A JP2001257136 A JP 2001257136A
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Yasunobu Tange
泰延 丹下
Hiroyuki Aso
浩之 麻生
Hideji Yamashita
英児 山下
Hiromichi Moriyama
博通 森山
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明はコンパクトで各接点の接続や接触が
安定確実なチップコンデンサの漏れ電流測定装置を提供
することを目的とする。 【解決手段】 連続回転を間欠回転に変換するインデッ
クス機構8と、このインデックス機構8に結合された回
転ディスク18と、回転ディスク18の円周端に等間隔
角度で分割した複数の作業位置に、保持片47、V字ガ
イド45a、導通板46、押え板43などでなるチップ
コンデンサ保持治具および接点ホルダーを配設し、前記
作業位置の配列を一箇所でチップコンデンサを前記治具
へ投入、複数の箇所において各々所定の電流を通電、漏
れ電流を測定、充電電荷を放電、チップコンデンサを廃
棄および取出す順序とした構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電気エージングする
前に不具合品を排除するためのチップコンデンサの漏れ
電流測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のチップコンデンサの漏れ電流測定
装置は、陽極とする金属材でなる引出リードの先端に形
成素子を結合し、引出リードの他端を薄板帯状すなわち
フープ状金属材に定間隔で複数個を抵抗溶接などにより
接合して、陽極側相互が電気的に導通された状態のチッ
プコンデンサを、電気エージングの工程前に漏れ電流を
測定するために、チップコンデンサへの充電すなわち通
電用の摺動接点や、レールを使用して連続的に充電を実
施し、一方の陰極側の電極部分にはチップコンデンサに
当接させたままチップコンデンサと一体で間欠回転など
する測定ワークに導通板を接触させ、それに充電接点、
測定端子および放電端子を当接させる構成のものであっ
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のチップコンデンサの漏れ電流測定装置では、摺動レ
ールや摺動接点を使用する必要があり、かつ電気配線が
必要であるために構造が大きくなる。
【0004】また、充電接点が測定ワークとともに回転
することから、検査接点や放電接点が個々に必要で複雑
な構造となり、接点の数が多く各々の接点を安定して測
定ワークに接触した状態に保つことが困難であるという
課題があった。
【0005】本発明はこのような課題を解決しようとす
るものであり、コンパクトで各接点の接続が安定となる
チップコンデンサの漏れ電流測定装置を提供することを
目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明のチップコンデンサの漏れ電流測定装置は、電
気エージングする前にチップコンデンサを段階的あるい
は断続的に通電し充電する機構と、この充電されたチッ
プコンデンサの漏れ電流を測定する機構と、その測定結
果により不具合品を排除し正常品のみを次工程に投入す
る機構とからなる構成としたものであり、接点が固定さ
れて安定であり、かつコンパクトで接点のメンテナンス
が容易で、不具合品のチップコンデンサを排除して電気
エージングを行うことができるのである。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、電気エージングする前にチップコンデンサを段階的
あるいは断続的に通電し充電する機構と、この充電され
たチップコンデンサの漏れ電流を測定する機構と、その
測定結果により不具合品を排除し、正常品のみを次工程
に投入する機構とからなるチップコンデンサの漏れ電流
測定装置であり、通電条件を自在に設定できるという作
用を奏する。
【0008】請求項2に記載の発明は、駆動源の連続回
転を間欠回転に変換するインデックス機構と、このイン
デックス機構に結合された回転ディスクと、この回転デ
ィスクの円周端に等間隔角度で分割した複数の作業位置
に各々チップコンデンサ保持治具および接点ホルダーを
配設し、前記作業位置の配列を一箇所でチップコンデン
サを前記チップコンデンサ保持治具へ投入し複数の箇所
において各々所定の電流を通電し、漏れ電流を測定し、
充電電荷を放電し、チップコンデンサを廃棄および取出
す構成としたチップコンデンサの漏れ電流測定装置であ
り、摺動接点を削除でき、測定装置がコンパクトになる
という作用を奏する。
【0009】請求項3に記載の発明は、陽極側へ通電す
る接点を2個あるいは複数個有する充電接点と、その充
電接点を保持し固定板に取付けた直進ガイドおよび付勢
体によりチップコンデンサ保持治具に充電接点を押圧す
る方向に移動自在な接点ホルダーと、回転中心を同一に
する回転軸に取付けられた複数の揺動カムと、インデッ
クス機構に伝達する連続回転駆動によりカムとレバーで
発生する直進駆動力で前記揺動カムを揺動させて前記接
点ホルダーを上下移動させ、複数個の接点ホルダーの各
々が各作業位置に前記チップコンデンサ保持治具が停止
した時、接点ホルダーが降下し接点が前記チップコンデ
ンサ保持治具に保持されたチップコンデンサの所定箇所
に当接し接触させる構成の請求項2に記載のチップコン
デンサの漏れ電流測定装置であり、請求項2に記載の作
用に加えて確実に接続あるいは接触することができ、メ
ンテナンスが容易になるという作用を奏する。
【0010】請求項4に記載の発明は、チップコンデン
サ保持治具が回転ディスクに固定された導通板取付ブロ
ックに取付けられ、チップコンデンサに当接かつ保持し
陽極側に通電する導通板と、導通板の片端に取付けられ
チップコンデンサの陽極側部を挟持して導通板より通電
させる傾斜曲げ加工された板状の付勢体と、チップコン
デンサの位置決めかつ保持するためにチップコンデンサ
の引出リードをガイドするV字状の溝を複数設けた回動
自在なV字ガイドと、このV字ガイドとチップコンデン
サを保持する回動自在な押え板とで構成され、V字ガイ
ドと押え板は付勢体により閉じる方向に押圧されるとと
もに、固定カムとカムフォロアによりチップコンデンサ
の投入取出作業位置でのみ解放してなる請求項2に記載
のチップコンデンサの漏れ電流測定装置であり、請求項
2の作用に加えて接続や接触が確実になるという作用を
奏する。
【0011】さて、チップコンデンサを電気エージング
する設備機器においては、電気エージングを実施する前
にチップコンデンサの漏れ電流を測定し、漏れ電流の正
常なチップコンデンサのみを電気エージング工程に投入
することが望まれている。
【0012】以下、本発明の実施の形態について図面を
用いて説明する。図1はチップコンデンサの生産工程中
における平面図である。
【0013】図1において、1は形成素材にタンタル材
などを用いたチップコンデンサ、3はチップコンデンサ
1の本体となる形成素子、2は形成素子3を電気的、化
学的あるいは機械的に保護するための外装樹脂、4は導
電金属材などでなり形成素子3の一端に結合され陽極と
する引出リード、5は薄板帯状金属材でなる連続あるい
は短冊状の金属フープであり、引出リード4の他端を抵
抗溶接などにより定間隔で接合してある。そして5aは
金属フープ5の移送あるいは位置決めを行うために定間
隔に複数設けた移送孔である。
【0014】図2は本発明の実施の形態におけるチップ
コンデンサの漏れ電流測定装置の部分断面斜視図、図3
(a),(b)は同チップコンデンサ保持治具の要部平
面図および正面図、そして図4(a),(b)は同接点
ホルダーの要部斜視図および断面図である。
【0015】図2、図3、図4において、6は駆動源
(図示せず)の連続回転などの駆動力を伝達するタイミ
ングベルト、7はタイミングベルト6を巻回するタイミ
ングプーリ、8は前記連続回転などを間欠回転に変換す
るインデックス機構、9は変換された間欠回転を回転軸
に伝達する継手、10は片先端に継手9を結合した回転
軸、12は回転軸10を回転自在に保持する軸受、11
は軸受12を嵌め込んで支えるブラケットである。
【0016】14は接点ホルダー30を前後に揺動する
ための揺動カム、13は揺動カム14の軸受を所定箇所
に装着し押圧するカラー、16は接点ホルダー30を取
付ける固定ディスク、15は固定ディスク16を固定す
る固定ブロックである。
【0017】17は回転軸10の中央部に固定されたボ
ス、18はボス17により回転軸10に固着された回転
ディスク、19は回転ディスク18に固定ピン19aに
より固定された絶縁体材でなる導通板取付ブロック、2
0はV字ガイド45aを開閉するための動作支点となる
軸、21は押え板43を開閉するための動作支点となる
軸、22はV字ガイド45aを開閉するためのレバーで
ある。
【0018】23はカムフォロア、24は固定カム、2
5は固定ディスク16と対となる同じく固定ディスク、
26は揺動カム14と対となる同じく揺動カム、27は
揺動カム26用の軸受、28はカラー13と対となる同
じくカラー、29はベアリング止め、30は充電、通電
あるいは漏れ電流を測定するための各接点を保持する接
点ホルダー、31は接点ホルダー30を取付保持するプ
レートである。
【0019】32は接点ホルダー30を直進移動させる
ためのリニアガイド、33は接点ホルダー30をチップ
コンデンサ1の所定端子あるいは電極部分に押圧する方
向に押圧力を発生させるコイルバネなどでなる付勢体、
34は接点ホルダー30を所定動作させるカムフォロア
35を保持するブロックである。
【0020】36は揺動カム26を揺動駆動するための
ロッドエンド、37は揺動駆動を伝達する連接棒、38
は本機構の本体を設置するユニットベース、39は前記
ブラケット11と対となる同じくブラケットである。
【0021】40はV字ガイド45aを押え板43側に
移動駆動させるカムフォロア、41は本治具部を閉じる
方向に付勢するコイルバネなどでなる付勢体、43はV
字ガイド45aと対向する絶縁体材でなる押え板、42
は押え板43を先端に設置したレバーである。
【0022】44は位置決めブロック45を先端に設置
しレバー42と対向するレバー、45aは位置決めブロ
ック45の内側面下部に固着され、V字の溝を定間隔に
複数設けた絶縁体材でなるV字ガイド、46はチップコ
ンデンサ1の陽極側に通電させる導体の金属材でなる導
通板、47は付勢体である保持片であり、先端が傾斜曲
げ加工された板状の弾性体金属材などでなり、導通板4
6に一端が固定されてチップコンデンサ1の引出リード
4を接合した金属フープ5を導通板46に押圧するもの
である。
【0023】48は回転ディスク18の円周端部におい
て軸20を回動自在に保持する軸受、49は回転ディス
ク18において前記軸20の近傍に軸21を回動自在に
保持する軸受、50は個別の陰極側の伸縮自在なコンタ
クトピンなどからなる接点、51は共通の同じくコンタ
クトピンなどからなる陽極側の接点、そして52は接点
50の先端部で複数の突起状でなる当接部である。以上
により構成されたチップコンデンサ保持治具および接点
ホルダーは、前記回転ディスク18の円周端に等間隔の
角度例えば12〜16等分割された箇所に配設されてい
る。
【0024】次に動作について図2、図3および図4を
用いて説明する。タイミングベルト6およびタイミング
プーリ7により伝達された連続回転を、インデックス機
構8により所定分割角度の間欠回転に変換し、この間欠
回転を継手9により回転軸10に伝達し、さらにボス1
7および回転ディスク18を介して図3、図4に示すチ
ップコンデンサ保持治具および接点ホルダーを、各々の
作業における所定位置に回動し停止状態で保持する。
【0025】そして、図1に示す形状および構成のチッ
プコンデンサ1を出入するために、投入および取出し位
置におけるチップコンデンサ保持治具および接点ホルダ
ーは、固定ディスク16および固定ディスク25に取付
けられた固定カム24により、カムフォロア23が揺動
してレバー22を介して軸20を回転し、レバー44を
介して位置決めブロック45のV字ガイド45aが開
き、レバー44に取付けられたカムフォロア40に付勢
体41で押圧されたレバー42を介して、押え板43が
開いた状態になる。
【0026】この状態で図1に示すチップコンデンサ1
を導通板46と板状の保持片47の間に投入して、金属
フープ5を保持片47により導通板46に押圧し保持す
ることによりチップコンデンサ1が保持される。そして
次に、そのチップコンデンサ保持治具および接点ホルダ
ーは次の作業位置に間欠回転移動する。
【0027】その位置において、固定カム24からカム
フォロア23が外れ、押え板43と位置決めブロック4
5のV字ガイド45aが閉じ、チップコンデンサ1の引
出しリード4がV字ガイド45aのV字溝部分により位
置決め保持され、チップコンデンサ1の先頭部の陰極部
が陰極側充電用の接点50の位置に規制し設定される。
【0028】そして、前記設定のチップコンデンサ保持
治具および接点ホルダーは、次の作業位置から複数箇所
(例えば8〜10箇所)の作業位置において、固定ディ
スク16および固定ディスク25に取付けられた直進ガ
イド32によりスライドする接点ホルダー30が間欠回
転と連動して、揺動動作を連接棒37およびロッドエン
ド36により揺動カム14および揺動カム26に伝達す
る。
【0029】これにより、カムフォロア35、ブロック
34、プレート31を介し、かつ付勢体33の付勢力に
よりチップコンデンサ1の所定箇所に接点50すなわち
当接部52を、そして接点51が導通板46の片端上面
に当接し、揺動カム26の回動により接点50、接点5
1とチップコンデンサ1の所定箇所、導通板46とを押
圧するように動作する。
【0030】前記動作により、陰極側充電用の接点50
の当接部52をチップコンデンサ1の所定箇所に当接
し、また陽極側充電用の接点51が導通板46に当接し
て充電機構が形成され、所定電圧および電流がチップコ
ンデンサ1に通電され、所定の充電が行われるのであ
る。
【0031】そして所定の充電後、チップコンデンサ保
持治具および接点ホルダーを前記作業位置の次の作業位
置にて前記充電と同じ各接点を当接し漏れ電流の測定機
構を構成して漏れ電流を測定し、続いてチップコンデン
サ保持治具および接点ホルダーをその次の作業位置にお
いて同じ接点を当接して充電された電荷の放電を行う。
【0032】続いて、チップコンデンサ保持治具および
接点ホルダーにおけるチップコンデンサ1が、次の最初
の投入および取出し位置に回転移動した所で、チップコ
ンデンサ1をチップコンデンサ保持ブロック部分より取
り出す。
【0033】以上、前記の構成および動作すなわち、チ
ップコンデンサ1の投入と保持、複数箇所での各接点の
当接と充電、漏れ電流の測定、充電電荷(電流)の放
電、そしてチップコンデンサ1の取出しにより、段階的
あるいは断続的にチップコンデンサ1に通電し充電する
のであり、また陰極側における充電用の接点、測定接点
および放電接点を固定するのであり、コンパクトで接点
の管理が容易で安定し、チップコンデンサ1の測定結果
により、漏れ電流の正規なチップコンデンサ1だけを選
別して電気エージングなどの後工程に投入するのであ
る。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明により、段階的ある
いは断続的に通電し充電することができ、接点が固定さ
れて安定であり、かつコンパクトで接点のメンテナンス
が容易で、不具合品のチップコンデンサを排除して電気
エージングを行うことができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】チップコンデンサの生産工程中の概要構成平面
【図2】本発明の実施の形態におけるチップコンデンサ
の漏れ電流測定装置の部分断面斜視図
【図3】(a)同チップコンデンサ保持治具の要部平面
図 (b)同正面図
【図4】(a)同接点ホルダーの要部斜視図 (b)同断面図
【符号の説明】
1 チップコンデンサ 2 外装樹脂 3 形成素子 4 引出リード 5 金属フープ 5a 移送孔 6 タイミングベルト 7 タイミングプーリ 8 インデックス機構 9 継手 10 回転軸 11,39 ブラケット 12,27,48,49 軸受 13,28 カラー 14,26 揺動カム 15 固定ブロック 16,25 固定ディスク 17 ボス 18 回転ディスク 19 導通板取付ブロック 19a 固定ピン 20,21 軸 22,42,44 レバー 23,35,40 カムフォロア 24 固定カム 29 ベアリング止め 30 接点ホルダー 31 プレート 32 リニアガイド 33,41 付勢体 34 ブロック 36 ロッドエンド 37 連接棒 38 ユニットベース 43 押え板 45 位置決めブロック 45a V字ガイド 46 導通板 47 保持片 50,51 接点 52 当接部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山下 英児 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 森山 博通 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2G036 AA21 AA27 BB02 CA01 5E082 AA01 AB09 BC38 BC39 MM13 MM32 MM35 PP08

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気エージングする前にチップコンデン
    サを段階的あるいは断続的に通電し充電する機構と、こ
    の充電されたチップコンデンサの漏れ電流を測定する機
    構と、その測定結果により不具合品を排除し正常品のみ
    を次工程に投入する機構とからなるチップコンデンサの
    漏れ電流測定装置。
  2. 【請求項2】 駆動源の連続回転を間欠回転に変換する
    インデックス機構と、このインデックス機構に結合され
    た回転ディスクと、この回転ディスクの円周端に等間隔
    角度で分割した複数の作業位置に各々チップコンデンサ
    保持治具および接点ホルダーを配設し、前記作業位置の
    配列を一箇所でチップコンデンサを前記チップコンデン
    サ保持治具へ投入し複数の箇所において各々所定の電流
    を通電し、漏れ電流を測定し、充電電荷を放電し、チッ
    プコンデンサを廃棄および取出す構成としたチップコン
    デンサの漏れ電流測定装置。
  3. 【請求項3】 陽極側へ通電する接点を2個あるいは複
    数個有する充電接点と、その充電接点を保持し固定板に
    取付けた直進ガイドおよび付勢体によりチップコンデン
    サ保持治具に充電接点を押圧する方向に移動自在な接点
    ホルダーと、回転中心を同一にする回転軸に取付けられ
    た複数の揺動カムと、インデックス機構に伝達する連続
    回転駆動によりカムとレバーで発生する直進駆動力で前
    記揺動カムを揺動させて前記接点ホルダーを上下移動さ
    せ、複数個の接点ホルダーの各々が各作業位置に前記チ
    ップコンデンサ保持治具が停止した時、接点ホルダーが
    降下し接点が前記チップコンデンサ保持治具に保持され
    たチップコンデンサの所定箇所に当接し接触させる構成
    とした請求項2に記載のチップコンデンサの漏れ電流測
    定装置。
  4. 【請求項4】 チップコンデンサ保持治具が回転ディス
    クに固定された導通板取付ブロックに取付けられ、チッ
    プコンデンサに当接かつ保持し陽極側に通電する導通板
    と、導通板の片端に取付けられチップコンデンサの陽極
    側部を挟持して導通板より通電させる傾斜曲げ加工され
    た板状の付勢体と、チップコンデンサの位置決めかつ保
    持するためにチップコンデンサの引出リードをガイドす
    るV字状の溝を複数設けた回動自在なV字ガイドと、こ
    のV字ガイドとチップコンデンサを保持する回動自在な
    押え板とで構成され、V字ガイドと押え板は付勢体によ
    り閉じる方向に押圧されるとともに、固定カムとカムフ
    ォロアによりチップコンデンサの投入取出作業位置での
    み解放してなる請求項2に記載のチップコンデンサの漏
    れ電流測定装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI418808B (zh) * 2008-03-31 2013-12-11 Tokyo Weld Co Ltd Capacitor leakage current measurement method and capacitor leakage measuring device
CN109292440A (zh) * 2018-10-22 2019-02-01 扬州升阳电子有限公司 一种电容焊接机引脚定位装置

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