JP2001251100A - 基板の位置決め機構及び位置決め方法 - Google Patents
基板の位置決め機構及び位置決め方法Info
- Publication number
- JP2001251100A JP2001251100A JP2000062085A JP2000062085A JP2001251100A JP 2001251100 A JP2001251100 A JP 2001251100A JP 2000062085 A JP2000062085 A JP 2000062085A JP 2000062085 A JP2000062085 A JP 2000062085A JP 2001251100 A JP2001251100 A JP 2001251100A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- positioning
- openings
- stage
- intermediate portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
確に位置決めするとともに、位置決め後の基板の浮きを
防止する位置決め機構及び方法を提供する。 【解決手段】 まず、ガイド穴2にガイドピン6の先端
部10が挿入されるように基板1を下降させ、基板1を
粗く位置決めする。次に、ガイド穴2が中間部11に位
置するまで基板1を下降させる。これにより、ガイド穴
2付近で基板1が中間部11に押し広げられて弾性変形
することにより、中間部11はガイド穴2に係止され
る。次に、基板1の下面がステージ4の上面に接触する
まで基板1を下降させる。これにより、基板1は弾性変
形から回復して中間部11は係止から解除されるととも
に、基板は、中間部11によって垂直方向への、基部1
2によって水平方向への移動が各々規制されて仮固定さ
れる。更に、クランプ部材5を下降させ、位置決め穴3
に位置決めピン8を嵌合させて正確に位置決めする。
Description
おいて可撓性を有する基板を位置決めする、基板の位置
決め機構及び位置決め方法であって、特に、基板の浮き
を防止できる位置決め機構及び位置決め方法に関するも
のである。
装着される基板には、可撓性を有するいわゆるフレキシ
ブル基板が使用されるようになってきた。このフレキシ
ブル基板(以下、基板という。)は、例えば、厚さ0.
05又は0.075mmのポリイミド等のフィルムに、
銅箔によって所望のパターンが形成されているものであ
る。ところで、電子部品を組み立てる際には、ダイボン
ディング、ワイヤボンディング、樹脂封止等の各工程に
おいて、この基板を位置決めする必要がある。従来は、
基板に複数の位置決め用の穴を設け、基板が載置される
ステージや金型に位置決めピンを設けて、位置決め用の
穴と位置決めピンとを嵌合させることにより位置決めを
行っている。
来の位置決めによれば、通常のガラスエポキシ基板を使
用する場合に比べて、以下のような問題が発生する。ま
ず、各工程において基板を加熱する際に、熱膨張によっ
てステージや金型から基板の一部が浮く場合があり、最
悪のケースでは位置決めピンから基板が外れてしまう。
この場合には、例えば、ダイボンディングにおける半導
体チップの位置ずれ、ワイヤボンディングにおける半導
体チップの傾斜によるワイヤはね、樹脂封止時における
上型との接触によるワイヤの変形や短絡等の不良が発生
するおそれがある。これらの問題に対処するために、剛
性を有するキャリアに基板を挟持し、ステージや金型に
対してそのキャリアを位置決めすることも行われてい
る。しかし、この場合には、キャリアの製作に費用が必
要となり、更に組立工程の自動化に対応することが困難
であるという問題がある。
されたものであり、電子部品の組立において、可撓性を
有する基板を確実に位置決めするとともに基板の浮きを
防止できる、基板の位置決め機構及び位置決め方法を提
供することを目的とする。
するために、本発明に係る基板の位置決め機構は、電子
部品の組立において複数の開口が形成され可撓性を有す
る基板を位置決めする基板の位置決め機構であって、基
板が載置されるステージと、ステージに設けられ、複数
の開口のうち一部の開口に各々挿入されるとともに、該
一部の開口を通過する大きさの断面を有し先が細いテー
パ状の先端部と、一部の開口に係止される大きさの断面
を有し先端部につながる中間部と、一部の開口を通過す
る大きさの断面を有し中間部につながる基部とからなる
複数のガイドピンと、複数の開口のうち他の開口に対し
て各々嵌合されるように挿入される複数の位置決めピン
とを備えるとともに、一部の開口に係止される中間部は
ステージから基板を離間させることにより容易に係止か
ら解除され、かつ、複数のガイドピンが各々一部の開口
に挿入されている状態において位置決めピンが他の開口
に挿入されることを特徴とする。
挿入されることにより、基板が粗く位置決めされるとと
もに仮固定され、更に位置決めピンが他の開口に嵌合さ
れるようにして挿入されることにより、基板が正確に位
置決めされる。また、基板が仮固定された後に、熱膨張
等によって基板に対してステージから基板を浮かせる方
向に力が印加された場合でも、ガイドピンの中間部が一
部の開口に係止されるので、基板の浮きが抑制される。
は、上述の位置決め機構において、中間部が一部の開口
に対して各々係止されている状態において、中間部の周
辺で基板が弾性変形していることを特徴とする。
弾性変形した部分に、ガイドピンの中間部が押しつけら
れて係止される。したがって、一部の開口にガイドピン
の中間部が確実に係止される。また、ガイドピンが、一
部の開口に挿入される場合、又は一部の開口から引き抜
かれる場合において、基板が弾性変形するので、中間部
の係止及びその解除が円滑に行われる。
は、上述の位置決め機構において、複数のガイドピンは
対向する金型の一方を兼ねるステージに各々設けられ、
かつ、複数の位置決めピンは対向する金型の他方に各々
設けられるとともに、金型の少なくともいずれかには、
注入された溶融樹脂を硬化させることによって基板を樹
脂封止するためのキャビティが設けられていることを特
徴とする。
を兼ねるステージにおいて基板が正確に位置決めされた
状態で、ステージから基板を浮かせるように力が印加さ
れた場合でも、基板がステージから浮くことが抑制され
る。
明に係る基板の位置決め方法は、電子部品の組立におい
て複数の開口が形成され可撓性を有する基板を位置決め
する基板の位置決め方法であって、複数の開口のうち一
部の開口に、該一部の開口を通過する大きさの断面を有
し先が細いテーパ状の先端部と、一部の開口に係止され
る大きさの断面を有し先端部につながる中間部と、一部
の開口を通過する大きさの断面を有し中間部につながる
基部とからなるガイドピンを各々挿入して該ガイドピン
によって基板を仮固定する工程と、基板を仮固定した状
態において、複数の開口のうち他の開口に嵌合するよう
に位置決めピンを各々挿入して基板を位置決めする工程
とを備えたことを特徴とする。
挿入することにより、基板を粗く位置決めするとともに
仮固定し、更に位置決めピンを他の開口に嵌合されるよ
うにして挿入することにより、基板を正確に位置決めす
る。また、基板を仮固定した後に、熱膨張等によって基
板に対してステージから基板を浮かせる方向に力が印加
された場合でも、ガイドピンの中間部を一部の開口に係
止させることになるので、基板がステージから浮くこと
を抑制できる。
は、上述の位置決め方法において、基板を仮固定する工
程では、中間部の周辺で各々基板を弾性変形させている
ことを特徴とする。
弾性変形した部分に、ガイドピンの中間部を押しつけて
係止する。したがって、一部の開口に対して、ガイドピ
ンの中間部を確実に係止できる。また、ガイドピンを、
一部の開口に挿入する場合、又は一部の開口から引き抜
く場合において、基板が弾性変形するので、中間部の係
止及びその解除を円滑に行うことができる。
の実施形態に係る基板の位置決め機構及び位置決め方法
を、図面を参照しながら説明する。図1(1)〜(3)
は、本実施形態に係る位置決め機構において、ガイドピ
ンが基板を仮固定するまでの動作をそれぞれ示す断面図
である。
5〜0.075mmのポリイミド等からなる樹脂フィルム
に銅箔からなる所望のパターンが形成されている、可撓
性を有する基板である。2は、基板1に複数個設けら
れ、ほぼ正方形の形状を有し、基板1の粗い位置決めに
使用されるガイド穴である。3は、基板1に複数個設け
られ、ほぼ正方形の形状を有し、基板1の正確な位置決
めに使用される位置決め穴である。4は、基板1が載置
されるステージである。5は、ステージ4に対向して設
けられ、基板1をクランプするクランプ部材である。
応する位置に複数個設けられ、円形の断面を有するとと
もに、ガイド穴2に挿入されることによって基板1の粗
い位置決めに使用されるガイドピンである。7は、クラ
ンプ部材5においてガイドピン6に対応する位置に設け
られ、クランプ部材5によってステージ4に基板1がク
ランプされた状態でクランプ部材5にガイドピン6が接
触しないように、その一部が収容される凹部である。8
は、クランプ部材5に複数個設けられ、円形の断面を有
するとともに、位置決め穴3に挿入されることによって
基板1の正確な位置決めに使用される位置決めピンであ
る。9は、ステージ4において位置決めピン8に対応す
る位置に設けられ、クランプ部材5によってステージ4
に基板1がクランプされた状態でステージ4に位置決め
ピン8が接触しないように、その一部が収容される凹部
である。
部である。10は、ガイド穴2の短辺よりも小さい直径
を有し、先が細いテーパ状の形状を有する先端部であ
る。11は、先端部10につながり、ガイド穴2の短辺
以上の直径を有する中間部である。12は、ガイド穴2
の短辺よりも小さい直径を有する基部である。ここで、
中間部11の直径の最大値は、ガイド穴2の短辺よりも
0.04mm程度大きいことが好ましい。
ついて、図1を参照しながら説明する。まず、図1
(1)に示すように、ガイドピン6の先端部10が、基
板1が有するガイド穴2に挿入されるようにして、基板
1を下降させる。ここで、基板1が水平方向にずれてい
る場合においても、先が細い先端部10をガイド穴2に
挿入することによって、基板1を粗く位置決めすること
ができる。
ン6の中間部11がガイド穴2に挿入されるまで基板1
を下降させる。ここで、基板1は、ポリイミド等の樹脂
フィルムからなるので、中間部11が押しつけられるこ
とによって弾性変形する。したがって、ガイド穴2の内
壁が中間部11に押し広げられてへこむように弾性変形
するとともに、基板1は、ガイド穴2の付近でわずかに
上方に反る。この状態で、ガイドピン6の中間部11は
ガイド穴2に係止されるとともに、ガイドピン6は基板
1を張設する。
下面がステージ4の上面に接触するまで基板1を下降さ
せる。この状態で、基板1は、基部12の周囲におい
て、中間部11に押圧されたことによる弾性変形から回
復している。したがって、ガイド穴2において、中間部
11はガイド穴2に対する係止から解除されている。そ
して、基板1は、ガイドピン6とガイド穴2とによっ
て、移動が規制される。すなわち、基板1は、中間部1
1によって垂直方向への移動が、基部12によって水平
方向への移動がそれぞれ規制されて、仮固定される。
5を下降させて、位置決めピン8を位置決め穴3に嵌合
させることにより、正確な位置決めを行う。そして、ス
テージ4上における処理が終了して、ステージ4から基
板1を取り外す際には、基板1を上昇させる。この場合
には、ガイド穴2の内壁が中間部11に押し広げられて
弾性変形するとともに、基板1はガイド穴2の付近でわ
ずかに下方に反って、滑らかにステージ4から基板1を
取り外すことができる。
ば、ガイド穴2において、ガイドピン6によって基板1
を粗く位置合わせするとともに、ガイドピン6の中間部
11及び基部12によってそれぞれ基板1の垂直方向及
び水平方向への移動を規制して基板1を仮固定する。そ
の後に、位置決め穴3と位置決めピン8とを使用して、
基板1を正確に位置決めする。したがって、組立工程に
おける加熱によって基板1が熱膨張した場合において
も、キャリアを使用することなく、基板1を正確に位置
決めできるとともに、基板1がステージ4から浮くこと
を防止できる。
態に係る基板の位置決め機構であって、樹脂封止装置に
組み込まれた位置決め機構の動作を、樹脂封止装置の動
作と関連させて、図2と図3とを参照しながら説明す
る。図2は、本実施形態において、図1の位置決め機構
が組み込まれた樹脂封止装置の一部を示す斜視図であ
る。
3に対向して設けられた上型であって、いずれもヒータ
(図示なし)によって加熱されている。下型13と下型
14とは、併せて樹脂封止装置における樹脂封止用金型
を構成する。ここで、下型13は、基板1が載置される
ステージとして機能し、上型14は、型締めされた状態
で基板1をクランプするクランプ部材として機能する。
15は、基板1にダイボンディングされている半導体チ
ップ、16は、基板1と半導体チップ15との電極同士
を接続するワイヤである。17は、基板1上において封
止樹脂が形成される領域を仮想的に示した封止領域であ
る。18は、樹脂封止後に基板1を取り出すために、こ
れを突き上げるエジェクターである。
に係る位置決め機構の動作を、図3及び図4を参照して
説明する。なお、図3及び図4では、図1に比較して、
基板1の変形の状態を簡略化して示している。図3
(1)〜(3)は、図2の樹脂封止装置に組み込まれた
位置決め機構が、基板を位置決めするとともに仮固定す
るまでの工程を、図2のA−A線に沿ってそれぞれ示す
断面図である。
ン6の先端部がガイド穴2に挿入されるようにして、基
板1を下降させる。次に、図3(2)に示すように、ガ
イドピン6の中間部がガイド穴2に挿入されるまで、基
板1を下降させる。ここで、図1(2)について説明し
たように、ガイド穴2の内壁が、押圧されることによっ
てへこむように弾性変形する。次に、図3(3)に示す
ように、基板1の下面がステージ4の上面に接触するま
で基板1を下降させる。ここで、図1(3)について説
明したように、基板1は、ガイド穴2とガイドピン6と
によって、水平方向及び垂直方向への移動が規制されて
仮固定される。
置が、位置決めされた基板を樹脂封止して、樹脂封止さ
れた基板を位置決め機構から取り出すまでの工程を、図
2のA−A線に沿ってそれぞれ示す断面図である。図4
(1),(2)において、18は、下型13に設けら
れ、樹脂封止された基板1を突き出すエジェクターであ
る。19は、上型14に設けられた空間であって、樹脂
通路(図示なし)を経由して、例えばエポキシ樹脂等か
らなる溶融樹脂が注入されるキャビティである。20
は、キャビティ19に注入された溶融樹脂が硬化して形
成された封止樹脂である。
14とを型締めする。この状態で、溶融樹脂をキャビテ
ィ19に注入して硬化させる。次に、下型13と上型1
4とを型開きして、封止樹脂20が形成されることによ
って樹脂封止された基板1を、エジェクター18によっ
て突き出す。そして、搬送機構(図示なし)によって、
突き出された基板1を、例えばトレイや次工程に搬送す
る。
ば、樹脂封止装置において、ガイドピン6により、基板
1を粗く位置合わせするとともに仮固定した後に、位置
決め穴3と位置決めピン8とを使用して、基板を正確に
位置決めする。したがって、金型から受けた熱によって
基板1が熱膨張した場合においても、キャリアを使用す
ることなく、基板1を正確に位置決めできるとともに、
基板1がステージ4から浮くことを防止できる。
脂封止装置に組み込まれた場合について説明した。これ
に限らず、基板1を位置決めし固定して電子部品を組み
立てる際に使用される装置、例えば、ダイボンディン
グ、ワイヤボンディングに使用される装置や検査装置等
に、本発明を適用することもできる。
明では、ガイドピン6と位置決めピン8とが、対向する
別々の部材に設けられた場合を説明した。これに限ら
ず、ガイドピン6と位置決めピン8とを同一の部材、す
なわち、図1におけるステージ4や図2における下型1
3に設けてもよい。この場合には、位置決めピンの突出
寸法を、図1に示されたガイドピン6の基部12と同等
又はやや低くなるようにしておく。そして、ステージ4
に設けられたガイドピン6により、基板1が水平方向及
び垂直方向に仮固定された状態で、ステージ4に設けら
れた位置決めピンが位置決め穴3に挿入される。このこ
とにより、基板1を正確に位置決めできるとともに、基
板1がステージ4から浮くことを防止できる。
口に挿入されることにより、基板が粗く位置決めされる
とともに仮固定された状態で、位置決めピンが他の開口
に嵌合されるようにして挿入されるので、基板が正確に
位置決めされる。また、基板が仮固定された後に、基板
に対してステージから基板を浮かせる方向に力が印加さ
れた場合でも、ガイドピンの中間部が一部の開口に係止
されるので、基板の浮きが抑制される。また、一部の開
口の内壁で弾性変更した部分に、ガイドピンの中間部が
押しつけられて係止される。したがって、ガイドピンの
中間部が確実に係止されるとともに、ガイドピンが一部
の開口に挿入される場合、又は一部の開口から引き抜か
れる場合において、中間部の係止及びその解除が円滑に
行われる。したがって、本発明は、ステージにおいて基
板が正確に位置決めされるとともに基板の浮きが抑制さ
れる、基板の位置決め機構及び位置決め方法を提供でき
るという、優れた実用的な効果を奏するものである。
に係る位置決め機構において、ガイドピンが基板を仮固
定するまでの動作をそれぞれ示す断面図である。
決め機構が組み込まれた樹脂封止装置の一部を示す斜視
図である。
込まれた位置決め機構が、基板を位置決めするとともに
仮固定するまでの工程を、図2のA−A線に沿ってそれ
ぞれ示す断面図である。
置決めされた基板を樹脂封止して、樹脂封止された基板
を位置決め機構から取り出すまでの工程を、図2のA−
A線に沿ってそれぞれ示す断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 電子部品の組立において複数の開口が形
成され可撓性を有する基板を位置決めする基板の位置決
め機構であって、 前記基板が載置されるステージと、 前記ステージに設けられ、前記複数の開口のうち一部の
開口に各々挿入されるとともに、該一部の開口を通過す
る大きさの断面を有し先が細いテーパ状の先端部と、前
記一部の開口に係止される大きさの断面を有し前記先端
部につながる中間部と、前記一部の開口を通過する大き
さの断面を有し前記中間部につながる基部とからなる複
数のガイドピンと、 前記複数の開口のうち他の開口に対して各々嵌合される
ように挿入される複数の位置決めピンとを備えるととも
に、 前記一部の開口に係止される前記中間部は前記ステージ
から前記基板を離間させることにより容易に係止から解
除され、かつ、前記複数のガイドピンが各々前記一部の
開口に挿入されている状態において前記位置決めピンが
前記他の開口に挿入されることを特徴とする位置決め機
構。 - 【請求項2】 請求項1記載の位置決め機構において、 前記中間部が前記一部の開口に対して各々係止されてい
る状態において、前記中間部の周辺で前記基板が弾性変
形していることを特徴とする位置決め機構。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の位置決め機構にお
いて、 前記複数のガイドピンは対向する金型の一方を兼ねる前
記ステージに各々設けられ、かつ、前記複数の位置決め
ピンは前記対向する金型の他方に各々設けられるととも
に、 前記金型の少なくともいずれかには、注入された溶融樹
脂を硬化させることによって前記基板を樹脂封止するた
めのキャビティが設けられていることを特徴とする位置
決め機構。 - 【請求項4】 電子部品の組立において複数の開口が形
成され可撓性を有する基板を位置決めする基板の位置決
め方法であって、 前記複数の開口のうち一部の開口に、該一部の開口を通
過する大きさの断面を有し先が細いテーパ状の先端部
と、前記一部の開口に係止される大きさの断面を有し前
記先端部につながる中間部と、前記一部の開口を通過す
る大きさの断面を有し前記中間部につながる基部とから
なるガイドピンを各々挿入して該ガイドピンによって前
記基板を仮固定する工程と、 前記基板を仮固定した状態において、前記複数の開口の
うち他の開口に嵌合するように位置決めピンを各々挿入
して前記基板を位置決めする工程とを備えたことを特徴
とする位置決め方法。 - 【請求項5】 請求項4記載の位置決め方法において、 前記基板を仮固定する工程では、前記中間部の周辺で各
々前記基板を弾性変形させていることを特徴とする位置
決め方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000062085A JP3397741B2 (ja) | 2000-03-07 | 2000-03-07 | 基板の位置決め機構及び位置決め方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000062085A JP3397741B2 (ja) | 2000-03-07 | 2000-03-07 | 基板の位置決め機構及び位置決め方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001251100A true JP2001251100A (ja) | 2001-09-14 |
JP3397741B2 JP3397741B2 (ja) | 2003-04-21 |
Family
ID=18582142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000062085A Expired - Fee Related JP3397741B2 (ja) | 2000-03-07 | 2000-03-07 | 基板の位置決め機構及び位置決め方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3397741B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095802A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Towa Corp | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
JP2009137103A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Toyota Motor Corp | 固定子のモールド成形方法、及びその装置 |
JP2012099628A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Towa Corp | 電気回路部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
WO2013073542A1 (ja) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | 日本電気株式会社 | 電子モジュールおよび電子モジュールの製造方法 |
-
2000
- 2000-03-07 JP JP2000062085A patent/JP3397741B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095802A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Towa Corp | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
JP2009137103A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Toyota Motor Corp | 固定子のモールド成形方法、及びその装置 |
JP2012099628A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Towa Corp | 電気回路部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
WO2013073542A1 (ja) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | 日本電気株式会社 | 電子モジュールおよび電子モジュールの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3397741B2 (ja) | 2003-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW383475B (en) | Grid array assembly and method of making | |
KR100330937B1 (ko) | 복수의 초소형 전자소자를 리드변형을 이용하여 접속하는 방법 및 장치 | |
US7681308B2 (en) | Fabrication method of semiconductor integrated circuit device | |
JP5160390B2 (ja) | リードピン付配線基板及びその製造方法 | |
EP1740027B1 (en) | Method for manufacturing an overmolded electronic assembly and electronic assembly | |
US6503336B1 (en) | Techniques for modifying a circuit board using a flow through nozzle | |
US7546941B2 (en) | Ball attaching apparatus for correcting warpage of substrate and method of attaching solder balls using the same | |
JP2001251100A (ja) | 基板の位置決め機構及び位置決め方法 | |
JP3879823B2 (ja) | 薄型半導体装置のモールド方法及びそのモールド金型 | |
JP5422830B2 (ja) | リードピン付配線基板及びその製造方法 | |
JPH10326800A (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置用金型 | |
JPH0724273B2 (ja) | Icカード用のモジュールの製造方法 | |
JP4020533B2 (ja) | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 | |
JP2005129783A (ja) | 半導体樹脂封止用金型 | |
JP3315255B2 (ja) | 半導体装置の樹脂モールド方法及びこれに用いるキャリアフレーム並びに樹脂モールド装置 | |
JP5233288B2 (ja) | 半導体装置の製造方法及び基板 | |
KR0176111B1 (ko) | 반도체 칩 패키지를 성형하는 제조금형 구조 및 이형핀 배치방법 | |
KR19980085415A (ko) | 탄성력을 갖는 핀 압착판을 구비한 플럭스 도포 장치 | |
JPH0760793A (ja) | 成形同時転写装置及び方法 | |
KR0161864B1 (ko) | 반도체 몰딩금형의 리드프레임 위치 결정장치 | |
JP3918566B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP5422831B2 (ja) | リードピン付配線基板の製造方法 | |
JPH0945843A (ja) | 半導体装置 | |
KR100709007B1 (ko) | 반도체 패키지 제조 방법 | |
KR19990066375A (ko) | 반도체 볼 그리드 어레이 패키지 구조 및 그 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3397741 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080214 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090214 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100214 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100214 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140214 Year of fee payment: 11 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |