JP2001237178A - 膜形成装置 - Google Patents

膜形成装置

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JP2001237178A
JP2001237178A JP2000380532A JP2000380532A JP2001237178A JP 2001237178 A JP2001237178 A JP 2001237178A JP 2000380532 A JP2000380532 A JP 2000380532A JP 2000380532 A JP2000380532 A JP 2000380532A JP 2001237178 A JP2001237178 A JP 2001237178A
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高広 北野
Kazuhiro Takeshita
和宏 竹下
Masami Akumoto
正己 飽本
Sukeaki Morikawa
祐晃 森川
Norihisa Koga
法久 古閑
Nobukazu Ishizaka
信和 石坂
Hirobumi Okuma
博文 大隈
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 塗布液供給手段を移動させる際に,摺動抵抗
をより少なくして振動を抑えることができる,膜形成装
置を提供する。 【解決手段】 レジスト塗布装置17において,吐出ノ
ズル85を往復移動させる移動手段86は,吐出ノズル
85を支持するスライダ91を軸受部97a,97bを
介してガイド軸98a,98bにスライド自在に取り付
けている。軸受部97a,97b内に,エア供給チュー
ブ101によりエアを供給し,ガイド軸98a,98b
に対してスライダ91を中立浮上させた状態にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,基板の膜形成装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体デバイスの製造プロセスに
おけるフォトリソグラフィー工程では,ウェハ表面にレ
ジスト液を塗布し,レジスト膜を形成するレジスト塗布
処理,ウェハにパターンを露光する露光処理,露光後の
ウェハに対して現像を行う現像処理等が行われ,ウェハ
に所定の回路パターンを形成する。かかるフォトリソグ
ラフィー工程は,塗布現像処理装置で行われる。この塗
布現像処理装置は,レジスト塗布処理を行うレジスト塗
布装置を備えている。
【0003】従来のレジスト塗布装置において,レジス
ト液を塗布する方法としては,スピンコーティング法が
主流をなしている。このスピンコーティング法によれ
ば,ウェハの中心にレジスト液を吐出して,このウェハ
を回転させる。このことにより,ウェハ上に塗布された
レジスト液が遠心力により拡散し,ウェハの全面に渡っ
て均一なレジスト膜を形成することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで,スピンコー
ティング法は,ウェハを高速で回転させるため,ウェハ
の周縁部から大量のレジスト液が飛散し,無駄になるレ
ジスト液が多い。また,レジスト液の飛散により当該装
置が汚染されるため,頻繁に洗浄しなければならない等
の弊害が生じていた。
【0005】そこで,ウェハを回転させるスピンコーテ
ィング法に変えて,レジスト液を吐出する吐出ノズルと
ウェハを相対的に移動させてレジスト液を塗布する装置
が提案されている。かかる新規に提案されたレジスト塗
布装置は,ウェハ上方で吐出ノズルを往復移動させるリ
ニアスライド手段を備えている。このリニアスライド手
段は,ガイドレールにスライド自在に取り付けられたス
ライダを備え,このスライダに吐出ノズルを取り付けて
いる。したがって,吐出ノズルは,ガイドレールに沿っ
て移動する際には,直線状にレジスト液をウェハ上に塗
布することができる。一方,駆動機構により,ウェハを
吐出ノズルのスライド方向と直角の方向に移動させる構
成になっている。
【0006】そして,吐出ノズルは,往復移動しながら
レジスト液を吐出する。一方,吐出ノズルのスライド方
向と直角の方向にウェハを間欠的に移動させる。これに
より,吐出ノズルは,ウェハ全体を走査して満遍なく粘
度の低いレジスト液を塗布することができる。この場
合,吐出ノズルは,ウェハ上を移動する際に最も高速に
なり,ウェハの周縁部にくると,減速して折り返し,そ
の後加速して高速になり,再びウェハ上を移動する。
【0007】ところで,このいわゆる一筆書きの要領で
レジスト液を塗布するレジスト塗布装置において,迅速
なレジスト塗布を行うには,吐出ノズルをなるべく高速
で動かす必要がある。しかしながら,前記スライダを,
ボールベアリング等の軸受を介してガイドレールに取り
付けると,摺動抵抗が生じる。そうなると,吐出ノズル
を高速で移動させた場合,摺動抵抗による振動が発生
し,吐出ノズルが微動することにより,正確な直線状の
レジスト塗布を行えないおそれがある。さらに,この振
動が,塗布現像処理装置に備えられた他の装置に伝達さ
れて,他の装置のプロセスに悪影響を及ぼすおそれもあ
る。また,吐出ノズルの折り返し時の減速及び加速も,
摺動抵抗により円滑に行えなくなり,時間を要するおそ
れが生じる。高精度なレジスト塗布を実現するために,
これらの点に関して改善する余地がある。
【0008】本発明は,かかる点に鑑みてなされたもの
であり,塗布液供給手段を移動させる際に,摺動抵抗を
より少なくして振動を抑えることができる,膜形成装置
を提供することをその目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に,請求項1の発明は,塗布液吐出手段から基板に塗布
液を供給してこの基板上に膜を形成する装置であって,
前記塗布液吐出手段を移動させる移動手段を備え,前記
移動手段は,前記塗布液吐出手段を支持する支持部材
と,前記支持部材を移動させる移動部材と,前記支持部
材に形成された軸受部を通るガイド軸と,前記軸受部と
前記ガイド軸の隙間に,流体を供給する流体供給機構と
を備えていることを特徴とする,膜形成装置を提供す
る。
【0010】請求項1に記載の膜形成装置によれば,移
動手段は,支持部材を介して塗布液吐出手段を移動させ
る。塗布液吐出手段は,ガイド軸に沿って移動しながら
塗布液を吐出することになる。基板上では,塗布液吐出
手段の移動軌跡に沿った塗布液の塗布が行われる。ここ
で,軸受部とガイド軸の隙間に,流体供給機構により流
体が供給されるので,ガイド軸に対して支持部材を中空
浮上させた状態にすることができる。この状態では,移
動部材により,ガイド軸に沿って支持部材を移動させて
も,軸受部とガイド軸に機械的な接触がないので,従来
のような摺動抵抗が殆ど生じない。したがって,塗布液
吐出手段を高速で移動させる場合,摺動抵抗による振動
を抑えることができ,塗布液吐出手段をガイド軸に沿っ
て忠実に移動させることができる。その結果,塗布液吐
出手段の微動により塗布液吐出が乱れて例えば重ね塗り
等の不均一な塗布が行われる事態を防止し,例えば正確
な直線状の塗布液塗布が行われて,迅速かつ高精度な膜
形成を行うことが可能となる。さらに,振動が,他の装
置に伝達されて,該他の装置のプロセスに悪影響を及ぼ
すような事態を防止することができる。
【0011】請求項1に記載の膜形成装置において,請
求項2に記載したように,前記塗布液吐出手段を往復移
動させると共に,該塗布液吐出手段の移動方向と直角の
方向に基板を移動させるように構成されていることが好
ましい。かかる構成によれば,塗布液吐出手段は,往復
移動しながら塗布液を吐出する。一方,塗布液吐出手段
の往復方向と直角の方向に基板を移動させる。これによ
り,塗布液吐出手段は,基板全体を走査して塗布液を塗
布することができる。この場合,塗布液吐出手段は,基
板の塗布範囲内を一定速度で移動し,例えば塗布範囲内
から外れると,又は基板の周縁部までくると,減速して
折り返し,その後加速して一定速度になり,再び塗布範
囲内を移動する。塗布液吐出手段は,減速・折り返し・
加速中も塗布液を吐出している。この減速・折り返し・
加速中に吐出された塗布液は,膜形成に使用されずに排
液される。ここで,前述したように摺動抵抗が殆ど生じ
ないので,減速及び加速を円滑を行うことができる。こ
のため,減速時間及び加速時間を短縮でき,排液される
塗布液量を低減させることができる。
【0012】請求項3に記載したように,前記移動手段
は,複数のガイド軸を備えていても良い。そうすれば,
複数のガイド軸を用いて支持手段を支持してその移動を
案内できるようになるので,移動中の塗布液吐出手段の
姿勢が安定する。
【0013】請求項4に記載したように,前記移動部材
が,前記支持部材の略重心位置に連結された駆動ベルト
であることが好ましい。かかる構成によれば,移動部材
に駆動ベルトを用い,駆動ベルトによる動力が支持部材
の略重心位置に働くようになるので,移動時に,バラン
スが崩れて支持手段の姿勢が乱れる事態を防止すること
ができる。
【0014】請求項5に記載したように,前記移動手段
は,前記駆動ベルトが巻回された駆動プーリ及び従動プ
ーリと,前記駆動プーリを回転駆動させる回転駆動機構
と,前記支持部材の反対側の位置において前記駆動ベル
トに連結された平衡付与手段である,例えばバランスウ
ェイトとを備えていることが好ましい。かかる構成によ
れば,回転駆動機構により駆動プーリを回転駆動させる
ことにより,駆動プーリ及び従動プーリに巻回された駆
動ベルトを周動させる。この場合,回転駆動機構により
駆動プーリを正逆回転させれば,駆動ベルトの周動方向
を適宜切り換えて,塗布液吐出手段の往復移動を実施す
ることができる。ここで,バランスウェイトが,支持部
材の反対側の位置において駆動ベルトに連結されている
ので,巻回された駆動ベルトの一方側にかかる荷重と他
方側にかかる荷重とを釣り合わせることができる。そし
て,駆動ベルトを周動させる場合,バランスウェイト
は,支持部材の動きとは対称の動きをなし,これによ
り,塗布液吐出手段及び支持部材が移動することによる
駆動ベルトへの影響(振動等)が相殺される。このた
め,より安定した状態で塗布液吐出手段を移動させるこ
とができる。また,振動が他の装置に伝達されることも
ない。
【0015】請求項6に記載したように,前記移動手段
は,前記駆動ベルトが巻回された駆動プーリ及び従動プ
ーリと,前記駆動プーリを回転駆動させる回転駆動機構
と,前記支持部材の反対側の位置において前記駆動ベル
トに連結された他の塗布液吐出手段及び支持部材とを備
えていることが好ましい。そうなると,巻回された駆動
ベルトの両側の荷重を釣り合わせるだけでなく,巻回さ
れた駆動ベルトの両側で塗布液吐出を同時に行うことが
できるようになる。このため,膜形成を迅速に行うこと
が可能となる。
【0016】請求項7に記載したように,前記軸受部の
内壁に,多孔質膜が被覆されていると良い。
【0017】
【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態について説明する。図1は,本実施の形態にかかるレ
ジスト塗布装置を有する塗布現像処理システム1の平面
図であり,図2は,塗布現像処理システム1の正面図で
あり,図3は,塗布現像処理システム1の背面図であ
る。
【0018】塗布現像処理システム1は,図1に示すよ
うに,例えば25枚のウェハWをカセット単位で外部か
ら塗布現像処理システム1に対して搬入出したり,カセ
ットCに対してウェハWを搬入出したりするカセットス
テーション2と,塗布現像処理工程の中で枚葉式に所定
の処理を施す各種処理装置を多段配置してなる処理ステ
ーション3と,この処理ステーション3に隣接して設け
られている図示しない露光装置との間でウェハWの受け
渡しをするインターフェイス部4とを一体に接続した構
成を有している。
【0019】カセットステーション2では,載置部とな
るカセット載置台5上の所定の位置に,複数のカセット
CをX方向(図1中の上下方向)に一列に載置自在とな
っている。そして,このカセット配列方向(X方向)と
カセットCに収容されたウェハWのウェハ配列方向(Z
方向;鉛直方向)に対して移送可能なウェハ搬送体7が
搬送路8に沿って移動自在に設けられており,各カセッ
トCに対して選択的にアクセスできるようになってい
る。
【0020】ウェハ搬送体7は,ウェハWの位置合わせ
を行うアライメント機能を備えている。このウェハ搬送
体7は後述するように処理ステーション3側の第3の処
理装置群G3に属するエクステンション装置32に対し
てもアクセスできるように構成されている。
【0021】処理ステーション3では,その中心部に主
搬送装置13が設けられており,この主搬送装置13の
周辺には各種処理装置が多段に配置されて処理装置群を
構成している。該塗布現像処理システム1においては,
4つの処理装置群G1,G2,G3,G4が配置されて
おり,第1及び第2の処理装置群G1,G2は現像処理
システム1の正面側に配置され,第3の処理装置群G3
は,カセットステーション2に隣接して配置され,第4
の処理装置群G4は,インターフェイス部4に隣接して
配置されている。さらにオプションとして破線で示した
第5の処理装置群G5を背面側に別途配置可能となって
いる。前記主搬送装置13は,これらの処理装置群G1
〜G5に配置されている後述する各種処理装置に対し
て,ウェハWを搬入出可能である。
【0022】第1の処理装置群G1では,例えば図2に
示すように,本実施の形態にかかるレジスト塗布装置1
7と,ウェハWに現像液を供給して処理する現像処理装
置18とが下から順に2段に配置されている。第2の処
理装置群G2の場合も同様に,レジスト塗布装置19
と,現像処理装置20とが下から順に2段に積み重ねら
れている
【0023】第3の処理装置群G3では,例えば図3に
示すように,ウェハWを冷却処理するクーリング装置3
0,レジスト液とウェハWとの定着性を高めるためのア
ドヒージョン装置31,ウェハWを待機させるエクステ
ンション装置32,レジスト液中の溶剤を減圧乾燥させ
るバキュームドライング装置33,プリベーキング装置
34及び現像処理後の加熱処理を施すポストベーキング
装置35,36等が下から順に例えば7段に重ねられて
いる。
【0024】第4の処理装置群G4では,例えばクーリ
ング装置40,載置したウェハWを自然冷却させるエク
ステンション・クーリング装置41,エクステンション
装置42,クーリング装置43,露光処理後の加熱処理
を行うポストエクスポージャーベーキング装置44,4
5,ポストベーキング装置46,47等が下から順に例
えば8段に積み重ねられている。
【0025】インターフェイス部4の中央部にはウェハ
搬送体50が設けられている。このウェハ搬送体50は
X方向(図1中の上下方向),Z方向(垂直方向)の移
動とθ方向(Z軸を中心とする回転方向)の回転が自在
にできるように構成されており,第4の処理装置群G4
に属するエクステンション・クーリング装置41,エク
ステンション装置42,周辺露光装置51及び図示しな
い露光装置に対してアクセスできるように構成されてい
る。
【0026】次に上述したレジスト塗布装置17の構成
について説明するが,ここでは,レジスト液を吐出する
レジスト液吐出手段がウェハWに対して,相対的に移動
しながらレジスト液を塗布する,いわゆる一筆書きの要
領の塗布方式を実施可能なレジスト塗布装置を採用す
る。
【0027】レジスト塗布装置17のケーシング60内
には,図4,図5に示すように,Y方向(図5中の上下
方向)に長い略箱形の外容器61が設けられており,こ
の外容器61は,上面が開口している。この外容器61
内には,その中でウェハWを処理する内容器62が設け
られている。この内容器62は,上面が開口しており,
また,外容器61の底面上に設けられたY方向に伸びる
2本のレール63上を内容器駆動機構64により移動自
在に構成されている。したがって,ウェハWを内容器6
2に搬入,搬出する場合には,内容器62が外容器61
のY方向正方向側(図5中の上方)の搬送部Lに移動
し,ウェハWを塗布処理する場合には,Y方向負方向側
(図5中の下方)の処理部Rに移動することができる。
また,ウェハWに対してレジスト液を塗布中においても
内容器62を所定のタイミングで所定の距離だけY方向
に移動させることが可能となる。
【0028】さらに,この内容器62内には,ウェハW
を吸着して保持する載置台65が設けられており,その
下方には,この載置台65を回転自在とする回転駆動6
6が設けられている。また,この載置台65には,例え
ば超音波振動子67が取り付けられており,載置台65
を高周波数で振動させることができる。内容器62の底
面には,内容器62内を所定濃度の溶剤雰囲気に維持す
るための溶剤を貯留する溶剤タンク68が設けられてい
る。
【0029】また,内容器62の底面には,排気口73
が設けられており,ここからの排気により内容器62内
に気流を発生させてウェハW周辺を所定の溶剤濃度に維
持することができるようになっている。
【0030】さらに,ウェハW上を覆いウェハWの塗布
範囲Waを限定するマスク部材70がウェハW上方に設
けられており,このマスク部材70は,内容器62の内
側壁に設けられているマスク支持部材71で支持され
る。また,マスク部材70は,図示しない搬送機構によ
りX方向に搬送可能になっている。したがって,マスク
部材70を外容器61のX方向負方向側(図5中の左方
向)の洗浄部に待機させておき,ウェハWを有する内容
器62が処理部Rに移動した後に,前記搬送機構によ
り,マスク部材70を内容器62内のマスク支持部材7
1上に搬入することが可能となる。
【0031】上述した外容器61には,外容器61の処
理部R側に蓋をする蓋体80が固定して取り付けられて
おり,内容器62が処理部R側に移動したときに,その
上方が蓋体80で覆われると,所定の雰囲気を維持しや
すくなる。この蓋体80には,温度調節可能なヒータ8
1が内蔵されており,前記溶剤タンク68内の溶剤が蓋
体80下面に結露することを防止している。また,この
蓋体80には,X方向に伸びるスリット80aが設けら
れており,このスリット80a内を後述する塗布液吐出
手段としての吐出ノズル85がX方向に往復移動する。
【0032】上述したように外容器61の処理部R側に
設けられた蓋体80のスリット80aには,レジスト液
を吐出する前述した吐出ノズル85が下方のウェハWに
吐出可能に設けられている。吐出ノズル85を往復移動
させる本発明にかかる移動手段86が備えられている。
【0033】図6〜8に示すように,移動手段86に
は,エアスライダ方式が採用されている。即ち,移動手
段86は,基台90と,吐出ノズル85を支持する支持
部材としてのスライダ91と,スライダ91をスライド
移動させる移動部材としての例えば駆動ベルト92とを
備えている。この駆動ベルト92は,基台90上に設置
された駆動プーリ93及び従動プーリ94の間で巻回さ
れている。駆動プーリ93を回転駆動させるモータ95
が設けられている。駆動ベルト92には,スライダ91
の反対側の位置においてバランスウェイト96が取り付
けられている。スライダ91には,軸受部97a,97
bが形成され,これら軸受部97a,97bを介してス
ライダ91がガイド軸98a,98bにスライド自在に
取り付けられている。バランスウェイト96には,軸受
部99a,99bが形成され,これら軸受部99a,9
9bを介してバランスウェイト96がガイド軸100
a,100bにスライド自在に取り付けられている。軸
受部97aとガイド軸98aの隙間に,軸受部97bと
ガイド軸98bの隙間にそれぞれエアを供給するエア供
給チューブ101と,軸受部99aとガイド軸100a
の隙間に,軸受部99bとガイド軸100bの隙間にそ
れぞれエアを供給するエア供給チューブ102とが設け
られている。
【0034】吐出ノズル85は,ノズルブラケット11
0に取り付けられ,このノズルブラケット110は,ス
ライダ91に固定されている。スライダ90の略重心位
置に,駆動ベルト92がベルトクランプ111aにより
連結されている。バランスウェイト96の略重心位置に
も,駆動ベルト92がベルトクランプ111bにより連
結されている。
【0035】駆動プーリ93は,基台90の一方側(図
6中の左側)に設けられたブラケット112a内に収納
されている。モータ95は,ブラケット112aの上方
に設置されている。モータ95の回転軸113は,ブラ
ケット112aの上面を貫通した後に,駆動プーリ93
に接続されている。従動プーリ94は,基台90の他方
側(図6中の右側)に設けられたブラケット112b内
に収納されている。モータ95により駆動プーリ93を
回転させて駆動ベルト92を周動させる。駆動プーリ9
3を正転・反転させれば,駆動ベルト92の周動方向が
切り換えられ,吐出ノズル85を往復移動させることが
できる。したがって,図5に示すように,吐出ノズル8
5が下方のウェハWに対して往復移動しながら,レジス
ト液を吐出し,さらに内容器62が吐出ノズル85の往
復方向(図5中のX方向)と直角の方向(図5中のY方
向)に間欠的に移動することにより,いわゆる一筆書き
の要領で,吐出ノズル85の移動軌跡に沿ったレジスト
液の塗布が行われる。
【0036】バランスウェイト96の重量は,スライダ
91と吐出ノズル85(ノズルブラケット110を含
む)とを合わせた重量と同じである。図7に示すよう
に,駆動プーリ93が正転して吐出ノズル85がX方向
正方向側(図7中の右側方向)に移動する際には,バラ
ンスウェイト96は,X方向負方向側(図7中の左側方
向)に移動し,駆動プーリ93が反転して吐出ノズル8
5がX方向負方向側に移動する際には,バランスウェイ
ト96は,X方向正方向側に移動するようになってい
る。そして,バランスウェイト96とスライダ91は,
巻回された駆動ベルト92の重心を中心に対称の動きを
なす。
【0037】図8及び図9に示すように,スライダ91
の重心を中心にして,軸受部97aはスライダ91の上
部に,軸受部97bはスライダ91の下部にそれぞれ形
成されている。軸受部97a,97bは,略筒状の形態
をなす。図10に示すように,軸受部97aの縦断面形
状は,Oリング状をなし,内壁に多孔質膜115aが被
覆されている。軸受部97bの縦断面形状もOリング状
をなし,内壁に多孔質膜115bが被覆されている。多
孔質膜115a,115bには,微細な孔が多数形成さ
れている。多孔質膜115a,115bの材質には,カ
ーボン等を用いると良い。
【0038】図6に示すように,ガイド軸98a,98
bは,ブラケット112a側に立設された架設台116
aと,ブラケット112b側に立設された架設台116
bの間で水平に架設されている。また,ガイド軸98
a,98bの表面は,摩擦が生じないように研磨されて
いる。
【0039】エア供給チューブ101の入口側は,図示
しないエア供給源に接続されている。エア供給チューブ
101の出口側は,スライダ91に接続され,スライダ
91内に形成された流路117a,117bに通じてい
る。流路117aは,多孔質膜115aに通じ,流路1
17bは,多孔質膜115bに通じている。したがっ
て,エア供給チューブ101から供給されたエアは,流
路117a,117bを経由した後,多孔質膜115
a,115bの微細の孔を通じて軸受部97a,97b
内に吐出される。軸受部97a,97bの周りに,エア
が均等に供給されることになるので,ガイド軸98aは
軸受部97a内で,ガイド軸98bは軸受部97b内で
それぞれ浮いている。このため,スライダ91は,ガイ
ド軸98a,98bに非接触の状態で支持されている。
図9に示すように,軸受部97a(多孔質膜115aの
外周面)とガイド軸98aの距離M1,軸受部97b
(多孔質膜115bの外周面)とガイド軸98bの距離
M2は,それぞれ例えば10μm程度であると良い。ガ
イド軸98aはエアを介在させて軸受部97a内を,ガ
イド軸98bはエアを介在させて軸受部98b内をそれ
ぞれ通る構成になっている。
【0040】バランスウェイト96において,軸受部9
9a,99bは,前記軸受部97a,97bと同様の構
成を有している。表面が研磨されたガイド軸100a,
100bは,架設台120a,120bの間で水平に架
設されている。エア供給チューブ102から供給された
エアは,バランスウェイト96内に形成された流路12
1a,121bを経由した後,多孔質膜の微細の孔を通
じて軸受部99a,99b内に吐出される。したがっ
て,バランスウェイト96は,ガイド軸100a,10
0bに非接触の状態で支持されている。
【0041】次に,以上のように構成されているレジス
ト塗布装置17の作用について,塗布現像処理システム
1で行われるフォトリソグラフィー工程のプロセスと共
に説明する。
【0042】先ず,ウェハ搬送体7がカセットCから未
処理のウェハWを1枚取りだし,第3の処理装置群G3
に属するアドヒージョン装置31に搬入する。そして,
レジスト液の密着性を向上させる例えばHMDSを塗布され
たウェハWは,主搬送装置13によって,クーリング装
置30に搬送され,所定の温度に冷却される。その後,
ウェハWは,レジスト塗布装置17又は19に搬送され
る。
【0043】このレジスト塗布装置17又は19で,後
述するいわゆる一筆書きの要領でレジスト液が塗布され
たウェハWは,その後,主搬送装置13により,バキュ
ームドライング装置33,プリベーキング装置34,ク
ーリング装置40に順次搬送される。その後ウェハW
は,各処理装置において露光処理,現像処理等の一連の
所定の処理が行われ,塗布現像処理が終了する。
【0044】上述したレジスト塗布装置17の作用につ
いて詳しく説明すると,先ず,クーリング装置30にお
いて所定の温度に冷却されたウェハWが主搬装置13に
より,レジスト塗布装置17のケーシング60内に搬入
される。このとき外容器61内の内容器62は予め搬送
部Lで待機しており,ウェハWは,主搬送装置13によ
り直接載置台65に載置され,吸着保持される。ここ
で,図示しないアライメント機構によりウェハWのノッ
チ又はオリフラは検出され,回転機構66により,ウェ
ハWは所定の位置に位置決めされる。次に,内容器駆動
機構64により内容器62を処理部Rに移動させる。そ
の後洗浄部に待機されていたマスク部材70が,図示し
ない搬送機構により,外容器61外から内容器62内に
搬送され,マスク支持部材71上に載置される。
【0045】次に,排気口73から内容器62内の気体
を所定速度で排気し,内容器62内を所定の雰囲気に維
持する。そして,この内容器62内において,吐出ノズ
ル85がウェハWに対して相対的に移動しながら,レジ
スト液を塗布し,ウェハW上にレジスト膜を形成する。
【0046】レジスト液の塗布経路の例を図11(a)
に示し,吐出ノズル85の速度変化を図11(b)のグ
ラフに示す。図11(a)に示すように,吐出ノズル8
5は,図11に示すSTART位置から往復移動を開始
し,レジスト液を吐出する。一方,吐出ノズル85の往
復方向(X方向)と直角の方向に(Y方向)にウェハW
を間欠的に所定距離だけ移動させる。これにより,吐出
ノズル85は,ウェハW全体を走査していわゆる一筆書
きの要領でレジスト液を塗布することができる。そし
て,図11(a)に示すEND位置に来たところで吐出
を停止し,塗布が終了する。
【0047】吐出ノズル85の速度変化を,ウェハWの
略中央の塗布範囲Waにおけるレジスト液の塗布経路
a,b,c,dを例にとって説明する。塗布経路aで
は,吐出ノズル85が減速する。その後,吐出ノズル8
5が折り返し,図11(b)に示すように,塗布経路b
では加速する。ちょうど塗布範囲Wa内に入る直前に最
も高速になり,塗布経路cでは一定の速度で塗布範囲W
a内を移動する。その後,塗布範囲Wa内から外れ,塗
布経路dでは減速する。以後,折り返し,加速して高速
になり,再び塗布範囲Wa内を移動する。このように,
塗布範囲Wa内にレジスト液を吐出する場合,吐出ノズ
ル85は,最も高速になり,折り返す場合,減速及び加
速する。また,図示の例では,吐出ノズル85が減速を
開始した時点から,ウェハWを所定距離Y方向に動か
す。また,吐出ノズル85は,減速・折り返し・加速中
もレジスト液を吐出している。この減速・折り返し・加
速中に吐出されたレジスト液は,レジスト膜形成に使用
されずにマスク部材70により受け止められて排液され
る。
【0048】ここで,吐出ノズル85の往復移動は,移
動手段86により行われる。即ち,図7に示したよう
に,モータ95により駆動プーリ93を回転駆動させる
ことにより,駆動ベルト92を周動させる。この場合,
モータ95により駆動プーリ93を正逆回転させれば,
駆動ベルト92の周動方向を適宜切り換えて,吐出ノズ
ル85の往復移動を実施することができる。
【0049】レジスト液の塗布経路は,吐出ノズル85
の移動軌跡によって決まる。即ち,図6に示したよう
に,移動手段86は,スライダ91を介して吐出ノズル
85を往復移動させる。吐出ノズル85は,ガイド軸9
8a,98bに沿って移動しながらレジスト液を吐出す
ることになる。ここで,図8,9に示したように,スラ
イダ91の軸受部97aとガイド軸98aの隙間に,軸
受部97bとガイド軸98bの隙間に,エア供給チュー
ブ101によりエアがそれぞれ供給されるので,ガイド
軸98a,98bに対してスライダ91を中空浮上させ
た状態にすることができる。この状態では,駆動ベルト
92により,ガイド軸98a,98bに沿ってスライダ
91をスライド移動させても,軸受部97aとガイド軸
98aに,軸受部97bとガイド軸98bにそれぞれ機
械的な接触がないので,従来のような摺動抵抗が殆ど生
じない。
【0050】したがって,本発明にかかるレジスト塗布
装置17によれば,吐出ノズル85を高速で移動させる
場合,摺動抵抗による振動を抑えることができ,吐出ノ
ズ85をガイド軸98a,98bに沿って忠実に移動さ
せることができる。その結果,吐出ノズル85の微動に
よりレジスト吐出が乱れて例えば重ね塗り等の不均一な
塗布が行われる事態を防止し,正確な直線状の軌跡でレ
ジスト塗布が行われて,迅速かつ高精度な膜形成を行う
ことが可能となる。さらに,振動が,他の装置に伝達さ
れて,該他の装置のプロセスに悪影響を及ぼすような事
態を防止することができる。例えば,露光装置での,パ
ターンの重ね合わせ精度等が振動により悪影響を受ける
ようなことがない。
【0051】さらに,摺動抵抗が殆ど生じないので,減
速及び加速を円滑を行うことができる。このため,減速
時間及び加速時間を短縮でき,排液されるレジスト液量
を低減させることができる。その結果,ランニングコス
トに優れている。
【0052】また,上下2本のガイド軸98a,98b
を用いてスライダ91を支持してそのスライド移動を案
内すると共に,駆動ベルト92による動力がスライダ9
1の略重心位置に働くようになるので,減速・折り返し
・加速中に,モータ95の回転力が急激に変化すること
があっても,バランスが崩れてスライダ91の姿勢が乱
れる事態を防止することができ,往復移動中の吐出ノズ
ル85の姿勢を安定させることができる。
【0053】また,図7に示したように,バランスウェ
イト96が,スライダ91の反対側で駆動ベルト92に
連結されているので,巻回された駆動ベルト92の一方
側にかかる荷重と他方側にかかる荷重とを釣り合わせる
ことができる。そして,駆動ベルト92を周動させる場
合,バランスウェイト96は,巻回された駆動ベルト9
2の重心を中心にスライダ91の動きとは対称の動きを
なす。これにより,例えば吐出ノズル85及びスライダ
91が移動することによる駆動ベルト92への影響(振
動等)が相殺される。このため,より安定した状態で吐
出ノズル85を往復移動させることができる。もちろ
ん,バランスウェイト96にも,軸受部99a,99b
が形成されているので,その往復移動は好適に行われ
る。
【0054】塗布後,高周波振動子67の振動により,
ウェハW上のレジスト液が平坦化される。そして最終的
に,ウェハW上の塗布範囲Waには,レジスト液が斑な
く塗布され,所定の膜厚のレジスト膜が形成される。マ
スク部材70が外容器61内から退出した後,ウェハW
は,搬送部Lに搬送される。そして,主搬送装置13に
より,ケーシング60内から搬出され,次工程が行われ
るバキュームドライング装置33に搬送されて減圧乾燥
処理される。
【0055】なお,本発明の実施の形態の一例について
説明したが,本発明はこの例に限らす種々の態様を採り
うるものである。例えば,バランスウェイト96の代わ
りに,他のスライダ130及び吐出ノズル131を駆動
ベルト92に連結させても良い。そうなると,駆動ベル
ト92の両側の荷重を釣り合わせるだけでなく,駆動ベ
ルト92の両側でレジスト吐出を同時に行うことができ
るようになる。このため,レジスト膜形成を迅速に行う
ことが可能となる。もちろん,駆動ベルト92への影響
も相殺される。
【0056】また,吐出ノズル85の減速及び加速のタ
イミング,ウェハWのY方向に移動するタイミング等
は,プロセスに応じて自由に変えることができる。例え
ば,吐出ノズル85の減速は,例えばウェハWの周縁部
に移動してから開始しても良いし,吐出ノズル85の減
速が止まった時点から,ウェハWを所定距離Y方向に動
かすようにしても良い。
【0057】また,多孔質膜115a,115bを通じ
て軸受部97a,97b内にエアを吐出していたが,ガ
イド軸を通じて軸受部97a,97b内にエアを吐出す
るようにしても良い。即ち,図13に示すように,多孔
質体のガイド軸140aの内部に,通路141が形成さ
れている。そして,ガイド軸140aにエア供給チュー
ブ101が接続されている。これにより,軸受部97a
とガイド軸140aとの隙間に,エアを供給することが
できる。軸受部97b内を通るガイド軸も同様の構成と
する。したがって,スライダ91を中立浮上させた状態
にすることが可能となる。
【0058】前記実施の形態では,スライダ91,バラ
ンスウェイト96側とも,各々2つのガイド軸98a,
98b,100a,100bを有していたが,これに代
えて図14に示したように,バランスウェイト96の構
成を変えて1本のガイド軸100cに沿ってバランスウ
ェイト96を移動させるようにしてもよい。したがって
図14の例では,ガイド軸は合計3本となり,装置全体
の簡素化が図れる。
【0059】また前記実施の形態では,ブラケット11
2a側に立設された架設台116aと,ブラケット11
2b側に立設された架設台116bの間で,ガイド軸9
8a,98bが直接水平に架設されていたが,組立作業
の容易さに鑑み,図15に示したようにしてガイド軸9
8a,98bをも架設台116aと架設台116b間に
架設してもよい。
【0060】図15に示した例では,上側のガイド軸9
8aを支持する支持部材98cと,下側のガイド軸98
bを支持する支持部材98dとを独立させ,両支持部材
98c,98dとが,板バネ98eで接続されている。
そして支持部材98cを架設台116aに固定し,一方
支持部材98dについては,スライダ91のスライド状
態をチェックしながら,その後に架設台116aに固定
する。このような取付過程を経ることで,面倒なガイド
軸98a,98bの平行度の調整を容易に実施すること
が可能である。
【0061】前記実施の形態では,吐出ノズル85は,
前面側,すなわちガイド軸98a,98b側に設けられ
たスライダ91のみに装備され,背面側,すなわちガイ
ド軸100a,100b側にはバランスウェイト96が
装備されていた。図16の例では,バランスウェイトの
代わりに,吐出ノズル85a(吐出ノズル85と同一構
成を有している)を有する別のスライダ91を装備して
いる。その結果,図16の例は,前面側,背面側に2つ
の吐出ノズル85を有している。
【0062】図16に示した移動手段によれば,同時に
2つの吐出ノズル85,85aからレジスト液を吐出さ
せられるので,図17に示した塗布方法が実現できる。
すなわち図17に示したように,Y方向に沿って前後に
2つの吐出ノズル85,85aが配置されることになる
ので,ウエハWのY方向の送りピッチ(1ステップあた
りの移動距離)を,図11の例よりも2倍にして,ウエ
ハW上にレジスト液を塗布することができる。したがっ
て,塗布に必要な時間が図11の例の半分で済み,スル
ープットが向上する。
【0063】また,以上の実施の形態では,成膜に要す
る塗布液としてレジスト液を挙げたが,これに限定され
るものではない。他の塗布液として,層間絶縁膜用の塗
布液,高導電性膜用の塗布液,強誘電体用の塗布液等が
挙げられる。また,ウェハW以外の基板例えばLCD基
板の膜形成装置にも応用される。
【0064】
【発明の効果】請求項1〜7によれば,塗布液供給手段
を移動させる際に,摺動抵抗をより少なくして振動を抑
えることができる。その結果,不均一な塗布が行われる
事態を防止し,迅速かつ高精度な膜形成を行うことが可
能となり,歩留まりの向上を図ることができる。さら
に,振動が,他の装置に伝達されて,該他の装置のプロ
セスに悪影響を及ぼすような事態を防止することができ
る。
【0065】特に請求項2によれば,塗布液吐出手段を
往復移動させる際に,減速・折り返し・加速に要する時
間を短縮することができ,膜形成に使用されずに排液さ
れる塗布液量を低減させることができる。その結果,ラ
ンニングコストに優れている。
【0066】請求項3,4によれば,移動中に,バラン
スが崩れて支持手段の姿勢が乱れる事態を防止すること
ができ,塗布液吐出手段の姿勢を安定させることができ
る。
【0067】請求項5,6によれば,巻回された駆動ベ
ルトの両側の荷重を釣り合わせることができ,駆動ベル
トへの影響が相殺される。特に請求項6によれば,巻回
された駆動ベルトの両側で塗布液吐出を同時に行うこと
ができ,スループットの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態にかかるレジスト塗布装置を備え
た塗布現像処理システムの外観を示す平面図である。
【図2】図1の塗布現像処理システムの正面図である。
【図3】図1の塗布現像処理システムの背面図である。
【図4】本実施の形態にかかるレジスト塗布装置の縦断
面の説明図である。
【図5】本実施の形態にかかるレジスト塗布装置の横断
面の説明図である。
【図6】移動手段及び吐出ノズルの斜視図である。
【図7】駆動ベルトの周動により,吐出ノズル及びスラ
イダとバランスウェイトとが往復移動する際の様子を示
す平面図である。
【図8】移動手段の縦断面の説明図である。
【図9】図7とは異なる方向からみたスライダの縦断面
の説明図である。
【図10】軸受部及びガイド軸の縦断面の拡大図であ
る。
【図11】レジスト液の塗布経路と,吐出ノズルの速度
変化を示すグラフとを合わせ示した説明図である。
【図12】駆動ベルトの周動により,吐出ノズル及びス
ライダと他の吐出ノズル及びスライダとが往復移動する
際の様子を示す平面図である。
【図13】軸受部及びガイド軸の他の例を示す縦断面の
拡大図である。
【図14】バランスウェイト側のガイド軸が1本の場合
の,移動手段の縦断面図である。
【図15】板バネを介して2本のガイド軸を架設した際
の縦断面図である。
【図16】バランスウェイトに代えて他の吐出ノズルを
装備した場合の移動手段の縦断面図である。
【図17】吐出ノズルを進行方向の前後に有した場合
の,レジスト液の塗布経路を示す平面からの説明図であ
る。
【符号の説明】
1 塗布現像処理システム 17 レジスト塗布装置 85 吐出ノズル 86 移動手段 91 スライダ 92 駆動ベルト 93 駆動プーリ 94 従動プーリ 95 モータ 96 バランスウェイト 97a,97b,99a,99b 軸受部 98a,98b,100a,100b ガイド軸 101,102 エア供給チューブ 115a,115b 多孔質膜 W ウェハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹下 和宏 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 飽本 正己 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 森川 祐晃 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 古閑 法久 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 石坂 信和 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 大隈 博文 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 塗布液吐出手段から基板に塗布液を供給
    してこの基板上に膜を形成する装置であって,前記塗布
    液吐出手段を移動させる移動手段を備え,前記移動手段
    は,前記塗布液吐出手段を支持する支持部材と,前記支
    持部材を移動させる移動部材と,前記支持部材に形成さ
    れた軸受部を通るガイド軸と,前記軸受部と前記ガイド
    軸の隙間に,流体を供給する流体供給機構とを備えてい
    ることを特徴とする,膜形成装置。
  2. 【請求項2】 前記塗布液吐出手段を往復移動させると
    共に,該塗布液吐出手段の往復方向と直角の方向に基板
    を移動させるように構成されていることを特徴とする,
    請求項1に記載の膜形成装置。
  3. 【請求項3】 前記移動手段は,複数のガイド軸を備え
    ていることを特徴とする,請求項1又は2に記載の膜形
    成装置。
  4. 【請求項4】 前記移動部材が,前記支持部材の略重心
    位置に連結された駆動ベルトであることを特徴とする,
    請求項1,2又は3に記載の膜形成装置。
  5. 【請求項5】 前記移動手段は,前記駆動ベルトが巻回
    された駆動プーリ及び従動プーリと,前記駆動プーリを
    回転駆動させる回転駆動機構と,前記支持部材の反対側
    の位置において前記駆動ベルトに連結された平衡付与手
    段とを備えている,請求項4に記載の膜形成装置。
  6. 【請求項6】 前記移動手段は,前記駆動ベルトが巻回
    された駆動プーリ及び従動プーリと,前記駆動プーリを
    回転駆動させる回転駆動機構と,前記支持部材の反対側
    の位置において前記駆動ベルトに連結された他の塗布液
    吐出手段及び支持部材とを備えていることを特徴とす
    る,請求項4に記載の膜形成装置。
  7. 【請求項7】 前記軸受部の内壁に,多孔質膜が被覆さ
    れていることを特徴とする,請求項1,2,3,4,5
    又は6に記載の膜形成装置。
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