JP2001228327A - 複屈折板の製造方法 - Google Patents

複屈折板の製造方法

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JP2001228327A
JP2001228327A JP2000039273A JP2000039273A JP2001228327A JP 2001228327 A JP2001228327 A JP 2001228327A JP 2000039273 A JP2000039273 A JP 2000039273A JP 2000039273 A JP2000039273 A JP 2000039273A JP 2001228327 A JP2001228327 A JP 2001228327A
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birefringent plate
cutting
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glass substrate
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Hiroshi Kawate
浩 川手
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Nidec Instruments Corp
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Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学材料が斜め蒸着された基板を複屈折板に
切断する前であっても、複屈折板に切断した後の特性を
正確に検査することのできる複屈折板の製造方法を提案
すること。 【解決手段】 斜め蒸着膜6を用いた複屈折板1の製造
方法において、溝形成工程(工程ST3)でガラス基板
2に複屈折板1のサイズに合わせた溝4を形成した後、
斜め蒸着工程(工程ST5)を行い、溝4内で途切れる
ように斜め蒸着膜6を形成する。次にガラス基板2にお
いて溝4で区画された領域の各々について検査した後、
切断工程(工程ST8)において溝4に沿ってガラス基
板2を切断して複屈折板1を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学機器に用いら
れる1/4波長板等の複屈折板の製造方法に関するもの
である。さらに詳しくは、光学材料を基板表面に斜めに
蒸着した斜め蒸着膜を利用した複屈折板の製造方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】複屈折板としては、光学異方性結晶を加
工したもの、高分子フィルムを伸延したもの、液晶を利
用したもの、斜め蒸着膜を利用したもの等がある。これ
らの複屈折板のうち、斜め蒸着膜を利用したものは、た
とえば、特開昭59−49508号公報に開示されてい
るように、複屈折性を備えた膜を広い領域にわたって一
度に形成することができるので、製造コストを低減でき
るとして注目を浴びている。
【0003】このような斜め蒸着膜を利用した複屈折板
は、たとえば、図3を参照して説明する方法により製造
される。ここに示す製造方法では、図3に示すように、
まず、工程ST11で直径100mmの透明なガラス基
板2を用意した後、工程ST12においてガラス基板2
の裏面に裏面反射防止膜3を蒸着形成する。裏面反射防
止膜3の材料としてはフッ化マグネシウム(Mg
2)、二酸化チタン(TiO2)、酸化アルミ(Al2
3)、二酸化珪素(SiO2)等が使用される。
【0004】次に工程ST13では、ガラス基板2の表
面に下地膜5を形成する。下地膜5は、次の工程ST1
4で形成する斜め蒸着膜6とガラス基板2との密着性を
高めるためのものであり、材料としては五酸化タンタル
(Ta25)、酸化珪素(SiO)等が使用される。
【0005】次に工程ST14では、斜め蒸着膜6を蒸
着形成する。斜め蒸着される光学材料としては五酸化タ
ンタル(Ta25)が使用される。五酸化タンタル(T
25)は、斜め蒸着されることにより複屈折作用を有
する。
【0006】次に工程ST15では、斜め蒸着膜6の表
面に表面反射防止膜7を蒸着形成する。表面反射防止膜
7としては二酸化チタン(TiO2)、二酸化珪素(S
iO2)、五酸化タンタル(Ta25)等が使用され
る。
【0007】すべての膜を形成してから、工程ST16
では、図4に示すように、ガラス基板2を切断予定線L
に沿って3mm角の素子サイズに切断(ダイシング)し
て複数の複屈折板1を得る。
【0008】しかる後に、工程ST17において複屈折
板1の特性を検査する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
複屈折板1の製造方法では、工程ST16においてガラ
ス基板2をたとえば3mm角の小さい複屈折板1に切断
してから、工程ST17で特性検査を行なっているの
で、複屈折板1が取り扱いにくい。このため、検査工程
に大変、手間がかかるという問題点がある。
【0010】なお、3mm角の複屈折板1に切断する前
のガラス基板2の状態で特性検査を行なえば、取り扱い
が容易であるが、斜め蒸着膜6を形成した後、ガラス基
板2を切断する前と、工程ST16でガラス基板2を複
屈折板1に切断した時とでは、複屈折板1の特性である
リタデーション(位相の差)が変わってしまうため、ガ
ラス基板2の状態で特性検査を行なうことはできない。
すなわち、ガラス基板2に斜め蒸着膜6を形成した状態
で斜め蒸着膜6が応力をもっており、この応力の大きさ
は、斜め蒸着膜6が形成された面積によって変動するた
め、工程ST16でガラス基板2を複屈折板1に切断す
る前の状態で検査しても、ガラス基板2から切り出した
各複屈折板1の特性を正確に判定できないのである。
【0011】以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、
光学材料が斜め蒸着された基板を複屈折板に切断する前
であっても、複屈折板に切断した後の特性を正確に検査
することのできる複屈折板の製造方法を提案することに
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明では、光学材料を基板上へ斜めに蒸着するこ
とにより複屈折を有する斜め蒸着膜を形成する斜め蒸着
工程と、前記斜め蒸着膜が形成された前記基板を切断し
て該基板から複数の複屈折板を切り出す切断工程とを有
する複屈折板の製造方法において、前記斜め蒸着工程を
行なう前に、前記基板の側に前記複屈折板のサイズに合
わせて溝を形成する溝形成工程を行い、前記斜め蒸着工
程では、前記斜め蒸着膜が前記溝内で途切れるように前
記斜め蒸着膜を形成することを特徴とする。
【0013】また、本発明において、前記斜め蒸着工程
を行った後、前記切断工程を行う前に、前記溝で区画さ
れた各領域毎に複屈折板としての特性を検査する検査工
程を行う。
【0014】本発明では、斜め蒸着工程を行なう前に溝
形成工程で基板の側に溝を形成しておくため、斜め蒸着
工程で基板に対して斜め蒸着を行なったとき、斜め蒸着
膜は、溝を挟んで各々が独立した状態にある。従って、
基板を切断する前に斜め蒸着膜に存在する応力は、基板
を切断した後における応力と同様である。しかも、溝
は、複屈折板のサイズに合わせて形成されているので、
溝で区画された各領域の斜め蒸着膜に対する検査結果
は、基板から複屈折板を切り出した状態で各複屈折板の
斜め蒸着膜を検査した結果と高い精度で一致する。ま
た、検査工程では、たとえば3mm角といった小さな複
屈折板を取り扱う必要がなく、大きな基板の状態で検査
するので、検査試料の取り扱いが容易である。それ故、
検査工程の作業効率を高めることができる。
【0015】本発明において、前記切断工程では、前記
溝に沿って前記基板を切断することが好ましい。すなわ
ち、溝形成工程で形成した溝をそのまま、切断工程で切
断予定線(スクライブ線)として利用することが好まし
い。このように構成すると、切断工程において切断予定
線を設定する必要がない。また、溝内においては斜め蒸
着膜が途切れているので、切断工程を行なう際、斜め蒸
着膜に多大な応力がかからないという利点もある。
【0016】本発明において、前記溝の幅は、前記切断
工程で前記基板を切断するときの切断幅よりも広いこと
が好ましい。
【0017】
【発明の実施の形態】添付図面を参照して、本発明の複
屈折板の製造方法を説明しながら、斜め蒸着膜を利用し
た複屈折板の構成を説明する。なお、本発明を適用した
複屈折板およびその製造方法は、基本的な構成が従来の
技術と共通するので、共通する部分には同一の符号を付
して説明する。
【0018】図1は、本発明の複屈折板の製造方法を示
す工程図である。図2は、図1に示す各工程のうち、斜
め蒸着工程で基板上に斜め蒸着膜を形成する様子を示す
説明図である。
【0019】図1に示すように、本発明の複屈折板の製
造方法では、まず、工程ST1で直径100mmの透明
なガラス基板2を用意した後、工程ST2でガラス基板
2の裏面に反射防止膜3を蒸着する。反射防止膜として
は、従来と同様、フッ化マグネシウム(MgF2)、二
酸化チタン(TiO2)、酸化アルミ(Al23)、二
酸化珪素(SiO2)等が使用される。
【0020】次に工程ST3(溝形成工程)で、ガラス
基板2の表面に溝4をダイサーで形成した後、ガラス基
板2を洗浄して削り屑を除去する。ここで形成する溝4
は、このガラス基板2から切り出される複屈折板のサイ
ズに合わせたものであり、溝4によって区画形成された
領域が個々の複屈折板となる。従って、溝4は、図4に
示すように、従来技術においてガラス基板2を切断した
ときの切断線Lと重なるように格子状に形成される。
【0021】ここで、溝4は、後述する斜め蒸着工程に
おいてガラス基板2に対して斜め蒸着膜を形成したと
き、この斜め蒸着膜が溝4の内部で途切れる幅および深
さとする。また、溝4は、後述する切断工程で切断(ダ
イシング)するときの切り幅(切断幅)より広くしてお
くことが好ましい。
【0022】次に工程ST4では、ガラス基板2の表面
に下地膜5を蒸着形成する。下地膜5は、ガラス基板2
と斜め蒸着膜との密着を高めるためのものであり、五酸
化タンタル(Ta25)、酸化珪素(SiO)等が使用
される。ここで、ガラス基板2の表面には、工程ST3
において溝4が形成されているので、この溝4に対応す
る凹凸は、下地膜5を形成した後もガラス基板2の表面
に反映された状態にある。
【0023】次に工程ST5(斜め蒸着工程)で、下地
膜5の表面(ガラス基板2の上)に対して斜め蒸着を行
なって斜め蒸着膜6を形成する。斜め蒸着膜6として
は、五酸化タンタル(Ta25)が使用される。
【0024】本形態において、ガラス基板2の表面に
は、工程ST3で溝4が形成されているので、斜め蒸着
膜6は溝4内で途切れる。従って、斜め蒸着膜6は、溝
4で区画された領域毎に独立して形成される。
【0025】この様子を、図2を参照して詳述する。図
2において、工程ST5で斜め蒸着を行うとき、加熱に
より蒸発した材料6aは、矢印で示すように、下地膜5
の形成されたガラス基板2の基板面に対して斜め方向か
ら堆積する。このとき、本形態では、ガラス基板2に溝
4が形成されているので、この溝4に起因する凹凸の凸
部の一方側部分6bのみに材料が堆積し、溝4の底部4
aなどといった凸部の影になった部分には材料が堆積し
ない。それ故、斜め蒸着膜6は、ガラス基板2上に不連
続に形成されることになる。
【0026】次に工程ST6では、真空蒸着法により、
斜め蒸着膜6の表面に表面反射防止膜7を蒸着形成す
る。表面反射防止膜7としては二酸化チタン(Ti
2)、二酸化珪素(SiO2)、五酸化タンタル(Ta
25)等が使用される。
【0027】本形態では、この工程ST6が終了した時
点で、工程ST7(検査工程)でガラス基板2において
溝4により区画形成された各領域に対して、膜質やリタ
デーションなどといった複屈折板としての特性を検査す
る。
【0028】しかる後に工程S7(切断工程)では、工
程ST3でガラス基板2に対して格子状に形成した溝4
に沿ってガラス基板2を切断し、このガラス基板2から
3mm角の複屈折板1を切り出す。その結果、ガラス基
板2の裏面に裏面反射防止膜3を備え、ガラス基板2の
表面に下地膜5、斜め蒸着膜6および表面反射防止膜7
がこの順に積層された複屈折板1が完成する。
【0029】このように、本形態の複屈折板1の製造方
法では、斜め蒸着工程(工程ST5)を行なう前に溝形
成工程(工程ST3)でガラス基板2に溝4を形成して
おくため、斜め蒸着工程でガラス基板2に対して斜め蒸
着を行なったとき、斜め蒸着膜6は溝4内で途切れた状
態に形成される。従って、斜め蒸着膜6は、溝4を挟ん
で各々が独立した状態にあるので、斜め蒸着膜6に存在
する応力は、ガラス基板2を切断する前であっても、ガ
ラス基板2を切断した後における応力と同様である。し
かも、溝4は、複屈折板1のサイズに合わせて形成され
ているので、溝4で区画された各領域の斜め蒸着膜6の
特性を検査すれば、ガラス基板2を切断する前の検査で
あっても、各領域の斜め蒸着膜6に対する検査結果は、
ガラス基板2から複屈折板1を切り出した状態で各複屈
折板1の斜め蒸着膜6を検査した結果と高い精度で一致
する。また、検査工程(工程ST7)では、たとえば3
mm角といった小さな複屈折板1を取り扱う必要がな
く、大きなガラス基板2の状態で検査するので、検査試
料の取り扱いが容易である。それ故、検査工程の作業効
率を高めることができる。
【0030】また、溝形成工程(工程ST3)で形成し
た溝4をそのまま、切断工程(工程ST8)で切断予定
線(スクライブ線)として利用するので、切断工程など
において切断予定線をわざわざ設定する必要がない。ま
た、溝4内においては斜め蒸着膜6が途切れているの
で、切断工程を行なう際、溝4に沿ってガラス基板2を
切断すれば、斜め蒸着膜6に多大な応力がかからないと
いう利点もある。
【0031】なお、上記形態では、ガラス基板2に溝4
を形成したが、下地膜5を形成した後、この下地膜5を
フォトリソグラフィ技術を用いて部分的に除去すること
により溝4を形成してもよい。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の複屈折板
の製造方法においては、斜め蒸着工程を行なう前に溝形
成工程で基板の側に溝を形成しておくため、斜め蒸着工
程で基板に対して斜め蒸着を行なったとき、斜め蒸着膜
は、溝を挟んで各々が独立した状態にある。従って、基
板を切断する前に斜め蒸着膜に存在する応力は、基板を
切断した後における応力と同様である。しかも、溝は、
複屈折板のサイズに合わせて形成されているので、溝で
区画された各領域の斜め蒸着膜に対する検査結果は、基
板から複屈折板を切り出した状態で各複屈折板の斜め蒸
着膜を検査した結果と高い精度で一致する。また、検査
工程では、たとえば3mm角といった小さな複屈折板を
取り扱う必要がなく、大きな基板の状態で検査するの
で、検査試料の取り扱いが容易である。それ故、検査工
程の作業効率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の複屈折板の製造方法を示す工程図であ
る。
【図2】図1に示す各工程のうち、斜め蒸着工程におい
て基板上に斜め蒸着膜を形成す様子を示す説明図であ
る。
【図3】従来の複屈折板の製造方法を示す工程図であ
る。
【図4】ガラス基板から複屈折板を切り出すときの切断
線を示す説明図である。
【符号の説明】
1 複屈折板 2 ガラス基板 3 裏面反射防止膜 4 溝 5 下地膜 6 斜め蒸着膜 7 表面反射防止膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学材料を基板上へ斜めに蒸着すること
    により複屈折を有する斜め蒸着膜を形成する斜め蒸着工
    程と、前記斜め蒸着膜が形成された前記基板を切断して
    該基板から複数の複屈折板を切り出す切断工程とを有す
    る複屈折板の製造方法において、 前記斜め蒸着工程を行なう前に、前記基板の側に対して
    前記複屈折板のサイズに合わせて溝を形成する溝形成工
    程を行い、 前記斜め蒸着工程では、前記斜め蒸着膜が前記溝内で途
    切れるように前記斜め蒸着膜を形成することを特徴とす
    る複屈折板の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記斜め蒸着工程を
    行った後、前記切断工程を行う前に、前記溝で区画され
    た各領域毎に複屈折板としての特性を検査する検査工程
    を行うことを特徴とする複屈折板の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または2において、前記切断工
    程では、前記溝に沿って前記基板を切断することを特徴
    とする複屈折板の製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項3において、前記溝の幅は、前記
    切断工程で前記基板を切断するときの切断幅よりも広い
    ことを特徴とする複屈折板の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005309357A (ja) * 2003-08-28 2005-11-04 Sanyo Electric Co Ltd 波長板およびそれを用いた光学装置
JP2007188060A (ja) * 2005-12-06 2007-07-26 Jds Uniphase Corp 薄膜光学リターダ
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