JP2001201702A - レーザ走査光学装置及びレーザ走査方法 - Google Patents
レーザ走査光学装置及びレーザ走査方法Info
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- JP2001201702A JP2001201702A JP2000011642A JP2000011642A JP2001201702A JP 2001201702 A JP2001201702 A JP 2001201702A JP 2000011642 A JP2000011642 A JP 2000011642A JP 2000011642 A JP2000011642 A JP 2000011642A JP 2001201702 A JP2001201702 A JP 2001201702A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成で、温度変化等による主走査方向
のリニアリティーずれを容易に補正することにより、コ
ストアップを招くことなく高品質な画像を得ることがで
きるようにする。 【解決手段】 レーザ走査光学ユニット毎に測定した主
走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配のデータを
ＲＯＭ６に保持させ、制御回路４により、レーザダイオ
ード（ＬＤ）１のレーザ光の照射動作をドットクロック
によって制御するとともに、ｆθレンズ３の性能のばら
つきやｆθレンズ３の取付け位置に差がある場合、主走
査方向のリニアリティー特性のデータに基づいた印字位
置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロックの変調
を行うようにし、またサーミスタ７によってモニタされ
た温度が変化すると、ＲＯＭ６に保持されている温度勾
配のデータからモニタされた温度変化に対するドットク
ロックの補正量を算出し、その補正量に応じてドットク
ロックの変調を行うようにする。
のリニアリティーずれを容易に補正することにより、コ
ストアップを招くことなく高品質な画像を得ることがで
きるようにする。 【解決手段】 レーザ走査光学ユニット毎に測定した主
走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配のデータを
ＲＯＭ６に保持させ、制御回路４により、レーザダイオ
ード（ＬＤ）１のレーザ光の照射動作をドットクロック
によって制御するとともに、ｆθレンズ３の性能のばら
つきやｆθレンズ３の取付け位置に差がある場合、主走
査方向のリニアリティー特性のデータに基づいた印字位
置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロックの変調
を行うようにし、またサーミスタ７によってモニタされ
た温度が変化すると、ＲＯＭ６に保持されている温度勾
配のデータからモニタされた温度変化に対するドットク
ロックの補正量を算出し、その補正量に応じてドットク
ロックの変調を行うようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、主走査方向におけ
るリニアリティーずれの補正に適したレーザ走査光学装
置及びレーザ走査方法に関する。
るリニアリティーずれの補正に適したレーザ走査光学装
置及びレーザ走査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】カラーレーザプリンタは、（Ｙ：イエロ
ー、Ｍ：マゼンタ、Ｃ：シアン、ＢＫ：ブラック）の４
色に対応させたレーザ走査光学ユニットを有するレーザ
走査光学装置を備えている。それぞれのレーザ走査光学
ユニットは、レーザ光を照射するレーザダイオードやレ
ーザ光を偏光するポリゴンミラー等を備えている。
ー、Ｍ：マゼンタ、Ｃ：シアン、ＢＫ：ブラック）の４
色に対応させたレーザ走査光学ユニットを有するレーザ
走査光学装置を備えている。それぞれのレーザ走査光学
ユニットは、レーザ光を照射するレーザダイオードやレ
ーザ光を偏光するポリゴンミラー等を備えている。
【０００３】そして、レーザダイオードから照射される
レーザ光は、画像データに基づいて変調されると、ポリ
ゴンミラーにより偏向され、感光体上に１ラインずつ走
査される。これは、主走査と呼ばれ、その主走査と感光
体の回転による副走査とで、感光体上に２次元的な画像
が形成される。このようなカラーレーザプリンタは、１
ドット毎の変調が容易であり、しかも主走査方向の画像
むらが少ない等の利点がある。
レーザ光は、画像データに基づいて変調されると、ポリ
ゴンミラーにより偏向され、感光体上に１ラインずつ走
査される。これは、主走査と呼ばれ、その主走査と感光
体の回転による副走査とで、感光体上に２次元的な画像
が形成される。このようなカラーレーザプリンタは、１
ドット毎の変調が容易であり、しかも主走査方向の画像
むらが少ない等の利点がある。
【０００４】ところで、このような各色に対応させたレ
ーザ走査光学ユニットのそれぞれは、レンズ性能のばら
つきやレンズの取付けのばらつき等により主走査方向に
おけるリニアリティー特性が異なる。また、温度変化に
よる構成部品の伸びによってもリニアリティー特性が変
化してしまう。このようなリニアリティー特性の変化
は、レジストレーションずれの原因となっている。
ーザ走査光学ユニットのそれぞれは、レンズ性能のばら
つきやレンズの取付けのばらつき等により主走査方向に
おけるリニアリティー特性が異なる。また、温度変化に
よる構成部品の伸びによってもリニアリティー特性が変
化してしまう。このようなリニアリティー特性の変化
は、レジストレーションずれの原因となっている。
【０００５】そのため、従来のカラーレーザプリンタで
は、レジストレーションずれを補正するために、レジス
トレーションずれ検出用パターンを印字し、そのパター
ンをＣＣＤ等で読取り、レジストレーションずれ量を検
出する。そして、ドットクロックの変調を行い、主走査
方向の印字位置ずれのないように補正することでレジス
トレーション合わせを行っている。
は、レジストレーションずれを補正するために、レジス
トレーションずれ検出用パターンを印字し、そのパター
ンをＣＣＤ等で読取り、レジストレーションずれ量を検
出する。そして、ドットクロックの変調を行い、主走査
方向の印字位置ずれのないように補正することでレジス
トレーション合わせを行っている。
【０００６】また、タンデム方式のレーザ走査光学装置
の場合、それぞれのレーザ走査光学ユニットの温度特性
を揃えることで、それぞれのレーザ走査光学ユニットの
色合わせを行うようにしている。
の場合、それぞれのレーザ走査光学ユニットの温度特性
を揃えることで、それぞれのレーザ走査光学ユニットの
色合わせを行うようにしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来のレジストレーション合わせを行う方法では、レジス
トレーションずれ検出用パターンの読取り時の誤差が大
きいため、レジストレーション補正を正しく行うことが
できず、高品質な画像を得ることができないという不具
合がある。また、読取り用のＣＣＤ等が必要なため、そ
れぞれのレーザ走査光学ユニットのサイズが大きくなり
コストも高くなるという不具合もある。
来のレジストレーション合わせを行う方法では、レジス
トレーションずれ検出用パターンの読取り時の誤差が大
きいため、レジストレーション補正を正しく行うことが
できず、高品質な画像を得ることができないという不具
合がある。また、読取り用のＣＣＤ等が必要なため、そ
れぞれのレーザ走査光学ユニットのサイズが大きくなり
コストも高くなるという不具合もある。
【０００８】さらに、レーザ走査光学装置のそれぞれの
レーザ走査光学ユニットの色合わせを行うために、それ
ぞれの温度特性を揃える方法では、部品精度の制約等に
より、温度特性を揃えることが困難となっている。すな
わち、それぞれのレーザ走査光学ユニットによる感光体
上へのレーザ光の走査位置は、温度の変化によってずれ
を生じる。
レーザ走査光学ユニットの色合わせを行うために、それ
ぞれの温度特性を揃える方法では、部品精度の制約等に
より、温度特性を揃えることが困難となっている。すな
わち、それぞれのレーザ走査光学ユニットによる感光体
上へのレーザ光の走査位置は、温度の変化によってずれ
を生じる。
【０００９】ここで、温度の変化によってずれるレーザ
光の走査位置は、それぞれのレーザ走査光学ユニットに
おいて同じとなれば特に問題が生じないものの、それぞ
れのレーザ走査光学ユニット毎の特性やレーザ走査光学
ユニット間での温度の差等により、それぞれのレーザ走
査光学ユニットによるレーザ光の走査位置にずれが生じ
てしまう。これは、色ずれの原因となる。中でも、特に
影響が大きいのは、レンズやシャーシ等の熱膨張の差に
より生じる走査方向のずれである。
光の走査位置は、それぞれのレーザ走査光学ユニットに
おいて同じとなれば特に問題が生じないものの、それぞ
れのレーザ走査光学ユニット毎の特性やレーザ走査光学
ユニット間での温度の差等により、それぞれのレーザ走
査光学ユニットによるレーザ光の走査位置にずれが生じ
てしまう。これは、色ずれの原因となる。中でも、特に
影響が大きいのは、レンズやシャーシ等の熱膨張の差に
より生じる走査方向のずれである。
【００１０】ちなみに、特開平２−５０１７６号公報で
は、検出温度に対応するパターン指定信号を発生させる
とともに、主走査１ライン間にパターン指定信号が指定
するパターンでライン指定信号を発生させ、ライン指定
信号が指定するラインの画像データに応じて走査を行う
ことで、記録ずれを補正するようにしている。
は、検出温度に対応するパターン指定信号を発生させる
とともに、主走査１ライン間にパターン指定信号が指定
するパターンでライン指定信号を発生させ、ライン指定
信号が指定するラインの画像データに応じて走査を行う
ことで、記録ずれを補正するようにしている。
【００１１】ところが、このような補正方法では、温度
変化による副走査方向のずれを補正することができるも
のの、主走査方向におけるレジストレーションずれの補
正を行うことができないという不具合がある。
変化による副走査方向のずれを補正することができるも
のの、主走査方向におけるレジストレーションずれの補
正を行うことができないという不具合がある。
【００１２】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、簡単な構成で、温度変化等による主走査
方向のリニアリティーずれを容易に補正することによ
り、コストアップを招くことなく高品質な画像を得るこ
とができるレーザ走査光学装置及びレーザ走査方法を提
供することができるようにするものである。
たものであり、簡単な構成で、温度変化等による主走査
方向のリニアリティーずれを容易に補正することによ
り、コストアップを招くことなく高品質な画像を得るこ
とができるレーザ走査光学装置及びレーザ走査方法を提
供することができるようにするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載のレーザ
走査光学装置は、レーザ光を照射するレーザ光源と、レ
ーザ光を偏光するポリゴンミラーと、偏光されたレーザ
光を感光体上にフォーカスするｆθレンズと、ｆθレン
ズ周囲の温度をモニタする温度モニタセンサとを有する
レーザ走査光学ユニットをそれぞれの色毎に備えるレー
ザ走査光学装置であって、レーザ走査光学ユニットのそ
れぞれには、それぞれの色に対応するレーザ走査光学ユ
ニット毎に測定した主走査方向のリニアリティー特性及
び温度勾配のデータを保持している記憶手段と、レーザ
光源のレーザ光の照射動作をドットクロックによって制
御するとともに、ｆθレンズの性能のばらつきやｆθレ
ンズの取付け位置に差がある場合、主走査方向のリニア
リティー特性のデータに基づいた印字位置ずれに対する
補正量を算出し、ドットクロックの変調を行う制御手段
とを備えることを特徴とする。また、制御手段は、温度
モニタセンサによってモニタされた温度が変化すると、
記憶手段に保持されている温度勾配のデータからモニタ
された温度変化に対するドットクロックの補正量を算出
し、その補正量に応じてドットクロックの変調を行うよ
うにすることができる。また、記憶手段は、レーザ走査
光学ユニットのそれぞれの温度上昇と印字幅との伸び量
の関係から求められた温度係数を保持し、制御手段は、
温度上昇に伴い、温度係数から必要な温度の補正量を算
出し、それに基づいて各レーザ走査光学ユニットのレー
ザ光源のＯＮ／ＯＦＦ制御を行うようにすることができ
る。請求項４に記載のレーザ走査方法は、レーザ光を照
射するレーザ光源と、レーザ光を偏光するポリゴンミラ
ーと、偏光されたレーザ光を感光体上にフォーカスする
ｆθレンズと、ｆθレンズ周囲の温度をモニタする温度
モニタセンサとを有するレーザ走査光学ユニットをそれ
ぞれの色毎に備え、それぞれの走査光学ユニット毎に主
走査方向におけるリニアリティーずれの補正を行うレー
ザ走査方法であって、それぞれの色に対応するレーザ走
査光学ユニット毎に測定した主走査方向のリニアリティ
ー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に保持する第１
の工程と、制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照
射動作をドットクロックによって制御するとともに、ｆ
θレンズの性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に
差がある場合、主走査方向のリニアリティー特性のデー
タに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出し、ド
ットクロックの変調を行う第２の工程とを備えることを
特徴とする。また、第２の工程には、温度モニタセンサ
によってモニタされた温度が変化すると、記憶手段に保
持されている温度勾配のデータからモニタされた温度変
化に対するドットクロックの補正量を算出し、その補正
量に応じてドットクロックの変調を行う第３の工程が含
まれるようにすることができる。また、第１の工程に
は、レーザ走査光学ユニットのそれぞれの温度上昇と印
字幅の伸び量との関係から求められた温度係数を保持す
る第４の工程が含まれ、第２の工程には、温度上昇に伴
い、温度係数から必要な温度の補正量を算出し、それに
基づいて各レーザ走査光学ユニットのレーザ光源のＯＮ
／ＯＦＦ制御を行う第５の工程が含まれるようにするこ
とができる。本発明に係るレーザ走査光学装置及びレー
ザ走査方法においては、それぞれの色に対応するレーザ
走査光学ユニット毎に測定した主走査方向のリニアリテ
ィー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に保持させ、
制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照射動作をド
ットクロックによって制御するとともに、ｆθレンズの
性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に差がある場
合、主走査方向のリニアリティー特性のデータに基づい
た印字位置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロッ
クの変調を行うようにし、また温度モニタセンサによっ
てモニタされた温度が変化すると、記憶手段に保持され
ている温度勾配のデータからモニタされた温度変化に対
するドットクロックの補正量を算出し、その補正量に応
じてドットクロックの変調を行うようにする。
走査光学装置は、レーザ光を照射するレーザ光源と、レ
ーザ光を偏光するポリゴンミラーと、偏光されたレーザ
光を感光体上にフォーカスするｆθレンズと、ｆθレン
ズ周囲の温度をモニタする温度モニタセンサとを有する
レーザ走査光学ユニットをそれぞれの色毎に備えるレー
ザ走査光学装置であって、レーザ走査光学ユニットのそ
れぞれには、それぞれの色に対応するレーザ走査光学ユ
ニット毎に測定した主走査方向のリニアリティー特性及
び温度勾配のデータを保持している記憶手段と、レーザ
光源のレーザ光の照射動作をドットクロックによって制
御するとともに、ｆθレンズの性能のばらつきやｆθレ
ンズの取付け位置に差がある場合、主走査方向のリニア
リティー特性のデータに基づいた印字位置ずれに対する
補正量を算出し、ドットクロックの変調を行う制御手段
とを備えることを特徴とする。また、制御手段は、温度
モニタセンサによってモニタされた温度が変化すると、
記憶手段に保持されている温度勾配のデータからモニタ
された温度変化に対するドットクロックの補正量を算出
し、その補正量に応じてドットクロックの変調を行うよ
うにすることができる。また、記憶手段は、レーザ走査
光学ユニットのそれぞれの温度上昇と印字幅との伸び量
の関係から求められた温度係数を保持し、制御手段は、
温度上昇に伴い、温度係数から必要な温度の補正量を算
出し、それに基づいて各レーザ走査光学ユニットのレー
ザ光源のＯＮ／ＯＦＦ制御を行うようにすることができ
る。請求項４に記載のレーザ走査方法は、レーザ光を照
射するレーザ光源と、レーザ光を偏光するポリゴンミラ
ーと、偏光されたレーザ光を感光体上にフォーカスする
ｆθレンズと、ｆθレンズ周囲の温度をモニタする温度
モニタセンサとを有するレーザ走査光学ユニットをそれ
ぞれの色毎に備え、それぞれの走査光学ユニット毎に主
走査方向におけるリニアリティーずれの補正を行うレー
ザ走査方法であって、それぞれの色に対応するレーザ走
査光学ユニット毎に測定した主走査方向のリニアリティ
ー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に保持する第１
の工程と、制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照
射動作をドットクロックによって制御するとともに、ｆ
θレンズの性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に
差がある場合、主走査方向のリニアリティー特性のデー
タに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出し、ド
ットクロックの変調を行う第２の工程とを備えることを
特徴とする。また、第２の工程には、温度モニタセンサ
によってモニタされた温度が変化すると、記憶手段に保
持されている温度勾配のデータからモニタされた温度変
化に対するドットクロックの補正量を算出し、その補正
量に応じてドットクロックの変調を行う第３の工程が含
まれるようにすることができる。また、第１の工程に
は、レーザ走査光学ユニットのそれぞれの温度上昇と印
字幅の伸び量との関係から求められた温度係数を保持す
る第４の工程が含まれ、第２の工程には、温度上昇に伴
い、温度係数から必要な温度の補正量を算出し、それに
基づいて各レーザ走査光学ユニットのレーザ光源のＯＮ
／ＯＦＦ制御を行う第５の工程が含まれるようにするこ
とができる。本発明に係るレーザ走査光学装置及びレー
ザ走査方法においては、それぞれの色に対応するレーザ
走査光学ユニット毎に測定した主走査方向のリニアリテ
ィー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に保持させ、
制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照射動作をド
ットクロックによって制御するとともに、ｆθレンズの
性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に差がある場
合、主走査方向のリニアリティー特性のデータに基づい
た印字位置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロッ
クの変調を行うようにし、また温度モニタセンサによっ
てモニタされた温度が変化すると、記憶手段に保持され
ている温度勾配のデータからモニタされた温度変化に対
するドットクロックの補正量を算出し、その補正量に応
じてドットクロックの変調を行うようにする。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
て説明する。
【００１５】（第１の実施の形態）図１は、本発明のレ
ーザ走査光学装置の第１の実施の形態に係るレーザ走査
光学ユニットを示すブロック図、図２は、図１のレーザ
走査光学ユニットの印字位置ずれ補正回路を示すブロッ
ク図、図３及び図４は、図１のレーザ走査光学ユニット
の動作を説明するための図である。
ーザ走査光学装置の第１の実施の形態に係るレーザ走査
光学ユニットを示すブロック図、図２は、図１のレーザ
走査光学ユニットの印字位置ずれ補正回路を示すブロッ
ク図、図３及び図４は、図１のレーザ走査光学ユニット
の動作を説明するための図である。
【００１６】図１に示すレーザ走査光学装置のレーザ走
査光学ユニットは、Ｙ：イエロー、Ｍ：マゼンタ、Ｃ：
シアン、ＢＫ：ブラックの色毎に備えられるものである
が、それぞれの基本構成は略同じであるため、説明の便
宜上、１色に対応するもののみを示している。
査光学ユニットは、Ｙ：イエロー、Ｍ：マゼンタ、Ｃ：
シアン、ＢＫ：ブラックの色毎に備えられるものである
が、それぞれの基本構成は略同じであるため、説明の便
宜上、１色に対応するもののみを示している。
【００１７】レーザ走査光学ユニットは、レーザ光源で
あるレーザダイオード（ＬＤ）１、ポリゴンミラー２、
ｆθレンズ３、制御回路４、ＳＹＮＣセンサ５及びＲＯ
Ｍ６を備えている。
あるレーザダイオード（ＬＤ）１、ポリゴンミラー２、
ｆθレンズ３、制御回路４、ＳＹＮＣセンサ５及びＲＯ
Ｍ６を備えている。
【００１８】レーザダイオード（ＬＤ）１は、レーザ光
を照射する。ポリゴンミラー２は、レーザダイオード
（ＬＤ）１からのレーザ光を偏光する。ｆθレンズ３
は、ポリゴンミラー２によって偏光されたレーザ光を感
光体８上にフォーカスする。また、ｆθレンズ３は、ｆ
θレンズ３周囲の温度をモニタする温度モニタセンサと
してのサーミスタ７を備えている。
を照射する。ポリゴンミラー２は、レーザダイオード
（ＬＤ）１からのレーザ光を偏光する。ｆθレンズ３
は、ポリゴンミラー２によって偏光されたレーザ光を感
光体８上にフォーカスする。また、ｆθレンズ３は、ｆ
θレンズ３周囲の温度をモニタする温度モニタセンサと
してのサーミスタ７を備えている。
【００１９】制御手段としての制御回路４は、ドットク
ロックによりレーザダイオード（ＬＤ）１の点滅による
レーザ光の照射を制御するものであるが、その詳細は後
述する。ＳＹＮＣセンサ５は、制御回路４が出力するド
ットクロックの出力タイミングを印字開始位置信号で与
える。記憶手段としてのＲＯＭ６は、それぞれの色に対
応するレーザ走査光学ユニット毎に測定した主走査方向
のリニアリティー特性及び温度勾配のデータを保持して
いる。
ロックによりレーザダイオード（ＬＤ）１の点滅による
レーザ光の照射を制御するものであるが、その詳細は後
述する。ＳＹＮＣセンサ５は、制御回路４が出力するド
ットクロックの出力タイミングを印字開始位置信号で与
える。記憶手段としてのＲＯＭ６は、それぞれの色に対
応するレーザ走査光学ユニット毎に測定した主走査方向
のリニアリティー特性及び温度勾配のデータを保持して
いる。
【００２０】図１のレーザ走査光学ユニットの印字位置
ずれ補正回路の詳細を、図２に示す。図２に示す印字位
置ずれ補正回路は、上述した制御回路４、ＳＹＮＣセン
サ５、ＲＯＭ６及びサーミスタ７によって構成されてい
る。
ずれ補正回路の詳細を、図２に示す。図２に示す印字位
置ずれ補正回路は、上述した制御回路４、ＳＹＮＣセン
サ５、ＲＯＭ６及びサーミスタ７によって構成されてい
る。
【００２１】制御回路４は、上述したように、ＲＯＭ６
に保持されているリニアリティー特性及び温度勾配のデ
ータに基づき、ドットクロックの変調を行い印字位置ず
れの補正を行う。
に保持されているリニアリティー特性及び温度勾配のデ
ータに基づき、ドットクロックの変調を行い印字位置ず
れの補正を行う。
【００２２】すなわち、ｆθレンズ３の性能のばらつき
やｆθレンズ３の取付け位置の差が大きいときやサーミ
スタ７によってモニタされた温度が変化したとき、ＲＯ
Ｍ６の主走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配の
データから印字位置ずれ量を算出し、ドットクロックを
変調することで、温度変化による印字位置ずれの補正を
行う。
やｆθレンズ３の取付け位置の差が大きいときやサーミ
スタ７によってモニタされた温度が変化したとき、ＲＯ
Ｍ６の主走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配の
データから印字位置ずれ量を算出し、ドットクロックを
変調することで、温度変化による印字位置ずれの補正を
行う。
【００２３】次に、このような構成のレーザ走査光学装
置のレーザ走査光学ユニットの動作について説明する。
置のレーザ走査光学ユニットの動作について説明する。
【００２４】まず、ポリゴンミラー２によりレーザダイ
オード（ＬＤ）１からのレーザ光が走査され、ｆθレン
ズ３により感光体８上にフォーカスがとられる。このと
き、制御回路４から出力されるドットクロックにより、
レーザダイオード（ＬＤ）１の点滅が制御される。
オード（ＬＤ）１からのレーザ光が走査され、ｆθレン
ズ３により感光体８上にフォーカスがとられる。このと
き、制御回路４から出力されるドットクロックにより、
レーザダイオード（ＬＤ）１の点滅が制御される。
【００２５】また、ドットクロックの出力タイミング
は、上述したように、ＳＹＮＣセンサ５からの印字開始
位置信号の出力によって与えられる。これにより、制御
回路４により、印字データによるドットクロックの変調
が行われ、感光体８上に任意の画像パターンが形成され
る。
は、上述したように、ＳＹＮＣセンサ５からの印字開始
位置信号の出力によって与えられる。これにより、制御
回路４により、印字データによるドットクロックの変調
が行われ、感光体８上に任意の画像パターンが形成され
る。
【００２６】ここで、制御回路４からのドットクロック
をレーザダイオード（ＬＤ）１の発光タイミングの間隔
が一定になるように出力すると、図３の（Ａ）のよう
に、一定の間隔のドット９ａ〜９ｃが形成される。ただ
し、このように一定の間隔のドット９ａ〜９ｃが形成さ
れる条件としては、それぞれのレーザ走査光学ユニット
毎のｆθレンズ３の性能のばらつきやｆθレンズ３の取
付け位置の差が小さい場合である。
をレーザダイオード（ＬＤ）１の発光タイミングの間隔
が一定になるように出力すると、図３の（Ａ）のよう
に、一定の間隔のドット９ａ〜９ｃが形成される。ただ
し、このように一定の間隔のドット９ａ〜９ｃが形成さ
れる条件としては、それぞれのレーザ走査光学ユニット
毎のｆθレンズ３の性能のばらつきやｆθレンズ３の取
付け位置の差が小さい場合である。
【００２７】実際には、レーザ走査光学ユニット毎のｆ
θレンズ３の性能のばらつきやｆθレンズ３の取付け位
置に差があるため、図３の（Ｂ）のように、主走査方向
におけるたとえばドット９ｂ，９ｃのずれである印字位
置ずれが生じてしまう。
θレンズ３の性能のばらつきやｆθレンズ３の取付け位
置に差があるため、図３の（Ｂ）のように、主走査方向
におけるたとえばドット９ｂ，９ｃのずれである印字位
置ずれが生じてしまう。
【００２８】この場合、制御回路４は、上述したＲＯＭ
６に保持されている主走査方向のリニアリティー特性の
データに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出
し、ドットクロックの変調を行う。これにより、図３の
（Ｃ）のように、たとえばドット９ｂ，９ｃのずれが補
正されるため、印字位置ずれのない画像が得られる。
６に保持されている主走査方向のリニアリティー特性の
データに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出
し、ドットクロックの変調を行う。これにより、図３の
（Ｃ）のように、たとえばドット９ｂ，９ｃのずれが補
正されるため、印字位置ずれのない画像が得られる。
【００２９】また、サーミスタ７によってモニタされた
温度が変化すると、図４に示すように、ドット９ａ，９
ｂのずれによる印字位置ずれが生じる。すなわち、温度
上昇の場合には、基準温度における位置に対し、ドット
９ａ，９ｂがたとえば右方向にずれる。温度下降の場合
には、基準温度における位置に対し、ドット９ａ，９ｂ
がたとえば左方向にずれる。
温度が変化すると、図４に示すように、ドット９ａ，９
ｂのずれによる印字位置ずれが生じる。すなわち、温度
上昇の場合には、基準温度における位置に対し、ドット
９ａ，９ｂがたとえば右方向にずれる。温度下降の場合
には、基準温度における位置に対し、ドット９ａ，９ｂ
がたとえば左方向にずれる。
【００３０】ここで、温度の変化量と主走査方向の印字
位置のずれ量とは比例関係にあるため、レーザ走査光学
ユニット毎に温度勾配を決定することができる。
位置のずれ量とは比例関係にあるため、レーザ走査光学
ユニット毎に温度勾配を決定することができる。
【００３１】この場合、制御回路４は、上述したＲＯＭ
６に保持されている温度勾配のデータからサーミスタ７
によってモニタされた温度変化に対するドットクロック
の補正量を算出する。そして、その補正量に応じてドッ
トクロックの変調が行われることにより、温度変化によ
ってずれたドット９ａ，９ｂの位置が基準温度における
位置に補正される。
６に保持されている温度勾配のデータからサーミスタ７
によってモニタされた温度変化に対するドットクロック
の補正量を算出する。そして、その補正量に応じてドッ
トクロックの変調が行われることにより、温度変化によ
ってずれたドット９ａ，９ｂの位置が基準温度における
位置に補正される。
【００３２】このように、第１の実施の形態では、それ
ぞれの色に対応するレーザ走査光学ユニット毎に測定し
た主走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配のデー
タをＲＯＭ６に保持させ、制御回路４により、レーザダ
イオード（ＬＤ）１のレーザ光の照射動作をドットクロ
ックによって制御するとともに、ｆθレンズ３の性能の
ばらつきやｆθレンズ３の取付け位置に差がある場合、
主走査方向のリニアリティー特性のデータに基づいた印
字位置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロックの
変調を行うようにし、またサーミスタ７によってモニタ
された温度が変化すると、ＲＯＭ６に保持されている温
度勾配のデータからモニタされた温度変化に対するドッ
トクロックの補正量を算出し、その補正量に応じてドッ
トクロックの変調を行うようにした。
ぞれの色に対応するレーザ走査光学ユニット毎に測定し
た主走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配のデー
タをＲＯＭ６に保持させ、制御回路４により、レーザダ
イオード（ＬＤ）１のレーザ光の照射動作をドットクロ
ックによって制御するとともに、ｆθレンズ３の性能の
ばらつきやｆθレンズ３の取付け位置に差がある場合、
主走査方向のリニアリティー特性のデータに基づいた印
字位置ずれに対する補正量を算出し、ドットクロックの
変調を行うようにし、またサーミスタ７によってモニタ
された温度が変化すると、ＲＯＭ６に保持されている温
度勾配のデータからモニタされた温度変化に対するドッ
トクロックの補正量を算出し、その補正量に応じてドッ
トクロックの変調を行うようにした。
【００３３】よって、第１の実施の形態では、従来のカ
ラーレーザプリンタのように、一定期間後や温度変化時
等において印字したレジストレーション用パターンを読
取るための読取り用のＣＣＤ等が不要となるため、低コ
スト化が可能となる。
ラーレーザプリンタのように、一定期間後や温度変化時
等において印字したレジストレーション用パターンを読
取るための読取り用のＣＣＤ等が不要となるため、低コ
スト化が可能となる。
【００３４】また、第１の実施の形態では、ＲＯＭ６に
保持されている主走査方向のリニアリティー特性及び温
度勾配のデータに基づき、印字位置のずれが補正される
ので、従来のように、レジストレーション用パターンの
読取り時の誤差が生じないことから、温度変化等による
主走査方向のリニアリティーずれを容易に補正すること
ができ、高品質な画像を得ることができる。
保持されている主走査方向のリニアリティー特性及び温
度勾配のデータに基づき、印字位置のずれが補正される
ので、従来のように、レジストレーション用パターンの
読取り時の誤差が生じないことから、温度変化等による
主走査方向のリニアリティーずれを容易に補正すること
ができ、高品質な画像を得ることができる。
【００３５】（第２の実施の形態）図５は、本発明のレ
ーザ走査光学装置の第２の実施の形態に係るレーザ走査
光学ユニットを示すブロック図である。なお、以下に説
明する図において図１と共通する部分には同一符号を付
すものとする。
ーザ走査光学装置の第２の実施の形態に係るレーザ走査
光学ユニットを示すブロック図である。なお、以下に説
明する図において図１と共通する部分には同一符号を付
すものとする。
【００３６】図５に示すレーザ走査光学装置のレーザ走
査光学ユニットは、上記同様に、１色に対応するもので
ある。レーザ走査光学ユニットは、レーザ光源１ａ、シ
リンダレンズ１ｂ、ポリゴンミラー２、ｆθレンズ３、
コントローラ４ａ、ＲＯＭ６及び温度センサ７ａを備え
ている。ここで、制御手段としてのコントローラ４ａ
は、各色に対応するレーザ走査光学ユニットの何れか一
に備えられている。記憶手段としてのＲＯＭ６は、各色
に対応するレーザ走査光学ユニット毎に備えられてい
る。なお、ＲＯＭ６は、それぞれのレーザ走査光学ユニ
ット毎に備えることなく、単一とすることもできる。
査光学ユニットは、上記同様に、１色に対応するもので
ある。レーザ走査光学ユニットは、レーザ光源１ａ、シ
リンダレンズ１ｂ、ポリゴンミラー２、ｆθレンズ３、
コントローラ４ａ、ＲＯＭ６及び温度センサ７ａを備え
ている。ここで、制御手段としてのコントローラ４ａ
は、各色に対応するレーザ走査光学ユニットの何れか一
に備えられている。記憶手段としてのＲＯＭ６は、各色
に対応するレーザ走査光学ユニット毎に備えられてい
る。なお、ＲＯＭ６は、それぞれのレーザ走査光学ユニ
ット毎に備えることなく、単一とすることもできる。
【００３７】レーザ光源１ａは、レーザ光を照射するレ
ーザダイオード（ＬＤ）と、レーザ光を平行ビームとす
るコリメートレンズと、ビーム形状を成形するアパーチ
ャとから構成されるが何れも図示を省略している。
ーザダイオード（ＬＤ）と、レーザ光を平行ビームとす
るコリメートレンズと、ビーム形状を成形するアパーチ
ャとから構成されるが何れも図示を省略している。
【００３８】シリンダレンズ１ｂは、コリメートレンズ
によって平行ビームとされたレーザ光を、上下方向に収
束する。ポリゴンミラー２は、シリンダレンズ１ｂによ
って上下方向に収束されたレーザ光を反射し走査する。
ｆθレンズ３は、ポリゴンミラー２により反射されたレ
ーザ光を、感光体８上にフォーカスさせる。これによ
り、感光体８上に潜像が形成される。
によって平行ビームとされたレーザ光を、上下方向に収
束する。ポリゴンミラー２は、シリンダレンズ１ｂによ
って上下方向に収束されたレーザ光を反射し走査する。
ｆθレンズ３は、ポリゴンミラー２により反射されたレ
ーザ光を、感光体８上にフォーカスさせる。これによ
り、感光体８上に潜像が形成される。
【００３９】コントローラ４ａは、各レーザ走査光学ユ
ニットのレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。こ
こで、点灯のタイミング制御は、ＳＹＮＣ信号の出力を
基準として、そこからある決まった時間の後に画像の信
号を送出すように制御する。また、コントローラ４ａ
は、温度変化に応じた補正量を算出し、各レーザ走査光
学装置のレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。
ニットのレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。こ
こで、点灯のタイミング制御は、ＳＹＮＣ信号の出力を
基準として、そこからある決まった時間の後に画像の信
号を送出すように制御する。また、コントローラ４ａ
は、温度変化に応じた補正量を算出し、各レーザ走査光
学装置のレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。
【００４０】ＲＯＭ６は、予め測定したそれぞれのレー
ザ走査光学ユニットの温度特性のデータを保持してい
る。温度センサ７ａは、レーザ走査光学ユニット内部の
温度を検出する。
ザ走査光学ユニットの温度特性のデータを保持してい
る。温度センサ７ａは、レーザ走査光学ユニット内部の
温度を検出する。
【００４１】次に、このような構成のレーザ走査光学装
置のレーザ走査光学ユニットの動作について説明する。
置のレーザ走査光学ユニットの動作について説明する。
【００４２】まず、カラーレーザプリンタを動作させる
と、機内温度が上昇するに伴い、レーザ走査光学ユニッ
トの温度も上昇する。そのため、ｆθレンズ３の膨張等
に伴い、レーザ光の位置ずれが生じる。この場合、感光
体８上に形成される潜像の幅（印字結果で見ると印字幅
方向）が広くなる。この傾向は、ｆθレンズ３がガラス
よりプラスチックで構成されている場合に顕著である。
と、機内温度が上昇するに伴い、レーザ走査光学ユニッ
トの温度も上昇する。そのため、ｆθレンズ３の膨張等
に伴い、レーザ光の位置ずれが生じる。この場合、感光
体８上に形成される潜像の幅（印字結果で見ると印字幅
方向）が広くなる。この傾向は、ｆθレンズ３がガラス
よりプラスチックで構成されている場合に顕著である。
【００４３】また、特に、プラスチックによる場合、成
形条件によるレンズ特性のバラツキが大きく、それぞれ
のレーザ走査光学ユニットでのｆθレンズ３の熱膨張の
影響が異なってくる。
形条件によるレンズ特性のバラツキが大きく、それぞれ
のレーザ走査光学ユニットでのｆθレンズ３の熱膨張の
影響が異なってくる。
【００４４】さらに、ｆθレンズ３は、シャーシに金具
あるいは接着等で固定されるが、ｆθレンズ３とシャー
シとの材質の違いから熱膨張も異なる。この場合、シャ
ーシによる固定がｆθレンズ３の熱膨張による動きを規
制してしまうとともに、その規制の仕方がレーザ走査光
学ユニット毎に一律ではない。
あるいは接着等で固定されるが、ｆθレンズ３とシャー
シとの材質の違いから熱膨張も異なる。この場合、シャ
ーシによる固定がｆθレンズ３の熱膨張による動きを規
制してしまうとともに、その規制の仕方がレーザ走査光
学ユニット毎に一律ではない。
【００４５】そのため、予めそれぞれのレーザ走査光学
ユニットについて、温度上昇と印字幅の伸び量との関係
を測定しておき、それにより求められた温度係数を各レ
ーザ走査光学ユニットのＲＯＭ６に保持させておく。
ユニットについて、温度上昇と印字幅の伸び量との関係
を測定しておき、それにより求められた温度係数を各レ
ーザ走査光学ユニットのＲＯＭ６に保持させておく。
【００４６】また、カラーレーザプリンタの機内温度上
昇に伴う各レーザ走査光学ユニットの温度上昇について
は、各レーザ走査光学ユニットの温度センサ７ａにより
モニタされ、その結果はコントローラ４ａに与えられ
る。
昇に伴う各レーザ走査光学ユニットの温度上昇について
は、各レーザ走査光学ユニットの温度センサ７ａにより
モニタされ、その結果はコントローラ４ａに与えられ
る。
【００４７】そして、コントローラ４ａは、各レーザ走
査光学ユニットの温度センサ７ａの検出結果と、それぞ
れのＲＯＭ６に保持されている温度係数から必要な温度
の補正量を算出し、それに基づいて各レーザ走査光学ユ
ニットのレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。こ
れにより、感光体８上での印字幅の調整が行われる。
査光学ユニットの温度センサ７ａの検出結果と、それぞ
れのＲＯＭ６に保持されている温度係数から必要な温度
の補正量を算出し、それに基づいて各レーザ走査光学ユ
ニットのレーザ光源１ａのＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。こ
れにより、感光体８上での印字幅の調整が行われる。
【００４８】このように、第２の実施の形態では、ＲＯ
Ｍ６にレーザ走査光学ユニットのそれぞれの温度上昇と
印字幅の伸び量との関係から求められた温度係数を保持
させ、コントローラ４ａにより、温度上昇に伴い、温度
係数から必要な温度の補正量を算出し、それに基づいて
各レーザ走査光学ユニットのレーザ光源１ａのＯＮ／Ｏ
ＦＦ制御を行うようにしたので、タンデム方式のレーザ
走査光学装置であっても、簡単な構成で、それぞれのレ
ーザ走査光学ユニットによる色合わせの精度を高めるこ
とができる。
Ｍ６にレーザ走査光学ユニットのそれぞれの温度上昇と
印字幅の伸び量との関係から求められた温度係数を保持
させ、コントローラ４ａにより、温度上昇に伴い、温度
係数から必要な温度の補正量を算出し、それに基づいて
各レーザ走査光学ユニットのレーザ光源１ａのＯＮ／Ｏ
ＦＦ制御を行うようにしたので、タンデム方式のレーザ
走査光学装置であっても、簡単な構成で、それぞれのレ
ーザ走査光学ユニットによる色合わせの精度を高めるこ
とができる。
【００４９】
【発明の効果】以上の如く本発明に係るレーザ走査光学
装置及びレーザ走査方法によれば、それぞれの色に対応
するレーザ走査光学ユニット毎に測定した主走査方向の
リニアリティー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に
保持させ、制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照
射動作をドットクロックによって制御するとともに、ｆ
θレンズの性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に
差がある場合、主走査方向のリニアリティー特性のデー
タに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出し、ド
ットクロックの変調を行うようにし、また温度モニタセ
ンサによってモニタされた温度が変化すると、記憶手段
に保持されている温度勾配のデータからモニタされた温
度変化に対するドットクロックの補正量を算出し、その
補正量に応じてドットクロックの変調を行うようにした
ので、簡単な構成で、温度変化等による主走査方向のリ
ニアリティーずれを容易に補正することができ、コスト
アップを招くことなく高品質な画像を得ることができ
る。
装置及びレーザ走査方法によれば、それぞれの色に対応
するレーザ走査光学ユニット毎に測定した主走査方向の
リニアリティー特性及び温度勾配のデータを記憶手段に
保持させ、制御手段により、レーザ光源のレーザ光の照
射動作をドットクロックによって制御するとともに、ｆ
θレンズの性能のばらつきやｆθレンズの取付け位置に
差がある場合、主走査方向のリニアリティー特性のデー
タに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出し、ド
ットクロックの変調を行うようにし、また温度モニタセ
ンサによってモニタされた温度が変化すると、記憶手段
に保持されている温度勾配のデータからモニタされた温
度変化に対するドットクロックの補正量を算出し、その
補正量に応じてドットクロックの変調を行うようにした
ので、簡単な構成で、温度変化等による主走査方向のリ
ニアリティーずれを容易に補正することができ、コスト
アップを招くことなく高品質な画像を得ることができ
る。
【図１】本発明のレーザ走査光学装置の第１の実施の形
態に係るレーザ走査光学ユニットを示すブロック図であ
る。
態に係るレーザ走査光学ユニットを示すブロック図であ
る。
【図２】図１のレーザ走査光学ユニットの印字位置ずれ
補正回路を示すブロック図である。
補正回路を示すブロック図である。
【図３】図１のレーザ走査光学ユニットの動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図４】図１のレーザ走査光学ユニットの動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図５】本発明のレーザ走査光学装置の第２の実施の形
態に係るレーザ走査光学ユニットを示すブロック図であ
る。
態に係るレーザ走査光学ユニットを示すブロック図であ
る。
１ レーザダイオード（ＬＤ） １ａ レーザ光源 １ｂ シリンダレンズ ２ ポリゴンミラー ３ ｆθレンズ ４ 制御回路 ４ａ コントローラ ５ ＳＹＮＣセンサ ６ ＲＯＭ ７ サーミスタ ７ａ 温度センサ ８ 感光体
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2C362 BA52 BA68 BA86 BB14 BB28 BB37 CA22 CA39 DA03 2H045 AA01 BA24 CA01 CA31 CA63 CA82 CA92 CA97 CA99 CB22 DA24 5C072 AA03 BA12 BA17 BA19 HA02 HA09 HA13 HB06 HB20 QA14 QA20 UA11 5C074 AA10 BB03 CC22 CC26 DD11 DD15 DD16 DD24 EE03 FF15 GG03 GG04 GG09
Claims (6)
- 【請求項１】 レーザ光を照射するレーザ光源と、前記
レーザ光を偏光するポリゴンミラーと、前記偏光された
レーザ光を感光体上にフォーカスするｆθレンズと、前
記ｆθレンズ周囲の温度をモニタする温度モニタセンサ
とを有するレーザ走査光学ユニットをそれぞれの色毎に
備えるレーザ走査光学装置であって、 前記レーザ走査光学ユニットのそれぞれには、前記それ
ぞれの色に対応する前記レーザ走査光学ユニット毎に測
定した主走査方向のリニアリティー特性及び温度勾配の
データを保持している記憶手段と、 前記レーザ光源のレーザ光の照射動作をドットクロック
によって制御するとともに、前記ｆθレンズの性能のば
らつきや前記ｆθレンズの取付け位置に差がある場合、
前記主走査方向のリニアリティー特性のデータに基づい
た印字位置ずれに対する補正量を算出し、前記ドットク
ロックの変調を行う制御手段とを備えることを特徴とす
るレーザ走査光学装置。 - 【請求項２】 前記制御手段は、前記温度モニタセンサ
によってモニタされた温度が変化すると、前記記憶手段
に保持されている温度勾配のデータから前記モニタされ
た温度変化に対するドットクロックの補正量を算出し、
その補正量に応じて前記ドットクロックの変調を行うこ
とを特徴とする請求項１に記載のレーザ走査光学装置。 - 【請求項３】 前記記憶手段は、前記レーザ走査光学ユ
ニットのそれぞれの温度上昇と印字幅の伸び量との関係
から求められた温度係数を保持し、 前記制御手段は、前記温度上昇に伴い、前記温度係数か
ら必要な温度の補正量を算出し、それに基づいて各レー
ザ走査光学ユニットの前記レーザ光源のＯＮ／ＯＦＦ制
御を行うことを特徴とする請求項１に記載のレーザ走査
光学装置。 - 【請求項４】 レーザ光を照射するレーザ光源と、前記
レーザ光を偏光するポリゴンミラーと、前記偏光された
レーザ光を感光体上にフォーカスするｆθレンズと、前
記ｆθレンズ周囲の温度をモニタする温度モニタセンサ
とを有するレーザ走査光学ユニットをそれぞれの色毎に
備え、それぞれの走査光学ユニット毎に主走査方向にお
けるリニアリティーずれの補正を行うレーザ走査方法で
あって、 前記それぞれの色に対応する前記レーザ走査光学ユニッ
ト毎に測定した主走査方向のリニアリティー特性及び温
度勾配のデータを記憶手段に保持する第１の工程と、 制御手段により、前記レーザ光源のレーザ光の照射動作
をドットクロックによって制御するとともに、前記ｆθ
レンズの性能のばらつきや前記ｆθレンズの取付け位置
に差がある場合、前記主走査方向のリニアリティー特性
のデータに基づいた印字位置ずれに対する補正量を算出
し、前記ドットクロックの変調を行う第２の工程とを備
えることを特徴とするレーザ走査方法。 - 【請求項５】 前記第２の工程には、前記温度モニタセ
ンサによってモニタされた温度が変化すると、前記記憶
手段に保持されている温度勾配のデータから前記モニタ
された温度変化に対するドットクロックの補正量を算出
し、その補正量に応じて前記ドットクロックの変調を行
う第３の工程が含まれることを特徴とする請求項４に記
載のレーザ走査方法。 - 【請求項６】 前記第１の工程には、前記レーザ走査光
学ユニットのそれぞれの温度上昇と印字幅の伸び量との
関係から求められた温度係数を保持する第４の工程が含
まれ、 前記第２の工程には、前記温度上昇に伴い、前記温度係
数から必要な温度の補正量を算出し、それに基づいて各
レーザ走査光学ユニットの前記レーザ光源のＯＮ／ＯＦ
Ｆ制御を行う第５の工程が含まれることを特徴とする請
求項４に記載のレーザ走査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000011642A JP2001201702A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | レーザ走査光学装置及びレーザ走査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000011642A JP2001201702A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | レーザ走査光学装置及びレーザ走査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001201702A true JP2001201702A (ja) | 2001-07-27 |
Family
ID=18539480
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000011642A Pending JP2001201702A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | レーザ走査光学装置及びレーザ走査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001201702A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006078561A (ja) * | 2004-09-07 | 2006-03-23 | Ricoh Co Ltd | カラー画像形成装置 |
| JP2006309041A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Noritsu Koki Co Ltd | レーザ露光装置 |
| US7256815B2 (en) | 2001-12-20 | 2007-08-14 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming method, image forming apparatus, optical scan device, and image forming apparatus using the same |
| JP2016151758A (ja) * | 2015-02-19 | 2016-08-22 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置及光走査装置 |
| JP2016218385A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及び画像形成装置 |
| JP2017173727A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | キヤノン株式会社 | 光走査装置 |
-
2000
- 2000-01-20 JP JP2000011642A patent/JP2001201702A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7256815B2 (en) | 2001-12-20 | 2007-08-14 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming method, image forming apparatus, optical scan device, and image forming apparatus using the same |
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| JP2006309041A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Noritsu Koki Co Ltd | レーザ露光装置 |
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| JP2016218385A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及び画像形成装置 |
| JP2017173727A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | キヤノン株式会社 | 光走査装置 |
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