JP2001196498A - ピン付きモジュール及びピン付きモジュールの製造方法 - Google Patents
ピン付きモジュール及びピン付きモジュールの製造方法Info
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Abstract
困難さが軽減されたピン付きの装置モジュール及びその
製作方法の提供を目的とする。 【解決手段】 本発明の一実施例は、第1の面及び第2
の面を有するポリマー回路構造体を基板上に製作する方
法である。第1の面は基板に隣接するよう形成される。
ピンは回路構造体の第2の面に接合される。基板の少な
くとも一部分は回路構造体の第1の面の対応した少なく
とも一部分を露出させるため除去され、回路構造体の露
出した第1の面に装置が実装される。
Description
び装置モジュールの製造方法に関する。
うなコンピュータは、通常、集積回路チップのような多
数の装置を含む。このような装置がパッケージングされ
る方法は、コンピュータの動作の効率を決めることがで
きる。たとえば、装置パッケージは、信号及び電力を装
置に取り込み、装置から熱を取り除き、装置を物理的に
支持し、装置を周囲環境から保護するように設計され
る。電子パッケージは、装置上の稠密な入出力(I/
O)コネクションを、回路基板のような上位レベル相互
連結構造体上のI/Oコネクションに再配分する。
ッドアレイパッケージである。典型的なピングリッドア
レイパッケージは装置モジュールを収容する。典型的な
従来の装置モジュールの場合、一つ以上の装置がセラミ
ック回路構造体に取り付けられる。はんだジョイント
は、装置をセラミック回路構造体に結合するため使用さ
れる。セラミック回路構造体に取り付けられたピンは、
パッケージを回路基板に物理的に着脱するため利用され
る。たとえば、パッケージは、ピンを回路基板アパーチ
ャに抜き差しすることによって、回路基板へ脱着される
ので、必要に応じて比較的容易にパッケージを交換する
ことができる。
ッケージは望ましいパッケージではあるが、従来のピン
グリッドアレイパッケージモジュール、並びに、このモ
ジュールの製作方法は、改良の余地がある。たとえば、
パッケージ内での装置とセラミック回路構造体との熱的
不釣合いのため、装置とセラミック回路構造体との間
に、巧くはんだジョイントを設けられない場合がある。
装置が寿命の期間中にオン・オフサイクルを繰り返すこ
とにより、装置はセラミック回路構造体に関して相対的
に膨張及び収縮を繰り返す。このため、装置とセラミッ
ク回路構造体の間のはんだジョイントは、経時的に破壊
される場合がある。さらに、セラミック回路構造体の製
作は、かなり難しく、かつ、コスト高である。
され、製造上の困難さが軽減された改良型の装置モジュ
ールの提供を目的とする。
グリッドアレイパッケージ用に適した装置モジュール及
びその装置モジュールの製造方法を扱う。
面を有するポリマー回路構造体を、第1の面側が基板と
隣接するように基板上に形成する工程と、上記ポリマー
回路構造体の上記第2の面にピンを接続する工程と、上
記ポリマー回路構造体の上記第1の面の少なくとも一部
分を露出させるため、上記基板の少なくとも一部分を除
去する工程と、上記ポリマー回路構造体の上記第1の面
に装置を実装する工程とを有する方法である。
を含む第1の面及び第2の導電性領域を含む第2の面を
有するポリマー回路構造体を、第1の面が基板と隣接す
るように基板上に形成する工程と、剛性ボディ内のアパ
ーチャを上記第2の導電性領域と位置合わせする工程
と、上記ポリマー回路構造体の上記第1の面の少なくと
も一部分を露出させるため、上記基板の少なくとも一部
分を除去する工程と、上記第2の導電性領域に近い方の
第1の端部及び上記第2の導電性領域から遠い方の第2
の端部を有する導電ビア構造体を形成するため、上記ア
パーチャに導電材料を堆積させる工程と、上記導電ビア
構造体の上記第2の端部にピンを接続する工程とを有す
る方法である。
性領域を含む第1の面及び第2の導電性領域を含む第2
の面を有するポリマー回路構造体と、上記第1の導電性
領域上の装置と、上記第2の導電性領域に接続され、上
記第1の導電性領域上の上記装置とは反対側に設けられ
たピンと、上記ピンが中を通過するアパーチャを有する
剛性板とを具備し、上記ピンの両端は上記アパーチャの
外側に設けられている装置モジュールである。
図面及び以下の詳細な説明を参照して詳細に記載され
る。分かり易くするため、図面のスケールは合っていな
い。
ュールは、ポリマー回路構造体に配置された一つ以上の
受動若しくは能動装置(たとえば、半導体若しくは光チ
ップ)を含み得る。ポリマー回路構造体は、典型的に、
1層以上の誘電ポリマー層及び1層以上の導電層を含
む。ピンは、典型的に、ポリマー回路構造体上の一つ以
上の導電性領域に電気接続され、ポリマー回路構造体を
介して装置と連結する。ピンは、たとえば、装置を回路
板に接続するため回路板内のアパーチャに挿入され、装
置を回路板から切り離すためアパーチャから引き抜かれ
る。好ましい実施例において、装置モジュールは、シン
グルチップモジュール(SCM)又はマルチチップモジュー
ル(MCM)のどちらでも構わない。
の態様で配置される。たとえば、装置及びピンは、ポリ
マー回路構造体のように回路構造体の同一面に存在して
もよい。図1(a)及び1(b)は、たとえば、装置1
1及びピン12がポリマー回路構造体13の同一面に配
置されたモジュール10の一例を示す図である。ポリマ
ー回路構造体13は支持ボディ14の上部に設けられ
る。
ュール内の大多数のピン及び大多数の装置は、ポリマー
回路構造体の両側の別個の面に配置される。たとえば、
モジュールの全てのピンはポリマー回路構造体の一方側
に配置され、モジュールの全ての装置はポリマー回路構
造体の反対側に配置される。図2(a)及び2bは、た
とえば、装置21及びピン22がポリマー回路構造体2
3の両側に配置されたモジュール20の一例を示す図で
ある。剛性板24は、ポリマー回路構造体23とピン2
2の間に設けられる。複数のビア構造体26は、ピン2
2とポリマー回路構造体23を連結するため剛性板24
内にある。導電ビア構造体26は、剛体板24を通過
し、ピン22と装置21を電気接続する。他の実施例に
おいて、ピンは、ポリマー回路構造体に直接的に接続さ
れる。ピンは、導電ビア構造体を用いることなく、剛性
板内のアパーチャ内を通る。これらの実施例において、
ピンの両端は、剛性板の両面の先まで延ばしてもよい。
体のもう一方の面に装置を有するモジュールは、回路構
造体の同じ面にピンと装置が設けられたモジュールより
も望ましい。
にある場合、非常に多数のピン及び装置をモジュールに
設けることが可能である。たとえば、図1(a)及び1
(b)に示されたモジュール10の場合、ピン11及び
装置12は、回路構造体13の片面だけにある。これに
対し、図2(a)及び2(b)に示されたモジュール2
0の場合、装置21(隠れ線で示される)及びピン22
は、ポリマー回路構造体23の両面に配置することがで
きる。ピン22及び装置21は、ポリマー回路構造体2
3の両面に亘って配置してもよく、かつ、ピン22の配
置はポリマー回路構造体23の外面に制限されない。し
たがって、ピン及び装置がモジュールの両面に設けられ
ているとき、モジュール1個あたりで、より多数のピン
及び装置をより小さい空間に配置することができる。
き、適当な高さを有する冷却素子(たとえば、ヒートシ
ンク)を装置側に配置することができる。例示的に説明
すると、モジュールを回路板に接続するとき、ピンは回
路板内(図示されない)のアパーチャに挿入される。モ
ジュール内のピン及び装置が回路構造体の同じ面にある
とき、接続された回路板は、装置の上に配置され、装置
に取り付けられたヒートシンクの高さを制限する。これ
に対し、図2(a)及び2(b)に示されたモジュール
20の場合、ピン22と装置21は、ポリマー回路構造
体23の反対側の面に配置される。したがって、適当な
高さを有する好適な冷却素子を装置21の上部に取り付
けることが可能である。
の反対面に設けられたとき、装置(すなわち、装置内の
ゲート)とピンの間の回路経路の長さは、非常に短くす
ることができる。回路経路が短くなるのに伴って、装置
とピンの間で信号及び電力をより迅速に伝達することが
できるようになり、コンピュータ動作が潜在的に高速化
される。たとえば、図1(a)及び1(b)に示された
モジュール10の場合、電気信号は、モジュール10の
周辺部で、ポリマー回路構造体13の中を水平方向に装
置11からピン12に伝わる。しかし、図2(a)及び
2(b)に示されたモジュール20の場合に、電気信号
は、装置21から、ポリマー回路構造体23及び剛性板
24を介して、ピン22に伝搬する。図2に示されたモ
ジュール20内の装置21及びピン22の間の電気経路
は、実質的に垂直方向であり、図1のモジュール10で
使用される水平方向電気経路よりも短い。
及び多数の装置をポリマー回路構造体のそれぞれの面に
有するモジュールを形成する実施例について説明する。
本発明の一実施例は、第1の面及び第2の面を有するポ
リマー回路構造体の第1の面が基板に隣接するように、
ポリマー回路構造体を基板上に形成する工程を有する。
1本以上のピンがポリマー回路構造体の第2の面に接続
され、基板の少なくとも一部分は、ポリマー回路構造体
の第1の面の少なくとも一部分を露出させるため除去さ
れる。装置は、ポリマー回路構造体の露出した第1の面
に実装され、装置モジュールの実施例が形成される。
(d)を参照して説明される。図3(a)に示されるよ
うに、第1の面33(a)及び第2の面33(b)を有
するポリマー回路構造体33は、基板35に形成され
る。ポリマー回路構造体33の第1の面33(a)は基
板35の近くにあり、ポリマー回路構造体33の第2の
面33(b)は基板35から遠い方にある。ポリマー回
路構造体33の第1の面33(a)は、基板35の主要
面に隣接してもよく、好ましくは、主要面と接触する。
導電性領域(たとえば、ライン、パッド、ランドなど)
は、ポリマー回路構造体33の第1の面33(a)及び
第2の面33(b)のどちらに置かれてもよい。たとえ
ば、装置を受容するため適した第1の導電性領域は第1
の面33(a)に設けられ、ピンを受容するため適した
第2の導電性領域は第2の面33(b)に設けられる。
マー回路構造体原料を一時的に支持するため使用され得
る。ポリマー回路構造体を形成するため使用される導電
層及び誘電層のような原料は、屡々、薄く脆い。特に、
殆どのポリマー層は、処理中に、及び/又は、温度変化
に応じて、反り、湾曲、或いは、移動が生じる。特に、
基板は、形成された回路パターン内の回路像歪みが低減
され、精細なライン構造がポリマー回路構造体に形成さ
れ得るように、処理中に原料を平坦な状態で支持し維持
する。
ることができる。基板は、好ましくは、少なくとも一つ
の滑らかなプレーナ表面を有し、プレート状、ウェーハ
状、或いは、パネル状の形をなす。さらに、基板は、任
意の適当な材料を含む。たとえば、基板は、Al,M
o,インバール(Invar)、及び、コバール(Ko
var)のような金属、セラミック、及び/又は、シリ
コンを含む。好ましくは、基板は、エッチ可能な材料を
含有し、基板若しくは基板の一部がエッチングによって
次に除去され得る。
体33は、フレキシブルでも剛性でもよく、任意の適当
な厚さを有する。たとえば、ポリマー回路構造体33
は、約100ミクロン未満の厚さをもつ。ある実施例で
は、ポリマー回路構造体33の厚さは、約50乃至約7
0ミクロンである。ポリマー回路構造体33は、一般的
に、1層以上の導電層及び1層以上の誘電ポリマー層に
より構成される。個別の導電層及び/又はポリマー層
は、約25ミクロン未満の厚さを有する。
び誘電層は、任意の適当な材料を含む。たとえば、ポリ
マー層材料は、ポリイミド、ポリアミド、エポキシ機能
性ポリマー、及び、ビスマレイミド−トリアジン(bisma
leimide-triazine)を含有する。好ましいポリイミドに
は、DuPont PI-2611が含まれる。使用される具体的なポ
リマー材料にはかかわらず、ポリマー材料は、好ましく
は、約2乃至約9ppm/℃の熱膨張係数(CTE)を有する。
好ましくは、ポリマー材料は、装置で使用される材料と
実質的に一致するCTEを有するので、装置とポリマー回
路構造体の間の熱膨張の差は、最小限に抑えられる。た
とえば、ポリマー材料は、実質的にシリコンのCTEと一
致する約3乃至約4ppm/℃のCTEを有する。導電層は、
銅、クロム、アルミニウム、金及び銀のような金属を含
む適当な導電材料を含有する。
スを用いて形成される。たとえば、ポリマー回路構造体
33は、適当な加法的プロセス、減法的プロセス、或い
は、準加法的プロセスにより形成される。電気めっき若
しくはスパッタリングのようなコーティングプロセス
は、導電層を形成するため使用され、スピンコーティン
グ、ドクターブレードコーティング、カーテンコーティ
ング若しくはローラーコーティングのようなコーティン
グプロセスは、ポリマー層を形成するため使用される。
誘電ポリマー層若しくは導電層は薄層状にされる。
路構造体33が形成された後、ピン32は、ポリマー回
路構造体33の第2の面33(b)で導電性領域(図示
しない)に接続される。ピンは、適当なプロセスを用い
て導電性領域に接続される。適当なボンディングプロセ
スには、はんだ、溶接、若しくは、鍮付けが含まれる.
好ましくは、ピン32は、ピンと導電性領域の間に冶金
学的ジョイントを形成するため、ポリマー回路構造体3
3の第2の面33(b)で導電性領域(たとえば、パッ
ド)に鍮付け、若しくは、はんだ付けをされる。たとえ
ば、鍮付け、若しくは、はんだ付けの後、真鍮ジョイン
ト又ははんだジョイントのような冶金学的ジョイント
は、ピンのヘッドと導電性領域を接触させ、連結する。
他の実施例において、導電性又は非導電性の接着剤は、
ピンをポリマー回路構造体に接合するため使用される。
使用される具体的なボンディングプロセスとは無関係
に、ピンは、接続された後に約1kg以上の引っ張り力
を受けた場合でも、導電性領域に接続された状態を保つ
ことができる。
な寸法又は幾何形状を有する。図4(a)を参照する
に、各ピンは、一端にピンヘッド32(a)を有し、他
端に端領域32(c)を含む実質的に直線的なボディ3
2(b)とを有する。典型的に、ピンヘッド32(a)
は、ポリマー回路構造体上の導電性領域の近くに配置さ
れ、ピンの端領域32(c)は、導電性領域から遠い方
に配置され、拘束されない。たとえば、図3(b)に示
されるように、ピンヘッドは、ポリマー回路構造体33
の第2の面33(b)で導電性領域(図示されない)に
直接的に接合されてもよく、ピンの端領域は、ポリマー
回路構造体33から遠ざかる方に延びる。再度、図4
(a)を参照するに、ピンヘッド32(a)及び/又は
ピンボディ32(b)は、円形又は多角形(たとえば、
正方形)の断面を含む適当な断面を有する。本発明の実
施例において、ピンは、約200ミクロン以下のピンボ
ディ径dと、約800ミクロン以下のピンヘッド径D
と、約4mm以下のボディ長hとを有する。ピンがアレ
イ状であるとき、ピンは、モジュール内で適当なピッチ
pを有する。たとえば、平均ピッチは、約1500ミク
ロン以下(たとえば、約1270ミクロン以下)であ
る。
と、カラー若しくは湾曲部により分離されたボディ部と
を有する。このようなピンの例は、図4(b)乃至4
(d)に示される。図4(b)及び4(c)に示された
ピンは、ピンヘッド32(a)と、ボディ部32(e)
及び32(f)と、ボディ部32(e)及び32(f)
の間に設けられたカラー32(d)とを含む。図4
(b)に示されるように、カラー32(d)は、実質的
にピンヘッド32(a)と同じ形状を有する。或いは、
カラー32(d)とピンヘッド32(a)は、図4
(c)に示されるように別々の形状でも構わない。図4
(d)に示されたピンは、ピンヘッド32(a)と、二
つのボディ部32(e)と32(f)の間に湾曲部32
(g)を含む非直線性ピンボディとを有する。
とによって、剛性板又は回路板のような構造体内のアパ
ーチャにピンを保持しやすくなる。たとえば、回路板若
しくは剛性板のような構造体は、ピンヘッドと、カラー
若しくは湾曲ボディ部の間のボディ部に固定される。ピ
ンヘッドと、カラー若しくは湾曲部は、構造体の動きを
制約することができるので、付加的なボンディング材料
(たとえば、はんだ)を用いて、或いは、用いることな
く、構造体を所定の位置に静止させる。ピンヘッド及び
カラーは、特に、ピンが配置されるアパーチャの径より
も大きい径を有する。ピン材料とアパーチャの両方若し
くは一方は、より大きいカラー若しくはピンヘッドがア
パーチャを通り抜けることができるように、変形可能な
材料を含有する。
くとも基板の一部分がポリマー回路構造体の第1の面の
少なくとも一部分を露出させるため除去される。第1の
面の露出した内側部分は、装置の実装に適した導電性領
域を露出する。基板材料の除去は、ピンがポリマー回路
構造体に接続される前、若しくは、後に行われる。
の第1の面の全体が露出されるように、基板全体が取り
除かれる。他の実施例では、ポリマー回路構造体の第1
の面の対応した部分を露出させるため、基板の一部分が
取り除かれる。図3(c)を参照するに、たとえば、基
板の一部分(たとえば、内側部分)は、ポリマー回路構
造体33の第1の面33(a)の対応した内側部分を露
出させるため除去される。ポリマー回路構造体33に残
された基板の部分は、ポリマー回路構造体33の周辺部
にフレーム37を形成する。フレーム37は、必要に応
じて、形成されたモジュールの一部として残される。
できる。たとえば、ウェットエッチング若しくはドライ
エッチング、平削り、及び、融除は、単独で又は適当に
組み合わされて、基板材料の所望の部分又は量を除去す
るため使用される。好ましくは、基板材料は、エッチン
グによって除去される。エッチングプロセスは、適当な
ウェットエッチング若しくはガスエッチングプロセスを
含む。基板材料除去プロセスの一例では、マスク(たと
えば、フォトレジスト)がポリマー回路構造体の反対側
の基板の外側周辺の表面に堆積される。被覆されていな
い基板の内側部分はエッチングによって除去され、ポリ
マー回路構造体33の露出部分を取り囲むフレーム37
が残る。
以上の装置31がポリマー回路構造体33の露出した第
1の面33(a)に実装される。装置31は、ピン32
がポリマー回路構造体33の第2の面33(b)に接続
される前又は後に、ポリマー回路構造体33に実装され
る。たとえば、図3(d)に示されるように、基板材料
が除去され、ピン32がポリマー回路構造体33の第2
の面33(b)に接合された後、装置31はポリマー回
路構造体33の露出した第1の面33(a)に実装され
る。
に、実装された装置31は、フレーム37の内側で、ポ
リマー回路構造体33のピン32とは反対側の面に設け
られる。装置31は、ポリマー回路構造体33のピン3
2とは反対側の面に存在するので、実装された装置31
は、モジュール内のピンの配置或いは本数を著しく阻害
することがない。ある種の実施例では、モジュールは少
なくとも約2000本のピンを含む。他の実施例では、
モジュールは少なくとも約3000本のピンを含む。
回路構造体に実装される。たとえば、複数のはんだバン
プ又は導電ポストを有する装置は、はんだバンプ又は導
電ポストがポリマー回路構造体と装置の間に設けられ、
ポリマー回路構造体と装置を電気的に接続するように、
実装することができる。好ましくは、装置はフリップチ
ップ実装プロセスを用いてポリマー回路構造体に実装さ
れる。典型的なフリップチップ実装プロセスは、はんだ
バンプをチップ上に堆積させ、チップの表裏を逆にし、
はんだバンプをポリマー回路構造体上の導電性領域(た
とえば、パッド)と位置合わせし、接触させ、チップと
ポリマー回路構造体の間に電気接続を確立するためはん
だバンプをリフロー処理する。
に実装される。たとえば、モジュール30は、ピン22
を回路板のアパーチャに挿入することによって、回路板
に接続される。典型的に、回路板のアパーチャは、モジ
ュールを回路板に電気接続するため、はんだのような導
電材料を含む。回路板のアパーチャは、必要に応じて、
多数のZIF(零挿入力)ソケットを含む。
は、アパーチャ付きの剛性板を含む。このタイプのモジ
ュールの一例は、図5(a)に示される。モジュール4
0は、第1の導電性領域(図示しない)を含む第1の
面、及び、第2の導電性領域(図示しない)を含む第2
の面を有するポリマー回路構造体33からなる。ピンヘ
ッド及びボディ部を有するピン32は、第2の導電性領
域に接続される。ピンヘッドは第2の導電性領域に近い
方にあり、ピンボディは第2の導電性領域から遠い方に
ある。剛性板38は、ポリマー回路構造体33の第2の
面の近くに配置され、アパーチャを有し、ピン32は剛
性板38のアパーチャを通過する。装置31は、フレー
ム37の内側で、ピン32とは反対面のポリマー回路構
造体33の第1の面の第1の導電性領域に実装される。
に隣接する(すなわち、ポリマー回路構造体と接触す
る)。ポリマー回路構造体に接続されたピンは、剛性板
のアパーチャに挿入され、ピンボディのそれぞれの部分
はアパーチャ内に置かれる。ピンヘッドと、ピンボディ
の端部は、通常、アパーチャの外側にある。たとえば、
ピンヘッド及びボディ端部は、剛性板の反対側表面を通
り越し、その外側まで延びる。
することに加えて、剛性板は、モジュールの実装及び取
り外しをより簡単に実現させる。たとえば、モジュール
を回路板に挿入し、或いは、モジュールを回路板から取
り外すとき、力は、ポリマー回路構造体或いはピンの代
わりに、剛性板に加えられる。モジュールを回路板のよ
うな構造体に着脱するため、力を剛性板に加えることに
よって、ピン及びポリマー回路構造体に加わる応力は小
さくなるので、モジュールを取り付け又は取り外すとき
に、これらのコンポーネントが、破損、湾曲、若しく
は、引き裂ける可能性は減少する。
合、ピンは相互に電気的に絶縁される。たとえば、ピン
ボディは絶縁材料で被覆してもよく、これにより、被覆
されたピンボディが剛性板のアパーチャ側壁と接触した
ときに、剛性板とピンボディの間に電気的接触が生じな
くなる。他の例の場合、アパーチャ側壁は、非導電性で
あるので、各ピンは、アパーチャ内に設けられたとき、
互いに電気的に絶縁される。一部の実施例では、剛性板
は、絶縁材料だけからなる。
れる。図5(b)の剛性板38は、頑丈なボディ41と
複数のアパーチャ42とを有し、複数のアパーチャ42
は複数のピンを受容する。各アパーチャ42の径は、ピ
ンのボディの径よりも僅かに大きい。典型的に、アパー
チャの径は約200ミクロン以下である。アパーチャ4
2は、規則的なアレイ状に配置された対応したピンを受
容するため、規則的なアレイ状に図示されているが、ア
パーチャ42は、不規則的なアレイ状でもよい。
要な表面は、研磨されないか、及び/又は、回路化され
ない(たとえば、光で画成された回路パターンを含まな
い)。この非研磨及び/又は非回路化剛性板をモジュー
ルで使用することにより、モジュールの全体的なコスト
が低下する。たとえば、ポリマー回路構造体が、セラミ
ック板のような剛性板上に直接形成される場合、セラミ
ック板の表面は、通常、回路構造体が形成される前に研
磨される。たとえば、典型的なセラミック板の製作プロ
セスにおいて、複数のセラミック粒子が緑色シートに成
形される。この緑色シートは、次に、セラミック板を形
成するようセラミック粒子を一体的に溶融するため、高
温で焼成される。これにより得られたセラミック板の表
面は、溶融粒子が表面に凹凸を形成するので、不均一に
なる。不均一な表面は、典型的に、ポリマー回路構造体
が平坦な表面上に形成され得るように、平坦になるまで
研磨される。ポリマー回路構造体原料が処理中に不均一
である場合、ポリマー回路構造体に形成される回路像は
歪む。
路構造体は、剛性板とは無関係に(たとえば、上述の基
板上で)形成される。したがって、モジュールに使用さ
れる剛性板は、研磨されていない表面を有し、モジュー
ル内のポリマー回路構造体、ピン、及び、装置に適当な
構造的安定性を与える。その結果として、多種多様の剛
性板材料が装置モジュール内で使用され、装置モジュー
ルは優れた費用効果率で製作され得る。
ーチャは、レーザードリル加工、エッチング、及び、パ
ンチ加工などの適当なプロセスを用いて無孔板に形成さ
れる。一例として、無孔導電ボディが、ポリイミド又は
ポリテトラフルオロエチレンのような絶縁材料でコーテ
ィングされる。次に、アパーチャ付きの剛性板を形成す
るため、コーティングされたボディに孔が穿孔される。
別の例では、無孔緑色シートは、大量のセラミック粒子
と、バインダを緑色シートに成形することにより製作さ
れる。アパーチャは、適当な方法を用いて緑色シートに
形成される。その後、アパーチャ付きの緑色シートは、
アパーチャ付きの剛性セラミック板を形成するよう焼成
される。
性板材料には、ポリイミド及びビスマレイミド−トリア
ジン(BT)樹脂のようなポリマー材料と、アルミナ及び窒
化アルミニウムを含む高温焼成されたセラミック材料
と、Invar、Kovar及びモリブデンのような金属とが含ま
れる。剛性板に選択された特定の材料とは無関係に、剛
性板は、好ましくは、約350℃以上の融点を有する材
料を含む。剛性板は適当なCTEを有し、剛性板のCTEは、
好ましくは、約10ppm/℃未満である。
体上のピンは、剛性板のアパーチャに部分的若しくは完
全に挿入され、ポリマー回路構造体は、剛性ボディに隣
接し、或いは、剛性ボディから離間する。たとえば、図
5(c)に示されるように、ピン32は、剛性板38の
アパーチャに完全に挿入され、その結果として、ポリマ
ー回路構造体33は剛性板38に非常に接近し、ピンヘ
ッドは剛性板38と接触する。ピンのボディはアパーチ
ャを通過し、ピンヘッドとボディ部の端領域は、剛性板
38の反対側の面から外向きに延びる。これらの実施例
の場合、剛性板材料は、好ましくは、約9ppm/℃未満の
CTEを有する。
ーチャに部分的に挿入されるので、ポリマー回路構造体
及びピンヘッドは、剛性板から離間する。このような実
施利例では、ポリマー回路構造体上の装置も剛性板から
離れている。たとえば、図5(d)に示されるように、
ピン32は剛性板38に挿入され、ピンヘッドとポリマ
ー回路構造体33は、剛性板38から離間する。図5
(d)に示されるように、ピンのボディは直線的でもよ
い。他の実施例の場合、図5(e)に示されるように、
ポリマー回路構造体33に接合されたピン32は、ピン
ヘッドと、ピンヘッドから離間したカラーとを有する。
ピンヘッドはポリマー回路構造体33に接続してもよ
く、カラーは剛性板38で止められる。ポリマー回路構
造体33上でフレーム37内に配置された装置31は、
剛性板38から離される。装置31を剛性板38から遠
ざけることは望ましい。たとえば、装置と剛性板の間の
距離を拡大することによって、装置は、剛性板と相対的
に非常に自由に動くこと(たとえば、膨張及び収縮)が
可能になるので、剛性板と装置の間で構造体が故障する
可能性は下がる。このような実施例において、剛性板
は、約10ppm/℃以上のCTEを有する材料を含む。
後、ピンの望ましい部分(たとえば、ボディ部)が剛性
板に接合される。エポキシ及びポリイミド接着剤のよう
なボンディング材料は、ピンを固定すべく、ピンを剛性
板のアパーチャ側壁に接続するため使用される。ある種
の実施例では、金属接合がアパーチャ壁とピンの間に形
成される。たとえば、剛性板内のアパーチャ壁は、Ti/C
u又は非電着性銅のような金属を含む金属性材料でコー
ティングされる。ピンはアパーチャに挿入され、構造体
は、金属性材料とピンの間で金属間結合を形成するため
加熱される。
を含む第1の面及び第2の導電性領域を含む第2の面を
有するポリマー回路構造体を、第1の面が基板と隣接す
るように基板上に形成する工程と、剛性ボディ内のアパ
ーチャを上記第2の導電性領域と位置合わせする工程
と、上記ポリマー回路構造体の上記第1の面の少なくと
も一部分を露出させるため、上記基板の少なくとも一部
分を除去する工程と、上記第2の導電性領域に近い方の
第1の端部及び上記第2の導電性領域から遠い方の第2
の端部を有する導電ビア構造体を形成するため、上記ア
パーチャに導電性ペーストを堆積させる工程と、上記導
電ビア構造体の上記第2の端部にピンを接続する工程と
を有する方法である。この実施例は、図6(a)乃至6
(e)を参照して説明される。
が基板54上に形成される。図6(a)に示されるよう
に、ポリマー回路構造体53は、基板54に隣接した第
1の面と、基板54の反対側にある第2の面とを有す
る。第1の面は、複数の第1の導電性領域(図示しな
い)を有し、第2の面は、複数の第2の導電性領域59
を有する。ポリマー回路構造体53は、他の実施例に関
して既に説明したような適当なプロセス若しくは材料を
用いて形成される。ポリマー回路構造体53は、他の実
施例に関して既に説明したような適当な寸法又は材料を
含む。
数のアパーチャ57を有する剛性板50は、第2の導電
性領域59と並べられ、その結果として、アパーチャ5
7は、それぞれ、複数の第2の導電性領域59の上に設
けられる。アパーチャ57は、手動で、或いは、自動的
に位置合わせされ、剛性板50は、既に説明した剛性板
と同じ特性又は異なる特性を有する。位置合わせされた
後、剛性板50は、ポリマー回路構造体53に接合され
る。適当なボンディングプロセス(たとえば、接着性ボ
ンディング)が使用される。
堆積する。図6(d)に示されるように、導電材料61
は、アパーチャ57の内側で、第2の導電性領域59の
上に堆積する。好ましい実施例において、導電材料61
は、はんだペーストのような導電ペーストである。導電
材料61は、剛性板50のアパーチャ57に分離若しく
は分配される。堆積後、導電材料61は、必要に応じ
て、硬化又はリフローされる。他の実施例において、導
電材料61は、アパーチャ内で電気めっきされる。図6
(e)に示すように、堆積した導電材料61は、第2の
導電性領域59の近くにある第1の端部と、第2の導電
性領域から遠い方にある第2の端部を有し、ビア構造の
形をなす。
しくは後、又は、剛性板アパーチャを第2の導電性領域
と位置合わせする前若しくは後に、基板54の少なくと
も一部分が除去される。これは、既に上記の実施例に関
して説明した方法と同じ方法又は異なる方法で実現され
る。たとえば、図6(d)に示されるように、基板全体
を除去してもよい。他の実施例では、基板材料の一部分
(たとえば、内側部分)が、ポリマー回路構造体53の
第1の面の対応した部分を露出させるため除去される。
き、ピン52はビア構造体64の第2の端部に接続され
る。ピン52は、既に説明した実施例におけるピンと同
じ特性又は異なる特性を有し、はんだ付け、溶接、及
び、鍮付けを含む適当なプロセスを用いて、ビア構造体
64の第2の端部に接続される。図6(e)に示される
ように、ピンヘッドはビア構造体の第2の端部に連結さ
れ、ピン52は、第2の導電性領域59及びバイア構造
体64を介して、ポリマー回路構造体53と電気的につ
ながれる。
例と同じ方法若しくは異なる方法で、ポリマー回路構造
体53の露出した第1の面に実装される。図6(e)に
示された装置51は、たとえば、ピン52がビア構造体
64の第2の端部に接合された前、又は、後に実装され
る。
本発明の説明のために使用され、本発明を限定するため
に使用されたものではなく、かつ、図示され、説明され
た事項若しくはその一部の均等物を除外する意図ではな
く、本発明の範囲を逸脱することなく種々の変形を行い
得ることに注意する必要がある。また、本発明のいずれ
かの実施例の一つ以上の特徴は、本発明の範囲を逸脱す
ることなく、本発明の他の実施例の他の一つ以上の特徴
と組み合わされる。
が考えられる。
るポリマー回路構造体を、第1の面側が基板と隣接する
ように基板上に形成する工程と、上記ポリマー回路構造
体の上記第2の面にピンを接続する工程と、上記ポリマ
ー回路構造体の上記第1の面の少なくとも一部分を露出
させるため、上記基板の少なくとも一部分を除去する工
程と、上記ポリマー回路構造体の上記第1の面に装置を
実装する工程とを有する方法。
複数のポリマー層及び導電層を含み、上記ポリマー層及
び上記導電層の各層の厚さは、約25ミクロン以下であ
る、付記1記載の方法。
る工程は、上記ピンを上記ポリマー回路構造体の上記第
2の面に鍮付けする工程を有する、付記1記載の方法。
を除去する工程は、エッチング工程を有する、付記1記
載の方法。
ディのアパーチャに挿入する工程を更に有する付記1記
載の方法。
側壁に接続する工程を更に有する付記5記載の方法。
シリコンを含む付記1記載の方法。
を除去する工程は、上記基板の内側部分を除去する工程
を含む、付記1記載の方法。
フリップチップボンディングプロセスを用いて上記装置
を実装する工程を含む、付記1記載の方法。
1の面及び第2の導電性領域を含む第2の面を有するポ
リマー回路構造体を、第1の面が基板と隣接するように
基板上に形成する工程と、剛性ボディ内のアパーチャを
上記第2の導電性領域と位置合わせする工程と、上記第
1の導電性領域を含む上記ポリマー回路構造体の上記第
1の面の少なくとも一部分を露出させるため、上記基板
の少なくとも一部分を除去する工程と、上記第2の導電
性領域に近い方の第1の端部及び上記第2の導電性領域
から遠い方の第2の端部を有する導電ビア構造体を形成
するため、上記アパーチャに導電材料を堆積させる工程
と、上記導電ビア構造体の上記第2の端部にピンを接続
する工程とを有する方法。
分を除去する工程の後、露出した上記第1の導電性領域
に装置を実装する工程を更に有する、付記10記載の方
法。
材料を堆積させる工程は、上記導電材料を上記アパーチ
ャ内に分割する工程を含む、付記10記載の方法。
分を除去する工程は、上記基板の全体を除去する工程を
含む、付記10記載の方法。
を接続する工程は、上記ピンのヘッドを上記導電ビア構
造体の上記第2の端部に接続する工程を含む、付記10
記載の方法。
を接続する工程は、上記基板の少なくとも一部分を除去
する工程の後に行われる、付記10記載の方法。
を接続する工程は、上記基板の少なくとも一部分を除去
する工程の前に行われる、付記10記載の方法。
1の面及び第2の導電性領域を含む第2の面を有するポ
リマー回路構造体と、上記第1の導電性領域上の装置
と、上記第2の導電性領域に接続され、上記第1の導電
性領域上の上記装置とは反対側に設けられたピンと、上
記ピンが中を通過するアパーチャを有する剛性板とを具
備し、上記ピンの両端は上記アパーチャの外側に設けら
れている装置モジュール。
含む、付記17記載の装置モジュール。
性領域に鍮付けされている、付記17記載の装置モジュ
ール。
と、上記ピンヘッドから離間したカラーとを含む、付記
17記載の装置モジュール。
は、複数のポリマー層及び導電層を有し、上記ポリマー
層及び上記導電層の各層の厚さは、約25ミクロン未満
である、付記17記載の装置モジュール。
の側壁に接続されている、付記17記載の装置モジュー
ル。
いて上記アパーチャの上記側壁に接続されている、付記
22記載の装置モジュール。
近い方の上記剛性板の表面は研磨されていない、付記1
7記載の装置モジュール。
製造された装置モジュール。
て製造された装置モジュール。
製造方法は、第1の面及び第2の面を有するポリマー回
路構造体を基板上に製作する。第1の面は基板に隣接す
るよう形成される。ピンは回路構造体の第2の面に接合
される。基板の少なくとも一部分は回路構造体の第1の
面の対応した少なくとも一部分を露出させるため除去さ
れ、回路構造体の露出した第1の面に装置が実装され
る。
路構造体の反対面にあるため、非常に多数のピン及び装
置をモジュールに設けることが可能になる。第2に、ピ
ンが反対側に配置されるので、適当な高さを有する冷却
素子(たとえば、ヒートシンク)を装置側に配置するこ
とができる。第3に、装置とピンがポリマー回路構造体
の反対面に設けられるので、装置(すなわち、装置内の
ゲート)とピンの間の回路経路の長さは、非常に短くす
ることができる。回路経路が短くなるのに伴って、装置
とピンの間で信号及び電力をより迅速に伝達することが
できるようになり、コンピュータ動作が潜在的に高速化
される。
る装置モジュールの断面図である。
平面図である。
設けられた装置モジュールの断面図である。
された装置モジュールの平面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
された装置モジュールの平面図である。
ルの断面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
体の断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 第1の面及び第2の面を有するポリマー
回路構造体を、第1の面側が基板と隣接するように基板
上に形成する工程と、 上記ポリマー回路構造体の上記第2の面にピンを接続す
る工程と、 上記ポリマー回路構造体の上記第1の面の少なくとも一
部分を露出させるため、上記基板の少なくとも一部分を
除去する工程と、 上記ポリマー回路構造体の上記第1の面に装置を実装す
る工程とを有する方法。 - 【請求項2】 第1の導電性領域を含む第1の面及び第
2の導電性領域を含む第2の面を有するポリマー回路構
造体を、第1の面が基板と隣接するように基板上に形成
する工程と、 剛性ボディ内のアパーチャを上記第2の導電性領域と位
置合わせする工程と、 上記第1の導電性領域を含む上記ポリマー回路構造体の
上記第1の面の少なくとも一部分を露出させるため、上
記基板の少なくとも一部分を除去する工程と、 上記第2の導電性領域に近い方の第1の端部及び上記第
2の導電性領域から遠い方の第2の端部を有する導電ビ
ア構造体を形成するため、上記アパーチャに導電材料を
堆積させる工程と、 上記導電ビア構造体の上記第2の端部にピンを接続する
工程とを有する方法。 - 【請求項3】 第1の導電性領域を含む第1の面及び第
2の導電性領域を含む第2の面を有するポリマー回路構
造体と、 上記第1の導電性領域上の装置と、 上記第2の導電性領域に接続され、上記第1の導電性領
域上の上記装置とは反対側に設けられたピンと、 上記ピンが中を通過するアパーチャを有する剛性板とを
具備し、上記ピンの両端は上記アパーチャの外側に設け
られている装置モジュール。 - 【請求項4】 請求項1記載の方法を用いて製造された
装置モジュール。 - 【請求項5】 請求項2記載の方法を用いて製造された
装置モジュール。
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