JP2001194435A

JP2001194435A - 磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体

Info

Publication number: JP2001194435A
Application number: JP2000001480A
Authority: JP
Inventors: Koji Hirai; 宏治平井
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2000-01-07
Filing date: 2000-01-07
Publication date: 2001-07-19

Abstract

(57)【要約】【課題】不要電磁波の放射源を推定することができる
磁界分布測定装置を提供する。【解決手段】電磁波源の磁界を測定する磁界センサ１
０２と、磁界センサ１０２を被測定物１０６の近傍で駆
動する駆動部１０１と、駆動部１０１を制御する制御部
１１０と、磁界センサ１０２の測定値を演算処理する演
算処理部１０８と、測定結果を表示する表示部１０９と
を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、電子機器
やその内部の金属筐体、回路基板、ケーブル或いは電子
機器間を接続するケーブルを放射源（電磁波源）とする
電磁波の近傍磁界を測定する磁界センサ並びに磁界分布
測定方法及び装置並びに前記電磁波源を特定する電磁波
源探索方法及び装置並びに前記磁界分布測定装置及び電
磁波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納
した記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子機器が動作する時に放射され
る電磁波は、他の電子機器にとってノイズとなり、誤動
作の原因となる。このような電子機器の電磁波の放射源
（電磁波源）としては、電子機器の内部の回路基板、回
路基板に接続されている信号ケーブル、回路基板を封入
している導電部材、導電部材の間隙部分等が想定され
る。

【０００３】そこで、電子機器を製品化する場合には、
他の電子機器に悪影響を及ぼすことを防止するため、電
磁波の放射原因（電磁波源）を特定して有効な対策を実
行することが重要である。

【０００４】このため、図２６に示すように、従来は電
波暗室やオープンサイトで電子機器の電磁波を測定して
いる。図２６において、２６０１は被測定物である電子
機器、２６０２はアンテナである。

【０００５】このようなオープンサイトでは、電子機器
２６０１が放射する電磁波をアンテナ２６０２で受信す
ることにより、遠方での電界の周波数特性を測定するこ
とができる。従って、電子機器２６０１が放射する電磁
波を低減する対策を実行した場合、前記オープンサイト
での測定結果から対策の効果を確認することができる。

【０００６】また、近年、電子機器の動作時に放射され
る不要電磁波の測定において、従来より行われている図
２６に示すような電波暗室、オープンサイトにおける遠
方電磁界測定の他に、放射源の特定を行いやすいと思わ
れる近傍電磁界測定に対する要求が増えてきている。

【０００７】この要求に応える近傍電磁界測定装置とし
て従来、平面アレイ上に置かれた被測定対象の近傍電磁
界を測定するＥＭＳＣＡＮ（ＥＭＳＣＡＮＣＯＲＰＯ
ＲＡＴＩＯＮ）や被測定対象近傍の二次元平面を電磁界
プローブで走査するＥＭＩＳＳＩＯＮＳＵＰＥＲＶＩ
ＥＷＳＹＳＴＥＭ（ノイズ研）等が製品化されている
（特開平５−２６９３０号及び特公平５−６７１８４号
等）。

【０００８】図２５は、従来の近傍電磁界測定装置の構
成を示すブロック図であり、この近傍電磁界測定装置
は、復号器・ドライバー回路２５０１によって駆動され
るプローブ配列（ｐｒｏｂｅａｒｒａｙ）２５０２、
測定受信器２５０３、信号プロセッサー２５０４、制御
器２５０５及び視覚表示装置２５０６を有する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の近傍電磁界測定装置による測定は、被測定対象
がプリント基板単体等の小面積の平面形状に限られてし
まい、プリント基板間に接続されたケーブル、ケーブル
の接地線、電子機器筐体の開口部等の電子機器システム
に近い状態での測定は行えないという問題点があった。

【００１０】また、実際にケーブル等が接続されたプリ
ント基板が電子機器筐体に実装された状態とプリント基
板単体とでは、グラウンド条件が異なることにより不要
電磁波の放射メカニズムが異なり、上記近傍電磁界測定
装置による測定で得た近傍電磁界分布情報は、実際の電
子機器からの不要電磁波の近傍電磁界分布状態とは異な
ってしまい、電子機器が通常動作する状態での近傍電磁
界分布を測定することはできず、不要電磁波の放射源
（電磁波源）を推定することは困難であるという問題点
があった。

【００１１】また、１つのループを持つループ型磁界セ
ンサで磁界測定を行う場合、このループ型磁界センサは
ループ面に垂直に入射する磁界に対しては最大感度を持
つが、ループ面に平行に入射する磁界に対しては殆ど感
度を示さない。そのため１つのループ面を持つループ型
磁界センサで被測定平面の磁界の最も強い部分を探索す
る場合、ループ面の方向により被測定平面の磁界分布が
異なるため、少なくともループ面を互いに垂直方向に変
えて２回或いは３回測定する必要がある。そのためルー
プ型磁界センサを電子機器近傍で走査して測定を行う場
合、測定時間が多くかかってしまう。

【００１２】その一例を図１９〜図２４に示す。

【００１３】図１９及び図２２は、被測定物とループ型
磁界センサ走査による近傍磁界測定の様子を示す斜視
図、図２０及び図２３は、被測定物とループ型磁界セン
サ走査による近傍磁界測定の様子を示す平面図、図２１
及び図２４は、それぞれの近傍磁界分布状態を示す図で
ある。

【００１４】図１９、図２０及び図２２及び図２３にお
いて、１はループ型磁界センサである。また、図１９〜
図２４において、Ａは被測定物であり、該被測定物Ａ
は、筐体４と、２つの基板２ａ，２ｂと、これら基板２
ａ，２ｂ相互間を接続するケーブル３とから構成されて
いる。

【００１５】図１９〜図２１はループ型磁界センサ１の
ループ面１ａがＸ方向に、図２２〜図２４はループ型磁
界センサ１のループ面１ａがＹ方向にそれぞれ向いてい
る。

【００１６】それぞれの状態で被測定物Ａの近傍磁界分
布を測定すると、磁界強部分３ａ、磁界弱部分３ｂ及び
磁界無し部分３ｃとなり、磁界方向がループ面１ａに対
して平行な位置関係にある場合、磁界を検出できない。
そのため、実際には磁界が存在するにも拘らず、近傍磁
界分布として測定できない部分（図２１及び図２４にお
ける×印部分３ｃ）が発生してしまい、それぞれループ
型磁界センサ１のループ面１ａを変更して測定を繰り返
し行う必要があり、測定時間が長くなってしまう。

【００１７】また、上述した図１２に示すようなデータ
測定方法では、電子機器が放射している電磁波を測定で
きるので、その対策の効果を確認することができるが、
電磁波の放射原因や放射位置を特定することは困難であ
る。

【００１８】特に、複数の導電部材の内部の回路基板が
信号ケーブルで接続されている場合、その信号ケーブル
が放射する電磁波の特性は、複数の導電部材の配置や複
数の導電部材の接合部の強度に左右される。特に、導電
部材の接合強度が弱い部分がアンテナとして作用するこ
とがあり、導電部材の開口部がスロットアンテナとして
作用することがある。

【００１９】そこで、上述したように複数の導電部材の
内部の回路基板が信号ケーブルで接続された構造の電子
機器から電磁波が放射されている場合、複数の導電部材
の配置の変更、ケーブル配置の変更、回路基板上の部品
の変更、複数の導電部材の接合部強度の強化、導電部材
の開口部の遮断等の対策を実行することになる。

【００２０】しかし、実際の電磁波の放射位置はどこな
のか、どの対策により電子機器の状態がいかに変化する
か、どの対策がいかなる理由により有効なのか、電子機
器のどの動作モードでどの位置が問題になっているか等
を検証することができないため、電磁波の放射に対して
良好な効率で対策を実行することが困難である。

【００２１】本発明は上述した従来の技術の有するこの
ような問題点に鑑みてなされたものであり、その第１の
目的とするところは、不要電磁波の放射源を推定するこ
とができる磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置
を提供することにある。

【００２２】また、本発明の第２の目的とするところ
は、電磁波を放射する位置や原因を特定することがで
き、対策により電磁波の放射状態がいかに変化するかを
評価することができる電磁波源探索方法及び装置を提供
することにある。更に、本発明の第３の目的とするとこ
ろは、上述した本発明の磁界分布測定装置及び電磁波源
探索装置を制御するための制御プログラムを格納した記
憶媒体を提供することにある。

【００２３】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るため請求項１記載の磁界センサは、電磁波源の磁界を
測定する磁界センサであって、互いに垂直に配置されて
いる複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列
接続してなることを特徴とする。

【００２４】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサに
おいて、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを
特徴とする。

【００２５】また、上記第１の目的を達成するため請求
項３記載の磁界センサは、請求項１または２記載の磁界
センサにおいて、前記ループはケーブルにより構成され
ていることを特徴とする。

【００２６】また、上記第１の目的を達成するため請求
項４記載の磁界センサは、請求項３記載の磁界センサに
おいて、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであるこ
とを特徴とする。

【００２７】また、上記第１の目的を達成するため請求
項５記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサに
おいて、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とす
る。

【００２８】また、上記第１の目的を達成するため請求
項６記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサに
おいて、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体である
ことを特徴とする。

【００２９】また、上記第１の目的を達成するため請求
項７記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサに
おいて、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板である
ことを特徴とする。

【００３０】また、上記第１の目的を達成するため請求
項８記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサに
おいて、前記電磁波源は電子機器のケーブルであること
を特徴とする。

【００３１】また、上記第１の目的を達成するため請求
項９記載の磁界分布測定方法は、電磁波源の磁界分布を
測定する磁界分布測定方法であって、電磁波源の磁界を
測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆動する駆動
工程と、前記駆動工程を制御する制御工程と、前記磁界
センサの測定値を演算処理する演算工程と、測定結果を
表示する表示工程とを有することを特徴とする。

【００３２】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１０記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界
分布測定方法において、前記磁界センサは、互いに垂直
に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗
を介して並列接続してなることを特徴とする。

【００３３】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１１記載の磁界分布測定方法は、請求項１０記載の磁
界分布測定方法において、前記磁界センサは、それぞれ
のループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする。

【００３４】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１２記載の磁界分布測定方法は、請求項１０または１
１記載の磁界分布測定方法において、前記ループはケー
ブルにより構成されていることを特徴とする。

【００３５】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１３記載の磁界分布測定方法は、請求項１２記載の磁
界分布測定方法において、前記ケーブルはセミリジッド
ケーブルであることを特徴とする。

【００３６】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１４記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界
分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器である
ことを特徴とする。

【００３７】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１５記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界
分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器内部の
金属筐体であることを特徴とする。

【００３８】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１６記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界
分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器内部の
回路基板であることを特徴とする。

【００３９】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１７記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界
分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器のケー
ブルであることを特徴とする。

【００４０】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１８記載の磁界分布測定装置は、電磁波源の磁界分布
を測定する磁界分布測定装置であって、電磁波源の磁界
を測定する磁界測定手段と、前記磁界測定手段を前記電
磁波源近傍で駆動する駆動手段と、前記駆動手段を制御
する制御手段と、前記磁界測定手段の測定値を演算処理
する演算手段と、測定結果を表示する表示手段とを有す
ることを特徴とする。

【００４１】また、上記第１の目的を達成するため請求
項１９記載の磁界分布測定装置は、、請求項１８記載の
磁界分布測定装置において、前記磁界測定手段は、互い
に垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終
端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする。

【００４２】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２０記載の磁界分布測定装置は、請求項１９記載の磁
界分布測定装置において、前記それぞれのループ面に磁
性体を挿入したことを特徴とする。

【００４３】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２１記載の磁界分布測定装置は、請求項１９または２
０記載の磁界分布測定装置において、前記ループはケー
ブルにより構成されていることを特徴とする。

【００４４】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２２記載の磁界分布測定装置は、請求項２１記載の磁
界分布測定装置において、前記ケーブルはセミリジッド
ケーブルであることを特徴とする。

【００４５】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２３記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁
界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器であ
ることを特徴とする。

【００４６】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２４記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁
界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器内部
の金属筐体であることを特徴とする。

【００４７】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２５記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁
界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器内部
の回路基板であることを特徴とする。

【００４８】また、上記第１の目的を達成するため請求
項２６記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁
界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器のケ
ーブルであることを特徴とする。

【００４９】また、上記第２の目的を達成するため請求
項２７記載の電磁波源探索方法は、電磁波源の動作状態
を切り分けて制御する制御工程と、前記制御工程により
指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測
定するための電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍
において駆動する駆動工程と、前記電磁界センサからの
信号を受信する受信工程と、前記電磁界センサの測定値
を演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工
程とを有することを特徴とする。

【００５０】また、上記第２の目的を達成するため請求
項２８記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電
磁波源探索方法において、前記制御工程は、前記電磁波
源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或い
はそれらの複数の組み合わせで動作することを制御でき
ることを特徴とする。

【００５１】また、上記第２の目的を達成するため請求
項２９記載の電磁波源探索方法は、請求項２７または２
８記載の電磁波源探索方法において、前記制御工程は、
外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて
制御することを特徴とする。

【００５２】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３０記載の電磁波源探索方法は、請求項２９記載の電
磁波源探索方法において、前記情報処理装置はパーソナ
ルコンピュータであることを特徴とする。

【００５３】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３１記載の電磁波源探索方法は、請求項２７または２
８記載の電磁波源探索方法において、前記制御工程は、
前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体
により制御することを特徴とする。

【００５４】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３２記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒ
ｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを
特徴とする。

【００５５】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３３記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、フロッピー
ディスクであることを特徴とする。

【００５６】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３４記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ハードディ
スクであることを特徴とする。

【００５７】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３５記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、光ディスク
であることを特徴とする。

【００５８】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３６記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、光磁気ディ
スクであることを特徴とする。

【００５９】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３７記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙ
Ｍｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。

【００６０】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３８記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ
（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）
であることを特徴とする。

【００６１】また、上記第２の目的を達成するため請求
項３９記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、磁気テープ
であることを特徴とする。

【００６２】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４０記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、不揮発性メ
モリカードであることを特徴とする。

【００６３】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４１記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電
磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒ
ｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを
特徴とする。

【００６４】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４２記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８ま
たは３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波
源は電子機器であることを特徴とする。

【００６５】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４３記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８ま
たは３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波
源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。

【００６６】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４４記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８ま
たは３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波
源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。

【００６７】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４５記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８ま
たは３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波
源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。

【００６８】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４６記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電
磁波源探索方法において、前記駆動工程は、１つの電磁
界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する
ことを特徴とする。

【００６９】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４７記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電
磁波源探索方法において、前記駆動工程は、複数の電磁
界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する
ことを特徴とする。

【００７０】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４８記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電
磁波源探索方法において、前記駆動工程は、複数の電磁
界センサをアレイ状に並べたものを前記電磁波源の測定
面近傍において駆動することを特徴とする。

【００７１】また、上記第２の目的を達成するため請求
項４９記載の電磁波源探索装置は、電磁波源の動作状態
を切り分けて制御する制御手段と、前記制御手段により
指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測
定するための電磁界測定手段と、前記電磁界測定手段を
前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動手段
と、前記電磁界測定手段からの信号を受信する受信手段
と、前記電磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手
段と、測定結果を表示する表示手段とを有することを特
徴とする。

【００７２】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５０記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電
磁波源探索装置において、前記制御手段は、前記電磁波
源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或い
はそれらの複数の組み合わせで動作することを制御でき
ることを特徴とする。

【００７３】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５１記載の電磁波源探索装置は、請求項４９または５
０記載の電磁波源探索装置において、前記制御手段は、
外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて
制御することを特徴とする。

【００７４】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５２記載の電磁波源探索装置は、請求項５１記載の電
磁波源探索装置において、前記情報処理装置はパーソナ
ルコンピュータであることを特徴とする。

【００７５】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５３記載の電磁波源探索装置は、請求項４９または５
０記載の電磁波源探索装置において、前記制御手段は、
前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体
により制御することを特徴とする。

【００７６】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５４記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒ
ｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを
特徴とする。

【００７７】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５５記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、フロッピー
ディスクであることを特徴とする。

【００７８】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５６記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ハードディ
スクであることを特徴とする。

【００７９】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５７記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、光ディスク
であることを特徴とする。

【００８０】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５８記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、光磁気ディ
スクであることを特徴とする。

【００８１】また、上記第２の目的を達成するため請求
項５９記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙ
Ｍｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。

【００８２】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６０記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ
（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）
であることを特徴とする。

【００８３】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６１記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、磁気テープ
であることを特徴とする。

【００８４】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６２記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、不揮発性メ
モリカードであることを特徴とする。

【００８５】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６３記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電
磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒ
ｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを
特徴とする。

【００８６】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６４記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電
磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器であ
ることを特徴とする。

【００８７】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６５記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電
磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器内部
の金属筐体であることを特徴とする。

【００８８】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６６記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０ま
たは５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波
源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。

【００８９】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６７記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０ま
たは５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波
源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。

【００９０】また、上記第２の目的を達成するため請求
項６８記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０ま
たは５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁界
測定手段は電磁界センサであることを特徴とする。

【００９１】また、上記第３の目的を達成するため請求
項６９記載の記憶媒体は、電磁波源の磁界分布を測定す
る磁界分布測定装置を制御するための制御プログラムを
格納し且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読
み取り可能な記憶媒体であって、前記制御プログラム
は、電磁波源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波
源近傍で駆動する駆動モジュールと、前記駆動モジュー
ルを制御する制御モジュールと、前記磁界センサの測定
値を演算処理する演算モジュールと、測定結果を表示す
る表示モジュールとを有することを特徴とする。

【００９２】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７０記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体に
おいて、前記磁界センサは、互いに垂直に配置されてい
る複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接
続してなることを特徴とする。

【００９３】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７１記載の記憶媒体は、請求項７０記載の記憶媒体に
おいて、前記磁界センサは、それぞれのループ面に磁性
体を挿入したことを特徴とする。

【００９４】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７２記載の記憶媒体は、請求項７０または７１記載の
記憶媒体において、前記ループはケーブルにより構成さ
れていることを特徴とする。

【００９５】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７３記載の記憶媒体は、請求項７２記載の記憶媒体に
おいて、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであるこ
とを特徴とする。

【００９６】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７４記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体に
おいて、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とす
る。

【００９７】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７５記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体に
おいて、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体である
ことを特徴とする。

【００９８】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７６記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体に
おいて、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板である
ことを特徴とする。

【００９９】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７７記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体に
おいて、前記電磁波源は電子機器のケーブルであること
を特徴とする。

【０１００】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７８記載の記憶媒体は、電磁波放射源を特定する電磁
波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納し
且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り
可能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁
波源の動作状態を切り分けて制御する制御モジュール
と、前記制御モジュールにより指定された動作における
前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界セン
サを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動モ
ジュールと、前記電磁界センサからの信号を受信する受
信モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処理す
る演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジュー
ルとを有することを特徴とする。

【０１０１】また、上記第３の目的を達成するため請求
項７９記載の記憶媒体は、請求項７８記載の記憶媒体に
おいて、前記制御モジュールは、前記電磁波源を単一の
動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの
複数の組み合わせで動作することを制御できることを特
徴とする。

【０１０２】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８０記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の
記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器であること
を特徴とする。

【０１０３】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８１記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の
記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の金属
筐体であることを特徴とする。

【０１０４】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８２記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の
記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の回路
基板であることを特徴とする。

【０１０５】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８３記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の
記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器のケーブル
であることを特徴とする。

【０１０６】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８４記載の記憶媒体は、請求項７８記載の記憶媒体に
おいて、前記電磁界測定手段は電磁界センサであること
を特徴とする。

【０１０７】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８５記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、フロッピ
ーディスクであることを特徴とする。

【０１０８】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８６記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ハードデ
ィスクであることを特徴とする。

【０１０９】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８７記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、光ディス
クであることを特徴とする。

【０１１０】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８８記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、光磁気デ
ィスクであることを特徴とする。

【０１１１】また、上記第３の目的を達成するため請求
項８９記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ
ＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙ
Ｍｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。

【０１１２】また、上記第３の目的を達成するため請求
項９０記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ
（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）
であることを特徴とする。

【０１１３】また、上記第３の目的を達成するため請求
項９１記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、磁気テー
プであることを特徴とする。

【０１１４】また、上記第３の目的を達成するため請求
項９２記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、不揮発性
メモリカードであることを特徴とする。

【０１１５】更に、上記第３の目的を達成するため請求
項９３記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ
（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであるこ
とを特徴とする。

【０１１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
面に基づき説明する。

【０１１７】（第１の実施の形態）まず、本発明の第１
の実施の形態を図１〜図１０に基づき説明する。

【０１１８】図１は、本実施の形態に係る磁界分布測定
装置（近傍磁界分布測定装置）の構成を示す斜視図であ
る。同図において、１０１は近傍磁界分布測定部で、磁
界センサ１０２と、駆動部１０３と、測定受信機１０４
とにより構成されている。

【０１１９】磁界センサ１０２は後述する不要電磁波放
射源である電子機器の近傍磁界を測定するものである。
この磁界センサ１０２は図示のように１個に限られるも
のではなく、複数個であってもよい。

【０１２０】駆動部１０３は、磁界センサ１０２をＸＹ
Ｚ方向に走査するものである。駆動部１０３は、互いに
所定間隔を存して配置された水平アーム１０３ａ，１０
３ｂと、これら水平アーム１０３ａ，１０３ｂ相互間中
央部を接続する接続アーム１０３ｃと、この接続アーム
１０３ｃの上面に水平方向に移動可能に配設された垂直
アーム１０３ｄと、この垂直アーム１０３ｄの一側面に
上下方向に移動可能に配設された水平アーム１０３ｅ
と、この水平アーム１０３ｅの下面に水平方向に移動可
能に配設されたスライド部材１０３ｆとを有している。
このスライド部材１０３ｆに磁界センサ１０２が装着さ
れている。そして、垂直アーム１０３ｄ、垂直アーム１
０３ｄ、水平アーム１０３ｅ及びスライド部材１０３ｆ
を、図示しないモータ等により所定方向にそれぞれ移動
させることにより、磁界センサ１０２をＸＹＺ方向に走
査することができるものである。

【０１２１】測定受信機１０４は、磁界センサ１０２か
らの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若しくは
ベクトルネットワークアナライザ等により構成される。
このとき、磁界センサ１０２とスペクトラムアナライザ
若しくはベクトルネットワークアナライザとの間にアン
プを介装する場合もある。測定受信機１０４は、磁界セ
ンサ１０２及び後述するコントローラに電気的に接続さ
れている。

【０１２２】図１において、１０６は不要電磁波を放射
する電磁波源である電子機器のある部分での被測定物で
ある。この被測定物１０６は、筐体１０６ａと、２つの
基板１０６ｂ，１０６ｃと、これら基板１０６ｂ，１０
６ｃ相互間を接続するケーブル１０６ｄとから構成され
ている。

【０１２３】図２は、本実施の形態に係る磁界分布測定
装置の構成を示すブロック図であり、同図において図１
と同一部分には同一符号が付してある。

【０１２４】本実施の形態に係る磁界分布測定装置は、
図２に示すように、近傍磁界分布測定部１０１と、コン
トローラ１０７とからなる。コントローラ１０７は、演
算処理部１０８と、表示部１０９と、制御部１１０とか
ら構成されている。演算処理部１０８は、測定受信機１
０４からの測定データを演算処理するものである。表示
部１０９は、演算処理部１０８の演算結果から近傍磁界
分布状態を視覚化して表示するものである。制御部１１
０は、駆動部１０３を制御するものである。

【０１２５】尚、磁界センサ１０２の感度周波数依存等
の補正等は演算処理部１０８で行う。

【０１２６】図３は、本実施の形態に係る磁界センサ１
０２の構成を示す外観図である。同図に示すように磁界
センサ１０２は、セミリジッドケーブル３０１によって
形成され且つ互いに垂直に配置された同一特性の３つの
ループ面３０２，３０３，３０４から構成されていて、
そのループ同士は回路的に終端抵抗を介して、或いは直
接、分配器３０５によって並列接続されている。磁界セ
ンサ１０２の３つのループ面３０２〜３０４はそれぞれ
垂直に配置され、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界に対して
Ｘ面、Ｙ面、Ｚ面のループが最大の感度を持つ。

【０１２７】図４及び図５に、１つのループについての
外観を示す。両図に示すようにループはセミリジッドケ
ーブル３０１によって形成され、このセミリジッドケー
ブル３０１の内導体４０１により被測定物からの電界を
シールドしている。このとき、内導体４０１が磁界を検
出できるようにセミリジッドケーブル３０１の外導体４
０２の一部を剥離してある。

【０１２８】また、図４のように内導体４０１はスペク
トラムアナライザ、ベクトルネットワークアナライザ等
の測定器の出力インピーダンと整合をとるため、その出
力インピーダンスと同じ値の抵抗４０３で外導体４０２
に終端してもよい。また、図５に示すように内導体４０
１を直接、外導体４０２に接続してもよい。

【０１２９】図６及び図７に図３の構成を示す。両図に
おいて、磁界センサ１０２の等価回路は、磁界ループセ
ンサ部６０１と測定器６０２とから構成されている。ま
た、両図において、Ｌx，Ｌy，Ｌzは磁界ループセンサ
部６０１のＸ面ループ，Ｙ面ループ，Ｚ面ループそれぞ
れのインダクタンス、Ｖx，Ｖy，Ｖzは磁界ループセン
サ部６０１のＸ面ループ，Ｙ面ループ，Ｚ面ループそれ
ぞれの磁界により発生する起電力、Ｚoは測定器６０２
の出力インピーダンスである。

【０１３０】図６は、磁界ループセンサ部６０１のそれ
ぞれのループを測定器６０２の出力インピーダンスＺo
で終端している場合である。また、図７は、磁界ループ
センサ部６０１のそれぞれのループを直接、並列接続し
ている場合である。

【０１３１】また、本実施の形態に係る近傍磁界測定装
置は、記憶媒体に格納された制御プログラムをコンピュ
ータが読み出して実行することにより、上述した本実施
の形態の機能が実現されるものであるが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、前記制御プログラムの指示
に基づきコンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレー
ティングシステム）等の実際の処理の一部または全部を
行い、その処理によって上述した本実施の形態の機能が
実現される場合も含まれることは言うまでもない。

【０１３２】また、制御プログラムを格納する記憶媒体
としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディス
ク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏ
ｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏ
ｒｙ）、ＣＤ−Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃ
ｏｒｄａｂｌｅ）、磁気テープ、不揮発性メモリカー
ド、ＲＯＭチップ等を用いることができる。

【０１３３】以上詳述したように本実施の形態に係る磁
界センサ１０２によれば、３つのループ面３０２〜３０
４を持っているので、図１９〜図２４で示した１つのル
ープ面１ａを持つ従来の磁界センサ１と比較して、全て
の方向の近傍磁界を同時に検出できるため、電子機器の
近傍磁界測定のための磁界センサ１０２の走査が１回
で、電子機器の近傍磁界分布を測定できる。

【０１３４】また、本実施の形態に係る近傍磁界測定方
法及び装置によれば、電子機器の不要電磁波放射源であ
ると思われる任意の近傍平面を磁界センサ１０２で、駆
動部１０３により電子機器の近傍平面を走査し、電子機
器の近傍磁界分布を測定することにより、放射源を３次
元的に推定するものである。

【０１３５】上述したように電子機器の近傍磁界分布を
測定することにより、ケーブル等を含む電子機器のシス
テムとしての動作状態における不要電磁波放射源を推定
することができる。

【０１３６】（第２の実施の形態）次に、本発明の第２
の実施の形態を図８〜図１１に基づき説明する。

【０１３７】図８は、本実施の形態に係る磁界センサ１
０２ａの構成を示す外観図であり、同図において、上述
した第１の実施の形態の図３と同一部分には同一符号が
付してある。図８において図３と異なる点は、図３の構
成から第３のループ３０４を削除し、２つのループ面３
０２，３０３としたことである。これらループ面３０
２，３０３は互いに垂直に配置されて、ループ同士は回
路的に終端抵抗を介して、或いは直接、分配器３０５に
よって並列接続されている。

【０１３８】図９は、本実施の形態に係る磁界センサ１
０２ａによる電子機器の近傍磁界測定状況を示す斜視
図、図１０は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２に
よる電子機器の近傍磁界測定状況を示す平面図、図１１
は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａによる電子
機器の近傍磁界測定結果を示す図である。

【０１３９】本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａに
よれば、２つのループ面３０２，３０３を持っているの
で、図１１に示すようにケーブル１０６ｄの全ての部分
において磁界強となり、全ての方向の近傍磁界を同時に
検出できるため、電子機器の近傍磁界測定のための走査
を１回で、電子機器の近傍磁界分布を測定できる。

【０１４０】（第３の実施の形態）次に、本発明の第３
の実施の形態を図１２に基づき説明する。

【０１４１】図１２は、本実施の形態に係る磁界センサ
１０２ｂの構成を示す外観図であり、同図において、上
述した第２の実施の形態の図８と同一部分には同一符号
が付してある。図１２において図８と異なる点は、図８
の構成のループ面３０２，３０３に磁性体１２０１を挿
入したことである。

【０１４２】本実施の形態に係る磁界センサ１０２ｂに
よれば、ループ面３０２，３０３に磁性体１２０１を挿
入したことにより、ループ面３０２，３０３の透磁率が
高まることによって、ループ面３０２，３０３を貫く磁
界によってループ導体に発生する起電力を高くすること
ができ、磁界の検出感度を高めることができる。

【０１４３】尚、本実施の形態におけるその他の構成及
び効果は、上述した第２の実施の形態と同一であるか
ら、その説明は省略する。

【０１４４】（第４の実施の形態）次に、本発明の第４
の実施の形態を図１３〜図１７に基づき説明する。

【０１４５】図１３は、本実施の形態に係る電磁波源探
索装置における被測定物である電子機器とその近傍電磁
界分布を測定する近傍電磁界分布測定部の構成を示す斜
視図である。同図において、１３０１は不要電磁波を放
射する電子機器（電磁波源）である被測定物、１３０２
は近傍電磁界分布測定部で、被測定物１３０１の近傍電
磁界分布を測定するものである。

【０１４６】被測定物１３０１は、全ての面の近傍電磁
界が測定できる１つの例として回転台１３０３の上に搭
載されている。

【０１４７】近傍電磁界分布測定部１３０２は、電磁界
センサ１３０４と、駆動部１３０５と、測定受信機１３
０６とにより構成されている。電磁界センサ１３０４は
被測定物１３０１の近傍磁界及び電界を測定するもので
ある。この電磁界センサ１３０４は磁界測定時は磁界セ
ンサ、電界測定時には電界センサを使用する。また、電
磁界センサ１３０４は、ある面の近傍電磁界分布を求め
る場合、ある特定の方向の電磁界分布を求めるため、そ
の近傍電磁界分布測定面において３６０度可変である。
また、電磁界センサ１３０４は、図示のように１個に限
られるものではなく、複数個であってもよい。

【０１４８】駆動部１３０５は、電磁界センサ１０４を
電子機器近傍測定面において走査するものである。駆動
部１３０５は、互いに所定間隔を存して配置された水平
アーム１３０５ａ，１３０５ｂと、これら水平アーム１
３０５ａ，１３０５ｂ相互間中央部を接続する接続アー
ム１３０５ｃと、この接続アーム１３０５ｃの上面に水
平方向に移動可能に配設された垂直アーム１３０５ｄ
と、この垂直アーム１３０５ｄの一側面に上下方向に移
動可能に配設された水平アーム１３０５ｅとを有してい
る。この水平アーム１３０５ｅの先端部に電磁界センサ
１３０４が装着されている。そして、垂直アーム１３０
５ｄ、垂直アーム１３０５ｄ及び水平アーム１３０５ｅ
を、図示しないモータ等により所定方向にそれぞれ移動
させることにより、電磁界センサ１３０４を電子機器近
傍測定面において走査することができるものである。

【０１４９】測定受信機１３０６は、電磁界センサ１３
０４からの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若
しくはオシロスコープ等により構成される。このとき、
電磁界センサ１３０４とスペクトラムアナライザ若しく
はオシロスコープとの間にアンプユニットを介装する場
合もある。測定受信機１３０６は、電磁界センサ１３０
４及び後述するコントローラに電気的に接続されてい
る。

【０１５０】被測定物１３０１である電子機器は、単一
の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれら
の複数の組み合わせで動作することを制御できるように
電子機器に変更可能なＲＯＭ（リードオンリーメモリ）
が搭載されている。

【０１５１】次に、電子機器が単一の動作周波数、或い
は単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせ
で動作することを制御できるようにすることの電子機器
の電磁波源探索にもたらすメリットについて、図１４及
び図１５を用いて説明する。

【０１５２】図１４は、従来の電子機器からの不要電磁
波発生の様子を示す斜視図である。同図において、１４
０１は電子機器で、その内部には複数の回路基板１４０
２ａ，１４０２ｂ，１４０２ｃ，１４０２ｄ及びこれら
回路基板１４０２ａ〜１４０２ｄを電気的に接続するケ
ーブル１４０３が配置されている。この状態で様々な動
作モード、動作周波数で動作していると、特にケーブル
１４０３等の電磁波放射源になりやすい部分が数多く存
在しているので、あるケーブル１４０３が自らを流れて
いる信号に起因するディファレンシャルモードが主な原
因となって不要電磁波放射が発生しているのか、また、
近接するケーブル１４０３からの結合によって不要電磁
波放射が発生しているのか、或いはケーブル１４０３に
流れている信号が問題ではなく、回路基板１４０２ａ〜
１４０２ｄからのコモンモードノイズが原因となってい
るのか等、不要電磁波放射の原因及び発生箇所を特定す
ることが難しく、その対策を困難にしていた。

【０１５３】しかし、図１５に示すように、外部からパ
ソコン（パーソナルコンピュータ）１５０４で電子機器
１５０１内の１本のケーブル１５０３の信号のみが動作
するように制御できる場合、この状態で電子機器１５０
１の近傍電磁界分布を測定すると、そのケーブル１５０
３のみが電磁波放射源になっているか、或いは隣接する
ケーブルが結合により新たな電磁波放射源になっている
か、また、回路基板１５０２ａ〜１５０２ｄからのコモ
ンモードノイズが動作していないケーブルや回路基板１
５０２ａ〜１５０２ｄにのっていないか等の不要電磁波
放射の原因を用意に判別でき、良好な効率で対策を行う
ことができる。この電子機器の制御は図１５のようにパ
ソコン１５０４を使って行ってもよく、また、パソコン
１５０４を使わずに電子機器１５０１の内部ＲＯＭ（リ
ードオンリーメモリ）等から制御を行ってもよい。ま
た、電子機器１５０１の近傍電磁界分布を測定する電磁
波源探索装置の演算処理部や制御部から制御を行い、同
期をとって測定を行い、演算処理部により解析を行い、
その測定結果を表示部に表示するようにしてもよい。

【０１５４】図１６は、本実施の形態に係る電磁波源探
索装置の構成を示すブロック図であり、同図において、
図１３と同一部分には同一符号が付してある。

【０１５５】この図１６に示す電磁波源探索装置は、近
傍電磁界分布測定部１３０２とコントローラ１６０１と
で構成されている。コントローラ１６０１は演算処理部
１６０２と、表示部１６０３と、制御部１６０４とから
構成されている。演算処理部１６０２は、近傍電磁界分
布測定部１３０２の測定受信機１３０６からの測定デー
タを演算処理するものである。表示部１６０３は、演算
処理部１６０２の演算処理結果から近傍電磁界分布を視
覚化するように表示するものである。制御部１６０４
は、近傍電磁界分布測定部１３０２の駆動部１３０５を
制御するものである。電磁界センサ１３０４の構成係数
や周波数の補正等は演算処理部１６０２で行う。また、
被測定物１３０１である電子機器は、外部のパソコン或
いは内部ＲＯＭ等の制御手段１６０５により制御され、
単一の動作周波数或いは単一の動作モード或いはそれら
の複数の組み合わせで動作する。

【０１５６】図１７は、本実施の形態に係る電磁波源探
索装置の図１６とは異なる構成を示すブロック図であ
り、同図において、図１６と同一部分には同一符号が付
してある。

【０１５７】図１７において図１６と異なる部分は、図
１６の構成から制御手段１６０５を削除し、コントロー
ラ１６０１の制御部１６０４によって近傍電磁界分布測
定部１３０２の駆動部１３０５や被測定物１３０１であ
る電子機器を単一の動作周波数或いは単一の動作モード
或いはそれらの複数の組み合わせで動作するように制御
するようにしたことである。電磁界センサ１３０４の構
成係数や周波数の補正等は演算処理部１６０２で行う。
また、演算処理部１６０２に解析機能を持たせ、電子機
器の動作状態と不要電磁波放射源の情報とを一致付けて
近傍電磁界分布を表示部１６０３により視覚化するよう
に表示することも可能としている。

【０１５８】また、本実施の形態に係る電磁波源探索装
置は、記憶媒体に格納された制御プログラムをコンピュ
ータが読み出して実行することにより、上述した本実施
の形態の機能が実現されるものであるが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、前記制御プログラムの指示
に基づきコンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレー
ティングシステム）等の実際の処理の一部または全部を
行い、その処理によって上述した本実施の形態の機能が
実現される場合も含まれることは言うまでもない。

【０１５９】また、制御プログラムを格納する記憶媒体
としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディス
ク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏ
ｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏ
ｒｙ）、ＣＤ−Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃ
ｏｒｄａｂｌｅ）、磁気テープ、不揮発性メモリカー
ド、ＲＯＭチップ等を用いることができる。

【０１６０】以上のように本実施の形態に係る電磁波源
探索方法及び装置によれば、電子機器の近傍電磁界分布
を測定することが可能となり、電子機器の不要電磁波放
射源や不要電磁波発生原因の特定が容易になり、不要電
磁波の放射を良好な効率で対策することができるもので
ある。

【０１６１】（第５の実施の形態）次に、本発明の第５
の実施の形態を図１８に基づき説明する。

【０１６２】図１３は、本実施の形態に係る電磁波源探
索装置における被測定物である電子機器とその近傍電磁
界分布を測定する近傍電磁界分布測定部の構成を示す斜
視図である。同図において、図１３と同一部分には同一
符号が付してある。

【０１６３】本実施の形態に係る近傍電磁界分布測定部
１３０２ａは、アレイ状に配置された複数の電磁界セン
サ１８０１と、この電磁界センサ１８０１からの信号を
測定する測定受信機１３０６とから構成されている。

【０１６４】測定受信機１３０６は、電磁界センサ１８
０１からの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若
しくはオシロスコープにより構成される。このとき、電
磁界センサ１８０１とスペクトラムアナライザ若しくは
オシロスコープとの間にアンプユニットを介装する場合
もある。

【０１６５】本実施の形態に係る電磁波源探索装置は、
上述した近傍電磁界分布測定部１３０２ａと図示しない
コントローラとにより構成されている。このコントロー
ラは、測定値を演算処理する演算処理部と、測定結果を
視覚化するように表示する表示部とから構成されてい
る。

【０１６６】被測定物１３０１である電子機器には、単
一の動作周波数或いは単一の動作モード或いはそれらの
複数の組み合わせで動作することを制御できるように、
変更可能なＲＯＭ（リードオンリーメモリ）が搭載され
ている。

【０１６７】尚、本実施の形態におけるその他の構成及
び効果は、上述した第４の実施の形態と同一であるか
ら、その説明は省略する。

【０１６８】

【発明の効果】以上詳述したように本発明の磁界センサ
並びに磁界分布測定方法及び装置によれば、ケーブルを
含む電子機器のシステムとしての動作状態において、近
傍磁界分布測定が可能であり、電子機器の不要電磁波放
射源を推定することができる。

【０１６９】また、本発明の電磁波源探索方法及び装置
によれば、被測定物である電子機器のそれぞれの動作状
態を切り分けて、前記電子機器の近傍電磁界分布を測定
することが可能になり、電子機器の不要電磁波放射源や
不要電磁波発生原因の特定が容易になり、不要電磁波の
放射を良好な効率で対策することができる。

【０１７０】更に、本発明の記憶媒体によれば、上述し
た本発明の磁界分布測定装置及び電磁波源探索装置を円
滑に制御することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における被測定物と近傍磁界分布測定部の構成を示
す斜視図である。

【図２】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置の構成を示すブロック図である。

【図３】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの構成を示す外観図である。

【図４】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの１つのループについての構成
を示す外観図である。

【図５】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの１つのループについての図４
とは異なる構成を示す外観図である。

【図６】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの等価回路の構成を示す図であ
る。

【図７】本発明の第１の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの等価回路の図６とは異なる構
成を示す図である。

【図８】本発明の第２の実施の形態に係る磁界分布測定
装置における磁界センサの構成を示す外観図である。

【図９】本発明の第２の実施の形態に係る磁界分布測定
装置の測定状態を示す斜視図である。

【図１０】本発明の第２の実施の形態に係る磁界分布測
定装置の測定状態を示す平面図である。

【図１１】本発明の第２の実施の形態に係る磁界分布測
定装置の測定結果を示す図である。

【図１２】本発明の第３の実施の形態に係る磁界分布測
定装置における磁界センサの構成を示す外観図である。

【図１３】本発明の第４の実施の形態に係る電磁波源探
索装置における被測定物と近傍磁界分布測定部の構成を
示す斜視図である。

【図１４】従来の電子機器からの不要電磁波発生の様子
を示す斜視図である。

【図１５】本発明の第４の実施の形態に係る電磁波源探
索装置における電子機器からの不要電磁波発生の様子を
示す斜視図である。

【図１６】本発明の第４の実施の形態に係る電磁波源探
索装置の構成を示すブロック図である。

【図１７】本発明の第４の実施の形態に係る電磁波源探
索装置の図１６とは異なる構成を示すブロック図であ
る。

【図１８】本発明の第５の実施の形態に係る電磁波源探
索装置における被測定物と近傍磁界分布測定部の構成を
示す斜視図である。

【図１９】従来の磁界分布測定装置の測定状態を示す斜
視図である。

【図２０】図１９に示す従来の磁界分布測定装置の測定
状態を示す平面図である。

【図２１】図１９に示す従来の磁界分布測定装置の測定
結果を示す図である。

【図２２】図１９とは異なる従来の磁界分布測定装置の
測定状態を示す斜視図である。

【図２３】図２２に示す従来の磁界分布測定装置の測定
状態を示す平面図である。

【図２４】図２２に示す従来の磁界分布測定装置の測定
結果を示す図である。

【図２５】従来の磁界分布測定装置の構成を示す図であ
る。

【図２６】従来の放射ノイズ測定方法を説明するための
図である。

【符号の説明】

１０１近傍磁界分布測定部１０２磁界センサ１０２ａ磁界センサ１０２ｂ磁界センサ１０３駆動部１０３ａ水平アーム１０３ｂ水平アーム１０３ｃ接続アーム１０３ｄ垂直アーム１０３ｅ水平アーム１０３ｆスライド部材１０３ｆ１０４測定受信機１０６被測定物（電磁波源、電子機器）１０６ａ筐体１０６ｂ基板１０６ｃ基板１０６ｄケーブル１０７コントローラ１０８演算処理部１０９表示部１１０制御部３０１セミリジッドケーブル３０２ループ面３０３ループ面３０４ループ面３０５分配器４０１内導体４０２外導体４０３抵抗６０１磁界ループセンサ部６０２測定器１２０１磁性体１３０１被測定物（電磁波源、電子機器）１３０２近傍電磁界分布測定部１３０３回転台１３０４電磁界センサ１３０５駆動部１３０６測定受信機１３０５ａ水平アーム１３０５ｂ水平アーム１３０５ｃ接続アーム１３０５ｄ垂直アーム１３０５ｅ水平アーム１３０６測定受信機１４０１被測定物（電磁波源、電子機器）１４０２ａ回路基板１４０２ｂ回路基板１４０２ｃ回路基板１４０２ｄ回路基板１４０３ケーブル１５０１被測定物（電磁波源、電子機器）１５０２ａ回路基板１５０２ｂ回路基板１５０２ｃ回路基板１５０２ｄ回路基板１５０３ケーブル１５０４パソコン（パーソナルコンピュータ）１６０１コントローラ１６０２演算処理部１６０３表示部１６０４制御部１６０５制御手段１８０１電磁界センサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電磁波源の磁界を測定する磁界センサで
あって、互いに垂直に配置されている複数の同一特性の
ループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特
徴とする磁界センサ。
【請求項２】それぞれのループ面に磁性体を挿入した
ことを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項３】前記ループはケーブルにより構成されて
いることを特徴とする請求項１または２記載の磁界セン
サ。
【請求項４】前記ケーブルはセミリジッドケーブルで
あることを特徴とする請求項３記載の磁界センサ。
【請求項５】前記電磁波源は電子機器であることを特
徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項６】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体
であることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項７】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板
であることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項８】前記電磁波源は電子機器のケーブルであ
ることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項９】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布
測定方法であって、電磁波源の磁界を測定する磁界セン
サを前記電磁波源近傍で駆動する駆動工程と、前記駆動
工程を制御する制御工程と、前記磁界センサの測定値を
演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工程
とを有することを特徴とする磁界分布測定方法。
【請求項１０】前記磁界センサは、互いに垂直に配置
されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介し
て並列接続してなることを特徴とする請求項９記載の磁
界分布測定方法。
【請求項１１】前記磁界センサは、それぞれのループ
面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項１０記載
の磁界分布測定方法。
【請求項１２】前記ループはケーブルにより構成され
ていることを特徴とする請求項１０または１１記載の磁
界分布測定方法。
【請求項１３】前記ケーブルはセミリジッドケーブル
であることを特徴とする請求項１２記載の磁界分布測定
方法。
【請求項１４】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定
方法。
【請求項１６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定
方法。
【請求項１７】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方
法。
【請求項１８】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分
布測定装置であって、電磁波源の磁界を測定する磁界測
定手段と、前記磁界測定手段を前記電磁波源近傍で駆動
する駆動手段と、前記駆動手段を制御する制御手段と、
前記磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手段と、
測定結果を表示する表示手段とを有することを特徴とす
る磁界分布測定装置。
【請求項１９】前記磁界測定手段は、互いに垂直に配
置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介
して並列接続してなることを特徴とする請求項１８記載
の磁界分布測定装置。
【請求項２０】前記それぞれのループ面に磁性体を挿
入したことを特徴とする請求項１９記載の磁界分布測定
装置。
【請求項２１】前記ループはケーブルにより構成され
ていることを特徴とする請求項１９または２０記載の磁
界分布測定装置。
【請求項２２】前記ケーブルはセミリジッドケーブル
であることを特徴とする請求項２１記載の磁界分布測定
装置。
【請求項２３】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２４】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測
定装置。
【請求項２５】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測
定装置。
【請求項２６】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装
置。
【請求項２７】電磁波源の動作状態を切り分けて制御
する制御工程と、前記制御工程により指定された動作に
おける前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁
界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する
駆動工程と、前記電磁界センサからの信号を受信する受
信工程と、前記電磁界センサの測定値を演算処理する演
算工程と、測定結果を表示する表示工程とを有すること
を特徴とする電磁波源探索方法。
【請求項２８】前記制御工程は、前記電磁波源を単一
の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれら
の複数の組み合わせで動作することを制御できることを
特徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項２９】前記制御工程は、外部からプログラム
で制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴
とする請求項２７または２８記載の電磁波源探索方法。
【請求項３０】前記情報処理装置はパーソナルコンピ
ュータであることを特徴とする請求項２９記載の電磁波
源探索方法。
【請求項３１】前記制御工程は、前記電磁波源内部で
制御プログラムを格納した記憶媒体により制御すること
を特徴とする請求項２７または２８記載の電磁波源探索
方法。
【請求項３２】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とす
る請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３３】前記記憶媒体は、フロッピーディスク
であることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索
方法。
【請求項３４】前記記憶媒体は、ハードディスクであ
ることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方
法。
【請求項３５】前記記憶媒体は、光ディスクであるこ
とを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３６】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであ
ることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方
法。
【請求項３７】前記記憶媒体は、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏ
ｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏ
ｒｙ）であることを特徴とする請求項３１記載の電磁波
源探索方法。
【請求項３８】前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐ
ａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを
特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３９】前記記憶媒体は、磁気テープであるこ
とを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４０】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカー
ドであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探
索方法。
【請求項４１】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とす
る請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４２】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項２７，２８または３１記載の電磁波源
探索方法。
【請求項４３】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項２７，２８または３１
記載の電磁波源探索方法。
【請求項４４】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項２７，２８または３１
記載の電磁波源探索方法。
【請求項４５】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項請求項２７，２８または３
１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４６】前記駆動工程は、１つの電磁界センサ
を前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特
徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項４７】前記駆動工程は、複数の電磁界センサ
を前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特
徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項４８】前記駆動工程は、複数の電磁界センサ
をアレイ状に並べたものを前記電磁波源の測定面近傍に
おいて駆動することを特徴とする請求項２７記載の電磁
波源探索方法。
【請求項４９】電磁波源の動作状態を切り分けて制御
する制御手段と、前記制御手段により指定された動作に
おける前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁
界測定手段と、前記電磁界測定手段を前記電磁波源の測
定面近傍において駆動する駆動手段と、前記電磁界測定
手段からの信号を受信する受信手段と、前記電磁界測定
手段の測定値を演算処理する演算手段と、測定結果を表
示する表示手段とを有することを特徴とする電磁波源探
索装置。
【請求項５０】前記制御手段は、前記電磁波源を単一
の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれら
の複数の組み合わせで動作することを制御できることを
特徴とする請求項４９記載の電磁波源探索装置。
【請求項５１】前記制御手段は、外部からプログラム
で制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴
とする請求項４９または５０記載の電磁波源探索装置。
【請求項５２】前記情報処理装置はパーソナルコンピ
ュータであることを特徴とする請求項５１記載の電磁波
源探索装置。
【請求項５３】前記制御手段は、前記電磁波源内部で
制御プログラムを格納した記憶媒体により制御すること
を特徴とする請求項４９または５０記載の電磁波源探索
装置。
【請求項５４】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とす
る請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５５】前記記憶媒体は、フロッピーディスク
であることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索
装置。
【請求項５６】前記記憶媒体は、ハードディスクであ
ることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装
置。
【請求項５７】前記記憶媒体は、光ディスクであるこ
とを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５８】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであ
ることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装
置。
【請求項５９】前記記憶媒体は、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏ
ｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏ
ｒｙ）であることを特徴とする請求項５３記載の電磁波
源探索装置。
【請求項６０】前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐ
ａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを
特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６１】前記記憶媒体は、磁気テープであるこ
とを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６２】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカー
ドであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探
索装置。
【請求項６３】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とす
る請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６４】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項４９記載の磁界分布測定装置。
【請求項６５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項４９記載の電磁波源探
索装置。
【請求項６６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項４９，５０または５３
記載の電磁波源探索装置。
【請求項６７】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項４９，５０または５３記載
の電磁波源探索装置。
【請求項６８】前記電磁界測定手段は電磁界センサで
あることを特徴とする請求項４９，５０または５３記載
の電磁波源探索装置。
【請求項６９】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分
布測定装置を制御するための制御プログラムを格納し且
つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り可
能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波
源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆
動する駆動モジュールと、前記駆動モジュールを制御す
る制御モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処
理する演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジ
ュールとを有することを特徴とする記憶媒体。
【請求項７０】前記磁界センサは、互いに垂直に配置
されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介し
て並列接続してなることを特徴とする請求項６９記載の
記憶媒体。
【請求項７１】前記磁界センサは、それぞれのループ
面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項７０記載
の記憶媒体。
【請求項７２】前記ループはケーブルにより構成され
ていることを特徴とする請求項７０または７１記載の記
憶媒体。
【請求項７３】前記ケーブルはセミリジッドケーブル
であることを特徴とする請求項７２記載の記憶媒体。
【請求項７４】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７７】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項請求項６９記載の記憶媒
体。
【請求項７８】電磁波放射源を特定する電磁波源探索
装置を制御するための制御プログラムを格納し且つ情報
読取装置により前記制御プログラムを読み取り可能な記
憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波源の動
作状態を切り分けて制御する制御モジュールと、前記制
御モジュールにより指定された動作における前記電磁波
源の電磁界分布を測定するための電磁界センサを前記電
磁波源の測定面近傍において駆動する駆動モジュール
と、前記電磁界センサからの信号を受信する受信モジュ
ールと、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算モ
ジュールと、測定結果を表示する表示モジュールとを有
することを特徴とする記憶媒体。
【請求項７９】前記制御モジュールは、前記電磁波源
を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いは
それらの複数の組み合わせで動作することを制御できる
ことを特徴とする請求項７８記載の記憶媒体。
【請求項８０】前記電磁波源は電子機器であることを
特徴とする請求項７８または７９記載の記憶媒体。
【請求項８１】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐
体であることを特徴とする請求項７８または７９記載の
記憶媒体。
【請求項８２】前記電磁波源は電子機器内部の回路基
板であることを特徴とする請求項７８または７９記載の
記憶媒体。
【請求項８３】前記電磁波源は電子機器のケーブルで
あることを特徴とする請求項請求項７８または７９記載
の記憶媒体。
【請求項８４】前記電磁界測定手段は電磁界センサで
あることを特徴とする請求項７８記載の記憶媒体。
【請求項８５】前記記憶媒体は、フロッピーディスク
であることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４
記載の記憶媒体。
【請求項８６】前記記憶媒体は、ハードディスクであ
ることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載
の記憶媒体。
【請求項８７】前記記憶媒体は、光ディスクであるこ
とを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記
憶媒体。
【請求項８８】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであ
ることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載
の記憶媒体。
【請求項８９】前記記憶媒体は、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏ
ｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏ
ｒｙ）であることを特徴とする請求項６９乃至８３また
は８４記載の記憶媒体。
【請求項９０】前記記憶媒体は、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐ
ａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを
特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒
体。
【請求項９１】前記記憶媒体は、磁気テープであるこ
とを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記
憶媒体。
【請求項９２】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカー
ドであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８
４記載の記憶媒体。
【請求項９３】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とす
る請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。