JP2001194396A - プリント基板のインピーダンス測定用プロービング装置 - Google Patents

プリント基板のインピーダンス測定用プロービング装置

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JP2001194396A
JP2001194396A JP2000001610A JP2000001610A JP2001194396A JP 2001194396 A JP2001194396 A JP 2001194396A JP 2000001610 A JP2000001610 A JP 2000001610A JP 2000001610 A JP2000001610 A JP 2000001610A JP 2001194396 A JP2001194396 A JP 2001194396A
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probe
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bridge
slider
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JP2000001610A
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English (en)
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Akira Kawasaki
亮 河崎
Masaaki Shiwa
正章 志和
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ONISHI DENSHI KK
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ONISHI DENSHI KK
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プローブピンのプリント基板の測定ポイント
に対する接触状態を一定にして、インピーダンスの測定
能率をアップする。 【解決手段】 装置ベース11の上方に、前部に欠落部
13を有する測定ベース12と、測定ベース12にコイ
ルばね16を介して支持した、前部に欠落部15を有す
る基板支持板14と、クランク型プレス機構25を介し
て上下動可能な基板加圧板17を設置する一方、装置ベ
ース11の前部上に、左右一対の前後リニアウエイ31
を設け、その上に、スライダ33付きブリッジ台33を
介して、左右リニアウエイ37付きのブリッジ32を前
後に移動可能に支持し、左右リニアウエイ37上に、ス
ライダ39付きプローブ台38を介して、プローブピン
43が測定ベース12の所属面上に臨むプローブユニッ
ト42を、左右に移動可能に設置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント基板
(配線板)に設けるテストパターン(テストクーポン)
部のインピーダンスをタイム・ドメイン・リフレクトメ
トリ(TDR)方式で測定するために、プローブの先端
部(プローブピン)をテストパターン部の測定ポイント
(一般にはグランド端子と信号端子)に接触させるプロ
ービング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来においては、この種のプロービング
は、手持ち型(ハンディ型)の高周波プローブユニット
(プローブホルダ)による手操作(手動)方式で行われ
ている。
【0003】しかしこのような手操作のプロービング方
式には、プローブの先端部の測定ポイントに対する接触
状態が一定にならず、測定精度を上げるためには、各測
定ポイントについて数回以上の測定を行い、それらの平
均値を測定値として採用するという形態を取らざるを得
ない状況にある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記のよ
うな状況に鑑み、プローブの先端部のプリント基板の各
測定ポイントに対する接触状態を一定にして、インピー
ダンスの測定能率をアップすることを課題としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係るプロービ
ング装置は、装置ベースの上方部に、前部に左右にのび
る欠落部を有する測定ベースを設置し、該測定ベース上
に、測定ベースの欠落部と整合する欠落部を有する基板
支持板を弾性体を介して支持するとともに、該測定ベー
スの上方部に、プレス(加圧)機構を介して昇降可能で
かつ下降時に基板支持板に支持したプリント基板を基板
支持板と共に測定ベースに向かって押圧可能な基板加圧
(押圧)板を設置し、さらに測定ベース及び基板支持板
の欠落部の下方部及びその隣接部を含む装置ベースの前
部上に、左右の両端部近傍を前後に平行にのびる左右一
対の前後リニアウエイ(ガイドレール)を設置し、該両
前後リニアウエイに、各端部に各前後リニアウエイにス
ライド係合するスライダを有するブリッジ台を備えると
ともに両ブリッジ台間を左右にのびる左右リニアウエイ
付きのブリッジを、測定ベースと基板支持板の欠落部の
下方部を前後に移動可能に支持し、さらにブリッジの左
右リニアウエイに、該左右リニアウエイにスライド係合
するスライダを有する少なくとも一台のプローブ台を、
測定ベースの欠落部対応部を左右に移動可能に支持し、
かつプローブ台に、先端が、測定ベースの欠落部を通し
てプリント基板の測定ポイントに接触可能に突出する複
数のプローブを有する高周波プローブユニットを取り付
ける構成からなる。
【0006】この発明のプロービング装置においては、
基板支持板上に、インピーダンス測定用プリント基板
を、そのテストクーポン部が基板支持板及び測定ベース
の欠落部に対応するように設置した後、ブリッジ台の前
後リニアウエイに沿う前後方向の移動と、プローブ台の
ブリッジの左右リニアウエイに沿う左右方向の移動を介
して、高周波プローブユニットを移動することによっ
て、又はこの逆の操作或いは並行的な操作によって、プ
リント基板のテストクーポンの測定ポイント(一般には
グランド端子と信号端子)とプローブユニットにおける
複数のプローブ(一般にはグランド端子用と信号端子
用)、従ってそのプローブピンが上下において整合する
状態にした後、プレス機構による駆動を介して、基板加
圧板を下降して、基板支持板上のプリント基板を基板支
持板とともに弾性体の作用力に抗して下方に押圧して、
各プローブピンをプリント基板の測定ポイントに接触さ
せて、インピーダンスの測定を行う。
【0007】ブリッジ台のスライダとプローブ台のスラ
イダには、プローブユニットとプリント基板との間の整
合状態、すなわち前者の後者に対する位置決め状態を堅
持するために、前後と左右のリニアウエイに対するスラ
イドを制止するためのクランプを付設することができ、
このクランプとしては、クランプねじ類を有するスプリ
ット付きのストラドル形などを用いることができる。
【0008】静電気対策(帯電防止)のために、装置ベ
ース、測定ベース、基板支持板はアルミニウム板類な
ど、基板加圧板は熱可塑性強化ポリエステル系コンポジ
ットボード類などの帯電防止材料ないし電気絶縁材料で
形成する。
【0009】プリント基板とプローブユニットとの間の
位置決めを迅速に行うために、プローブ台とプリント基
板のそれぞれに、ばね外方(前進又は伸長)付勢式位置
決めピンと位置決め穴を設けることができる。
【0010】基板押圧板を昇降駆動するためのプレス機
構は、リンク機構付きのクランク型などで構成すること
ができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて、この発明の
プロービング装置の実施形態を説明する。
【0012】図示した実施形態においては、装置ベース
11と測定ベース12及び基板支持板14は、それぞれ
方形のアルミニウム板と前部に欠落部13、15を有す
る方形のアルミニウム板、基板加圧板17は、方形の熱
可塑性強化ポリエステル電気絶縁ボードで形成されてい
る。
【0013】基板支持板14は、測定ベース12上にコ
イルばね16を介して弾性的に支持されている一方、基
板加圧板17は、方形の加圧板取り付け板18を介し
て、左右一対の側枠20と両側枠20の後部間をのびる
とともに両端部に左右一対のガイドブッシュ22を有す
る後枠21からなる加圧板取り付け枠19に固定されて
おり、左右一対のガイドブッシュ22の装置ベース11
から立ち上がる左右一対の縦ガイド軸23に沿うスライ
ドによって、基板支持板14上を上下に移動するように
なっているとともに、先端部を加圧板取り付け枠19の
側枠20の中間部に枢着しかつ中間部を揺動リンク27
を介して装置の側壁(図示せず)に枢支した屈曲形レバ
ーリンク26と、一端部をレバーリンク26の後端部に
枢着した連結リンク28と、先端部を連結リンク28の
他端部に枢着したクランクアーム29及びクランクアー
ム29の基端部を固定したクランク軸(主軸)30を含
む左右一対のクランク型プレス機構25によって、上下
に昇降駆動されるようになっている。
【0014】また装置ベース11の前部上に設けた左右
一対の前後リニアウエイ31にスライド係合するブリッ
ジ32の両ブリッジ台33の下部のスライダ34に付設
のクランプ35と、ブリッジ32上に設けた左右リニア
ウエイ37にスライド係合するプローブ台38の下部の
スライダ39に付設のクランプ40は、いずれもクラン
プねじ36、41を有するスプリット付きのストラドル
形で、クランプねじ36、41の操作によって、前後と
左右のリニアウエイ31、37に対する締付け、締付け
解除を行う。
【0015】プローブ台38上の各高周波プローブユニ
ット42は、グランド用と信号用のプローブの先端部、
すなわちばね外方(前進)付勢式のプローブピン43
が、測定ベース12の表面の所属面を僅かに越えて上方
に突出するように設置してあり、またこのプローブユニ
ット42に隣接するプローブ台38の上部には、基板支
持板13の表面の所属面を超えて上方に突出するばね外
方付勢式の位置決めピン44が付設してある。
【0016】この実施形態によってインピーダンスの測
定を行う際には、例えば、それぞれテストクーポン部の
左右二箇所に、位置決め穴とグランド端子、信号端子を
隣接して設けたプリント基板45を、基板支持板14上
に、テストクーポン部が欠落部15上に位置する状態に
仮置きするなどの方式で、位置決め穴が占める位置を確
認しながら、プローブ台38を、ブリッジ台33の前後
方向の移動とプローブ台38自体の左右方向の移動を介
して、位置決めピン44が確認した位置決め穴に対向す
る位置に移動し、クランプねじ36、41の締付け操作
を介して、移動不能に固定した後、プリント基板45
を、位置決め穴に対する位置決めピン44の挿入状態
で、基板支持板14上に設置し、これによりテストクー
ポン部の左右のグランド端子と信号端子を、左右のプロ
ーブユニット42のグランド用と信号用のプローブピン
43に対向させる。
【0017】次いでクランク型プレス機構25を介し
て、基板加圧板17と加圧板取り付け板18付きの加圧
板取り付け枠19を下降して、基板加圧板17により、
位置決めピン44を収縮させながら、プリント基板45
と基板支持板14をコイルばね16を圧縮しながら加圧
して、測定ベース12上に押圧する。これによりプリン
ト基板45のテストクーポン部のグランド端子、シグナ
ル端子に、対向するプローブピン43が接触するプロー
ビング状態になり、インピーダンスが測定可能となる。
【0018】インピーダンスの測定完了後は、クランク
型プレス機構25を介して加圧板取り付け枠19、従っ
て基板加圧板17をその上限位置まで上昇させる。これ
によりプリント基板45を支持している基板支持板14
がコイルばね16の作用で測定ベース12上における弾
性支持状態まで復帰し、プロービング状態は自動的に解
除される。
【0019】この発明のプロービング装置は、このほ
か、プローブ台を一台或いは三台以上左右リニアウエイ
上に支持したり、プローブ台に、例えば位置決めピンに
隣接して、プリント基板の平行を保持するための基板支
持ピンを設けるなど、種々の形態で実施することができ
るもので、図示の形態に限定されるものではない。
【0020】
【発明の効果】この発明のプロービング装置によれば、
測定ベースに弾性支持したプリント基板におけるテスト
クーポン部の測定ポイントに、高周波プローブユニット
の前後、左右方向の移動を介して、プローブ、従ってプ
ローブピンを位置決め状態において、プレス機構による
基板加圧板の下降を介して、プリント基板の測定ポイン
トをプローブピンに押圧するので、プローブピンのプリ
ント基板の測定ポイントに対する接触状態として常に実
質上一定したものが得られる。従ってインピーダンスの
測定を高能率で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るプロービング装置の一実施形態
の要部の概略正面図である。
【図2】図1に示す実施形態の要部の概略側面図であ
る。
【図3】図1に示す実施形態の要部の概略平面図であ
る。
【図4】図2の部分拡大図である。
【符号の説明】
11 装置ベース 12 測定ベース 13 欠落部 14 基板支持板 15 欠落部 16 コイルばね 17 基板加圧板 18 加圧板取り付け板 19 加圧板取り付け枠 20 側枠 21 後枠 22 スライドブッシュ 23 縦ガイド軸 25 クランク型プレス機構 26 屈曲形レバーリンク 27 揺動リンク 28 連結リンク 29 クランクアーム 30 クランク軸 31 前後リニアウエイ 32 ブリッジ 33 ブリッジ台 34 スライダ 35 クランプ 36 クランプねじ 37 左右リニアウエイ 38 プローブ台 39 スライダ 40 クランプ 41 クランプねじ 42 高周波プローブユニット 43 プローブピン 44 位置決めピン 45 プリント基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G011 AA13 AC06 AC14 AC32 AE01 2G014 AA00 AB59 AC10 AC12 2G028 AA04 BC01 CG08 HN08 HN09 2G032 AF01 AF04 AK04 AL04

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置ベースの上方部に、前部に左右にの
    びる欠落部を有する測定ベースを設置し、該測定ベース
    上に、測定ベースの欠落部と整合する欠落部を有する基
    板支持板を弾性体を介して支持するとともに、該測定ベ
    ースの上方部に、プレス機構を介して昇降可能でかつ下
    降時に基板支持板に支持したプリント基板を基板支持板
    と共に測定ベースに向かって押圧可能な基板加圧板を設
    置し、さらに測定ベース及び基板支持板の欠落部の下方
    部及びその隣接部を含む装置ベースの前部上に、左右の
    両端部近傍を前後に平行にのびる左右一対の前後リニア
    ウエイを設置し、該両前後リニアウエイに、各端部に各
    前後リニアウエイにスライド係合するスライダを有する
    ブリッジ台を備えるとともに両ブリッジ台間を左右にの
    びる左右リニアウエイ付きのブリッジを、測定ベースと
    基板支持板の欠落部の下方部を前後に移動可能に支持
    し、さらにブリッジの左右リニアウエイに、下部に該左
    右リニアウエイにスライド係合するスライダを有する少
    なくとも一台のプローブ台を、測定ベースの欠落部対応
    部を左右に移動可能に支持し、かつ該プローブ台に、先
    端が、測定ベースの欠落部を通してプリント基板の測定
    ポイントに接触可能に突出するプローブを有する高周波
    プローブユニットを取り付けてなる、プリント基板のイ
    ンピーダンス測定用プロービング装置。
  2. 【請求項2】 ブリッジ台のスライダ及びプローブ台の
    スライダに、前後リニアウエイ及び左右リニアウエイに
    対するスライドを制止するクランプを付設してなる、請
    求項1記載のプロービング装置。
  3. 【請求項3】 プローブ台に、プリント基板に設ける位
    置決め穴に係合可能なばね外方付勢式位置決めピンを設
    けてなる、請求項1または2記載のプロービング装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105092975A (zh) * 2015-09-23 2015-11-25 广州兴森快捷电路科技有限公司 Pcb板内单端阻抗测试头
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