JP2001177298A - 電子部品の圧着装置および圧着方法 - Google Patents

電子部品の圧着装置および圧着方法

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JP2001177298A JP35542999A JP35542999A JP2001177298A JP 2001177298 A JP2001177298 A JP 2001177298A JP 35542999 A JP35542999 A JP 35542999A JP 35542999 A JP35542999 A JP 35542999A JP 2001177298 A JP2001177298 A JP 2001177298A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 タクトタイムを短縮して生産性を向上させる
電子部品の圧着装置および圧着方法を提供することを目
的とする。 【解決手段】 電子部品5を圧着ヘッド6によって基板
3に圧着する電子部品の圧着方法において、圧着に先だ
って光学ヘッド11を電子部品5と基板3の間の空間に
移動テーブル13によって進出させ、この光学ヘッド1
1をスキャンさせてCCDカメラ17により複数の1次
元画像を検出する。そしてこの1次元画像に基づいて画
像認識部12によって基板3、電子部品5の2次元画像
を取得し、得られた2次元画像より基板3、電子部品5
を認識する。これにより、認識時の光学ヘッド11の静
止時間を省いて撮像に要する時間を短縮することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フリップチップな
どの電子部品を基板に圧着する電子部品の圧着装置およ
び熱圧着方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品の小型化、配線パターンの狭ピ
ッチ化にともなって、電子部品を基板に実装する際の位
置精度には高精度が求められるようになり、基板の変形
や位置ずれなどによって生ずる実装点の位置誤差を画像
認識によって補正する方法が広く用いられている。この
方法は電子部品の実装に先立って、基板または基板と電
子部品の双方をカメラで撮像し、得られた画像データに
基づいて基板や電子部品の位置を検出し、この結果によ
り実装時の位置補正を行うものである。
【0003】ところで、フリップチップなど半導体素子
の下面にバンプが形成され、このバンプを基板の電極に
接合するものでは、前述の実装時の位置補正に際しては
このバンプの位置を画像認識により求める必要がある。
このため、電子部品を保持する圧着ヘッドと基板との間
にカメラを位置させて基板と電子部品のバンプの双方を
撮像することが行われる。この場合には、圧着ヘッドを
下降させて電子部品を基板に圧着する際には、圧着ヘッ
ドの下方からカメラを退避させる必要があるため、可動
式のアームに光学系を装着した光学ヘッドが用いられ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
圧着装置においては、カメラによる撮像時には光学ヘッ
ドを静止させる必要があることから、1回の認識動作に
おいて、光学ヘッドが進出・退避する移動時間に、カメ
ラの撮像のために光学ヘッドが停止している静止時間を
加えた認識所要時間が必要とされていた。このため基板
・部品認識に要する時間が長く、結果として圧着作業全
体のタクトタイム短縮が困難で、生産性の向上が阻害さ
れるという問題点があった。
【0005】そこで本発明は、タクトタイムを短縮して
生産性を向上させる電子部品の圧着装置および圧着方法
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の電子部品
の圧着装置は、電子部品を保持する圧着ヘッドと、この
圧着ヘッドを昇降させる昇降手段と、前記電子部品が圧
着される基板を保持し圧着ヘッドに対して相対的に位置
決めする基板保持部と、前記圧着ヘッドに保持された電
子部品および前記基板を撮像して電子部品および基板の
1次元画像を検出する1次元画像検出手段を備えた光学
ヘッドと、この光学ヘッドを前記基板と圧着ヘッドとの
間の空間で進退させる進退手段と、前記光学ヘッドを前
記進退手段によってスキャンさせて得られた複数の一次
元画像に基づいて基板と電子部品の2次元画像を取得し
この2次元画像より基板および電子部品を認識する画像
認識部とを備えた。
【0007】請求項2記載の電子部品の圧着装置は、請
求項1記載の電子部品の圧着装置であって、前記光学ヘ
ッドは、撮像方向を切り換えることにより前記基板の上
面と電子部品の下面とを選択的に撮像する撮像方向切り
換え手段を備えた。
【0008】請求項3記載の電子部品の圧着装置は、請
求項1記載の電子部品の圧着装置であって、前記光学ヘ
ッドに複数の1次元画像検出手段を備え、基板の上面と
電子部品の下面とを同時に撮像可能である。
【0009】請求項4記載の電子部品の圧着方法は、電
子部品を保持した圧着ヘッドを昇降させて基板に押圧す
ることにより前記電子部品を基板に圧着する電子部品の
圧着方法であって、上下両方向の撮像が可能な光学ヘッ
ドを電子部品を保持した圧着ヘッドと基板の間の空間に
進退手段によって進出させる工程と、この光学ヘッドを
前記進退手段によってスキャンさせて得られた複数の1
次元画像に基づいて前記基板および電子部品の2次元画
像を取得する工程と、この2次元画像より基板および電
子部品を認識する工程とを含む。
【0010】請求項5記載の電子部品の圧着方法は、請
求項4記載の電子部品の圧着方法であって、前記光学ヘ
ッドに備えられた撮像方向切り換え手段により撮像方向
を切り換えて、光学ヘッドの進出時には基板の上面もし
くは電子部品の下面のうちいずれか一方側を撮像し、光
学ヘッドの退避時に他方側を撮像するようにした。
【0011】請求項6記載の電子部品の圧着方法は、請
求項4記載の電子部品の圧着方法であって、前記基板の
認識マークと電子部品の認識マークとを予め位置をずら
して配置しておき、前記光学ヘッドに備えられた撮像方
向切り換え手段によって撮像タイミングをずらすことに
より、基板の上面の撮像および電子部品の下面の撮像を
光学ヘッドの同一方向への移動動作中に行うようにし
た。
【0012】請求項7記載の電子部品の圧着方法は、請
求項4記載の電子部品の圧着方法であって、前記光学ヘ
ッドに備えられた複数の1次元画像検出手段により、基
板の上面と電子部品の下面とを同時に撮像するようにし
た。
【0013】本発明によれば、光学ヘッドを進退手段に
よってスキャンさせて得られた複数の1次元画像に基づ
いて、基板およびまたは電子部品の2次元画像を取得す
ることにより、光学ヘッドの静止時間を省いて撮像に要
する時間を短縮することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品の圧着装置の側面図、図2は同電子部品の圧着装置
の部分斜視図、図3、図4、図5は同電子部品の圧着装
置による基板および電子部品の認識動作の説明図であ
る。
【0015】まず図1を参照して電子部品の圧着装置の
構造を説明する。図1において、XYテーブル1上には
基板ホルダ2が設けられており、基板ホルダ2には基板
3が載置されている。XYテーブル1を駆動することに
より、基板3は水平面内で移動する。XYテーブル1の
上方には、昇降テーブル8が配設されている。昇降テー
ブル8の昇降ブロック7には、圧着ヘッド6が装着され
ている。
【0016】昇降テーブル8を駆動することにより、圧
着ヘッド6が昇降する。昇降テーブル8は、圧着ヘッド
6を昇降させる昇降手段となっている。XYテーブル1
および基板ホルダ2は基板3を保持し、圧着ヘッド6に
対して位置決めする基板保持部となっている。圧着ヘッ
ド6は、下面にバンプ5aが形成された電子部品5を保
持している。
【0017】昇降テーブル8の下方には撮像部10が配
設されている。撮像部10は、水平方向に延出して設け
られた光学ヘッド11を備えている。光学ヘッド11は
移動テーブル13によって水平方向に移動し、撮像時に
は圧着ヘッド6の下方の撮像位置に進出する。そして圧
着ヘッド6を下降させて電子部品5を圧着する際には、
前記撮像位置から退避する。移動テーブル13は光学ヘ
ッド11を進退させる進退手段となっている。光学ヘッ
ド11の進退時の位置はリニアスケール14によって検
出される。
【0018】光学ヘッド11は、1次元のCCDカメラ
17(1次元画像検出手段)を備えており、圧着ヘッド
6に保持された電子部品5と基板3との間の空間に進出
して撮像することにより、電子部品5の下面と基板3の
上面とを撮像して1次元画像を検出する。検出された1
次元画像は、画像認識部12に伝達される。
【0019】画像認識部12は、光学ヘッド11をスキ
ャンさせることにより得られた複数の1次元画像に基づ
いて2次元画像を取得する。すなわち、光学ヘッド11
を進出させる過程において、リニアスケールによって光
学ヘッド11の位置を検出しながら所定タイミングでC
CDカメラ17による1次元画像を検出する撮像を反復
して行うことにより、複数の1次元画像を所定間隔で配
列した2次元画像を取得する。
【0020】次に図2を参照して光学ヘッド11につい
て説明する。光学ヘッド11は矩形断面の筒状部材で構
成されており、先端部の上面と下面にはそれぞれ開口部
11a,11bが設けられている。開口部11a,11
bはシャッター15a,15bによって開閉可能となっ
ており、開口部11a,11bの内部には反射部16が
配設されている。
【0021】基板3と圧着ヘッド6に保持された電子部
品5の間の空間に光学ヘッド11を進出させることによ
り、電子部品5の下面を開口部11aを介して、また基
板3の上面の電極3aや認識マーク3bを開口部11b
を介して撮像する。図3(a)に示すように、開口部1
1aを電子部品5の下方に位置させ、開口部11aを開
放するとともに開口部11bをシャッター15bによっ
て閉じることにより、電子部品5の下面からの光を開口
部11aを介して入光させ、この光を反射部16のハー
フミラーによって水平方向に反射させる。これにより、
電子部品5の下面からの光はCCDカメラ17によって
受光され、電子部品5の1次元画像が検出される。
【0022】また下面の開口部11bを基板3上面の撮
像位置、例えば認識マーク3bの上方に位置させ、開口
部11bを開放するとともに開口部11aをシャッター
15aによって閉じることにより、基板3からの光を開
口部11bを介して入光させ、同様に基板3の上面の1
次元画像を取得する。したがって開口部11a,11
b、シャッター15a,15bは、電子部品5の下面と
基板3の上面とを選択的に撮像するために撮像方向を切
り換える撮像方向切換え手段となっている。
【0023】なお、撮像方向切換え手段としては、シャ
ッター15a,15bを設ける替わりに、開口部11
a,11bの周囲にそれぞれ単独でON−OFF制御が
可能な照明部を設けるようにしてもよい。撮像時には、
撮像方向側の照明部のみをONすることにより、当該撮
像方向からのみ光が入射することとなり、シャッター開
閉を行うことなく撮像方向の切り換えを行うことができ
る。
【0024】この電子部品の圧着装置は上記のように構
成されており、以下電子部品の圧着作業において行われ
る電子部品および基板の認識動作について説明する。ま
ず図1において、基板ホルダ2に基板3を保持させ、電
子部品5を保持した圧着ヘッド6の下方に位置させる。
次いで移動テーブル13を駆動して、図3(a)に示す
ように光学ヘッド11を電子部品5と基板3との間の空
間に進出させる。
【0025】このとき、光学ヘッド11の上面の開口部
11aは開放状態となっているため、電子部品5の下面
からの光は光学ヘッド11内に入射し、反射部16によ
って反射されてCCDカメラ17によって受光される。
そして、光学ヘッド11を移動テーブル13によって進
出させながら、CCDカメラ17による撮像を所定タイ
ミングで複数回行う。このように光学ヘッド11をスキ
ャンして得られた複数の1次元画像に基づき、画像認識
部12は電子部品5の下面の2次元画像を取得する。そ
して取得された2次元画像より、電子部品5の外形やバ
ンプ5aを認識する。
【0026】次いで図3(b)に示すように、圧着ヘッ
ド6の下方から光学ヘッド11を退避させる。この退避
動作時には、開口部11bを介して基板3からの光を光
学ヘッド11内に入光させて基板3を撮像する。光学ヘ
ッド11を移動テーブル13によって退避させながら、
CCDカメラ17による撮像を所定タイミングで複数回
行う。このように光学ヘッド11をスキャンして得られ
た複数の1次元画像に基づき、画像認識部12は基板3
の上面の2次元画像を取得する。そして取得された2次
元画像より、基板3の電極3aや認識マーク3bを認識
する。
【0027】すなわち、上記撮像動作では、シャッター
15a,15bの開閉により撮像方向を切り換えて、光
学ヘッド11の進出時には電子部品5または基板3のう
ちいずれか一方側を撮像し、退避時には他方側を撮像す
るものである。このように、1次元画像検出手段を備え
た光学ヘッド11をスキャンさせることにより得られた
複数の1次元画像に基づいて2次元画像を取得すること
により、撮像動作においてカメラを撮像対象に対して相
対的に静止させる必要がなく、静止時間を省いて効率の
よい基板・電子部品の認識を行うことができる。
【0028】そしてこのようにして得られた基板3およ
び電子部品5の認識結果に基づき、電子部品5を基板3
に対して相対的に位置決めし、圧着ヘッド6を下降させ
ることにより、電子部品5を基板3に圧着する。
【0029】次に図4を参照して、上記光学ヘッド11
による他の撮像動作例について説明する。この撮像動作
例は、電子部品5の認識マークとしてのバンプ5aと基
板3の認識マークとしての電極3の位置を予めずらして
配置しておくことにより、光学ヘッド11の同一方向へ
の移動動作中において、基板3と電子部品5の双方を撮
像するものである。
【0030】図4(a)に示すように、基板3の位置決
め時には、圧着ヘッド6に保持された電子部品5のバン
プ5aに対して、電極3aを所定のオフセット量dだけ
水平方向にずらして位置決めする。そしてこの状態で光
学ヘッド11を電子部品5と基板3の間に進出させる。
まず開口部11aが手前側のバンプ5aの下方に到達し
たならば、シャッター15aを開放してバンプ5aを撮
像する。そしてバンプ5aの撮像を終えたならば、図4
(b)に示すようにシャッター15aを閉じるとともに
シャッター15bを開放することにより、基板3の右側
の電極3aを撮像する。
【0031】以下、図4(c)に示すようにシャッター
15aを開放して左側のバンプ5aを、次いで図4
(d)に示すようにシャッター15bを開放して左側の
電極3aを順次撮像する。これにより、光学ヘッド11
の進出動作において、電子部品5と基板3の双方の複数
の認識マークとしてのバンプ5a、電極3aを撮像する
ことができる。
【0032】この撮像動作において、本実施例に示すよ
うにシャッター15a,15bを用いて光学ヘッド11
による撮像方向を切り換える替わりに、前述のように各
シャッターに個別の照明部を設け、これらの照明部の点
灯タイミングを制御することにより、撮像方向の切り換
えを行うようにしてもよい。
【0033】また、図5に示すように単一の光学ヘッド
11に複数のCCDカメラ17A,17Bを備え、開口
部11a,11bを介して入光した光を、各CCDカメ
ラに対応して個別に設けられた反射部16A,16Bで
反射して、CCDカメラ17A,17Bに受光させるよ
うにしてもよい。このような構成を採用することによ
り、シャッター開閉動作などの撮像方向の切り換えを行
うことなく、電子部品5の下面と基板3の上面とを同一
の撮像動作で撮像することができる。
【0034】
【発明の効果】本発明によれば、光学ヘッドを進退手段
によってスキャンさせて得られた複数の1次元画像に基
づいて、基板およびまたは電子部品の2次元画像を取得
するようにしたので、光学ヘッドの静止時間を省いて撮
像に要する時間を短縮し、タクトタイムを短縮して生産
性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品の圧着装置の
側面図
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品の圧着装置の
部分斜視図
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品の圧着装置に
よる基板および電子部品の認識動作の説明図
【図4】本発明の一実施の形態の電子部品の圧着装置に
よる基板および電子部品の認識動作の説明図
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品の圧着装置に
よる基板および電子部品の認識動作の説明図
【符号の説明】
1 XYテーブル 3 基板 5 電子部品 6 圧着ヘッド 10 撮像部 11 光学ヘッド 12 画像認識部 13 移動テーブル 15a,15b シャッター 16 反射部 17 CCDカメラ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子部品を保持する圧着ヘッドと、この圧
    着ヘッドを昇降させる昇降手段と、前記電子部品が圧着
    される基板を保持し圧着ヘッドに対して相対的に位置決
    めする基板保持部と、前記圧着ヘッドに保持された電子
    部品および前記基板を撮像して電子部品および基板の1
    次元画像を検出する1次元画像検出手段を備えた光学ヘ
    ッドと、この光学ヘッドを前記基板と圧着ヘッドとの間
    の空間で進退させる進退手段と、前記光学ヘッドを前記
    進退手段によってスキャンさせて得られた複数の一次元
    画像に基づいて基板と電子部品の2次元画像を取得しこ
    の2次元画像より基板および電子部品を認識する画像認
    識部とを備えたことを特徴とする電子部品の圧着装置。
  2. 【請求項2】前記光学ヘッドは、撮像方向を切り換える
    ことにより前記基板の上面と電子部品の下面とを選択的
    に撮像する撮像方向切り換え手段を備えたことを特徴と
    する請求項1記載の電子部品の圧着装置。
  3. 【請求項3】前記光学ヘッドに複数の1次元画像検出手
    段を備え、基板の上面と電子部品の下面とを同時に撮像
    可能であることを特徴とする請求項1記載の電子部品の
    圧着装置。
  4. 【請求項4】電子部品を保持した圧着ヘッドを昇降させ
    て基板に押圧することにより前記電子部品を基板に圧着
    する電子部品の圧着方法であって、上下両方向の撮像が
    可能な光学ヘッドを電子部品を保持した圧着ヘッドと基
    板の間の空間に進退手段によって進出させる工程と、こ
    の光学ヘッドを前記進退手段によってスキャンさせて得
    られた複数の1次元画像に基づいて前記基板および電子
    部品の2次元画像を取得する工程と、この2次元画像よ
    り基板および電子部品を認識する工程とを含むことを特
    徴とする電子部品の圧着方法。
  5. 【請求項5】前記光学ヘッドに備えられた撮像方向切り
    換え手段により撮像方向を切り換えて、光学ヘッドの進
    出時には基板の上面もしくは電子部品の下面のうちいず
    れか一方側を撮像し、光学ヘッドの退避時に他方側を撮
    像することを特徴とする請求項4記載の電子部品の圧着
    方法。
  6. 【請求項6】前記基板の認識マークと電子部品の認識マ
    ークとを予め位置をずらして配置しておき、前記光学ヘ
    ッドに備えられた撮像方向切り換え手段によって撮像タ
    イミングをずらすことにより、基板の上面の撮像および
    電子部品の下面の撮像を光学ヘッドの同一方向への移動
    動作中に行うことを特徴とする請求項4記載の電子部品
    の圧着方法。
  7. 【請求項7】前記光学ヘッドに備えられた複数の1次元
    画像検出手段により、基板の上面と電子部品の下面とを
    同時に撮像することを特徴とする請求項4記載の電子部
    品の圧着方法。
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