JP2001177144A - 光位置検出装置 - Google Patents

光位置検出装置

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JP2001177144A
JP2001177144A JP36154199A JP36154199A JP2001177144A JP 2001177144 A JP2001177144 A JP 2001177144A JP 36154199 A JP36154199 A JP 36154199A JP 36154199 A JP36154199 A JP 36154199A JP 2001177144 A JP2001177144 A JP 2001177144A
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circuit
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sum
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JP36154199A
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Naohisa Kosaka
直久 向坂
Haruyoshi Toyoda
晴義 豊田
Seiichiro Mizuno
誠一郎 水野
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Hamamatsu Photonics KK
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Hamamatsu Photonics KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光入射位置検出の線形性および安定性が優れ
た光位置検出装置を提供する。 【解決手段】 第2加算回路50から出力される電圧値
sum3は、受光部10の第m行にあるN個のフォトダイ
オードPDmnが受光した光の光量の総和に、行方向座標
値を表す定数amを乗じて、各行の乗算結果の総和を求
め、この求められた総和に応じたものである。第4加算
回路70から出力される電圧値Vsum4は、受光部10の
第n列にあるM個のフォトダイオードPDmnが受光した
光の光量の総和に、列方向座標値を表す定数bnを乗じ
て、各列の乗算結果の総和を求め、この求められた総和
に応じたものである。第5加算回路80から出力される
電圧値Vsum5は、受光部10の全てのフォトダイオード
PDmnが受光した光の光量の総和に応じたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スポット光が入射
した位置を検出する光位置検出装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光位置検出装置は、光や粒子線等のエネ
ルギ線の2次元入射位置検出に用いられるものであり、
例えば表面分割型の半導体位置検出装置(PSD)が知
られている。表面分割型PSDは、半導体基板の表面上
に矩形の受光面抵抗層が形成されており、その受光面抵
抗層の周囲の4辺それぞれに配置された出力電極より、
エネルギ線の入射に伴い発生した電流が読み出される。
互いに対向する辺に配置された2つの出力電極より読み
出された電荷に基づいて、受光面上での入射位置が求め
られる。
【0003】このような表面分割型PSDでは、入射位
置に対する電流出力の線形性が優れていることが重要と
なる。しかし、実際には、受光面の中心付近と周辺付近
とでは、出力電極までの距離と抵抗値との対応関係が異
なることから、入射位置に対する電流出力の線形性は確
保されず、入射位置検出に歪みが生じる。そこで、この
ような問題点を解決するために、表面分割型PSDの改
良案(以下「改良表面分割型PSD」という。)が特公
昭62−62075号公報や特公平4−76055号公
報に提案されている。
【0004】この改良表面分割型PSDでは、受光面抵
抗層の形状が矩形ではなく、受光面抵抗層の4辺それぞ
れが円弧状とされており、その4辺上に分割線抵抗層が
形成され、受光面抵抗層の4隅にある各辺の分割線抵抗
層の接続位置に出力電極が配置されている。このように
構成することで、改良表面分割型PSDは、入射位置検
出の歪みを低減している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の改良表面分割型
PSDでは、受光面抵抗層と分割線抵抗層との抵抗比が
一定の関係を満たすように形成することにより、入射位
置検出の線形性を向上させている。すなわち、受光面抵
抗層のシート抵抗値をr(Ω/□)とし、各々の分割線
抵抗層の線抵抗率をRi(Ω/cm)とし、各々の分割
線抵抗層の曲率半径をai(cm)としたときに、これ
らがRi=r/aiなる関係式を満たすように抵抗値お
よび曲率半径を決めることにより、改良表面分割型PS
Dにおける入射位置検出の歪みを補正して、入射位置検
出の線形性を向上させている。
【0006】しかしながら、上記の関係式を満たすため
には、分割線抵抗層と比較して受光面抵抗層が非常に低
い不純物濃度を有して形成される必要がある。この場
合、不純物濃度が低い受光面抵抗層においては、外部か
らの水分等の影響によって抵抗値が変動し易く、これに
より受光面抵抗層と分割線抵抗層との抵抗比が変化す
る。また、受光面抵抗層と分割線抵抗層とで不純物濃度
が大きく異なることから、受光面抵抗層および分割線抵
抗層それぞれの抵抗値の温度依存性等も異なり、温度変
化等の使用条件の変化に因り、受光面抵抗層と分割線抵
抗層との抵抗比が変化する。そして、受光面抵抗層と分
割線抵抗層との抵抗比が変化すると、入射位置検出の線
形性を維持することができなくなり、位置検出の精度や
安定性が劣化する。
【0007】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、光入射位置検出の線形性および安定性
が優れた光位置検出装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光位置検出
装置は、(1) M行N列に2次元配列された受光素子PD
mnを有し、第m行のN個の受光素子PDm1〜PDmNそれ
ぞれが受光した光の光量に応じた電荷Qm1〜QmNを順次
に第m出力線に出力する受光部と、(2) 受光部の第m行
のN個の受光素子PDm1〜PDmNそれぞれから第m出力
線に順次に出力された電荷Qm1〜QmNを入力して蓄積
し、この蓄積された電荷に応じた電圧値V m1〜VmNを順
次に出力する第m積分回路と、(3) 第m積分回路から順
次に出力された電圧値Vm1〜VmNを入力して、この電圧
値をam倍し(ただし定数amはm値に応じた値)、この
m倍された電圧値am・Vm1〜am・VmNを順次に出力す
る第m増倍回路と、(4) 第m増倍回路それぞれから出力
された電圧値am・Vmnを入力し、これらの総和(a1・V
1n+a2・V2n+…+aM・VMn)を求めて、この総和に応
じた電圧値Vsum1(n)を出力する第1加算回路と、(5)
第1加算回路から順次に出力された電圧値Vsum1(1)
sum1(N)を入力し、これらの総和(Vsum1(1)+V
sum1(2)+…+Vsum1(N))を求めて、この総和に応じた
電圧値Vsum2を出力する第2加算回路と、(6) 第m積分
回路それぞれから出力された電圧値Vmnを入力し、これ
らの総和(V1n+V2n+…+VMn)を求めて、この総和
に応じた電圧値Vsum3(n)を出力する第3加算回路と、
(7) 第3加算回路から順次に出力された電圧値V
sum3(1)〜Vsum3(N)を入力し、各電圧値Vsum3(n)をbn
倍(ただし定数bnはn値に応じた値)したものの総和
(b1・Vsum3(1)+b2・Vsum3(2)+…+bN
sum3(N))を求めて、この総和に応じた電圧値Vsum4
を出力する第4加算回路と、(8) 第3加算回路から順次
に出力された電圧値Vsum3(1)〜Vsum3(N)を入力し、こ
れらの総和(Vsum3(1)+Vsum3(2)+…+Vsum3(N)
を求めて、この総和に応じた電圧値Vsum5を出力する第
5加算回路と、を備えることを特徴とする。ただし、M
≧2、N≧2、1≦m≦M、1≦n≦N である。
【0009】この光位置検出装置によれば、各期間Tn
(1≦n≦N)に、受光部の第n列にあるM個の受光素
子PDmnが受光した光の光量に応じた電荷Qmnが第m出
力線に出力される(1≦m≦M)。この電荷Qmnは、前
回の出力時から今回の出力時までの期間に受光素子PD
mnの接合容量に蓄えられたものである。第m出力線に出
力された電荷Qmnは第m積分回路に入力して、この電荷
mnに応じた電荷が第m積分回路に蓄積され、この蓄積
された電荷に応じた電圧値Vmnが第m積分回路より出力
される。
【0010】第m積分回路より出力された電圧値Vmn
第m増倍回路に入力して、m値に応じた値である定数a
mだけ電圧値Vmnが増倍され、その増倍された電圧値am
・Vm nが第m増倍回路より出力される。各第m増倍回路
から出力された電圧値am・Vm nは第1加算回路に入力
し、これらの総和である電圧値Vsum1(n)が第1加算回
路より出力される。第1加算回路より出力された電圧値
sum1(n)は、第2加算回路に入力して累積加算されて
いく。
【0011】また、各第m積分回路より出力された電圧
値Vmnは第3加算回路に入力し、これらの総和である電
圧値Vsum3(n)が第3加算回路より出力される。第3加
算回路より出力された電圧値Vsum3(n)は第4加算回路
に入力し、第4加算回路により、n値に応じた定数bn
だけ電圧値Vsum3(n)が増倍され、その増倍された電圧
値bn・Vsum3(n)が累積加算されていく。また、第3加
算回路より出力された電圧値Vsum3(n)は、第5加算回
路に入力して累積加算されていく。
【0012】期間TN経過後において、第2加算回路か
ら出力される電圧値Vsum3は、第m行にあるN個の受光
素子PDmnが受光した光の光量の総和に、行方向座標値
を表す定数amを乗じて、各行の乗算結果の総和を求
め、この求められた総和に応じたものである。第4加算
回路から出力される電圧値Vsum4は、第n列にあるM個
の受光素子PDmnが受光した光の光量の総和に、列方向
座標値を表す定数bnを乗じて、各列の乗算結果の総和
を求め、この求められた総和に応じたものである。第5
加算回路から出力される電圧値Vsum5は、全ての受光素
子PDmnが受光した光の光量の総和に応じたものであ
る。したがって、電圧値Vsum2を電圧値Vsu m5で除算す
れば、受光部のM行N列に2次元配列された受光素子P
mnが受光した光の重心位置の行方向座標値が得られ
る。また、電圧値Vsum4を電圧値Vsum5で除算すれば、
受光部のM行N列に2次元配列された受光素子PDmn
受光した光の重心位置の列方向座標値が得られる。
【0013】また、本発明に係る光位置検出装置は、第
5加算回路から出力された電圧値V sum5に基づいてA/
D変換レンジを設定して、第2加算回路から出力された
電圧値Vsum2をデジタル値に変換し、そのデジタル値を
出力する第1A/D変換回路を更に備えることを特徴と
する。この場合には、電圧値Vsum2を電圧値Vsum5で除
算した結果が第1A/D変換回路よりデジタル値として
出力される。
【0014】また、本発明に係る光位置検出装置は、第
5加算回路から出力された電圧値V sum5に基づいてA/
D変換レンジを設定して、第4加算回路から出力された
電圧値Vsum4をデジタル値に変換し、そのデジタル値を
出力する第2A/D変換回路を更に備えることを特徴と
する。この場合には、電圧値Vsum4を電圧値Vsum5で除
算した結果が第2A/D変換回路よりデジタル値として
出力される。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明にお
いて同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を
省略する。以下では、パラメータMおよびNそれぞれを
2以上の整数とする。また、特に明示しない限りは、パ
ラメータmを1以上M以下の任意の整数とし、パラメー
タnを1以上N以下の任意の整数とする。
【0016】図1は本実施形態に係る光位置検出装置1
の全体構成図である。この光位置検出装置1は、M行N
列に2次元配列されたフォトダイオードPDmn(1≦m
≦M、1≦n≦N)を有する受光部10、M個の積分回
路201〜20Mを有する積分回路アレイ20、M個の増
倍回路301〜30Mを有する増倍回路アレイ30、第1
加算回路40、第2加算回路50、第3加算回路60、
第4加算回路70、第5加算回路80、第1A/D変換
回路91、第2A/D変換回路92および第3A/D変
換回路93を備えて構成されている。
【0017】受光部10は、M行N列に等間隔に2次元
配列されたフォトダイオードPDmn(1≦m≦M、1≦
n≦N)を有している。フォトダイオードPDmnは、ス
イッチ素子SWmnを介して第m出力線11mに接続され
ている。スイッチ素子SWmn(1≦m≦M、1≦n≦
N)は、同一列にあるもの(n値が等しいもの)が同一
タイミングで開閉し、列毎に順次に閉じる。すなわち、
図2に示すように、この受光部10は、或る期間Tn
は、第n列にあるM個のスイッチ素子SWmnのみが閉じ
て、フォトダイオードPDmnが受光した光の光量に応じ
た電荷Qmnを、スイッチ素子SWmnを介して、第m出力
線11mに出力する。また、この受光部10は、フォト
ダイオードPDm1〜PDmNそれぞれが出力した電荷Qm1
〜QmNを、第m出力線11mに順次に出力する。この電
荷Qmnは、前回の出力時から今回の出力時までの期間に
受光素子PDmnの接合容量に蓄えられたものである。
【0018】図3は本実施形態に係る光位置検出装置1
の積分回路アレイ20の回路図である。積分回路アレイ
20は、M個の積分回路201〜20Mを有している。第
m積分回路20mは、入力端と出力端との間に並列的に
アンプA2、容量素子C2およびスイッチ素子SW2を有
しており、入力端が第m出力線11mと接続されてい
る。第m積分回路20mは、スイッチ素子SW2が閉じて
いるときには、容量素子C 2を放電して初期化する。一
方、第m積分回路20mは、スイッチ素子SW2が開いて
いるときには、入力端に入力した電荷を容量素子C2
蓄積し、この蓄積された電荷に応じた電圧値を出力す
る。すなわち、第m積分回路20mは、期間Tn毎に、ス
イッチ素子SW2を開閉して、入力端に入力した電荷Q
mnに基づいて電荷を容量素子C2に蓄積し、この蓄積さ
れた電荷に応じた電圧値Vmnを出力する。
【0019】図4は本実施形態に係る光位置検出装置1
の増倍回路アレイ30の回路図である。増倍回路アレイ
30は、M個の増倍回路301〜30Mを有している。第
m増倍回路30mは、入力端と出力端との間に順に容量
素子C30mおよびアンプA3を有し、アンプA3の入出力
間に並列的に容量素子C3およびスイッチ素子SW3を有
しており、入力端が第m積分回路20mの出力端と接続
されている。第m増倍回路30mの容量素子C30mの容量
値は、m値に比例している。第m増倍回路30 mは、ス
イッチ素子SW3が閉じているときには、容量素子C3
放電して初期化する。一方、第m増倍回路30mは、ス
イッチ素子SW3が開いているときには、第m積分回路
20mより入力した電圧値をam倍して、このam倍され
た電圧値を出力する。ただし、定数amは、容量素子C
30mおよび容量素子C3それぞれの容量値の比に応じたも
のであり、m値に比例する。すなわち、第m増倍回路3
mは、期間Tn毎に、スイッチ素子SW3を開閉して、
入力端に入力した電圧値Vmnをam倍して、このam倍さ
れた電圧値am・Vmnを出力する。
【0020】図5は本実施形態に係る光位置検出装置1
の第1加算回路40の回路図である。第1加算回路40
は、M個の入力端および1個の出力端を有し、互いに容
量値が等しいM個の容量素子C401〜C40M、ならびに、
互いに並列的に設けられたアンプA4、容量素子C4およ
びスイッチ素子SW4を有しており、第m番目の入力端
が第m増倍回路30mの出力端と接続されている。第1
加算回路40は、スイッチ素子SW4が閉じているとき
には、容量素子C4を放電して初期化する。一方、第1
加算回路40は、スイッチ素子SW4が開いているとき
には、M個の入力端それぞれに入力した電圧値の総和に
応じた電荷を容量素子C4に蓄積し、この蓄積された電
荷に応じた電圧値を出力する。
【0021】すなわち、第1加算回路40は、期間Tn
毎に、スイッチ素子SW4を開閉して、第m増倍回路3
mそれぞれより出力された電圧値am・Vmnを入力し、
これらM個の電圧値am・Vmnの総和に応じた電荷を容量
素子C4に蓄積し、この蓄積された電荷に応じた電圧値
sum1(n)を出力する。この第1加算回路40から期間
nに出力される電圧値Vsum1(n)は、
【数1】 なる式で表される。
【0022】図6は本実施形態に係る光位置検出装置1
の第2加算回路50の回路図である。第2加算回路50
は、入力端と出力端との間に順に容量素子C500および
アンプA5を有し、アンプA5の入出力間に並列的に容量
素子C5およびスイッチ素子SW5を有しており、入力端
が第1加算回路40の出力端と接続されている。第2加
算回路50は、スイッチ素子SW5が閉じているときに
は、容量素子C5を放電して初期化する。一方、第2加
算回路50は、スイッチ素子SW5が開いているときに
は、入力端に入力した電圧値に応じた電荷を容量素子C
5に蓄積し、この蓄積された電荷に応じた電圧値を出力
する。
【0023】すなわち、第2加算回路50は、容量素子
5を初期化するためにスイッチ素子SW5が当初に閉じ
た後は開いたままであり、その後の期間Tn毎に、第1
加算回路40より出力された電圧値Vsum1(n)を入力し
て、この電圧値Vsum1(n)に応じた電荷を容量素子C5
累積蓄積していく。そして、第2加算回路50は、期間
N経過後に、この累積蓄積された電荷に応じた電圧値
sum2を出力する。この第2加算回路50から期間TN
経過後に出力される電圧値Vsum2は、
【数2】 なる式で表される。
【0024】図7は本実施形態に係る光位置検出装置1
の第3加算回路60の回路図である。第3加算回路60
は、M個の入力端および1個の出力端を有し、互いに容
量値が等しいM個の容量素子C601〜C60M、容量素子C
600、ならびに、互いに並列的に設けられたアンプA6
容量素子C6およびスイッチ素子SW6を有しており、第
m番目の入力端が第m積分回路20mの出力端と接続さ
れている。第3加算回路60は、スイッチ素子SW6
閉じているときには、容量素子C6を放電して初期化す
る。一方、第3加算回路60は、スイッチ素子SW6
開いているときには、M個の入力端それぞれに入力した
電圧値の総和に応じた電荷を容量素子C 6に蓄積し、こ
の蓄積された電荷に応じた電圧値を出力する。
【0025】すなわち、第3加算回路60は、期間Tn
毎に、スイッチ素子SW6を開閉して、第m積分回路2
mそれぞれより出力された電圧値Vmnを入力し、これ
らM個の電圧値Vmnの総和に応じた電荷を容量素子C6
に蓄積し、この蓄積された電荷に応じた電圧値V
sum3(n)を出力する。この第3加算回路60から期間Tn
に出力される電圧値Vsum3(n)は、
【数3】 なる式で表される。
【0026】図8は本実施形態に係る光位置検出装置1
の第4加算回路70の回路図である。第4加算回路70
は、1個の入力端および1個の出力端を有し、n個の増
倍部711〜71nおよび1個の加算部72を有してお
り、入力端が第3加算回路60の出力端と接続されてい
る。増倍部71nは、入力側から出力側へ順にスイッチ
素子SW701,容量素子C70nおよびスイッチ素子SW
702を有し、スイッチ素子SW701と容量素子C70nとの
接続点がスイッチ素子SW703を介して接地され、容量
素子C70nとスイッチ素子SW702との接続点がスイッチ
素子SW704を介して接地されている。増倍部71nの容
量素子C70nの容量値は、n値に比例している。加算部
72は、入出力間に並列的にアンプA7,容量素子C7
よびスイッチ素子SW7を有している。
【0027】第4加算回路70の増倍部71nは、通常
は、スイッチ素子SW701が開いている。しかし、期間
n前より閉じていたスイッチ素子SW701およびSW
704が期間Tn内の或る時刻に開くと同時に、期間Tn
より開いていたスイッチ素子SW 702およびSW703が閉
じることで、第3加算回路60から出力された電圧値V
su m3(n)を加算部72へ入力させる。加算部72は、ス
イッチ素子SW7が閉じているときには、容量素子C7
放電して初期化する。一方、加算部72は、スイッチ素
子SW7が開いているときには、入力した電圧値に応じ
た電荷を容量素子C7に蓄積し、この蓄積された電荷に
応じた電圧値を出力する。
【0028】すなわち、第4加算回路70は、容量素子
7を初期化するためにスイッチ素子SW7が当初に閉じ
た後は開いたままであり、その後の期間Tn毎に、第3
加算回路60から出力された電圧値Vsum3(n)を増倍部
71nによりbn倍して、このbn倍された電圧値bn・V
sum3(n)に応じた電荷を容量素子C7に累積蓄積してい
く。ただし、定数bnは、容量素子C70nおよび容量素子
7それぞれの容量値の比に応じたものであり、n値に
比例する。そして、第4加算回路70は、期間T N経過
後に、この累積蓄積された電荷に応じた電圧値Vsum4
出力する。この第4加算回路70から期間TN経過後に
出力される電圧値Vsum4は、
【数4】 なる式で表される。
【0029】図9は本実施形態に係る光位置検出装置1
の第5加算回路80の回路図である。第5加算回路80
は、入力端から出力端へ順にスイッチ素子SW801、容
量素子C800、スイッチ素子SW802およびアンプA8
有し、スイッチ素子SW801と容量素子C800との接続点
がスイッチ素子SW803を介して接地され、容量素子C
800とスイッチ素子SW802との接続点がスイッチ素子S
804を介して接地され、アンプA8の入出力間に並列的
に容量素子C8およびスイッチ素子SW8を有しており、
入力端が第3加算回路60の出力端と接続されている。
【0030】第5加算回路80は、スイッチ素子SW8
が閉じているときには、容量素子C8を放電して初期化
する。一方、第5加算回路80は、スイッチ素子SW8
が開いているときには、入力した電圧値に応じた電荷を
容量素子C8に蓄積し、この蓄積された電荷に応じた電
圧値を出力する。また、第5加算回路80は、各期間T
n前より閉じていたスイッチ素子SW801およびSW804
が期間Tn内の或る時刻に開くと同時に、期間Tn前より
開いていたスイッチ素子SW802およびSW803が閉じる
ことで、第3加算回路60から出力された電圧値V
sum3(n)をアンプA8に入力させる。
【0031】すなわち、第5加算回路80は、容量素子
8を初期化するためにスイッチ素子SW8が当初に閉じ
た後は開いたままであり、その後の期間Tn毎に、第3
加算回路60から出力された電圧値Vsum3(n)を入力
し、この電圧値Vsum3(n)に応じた電荷を容量素子C8
累積蓄積していく。そして、第5加算回路80は、期間
N経過後に、この累積蓄積された電荷に応じた電圧値
sum5を出力する。この第5加算回路80から期間TN
経過後に出力される電圧値Vsum5は、
【数5】 なる式で表される。
【0032】図10は、本実施形態に係る光位置検出装
置1の第1A/D変換回路91の回路図である。なお、
第2A/D変換回路92および第3A/D変換回路93
それぞれの回路図も同様である。A/D変換回路91
は、Vref入力端に入力した電圧値をA/D変換レンジ
として、Ain入力端に入力した電圧値(アナログ値)を
デジタル値にA/D変換し、このデジタル値をDout
力端に出力する。A/D変換回路91は、可変容量積分
回路910、比較回路A902、容量制御部920および
読み出し部930を備える。
【0033】可変容量積分回路910は、アンプ
901、可変容量部C900およびスイッチ素子SW901
備える。アンプA901は、Ain入力端に入力した電圧値
に応じた電荷を反転入力端子に入力する。アンプA901
の非反転入力端子は接地されている。可変容量部C900
は、容量が可変であって制御可能であり、アンプA901
の反転入力端子と出力端子との間に設けられ、入力した
電圧値に応じて電荷を蓄える。スイッチ素子SW
901は、アンプA901の反転入力端子と出力端子との間に
設けられ、開いているときには可変容量部C900に電荷
の蓄積を行わせ、閉じているときには可変容量部C900
における電荷蓄積をリセットする。そして、可変容量積
分回路910は、Ain入力端に入力した電圧値を入力
し、可変容量部C900の容量に応じて積分し、積分した
結果である積分信号を出力する。
【0034】比較回路A902は、可変容量積分回路91
0から出力された積分信号を反転入力端子に入力すると
ともに、Vref入力端に入力された電圧値を非反転入力
端子に入力し、これら2つの入力値を大小比較して、そ
の大小比較の結果である比較結果信号を出力する。
【0035】容量制御部920は、比較回路A902から
出力された比較結果信号を入力し、この比較結果信号に
基づいて可変容量部C900の容量を制御する容量指示信
号Cを出力するとともに、この比較結果信号に基づいて
積分信号の値とVref入力電圧値とが所定の分解能で一
致していると判断した場合に可変容量部C900の容量値
に応じた第1のデジタル値を出力する。
【0036】読み出し部930は、容量制御部920か
ら出力された第1のデジタル値を入力し、この第1のデ
ジタル値に対応する第2のデジタル値を出力する。第2
のデジタル値は、第1のデジタル値から可変容量積分回
路910のオフセット値を除去した値を示すものであ
る。読み出し部930は、例えば記憶素子であり、第1
のデジタル値をアドレスとして入力し、記憶素子のその
アドレスに記憶されているデータを第2のデジタル値と
して出力する。
【0037】図11はA/D変換回路91中の可変容量
積分回路910の詳細な回路図である。この図では、1
/24=1/16の分解能を有するA/D変換機能を備
える回路構成を示し、以下、この回路構成で説明する。
【0038】この図に示すように、可変容量部C
900は、容量素子C911〜C914、スイッチ素子SW911
SW914およびスイッチ素子SW921〜SW924を備え
る。容量素子C911およびスイッチ素子SW911は、互い
に縦続接続されて、アンプA901の反転入力端子と出力
端子との間に設けられており、スイッチ素子SW
921は、容量素子C911およびスイッチ素子SW911の接
続点と接地電位との間に設けられている。容量素子C
912およびスイッチ素子SW912は、互いに縦続接続され
て、アンプA901の反転入力端子と出力端子との間に設
けられており、スイッチ素子SW9 22は、容量素子C912
およびスイッチ素子SW912の接続点と接地電位との間
に設けられている。容量素子C913およびスイッチ素子
SW913は、互いに縦続接続されて、アンプA901の反転
入力端子と出力端子との間に設けられており、スイッチ
素子SW923は、容量素子C913およびスイッチ素子SW
913の接続点と接地電位との間に設けられている。ま
た、容量素子C914およびスイッチ素子SW914は、互い
に縦続接続されて、アンプA901の反転入力端子と出力
端子との間に設けられており、スイッチ素子SW
924は、容量素子C914およびスイッチ素子SW91 4の接
続点と接地電位との間に設けられている。
【0039】スイッチ素子SW911〜SW914それぞれ
は、容量制御部920から出力された容量指示信号Cの
うちC11〜C14に基づいて開閉する。スイッチ素子
SW92 1〜SW924それぞれは、容量制御部920から出
力された容量指示信号CのうちC21〜C24に基づい
て開閉する。また、容量素子C911〜C914の容量値をC
911〜C914で表すとすれば、これらは、
【数6】 なる関係を満たす。
【0040】そして、A/D変換回路91は、可変容量
積分回路910、比較回路A902および容量制御部92
0からなるフィードバックループにより、可変容量積分
回路910から出力される積分信号の値とVref端子入
力電圧値とが所定の分解能で一致していると容量制御部
920により判断されるまで、可変容量部C900の容量
値の設定、および、積分信号の値とVref端子入力電圧
値との大小比較を繰り返す。容量制御部920は、この
ようにして可変容量部C900の容量素子C911〜C914
全てについて容量制御を終了すると、可変容量部C900
の最終的な容量値に応じたデジタル値を読み出し部93
0へ向けて出力する。読み出し部930では、容量制御
部920から出力されたデジタル値をアドレスとして入
力し、記憶素子のそのアドレスに記憶されているデジタ
ル値をDout出力端より出力する。このDout出力端より
出力されるデジタル値は、Ain入力端に入力した電圧値
を、Vref入力端に入力した電圧値で除算した結果を表
すものである。
【0041】すなわち、第1A/D変換回路91は、期
間TN経過後に、第2加算回路50から出力されAin
力端に入力した電圧値Vsum2((2)式)を、第5加算回
路80から出力されVref入力端に入力した電圧値V
sum5((5)式)で除算し、その除算結果をデジタル値Dx
として出力する。このデジタル値Dxは、
【数7】 で表されるアナログ値Axをデジタル表記したものであ
る。
【0042】第2A/D変換回路92は、期間TN経過
後に、第4加算回路70から出力されAin入力端に入力
した電圧値Vsum4((4)式)を、第5加算回路80から
出力されVref入力端に入力した電圧値Vsum5((5)式)
で除算し、その除算結果をデジタル値Dyとして出力す
る。このデジタル値Dyは、
【数8】 で表されるアナログ値Ayをデジタル表記したものであ
る。
【0043】また、第3A/D変換回路93は、期間T
n毎に、第1加算回路40から出力されAin入力端に入
力した電圧値Vsum1(n)((1)式)を、第3加算回路60
から出力されVref入力端に入力した電圧値V
sum3(n)((3)式)で除算し、その除算結果をデジタル値
line(n)として出力する。このデジタル値D
line(n)は、
【数9】 で表されるアナログ値Aline(n)をデジタル表記したも
のである。
【0044】次に、本実施形態に係る光位置検出装置1
の動作について図12を用いて説明する。初めに、第2
加算回路50は、スイッチ素子SW5が一旦閉じて容量
素子C5がリセットされた後、スイッチ素子SW5が開
く。第4加算回路70は、スイッチ素子SW7が一旦閉
じて容量素子C7がリセットされた後、スイッチ素子S
7が開く。第5加算回路80は、スイッチ素子SW8
一旦閉じて容量素子C8がリセットされた後、スイッチ
素子SW8が開く。また、受光部10の全てのスイッチ
素子SWmnは開いている。
【0045】その後の期間T1に、第1列にあるM個の
スイッチ素子SWm1のみが閉じる。フォトダイオードP
m1が受光した光の光量に応じた電荷Qm1は、スイッチ
素子SWm1を介して第m出力線11mに出力される。第
m出力線11mに出力された電荷Qm1は第m積分回路2
mに入力して、この電荷Qm1に応じた電荷が第m積分
回路20mの容量素子C2に蓄積され、この容量素子C2
に蓄積された電荷に応じた電圧値Vm1が第m積分回路2
mより出力される。
【0046】第m積分回路20mより出力された電圧値
m1は第m増倍回路30mに入力して、m値に比例する
mだけ電圧値Vm1が増倍され、その増倍された電圧値
m・Vm 1が第m増倍回路30mより出力される。増倍回
路301〜30Mから出力された電圧値a1・V11〜aM・V
M1は第1加算回路40に入力し、これらの総和である電
圧値Vsum1(1)((1)式)が第1加算回路40より出力さ
れる。第1加算回路40より出力された電圧値V
sum1(1)は、第2加算回路50に入力して累積加算され
ていく。
【0047】また、第m積分回路201〜20Mより出力
された電圧値V11〜VM1は第3加算回路60に入力し、
これらの総和である電圧値Vsum3(1)((3)式)が第3加
算回路60より出力される。第3加算回路60より出力
された電圧値Vsum3(1)は第4加算回路70に入力し、
第4加算回路70により、n値(今の場合にはn=1)
に比例するb1だけ電圧値Vsum3(1)が増倍され、その増
倍された電圧値b1・V sum3(1)が累積加算されていく。
また、第3加算回路60より出力された電圧値V
sum3(1)は、第5加算回路80に入力して累積加算され
ていく。
【0048】そして、第1加算回路40から出力された
電圧値Vsum1(1)は第3A/D変換回路93のAin入力
端に入力し、第3加算回路60から出力された電圧値V
sum3 (1)は第3A/D変換回路93のVref入力端に入力
して、この第3A/D変換回路93により、電圧値V
sum1(1)を電圧値Vsum3(1)で除算した結果A
line(1)((9)式)をデジタル表記で示すデジタル値D
line(1)が出力される。そして、期間T2の前に、積分回
路アレイ20、増倍回路アレイ30、第1加算回路4
0、第3加算回路60および第3A/D変換回路93そ
れぞれはリセットされる。
【0049】続く期間T2では、第2列にあるM個のス
イッチ素子SWm2のみが閉じて、積分回路アレイ20以
降では、期間T1の場合と同様の動作が行われる。すな
わち、フォトダイオードPDm2が受光した光の光量に応
じた電荷Qm2は、スイッチ素子SWm2を介して第m出力
線11mに出力される。第m出力線11mに出力された電
荷Qm2は第m積分回路20mに入力して、この電荷Qm2
に応じた電荷が第m積分回路20mの容量素子C2に蓄積
され、この容量素子C2に蓄積された電荷に応じた電圧
値Vm2が第m積分回路20mより出力される。
【0050】第m増倍回路30mからは電圧値am・Vm2
が出力される。第1加算回路40からは、増倍回路30
1〜30Mから出力された電圧値a1・V12〜aM・VM2の総
和である電圧値Vsum1(2)((1)式)が出力される。この
電圧値Vsum1(2)は、第2加算回路50に入力して累積
加算されていく。
【0051】また、第3加算回路60からは、第m積分
回路201〜20Mから出力された電圧値V12〜VM2の総
和である電圧値Vsum3(2)((3)式)が出力される。この
電圧値Vsum3(2)は、第4加算回路70により、n値
(今の場合にはn=2)に比例するb2だけ増倍され、
その増倍された電圧値b2・Vsum3(2)が累積加算されて
いく。また、第3加算回路60より出力された電圧値V
sum3(2)は、第5加算回路80に入力して累積加算され
ていく。
【0052】そして、第1加算回路40から出力された
電圧値Vsum1(2)は第3A/D変換回路93のAin入力
端に入力し、第3加算回路60から出力された電圧値V
sum3 (2)は第3A/D変換回路93のVref入力端に入力
して、この第3A/D変換回路93により、電圧値V
sum1(2)を電圧値Vsum3(2)で除算した結果A
line(2)((9)式)をデジタル表記で示すデジタル値D
line(2)が出力される。
【0053】以降の期間Tn(n=3〜N)においても
同様の動作が行われる。期間TN経過後において、第2
加算回路50から出力される電圧値はVsum3((2)式)
であり、第4加算回路70から出力される電圧値はV
sum4((4)式)であり、第5加算回路80から出力され
る電圧値はVsum5((5)式)である。
【0054】そして、第2加算回路50から出力された
電圧値Vsum2は第1A/D変換回路91のAin入力端に
入力し、第5加算回路80から出力された電圧値Vsum5
は第1A/D変換回路91のVref入力端に入力して、
この第1A/D変換回路91により、電圧値Vsum2を電
圧値Vsum5で除算した結果Ax((7)式)をデジタル表記
で示すデジタル値Dxが出力される。また、第4加算回
路70から出力された電圧値Vsum4は第2A/D変換回
路92のAin入力端に入力し、第5加算回路80から出
力された電圧値Vsum5は第2A/D変換回路92のV
ref入力端に入力して、この第2A/D変換回路92に
より、電圧値Vsum4を電圧値Vsum5で除算した結果Ay
((8)式)をデジタル表記で示すデジタル値Dyが出力さ
れる。
【0055】以上のようにして得られるデジタル値Dx
は、(2)式,(5)式および(7)式から判るように、受光部
10のM行N列に2次元配列されたフォトダイオードP
mnが受光した光の重心位置の行方向座標値を表すもの
である。また、デジタル値Dyは、(4)式,(5)式および
(8)式から判るように、受光部10のM行N列に2次元
配列されたフォトダイオードPDmnが受光した光の重心
位置の列方向座標値を表すものである。すなわち、デジ
タル値DxおよびDyは、この光位置検出装置1が受光し
た光の重心位置を表している。しかも、この光位置検出
装置1は、各フォトダイオードPDmnが受光して出力し
た電荷Qmnに基づいて受光重心位置を求めるので、光入
射位置検出の線形性および安定性が優れている。
【0056】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形が可能である。上記実施形態では、
M行N列のフォトダイオードPDmnが等間隔に2次元配
列されており、定数amがm値に比例し、定数bnがn値
に比例するものとしたが、これに限られるものではな
い。例えば、一般に、定数amはm値の1次関数で表さ
れてもよく、定数bnはn値の1次関数で表されてもよ
い。また、定数amをm値の2次関数で表し、定数bn
n値の2次関数で表した場合には、対象物体の傾きを示
す2次モーメントを演算することができる。また、M行
N列のフォトダイオードPDmnは等間隔に配列されてい
なくてもよく、この場合には、定数amおよびbnはフォ
トダイオードPDmnの間隔に応じて定められる。
【0057】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり、本発明に
よれば、第2加算回路から出力される電圧値Vsum3は、
第m行にあるN個の受光素子PDmnが受光した光の光量
の総和に、行方向座標値を表す定数amを乗じて、各行
の乗算結果の総和を求め、この求められた総和に応じた
ものである。第4加算回路から出力される電圧値Vsum4
は、第n列にあるM個の受光素子PDmnが受光した光の
光量の総和に、列方向座標値を表す定数bnを乗じて、
各列の乗算結果の総和を求め、この求められた総和に応
じたものである。第5加算回路から出力される電圧値V
sum5は、全ての受光素子PDmnが受光した光の光量の総
和に応じたものである。したがって、電圧値Vsum2を電
圧値Vsum5で除算すれば、受光部のM行N列に2次元配
列された受光素子PDmnが受光した光の重心位置の行方
向座標値が得られる。また、電圧値Vsum4を電圧値V
sum5で除算すれば、受光部のM行N列に2次元配列され
た受光素子PDmnが受光した光の重心位置の列方向座標
値が得られる。
【0058】このように、各受光素子PDmnが受光して
出力した電荷Qmnに基づいて、第2加算回路から出力さ
れる電圧値Vsum3、第4加算回路から出力される電圧値
su m4、および、第5加算回路から出力される電圧値V
sum5を求め、そして、これらの電圧値に基づいて受光重
心位置を求めるので、光入射位置検出の線形性および安
定性が優れている。
【0059】また、第5加算回路から出力された電圧値
sum5に基づいてA/D変換レンジを設定して、第2加
算回路から出力された電圧値Vsum2をデジタル値に変換
し、そのデジタル値を出力する第1A/D変換回路を更
に備える場合には、電圧値V sum2を電圧値Vsum5で除算
した結果が第1A/D変換回路よりデジタル値として出
力されるので好適である。また、第5加算回路から出力
された電圧値Vsum5に基づいてA/D変換レンジを設定
して、第4加算回路から出力された電圧値Vsu m4をデジ
タル値に変換し、そのデジタル値を出力する第2A/D
変換回路を更に備える場合には、電圧値Vsum4を電圧値
sum5で除算した結果が第2A/D変換回路よりデジタ
ル値として出力されるので好適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態に係る光位置検出装置の全体構成図
である。
【図2】本実施形態に係る光位置検出装置の受光部から
各出力線に出力される電荷を説明する図である。
【図3】本実施形態に係る光位置検出装置の積分回路ア
レイの回路図である。
【図4】本実施形態に係る光位置検出装置の増倍回路ア
レイの回路図である。
【図5】本実施形態に係る光位置検出装置の第1加算回
路の回路図である。
【図6】本実施形態に係る光位置検出装置の第2加算回
路の回路図である。
【図7】本実施形態に係る光位置検出装置の第3加算回
路の回路図である。
【図8】本実施形態に係る光位置検出装置の第4加算回
路の回路図である。
【図9】本実施形態に係る光位置検出装置の第5加算回
路の回路図である。
【図10】本実施形態に係る光位置検出装置のA/D変
換回路の回路図である。
【図11】A/D変換回路中の可変容量積分回路の詳細
な回路図である。
【図12】本実施形態に係る光位置検出装置の動作を説
明するタイミングチャートである。
【符号の説明】
1…光位置検出装置、10…受光部、20…積分回路ア
レイ、30…増倍回路アレイ、40…第1加算回路、5
0…第2加算回路、60…第3加算回路、70…第4加
算回路、80…第5加算回路、91…第1A/D変換回
路、92…第2A/D変換回路、93…第3A/D変換
回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 M行N列に2次元配列された受光素子P
    mnを有し、第m行のN個の受光素子PDm1〜PDmN
    れぞれが受光した光の光量に応じた電荷Qm1〜QmNを順
    次に第m出力線に出力する受光部と、 前記受光部の第m行のN個の受光素子PDm1〜PDmN
    れぞれから前記第m出力線に順次に出力された電荷Qm1
    〜QmNを入力して蓄積し、この蓄積された電荷に応じた
    電圧値Vm1〜VmNを順次に出力する第m積分回路と、 前記第m積分回路から順次に出力された電圧値Vm1〜V
    mNを入力して、この電圧値をam倍し(ただし定数am
    m値に応じた値)、このam倍された電圧値am・Vm1
    m・VmNを順次に出力する第m増倍回路と、 前記第m増倍回路それぞれから出力された電圧値am・V
    mnを入力し、これらの総和(a1・V1n+a2・V2n+…+
    M・VMn)を求めて、この総和に応じた電圧値V
    sum1(n)を出力する第1加算回路と、 前記第1加算回路から順次に出力された電圧値V
    sum1(1)〜Vsum1(N)を入力し、これらの総和(V
    sum1(1)+Vsum1(2)+…+Vsum1(N))を求めて、この
    総和に応じた電圧値Vsum2を出力する第2加算回路と、 前記第m積分回路それぞれから出力された電圧値Vmn
    入力し、これらの総和(V1n+V2n+…+VMn)を求め
    て、この総和に応じた電圧値Vsum3(n)を出力する第3
    加算回路と、 前記第3加算回路から順次に出力された電圧値V
    sum3(1)〜Vsum3(N)を入力し、各電圧値Vsum3(n)をbn
    倍(ただし定数bnはn値に応じた値)したものの総和
    (b1・Vsum3(1)+b2・Vsum3(2)+…+bN
    sum3(N))を求めて、この総和に応じた電圧値Vsum4
    を出力する第4加算回路と、 前記第3加算回路から順次に出力された電圧値V
    sum3(1)〜Vsum3(N)を入力し、これらの総和(V
    sum3(1)+Vsum3(2)+…+Vsum3(N))を求めて、この
    総和に応じた電圧値Vsum5を出力する第5加算回路と、 を備えることを特徴とする光位置検出装置(ただし、M
    ≧2、N≧2、1≦m≦M、1≦n≦N)。
  2. 【請求項2】 前記第5加算回路から出力された電圧値
    sum5に基づいてA/D変換レンジを設定して、前記第
    2加算回路から出力された電圧値Vsum2をデジタル値に
    変換し、そのデジタル値を出力する第1A/D変換回路
    を更に備えることを特徴とする請求項1記載の光位置検
    出装置。
  3. 【請求項3】 前記第5加算回路から出力された電圧値
    sum5に基づいてA/D変換レンジを設定して、前記第
    4加算回路から出力された電圧値Vsum4をデジタル値に
    変換し、そのデジタル値を出力する第2A/D変換回路
    を更に備えることを特徴とする請求項1記載の光位置検
    出装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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