JP2001157863A - Coater - Google Patents

Coater

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JP2001157863A
JP2001157863A JP2000273215A JP2000273215A JP2001157863A JP 2001157863 A JP2001157863 A JP 2001157863A JP 2000273215 A JP2000273215 A JP 2000273215A JP 2000273215 A JP2000273215 A JP 2000273215A JP 2001157863 A JP2001157863 A JP 2001157863A
Authority
JP
Japan
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nozzle
coating
liquid
cleaning
discharge hole
Prior art date
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Pending
Application number
JP2000273215A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kimio Motoda
公男 元田
Yuji Shimomura
雄二 下村
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
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Publication of JP2001157863A publication Critical patent/JP2001157863A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a coater capable of detecting the clogging or the like of an ejection hole of a nozzle for applying a coating liquid. SOLUTION: A resist liquid is discharged from a nozzle 40 of each coating head 36, which is disposed above a monitoring part 44 located at a standby position 41, onto each pressure sensor 46. When any one of the pressure sensors 46 detects an abnormal value of pressure, it is judged that abnormality, such as clogging, is generated in any one of the ejection holes of the nozzles 40, and the nozzles 40 are cleaned in a cleaning part 45.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウエ
ハや液晶表示ディスプレイに使われるガラス基板をフォ
トリソグラフィ技術を利用して処理を行う技術分野に属
し、特に例えば半導体ウエハやガラス基板上にレジスト
液等の塗布液を塗布する塗布装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention belongs to the technical field of processing, for example, a semiconductor wafer or a glass substrate used for a liquid crystal display by using a photolithography technique. The present invention relates to a coating apparatus for applying a coating liquid such as a coating liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示ディスプレイ装置の製造工程に
おいて、例えばガラス基板上にITO薄膜や電極パター
ン等を形成するために、半導体製造工程において用いら
れるものと同様のフォトリソグラフィ技術を用いて回路
パターン等を縮小露光してフォトレジストに転写し、こ
れを現像処理する一連の処理が施される。
2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a liquid crystal display device, for example, in order to form an ITO thin film or an electrode pattern on a glass substrate, a circuit pattern or the like is formed by using the same photolithography technology used in a semiconductor manufacturing process. Is subjected to a reduced exposure, transferred to a photoresist, and developed.

【0003】このような一連の処理は、例えばガラス基
板を搬送する搬送装置が走行可能とされた搬送路に沿っ
て、洗浄装置、アドヒージョン処理装置、冷却処理装
置、レジスト塗布装置、熱処理装置及び現像装置等を配
置した構成の塗布現像処理システムによって行われる。
そして、このような塗布現像処理システムでは、ガラス
基板を、洗浄装置にて洗浄した後、ガラス基板にアドヒ
ージョン処理装置にて疎水処理を施し、冷却処理装置に
て冷却した後、レジスト塗布装置にてフォトレジスト膜
を塗布形成する。その後、フォトレジスト膜を熱処理装
置にて加熱してプリベーク処理を施した後に冷却し、当
該システムに接続された露光装置にて所定のパターンを
露光し、露光後のガラス基板を現像装置にて現像液を塗
布して現像した後にリンス液により現像液を洗い流し、
ポストベーク処理を行い、一連の工程が終了する。
[0003] Such a series of processing includes, for example, a cleaning device, an adhesion processing device, a cooling processing device, a resist coating device, a heat treatment device, and a developing device along a transport path along which a transport device for transporting a glass substrate can travel. This is performed by a coating and developing system having a configuration in which devices and the like are arranged.
In such a coating and developing system, the glass substrate is cleaned by a cleaning device, the glass substrate is subjected to a hydrophobic treatment by an adhesion processing device, cooled by a cooling device, and then cooled by a resist coating device. A photoresist film is applied and formed. After that, the photoresist film is heated by a heat treatment device, subjected to a pre-bake treatment, and then cooled, and is exposed to a predetermined pattern by an exposure device connected to the system, and the exposed glass substrate is developed by a developing device. After applying and developing the solution, the developer is washed away with a rinse solution,
Post bake processing is performed, and a series of steps is completed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したレ
ジスト塗布装置においては、例えばスピンチャック上に
ガラス基板を載せて回転させ、その回転中心にレジスト
液を供給するスピンコート法が用いられるが、かかるス
ピンコート法によってレジスト液を塗布する場合にはガ
ラス基板上に供給されたレジスト液が遠心力によってガ
ラス基板の外側に相当量飛び散って無駄になる、という
問題がある。
In the above-described resist coating apparatus, for example, a spin coating method is used in which a glass substrate is placed on a spin chuck, rotated, and a resist solution is supplied to the center of rotation. When the resist solution is applied by spin coating, there is a problem that a considerable amount of the resist solution supplied onto the glass substrate scatters outside the glass substrate due to centrifugal force and is wasted.

【0005】そこで、本発明者等は、ガラス基板の表面
上でレジスト液を吐出するノズルを走査させることで、
可能な限り必要な領域だけにレジスト液を塗布し、レジ
スト液の無駄をなくした技術を提唱している。
Therefore, the present inventors scan a nozzle for discharging a resist solution on the surface of a glass substrate by scanning.
A technique is proposed in which a resist solution is applied only to a necessary area as much as possible, and the waste of the resist solution is eliminated.

【0006】しかしながら、かかる構成のノズルでは、
ノズルからレジスト液の供給を停止しているときにノズ
ルの吐出孔からレジスト液が垂れ落ちることを防止する
ために吐出孔の径をそれ程大きくすることができず、そ
のためノズルの吐出孔が詰まり易い、という問題があ
る。そして、このようなノズルの吐出孔の詰まりは目視
による確認や基板上の塗布膜の途切れを発見することに
よって検知することができるが、検知するまでの間、塗
布不良となり、歩留まりを下げることになり、更にはこ
のような詰まりを見過ごした場合には大量の塗布不良を
発生することになる。
However, in the nozzle having such a configuration,
When the supply of the resist liquid from the nozzle is stopped, the diameter of the discharge hole cannot be so large in order to prevent the resist liquid from dripping from the discharge hole of the nozzle, so that the discharge hole of the nozzle is easily clogged. There is a problem. Then, such clogging of the discharge holes of the nozzles can be detected by visual confirmation or by finding a break in the coating film on the substrate.However, until the detection, the coating becomes poor and the yield is reduced. In addition, if such clogging is overlooked, a large amount of coating failure will occur.

【0007】本発明は、このような事情に基づきなされ
たもので、塗布液を塗布するためのノズルの吐出孔の詰
まり等を迅速に発見することができる塗布装置を提供す
ることを目的としている。
The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a coating apparatus capable of quickly detecting a clogging of a discharge hole of a nozzle for applying a coating liquid. .

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、本発明の塗布装置は、基板を保持する保持部材と、
前記保持された基板の表面に向けて塗布液を吐出する吐
出孔が設けられたノズルと、前記吐出孔から吐出される
塗布液の状態を監視する監視手段とを具備することを特
徴とする。
Means for Solving the Problems To solve the above problems, a coating apparatus of the present invention comprises a holding member for holding a substrate,
A nozzle provided with a discharge hole for discharging the coating liquid toward the surface of the held substrate; and monitoring means for monitoring a state of the coating liquid discharged from the discharge hole.

【0009】本発明では、ノズルの吐出孔から吐出され
る塗布液の状態を監視する監視手段が設けられているの
で、かかる監視手段によってノズルの吐出孔の詰まり等
を迅速に発見することができる。
In the present invention, since the monitoring means for monitoring the state of the coating solution discharged from the discharge hole of the nozzle is provided, the clogging of the discharge hole of the nozzle can be quickly detected by the monitoring means. .

【0010】本発明の塗布装置は、前記ノズルより前記
保持部材により保持された基板に対して塗布液を塗布す
る塗布位置と前記塗布液を塗布しないときにノズルが待
機する待機位置との間でノズルを搬送する搬送手段を有
し、前記監視手段が、前記待機位置に配置され、前記ノ
ズルから吐出された塗布液の吐出圧を検出する圧力セン
サーであることを特徴とする。
[0010] The coating apparatus of the present invention is provided between an application position where the nozzle applies the application liquid to the substrate held by the holding member and a standby position where the nozzle waits when the application liquid is not applied. It has a conveying means for conveying the nozzle, and the monitoring means is a pressure sensor which is disposed at the standby position and detects a discharge pressure of the application liquid discharged from the nozzle.

【0011】本発明では、塗布前に該圧力センサーによ
ってノズルから吐出された塗布液の吐出圧を検出するこ
とで、塗布前にノズルの吐出孔の詰まり等を検知するこ
とができる。従って、ノズルの吐出孔の詰まり等による
塗布不良をなくすことができる。また、このように塗布
前にノズルから塗布液を吐出することによって、塗布前
に行われるノズルの先端部に残存する古い塗布液の排出
動作を同時に兼ねることができる。更に、吐出孔が複数
の場合には、各吐出孔に対してそれぞれ圧力センサーを
設けることによって各吐出孔の詰まり等を個別に検知す
ることができる。よって、本発明の一の態様として、前
記ノズルには前記吐出孔が複数設けられていることを特
徴とする。
In the present invention, the clogging of the nozzle orifice of the nozzle can be detected before application by detecting the discharge pressure of the application liquid discharged from the nozzle by the pressure sensor before application. Accordingly, it is possible to eliminate coating defects due to clogging of the discharge holes of the nozzles. In addition, by discharging the coating liquid from the nozzle before the coating as described above, the discharging operation of the old coating liquid remaining at the tip of the nozzle performed before the coating can be performed at the same time. Further, when there are a plurality of discharge holes, clogging of each discharge hole can be individually detected by providing a pressure sensor for each discharge hole. Therefore, as one mode of the present invention, the nozzle is provided with a plurality of the ejection holes.

【0012】本発明の塗布装置は、前記監視手段が、前
記ノズルと一体的に設けられ、前記ノズルから吐出され
た塗布液に対して光を照射し、その反射光または透過光
に基づき、前記吐出孔から吐出される塗布液の状態を監
視する光学式センサーであることを特徴とする。
In the coating apparatus of the present invention, the monitoring means is provided integrally with the nozzle, irradiates the coating liquid discharged from the nozzle with light, and based on the reflected light or transmitted light, It is an optical sensor that monitors the state of the coating liquid discharged from the discharge hole.

【0013】本発明では、例えばノズルから吐出液を吐
出している最中に光学式センサーによって吐出孔から吐
出される塗布液の状態を監視することによって吐出液を
吐出している最中でのノズルの吐出孔の詰まり等を検知
することができる。また、このような光学式センサーを
ノズルと一体的に設けることによって、ノズルの詰まり
等の検出のための特別な場所は不要となる。更に、更
に、吐出孔が複数の場合には、各吐出孔に対してそれぞ
れ光学式センサーを設けることによって各吐出孔の詰ま
り等を個別に検知することができ、加えて非接触式なの
でメンテナンス面でも有利である。本発明の一の態様と
して、前記ノズルには前記吐出孔が複数設けられている
ことを特徴とする。
In the present invention, for example, while the discharge liquid is being discharged from the nozzle, the state of the coating liquid discharged from the discharge hole is monitored by an optical sensor to monitor the state of the discharge liquid during discharge. It is possible to detect clogging or the like of the discharge hole of the nozzle. Further, by providing such an optical sensor integrally with the nozzle, a special place for detecting clogging of the nozzle or the like becomes unnecessary. Furthermore, when there are a plurality of discharge holes, it is possible to individually detect clogging of each discharge hole by providing an optical sensor for each discharge hole. But it is advantageous. As one mode of the present invention, the nozzle is provided with a plurality of the ejection holes.

【0014】本発明の塗布装置は、前記ノズルに対して
塗布液が圧送される供給路を有し、前記監視手段が、前
記供給路における塗布液の供給圧を検出する圧力センサ
ーであることを特徴とする。
The coating apparatus of the present invention has a supply path through which the coating liquid is fed to the nozzle, and the monitoring means is a pressure sensor for detecting a supply pressure of the coating liquid in the supply path. Features.

【0015】本発明では、ノズルに対して塗布液が圧送
される供給路に圧力センサーを設けるだけでノズルの吐
出孔の詰まり等を検知することができる。従って、その
構成は非常に簡単である。
According to the present invention, clogging of the discharge holes of the nozzles can be detected only by providing a pressure sensor in the supply path through which the coating liquid is fed to the nozzles. Therefore, the configuration is very simple.

【0016】本発明の塗布装置は、前記監視手段による
監視結果に基づき前記吐出孔の状態が悪化しているかど
うかを判断する手段と、前記吐出孔の状態が悪化してい
ると判断される場合に前記ノズルを洗浄する洗浄手段と
を具備することを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a coating apparatus comprising: means for judging whether the state of the discharge hole is deteriorated based on the monitoring result by the monitoring means; and determining whether the state of the discharge hole is deteriorated. And a washing means for washing the nozzle.

【0017】本発明では、例えばノズルの吐出孔の詰ま
り等が検知された場合には人手を介することなくノズル
が洗浄される。従って、手間を要することなくノズルの
メンテナンスを行うことができる。
In the present invention, for example, when clogging of the discharge hole of the nozzle is detected, the nozzle is cleaned without manual operation. Therefore, maintenance of the nozzle can be performed without any trouble.

【0018】本発明の塗布装置は、前記洗浄手段が、前
記ノズルの吐出孔の近傍に配置された超音波振動子であ
ることを特徴とする。これにより、洗浄のためのスペー
スを節約することができる。
[0018] The coating apparatus of the present invention is characterized in that the cleaning means is an ultrasonic vibrator arranged near a discharge hole of the nozzle. Thereby, space for cleaning can be saved.

【0019】本発明の塗布装置は、前記洗浄手段が、前
記洗浄液が貯留された容器であり、前記ノズルが前記容
器内の洗浄液に浸されることを特徴とする。これによ
り、洗浄を確実に行うことができる。更に洗浄効果を高
めるため、かかる発明に上記構成の超音波振動子を組み
合わせても良い。
The coating apparatus of the present invention is characterized in that the cleaning means is a container storing the cleaning liquid, and the nozzle is immersed in the cleaning liquid in the container. Thereby, cleaning can be performed reliably. In order to further enhance the cleaning effect, the present invention may be combined with the ultrasonic vibrator having the above configuration.

【0020】本発明の塗布装置は、前記洗浄手段により
洗浄されたノズルの、吐出孔から吐出される塗布液の状
態を監視し、該状態が良くならないときには所定の報知
を行う手段を更に具備することを特徴とする。これによ
り、効果のない洗浄を無用に繰り返すことを防止でき
る。
The coating apparatus of the present invention further comprises means for monitoring the state of the coating liquid discharged from the discharge holes of the nozzles cleaned by the cleaning means, and performing predetermined notification when the state does not improve. It is characterized by the following. This can prevent unnecessary cleaning of ineffective cleaning.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づき説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0022】以下の実施の形態では、本発明をガラス基
板上にレジスト膜を形成し、露光後のガラス基板を現像
する塗布現像処理システムに適用した場合について説明
する。
In the following embodiments, a case will be described in which the present invention is applied to a coating and developing system for forming a resist film on a glass substrate and developing the exposed glass substrate.

【0023】まず、第1実施形態について説明する。First, a first embodiment will be described.

【0024】図1は第1実施形態に係る塗布現像処理シ
ステムの構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of the coating and developing system according to the first embodiment.

【0025】同図に示す塗布現像処理システム1は、ガ
ラス基板G(以下、「基板G」と呼ぶ。)を搬入・搬出
するローダ部2と、基板Gの第一の処理部3と、中継部
4を介して第一の処理部3に連設される第二の処理部5
とで主に構成されている。なお、第二の処理部5には受
け渡し部7を介してレジスト膜に所定の微細パターンを
露光するための露光装置6が連設可能となっている。
The coating and developing system 1 shown in FIG. 1 includes a loader unit 2 for loading and unloading a glass substrate G (hereinafter, referred to as “substrate G”), a first processing unit 3 for the substrate G, and a relay. A second processing unit 5 connected to the first processing unit 3 via the unit 4
It is mainly composed of Note that an exposure device 6 for exposing a predetermined fine pattern on the resist film via the transfer unit 7 can be connected to the second processing unit 5.

【0026】上記ローダ部2にはカセットステーション
10が設けられており、未処理の基板Gを収容するカセ
ット11と、処理済みの基板Gを収容するカセット12
とをそれぞれ複数載置自在である。カセット10、11
との間で基板Gの搬入出を行うべく水平(X,Y)方向
と垂直(Z)方向の移動及び回転(θ)可能な基板搬出
入ピンセット13とで構成されている。
The loader unit 2 is provided with a cassette station 10 which includes a cassette 11 for storing unprocessed substrates G and a cassette 12 for storing processed substrates G.
And a plurality of them can be freely mounted. Cassettes 10, 11
And a substrate loading / unloading tweezers 13 which can be moved and rotated (θ) in the horizontal (X, Y) direction and the vertical (Z) direction so as to carry in and out the substrate G.

【0027】第一の処理部3には、X,Y,Z方向の移
動及びθ回転可能な主基板搬送装置15が走行可能とさ
れた搬送路16の一方の側に、基板Gをブラシ洗浄する
ブラシ洗浄装置17、現像装置18が並んで配置され、
搬送路11の他方の側に基板Gの表面を疎水化処理する
アドヒージョン処理装置19、現像処理の後で加熱する
ポストベークを行う熱処理装置20、基板Gを所定温度
に冷却する冷却処理装置21が多段に配置されている。
In the first processing unit 3, a substrate G is brush-washed on one side of a transfer path 16 in which a main substrate transfer device 15 capable of moving in the X, Y, and Z directions and rotatable by .theta. Brush cleaning device 17 and developing device 18 are arranged side by side,
On the other side of the transport path 11, an adhesion treatment device 19 for hydrophobizing the surface of the substrate G, a heat treatment device 20 for performing post-baking for heating after the development process, and a cooling treatment device 21 for cooling the substrate G to a predetermined temperature are provided. They are arranged in multiple stages.

【0028】第二の処理部5には、第一の処理部3と同
様に、X,Y,Z方向の移動及びθ回転可能な主基板搬
送装置22が移動可能とされた搬送路23の一方の側
に、塗布装置24を配置し、搬送路23の他方の側にレ
ジスト液塗布の後で基板Gを加熱するプリベークを行う
熱処理装置20、冷却処理装置21が多段に配置されて
いる。
Similarly to the first processing unit 3, the second processing unit 5 includes a transfer path 23 in which a main substrate transfer unit 22 capable of moving in the X, Y, and Z directions and rotating θ can be moved. On one side, a coating apparatus 24 is arranged, and on the other side of the transport path 23, a heat treatment apparatus 20 for performing prebaking for heating the substrate G after applying the resist liquid, and a cooling processing apparatus 21 are arranged in multiple stages.

【0029】受け渡し部7には、基板Gを一時待機させ
るためのカセット25と、このカセット25との間で基
板Gの出し入れを行う搬送用ピンセット26と、基板G
の受け渡し台27が設けられている。
The transfer section 7 includes a cassette 25 for temporarily holding the substrate G, a transfer tweezers 26 for taking the substrate G in and out of the cassette 25,
Is provided.

【0030】図2は上述した塗布装置24の構成を示す
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing the structure of the above-described coating apparatus 24.

【0031】この塗布装置24のほぼ中央には、基板G
を保持する保持部材としての保持板31が配置されてい
る。この保持板31には、その表面から基板Gを支持す
る複数の支持ピン(図示せず)が出没可能に配置されて
いる。そして、支持ピンが保持板31の表面から突き出
た状態で主基板搬送装置22との間で塗布装置24の開
口部32を介して受け渡しを行い、支持ピンが保持板3
1の表面から没して基板Gが保持板31上に載置された
状態で塗布処理が行われるようになっている。
Substantially at the center of the coating device 24, a substrate G
A holding plate 31 is provided as a holding member for holding. A plurality of support pins (not shown) for supporting the substrate G from the surface of the holding plate 31 are arranged so as to be able to protrude and retract. Then, in a state where the support pins protrude from the surface of the holding plate 31, the support pins are transferred to and from the main substrate transfer device 22 through the opening 32 of the coating device 24.
The coating process is performed in a state where the substrate G is placed on the holding plate 31 while being immersed from the surface of the substrate 1.

【0032】塗布装置24のX方向に沿った両側には、
例えば無端ベルトによって構成されるX方向搬送部材3
3が配置され、これらX方向搬送部材33間を跨ぐよう
にしてY方向搬送部材34が配置されている。一方のX
方向搬送部材33の一端には、例えば無端ベルトによっ
て構成されたX方向搬送部材33を駆動してY方向搬送
部材34をX方向に搬送するための駆動部35が設けら
ている。また、Y方向搬送部材34上には、塗布ヘッド
36をY方向搬送部材34に沿ってY方向に搬送すると
共にZ方向に昇降駆動する搬送部37が移動可能に配置
されている。
On both sides of the coating device 24 along the X direction,
For example, an X-direction conveying member 3 constituted by an endless belt
The Y-direction transport member 34 is disposed so as to straddle between the X-direction transport members 33. One X
At one end of the directional transport member 33, a driving unit 35 for driving the X directional transport member 33 formed of, for example, an endless belt to transport the Y directional transport member 34 in the X direction is provided. A transport unit 37 that transports the application head 36 in the Y direction along the Y-direction transport member 34 and that moves the coating head 36 up and down in the Z direction is movably disposed on the Y-direction transport member 34.

【0033】また、保持板31の一側に隣接するよう
に、基板Gに対してレジスト液を塗布しないときに塗布
ヘッド36が待機する待機位置41が設けられている。
そして、上記の搬送系によって塗布ヘッド36は保持板
31上と待機位置41との間を搬送されるようになって
いる。
A standby position 41 is provided adjacent to one side of the holding plate 31 where the coating head 36 waits when the resist liquid is not applied to the substrate G.
Then, the coating head 36 is transported between the holding plate 31 and the standby position 41 by the transport system described above.

【0034】図3は上述した塗布ヘッド36の構成を示
す斜視図である。また、図4は塗布ヘッド36が待機位
置41にある状態の概略的正面図、図5及び図6は図4
の側面図である。
FIG. 3 is a perspective view showing the structure of the coating head 36 described above. FIG. 4 is a schematic front view of the state where the coating head 36 is at the standby position 41, and FIGS.
FIG.

【0035】塗布ヘッド36の本体38の下部には、保
持板31より保持された基板Gの表面に向けて塗布液と
してのレジスト液を吐出する複数の、例えば5個の吐出
孔39が列設されたノズル40が設けられている。この
ノズル40には、ポンプ42を介してレジスト液貯留タ
ンク43からレジスト液が供給されるようになってい
る。
A plurality of, for example, five discharge holes 39 for discharging a resist solution as a coating solution toward the surface of the substrate G held by the holding plate 31 are arranged in a lower portion of the main body 38 of the coating head 36. Nozzle 40 is provided. A resist solution is supplied to the nozzle 40 from a resist solution storage tank 43 via a pump 42.

【0036】一方、待機位置41には、本発明に係る監
視手段が設けられた監視部44と本発明に係る洗浄手段
が設けられた洗浄部45とが隣接するように配置されて
いる。
On the other hand, at the standby position 41, a monitoring section 44 provided with the monitoring means according to the present invention and a cleaning section 45 provided with the cleaning means according to the present invention are arranged adjacent to each other.

【0037】監視部44では、図5に示すように塗布ヘ
ッド36がその上部に搬送された際に、ノズル40の各
吐出孔39から吐出されたレジスト液の吐出圧を検出す
る圧力センサー46が各吐出孔39に対応して5個列設
されている。なお、各吐出孔39から圧力センサー46
に向けて吐出されたレジスト液は排気孔47を介して外
部に排気されるようになっている。洗浄部45には、洗
浄液としての例えばアセトンが貯留された容器48が配
置されている。図6に示すようにノズル40を洗浄する
際には、塗布ヘッド36は容器48の上方に移動してノ
ズル40が洗浄液に浸されるまでその位置から容器48
内に下降するようになっている。
In the monitoring section 44, as shown in FIG. 5, when the coating head 36 is transported to the upper part, a pressure sensor 46 for detecting the discharge pressure of the resist liquid discharged from each discharge hole 39 of the nozzle 40 is provided. Five rows are provided corresponding to the respective discharge holes 39. Note that the pressure sensor 46 is
Is discharged to the outside through an exhaust hole 47. In the cleaning section 45, a container 48 in which, for example, acetone as a cleaning liquid is stored. As shown in FIG. 6, when cleaning the nozzle 40, the coating head 36 is moved above the container 48 and the container 48 is moved from that position until the nozzle 40 is immersed in the cleaning liquid.
It is designed to descend inside.

【0038】図4に示すように、圧力センサー46によ
って検出された結果は制御部49に送られ、制御部49
はその検出結果に基づき上記のポンプ42や塗布ヘッド
36の搬送系等を制御するようになっている。
As shown in FIG. 4, the result detected by the pressure sensor 46 is sent to the control unit 49,
Controls the transport system of the pump 42 and the coating head 36 based on the detection result.

【0039】次に、このように構成された塗布現像処理
システム1の動作を説明する。
Next, the operation of the coating and developing system 1 configured as described above will be described.

【0040】まず、カセット11内に収容された未処理
の基板Gはローダ部2の搬出入ピンセット13によって
取り出された後、第一の処理部3の主基板搬送装置15
に受け渡され、そして、ブラシ洗浄装置17内に搬送さ
れる。このブラシ洗浄装置17内にてブラシ洗浄された
基板Gは、アドヒージョン処理装置19にて疎水化処理
が施され、冷却処理装置21にて冷却された後、中継部
4上に載置される。
First, after the unprocessed substrate G accommodated in the cassette 11 is taken out by the loading / unloading tweezers 13 of the loader unit 2, the main substrate transfer device 15 of the first processing unit 3
And transported into the brush cleaning device 17. The substrate G that has been brush-cleaned in the brush cleaning device 17 is subjected to a hydrophobic treatment by an adhesion processing device 19, cooled by a cooling processing device 21, and then placed on the relay unit 4.

【0041】第二の処理部5の主基板搬送装置22がこ
の基板Gを受け取り、塗布装置24へ搬送する。
The main substrate transfer device 22 of the second processing section 5 receives the substrate G and transfers it to the coating device 24.

【0042】塗布装置24では、支持ピン(図示せず)
が保持板31の表面から突き出た状態で主基板搬送装置
22から基板Gを受け取り、保持板31の表面から没し
て基板Gを保持板31上に載置する。
In the coating device 24, support pins (not shown)
Receives the substrate G from the main substrate transfer device 22 while protruding from the surface of the holding plate 31 and sinks from the surface of the holding plate 31 to place the substrate G on the holding plate 31.

【0043】その際、塗布ヘッド36は、図5に示した
ように待機位置41の監視部44上にある。ここで、図
7は塗布ヘッド36が待機位置41にある場合の動作を
示すフローチャートである。
At this time, the coating head 36 is on the monitoring unit 44 at the standby position 41 as shown in FIG. Here, FIG. 7 is a flowchart showing the operation when the coating head 36 is at the standby position 41.

【0044】待機位置41の監視部44上にある塗布ヘ
ッド36のノズル40から各圧力センサー46上に向け
てレジスト液を吐出する(ステップ701)。そして、
各圧力センサー46によって通常値の圧力が検出された
場合には(ステップ702)、後述の制御部49におけ
るカウンタのカウント値をクリアして(ステップ70
3)レジスト塗布動作を開始する。一方、いずれかの圧
力センサー46によって異常値(0も含む)の圧力が検
出された場合(ステップ702)、より具体的は例えば
圧力が検出されない場合や通常よりも低い場合には、ノ
ズル40におけるいずれかの吐出孔39に詰まり等の異
常が発生したものと判断して、洗浄部45においてノズ
ル40の洗浄処理を行う(ステップ704)。そして、
洗浄処理が終了すると、制御部49におけるカウンタの
カウント値を1つ上げて(この場合には、カウンタ値は
1)(ステップ705)、再度ステップ701及びステ
ップ702の動作を実行する。圧力の異常が検出されな
くなるまで、ステップ704の洗浄処理を繰り返すが、
制御部49におけるカウンタのカウント値が5、つまり
洗浄処理を5度繰り返しても圧力の異常が検出される場
合には(ステップ706)、上記の洗浄処理ではノズル
40の詰まり等は治癒しないものと判断して図示を省略
した表示部やスピーカ等より警報を発する(ステップ7
07)。このような警報を発することによって効果のな
い洗浄を無用に繰り返すことを防止できる。なお、上記
の例では、カウンタ値5で警報を発していたが、これは
一例に過ぎず、これ以下或いはこれ以上であっても勿論
構わない。
The resist liquid is discharged from the nozzle 40 of the coating head 36 on the monitoring unit 44 at the standby position 41 toward each pressure sensor 46 (step 701). And
When a normal value of pressure is detected by each pressure sensor 46 (step 702), the count value of the counter in the control unit 49 described later is cleared (step 70).
3) Start the resist coating operation. On the other hand, when the pressure of an abnormal value (including 0) is detected by any of the pressure sensors 46 (step 702), more specifically, for example, when the pressure is not detected or lower than normal, It is determined that an abnormality such as clogging has occurred in any of the discharge holes 39, and the cleaning unit 45 performs the cleaning process of the nozzle 40 (step 704). And
When the cleaning process is completed, the count value of the counter in the control unit 49 is increased by one (in this case, the counter value is 1) (step 705), and the operations of steps 701 and 702 are executed again. The cleaning process in step 704 is repeated until no abnormal pressure is detected.
If the count value of the counter in the control unit 49 is 5, that is, if an abnormality in pressure is detected even after repeating the cleaning process five times (step 706), it is determined that clogging of the nozzle 40 and the like in the above-described cleaning process will not be cured. Judgment is made and an alarm is issued from a display unit, a speaker or the like (not shown) (step 7).
07). By issuing such an alarm, it is possible to prevent unnecessary cleaning of ineffective cleaning. In the above example, the alarm is issued at the counter value of 5, but this is merely an example, and it is needless to say that the alarm value may be smaller or larger.

【0045】以上の動作によってノズル40が正常の場
合及び詰まり等が治癒した場合にはレジスト塗布動作が
開始される。
When the nozzle 40 is normal and the clogging or the like is cured by the above operation, the resist coating operation is started.

【0046】即ち、X方向搬送部材33、Y方向搬送部
材34、駆動部35及び搬送部37によって構成された
走査機構の走査によって塗布ヘッド36を走査しつつ、
ノズル40の各吐出孔39からレジスト液を基板Gの表
面に向けて供給する。上記走査の一例として、ノズル4
0の吐出孔39の列設方向をX方向と平行になるように
調節し、基板GのX方向一端側から塗布ヘッド36を走
査機構によってY方向に搬送する。次に、塗布ヘッド3
6を走査機構によってX方向にノズル40全体での塗布
ピッチ分だけ移動させ、塗布ヘッド36を走査機構によ
ってY方向に搬送する。以下、このような走査を繰り返
すことによって、基板Gの全面に亘り塗布ヘッド36を
走査し、基板Gの全面にレジスト液を塗布する。
That is, while the coating head 36 is scanned by the scanning of the scanning mechanism constituted by the X-direction conveying member 33, the Y-direction conveying member 34, the driving section 35 and the conveying section 37,
The resist liquid is supplied from the respective discharge holes 39 of the nozzle 40 toward the surface of the substrate G. As an example of the scanning, the nozzle 4
The direction in which the 0 ejection holes 39 are arranged is adjusted so as to be parallel to the X direction, and the coating head 36 is transported in the Y direction from the one end of the substrate G in the X direction by the scanning mechanism. Next, the coating head 3
6 is moved by the scanning mechanism in the X direction by the application pitch of the entire nozzle 40, and the coating head 36 is transported in the Y direction by the scanning mechanism. Hereinafter, by repeating such scanning, the application head 36 is scanned over the entire surface of the substrate G, and the resist liquid is applied over the entire surface of the substrate G.

【0047】次に、レジスト液が塗布された基板Gは熱
処理装置20にて加熱されてベーキング処理が施され、
冷却処理装置21にて冷却された後、露光装置6にて所
定のパターンが露光される。そして、露光後の基板Gは
現像装置18内へ搬送され、現像液により現像された後
にリンス液により現像液を洗い流し、現像処理を完了す
る。その後、熱処理装置20にて加熱されてベーキング
処理が施され、冷却処理装置21にて冷却された後に処
理済みの基板Gはローダ部1のカセット12内に収納さ
れ、一連の処理が終了する。
Next, the substrate G coated with the resist solution is heated and baked by the heat treatment apparatus 20.
After being cooled by the cooling processing device 21, a predetermined pattern is exposed by the exposure device 6. Then, the substrate G after the exposure is transported into the developing device 18, and after being developed with the developing solution, the developing solution is washed away with the rinsing solution, and the developing process is completed. After that, the substrate G is heated and baked by the heat treatment apparatus 20, and after being cooled by the cooling processing apparatus 21, the processed substrate G is stored in the cassette 12 of the loader unit 1, and a series of processing is completed.

【0048】このように本実施形態に係る塗布現像処理
システム1における塗布装置24によれば、待機位置4
1の監視部44上にある塗布ヘッド36のノズル40か
ら各圧力センサー46上に向けてレジスト液を吐出し、
いずれかの圧力センサー46によって異常値の圧力が検
出された場合には、ノズル40におけるいずれかの吐出
孔39に詰まり等の異常が発生したものと判断して、洗
浄部45においてノズル40の洗浄処理を行っているの
で、人手を介することなくノズル40の吐出孔39の詰
まり等によるレジスト液の塗布不良をなくすことができ
る。また、このように塗布前にノズル40からレジスト
液を吐出することによって、塗布前に行われるノズル4
0の先端部に残存する古いレジスト液の排出動作を同時
に兼ねることができる。
As described above, according to the coating apparatus 24 in the coating and developing processing system 1 according to the present embodiment, the standby position 4
The resist liquid is discharged from the nozzle 40 of the coating head 36 on the first monitoring unit 44 toward each pressure sensor 46,
If an abnormal value of pressure is detected by any of the pressure sensors 46, it is determined that an abnormality such as clogging has occurred in any of the discharge holes 39 of the nozzle 40, and the cleaning unit 45 cleans the nozzle 40. Since the process is performed, it is possible to eliminate a failure in applying the resist liquid due to clogging of the discharge hole 39 of the nozzle 40 without manual intervention. Further, by discharging the resist liquid from the nozzle 40 before the coating in this way, the nozzle 4 performed before the coating is discharged.
The operation of discharging the old resist solution remaining at the leading end of the zero can be simultaneously performed.

【0049】なお、上述した実施形態では、ノズル40
を洗浄液で洗浄するものであったが、第2実施形態とし
て、例えば図8に示すようにノズル40の各吐出孔39
の周囲に超音波振動子81を設けて所定の高周波源より
高周波を供給することで、ノズル40の洗浄を行うこと
ができる。これにより、待機位置41に洗浄部45を設
ける必要がなくなる。ここで、ノズル40に対してレジ
スト液を供給する場合には、超音波振動により励起され
たレジスト液がノズル40を通過することとなり、ノズ
ルの目詰まりが防止される。また、レジスト液のかわり
に洗浄液がノズル40内を通過して吐出口から吐出する
構成とすることにより、ノズル40の洗浄能力を向上さ
せることができる。
In the above-described embodiment, the nozzle 40
Was washed with a cleaning liquid. However, as a second embodiment, for example, as shown in FIG.
The nozzle 40 can be cleaned by providing an ultrasonic vibrator 81 around the nozzle and supplying a high frequency from a predetermined high frequency source. Accordingly, it is not necessary to provide the cleaning unit 45 at the standby position 41. Here, when the resist liquid is supplied to the nozzle 40, the resist liquid excited by the ultrasonic vibration passes through the nozzle 40, thereby preventing the nozzle from being clogged. Further, by adopting a configuration in which the cleaning liquid passes through the nozzle 40 and is discharged from the discharge port instead of the resist liquid, the cleaning performance of the nozzle 40 can be improved.

【0050】また、上述した実施形態では、監視部44
に配置された圧力センサー46によってノズル40の詰
まり等を検出していたが、第3実施形態として、図9に
示すようにノズル40の先端部にノズル40の各吐出孔
39から吐出されるレジスト液に向けて光を照射してそ
の反射光に基づいて吐出孔29の詰まり等を検出する光
学式センサー91を一体的に設けて監視手段を構成して
も構わない。なお、光学式センサーとして、例えば一対
の発光素子と受光素子とを吐出孔39を挟むように配置
して透過光により吐出孔の詰まり等を検出しても良い。
これにより、待機位置41に監視部44を設ける必要が
なくなる。
In the above-described embodiment, the monitoring unit 44
The clogging of the nozzle 40 and the like are detected by the pressure sensor 46 disposed in the nozzle 40. However, as a third embodiment, as shown in FIG. The monitoring means may be configured by integrally providing an optical sensor 91 that irradiates light toward the liquid and detects clogging of the ejection hole 29 based on the reflected light. In addition, as the optical sensor, for example, a pair of a light emitting element and a light receiving element may be arranged so as to sandwich the ejection hole 39, and the clogging of the ejection hole may be detected by transmitted light.
This eliminates the need to provide the monitoring unit 44 at the standby position 41.

【0051】更に、第4実施形態として、監視手段の他
の例として、図10に示すようにノズル40に対してレ
ジスト液が圧送される供給路101上に供給路101に
おけるレジスト液の供給圧を検出する圧力センサー10
2を配置しても構わない。
Further, as a fourth embodiment, as another example of the monitoring means, as shown in FIG. Pressure sensor 10 for detecting pressure
2 may be arranged.

【0052】また、第5実施形態として、図11及び図
12に示すように、ノズル140を基部137と先端部
138とが隣接した2層構造とし、ノズル140の先端
部138が基部137に沿ってスライド可能に設計して
も良い。この場合、先端部138に吐出孔139が設け
られ、レジスト液は基部137に設けられた中空部及び
先端部138に設けられた吐出口139を通過して吐出
される。本実施形態においては、ノズル140の先端部
138をスライド可能とすることにより、先端部138
を洗浄する際、吐出口139の基部137側の面及び基
部137とは反対側の面の双方を洗浄液に浸すことがで
きる。従って、洗浄残りがでやすい吐出口139の基部
137側の面をも十分に洗浄することができる。また、
先端部138は取り外し可能としても良い。
As a fifth embodiment, as shown in FIGS. 11 and 12, the nozzle 140 has a two-layer structure in which the base 137 and the tip 138 are adjacent to each other, and the tip 138 of the nozzle 140 extends along the base 137. It may be designed to be slidable. In this case, a discharge hole 139 is provided at the tip 138, and the resist solution is discharged through a hollow portion provided at the base 137 and a discharge port 139 provided at the tip 138. In the present embodiment, the tip 138 of the nozzle 140 is made slidable so that the tip 138 can be slid.
When cleaning is performed, both the surface on the base 137 side of the discharge port 139 and the surface on the opposite side to the base 137 can be immersed in the cleaning liquid. Accordingly, the surface of the discharge port 139 on the base 137 side where cleaning residue tends to occur can be sufficiently cleaned. Also,
Tip 138 may be removable.

【0053】また、第2実施形態では吐出孔39の周囲
に超音波振動子81を設けたが、第6実施形態として、
図13に示すように、ノズル40に振動ホーン110と
超音波振動子111とからなる超音波振動ホーンをノズ
ル40のスキャン方向と垂直に押し当て、超音波発振器
112から超音波を流しながら、薬液供給管109から
供給された薬液を吐出しても良い。薬液としてレジスト
液を用いる場合、超音波振動により励起されたレジスト
液がノズルを通ることになり目詰まりを防止することが
できる。また、薬液としてアセトンなどの洗浄液を用い
る場合、単に洗浄液のみを用いる場合と比較して超音波
振動により洗浄効果が向上する。
In the second embodiment, the ultrasonic vibrator 81 is provided around the discharge hole 39. However, as a sixth embodiment,
As shown in FIG. 13, an ultrasonic vibration horn composed of a vibration horn 110 and an ultrasonic vibrator 111 is pressed against the nozzle 40 in a direction perpendicular to the scan direction of the nozzle 40, The chemical supplied from the supply pipe 109 may be discharged. When a resist solution is used as the chemical solution, the resist solution excited by the ultrasonic vibration passes through the nozzle, so that clogging can be prevented. Further, when a cleaning liquid such as acetone is used as a chemical solution, the cleaning effect is improved by ultrasonic vibration as compared with the case where only the cleaning liquid is used.

【0054】また、上述の第2実施形態では吐出孔39
の周囲に超音波振動子81を設けたが、第7実施形態と
して、図14に示すように容器48内に超音波振動子1
81を設け、ノズル40を超音波洗浄しても良い。
In the second embodiment, the ejection holes 39 are used.
The ultrasonic vibrator 81 is provided around the container, but as a seventh embodiment, as shown in FIG.
81 may be provided and the nozzle 40 may be ultrasonically cleaned.

【0055】また、第8実施形態として、図15に示す
ように、ノズル40内に対し、レジスト液供給管117
を介してレジスト液または洗浄液・窒素ガス供給管11
6を介して洗浄液を供給できる構造としても良い。レジ
スト液供給管117、洗浄液・窒素ガス供給管116は
切り換えバルブ119と接続しており、この切り換えバ
ルブ119の切り換えによりノズル40内にレジスト液
が供給されるか洗浄液または窒素ガスが供給されるかが
選択される。洗浄液・窒素ガス供給管116には、洗浄
液供給管120を介して洗浄液または窒素ガス供給管1
21を介して窒素ガスが供給される。洗浄液供給管12
0及び窒素ガス供給管121は、切り換えバルブ118
と接続しており、この切り換えバルブ118の切り換え
により洗浄液・窒素ガス供給管116に対して洗浄液が
供給されるか窒素ガスが供給されるかが選択される。ま
た、ノズル40内のガスを排気する排気管123が設け
られ、バルブ122の開閉によりノズル40内のガスの
排気が調整される。
Further, as an eighth embodiment, as shown in FIG.
Solution or cleaning solution / nitrogen gas supply pipe 11 through
Alternatively, the cleaning liquid may be supplied through the nozzle 6. The resist liquid supply pipe 117 and the cleaning liquid / nitrogen gas supply pipe 116 are connected to a switching valve 119. By switching the switching valve 119, whether the resist liquid is supplied into the nozzle 40 or the cleaning liquid or the nitrogen gas is supplied. Is selected. The cleaning liquid or nitrogen gas supply pipe 1 is connected to the cleaning liquid / nitrogen gas supply pipe 116 through the cleaning liquid supply pipe 120.
Nitrogen gas is supplied via 21. Cleaning liquid supply pipe 12
0 and the nitrogen gas supply pipe 121 are connected to the switching valve 118.
The switching of the switching valve 118 selects whether the cleaning liquid or the nitrogen gas is supplied to the cleaning liquid / nitrogen gas supply pipe 116. Further, an exhaust pipe 123 for exhausting the gas in the nozzle 40 is provided, and the exhaust of the gas in the nozzle 40 is adjusted by opening and closing the valve 122.

【0056】第8実施形態においては、レジスト液を吐
出する場合には、バルブ122は閉じられ、レジスト液
供給管117からのレジスト液がノズル40内に供給さ
れるように切り換えバルブ119は切り換えられる。そ
して、ノズル40の吐出口39が目詰まりした場合に
は、切り換えバルブ119は切り換えられ、洗浄液・窒
素ガス供給管116を介して洗浄液がノズル40内に供
給される。これにより、目詰まりの原因である固着した
レジストは、洗浄液により溶解、除去される。その後、
切り換えバルブ118は切り換えられ、洗浄液・窒素ガ
ス供給管116には窒素ガスが供給される。この窒素ガ
スは、切り換えバルブ119を通ってノズル40内に供
給され、ノズル内の洗浄液を窒素ガスにより乾燥させ
る。窒素ガスが供給される際、バルブ122は開けら
れ、排気管123を介してノズル40内はガス抜きされ
る。
In the eighth embodiment, when discharging the resist liquid, the valve 122 is closed, and the switching valve 119 is switched so that the resist liquid from the resist liquid supply pipe 117 is supplied into the nozzle 40. . When the discharge port 39 of the nozzle 40 is clogged, the switching valve 119 is switched, and the cleaning liquid is supplied into the nozzle 40 via the cleaning liquid / nitrogen gas supply pipe 116. Thus, the fixed resist causing the clogging is dissolved and removed by the cleaning liquid. afterwards,
The switching valve 118 is switched, and nitrogen gas is supplied to the cleaning liquid / nitrogen gas supply pipe 116. The nitrogen gas is supplied into the nozzle 40 through the switching valve 119, and the cleaning liquid in the nozzle is dried by the nitrogen gas. When the nitrogen gas is supplied, the valve 122 is opened, and the inside of the nozzle 40 is vented through the exhaust pipe 123.

【0057】第1実施形態においては各吐出口毎に圧力
センサを設けているが、図16に示すように第9実施形
態として、ノズル40に3つに分割された領域毎に吐出
孔39を3つ設け、この領域毎に圧力センサ146を設
けても良い。この場合、領域毎の吐出圧を均一化するこ
とにより、基板上に面内均一にレジスト液を塗布するこ
とができる。
In the first embodiment, a pressure sensor is provided for each discharge port. However, as shown in FIG. 16, as a ninth embodiment, a nozzle 40 has a discharge hole 39 for each of three divided areas. Three pressure sensors 146 may be provided for each of these areas. In this case, by making the ejection pressure uniform for each region, the resist liquid can be uniformly applied on the substrate in the plane.

【0058】また、監視手段としてCCDカメラを設け
ても良い。この場合、CCDカメラによりノズルの各吐
出孔から吐出されるレジスト液の画像情報を得る。そし
て、例えば2つの画像情報を画像処理装置に取り込ん
で、減算を行なった差分画像に対して2値化などの処理
を行なって2つの画像情報の差を調べるパターンマッチ
ング法を行なうことによって、各吐出孔のレジスト液の
吐出状態を比較し、吐出孔の詰まりなどを検出すること
ができる。あるいは、予め比較パターンとして、吐出孔
の詰まりがない場合における画像情報を画像処理したパ
ターンを画像処理装置に登録しておき、CCDカメラよ
り得た画像情報を画像処理したパターンが予め登録した
パターンと一致するかを判断させることにより、吐出孔
の詰まりなどを検出することができる。
Further, a CCD camera may be provided as monitoring means. In this case, the image information of the resist liquid discharged from each discharge hole of the nozzle by the CCD camera is obtained. Then, for example, by taking two pieces of image information into the image processing apparatus, and performing a process such as binarization on the subtracted difference image to perform a pattern matching method for examining the difference between the two pieces of image information, By comparing the ejection state of the resist liquid in the ejection holes, clogging of the ejection holes can be detected. Alternatively, as a comparison pattern, a pattern obtained by performing image processing on image information when there is no clogging of the ejection holes is registered in the image processing apparatus, and a pattern obtained by performing image processing on image information obtained from a CCD camera is the same as a previously registered pattern. By determining whether they match, it is possible to detect clogging of the ejection holes.

【0059】更に、本発明では、例えば基板としてはガ
ラス基板ばかりでなく半導体ウエハ等であってもよい。
また、塗布液としてはレジスト液ばかりでなく絶縁膜用
の塗布液等であってもよい。
Further, in the present invention, for example, the substrate may be not only a glass substrate but also a semiconductor wafer.
The coating liquid may be not only a resist liquid but also a coating liquid for an insulating film.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
塗布液を塗布するためのノズルの吐出孔の詰まり等を迅
速に発見することができる。更にそのような瑕疵を人手
を介することなく治癒することができる。
As described above, according to the present invention,
It is possible to quickly find out clogging of a discharge hole of a nozzle for applying a coating liquid. Further, such defects can be cured without manual intervention.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1実施形態に係る塗布現像処理シ
ステムの斜視図。
FIG. 1 is a perspective view of a coating and developing processing system according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示した塗布現像処理システムにおける
塗布装置の構成を示す斜視図。
FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a coating apparatus in the coating and developing processing system shown in FIG.

【図3】 図2に示した塗布装置における塗布ヘッドの
構成を示す斜視図。
FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a coating head in the coating apparatus shown in FIG.

【図4】 図2に示した塗布ヘッドが待機位置にある状
態の概略的正面図。
FIG. 4 is a schematic front view showing a state where the coating head shown in FIG. 2 is at a standby position.

【図5】 図4に示した塗布ヘッドの側面図(その
1)。
FIG. 5 is a side view of the application head shown in FIG. 4 (part 1).

【図6】 図4に示した塗布ヘッドの側面図(その
2)。
FIG. 6 is a side view (part 2) of the coating head shown in FIG.

【図7】 図2に示した塗布装置における動作を示すフ
ローチャート。
FIG. 7 is a flowchart showing an operation of the coating apparatus shown in FIG. 2;

【図8】 第2実施形態に係る塗布ヘッドの側面図。FIG. 8 is a side view of a coating head according to a second embodiment.

【図9】 第3実施形態に係る塗布ヘッドの側面図。FIG. 9 is a side view of a coating head according to a third embodiment.

【図10】 第4実施形態に係る塗布ヘッドの正面図。FIG. 10 is a front view of a coating head according to a fourth embodiment.

【図11】 第5実施形態に係る塗布ヘッドの斜視図。FIG. 11 is a perspective view of a coating head according to a fifth embodiment.

【図12】 図11に示した塗布ヘッドの部分断面図。FIG. 12 is a partial cross-sectional view of the coating head shown in FIG.

【図13】 第6実施形態に係る塗布ヘッドの斜視図。FIG. 13 is a perspective view of a coating head according to a sixth embodiment.

【図14】 第7実施形態に係る塗布ヘッドの側面図。FIG. 14 is a side view of a coating head according to a seventh embodiment.

【図15】 第8実施形態に係る塗布ヘッドの側面図。FIG. 15 is a side view of a coating head according to an eighth embodiment.

【図16】 第9実施形態に係る塗布ヘッドの正面図。FIG. 16 is a front view of a coating head according to a ninth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

24 塗布装置 31 保持部 36 塗布ヘッド 39 吐出孔 40 ノズル 41 待機位置 44 監視部 45 洗浄部 46 圧力センサー 48 容器 81 超音波振動子 91 光学式センサー 101 供給路 102 圧力センサー G ガラス基板 Reference Signs List 24 coating device 31 holding unit 36 coating head 39 discharge hole 40 nozzle 41 standby position 44 monitoring unit 45 cleaning unit 46 pressure sensor 48 container 81 ultrasonic transducer 91 optical sensor 101 supply path 102 pressure sensor G glass substrate

Claims (21)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を保持する保持部材と、 前記保持された基板の表面に向けて塗布液を吐出する吐
出孔が設けられたノズルと、 前記吐出孔から吐出される塗布液の状態を監視する監視
手段とを具備することを特徴とする塗布装置。
1. A holding member for holding a substrate, a nozzle provided with a discharge hole for discharging a coating liquid toward a surface of the held substrate, and a state of the coating liquid discharged from the discharge hole is monitored. A coating device comprising:
【請求項2】 前記ノズルより前記保持部材により保持
された基板に対して塗布液を塗布する塗布位置と前記塗
布液を塗布しないときにノズルが待機する待機位置との
間でノズルを搬送する搬送手段を有し、 前記監視手段が、前記待機位置に配置され、前記ノズル
から吐出された塗布液の吐出圧を検出する圧力センサー
であることを特徴とする請求項1に記載の塗布装置。
2. A transport for transporting a nozzle between a coating position where the coating liquid is applied from the nozzle to a substrate held by the holding member and a standby position where the nozzle waits when the coating liquid is not applied. 2. The coating apparatus according to claim 1, further comprising a unit, wherein the monitoring unit is a pressure sensor disposed at the standby position and configured to detect a discharge pressure of the coating liquid discharged from the nozzle. 3.
【請求項3】 前記ノズルには前記吐出孔が複数設けら
れていることを特徴とする請求項2に記載の塗布装置。
3. The coating apparatus according to claim 2, wherein the nozzle has a plurality of the discharge holes.
【請求項4】 前記圧力センサーは前記吐出孔毎に設け
られていることを特徴とする請求項3に記載の塗布装
置。
4. The coating apparatus according to claim 3, wherein said pressure sensor is provided for each of said discharge holes.
【請求項5】 前記ノズルには複数分割された領域毎に
前記吐出孔が複数設けられ、 前記領域毎に前記圧力センサーが設けられていることを
特徴とする請求項2に記載に塗布装置。
5. The coating apparatus according to claim 2, wherein the nozzle is provided with a plurality of the ejection holes for each of a plurality of divided regions, and the pressure sensor is provided for each of the regions.
【請求項6】 前記監視手段が、前記ノズルと一体的に
設けられ、前記ノズルから吐出された塗布液に対して光
を照射し、その反射光または透過光に基づき、前記吐出
孔から吐出される塗布液の状態を監視する光学式センサ
ーであることを特徴とする請求項1に記載の塗布装置。
6. The monitoring means is provided integrally with the nozzle, irradiates the coating liquid discharged from the nozzle with light, and discharges the coating liquid from the discharge hole based on the reflected light or transmitted light. The coating device according to claim 1, wherein the coating device is an optical sensor that monitors a state of the coating solution.
【請求項7】 前記監視手段は、前記吐出孔から吐出さ
れる塗布液の画像情報を捕らえるCCDカメラを具備す
ることを特徴とする請求項1に記載の塗布装置。
7. The coating apparatus according to claim 1, wherein the monitoring unit includes a CCD camera that captures image information of the coating liquid discharged from the discharge port.
【請求項8】 前記画像情報は画像処理されることを特
徴とする請求項7に記載の塗布装置。
8. The coating apparatus according to claim 7, wherein the image information is subjected to image processing.
【請求項9】 前記画像処理において、前記画像情報は
2値化処理されることを特徴とする請求項8に記載の塗
布装置。
9. The coating apparatus according to claim 8, wherein in the image processing, the image information is binarized.
【請求項10】 前記画像処理において、前記画像情報
はパターンマッチング処理されることを特徴とする請求
項8に記載の塗布装置。
10. The coating apparatus according to claim 8, wherein in the image processing, the image information is subjected to a pattern matching process.
【請求項11】 前記ノズルに対して塗布液が圧送され
る供給路を有し、 前記監視手段が、前記供給路における塗布液の供給圧を
検出する圧力センサーであることを特徴とする請求項1
に記載の塗布装置。
11. A method according to claim 11, further comprising a supply path through which the application liquid is pressure-fed to the nozzle, wherein the monitoring means is a pressure sensor for detecting a supply pressure of the application liquid in the supply path. 1
3. The coating device according to claim 1.
【請求項12】 前記ノズルには前記吐出孔が複数設け
られていることを特徴とする請求項6に記載の塗布装
置。
12. The coating apparatus according to claim 6, wherein the nozzle is provided with a plurality of the discharge holes.
【請求項13】 前記監視手段による監視結果に基づき
前記吐出孔の状態が悪化しているかどうかを判断する手
段と、 前記吐出孔の状態が悪化していると判断される場合に前
記ノズルを洗浄する洗浄手段とを具備することを特徴と
する請求項1に記載の塗布装置。
13. A means for judging whether or not the state of the discharge hole is deteriorated based on a monitoring result by the monitoring means, and cleaning the nozzle when it is judged that the state of the discharge hole is deteriorated. The coating device according to claim 1, further comprising a cleaning unit that performs cleaning.
【請求項14】 前記洗浄手段が、前記ノズルの吐出孔
の近傍に配置された超音波振動子であることを特徴とす
る請求項13に記載の塗布装置。
14. The coating apparatus according to claim 13, wherein said cleaning means is an ultrasonic vibrator arranged near a discharge hole of said nozzle.
【請求項15】 前記洗浄手段が、前記洗浄液が貯留さ
れた容器であり、 前記ノズルが前記容器内の洗浄液に浸されることを特徴
とする請求項13に記載の塗布装置。
15. The coating apparatus according to claim 13, wherein the cleaning unit is a container storing the cleaning liquid, and wherein the nozzle is immersed in the cleaning liquid in the container.
【請求項16】 前記容器内には超音波振動子が具備さ
れていることを特徴とする請求項15に記載の塗布装
置。
16. The coating apparatus according to claim 15, wherein an ultrasonic vibrator is provided in the container.
【請求項17】 前記ノズルは、前記吐出孔を有する先
端部と、前記先端部と隣接し、前記吐出孔に連通した中
空部を有する基部とからなり、 前記先端部は、前記基部に沿ってスライド可能であるこ
とを特徴とする請求項15に記載の塗布装置。
17. The nozzle includes a tip having the discharge hole, and a base having a hollow portion adjacent to the tip and communicating with the discharge hole, wherein the tip extends along the base. The coating device according to claim 15, wherein the coating device is slidable.
【請求項18】 前記ノズルは、前記吐出孔を有する先
端部と、前記先端部と隣接し前記吐出孔に連通した中空
部を有する基部とからなり、 前記先端部は、前記基部から取り外し可能であることを
特徴とする請求項15に記載の塗布装置。
18. The nozzle comprises: a tip having the discharge hole; and a base having a hollow portion adjacent to the tip and communicating with the discharge hole. The tip is detachable from the base. The coating device according to claim 15, wherein the coating device is provided.
【請求項19】 前記洗浄手段が、前記ノズル内に洗浄
液を供給する洗浄液供給管であることを特徴とする請求
項13に記載の塗布装置。
19. The coating apparatus according to claim 13, wherein said cleaning means is a cleaning liquid supply pipe for supplying a cleaning liquid into said nozzle.
【請求項20】 前記ノズル内に前記塗布液を供給する
塗布液供給管と、 前記ノズルに対し前記洗浄液供給管からの前記洗浄液の
供給と前記塗布液供給管からの前記塗布液との供給とを
切り換える切り換え手段とを具備することを特徴とする
請求項19に記載の塗布装置。
20. A coating liquid supply pipe for supplying the coating liquid into the nozzle, supply of the cleaning liquid from the cleaning liquid supply pipe to the nozzle, and supply of the coating liquid from the coating liquid supply pipe to the nozzle. 20. The coating apparatus according to claim 19, further comprising: a switching unit that switches the application.
【請求項21】 前記洗浄手段により洗浄されたノズル
の、吐出孔から吐出される塗布液の状態を監視し、該状
態が良くならないときには所定の報知を行う手段を更に
具備することを特徴とする請求項13に記載の塗布装
置。
21. The apparatus according to claim 21, further comprising means for monitoring a state of the coating liquid discharged from the discharge hole of the nozzle cleaned by the cleaning means, and performing a predetermined notification when the state does not improve. The coating device according to claim 13.
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006167682A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Toppan Printing Co Ltd Ink-jet coating apparatus
WO2006107008A1 (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Canon Kabushiki Kaisha Liquid medicine ejection device
JP2007268519A (en) * 2006-03-08 2007-10-18 V Technology Co Ltd Liquid material feeding device
JP2009160546A (en) * 2008-01-09 2009-07-23 Toray Ind Inc Coating-nozzle inspection apparatus, inspection method and coating method of coating liquid
KR101009120B1 (en) 2008-10-20 2011-01-18 (주) 청호열처리 Pump drive hub cementation agent automatic application system
KR101172564B1 (en) * 2006-10-25 2012-08-08 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Liquid processing apparatus, liquid processing method and storage medium
US8443753B2 (en) 2007-02-23 2013-05-21 Seiko Epson Corporation Film forming apparatus and method for forming film
JP2014179494A (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device and discharge head waiting method
US20150000128A1 (en) * 2011-02-15 2015-01-01 GM Global Technology Operations LLC Production washing assembly verification system and method
JP2015018955A (en) * 2013-07-11 2015-01-29 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
JP2020513311A (en) * 2016-12-14 2020-05-14 デュール システムズ アーゲーDurr Systems AG Coating equipment and related operating methods
US11154892B2 (en) 2016-12-14 2021-10-26 Dürr Systems Ag Coating device for applying coating agent in a controlled manner
US11167308B2 (en) 2016-12-14 2021-11-09 Dürr Systems Ag Print head for the application of a coating agent on a component
US11167297B2 (en) 2016-12-14 2021-11-09 Dürr Systems Ag Print head for the application of a coating agent
US11203030B2 (en) 2016-12-14 2021-12-21 Dürr Systems Ag Coating method and corresponding coating device
US11298717B2 (en) 2016-12-14 2022-04-12 Dürr Systems Ag Print head having a temperature-control device
US11338312B2 (en) 2016-12-14 2022-05-24 Dürr Systems Ag Print head and associated operating method
US11440035B2 (en) 2016-12-14 2022-09-13 Dürr Systems Ag Application device and method for applying a multicomponent coating medium
US11504735B2 (en) 2016-12-14 2022-11-22 Dürr Systems Ag Coating device having first and second printheads and corresponding coating process
US11662264B2 (en) * 2019-05-22 2023-05-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Pressure measuring apparatus for measuring a discharge pressure of a liquid discharged onto a wafer
JP7330053B2 (en) 2019-10-09 2023-08-21 東京エレクトロン株式会社 Cleaning apparatus, substrate processing apparatus, and abnormality determination method
US11944990B2 (en) 2016-12-14 2024-04-02 Dürr Systems Ag Coating device for coating components

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006167682A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Toppan Printing Co Ltd Ink-jet coating apparatus
JP4665509B2 (en) * 2004-12-20 2011-04-06 凸版印刷株式会社 Ink jet coating equipment
WO2006107008A1 (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Canon Kabushiki Kaisha Liquid medicine ejection device
JP2007268519A (en) * 2006-03-08 2007-10-18 V Technology Co Ltd Liquid material feeding device
KR101184808B1 (en) 2006-10-25 2012-09-20 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Liquid processing apparatus, liquid processing method and storage medium
KR101172564B1 (en) * 2006-10-25 2012-08-08 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Liquid processing apparatus, liquid processing method and storage medium
US8443753B2 (en) 2007-02-23 2013-05-21 Seiko Epson Corporation Film forming apparatus and method for forming film
JP2009160546A (en) * 2008-01-09 2009-07-23 Toray Ind Inc Coating-nozzle inspection apparatus, inspection method and coating method of coating liquid
KR101009120B1 (en) 2008-10-20 2011-01-18 (주) 청호열처리 Pump drive hub cementation agent automatic application system
US20150000128A1 (en) * 2011-02-15 2015-01-01 GM Global Technology Operations LLC Production washing assembly verification system and method
US9381598B2 (en) * 2011-02-15 2016-07-05 GM Global Technology Operations LLC Production washing assembly verification system and method
JP2014179494A (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device and discharge head waiting method
US10639665B2 (en) 2013-03-15 2020-05-05 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing apparatus and standby method for ejection head
JP2015018955A (en) * 2013-07-11 2015-01-29 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
JP2020513311A (en) * 2016-12-14 2020-05-14 デュール システムズ アーゲーDurr Systems AG Coating equipment and related operating methods
US11298717B2 (en) 2016-12-14 2022-04-12 Dürr Systems Ag Print head having a temperature-control device
US11167308B2 (en) 2016-12-14 2021-11-09 Dürr Systems Ag Print head for the application of a coating agent on a component
US11167302B2 (en) 2016-12-14 2021-11-09 Dürr Systems Ag Coating device and associated operating method
US11167297B2 (en) 2016-12-14 2021-11-09 Dürr Systems Ag Print head for the application of a coating agent
US11203030B2 (en) 2016-12-14 2021-12-21 Dürr Systems Ag Coating method and corresponding coating device
JP7044783B2 (en) 2016-12-14 2022-03-30 デュール システムズ アーゲー Coating equipment and related operating methods
US11154892B2 (en) 2016-12-14 2021-10-26 Dürr Systems Ag Coating device for applying coating agent in a controlled manner
US11338312B2 (en) 2016-12-14 2022-05-24 Dürr Systems Ag Print head and associated operating method
US11440035B2 (en) 2016-12-14 2022-09-13 Dürr Systems Ag Application device and method for applying a multicomponent coating medium
US11504735B2 (en) 2016-12-14 2022-11-22 Dürr Systems Ag Coating device having first and second printheads and corresponding coating process
US11944990B2 (en) 2016-12-14 2024-04-02 Dürr Systems Ag Coating device for coating components
US11878317B2 (en) 2016-12-14 2024-01-23 Dürr Systems Ag Coating device with printhead storage
US11813630B2 (en) 2016-12-14 2023-11-14 Dürr Systems Ag Coating method and corresponding coating device
US11662264B2 (en) * 2019-05-22 2023-05-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Pressure measuring apparatus for measuring a discharge pressure of a liquid discharged onto a wafer
JP7330053B2 (en) 2019-10-09 2023-08-21 東京エレクトロン株式会社 Cleaning apparatus, substrate processing apparatus, and abnormality determination method

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