JP2001153965A - 金属の選別回収装置および方法 - Google Patents

金属の選別回収装置および方法

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JP2001153965A
JP2001153965A JP33538399A JP33538399A JP2001153965A JP 2001153965 A JP2001153965 A JP 2001153965A JP 33538399 A JP33538399 A JP 33538399A JP 33538399 A JP33538399 A JP 33538399A JP 2001153965 A JP2001153965 A JP 2001153965A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの選別
を人手によらないで行う。 【解決手段】 銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスを
含む破砕片2が交流磁界内を通過するときの該破砕片の
インダクタンス変化量を測定するコイル9A,9B,9
Cと、破砕片2の重量を測定する重量測定装置500
と、銅、真鍮、亜鉛別に固有の基準色が予め定められ、
破砕片2の有する色が前記基準色と等価である部分の面
積を測定する画像センサ701及び色画像抽出装置70
2とが設けられている。そして、測定したインダクタン
ス変化量に基づいて破砕片2の中からステンレスを識別
し、測定重量と前記インダクタンス変化量に基づいて破
砕片2の中からアルミを識別し、さらに測定面積に基づ
いて破砕片2の中から銅、真鍮、亜鉛を識別する。これ
により、破砕片を銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレ
ス、その他に選別して回収することが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属を含む廃棄物
から銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの5種類の非
磁性金属を識別し、材質別に選別して回収する金属の選
別回収装置、および選別回収方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、金属およびプラスチック等の
非金属が混在した廃棄物から、鉄および銅、真鍮、アル
ミ、ステンレス、亜鉛等の高価な非磁性金属を一括して
選別回収する処理が行われている。一般に、鉄の選別に
は磁気選別機が多く用いられ、鉄を除いた非磁性金属
(銅、真鍮、アルミ、亜鉛等)の選別には回転ドラム式
の渦電流選別機が用いられている。この渦電流選別機に
は円周上に磁石を備えた回転ドラムが設けられ、この回
転ドラムによって生じる回転磁界により非磁性金属に渦
電流が発生するので、非磁性金属は回転磁界から反発力
を受けて回転ドラムから飛ばされ、これにより、反発力
を受けない非金属との選別が可能となっている。
【0003】風力選別機や振動式選別機も一般的に使わ
れている。これら風力選別機や振動式選別機は比重差を
利用しており、比重の大きな銅、真鍮、亜鉛、ステンレ
ス等の非磁性金属から、比重の小さなアルミの選別を比
較的容易に行うことができる。また比重の大きな液体
(重液)を使った比重選別機も使われている。この比重
選別機は、水に鉄の微粉をコロイド状に拡散させた液か
らなる重液を用いたもので、例えば比重が3である重液
を使えば、アルミは浮き、銅、真鍮、亜鉛、ステンレス
は沈むため、この選別機もアルミの選別を容易に行うこ
とができる。
【0004】また、比較的大きな形状の破砕片に対して
は人手による選別(以下、手選別という)が多く行われ
ている。例えば、特開昭57−81878号公報には、
磁力選別機により鉄を除いた後、風力選別機により非金
属を除き、その後、非磁性金属の選別を主として手選別
で(小物に限っては風力選別機を利用して)行うことが
開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の技術のうち、渦電流選別機では銅、真鍮、アルミ、
亜鉛を非金属から容易に選別することはできるが、銅、
真鍮、アルミ、亜鉛を各々材質別に分けるのは困難であ
る。また、ステンレスは導電性が低いので非金属側に回
収され、非金属とステンレスを選別する必要がある。
【0006】風力選別機や振動式選別機では、銅、真
鍮、亜鉛、ステンレス等の非磁性金属からアルミを選別
することは可能であるが、比重の近い銅、真鍮、亜鉛、
ステンレスについては個々の選別が困難である。また、
アルミの選別についても10mm以下の比較的均一な形
状の破砕片に対しては分離性能が良いが、10〜200
mmのように寸法の大きい破砕片については形状の影響
を受けて選別が困難である。
【0007】また、重液を使った比重選別機の場合も、
銅、真鍮、亜鉛、ステンレス等の非磁性金属からアルミ
を選別することは可能であるが、銅、真鍮、亜鉛、ステ
ンレスの選別は困難である。また、重液を使うために、
水処理設備が必要で設備が大型になり、さらに重液の比
重管理等の保守が必要である。なお、ステンレスに対し
ては、高磁力ドラムによるステンレス選別機があるが、
破砕片の大きさや形状に左右され、十分な回収は困難で
ある。
【0008】さらに、上記公報に開示されたものでは、
比較的大きな形状の破砕片を選別回収することが一つの
狙いであるが、手選別に頼る部分が多いため、やむを得
ず作業者を騒音、汚れ、寒暑等の厳しい環境においた
り、長時間の単純作業に従事させることになってしま
う。また、手選別に頼れば人件費等によって処理コスト
が高くなることは避けられない。
【0009】本発明の目的は、主要な非磁性金属である
銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの選別を人手によ
らないで行うことのできる金属の選別回収装置、および
金属の選別回収方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、金属を含む破砕片が交流磁界内を通過す
るときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定するイ
ンダクタンス測定手段と、測定した前記インダクタンス
変化量から前記破砕片の材質を識別する第1の識別手段
と、破砕片の重量を測定する重量測定手段と、測定した
前記重量と前記インダクタンス変化量から前記破砕片の
材質を識別する第2の識別手段と、金属の材質別に金属
固有の基準色が予め定められ、破砕片の有する色が前記
基準色と等価である部分の面積を測定する色画像測定手
段と、測定した前記面積から前記破砕片の材質を識別す
る第3の識別手段と、前記各識別手段での識別結果に基
づいて材質別に破砕片を回収する回収手段とを備えたこ
とを特徴としている。
【0011】上記構成によれば、インダクタンス測定手
段は、例えば高周波と低周波の交流電圧を2つのコイル
にそれぞれ印加して交流磁界を生じさせ、その交流磁界
内を破砕片が通過するときの破砕片のインダクタンス変
化を測定する。そして、第1の識別手段は、その測定し
たインダクタンス変化の比を求め、2周波数間における
インダクタンス変化の勾配が大きいときは破砕片はステ
ンレスと識別し、勾配が小さいときはステンレス以外の
他の非磁性金属であると識別する。
【0012】次に、第2の識別手段は、前記2つのコイ
ルで測定した破砕片の3方向の面の面積に相当したイン
ダクタンス変化量を求め、さらにこの3方向の面に相当
するインダクタンス変化量から破砕片の体積に相当する
インダクタンス変化量を求める。この破砕片の体積に相
当するインダクタンス変化量と、重量測定手段で測定し
た破砕片の重量との比をとると、この比の値が破砕片の
密度の逆数に比例することから、この比の値の大きさか
らアルミと他の銅、真鍮、亜鉛とを識別することができ
る。
【0013】次に、色画像測定手段は、銅、真鍮、亜鉛
の破砕片に対して各々材質固有の色を抽出して基準色と
して設定しておき、選別する破砕片に対して各々基準色
と等価な色の部分の面積を測定する。そして、第3の識
別手段は、色画像測定手段で測定した前記面積の総和を
求めるとともに、その面積の総和に対する基準色別の各
面積の比率を算出し、その比率が例えば50%以上の場
合に、破砕片が当該基準色に対応する材質の金属である
と識別する。これにより、銅、真鍮、亜鉛を識別するこ
とができる。
【0014】そして最後に回収手段は、上記各識別手段
での識別結果に基づいて、破砕片を銅、真鍮、アルミ、
亜鉛、ステンレス、その他に分けて回収する。
【0015】なお、色画像測定手段の前工程に、破砕片
の表面層を除去する表面層除去手段を設けることができ
る。破砕片の表面には、ダスト、油、錆等の汚れが付着
していたり、また塗装やメッキが施されていたりする場
合が多く、このような場合でも上記表面層除去手段を設
けておけば、汚れ、塗装、メッキ等を除去して破砕片表
面に金属面を露出させることができるので、色画像測定
手段での測定が容易となる。
【0016】また、本発明の金属の選別回収方法は、金
属を含む破砕片が交流磁界内を通過するときの該破砕片
のインダクタンス変化量を測定し、その測定したインダ
クタンス変化量に基づいて前記破砕片の材質を識別する
第1のステップと、破砕片の重量を測定し、その測定重
量と前記第1のステップで測定したインダクタンス変化
量に基づいて前記破砕片の材質を識別する第2のステッ
プと、金属の材質別に金属固有の基準色を予め定めてお
き、破砕片の有する色が前記基準色と等価である部分の
面積を測定し、その測定した面積に基づいて前記破砕片
の材質を識別する第3のステップと、前記各ステップで
の識別結果に基づいて材質別に破砕片を回収する第4の
ステップとを含むことを特徴としている。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従って説明する。図1は、本発明に係る金属の選別回
収装置の全体構成図である。図1に示すように、破砕片
の流れに沿って、ホッパ100、第1の搬送装置20
0、第2の搬送装置300、ステンレス回収装置40
0、重量測定装置500、アルミ回収装置600、第3
の搬送装置700、銅回収装置800、真鍮回収装置8
50、亜鉛回収装置900、その他回収装置950が配
置されている。
【0018】そして、破砕機(図示せず)で破砕され、
さらに篩(図示せず)で粒径10mm以下を除かれた粒
径10〜200mmの金属を含む破砕片2は、ホッパ1
00に投入される。ホッパ100の下方には、振動フィ
ーダ101,102が設けられ、破砕片2は振動フィー
ダ101によりホッパ100から一定量づつ取り出さ
れ、振動フィーダ102により1列に整列され、さらに
1個づつ間隔をあけて搬送装置200に送られる。
【0019】搬送装置200の上方にはフォトセンサ1
8が搬送方向に沿って2箇所に設けられており、搬送装
置200上の破砕片2が1個づつ最小間隔(例えば30
0mm)を確保できるように、最初のフォトセンサ18
で破砕片同士の間隔が計測される。また、搬送装置20
0の後段には可動ガイド201が設けられ、搬送装置2
00上の破砕片同士の間隔が設定値(例えば300m
m)より小さい場合は、当該破砕片の通過を2番目のフ
ォトセンサ18で検知して可動ガイド201を動作さ
せ、破砕片を回収ライン250へ回収する。回収された
破砕片は再度ホッパ100へ投入される。
【0020】フォトセンサ18はフォトセンサアンプ1
9に接続され、フォトセンサアンプ19はインターフェ
ース8を介して演算・制御装置21に接続されており、
フォトセンサ18からの信号はフォトセンサアンプ19
およびインターフェイス8を介して演算・制御装置21
に取り込まれる。なお、図1にはフォトセンサ18が多
数設けられているが、他のフォトセンサ18も同様に演
算・制御装置21に接続されている。
【0021】また、可動ガイド201にはアクチュエー
タ16が設けられている。このアクチュエータ16はア
クチュエータドライバ17に接続され、アクチュエータ
ドライバ17はインターフェース8を介して演算・制御
装置21に接続されており、アクチュエータ16は演算
・制御装置21からの出力信号によって駆動制御され
る。なお、図1にはアクチュエータ16が多数設けられ
ているが、他のアクチュエータ16も、同様に演算・制
御装置21からの出力信号によって駆動制御される。
【0022】搬送装置300には3組の検出用コイル9
A,9B,9Cが設けられている。検出用コイル9A,
9B,9Cはコイル用アンプ20およびA/D変換器7
を介してインターフェース8に接続されている。各検出
用コイル9A,9B,9Cの前にはフォトセンサ18が
設けられ、破砕片2がフォトセンサ18を通過した時の
検出信号をもとに各検出用コイル9A,9B,9Cによ
りインダクタンス変化を検出する。また、破砕片2がコ
イルの検出部に無いときのインダクタンスを初期インダ
クタンスとして、次に送られてきた破砕片2が検出コイ
ルを通過する時に検出したインダクタンスと初期インダ
クタンスとの差をインダクタンス変化量として求める。
すなわち、励磁コイルに交流電圧を印加して発生した交
流磁界内を破砕片2が通過すると、破砕片2が導電性の
場合には破砕片2には渦電流が発生し、その結果、渦電
流によって発生する逆向きの磁界によってコイルのイン
ダクタンスが変化する。なお、図1では破砕片2の有無
によって生じる検出コイルの出力電圧の差をインダクタ
ンス変化量として検出する。
【0023】次に各コイルについて詳細に説明すると、
検出用コイル9Aは高周波数f2の交流電圧が印加され
ており、搬送装置300上の破砕片2に対して垂直方向
に磁界を発生している。検出用コイル9Bは低周波数f
1の交流電圧が印加されており、搬送装置300上の破
砕片2に対して同様に垂直方向に磁界を発生している。
また、検出用コイル9Cは高周波数f2の交流電圧が印
加されており、搬送装置300上の破砕片2に対して水
平方向に磁界を発生している。
【0024】ここで、検出用コイル9Aと検出用コイル
9Bにより測定した2周波数におけるインダクタンス変
化の比をとりコイルの出力で表す(周波数f1における
出力電圧/周波数f2における出力電圧)と、図2に示
すように導電率の低いステンレスは他の銅、真鍮、アル
ミ、亜鉛に比べて小さい値を示す。そこで、予めしきい
値を設定することでステンレスを識別することができ
る。また、非金属は高周波数f2、低周波数f1におい
て共にコイルの出力が低いことから、同様に予めしきい
値を設定することで識別可能である。
【0025】搬送装置300上で検出用コイル9Cの後
段にはエアーノズル301が設けられ、検出用コイル9
A,9B,9Cにより非金属と識別された破砕片はエア
ーノズル301により搬送装置300上から吹き飛ばさ
れて回収される。エアーノズル301には電磁弁302
を介してエアー源303が接続されており、電磁弁30
2を動作させることによりエアーノズル301からエア
ーが噴射される。なお、電磁弁302は電磁弁ドライバ
304を介してインターフェース8に接続されており、
演算・制御装置21によりその動作が制御されている。
【0026】また、ステンレスは識別後、搬送装置30
0の後段に設けられたステンレス回収装置400に回収
される。すなわち、ステンレス回収装置400には搬送
ガイドを兼ねたセパレータ401が設けられ、ステンレ
スが流れてきたときはセパレータ401を上方に開い
て、そのステンレスを回収する。セパレータ401はア
クチュエータ16によって駆動される。
【0027】ステンレス回収装置400で回収されなか
った破砕片、つまりステンレス以外の非磁性金属は重量
測定装置500に送られる。重量測定装置500は上部
に傾斜受け台501を有し、破砕片が受け台501上を
滑り落ちている間に、受け台501下部の荷重センサ5
02で破砕片の重量を測定する。荷重センサ502での
測定信号は、ストレインアンプ6で増幅され、さらにA
/D変換器7でデジタル信号に変換されてから、インタ
ーフェイス8を介して演算・制御装置21に入力され
る。そして、ここで測定した破砕片の重量と、搬送装置
300上の検出用コイル9A,9Cで測定したインダク
タンス変化とからアルミを識別する。
【0028】ここで、図4、図5および図6を用いて、
検出用コイル9A,9Cによるインダクタンス測定方法
を説明する。図4に示すように、搬送ベルト305上の
破砕片2の3方向の投影面積S1、S2、S3が測定で
きると、破砕片2の体積Vは近似的に(S1×S2×S
3)の平方根で求まる。一方、破砕片の重量Wは破砕片
2の体積と比重の積で表せる。その結果、破砕片2につ
いてインダクタンス変化から求めた体積Vと重量Wの比
をとると、この値は破砕片の比重の逆数を表す。したが
って、比重約2.7のアルミと他の非鉄金属(比重約7.
1の亜鉛,比重約8.9の銅、真鍮)とを識別すること
が可能となる。
【0029】また、図5および図6は、インダクタンス
変化の測定波形から破砕片2の各方向の投影面積を検出
する方法を示している。図5は検出用コイル9Aの破砕
片2の通過における検出波形をコイルの出力電圧で示し
たものである。横軸に時間をとると破砕片2が接近する
と、図4における破砕片2の前方の側面に生じた渦電流
により出力はマイナスの波形を示す。したがって、この
マイナス区間の波形を積分した値が破砕片2の前方の側
面積S3に相当する。次に破砕片2がコイルの中央を通
過すると、出力波形は破砕片2の平面上に生じた渦電流
によってプラスの出力を示す。したがって、同様にこの
プラスの区間を積分した値が破砕片2の平面積S1に相
当する。
【0030】また、図6は検出用コイル9Cの検出波形
を同様にコイルの出力電圧で示したものである。検出用
コイル9Cは搬送装置300の搬送面に対して水平方向
に磁界をかけているので破砕片2が検出用コイル9Cに
近ずくとマイナスの波形を示し、その積分値は破砕片2
の前方側面の投影面積S3に相当する。また、破砕片2
がコイルの中央を通過する時はプラスの波形を示し、そ
の積分値V2は破砕片2の側面積S2に相当する。した
がって、検出用コイル9Aのマイナス波形の積分値をV
3、プラスの波形の積分値をV1とし、検出用コイル9
Cのプラスの波形の積分値をV2とすると、破砕片2の
体積は(V1×V2×V3)の平方根で表される。
【0031】したがって、破砕片2の体積に相当するコ
イル出力/重量は、 (V1×V2×V3) / W で表され、しきい値を設定することで図3に示すように
しきい値より大きければアルミ、小さければ銅、真鍮、
亜鉛と識別できる。識別されたアルミは、図1に示した
アルミ回収装置600によって回収される。このアルミ
回収装置600にもステンレス回収装置400と同様
に、搬送ガイドを兼ねたセパレータ601が設けられ、
アクチュエータ16によってセパレータ601を開閉さ
せることにより、アルミを回収することができる。
【0032】次に、非金属、ステンレス、アルミは取り
除かれ銅、真鍮、亜鉛を含む破砕片2は、搬送装置70
0へ送られる。そして、搬送装置700の上方に設けら
れた画像センサ701で破砕片表面の色が検出される。
画像センサ701は色画像抽出装置702に接続され、
この色画像抽出装置702は積算カウンタ703を介し
てインターフェース8に接続されている。また、画像セ
ンサ701の周囲には照明装置704が設けられ、色画
像を検出するのに十分な照度を得ている。
【0033】画像センサ701で破砕片表面の色が検出
されることで、破砕片は銅、真鍮、亜鉛に識別され、そ
の識別結果に基づき銅は銅回収装置800に、真鍮は真
鍮回収装置850に、亜鉛は亜鉛回収装置900に、ど
れにも該当しないその他の破砕片はその他回収装置95
0にそれぞれ回収される。なお、銅回収装置800、真
鍮回収装置850、および亜鉛回収装置900には、ア
クチュエータ16によって開閉駆動されるセパレータ8
01,851,901がそれぞれ設けられている。
【0034】画像センサ701の検出信号は色画像抽出
装置702に取り込まれ、予め設定した基準の色と等価
の色を画素単位で検出する。さらに等価と検出された画
素信号は積算カウンタ703に送られて二値化され、そ
の画素数がカウントされる。そして、検出した画像から
銅、真鍮、亜鉛の基準色と等価な色の画素数が算出さ
れ、その算出結果がインターフェイス8を介して演算・
制御装置21に取り込まれる。
【0035】次に、図7〜図10を用いて、色の検出に
よる識別方法について具体的に説明する。まず、図7は
例として銅の破砕片について検出し、破砕片全体を二値
化した画像を示している。すなわち、図中、白ぬけの図
形は銅の破砕片を表しており、投影面積に相当してい
る。この面積は二値化した画素をカウントすることで求
められS0とする。
【0036】図8は基準色として銅の色と等価な色の画
素を抽出し、二値化(白抜け)したものを示している。
その面積をカウントしS1(銅色の面積)とする。同様
に図9は、基準色として真鍮の色と等価な色の画素を抽
出し、二値化(白ぬけ)したものを示している。その面
積をカウントしてS2(真鍮色の面積)とする。さらに
図11は、基準色として亜鉛の色と等価な色の画素を抽
出し、二値化(白ぬけ)したものを示している。その面
積をカウントしてS3(亜鉛色の面積)とする。そし
て、これらの測定した基準色と等価な各々の色の面積と
これらの等価色の面積の総和との比から材質を識別す
る。
【0037】すなわち、銅の色を示す面積比率 S1
/(S1+S2+S3) 真鍮の色を示す面積比率 S2/(S1+S2+S3) 亜鉛の色を示す面積比率 S3/(S1+S2+S3) を求め、これらの比の値の中で一番大きい色の材質とし
て識別する。または、予めしきい値を設定しておき、そ
のしきい値を越えた材質に識別することも可能である。
【0038】次に、図11は本発明での識別結果を従来
での識別結果と比較したものである。従来用いられてい
る識別方法は、例えば特開平7−275802号公報に
開示されているように、破砕片の面積(S0)に対する
各々抽出した各材質の色の面積の比から識別する。
【0039】 すなわち、銅の色を示す面積比率は S1/S0 真鍮の色を示す面積比率は S2/S0 亜鉛の色を示す面積比率は S3/S0 を求め、その比の値が一番大きい色の材質に識別してい
る。
【0040】図11において横軸に識別率(破砕片に対
して測定した各等価色の面積比率の最大値)を示し、縦
軸には破砕片に対して測定した各等価色の面積比率の最
大値が横軸に示す識別率の値より大きい破砕片の割合を
識別可能率として示している。本発明の識別方法によれ
ば、図中のプロット(■)で示すように全体の85%が
識別率90%で識別可能であり、全体の95%が識別率
70%で識別可能である。特に全体の100%が識別率
50%で識別可能である。それに対して従来の識別方法
では、図中のプロット(●)で示すように識別率が50
%となるのは全体で10%しかなく、全体の95%の破
砕片は識別率が10%である。識別率が10%程度では
汚れの多い破砕片に対しては識別が不良となる。
【0041】次に、図12は、本発明によって非磁性金
属5種類を識別する際のフローを示している。ホッパか
ら供給された破砕片は間隔検出が行われ、間隔不良の破
砕片については再供給のためにホッパに戻され、間隔良
の破砕片のみ識別部へ搬送される(ステップS1,S
2)。そして識別部ではインダクタンス変化検出を行い
(ステップS3)、その値の大きさから非金属の識別を
行って(ステップS4)、非金属を回収する。次に2周
波数間におけるインダクタンス変化の勾配からステンレ
スの識別を行って(ステップS5)、ステンレスを回収
する。さらに破砕片の重量検出を行って(ステップS
6)、インダクタンス変化と重量の比からアルミの識別
を行って(ステップS7)、アルミを回収する。
【0042】また、他の非鉄金属に対しては色画像検出
を行って(ステップS8)、銅、真鍮、亜鉛に対する材
質固有の色と等価な色の面積を検出し、各々検出した色
の面積の総和に対する各固有の色の面積比率から銅、真
鍮、亜鉛とその他を識別して各々材質別に回収する。
【0043】なお、本実施の形態では、検出用コイル9
A,9B,9Cはインダクタンス測定手段を、重量測定
装置500は重量測定手段を、画像センサ701および
色画像抽出装置702は色画像測定手段をそれぞれ構成
している。また、第1〜第3の識別手段は演算・制御装
置21内に設けられている。
【0044】また、色を検出する際、破砕片の表面の汚
れ(ダスト、油、錆等)、塗装、メッキにより誤識別す
る可能性がある場合は、図13に示すように、破砕片の
表面層を除去する表面層除去装置750を、搬送装置7
00の上流側に配置すると良い。この表面層除去装置7
50は、軸先端に設けたワイヤブラシ751をモータ7
52で回転させることにより、搬送ベルト705上の破
砕片2の表面層を除去することができる。また、色画像
検出のタイミングはフォトセンサ18により破砕片先端
の通過タイミングを検出し、先端から表面除去を行う位
置を算出しておけば、色画像の検出時にも破砕片先端を
フォトセンサ18で検出して表面層除去部753が色画
像検出部に達したタイミングで測定を行うことができ
る。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第一ステップとしてステンレスを識別し、第二ステップ
としてアルミを識別し、第三ステップとして銅、真鍮、
亜鉛を識別することができ、銅、真鍮、アルミ、亜鉛、
ステンレスの選別回収を高精度に且つ自動的に行うこと
ができる。
【0046】また、破砕片の中に非金属が混入していて
も、非磁性金属に比べてインダクタンス変化量が小さい
ことから非金属を容易に識別可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る金属の選別回収装置の全体構成図
である。
【図2】ステンレスと他の非磁性金属との識別結果を示
した図である。
【図3】アルミと銅、真鍮、亜鉛との識別結果を示した
図である。
【図4】コイルにより測定する破砕片の3方向の面積を
示した図である。
【図5】破砕片の平面方向に磁界を発生するコイルで破
砕片を測定した出力波形を示した図である。
【図6】破砕片の側面方向に磁界を発生するコイルで破
砕片を測定した出力波形を示した図である。
【図7】破砕片の投影面積を示す二値化画像を示した図
である。
【図8】銅の基準色と等価な色の面積を示す二値化画像
を示した図である。
【図9】真鍮の基準色と等価な色の面積を示す二値化画
像を示した図である。
【図10】亜鉛の基準色と等価な色の面積を示す二値化
画像を示した図である。
【図11】色による識別の本発明による方法と従来方法
との精度比較を示した図である。
【図12】本発明に係る金属の選別回収方法のフローを
示した図である。
【図13】表面層除去装置の構成図である。
【符号の説明】
2 破砕片 9A,9B,9C 検出用コイル 18 フォトセンサ 21 演算・制御装置 100 ホッパ 200,300,700 搬送装置 301 エアーノズル 400 ステンレス回収装置 500 重量測定装置 600 アルミ回収装置 701 画像センサ 702 色画像抽出装置 703 積算カウンタ 704 照明装置 750 表面層除去装置 800 銅回収装置 850 真鍮回収装置 900 亜鉛回収装置 950 その他回収装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B07B 15/00 B07B 15/00 (72)発明者 林 政克 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 長谷川 勉 東京都千代田区神田駿河台四丁目6番地 株式会社日立製作所環境システム推進本部 内 Fターム(参考) 2F063 AA50 BB05 BC10 BD17 DA05 DD04 GA08 2G020 AA04 AA08 DA05 DA32 DA35 DA66 3F079 AB00 BA06 BA11 BA28 CA29 CA32 CA36 CA37 CB09 CB12 CB25 CB29 CB35 CC03 CC06 DA12 DA15 EA02 4D021 JA20 KA05 KA12 LA01 LA04 LA05 MA02 MA06 MA10 NA02 NA06 NA09 NA10

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属を含む破砕片が交流磁界内を通過す
    るときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定するイ
    ンダクタンス測定手段と、測定した前記インダクタンス
    変化量から前記破砕片の材質を識別する第1の識別手段
    と、 破砕片の重量を測定する重量測定手段と、測定した前記
    重量と前記インダクタンス変化量から前記破砕片の材質
    を識別する第2の識別手段と、 金属の材質別に金属固有の基準色が予め定められ、破砕
    片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を測
    定する色画像測定手段と、測定した前記面積から前記破
    砕片の材質を識別する第3の識別手段と、 前記各識別手段での識別結果に基づいて材質別に破砕片
    を回収する回収手段と、を備えた金属の選別回収装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の選別回収装置におい
    て、 前記色画像測定手段は、前記破砕片に対して基準色と等
    価な色の部分の面積を基準色別に測定し、 前記第3の識別手段は、前記色画像測定手段で測定した
    面積の総和を求めるとともに、その面積の総和に対する
    基準色別の各面積の比率を算出し、その比率が50%以
    上の場合に、前記破砕片が当該基準色に対応する材質の
    金属であると識別することを特徴とする金属の選別回収
    装置。
  3. 【請求項3】 銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスを
    含む破砕片が交流磁界内を通過するときの該破砕片のイ
    ンダクタンス変化量を測定するインダクタンス測定手段
    と、測定した前記インダクタンス変化量に基づいて前記
    破砕片の中からステンレスを識別する第1の識別手段
    と、 破砕片の重量を測定する重量測定手段と、測定した前記
    重量と前記インダクタンス変化量に基づいて前記破砕片
    の中からアルミを識別する第2の識別手段と、 銅、真鍮、亜鉛別に固有の基準色が予め定められ、破砕
    片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を測
    定する色画像測定手段と、測定した前記面積に基づいて
    前記破砕片の中から銅、真鍮、亜鉛を識別する第3の識
    別手段と、 前記各識別手段での識別結果に基づいて、破砕片を銅、
    真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレス、その他に選別して回
    収する回収手段と、を備えた金属の選別回収装置。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の選別回
    収装置において、 前記色画像測定手段の前工程に、破砕片の表面層を除去
    する表面層除去手段を設けたことを特徴とする金属の選
    別回収装置。
  5. 【請求項5】 金属を含む破砕片が交流磁界内を通過す
    るときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定し、そ
    の測定したインダクタンス変化量に基づいて前記破砕片
    の材質を識別する第1のステップと、 破砕片の重量を測定し、その測定重量と前記第1のステ
    ップで測定したインダクタンス変化量に基づいて前記破
    砕片の材質を識別する第2のステップと、 金属の材質別に金属固有の基準色を予め定めておき、破
    砕片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を
    測定し、その測定した面積に基づいて前記破砕片の材質
    を識別する第3のステップと、 前記各ステップでの識別結果に基づいて材質別に破砕片
    を回収する第4のステップと、を含む金属の選別回収方
    法。
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