JP2001153900A

JP2001153900A - 選択レベル測定装置

Info

Publication number: JP2001153900A
Application number: JP34034699A
Authority: JP
Inventors: Kenichi Yuasa; 賢一湯浅; Takeya Nagano; 健也長野; Yutaka Saito; 裕斎藤; Hiroyuki Shiotani; 宏行塩谷; Hiroshi Tanae; 弘田苗
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1999-11-30
Filing date: 1999-11-30
Publication date: 2001-06-08

Abstract

(57)【要約】【課題】周波数掃引時間を従来に比して短縮すること
ができる選択レベル測定装置を提供する。【解決手段】第１局部発振部３に第１のＰＬＬ周波数
シンセサイザ３ａおよび第２のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ｃとそれらの出力を選択する第１の高周波スイッチ
３ｂとを備え、また、第２局部発振部４に第３のＰＬＬ
周波数シンセサイザ４ａおよび第４のＰＬＬ周波数シン
セサイザ４ｃとそれらの出力を選択する第２の高周波ス
イッチ４ｂとを備える。第１のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃのロ
ックアップ動作およびレベル検出動作と、第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ４ａおよび第４のＰＬＬ周波数シン
セサイザ４ｃのロックアップ動作およびレベル検出動作
を交互に繰り返し行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、主として信号の周
波数成分の解析や信号レベルの測定に使用される選択レ
ベル測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、信号レベルや周波数スペクトラム
を測定する手段として、一般にスペクトラム・アナライ
ザや選択レベル測定装置が使用される。一般にスペクト
ラム・アナライザはシンセサイザ部において多重ループ
シンセサイザを構成し、微小ステップでの局部発振周波
数切換の高速化を実現し、広帯域にわたって高速掃引が
可能である。しかし、多重ループＰＬＬ周波数シンセサ
イザを構成するため、回路規模が大きく、消費電力が多
く、大型かつ高価であるという欠点がある。一方、選択
レベル測定装置は、例えば、電界レベル測定や不要輻射
測定に利用されており、高い感度と高い周波数選択度を
有している。しかしながら、スペクトラム・アナライザ
と比較すると、比較的小型で安価ではあるが、構成の違
いにより、掃引時間が長いという欠点がある。

【０００３】上記の周波数掃引時間を短縮する手段とし
て、例えば、特開平10−160771号公報に示されるよう
に、複数の局部発振部の周波数を同時に変化させ、各々
の局部発振周波数を被測定信号の周波数変換を行う複数
の周波数変換部に入力することで高速周波数掃引を可能
とした選択レベル測定装置が提案されている。

【０００４】以下、図１２を用いて上記複数の局部発振
部を同時に変化させ高速周波数掃引を可能とした選択レ
ベル測定装置について説明する。

【０００５】この選択レベル測定装置は、チューナー部
２と、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46と、第２の
ＰＬＬ周波数シンセサイザ部47と、第２の帯域制限フィ
ルタ５と、レベル検出部６と、制御部７と、表示部56と
から構成されている。

【０００６】チューナー部２は、第１のミキサ2a、第１
の帯域制限フィルタ2b、第２のミキサ2cで構成される。
第１のミキサ2aは入力端子１から入力される被測定信号
（周波数ｆ）と第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46か
ら入力される第１局部発振信号（ｆ1）とを混合し、第
１の中間周波数信号（ＩＦ1）に変換する。また、第２
のミキサ２cは第１の帯域制限フィルタ２ｂで帯域制限
された第１の中間周波数信号（ＩＦ1）と第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ部47から入力される第２の局部発振
信号（ｆ2）とを混合し、第２の中間周波数信号（ＩＦ
2）に変換する。第２の帯域制限フィルタ５は第２の中
間周波数信号（ＩＦ2）の帯域制限を行う。レベル検出
部６は第２の帯域制限フィルタ５の出力のレベルを検出
し、制御部７は第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46お
よび第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部47から出力され
る局部発振周波数の制御とレベル検出部６の出力データ
の処理を行うものである。分周比データ信号８は、ＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザの発振周波数を設定する信号であ
り、データ信号・クロック信号・ロードイネーブル信号
の３種類の信号から構成され、第１のＰＬＬ周波数シン
セサイザ部46および第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部
47へ入力されている。表示部56は制御部７で制御された
周波数と前記第２中間周波数信号（ＩＦ2）のレベル検
出結果を表示する。

【０００７】第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46およ
び第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部47は同一の構成を
有しており、その構成を図１３に示す。第１のＰＬＬ周
波数シンセサイザ部46は、基準発振器48と、基準分周器
49と、位相比較器50と、ローパスフィルタ51と、電圧制
御発振器52と、主分周器53とを備えている。

【０００８】基準分周器49は、基準発振器48からの基準
周波数ｆ0を分周するもので、基準分周器49の出力は第
１位相比較周波数信号（ｆREF1）として位相比較器50に
入力される。位相比較器50では第１位相比較周波数信号
（ｆREF1）と主分周器53から出力された信号との位相を
比較し、位相差に応じた位相誤差信号を出力する。位相
比較器50から出力された位相誤差信号はローパスフィル
タ51において信号に含まれる高周波成分が除去され、直
流成分のみの信号となり、電圧制御発振器52に入力さ
れ、電圧制御発振器52の局部発振信号（ｆ1）を制御す
る。電圧制御発振器52から出力される局部発振信号（ｆ
1）は、主分周器53の分周比で分周され、その分周され
た位相比較周波数信号が位相比較器50に入力される。こ
のような位相同期ループが構成され、制御部７から分周
比データ８を送り込むことで第１のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ部46からは、第１位相比較周波数信号（ｆREF1）
を最小の周波数ステップ幅とする第１局部発振信号（ｆ
1）を出力する構成となっている。

【０００９】一般に、上記のようなＰＬＬ周波数シンセ
サイザにおいては、位相比較周波数（ｆREF1）を高くす
ることによってロックアップタイムが短縮できるが、位
相比較周波数を変えずに、ロックアッブタイムを短縮す
ることは困難であることが知られている。

【００１０】第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部47にお
いて、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46と同一の基
準発振器48で発振された基準周波数信号（ｆ0）が、第
１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46とは異なる分周比で
分周する基準分周器49によって第２位相比較周波数信号
（ｆREF2）に分周される。第２のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ部47では、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部46と
同様の動作により、第２位相比較周波数信号（ｆREF2）
を最小の周波数ステップ幅として、第２局部発振信号
（ｆ2）を出力する構成となっている。

【００１１】従来の選択レベル測定装置は、周波数掃引
幅の最小値が第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ部４6と
第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部47の位相比較周波数
信号（ｆREF1、ｆREF2）の最大公約数に設定するもので
ある。

【００１２】被測定信号周波数ｆは、ｆ1、ＩＦ1からｆ＝ｆ1−ＩＦ1 ・・・・〔１〕と書ける。また、ＩＦ1はｆ2、ＩＦ2からＩＦ１＝ｆ2−ＩＦ2 ・・・・〔２〕と書ける。ここで、式〔２〕と式〔１〕からｆ＝ｆ1−ｆ2＋ＩＦ2 ・・・・〔３〕となる。ここで、ＩＦ2を固定の周波数としているた
め、被測定周波数は各局部発振部の局部発振周波数の差
で決定される。一方、各局部発振部のＰＬＬ周波数シン
セサイザ部の主分周比をそれぞれＮ1、Ｎ2（Ｎ1、Ｎ2と
もに正の整数）とすると各局部発振部は、ｆ1＝ｆREF1×Ｎ1 ・・・・〔４〕ｆ2＝ｆREF2×Ｎ2 ・・・・〔５〕となり、ｆREF1とfREF2の最大公約数をａとすると、ｆREF1＝ａ×ｘ・・・・〔６〕ｆREF2＝ａ×ｙ（ｘ、ｙは任意の正の整数）・・〔７〕となる。式〔６〕を式〔４〕に、式〔７〕を式〔５〕に
代入し、さらに式〔４〕、式〔５〕を式〔３〕に代入す
ると、ｆ＝ａ（ｘ×Ｎ1−ｙ×Ｎ2）＋ＩＦ２・・・・〔８〕となる。ここで、ｘとｙは互いに素であるから、（ｘ×Ｎ1−ｙ×Ｎ2）＝ｎ・・・・

〔９〕とできる。ｎは全ての整数をとることができるので、式
〔８〕、式

〔９〕よりｆ＝ａ×ｎ＋ＩＦ2 ・・・・〔１０〕となり、被測定周波数ｆは最小周波数周波数掃引ステッ
プ幅が（ｆREF1、ｆREF2）の最大公約数ａで決定され
る。

【００１３】以上の動作を下記の表１および図１４を用
いて詳細に説明する。

【表１】

【００１４】第１位相比較周波数ｆREF1は、表１におい
ては基準周波数ｆ0を12.8ＭＨzとしたときに基準分周器
49で２５分の１に分周した0.512ＭＨzとなり、また、第
２位相比較周波数ｆREF2は、基準周波数ｆ0（12.8ＭＨ
z）を基準分周器49で４０分の１に分周した0.320ＭＨz
となる。被測定周波数ｆの100ＭＨz付近の周波数掃引を
行うために、第１局部発振部および第２局部発振部の各
シンセサイザの主分周比であるＮ1、Ｎ2を表１の設定と
する。上記の設定により、被測定周波数の最小周波数掃
引ステップ幅がｆREF1とｆREF2の最大公約数である0.06
4ＭＨzとなり、0.064ＭＨzステップで測定周波数を掃引
することができる。

【００１５】図１４は、従来の選択レベル測定装置にお
ける局部発振部のタイムチャートを示したものであり、
第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ46および第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ47の出力周波数が時間ｔに対して変
化する様子を示したものである。第１のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザ46および第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ47
のロックアップ動作は同期しており、周波数を１ステッ
プ切り換える時間（以下、周波数ステップ切換時間とい
う）55以内にロックアップ動作を完了する。ロックアッ
プ完了後のレベル検出時間54（例えば0.1ｍｓ）におい
て当該周波数におけるレベル検出動作を行う。

【００１６】ここで、一般にレベル検出動作に対して各
ＰＬＬ周波数シンセサイザのロックアップタイムが十分
長いため、周波数ステップ切換時間55は第１のＰＬＬ周
波数シンセサイザ部46および第２のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ部47のロックアップタイムの長い方で決定され
る。また、一般に位相比較周波数が低いほどＰＬＬ周波
数シンセサイザのロックアップタイムは長くなる傾向が
あり、従来の選択レベル測定装置の周波数ステップ切換
時間は第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ部のロックアッ
プタイムで決定される。

【００１７】ここで、位相比較周波数が0.320ＭＨzであ
る第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ４のロックアップタ
イムは約0.8ｍｓであり、例えば、位相比較周波数が0.0
64ＭＨzであるＰＬＬ周波数シンセサイザのロックアッ
プタイムは約４ｍｓである。したがって、従来の選択レ
ベル測定装置では、上記の動作によって本来約４ｍｓが
必要である0.064ＭＨzステップの周波数切換時間を約0.
8ｍｓに短縮でき、高速周波数掃引が可能となる。

【００１８】一方、複数のＰＬＬ周波数シンセサイザを
交互にロックアップ動作させることで総合的に周波数切
換時間を短縮することができるデュアルシンセサイザ装
置に関する技術として特開平10−271004号公報に示され
るものが提案されている。

【００１９】さらに、特開平3−220464号公報に示され
るようにスペクトラムアナライザにおいて広帯域スペク
トラム表示および狭帯域スペクトラム表示できるものが
提案されている。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の複数の局部発振部を同時に変化させ高速周波数掃引
を行う選択レベル測定装置において、周波数ステップの
切換時間は、各局部発振部のＰＬＬ周波数シンセサイザ
のロックアップタイムの最大値で決定され、一般に切換
時間は約１ｍｓ以上に限定されるという課題があった。

【００２１】また、分周比データ信号線が多く、回路規
模が大きくなるという課題があった。さらに、広帯域掃
引中に、特定の周波数帯における狭帯域スペクトル測定
ができないという課題があった。

【００２２】本発明は、上記従来の選択レベル測定装置
の問題点を解決するものであり、周波数掃引時間を従来
に比して短縮することができ、また、広帯域掃引中に特
定の周波数帯の狭帯域スペクトルを測定できる選択レベ
ル測定装置の提供を目的としたものである。

【００２３】

【課題を解決するための手段】本発明の選択レベル測定
装置は、第１局部発振部および第２局部発振部の周波数
を同時に変化させて高速周波数掃引を行う選択レベル測
定装置であって、前記第１局部発振部に第１乃至第ｎ
（ｎは２以上の整数）のＰＬＬ周波数シンセサイザとそ
れらの出力を選択する第１の高周波スイッチとを備え、
また、前記第２局部発振部に第ｎ＋１乃至第２ｎのＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第２の
高周波スイッチとを備え、前記第１局部発振部に備えた
第ｋ（ｋは１からｎまでの整数）のＰＬＬ周波数シンセ
サイザと前記第２局部発振部に備えた第ｎ＋ｋのＰＬＬ
周波数シンセサイザのロックアップ動作およびレベル検
出動作を同期させるとともに、ｋ＝１乃至ｎを循環的に
切り替えることを特徴とする。この構成により、周波数
掃引時間をｎ分の１に短縮することが可能な選択レベル
測定装置を実現することができる。

【００２４】そして、第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シン
セサイザに入力される分周比データ信号を選択するスイ
ッチを第１局部発振部に備え、また、第ｎ＋１乃至第２
ｎのＰＬＬ周波数シンセサイザに入力される分周比デー
タ信号を選択するスイッチを第２局部発振部に備えた。
この構成により、周波数掃引時間をｎ分の１に短縮可能
な選択レベル測定装置を簡単な構成で実現することがで
きる。

【００２５】さらに、第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シン
セサイザに共通のクロック信号およびデータ信号を入力
し、また、第ｎ＋１乃至第２ｎのＰＬＬ周波数シンセサ
イザに共通のクロック信号およびデータ信号を入力し、
前記各ＰＬＬ周波数シンセサイザに個別のロードイネー
ブル信号を入力することを特徴とする。この構成によ
り、周波数掃引時間をｎ分の１に短縮可能な選択レベル
測定装置を簡単な構成で実現することができる。

【００２６】そして、第１局部発振部および第２局部発
振部の周波数を同時に変化させて高速周波数掃引を行う
選択レベル測定装置であって、第１局部発振部に第１乃
至第ｎ（ｎは２以上の整数）のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザとそれらの出力を選択する第１の高周波スイッチとを
備え、また、第２局部発振部に第ｎ＋１乃至第２ｎのＰ
ＬＬ周波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第２
の高周波スイッチとを備え、前記第１乃至第２ｎのＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザのロックアップ動作を同時に行
い、レベル検出動作時に第１の高周波スイッチおよび第
２の高周波スイッチを高速に切り替えることを特徴とす
る。この構成により、周波数掃引時間をｎ ²分の１に短
縮することが可能な選択レベル測定装置を実現すること
ができる。

【００２７】また、第１局部発振部および第２局部発振
部の周波数を同時に変化させて高速周波数掃引を行う選
択レベル測定装置であって、第１の周波数掃引ステッブ
幅で広帯域掃引を行い、所定の帯域内においてのみ前記
第１の周波数掃引ステップ幅よりも小さい第２の周波数
掃引ステップ幅で狭帯域掃引を行うことを特徴とする。
この構成により、広帯域スペクトルと特定の狭帯域スペ
クトルを同時に測定することが可能な選択レベル測定装
置を実現することができる。

【００２８】さらに、第１局部発振部に第１乃至第ｎ
（ｎは２以上の整数）のＰＬＬ周波数シンセサイザとそ
れらの出力を選択する第１の高周波スイッチとを備え、
また、第２局部発振部に第ｎ＋１乃至第２ｎのＰＬＬ周
波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第２の高周
波スイッチとを備え、前記第１局部発振部に備えた第ｋ
（ｋは１からｎまでの整数）のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザと前記第２局部発振部に備えた第ｎ＋ｋのＰＬＬ周波
数シンセサイザのロックアップ動作およびレベル検出動
作を同期させるとともに、ｋ＝１乃至ｎを循環的に切り
替え、かつ、前記ｋの値に応じて異なる帯域幅の掃引を
行うことを特徴とする。この構成により、帯域幅の異な
るｎ種類のスペクトルを同時かつ高速に測定することが
可能な選択レベル測定装置を実現することができる。

【００２９】そして、所定帯域の掃引において所定のレ
ベルを越える入力信号を検出した場合に、前記入力信号
の周波数近傍を前記所定帯域よりも狭い帯域で掃引する
ことを特徴とする。この構成により、広帯域スペクトル
と同時に測定する狭帯域スペクトルの測定範囲を自動的
に設定可能な選択レベル測定装置を実現することができ
る。

【００３０】また、予め設定された周波数近傍を狭帯域
掃引することを特徴とする。この構成により、広帯域ス
ペクトルと同時に測定する狭帯域スペクトルの測定範囲
を予め任意に設定可能な選択レベル測定装置を実現する
ことができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
乃至図１１を用いて説明する。

【００３２】（第１の実施の形態）図１は、本発明の第
１の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブロ
ック図である。図１において図１２と同一の符号を付し
た構成要素はそれぞれ同一の構成を有し、同一の動作を
行う。

【００３３】本発明における第１の実施の形態の選択レ
ベル測定装置では、第１局部発振部３は、第１のＰＬＬ
周波数シンセサイザ３ａ、第２のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ３ｃ、およびそれらの出力を選択する第１の高周波
スイッチ３ｂを備えている。また、第２局部発振部４
は、第３ＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａ、第４ＰＬＬ周
波数シンセサイザ４ｃ、およびそれらの出力を選択する
第２の高周波スイッチ４ｂを備えている。第１局部発振
部３および第２局部発振部４以外の構成要素は、図１２
に示した従来装置と同一の構成を有し、同一の動作を行
う。

【００３４】また、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３
ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａのロック
アップ動作およびレベル検出動作と、第２のＰＬＬ周波
数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ４ｃのロックアップ動作およびレベル検出動作を交
互に繰り返し行うようにした。

【００３５】この選択レベル測定装置は、チューナー部
２と、第１局部発振部３と、第２局部発振部４と、第２
の帯域制限フィルタ５と、レベル検出部６と、制御部７
と、表示部56とから構成されている。

【００３６】第１の高周波スイッチ３ｂは、制御部７か
らの高周波スイッチ制御信号９によって第１のＰＬＬ周
波数シンセサイザ３ａまたは第２のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ３ｃの出力を選択することができる。また、第２
の高周波スイッチ４ｂは、制御部７からの高周波スイッ
チ制御信号９によって第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ
４ａまたは第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃの出力
を選択することができる。高周波スイッチ制御信号９は
第１の高周波スイッチ３ｂおよび第２の高周波スイッチ
４ｂを制御する信号であり、第１の高周波スイッチ３ｂ
および第２の高周波スイッチ４ｂに入力される。

【００３７】図２は、各局部発振部における第１乃至第
４のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａ、３ｃ、４ａ、４ｃ
のタイムチャートを示したものである。図２に示すよう
に、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａと第３のＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザ４ａは同期しており、周波数ステ
ップ切換時間10（例えば１ｍｓ）以内にロックアップ動
作およびレベル検出動作を完了する。また、第２のＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザ３ｃと第４のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ４ｃは同期しており、周波数ステップ切換時間１
１（例えば１ｍｓ）以内にロックアップ動作およびレベ
ル検出動作を完了する。

【００３８】第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよ
び第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａのロックアップ
完了後、制御部７からの高周波スイッチ制御信号９によ
って高周波スイッチ３ｂおよび４ｂがそれぞれ第１のＰ
ＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数
シンセサイザ４ａ側へ切り換わり、第１のＰＬＬ周波数
シンセサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ４ａの出力が第１第２局部発振部３および第２局部発
振部４の出力として第１のミキサ２ａおよび第２のミキ
サ２ｃに入力される。したがって、レベル検出時間12
（例えば0.1ｍｓ）においては、第１のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ
４ａの出力周波数によって決定される第１番目の測定周
波数のレベル検出が可能となる。

【００３９】また、上記の第１のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａの
ロックアップ動作中に、第２のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃのロ
ックアップ動作を開始する。第２のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃ
のロックアップ完了後、制御部７からの高周波スイッチ
制御信号９によって高周波スイッチ３ｂおよび４ｂがそ
れぞれ第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃおよび第４
のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃ側へ切り換わり、第２
のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周
波数シンセサイザ４ｃの出力が第１第２局部発振部３お
よび第２局部発振部の出力として第１ミキサ２ａおよび
第２ミキサ２ｃに入力される。したがって、レベル検出
時間13（例えば、0.1ｍｓ）においては、第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シン
セサイザ４ｃの出力周波数によって決定される第２番目
の測定周波数のレベル検出が可能となる。

【００４０】上記の動作を交互に繰り返すことで、周波
数ステップ切換時間10または11（例えば、１ｍｓ）中
に、第１番目および第２番目の測定周波数のレベル検出
動作を２回行うことができる。したがって、周波数掃引
時間は従来のものに比べ２分の１に短縮することができ
る。

【００４１】以上のように本発明の第１の実施の形態に
よれば、各局部発振部に２系統のＰＬＬ周波数シンセサ
イザを備え、互いを交互にロックアップさせて、その出
力を高周波スイッチで選択することにより、周波数掃引
時間を従来の２分の１に短縮することができる。

【００４２】なお、上記の実施の形態では、各局部発振
部におけるＰＬＬ周波数シンセサイザの数を２とした
が、ＰＬＬ周波数シンセサイザの数を３以上の整数ｎと
した場合は、掃引時間をｎ分の１に短縮することができ
る。

【００４３】（第２の実施の形態）図３は、本発明の第
２の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブロ
ック図である。図３において図１と同一の符号を付した
構成要素は、それぞれ同一の構成を有し、同一の動作を
行う。

【００４４】本発明の第２の実施の形態の選択レベル測
定装置は、第１の実施の形態の選択レベル測定装置に対
して、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第２
のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃに入力される分周比デ
ータ信号を選択するスイッチ14乃至16を第１局部発振部
３に付加し、また、第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４
ａおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃに入力さ
れる分周比データ信号を選択するスイッチ17乃至19を第
２局部発振部４に付加したものである。

【００４５】図３に示すように、本発明の第２の実施の
形態の選択レベル測定装置は、第１局部発振部３に第１
のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａと、第１の高周波スイ
ッチ３ｂと、第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃと、
スイッチ14乃至16とを備え、第２局部発振部４に第３の
ＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａと、第２の高周波スイッ
チ４ｂと、第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃと、ス
イッチ17乃至19とを備えている。第１局部発振部３およ
び第２局部発振部４以外の構成要素は、図１に示した第
１の実施の形態と同一の構成を有し、同一の動作を行
う。

【００４６】スイッチ14乃至19は、制御部７からのスイ
ッチ制御信号20によって、第１のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ３ａおよび第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃに
入力される分周比データ信号８を選択するように動作す
る。スイッチ制御信号20は、スイッチ14乃至19を制御す
る信号であり、スイッチ14乃至19に入力される。

【００４７】図４は、本発明の第２の実施の形態の選択
レベル測定装置における第１乃至第４のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザ３ａ、３ｃ、４ａ、４ｃの出力周波数が時間
ｔに対して変化する様子と、スイッチ14乃至19の時間ｔ
に対するスイッチング動作とを示す図である。

【００４８】図４において、第１の実施の形態の選択レ
ベル測定装置と同様に、第１のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ａと第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａとは同期
している。また、第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃ
と第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃとは同期してい
る。

【００４９】ここで、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ
３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａのロッ
クアップ動作を開始する場合、制御部７からのスイッチ
制御信号20によってスイッチ14乃至16を第１のＰＬＬ周
波数シンセサイザ３ａ側に切り換え、分周比データ信号
８を第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａに入力する。
また、同時にスイッチ17乃至19を第３のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザ４ａ側に切り換え、分周比データ信号８を第
４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａに入力する。

【００５０】一方、第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３
ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃのロック
アップ動作を開始する場合は、第１のＰＬＬ周波数シン
セサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４
ａのロックアップ動作を開始する場合と同様に、制御部
７からのスイッチ制御信号20によってスイッチ14乃至16
を第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃ側に切換えると
共に、スイッチ17乃至19を第３のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ４ｃ側に切り換えて、分周比データ信号８を第２の
ＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波
数シンセサイザ４ｃに入力する。

【００５１】上記の動作と、第１の実施の形態の動作と
を組み合わせることで、周波数ステップ切換時間10また
は11中に第１番目および第２番目の測定周波数のレベル
検出動作を２回行うことができる。

【００５２】以上のように本発明の第２の実施の形態に
よれば、第１乃至第４のＰＬＬ周波数シンセサイザに入
力する分周比データ信号を伝達する信号線をスイッチで
選択することで、従来例および第１の実施の形態で１２
本必要であった分周比データ信号線を６本に削減できる
ので、回路規模を小型化できる。したがって、周波数掃
引時間を２分の１に短縮した小型の選択レベル測定装置
を簡単な構成で実現することができる。

【００５３】なお、上記の実施の形態では、各局部発振
部におけるＰＬＬ周波数シンセサイザの数を２とした
が、ＰＬＬ周波数シンセサイザの数を３以上の整数ｎと
した場合は、掃引時間をｎ分の１に短縮することができ
る。

【００５４】（第３の実施の形態）図５は、本発明の第
３の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブロ
ック図である。図５において、図１と同一の符号を付し
た構成要素は、それぞれ同一の構成を有し、同一の動作
を行う。

【００５５】本発明の第３の実施の形態の選択レベル測
定装置は、第１の実施の形態の選択レベル測定装置にお
いて、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第２
のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａに共通のクロック信号
およびデータ信号を入力し、また、第３のＰＬＬ周波数
シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ４ｃに共通のクロック信号およびデータ信号を入力
し、前記各ＰＬＬ周波数シンセサイザのそれぞれに個別
のロードイネーブル信号を入力するように構成した。

【００５６】図５に示すように、本発明の第３の実施の
形態の選択レベル測定装置は、第１局部発信部３内の第
１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ３ｃへそれぞれロードイネーブル信
号を個別に入力できるよう第１のロードイネーブル信号
24および第２のロードイネーブル信号27を備え、また、
第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第２のＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザ３ｃへ共通にデータ信号およびク
ロック信号を入力できるよう第１のデータ信号25および
第１のクロック信号26を備えている。

【００５７】一方、第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４
ａおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃへそれぞ
れロードイネーブル信号を個別に入力できるよう第３の
ロードイネーブル信号28および第４のロードイネーブル
信号31を備え、また、第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ
４ａおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃヘ共通
のデータ信号およびクロック信号を入力できるよう第２
のデータ信号29および第２のクロック信号30を備えてい
る。これ以外の構成と動作は第１の実施の形態と同一で
ある。

【００５８】図６は、本発明の第３の実施の形態の選択
レベル測定装置における第１乃至第４のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザ３ａ、３ｃ、４ａ、４ｃの出力周波数が時間
ｔに対して変化する様子と、時間ｔに対する分周比デー
タ信号の入力方法を示した図である。

【００５９】図６において、第１の実施の形態と同様
に、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａと第３のＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザ４ａは同期している。また、第２
のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃと第４のＰＬＬ周波数
シンセサイザ４ｃは同期している。

【００６０】第１番目の測定周波数のレベル検出動作を
行う場合、第１のデータ信号入力時間57中に制御部７か
ら第１乃至第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａ、３
ｃ、４ａ、４ｃヘ第１のクロック信号26および第２のク
ロック信号30と第１のデータ信号25および第２のデータ
信号29とが入力される。また、第１のＰＬＬ周波数シン
セサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４
ａに、第１のロードイネーブル信号24および第３のロー
ドイネーブル信号28が第１のロードイネーブル信号入力
時間59中に入力され、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ
３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａはロッ
クアップ動作を開始する。しかし、第２のＰＬＬ周波数
シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ４ｃはデータ信号25および29、並びにクロック信号26
および30が入力されているが、ロードイネーブル信号27
および31が入力されないのでロックアップ動作を開始す
ることはない。第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａお
よび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａのロックアッ
プ動作完了後において、レベル検出時間12（例えば１ｍ
ｓ）以内に第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび
第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａの出力周波数によ
って決定される第１番目の測定周波数のレベル検出を行
う。

【００６１】また、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３
ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａがロック
アップ動作を開始し、ロックアップ動作を完了するまで
の期間に、第２の測定周波数のレベル検出動作を行うた
めの分周比データ、つまり、第１のクロック信号26およ
び第２のクロック信号30、並びに第１のデータ信号25お
よび第２のデータ信号29を第２のデータ信号入力時間58
中に第１乃至第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａ、３
ｃ、４ａ、４ｃに入力する。第１のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａ
のレベル検出動作が完了した後の第２のロードイネーブ
ル信号入力時間60中に、第２ロードイネーブル信号27お
よび第４のロードイネーブル信号31が第２のＰＬＬ周波
数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ４ｃに入力され、第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ
３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃはロッ
クアップ動作を開始する。ここで、第１のＰＬＬ周波数
シンセサイザ３ａおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ４ａには、データ信号25および29、並びにクロック信
号26および30が入力されているが、ロードイネーブル信
号24および28が入力されていないので、ロックアップ動
作を開始することはない。第２のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃの
ロックアップ動作完了後において、レベル検出時間13
（例えば１ｍｓ）以内に第２のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ｃおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃの出
力周波数によって決定される第２番目の測定周波数のレ
ベル検出を行う。

【００６２】上記の動作を交互に繰り返すことで、周波
数ステップ切換時間10または11（例えば、１ｍｓ）中
に、第１番目および第２番目の測定周波数のレベル検出
動作を２回行うことができる。したがって、周波数掃引
時間は従来のものに比べ２分の１に短縮することができ
る。また、従来例および第１の実施の形態において１２
本必要であった分周比データ信号線を８本に削減するこ
とができる。

【００６３】以上のように本発明の第３の実施の形態に
よれば、データ信号およびクロック信号を共有すること
で、従来１２本必要であった分周比データ信号線を８本
に削減でき、回路規模を小型化できる。したがって、周
波数掃引時間を２分の１に短縮した選択レベル測定装置
を簡単な構成で実現することができる。

【００６４】なお、上記の実施の形態では各局部発振部
においてＰＬＬ周波数シンセサイザ数を２としたが、Ｐ
ＬＬ周波数シンセサイザ数を３以上の整数ｎとした場合
は、掃引時間をｎ分の１に短縮することができる（第４の実施の形態）本発明の第４の実施の形態の選択
レベル測定装置は、図１に示した第１の実施の形態の選
択レベル測定装置と構成は同一であり、異なる点は各Ｐ
ＬＬ周波数シンセサイザのロックアップ動作のタイミン
グと高周波スイッチの切換タイミングを変更した点であ
る。

【００６５】図７は、本発明の第４の実施の形態におけ
る第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａ、第２のＰＬＬ
周波数シンセサイザ３ｃ、第３のＰＬＬ周波数シンセサ
イザ４ａおよび第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃの
出力周波数が時間ｔに対して変化する様子と高周波スイ
ッチ３ｂおよび４ｂの時間ｔに対するスイッチング動作
を示す図である。第１乃至第４のＰＬＬ周波数シンセサ
イザのロックアップ動作は同期しており、周波数ステッ
プの切換時間36（例えば、１ｍｓ）以内にロックアップ
動作を完了する。

【００６６】ロックアップ完了後、制御部７からの高周
波スイッチ制御信号９によって高周波スイッチ３ｂおよ
び４ｂがそれぞれ第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３
ａ、第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａ側に切り換わ
り、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第３の
ＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａの出力信号がミキサ２ａ
および２ｃに入力される。したがって、レベル検出時間
32においては、第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａお
よび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａの出力周波数
によって決定される第１番目の測定周波数のレベル検出
が可能となる。

【００６７】同様に、レベル検出時間33においては第１
のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ａおよび第４のＰＬＬ周
波数シンセサイザ４ｃの出力周波数によって、またレベ
ル検出時間34においては第２のＰＬＬ周波数シンセサイ
ザ３ｃおよび第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ａの出
力周波数によって、またレベル検出時間35においては第
２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃおよび第４のＰＬＬ
周波数シンセサイザ４ｃの出力周波数によってそれぞれ
決定される第２番目乃至第４番目の測定周波数のレベル
検出が可能となる。ここで、各レベル検出時間32乃至35
は、高周波スイッチ３ｂおよび４ｂの切換速度とレベル
検出部６の検出速度によって制限されるが、その値は約
0.05ｍｓであり、ＰＬＬ周波数シンセサイザのロックア
ップタイム（約0.8ｍｓ）に対して非常に短い。

【００６８】上記の動作を交互に繰り返すことで、周波
数ステップ切換時間36（例えば１ｍｓ）以内に、第１番
目乃至第４番目の測定周波数のレベル検出動作を４回行
うことができる。したがって、周波数掃引時間は従来の
ものに比べ４分の１に短縮することができる。

【００６９】以上のように本発明の第４の実施の形態に
よれば、各局部発振部に２系統のＰＬＬ周波数シンセサ
イザを備えて、それぞれを同時にロックアップさせて、
その出力も高周波スイッチで高速に選択することで、周
波数掃引時間を従来の４分の１に短縮することができ
る。したがって、周波数掃引時間を４分の１に短縮した
選択レベル測定装置を実現することができる。

【００７０】なお、上記の実施の形態では各局部発振部
においてＰＬＬ周波数シンセサイザ数を２としたが、Ｐ
ＬＬ周波数シンセサイザ数を３以上の整数ｎとした場合
は、掃引時間をｎ²分の１に短縮することができる。

【００７１】（第５の実施の形態）図８は、本発明の第
５の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブロ
ック図である。本発明の第５の実施形態の選択レベル測
定装置は、図１２に示した従来の選択レベル測定装置に
複数の周波数スペクトルを表示する機能を備えた表示部
38を追加した構成を有する。

【００７２】図８において、被測定信号ｆはチューナ部
２によって第２の中間周波数信号（ＩＦ2）に変換さ
れ、レベル検出部６によってレベル検出される。検出さ
れた信号レベルデータは制御部７を経て、表示部38にお
いて第１の表示画面39および第２の表示画面40に表示さ
れる。

【００７３】チューナ部２は、第１の周波数周波数掃引
ステップ幅および第２の周波数周波数掃引ステップ幅で
周波数掃引する機能を有している。第１の周波数周波数
掃引ステップ幅および第２の周波数周波数掃引ステップ
幅は、チューナ部２における第１の位相比較周波数ｆRE
F1（例えば、512ｋＨz）と第２の位相比較周波数ｆREF2
（例えば、320ｋＨz）の最大公約数である64ｋＨzの倍
数で設定でき、例えば、第１の周波数掃引ステップ幅を
64×12＝768ｋＨz、第２の周波数掃引ステップ幅を64ｋ
Ｈzのように設定できる。

【００７４】表示部38における第１の表示画面39は被測
定周波数ｆが第１の表示開始周波数ｆs1から第１の表示
終了周波数ｆe1（≧ｆs1）である場合の周波数スペクト
ルを表示する。表示部38における第２の表示画面40は被
測定周波数ｆが第２表示開始周波数ｆs2（≧ｆs1）から
第２表示終了周波数ｆe2（≦ｆe1、かつ、≧ｆs2）であ
る場合、第１の表示画面39より狭帯域である周波数スペ
クトルを表示する。

【００７５】ここで、被測定周波数ｆが第１の表示画面
39内の帯域、かつ、第２の表示画面40外の帯域（ｆs1≦
ｆ≦ｆs2、かつ、ｆe2≦ｆ≦ｆe1）である場合、第１の
周波数掃引ステップ幅を用いて周波数掃引を行い、第１
の表示画面39に入力信号のレベルを表示する。また、被
測定周波数ｆが第２の表示画面内の帯域（ｆs2≦ｆ≦ｆ
e2）である場合、第２の周波数ステップ幅を用いて周波
数掃引を行い、第１の表示画面39および第２の表示画面
40に入力信号のレベルを同時に表示する。

【００７６】上記の動作に示すように、広帯域掃引中に
第１の周波数掃引ステップ幅および第２の周波数掃引ス
テップ幅で周波数掃引を行うことで広帯域スペクトルと
狭帯域スペクトルを同時に測定することができる。

【００７７】このように、本発明の第５の実施の形態に
よれば、広帯域スペクトルと特定の狭帯域スペクトルを
同時に測定できる選択レベル測定装置を実現することが
できる。

【００７８】なお、上記の実施の形態では第１の周波数
掃引ステップ幅と第２の周波数掃引ステップ幅を異なる
値に設定したが、同一の周波数掃引ステップ幅としても
問題ない。また、上記の実施の形態では表示画面数を２
としたが、表示画面数を３以上の整数ｎとした場合は、
ｎ種類の帯域幅のスペクトルをｎ枚の画面に表示するこ
とができる。

【００７９】（第６の実施の形態）図９は、本発明の第
６の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブロ
ック図である。本発明の第６の実施形態の選択レベル測
定装置は、図１に示した第１の実施の形態の選択レベル
測定装置に複数の周波数スペクトルを表示する機能を備
えた表示部38を追加した構成を有する。

【００８０】図９において、被測定信号ｆは第１のＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザ３ａと第３のＰＬＬ周波数シンセ
サイザ４ａとチューナ部２を用いた第１の周波数変換部
43、または、第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｃと第
４のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｃとチューナ部２を用
いた第２の周波数変換部44のいずれかにより第２の中間
周波数信号（ＩＦ2）に変換され、レベル検出部６によ
ってレベル検出される。検出された信号レベルデータ
は、制御部７を経て、表示部38に測定結果を表示する。
第１の周波数変換部43を用いた場合は第１の表示画面39
に、第２の周波数変換部44を用いた場合は第２の表示画
面40に表示される。

【００８１】第１の周波数変換部43は、表示部38におけ
る第１の表示画面39の帯域（ｆs1〜ｆe1）を第１の周波
数掃引ステップ幅（例えば、768ｋＨz）で掃引する。第
２の周波数変換部44は、表示部38における第２の表示画
面40の帯域（ｆs2〜ｆe2）を第２の周波数掃引ステップ
幅（例えば、64ｋＨz）で掃引する。ここで、第２の表
示画面40の帯域（ｆs2〜ｆe2）は第１の表示画面の帯域
39（ｆs1〜ｆe1）内である必要はない。その他の動作は
第１の実施の形態と同様である。

【００８２】上記の動作により、周波数掃引ステップ幅
を変更して、独立した２つの帯域における広帯域スペク
トルと狭帯域スペクトルを同時、かつ、高速に測定する
ことができる。

【００８３】以上のように本発明の第６の実施の形態に
よれば、異なる二つの帯域の周波数掃引を各局部発振部
に備えた二つのＰＬＬ周波数シンセサイザでそれぞれ分
担することで、広帯域スペクトルと狭帯域スペクトルを
同時に、かつ、高速に測定ことができる。

【００８４】なお、上記の実施の形態では第１の周波数
掃引ステップ幅と第２の周波数掃引ステップ幅を異なる
値に設定したが、同一の周波数掃引ステップ幅としても
問題ない。また、上記の実施の形態では第１の表示画面
39と第２の表示画面40の帯域幅を異なる値に設定した
が、帯域幅を同一とすることができる。さらに、上記の
実施の形態では表示画面数を２としたが、表示画面数を
３以上の整数ｎとした場合は、ｎ個の変換部を有するこ
とでｎ種類の帯域幅のスペクトルをｎ枚の画面に表示す
ることができる。

【００８５】（第７の実施の形態）図１０は、本発明の
第７の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブ
ロック図である。本発明の第７の実施の形態の選択レベ
ル測定装置は、図９に示した第６の実施の形態の選択レ
ベル測定装置の制御部７に閾値45を設定可能な構成とし
た。

【００８６】図１０において、第１周波数変換部43は、
第１の表示画面の帯域（例えば、１ＭＨz〜１ＧＨzの広
帯域）内を第１の周波数掃引ステップ幅（例えば、768
ｋＨz）で掃引する。被測定信号ｆ（例えば周波数ｆa）
のレベルが、設定された閾値45を超えたとする。ここ
で、制御部７は被測定信号ｆの周波数ｆa（例えば、500
ＭＨz）を記憶して、第２の表示画面の帯域を周波数ｆa
の近傍（例えば、499.5ＭＨz〜500.5ＭＨzの狭帯域）に
自動的に設定を行う。第２の周波数変換部44は、制御部
７において設定された上記周波数ｆaの近傍（例えば、4
99.5ＭＨz〜500.5ＭＨz）を第２の周波数掃引ステップ
幅（例えば、64ｋＨz）で掃引する。

【００８７】上記の動作により、閾値を設定すること
で、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯域スペクト
ルの測定範囲を、自動的に設定できる選択レベル測定装
置を実現できる。

【００８８】このように、本発明の第７の実施の形態に
よれば、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯域スペ
クトルの測定範囲を、自動的に設定できる選択レベル測
定装置を実現できる。

【００８９】なお、上記の実施の形態では、チューナ部
に第６の実施の形態の構成を採用したが、チューナ部に
第５の実施の形態の構成を採用した場合は、広帯域スペ
クトルを測定して、被測定信号ｆのレベルが閾値を超え
る場合に狭帯域スペクトルの帯域を自動的に設定でき
る。また、上記の実施の形態では閾値数を１としたが、
閾値数を２以上の整数ｎとした場合は、ｎ＋１個の変換
部とｎ個の閾値を有することでｎ＋１種類の帯域幅のス
ペクトルをｎ＋１枚の画面に表示することができる。

【００９０】（第８の実施の形態）図１１は、本発明の
第８の実施の形態の選択レベル測定装置の構成を示すブ
ロック図である。本発明の第８の実施形態の選択レベル
測定装置は、図９に示した第６の実施の形態の選択レベ
ル測定装置の制御部７において周波数ｆmを設定できる
構成とした。

【００９１】第１の周波数変換部43は第１表示画面の帯
域（例えば１ＭＨz〜１ＧＨzの広帯域）内を第１の周波
数掃引ステップ幅（例えば、768ｋＨz）で掃引する。第
２の周波数変換部44はあらかじめ設定された周波数（例
えば、300ＭＨz）の近傍の帯域（例えば、299ＭＨz〜30
1ＭＨzの狭帯域）内を第２の周波数掃引のステップ幅
（例えば、64ｋＨz）で掃引する。

【００９２】上記の動作により、周波数をあらかじめ設
定することで、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯
域スペクトルの測定範囲を自動的に設定できる選択レベ
ル測定装置を実現できる。

【００９３】このように、本発明の第７の実施の形態に
よれば、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯域スペ
クトルの測定範囲を予め任意に設定可能な選択レベル測
定装置を実現できる。

【００９４】なお、上記の実施の形態ではチューナ部に
第６の実施の形態の構成を採用したが、チューナ部に第
５の実施の形態の構成を採用した場合は、周波数を設定
することで、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯域
スペクトルの測定範囲を予め任意に設定可能となる。ま
た、上記の実施の形態では周波数の設定数を１とした
が、周波数の設定数を２以上の整数ｎとした場合は、ｎ
＋１の変換部とｎ個の周波数を有することでｎ＋１種類
の任意の帯域のスペクトルをｎ＋１枚の画面に表示する
ことができる。

【００９５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、第１局
部発振部に備えた第ｋのＰＬＬ周波数シンセサイザと第
２局部発振部に備えた第ｎ＋ｋ（ｎは２以上の整数、ｋ
は１からｎまでの整数）のＰＬＬ周波数シンセサイザの
ロックアップ動作およびレベル検出動作を同期させると
ともに、ｋ＝１乃至ｎについて循環的に切り替えること
により、周波数掃引時間をｎ分の１に短縮することが可
能になるという優れた効果を有する選択レベル測定装置
を提供することができる。

【００９６】また、第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シンセ
サイザに入力される分周比データ信号を選択するスイッ
チを第１局部発振部に備え、かつ、第ｎ＋１乃至第２ｎ
のＰＬＬ周波数シンセサイザに入力される分周比データ
信号を選択するスイッチを第２局部発振部に備えること
により、周波数掃引時間をｎ分の１に短縮可能な選択レ
ベル測定装置を簡単な構成で実現することが可能になる
という優れた効果を有する選択レベル測定装置を提供す
ることができる。

【００９７】さらに、第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シン
セサイザに共通のクロック信号およびデータ信号を第１
局部発振部に入力し、また、第ｎ＋１乃至第２ｎのＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザに共通のクロック信号およびデー
タ信号を第２局部発振部に入力し、前記各ＰＬＬ周波数
シンセサイザにロードイネーブル信号を入力することに
より、周波数掃引時間をｎ分の１に短縮可能な選択レベ
ル測定装置を簡単な構成で実現することが可能になると
いう優れた効果を有する選択レベル測定装置を提供する
ことができる。

【００９８】そして、第１乃至第２ｎのＰＬＬ周波数シ
ンセサイザのロックアップ動作を同時に行い、レベル検
出動作時に第１の高周波スイッチおよび第２の高周波ス
イッチを高速に切り替えることにより、周波数掃引時間
をｎ²分の１に短縮することが可能になるという優れた
効果を有する選択レベル測定装置を提供することができ
る。

【００９９】また、第１の周波数掃引ステッブ幅で広帯
域掃引を行い、所定の帯域内においてのみ前記第１の周
波数掃引ステップ幅よりも小さい第２の周波数掃引ステ
ップ幅で狭帯域掃引を行うことにより、広帯域スペクト
ルと特定の狭帯域スペクトルを同時に測定することが可
能になるという優れた効果を有する選択レベル測定装置
を提供することができる。

【０１００】さらに、第１局部発振部に備えた第ｋのＰ
ＬＬ周波数シンセサイザと前記第２局部発振部に備えた
第ｎ＋ｋのＰＬＬ周波数シンセサイザのロックアップ動
作およびレベル検出動作を同期させるとともに、ｋ＝１
乃至ｎについて循環的に切り替え、かつ、前記ｋの値に
応じて異なる帯域幅の掃引を行うことにより、帯域幅の
異なるｎ種類のスペクトルを同時かつ高速に測定するこ
とが可能になるという優れた効果を有する選択レベル測
定装置を提供することができる。

【０１０１】そして、所定帯域の掃引において所定のレ
ベルを越える入力信号を検出した場合に、前記入力信号
の周波数近傍を前記所定帯域よりも狭い帯域で掃引する
ことにより、広帯域スペクトルと同時に測定する狭帯域
スペクトルの測定範囲を自動的に設定可能になるという
優れた効果を有する選択レベル測定装置を提供すること
ができる。

【０１０２】また、予め設定された周波数近傍を狭帯域
掃引することにより、広帯域スペクトルと同時に測定す
る狭帯域スペクトルの測定範囲を予め任意に設定可能に
なるという優れた効果を有する選択レベル測定装置を提
供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の選択レベル測定装
置の構成を示すブロック図、

【図２】本発明の第１の実施の形態における局部発振部
のタイムチャートを示す図、

【図３】本発明の第２の実施の形態の選択レベル測定装
置の構成を示すブロック図、

【図４】本発明の第２の実施の形態における局部発振部
のタイムチャートを示す図、

【図５】本発明の第３の実施の形態の選択レベル測定装
置の構成を示すブロック図、

【図６】本発明の第３の実施の形態における局部発振部
のタイムチャートを示す図、

【図７】本発明の第４の実施の形態における局部発振部
のタイムチャートを示す図、

【図８】本発明の第５の実施の形態の選択レベル測定装
置の構成を示すブロック図、

【図９】本発明の第６の実施の形態の選択レベル測定装
置の構成を示すブロック図、

【図１０】本発明の第７の実施の形態の選択レベル測定
装置の構成を示すブロック図、

【図１１】本発明の第８の実施の形態の選択レベル測定
装置の構成を示すブロック図、

【図１２】従来の選択レベル測定装置の構成を示す部ブ
ロック図、

【図１３】ＰＬＬ周波数シンセサイザ部の構成を示すブ
ロック図、

【図１４】従来の選択レベル測定装置におけるＰＬＬ周
波数シンセサイザ部のタイムチャートを示す図である。

【符号の説明】

１入力端子２チューナー部３第１局部発振部３ａ第１のＰＬＬ周波数シンセサイザ３ｂ第１の高周波スイッチ３ｃ第２のＰＬＬ周波数シンセサイザ４第２局部発振部４ａ第３のＰＬＬ周波数シンセサイザ４ｂ第２の高周波スイッチ４ｃ第４のＰＬＬ周波数シンセサイザ５第２帯域制限フィルタ６レベル検出部７制御部８分周比データ信号９高周波スイッチ制御信号 20 高周波スイッチ制御信号 24、27、28、31 ロードイネーブル信号 25、29 データ信号 26、30 クロック信号 45 閾値 56 表示部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｈ０４Ｂ 1/26 Ｈ０３Ｌ 7/18 Ｅ (72)発明者斎藤裕石川県金沢市彦三町二丁目１番45号株式会社松下通信金沢研究所内 (72)発明者塩谷宏行石川県金沢市彦三町二丁目１番45号株式会社松下通信金沢研究所内 (72)発明者田苗弘神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番１号松下通信工業株式会社内Ｆターム(参考） 5J106 PP03 QQ03 QQ09 RR03 RR12 RR20 5K020 AA07 BB04 DD26 GG04 GG10 GG12 LL01

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１局部発振部および第２局部発振部の
周波数を同時に変化させて高速周波数掃引を行う選択レ
ベル測定装置であって、前記第１局部発振部に第１乃至
第ｎ（ｎは２以上の整数）のＰＬＬ周波数シンセサイザ
とそれらの出力を選択する第１の高周波スイッチとを備
え、また、前記第２局部発振部に第ｎ＋１乃至第２ｎの
ＰＬＬ周波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第
２の高周波スイッチとを備え、前記第１局部発振部に備
えた第ｋ（ｋは１からｎまでの整数）のＰＬＬ周波数シ
ンセサイザと前記第２部発振部に備えた第ｎ＋ｋのＰＬ
Ｌ周波数シンセサイザのロックアップ動作およびレベル
検出動作を同期させるとともに、ｋ＝１乃至ｎを循環的
に切り替えることを特徴とする選択レベル測定装置。
【請求項２】第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シンセサイ
ザに入力される分周比データ信号を選択するスイッチを
第１局部発振部に備え、また、第ｎ＋１乃至第２ｎのＰ
ＬＬ周波数シンセサイザに入力される分周比データ信号
を選択するスイッチを第２局部発振部に備えたことを特
徴とする請求項１記載の選択レベル測定装置。
【請求項３】第１乃至第ｎのＰＬＬ周波数シンセサイ
ザに共通のクロック信号およびデータ信号を入力し、ま
た、第ｎ＋１乃至第２ｎのＰＬＬ周波数シンセサイザに
共通のクロック信号およびデータ信号を入力し、前記各
ＰＬＬ周波数シンセサイザに個別のロードイネーブル信
号を入力することを特徴とする請求項１記載の選択レベ
ル測定装置。
【請求項４】第１局部発振部および第２局部発振部の
周波数を同時に変化させて高速周波数掃引を行う選択レ
ベル測定装置であって、前記第１局部発振部に第１乃至
第ｎ（ｎは２以上の整数）のＰＬＬ周波数シンセサイザ
とそれらの出力を選択する第１の高周波スイッチとを備
え、また、前記第２局部発振部に第ｎ＋１乃至第２ｎの
ＰＬＬ周波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第
２の高周波スイッチとを備え、前記第１乃至第２ｎのＰ
ＬＬ周波数シンセサイザのロックアップ動作を同時に行
い、レベル検出動作時に前記第１の高周波スイッチおよ
び第２の高周波スイッチを高速に切り替えることを特徴
とする選択レベル測定装置。
【請求項５】第１局部発振部および第２局部発振部の
周波数を同時に変化させて高速周波数掃引を行う選択レ
ベル測定装置であって、第１の周波数掃引ステッブ幅で
広帯域掃引を行い、所定の帯域内においてのみ前記第１
の周波数掃引ステップ幅よりも小さい第２の周波数掃引
ステップ幅で狭帯域掃引を行うことを特徴とする選択レ
ベル測定装置。
【請求項６】第１局部発振部に第１乃至第ｎのＰＬＬ
周波数シンセサイザとそれらの出力を選択する第１の高
周波スイッチとを備え、また、第２局部発振部に第ｎ＋
１乃至第２ｎのＰＬＬ周波数シンセサイザとそれらの出
力を選択する第２の高周波スイッチとを備え、前記第１
局部発振部に備えた第ｋのＰＬＬ周波数シンセサイザと
前記第２局部発振部に備えた第ｎ＋ｋのＰＬＬ周波数シ
ンセサイザのロックアップ動作およびレベル検出動作を
同期させるとともに、ｋ＝１乃至ｎを循環的に切り替
え、かつ、前記ｋの値に応じて異なる帯域幅の掃引を行
うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の
選択レベル測定装置。
【請求項７】所定帯域の掃引において所定のレベルを
越える入力信号を検出した場合に、前記入力信号の周波
数近傍を前記所定帯域よりも狭い帯域で掃引することを
特徴とする請求項５または６記載の選択レベル測定装
置。
【請求項８】予め設定された周波数近傍を狭帯域掃引
することを特徴とする請求項５または６記載の選択レベ
ル測定装置。