JP2001147249A - プリント配線板の電気検査装置 - Google Patents

プリント配線板の電気検査装置

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JP2001147249A
JP2001147249A JP32944399A JP32944399A JP2001147249A JP 2001147249 A JP2001147249 A JP 2001147249A JP 32944399 A JP32944399 A JP 32944399A JP 32944399 A JP32944399 A JP 32944399A JP 2001147249 A JP2001147249 A JP 2001147249A
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JP
Japan
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conductor circuit
wiring board
conductor
magnetic field
circuit
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JP32944399A
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Masaki Endo
昌希 遠藤
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メッキリードを有する導体回路の電気導通検
査をする場合に検出漏れのないプリント配線板の電気検
査方法を提供する。 【解決手段】 メッキリード4を介して互いに連結され
ている2つの導体回路5の間の導通不良を検出するプリ
ント配線板の電気検査装置である。メッキリード4によ
り互いに連結されている2つの導体回路5に導通検査治
具3を接触させ,磁界発生コイル1に流れる電流を変化
させて磁束が変化する磁場2を形成し,磁場内に,メッ
キリード4または/及び導体回路5を配置して導体回路
5に誘導電流20を発生させ,誘導電流20を導通検査
治具3により検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は,プリント配線板の導体回路の導
通不良を検出するための電気検査装置に関する。
【0002】
【従来技術】プリント配線板に形成されている導体回路
のショート及び断線を検出するには,一般に,導体回路
間に定電流を印加し,その時に流れる電流を導通検査治
具により測定する方法が行われている。また,図11に
示すごとく,導体回路95に,電気めっき用のメッキリ
ード94が接続している場合がある。この場合,図12
に示すごとく,メッキリード94によって互いに連結さ
れている導体回路95の間は,同電位となるため,ショ
ート99の発生の有無にかかわらず,導通検査治具93
により測定される電流値は同じとなる。そのため,導通
検査治具93を用いて電気検査を行うのは,困難であ
る。そこで,この場合には,被検査体である導体回路を
画像認識させこの画像を設計パターンとを比較して導通
不良を検出するAOI(光学的外観検査)法が行われて
いる。AOI検査法では,図13に示すごとく,導体回
路95と接続しているメッキリード94を欠陥として認
識して過検出となるのを防止するため,メッキリード9
4をマスク91で被覆して,画像認識を行っている。
【0003】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記AOI検
査方法では,マスク91は,メッキリード94だけでな
くその付近の周辺パターン951をも被覆することにな
る。そのため,周辺パターン951の電気検査をするこ
とができない。かかる周辺パターン951にショート9
9が発生していても検出できず,検出漏れが発生してし
まう。
【0004】本発明は係る従来の問題点に鑑み,メッキ
リードを有する導体回路の電気導通検査をする場合に検
出漏れのないプリント配線板用の電気検査方法を提供し
ようとするものである。
【0005】
【課題の解決手段】請求項1の発明は,メッキリードを
介して互いに連結されている2つの導体回路の間の導通
不良を検出するプリント配線板の電気検査装置であっ
て,メッキリードにより互いに連結されている2つの導
体回路に導通検査治具を接触させ,磁界発生コイルに流
れる電流を変化させて磁束が変化する磁場を形成し,該
磁場内に,上記メッキリードまたは/及び導体回路を配
置して上記導体回路に誘導電流を発生させ,該誘導電流
を上記導通検査治具により検出することを特徴とするプ
リント配線板の電気検査装置である。
【0006】本発明の電気検査方法は,磁界発生コイル
に流れる電流を変化させると,磁界発生コイル付近の磁
場が変化して,該磁場に配置された導体回路に電流が発
生するという現象を応用したものである。メッキリード
を介して互いに連結されている2つの導体回路にそれぞ
れ導通検査治具を接触させると,導体回路,メッキリー
ド,導体回路及び導通検査治具からなる閉回路が形成さ
れる。かかる閉回路にあるメッキリードまたは/及び導
体回路を,磁場に配置して,磁場を変化させると,導体
回路に誘導電流が流れる。この誘導電流を導体回路に接
触させた上記導通検査治具により測定すると,2つの導
体回路の間で生じているショート及び断線などの導通不
良が判明する。
【0007】例えば,2つの導体回路の間でショートが
生じている場合には,ショート箇所において導体回路間
に流れる誘導電流が分流し導通検査治具に流れる電流値
が大幅に減少する。また,2つの導体回路のいずれか一
方に断線が生じている場合には,導体回路には誘導電流
が発生しないため,導通検査治具が検出する電流値はゼ
ロとなる。
【0008】このように,従来のAOI検査方法のよう
にメッキリードと交差するパターン部の周辺パターンを
被覆することはなく,周辺パターンの電気検査をするこ
とができ,検出漏れがない。
【0009】誘導電流の検出は,例えば,被測定対象で
ある導体回路に流れる誘導電流を,正常の導体回路に流
れる誘導電流と比較して行う。本発明において,メッキ
リードとは,電気めっきを施そうとする導体回路の間を
電気的に接続しているパターンをいう。導体回路とは,
プリント配線板使用時に電気を運ぶための回路をいう。
【0010】請求項2の発明のように,上記導通検査治
具は,導体回路における外部接続部に接触させることが
好ましい。導体回路の外部接続部は,プリント配線板の
表面に露出している部分であり,導通検査治具を容易に
接触させることができる部分である。このため,プリン
ト配線板の電気検査が容易となる。外部接続部には,た
とえば,半田ボール,ボールパッドなどの外部接続端子
が接続される。
【0011】
【発明の実施の形態】実施形態例1 本発明の実施形態に係るプリント配線板用の電気検査方
法について,図1〜図10を用いて説明する。本例で
は,図1に示すごとく,メッキリード4を介して互いに
連結されている2つの導体回路5に誘導電流20を生じ
させて,導体回路5の間の導通不良を検出する。
【0012】図2に示すごとく,電気検査が行われるプ
リント配線板8は,電気めっきが施された導体回路5を
有する。導体回路5は,絶縁基板7の表面に複数形成さ
れており,これらはメッキリード4を介して接続されて
いる。電気めっきの形成の際には,メッキリードを通じ
て導体回路に電気を流して,プリント配線板が浸漬され
ている電解液中の電解成分の電気分解反応により,電気
めっきが析出される。
【0013】図2に示すごとく,プリント配線板8の表
面には,絶縁膜6が被覆されている。絶縁膜6は,導体
回路5の外部接続部50を露出させる開口穴60を有す
る。外部接続部50は,半田ボールが接合される部位で
ある。また,プリント配線板8の略中央には,電子部品
を搭載するための搭載部70が設けられている。
【0014】図1に示すごとく,プリント配線板の電気
検査では,磁界発生コイル1と導通検査治具3とを用い
る。磁界発生コイル1は,交流電流源10(100〜8
00mA)と接続されている。磁界発生コイル1は,検
査対象の2つの導体回路5の間のメッキリード4の上に
配置する。導通検査治具3は,導体回路5に接触させる
ための1対のコンタクトピン31と,コンタクトピン3
1の間に流れる電流を測定するための電流計32とから
なる。
【0015】コンタクトピン31は,図1,図3に示す
ごとく,検査対象の2つの導体回路5の外部接続部50
に接触させる。これにより,2つの導体回路5が正常で
ある場合には,2つの導体回路5を接続しているメッキ
リード4及び導通検査治具3とが閉回路を形成すること
になる。
【0016】この閉回路にあるメッキリード4の上には
磁界発生コイル1が配置され,これに流れる交流電流に
よって磁場2が変化する。すると,メッキリード4及び
これと接続している導体回路5に誘導電流6が流れる。
この誘導電流6を導通検査治具3によって検出する。
【0017】まず,正常な導体回路とショートが生じて
いる導体回路の誘導電流特性を予備検査する。図3に
は,ショート及び断線がなく正常である導体回路5を示
す。図4に,正常な導体回路5の誘導電流の電流特性を
示す。図4の上方の線Bは磁界発生コイルに流れる交流
電流であり,図4の下方の線Aは正常な導体回路に流れ
る誘導電流の電流量である。
【0018】図5には,ショート箇所58が生じている
導体回路5を示す。図6に,ショートが生じている導体
回路の誘導電流の電流特性を示す。図6の上方の線Bは
磁界発生コイルに流れる交流電流であり,図6の下方の
線a1はショートが生じている導体回路に流れる誘導電
流の電流量である。図4の正常電流量Aとショートが生
じている場合の電流量a1とを比較すると,ショートが
生じている導体回路の誘導電流は,正常な導体回路の誘
導電流の電流量に比べて,著しく減衰している。これ
は,図7に示すごとく,ショート箇所58で,誘導電流
の分流29が生じるため,導通検査治具3に流れる誘導
電流の量が小さくなるためである。
【0019】図8には,断線59が生じている導体回路
5を示す。図9に,断線が生じている導体回路の誘導電
流の電流特性を示す。図9の上方の線Bは磁界発生コイ
ルに流れる交流電流であり,図9の下方の線a2は断線
が生じている導体回路に流れる誘導電流の電流量であ
る。図9からわかるように,断線が生じている場合に
は,誘導電流量はゼロであり,導体回路には誘導電流が
発生しない。
【0020】次に,上記予備検査の結果に基づいて,検
査対象(1),(2),(3)の導体回路の電気検査を
行う。これらの検査対象のプリント配線板は,予備検査
に用いたプリント配線板と同一のものである。また,図
3に示すごとく,検査対象の導体回路5も,同一のパタ
ーンであり,設計上,いずれもメッキリード4と接続し
ている。導通検査治具3のコンタクトピン31は,予備
検査の際に接触させた箇所と同一の箇所に接触させた。
【0021】まず,検査対象(1)の導体回路の電気検
査を行った。検査対象(1)の導体回路の誘導電流の検
査電流量を,図4の正常電流量Aと比較すると,両者は
同じパターンを示した。したがって,検査対象(1)の
導体回路は,ショート及び断線などの導通不良が発生し
ていないと判断できる。
【0022】次に,検査対象(2)の導体回路の電気検
査を行った。検査対象(2)の導体回路の誘導電流の検
査電流量を,図4の正常電流量Aと比較すると,検査対
象(2)の検査電流量は,図4に示す正常電流量よりも
著しく小さかったが,わずかな誘導電流が検出された。
したがって,検査対象(2)の導体回路には,ショート
が発生していると判断できる。
【0023】次に,検査対象(3)の導体回路の電気検
査を行った。検査対象(3)の導体回路の誘導電流の検
査電流量は,ゼロであった。このことから,導体回路に
は断線が生じていると判断できる。
【0024】以上のように,本例によれば,AOI法の
ようにメッキリード付近をマスクで隠すことなく電気特
性を検出できるため,検出漏れがなく,正確な検査をす
ることができる。
【0025】なお,図10(a),(b)に示すごと
く,検査する1対の導体回路のうち,少なくともその一
方がメッキリード4と接続していない導体回路55であ
る場合には,磁界発生コイルによって磁界を変化させて
も,導体回路55には誘導電流が生じないため,導通不
良を検出できない。したがって,この場合には,本例の
電気検査方法は適用できない。ゆえに,この場合には,
磁界発生コイルを用いずに,従来のように導通検査治具
のみによって,導通不良を検出する。
【0026】
【発明の効果】本発明によれば,メッキリードを有する
導体回路の電気導通検査をする場合に検出漏れのないプ
リント配線板の電気検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例1における,プリント配線板用の電
気検査方法を示す説明図。
【図2】実施形態例1における,導通検査治具の導体回
路への接触方法を示すためのプリント配線板の断面図。
【図3】実施形態例1における,正常な導体回路を示す
プリント配線板の平面図。
【図4】実施形態例1における,正常な導体回路に流れ
る誘導電流の電気特性を示す線図。
【図5】実施形態例1における,ショートが発生した導
体回路の説明図。
【図6】実施形態例1における,ショートが発生した導
体回路に流れる誘導電流の電気特性を示す線図。
【図7】実施形態例1における,ショートが発生した導
体回路に流れる誘導電流の説明図。
【図8】実施形態例1における,断線が発生した導体回
路に流れる誘導電流の電気特性を示す線図。
【図9】実施形態例1における,断線が発生した導体回
路に流れる誘導電流の説明図。
【図10】実施形態例1における,2つの導体回路のう
ちいずれか一方がメッキリードに接続していない場合の
導体回路の説明図(a),(b)。
【図11】従来例における,メッキリードと接続してい
る導体回路を示すためのプリント配線板の平面図。
【図12】従来例における,プリント配線板の電気検査
方法の説明図。
【図13】従来例における,AOI検出方法の説明図。
【符号の説明】
1...磁界発生コイル, 10...交流電流源, 3...導通検査治具, 31...コンタクトピン, 4...メッキリード, 5...導体回路, 50...外部接続部, 58...ショート, 59...断線, 6...絶縁膜, 7...絶縁基板, 8...プリント配線板,

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メッキリードを介して互いに連結されて
    いる2つの導体回路の間の導通不良を検出するプリント
    配線板の電気検査装置であって,メッキリードにより互
    いに連結されている2つの導体回路に導通検査治具を接
    触させ,磁界発生コイルに流れる電流を変化させて磁束
    が変化する磁場を形成し,該磁場内に,上記メッキリー
    ドまたは/及び導体回路を配置して上記導体回路に誘導
    電流を発生させ,該誘導電流を上記導通検査治具により
    検出することを特徴とするプリント配線板の電気検査装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1において,上記導通検査治具
    は,導体回路における外部接続部に接触させることを特
    徴とするプリント配線板の電気検査装置。
JP32944399A 1999-11-19 1999-11-19 プリント配線板の電気検査装置 Pending JP2001147249A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016040802A (ja) * 2014-08-12 2016-03-24 富士通株式会社 回路基板、情報処理装置および試験方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016040802A (ja) * 2014-08-12 2016-03-24 富士通株式会社 回路基板、情報処理装置および試験方法

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