JP2001147249A - プリント配線板の電気検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メッキリードを有する導体回路の電気導通検
査をする場合に検出漏れのないプリント配線板の電気検
査方法を提供する。 【解決手段】 メッキリード４を介して互いに連結され
ている２つの導体回路５の間の導通不良を検出するプリ
ント配線板の電気検査装置である。メッキリード４によ
り互いに連結されている２つの導体回路５に導通検査治
具３を接触させ，磁界発生コイル１に流れる電流を変化
させて磁束が変化する磁場２を形成し，磁場内に，メッ
キリード４または／及び導体回路５を配置して導体回路
５に誘導電流２０を発生させ，誘導電流２０を導通検査
治具３により検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【技術分野】本発明は，プリント配線板の導体回路の導
通不良を検出するための電気検査装置に関する。

【０００２】

【従来技術】プリント配線板に形成されている導体回路
のショート及び断線を検出するには，一般に，導体回路
間に定電流を印加し，その時に流れる電流を導通検査治
具により測定する方法が行われている。また，図１１に
示すごとく，導体回路９５に，電気めっき用のメッキリ
ード９４が接続している場合がある。この場合，図１２
に示すごとく，メッキリード９４によって互いに連結さ
れている導体回路９５の間は，同電位となるため，ショ
ート９９の発生の有無にかかわらず，導通検査治具９３
により測定される電流値は同じとなる。そのため，導通
検査治具９３を用いて電気検査を行うのは，困難であ
る。そこで，この場合には，被検査体である導体回路を
画像認識させこの画像を設計パターンとを比較して導通
不良を検出するＡＯＩ（光学的外観検査）法が行われて
いる。ＡＯＩ検査法では，図１３に示すごとく，導体回
路９５と接続しているメッキリード９４を欠陥として認
識して過検出となるのを防止するため，メッキリード９
４をマスク９１で被覆して，画像認識を行っている。

【０００３】

【解決しようとする課題】しかしながら，上記ＡＯＩ検
査方法では，マスク９１は，メッキリード９４だけでな
くその付近の周辺パターン９５１をも被覆することにな
る。そのため，周辺パターン９５１の電気検査をするこ
とができない。かかる周辺パターン９５１にショート９
９が発生していても検出できず，検出漏れが発生してし
まう。

【０００４】本発明は係る従来の問題点に鑑み，メッキ
リードを有する導体回路の電気導通検査をする場合に検
出漏れのないプリント配線板用の電気検査方法を提供し
ようとするものである。

【０００５】

【課題の解決手段】請求項１の発明は，メッキリードを
介して互いに連結されている２つの導体回路の間の導通
不良を検出するプリント配線板の電気検査装置であっ
て，メッキリードにより互いに連結されている２つの導
体回路に導通検査治具を接触させ，磁界発生コイルに流
れる電流を変化させて磁束が変化する磁場を形成し，該
磁場内に，上記メッキリードまたは／及び導体回路を配
置して上記導体回路に誘導電流を発生させ，該誘導電流
を上記導通検査治具により検出することを特徴とするプ
リント配線板の電気検査装置である。

【０００６】本発明の電気検査方法は，磁界発生コイル
に流れる電流を変化させると，磁界発生コイル付近の磁
場が変化して，該磁場に配置された導体回路に電流が発
生するという現象を応用したものである。メッキリード
を介して互いに連結されている２つの導体回路にそれぞ
れ導通検査治具を接触させると，導体回路，メッキリー
ド，導体回路及び導通検査治具からなる閉回路が形成さ
れる。かかる閉回路にあるメッキリードまたは／及び導
体回路を，磁場に配置して，磁場を変化させると，導体
回路に誘導電流が流れる。この誘導電流を導体回路に接
触させた上記導通検査治具により測定すると，２つの導
体回路の間で生じているショート及び断線などの導通不
良が判明する。

【０００７】例えば，２つの導体回路の間でショートが
生じている場合には，ショート箇所において導体回路間
に流れる誘導電流が分流し導通検査治具に流れる電流値
が大幅に減少する。また，２つの導体回路のいずれか一
方に断線が生じている場合には，導体回路には誘導電流
が発生しないため，導通検査治具が検出する電流値はゼ
ロとなる。

【０００８】このように，従来のＡＯＩ検査方法のよう
にメッキリードと交差するパターン部の周辺パターンを
被覆することはなく，周辺パターンの電気検査をするこ
とができ，検出漏れがない。

【０００９】誘導電流の検出は，例えば，被測定対象で
ある導体回路に流れる誘導電流を，正常の導体回路に流
れる誘導電流と比較して行う。本発明において，メッキ
リードとは，電気めっきを施そうとする導体回路の間を
電気的に接続しているパターンをいう。導体回路とは，
プリント配線板使用時に電気を運ぶための回路をいう。

【００１０】請求項２の発明のように，上記導通検査治
具は，導体回路における外部接続部に接触させることが
好ましい。導体回路の外部接続部は，プリント配線板の
表面に露出している部分であり，導通検査治具を容易に
接触させることができる部分である。このため，プリン
ト配線板の電気検査が容易となる。外部接続部には，た
とえば，半田ボール，ボールパッドなどの外部接続端子
が接続される。

【００１１】

【発明の実施の形態】実施形態例１ 本発明の実施形態に係るプリント配線板用の電気検査方
法について，図１〜図１０を用いて説明する。本例で
は，図１に示すごとく，メッキリード４を介して互いに
連結されている２つの導体回路５に誘導電流２０を生じ
させて，導体回路５の間の導通不良を検出する。

【００１２】図２に示すごとく，電気検査が行われるプ
リント配線板８は，電気めっきが施された導体回路５を
有する。導体回路５は，絶縁基板７の表面に複数形成さ
れており，これらはメッキリード４を介して接続されて
いる。電気めっきの形成の際には，メッキリードを通じ
て導体回路に電気を流して，プリント配線板が浸漬され
ている電解液中の電解成分の電気分解反応により，電気
めっきが析出される。

【００１３】図２に示すごとく，プリント配線板８の表
面には，絶縁膜６が被覆されている。絶縁膜６は，導体
回路５の外部接続部５０を露出させる開口穴６０を有す
る。外部接続部５０は，半田ボールが接合される部位で
ある。また，プリント配線板８の略中央には，電子部品
を搭載するための搭載部７０が設けられている。

【００１４】図１に示すごとく，プリント配線板の電気
検査では，磁界発生コイル１と導通検査治具３とを用い
る。磁界発生コイル１は，交流電流源１０（１００〜８
００ｍＡ）と接続されている。磁界発生コイル１は，検
査対象の２つの導体回路５の間のメッキリード４の上に
配置する。導通検査治具３は，導体回路５に接触させる
ための１対のコンタクトピン３１と，コンタクトピン３
１の間に流れる電流を測定するための電流計３２とから
なる。

【００１５】コンタクトピン３１は，図１，図３に示す
ごとく，検査対象の２つの導体回路５の外部接続部５０
に接触させる。これにより，２つの導体回路５が正常で
ある場合には，２つの導体回路５を接続しているメッキ
リード４及び導通検査治具３とが閉回路を形成すること
になる。

【００１６】この閉回路にあるメッキリード４の上には
磁界発生コイル１が配置され，これに流れる交流電流に
よって磁場２が変化する。すると，メッキリード４及び
これと接続している導体回路５に誘導電流６が流れる。
この誘導電流６を導通検査治具３によって検出する。

【００１７】まず，正常な導体回路とショートが生じて
いる導体回路の誘導電流特性を予備検査する。図３に
は，ショート及び断線がなく正常である導体回路５を示
す。図４に，正常な導体回路５の誘導電流の電流特性を
示す。図４の上方の線Ｂは磁界発生コイルに流れる交流
電流であり，図４の下方の線Ａは正常な導体回路に流れ
る誘導電流の電流量である。

【００１８】図５には，ショート箇所５８が生じている
導体回路５を示す。図６に，ショートが生じている導体
回路の誘導電流の電流特性を示す。図６の上方の線Ｂは
磁界発生コイルに流れる交流電流であり，図６の下方の
線ａ１はショートが生じている導体回路に流れる誘導電
流の電流量である。図４の正常電流量Ａとショートが生
じている場合の電流量ａ１とを比較すると，ショートが
生じている導体回路の誘導電流は，正常な導体回路の誘
導電流の電流量に比べて，著しく減衰している。これ
は，図７に示すごとく，ショート箇所５８で，誘導電流
の分流２９が生じるため，導通検査治具３に流れる誘導
電流の量が小さくなるためである。

【００１９】図８には，断線５９が生じている導体回路
５を示す。図９に，断線が生じている導体回路の誘導電
流の電流特性を示す。図９の上方の線Ｂは磁界発生コイ
ルに流れる交流電流であり，図９の下方の線ａ２は断線
が生じている導体回路に流れる誘導電流の電流量であ
る。図９からわかるように，断線が生じている場合に
は，誘導電流量はゼロであり，導体回路には誘導電流が
発生しない。

【００２０】次に，上記予備検査の結果に基づいて，検
査対象（１），（２），（３）の導体回路の電気検査を
行う。これらの検査対象のプリント配線板は，予備検査
に用いたプリント配線板と同一のものである。また，図
３に示すごとく，検査対象の導体回路５も，同一のパタ
ーンであり，設計上，いずれもメッキリード４と接続し
ている。導通検査治具３のコンタクトピン３１は，予備
検査の際に接触させた箇所と同一の箇所に接触させた。

【００２１】まず，検査対象（１）の導体回路の電気検
査を行った。検査対象（１）の導体回路の誘導電流の検
査電流量を，図４の正常電流量Ａと比較すると，両者は
同じパターンを示した。したがって，検査対象（１）の
導体回路は，ショート及び断線などの導通不良が発生し
ていないと判断できる。

【００２２】次に，検査対象（２）の導体回路の電気検
査を行った。検査対象（２）の導体回路の誘導電流の検
査電流量を，図４の正常電流量Ａと比較すると，検査対
象（２）の検査電流量は，図４に示す正常電流量よりも
著しく小さかったが，わずかな誘導電流が検出された。
したがって，検査対象（２）の導体回路には，ショート
が発生していると判断できる。

【００２３】次に，検査対象（３）の導体回路の電気検
査を行った。検査対象（３）の導体回路の誘導電流の検
査電流量は，ゼロであった。このことから，導体回路に
は断線が生じていると判断できる。

【００２４】以上のように，本例によれば，ＡＯＩ法の
ようにメッキリード付近をマスクで隠すことなく電気特
性を検出できるため，検出漏れがなく，正確な検査をす
ることができる。

【００２５】なお，図１０（ａ），（ｂ）に示すごと
く，検査する１対の導体回路のうち，少なくともその一
方がメッキリード４と接続していない導体回路５５であ
る場合には，磁界発生コイルによって磁界を変化させて
も，導体回路５５には誘導電流が生じないため，導通不
良を検出できない。したがって，この場合には，本例の
電気検査方法は適用できない。ゆえに，この場合には，
磁界発生コイルを用いずに，従来のように導通検査治具
のみによって，導通不良を検出する。

【００２６】

【発明の効果】本発明によれば，メッキリードを有する
導体回路の電気導通検査をする場合に検出漏れのないプ
リント配線板の電気検査方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施形態例１における，プリント配線板用の電
気検査方法を示す説明図。

【図２】実施形態例１における，導通検査治具の導体回
路への接触方法を示すためのプリント配線板の断面図。

【図３】実施形態例１における，正常な導体回路を示す
プリント配線板の平面図。

【図４】実施形態例１における，正常な導体回路に流れ
る誘導電流の電気特性を示す線図。

【図５】実施形態例１における，ショートが発生した導
体回路の説明図。

【図６】実施形態例１における，ショートが発生した導
体回路に流れる誘導電流の電気特性を示す線図。

【図７】実施形態例１における，ショートが発生した導
体回路に流れる誘導電流の説明図。

【図８】実施形態例１における，断線が発生した導体回
路に流れる誘導電流の電気特性を示す線図。

【図９】実施形態例１における，断線が発生した導体回
路に流れる誘導電流の説明図。

【図１０】実施形態例１における，２つの導体回路のう
ちいずれか一方がメッキリードに接続していない場合の
導体回路の説明図（ａ），（ｂ）。

【図１１】従来例における，メッキリードと接続してい
る導体回路を示すためのプリント配線板の平面図。

【図１２】従来例における，プリント配線板の電気検査
方法の説明図。

【図１３】従来例における，ＡＯＩ検出方法の説明図。

【符号の説明】

１．．．磁界発生コイル， １０．．．交流電流源， ３．．．導通検査治具， ３１．．．コンタクトピン， ４．．．メッキリード， ５．．．導体回路， ５０．．．外部接続部， ５８．．．ショート， ５９．．．断線， ６．．．絶縁膜， ７．．．絶縁基板， ８．．．プリント配線板，

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 メッキリードを介して互いに連結されて
   いる２つの導体回路の間の導通不良を検出するプリント
   配線板の電気検査装置であって，メッキリードにより互
   いに連結されている２つの導体回路に導通検査治具を接
   触させ，磁界発生コイルに流れる電流を変化させて磁束
   が変化する磁場を形成し，該磁場内に，上記メッキリー
   ドまたは／及び導体回路を配置して上記導体回路に誘導
   電流を発生させ，該誘導電流を上記導通検査治具により
   検出することを特徴とするプリント配線板の電気検査装
   置。
2. 【請求項２】 請求項１において，上記導通検査治具
   は，導体回路における外部接続部に接触させることを特
   徴とするプリント配線板の電気検査装置。