JP2001144241A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置

Info

Publication number
JP2001144241A
JP2001144241A JP32793499A JP32793499A JP2001144241A JP 2001144241 A JP2001144241 A JP 2001144241A JP 32793499 A JP32793499 A JP 32793499A JP 32793499 A JP32793499 A JP 32793499A JP 2001144241 A JP2001144241 A JP 2001144241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead
semiconductor device
encapsulated semiconductor
sealing resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP32793499A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3614738B2 (ja
Inventor
Kazuhiko Umeda
和彦 梅田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui High Tec Inc
Original Assignee
Mitsui High Tec Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui High Tec Inc filed Critical Mitsui High Tec Inc
Priority to JP32793499A priority Critical patent/JP3614738B2/ja
Publication of JP2001144241A publication Critical patent/JP2001144241A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3614738B2 publication Critical patent/JP3614738B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 樹脂剥離やリード抜け等の不良がなく、信頼
性に優れた小型で薄型の樹脂封止型半導体装置を提供す
る。 【解決手段】 半導体チップ22を搭載した素子搭載部
11と、素子搭載部11の周囲に設けられた複数のリー
ド12と、半導体チップ22の電極パッド23とリード
12の先端部に形成されているワイヤボンディング部1
9を電気的に接続するボンディングワイヤ24とを有
し、これらは少なくともリード12の底面を露出させて
樹脂封止されている樹脂封止型半導体装置10におい
て、リード12には、封止樹脂に食い込み嵌入する屈曲
した突出片20、21が、ワイヤボンディング部19よ
り後方位置に設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、小型化及び薄型化
のために、リードフレームの片面が樹脂封止されていな
いで露出した樹脂封止型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の小型化、薄型化を図り、且
つ低コスト化を目的としてリードフレームを用いてチッ
プサイズに近似したサイズの樹脂封止型半導体装置が使
用されている。この樹脂封止型半導体装置は薄型化する
ために、半導体チップとこの半導体チップとリードとの
電気的接続を図るボンディングワイヤが設けられたリー
ドフレームの一面側のみを樹脂封止することが多い。ま
た、リードフレームの他面側も樹脂封止を施したとして
も、外部接続端子を形成するためにリードの一部分は露
出させている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記樹
脂封止型半導体装置においては、リードと封止樹脂との
密着強度が低いので、製造中又は使用中においてリード
が封止樹脂から抜け出る場合があり、また信頼性を損な
っている。そこで、前記リードの抜け防止策として、リ
ードをハーフエッチングして部分的に薄肉箇所を形成
し、樹脂との密着性を高めた半導体装置が提案されてい
る。ところが、この半導体装置においては一応の効果は
あるが、薄型化した半導体装置においては、全体が多少
の屈曲性を有するので、十分とは言えず、樹脂剥離やリ
ード抜けが生じる。また、このような半導体装置におい
ては、リードをハーフエッチングするために、リードに
厚みを必要(例えば、2mm以上)とし、半導体装置の
薄型化が困難となるだけでなく、半導体装置の生産性が
低いという問題がある。本発明はかかる事情に鑑みてな
されたもので、樹脂剥離やリード抜け等の不良がなく、
信頼性に優れた小型で薄型の樹脂封止型半導体装置を提
供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】前記目的に沿う本発明に
係る樹脂封止型半導体装置は、半導体チップを搭載した
素子搭載部と、該素子搭載部の周囲に設けられた複数の
リードと、前記半導体チップの電極パッドと前記リード
の先端部に形成されているワイヤボンディング部を電気
的に接続するボンディングワイヤとを有し、これらは少
なくとも前記リードの底面を露出させて封止樹脂によっ
て被覆されている樹脂封止型半導体装置において、前記
リードには、前記封止樹脂に食い込み嵌入する屈曲した
突出片が、前記ワイヤボンディング部より後方位置に設
けられている。
【0005】このように、本発明に係る樹脂封止型半導
体装置においては、リードの一部に形成された屈曲した
突出片が封止樹脂に食い込み嵌入しているので、リード
が封止樹脂中にアンカーされた状態となって強固に固定
される。本発明に係る樹脂封止型半導体装置において、
前記突出片は、前記リードの一部に幅方向両側に突出し
て形成された拡幅部を封止樹脂側に根元又は中間から折
り曲げて形成してもよい。また、本発明に係る樹脂封止
型半導体装置において、前記突出片は、前記リードの一
部に形成された貫通孔の側周部を封止樹脂側に折り曲げ
て形成してもよい。
【0006】
【発明の実施の形態】続いて、添付した図面を参照しつ
つ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発
明の理解に供する。ここに、図1は本発明の一実施の形
態に係る樹脂封止型半導体装置の断面図、図2は製造過
程中にある同樹脂封止型半導体装置に使用するリードフ
レームの平面図、図3(A)は同樹脂封止型半導体装置
のリードの一部拡大斜視図、図3(B)は同リードの断
面図である。図4(A)、(B)は他の実施の形態に係
る樹脂封止型半導体装置のリードの一部拡大斜視図であ
る。
【0007】図1に示すように、本発明の一実施の形態
に係る樹脂封止型半導体装置10は、中央部に素子搭載
部11をその周囲に複数のリード12を備えたリードフ
レーム13を備えている。このリードフレーム13は銅
又は鉄或いはニッケル合金を主体とする金属材料からな
って、図2に示すように、製造過程にあっては、周囲に
枠体14を備え、中央の素子搭載部11は支持リード1
5〜18を介して周囲の枠体14に支持されている。枠
体14の内側には複数のリード12が中央の素子搭載部
11とは分離された状態で設けられている。各リード1
2の内側先端部には、貴金属めっきが形成されたワイヤ
ボンディング部19を備えている。
【0008】各リード12のワイヤボンディング部19
の後方位置(即ち、枠体14側)には、その幅方向に突
び出した対となる突出片20、21が設けられている。
この突出片は20、21は図3(A)に示すようにリー
ド12の途中位置の両側に拡幅部を形成し、この幅方向
両側に突出して形成された拡幅部をリード12の側縁部
(根元部)又はその途中位置で上方(封止樹脂側)に折
り曲げている。なお、突出片20、21の高さは、隣り
合うリード12の間隔と同程度かあるいは少し短い程度
となっている。そして、隣合うリード12の突出片2
0、21の形成位置はリード12の長手方向に場所を変
えて形成され、隣り合うリード12の突出片20、21
が重複しないようになっている。このように隣り合う突
出片20、21の位置をリードの長さ方向に変えること
によって、一枚の条材から最大の屈曲高さを有する突出
片20、21を形成することができる。突出片20、2
1の折り曲げ角度θは、リード12の面に対して直角で
あっても良いが、図3(B)に示すように、折り曲げ角
度θを例えば95〜135度又は45〜85度とするこ
とによって、樹脂封止された場合に抜けにくくなる。
【0009】このリードフレーム13を使用した半導体
装置10を図1を参照しながら説明する。中央の素子搭
載部11の上には半導体チップ22が接着剤を介して搭
載されている。この半導体チップ22の各電極パッド2
3と各リード12の先端部に形成されたワイヤボンディ
ング部19とはボンディングワイヤ24によってそれぞ
れ電気的に連結されている。そして、半導体チップ2
2、各ボンディングワイヤ24及び底面を除くリードフ
レーム13の主要部は封止樹脂25によって樹脂封止さ
れている。この場合、封止樹脂25の外部にある枠体1
4及びこれに連続するリード12の外側端部が最終的に
除去された樹脂封止型半導体装置10が形成される。
【0010】この樹脂封止型半導体装置10において、
各リード12の中間位置に形成された屈曲した突出片2
0、21は封止樹脂25に嵌入しているので、各リード
12は封止樹脂25に強固に固定されていることにな
る。従って、仮にこの薄型の樹脂封止型半導体装置10
自体に曲げ応力がかかっても、従来の樹脂封止型半導体
装置と異なり、リード12が樹脂から外れたりすること
がない。
【0011】続いて、図4(A)、(B)を参照しなが
ら、本発明の他の実施の形態に係る樹脂封止型半導体装
置について説明するが、前記した樹脂封止型半導体装置
10と異なる部分はリード27、28及びこれに形成さ
れる突出片29、30のみであるので、この部分のみに
ついて説明する。図4(A)に示す樹脂封止型半導体装
置のリード27においては、リード27のワイヤボンデ
ィング部より後方に貫通孔31が形成され、この貫通孔
31の側周部が屈曲され封止樹脂側に飛び出て(即ち、
折り曲げられて)突出片29がバーリング加工等によっ
て形成されている。また、図4(B)に示す樹脂封止型
半導体装置のリード28においては、角型の貫通孔32
が形成され、この貫通孔32の部分連結切り抜き片が封
止樹脂方向に折り曲げられて突出片30が形成されてい
る。
【0012】このように、封止樹脂側に食い込み嵌入す
る屈曲した突出片29、30をリード27、28に設け
ることによって、リード27、28が封止樹脂に固定さ
れて、リード抜けや樹脂剥離が生じにくい構造となる。
この突出片29、30はリードに対して複数形成するこ
とも可能であり、これによって更にリードと封止樹脂と
の接合強度が向上する。
【0013】なお、前記した突出片20、21、29、
30の形成はエッチングではなくプレス加工によって行
えるので、樹脂封止型半導体装置の生産性が向上する。
本発明に係る樹脂封止型半導体装置は以上の実施の形態
に限定されるものではなく、例えば、前記突出片をリー
ドの幅方向内側に形成してもよい。また、前記突出片を
形成する前の拡幅部をリードの長手方向に対して角度を
もって形成し、この拡幅部をリードの側縁部分又はその
近傍を基準として折り曲げることもでき、これによっ
て、更に樹脂との食い込みがよくなる。
【0014】
【発明の効果】請求項1〜3に記載の樹脂封止型半導体
装置は、以上の説明からも明らかなように、リードに
は、樹脂封止に食い込み嵌入する屈曲した突出片が、ワ
イヤボンディング部より後方位置に設けられているの
で、リードと封止樹脂の接合性が向上し、リード抜けや
樹脂剥離を生じにくい信頼性に優れた小型、薄型の樹脂
封止型半導体装置を提供できる。そして、このような突
出片はプレス加工によって形成でき、エッチング加工が
不要であるので、樹脂封止型半導体装置の生産性が向上
する。特に、請求項2記載の樹脂封止型半導体装置にお
いては、前記突出片は、リードの一部に幅方向両側に突
出して形成された拡幅部を封止樹脂側に折り曲げて形成
されているので、リードの通電面積が確保されて、幅の
狭いリードの樹脂封止型半導体装置にでも好適に適用可
能である。また、請求項3記載の樹脂封止型半導体装置
においては、突出片は、リードの一部に形成された貫通
孔の側周部を封止樹脂側に折り曲げて形成されているの
で、製造が容易であり、封止樹脂を貫通孔の一部に嵌入
させることができ、より強固に封止樹脂とリードとを固
着できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る樹脂封止型半導体
装置の断面図である。
【図2】製造過程中にある同樹脂封止型半導体装置に使
用するリードフレームの平面図である。
【図3】(A)は同樹脂封止型半導体装置のリードの一
部拡大斜視図、(B)は同リードの断面図である。
【図4】(A)、(B)は他の実施の形態に係る樹脂封
止型半導体装置のリードの一部拡大斜視図である。
【符号の説明】
10:樹脂封止型半導体装置、11:素子搭載部、1
2:リード、13:リードフレーム、14:枠体、15
〜18:支持リード、19:ワイヤボンディング部、2
0、21:突出片、22:半導体チップ、23:電極パ
ッド、24:ボンディングワイヤ、25:封止樹脂、2
7、28:リード、29、30:突出片、31、32:
貫通孔

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを搭載した素子搭載部と、
    該素子搭載部の周囲に設けられた複数のリードと、前記
    半導体チップの電極パッドと前記リードの先端部に形成
    されているワイヤボンディング部を電気的に接続するボ
    ンディングワイヤとを有し、これらは少なくとも前記リ
    ードの底面を露出させて封止樹脂によって被覆されてい
    る樹脂封止型半導体装置において、前記リードには、前
    記封止樹脂に食い込み嵌入する屈曲した突出片が、前記
    ワイヤボンディング部より後方位置に設けられているこ
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の樹脂封止型半導体装置に
    おいて、前記突出片は、前記リードの一部に幅方向両側
    に突出して形成された拡幅部を根元又は中間部から封止
    樹脂側に折り曲げて形成されていることを特徴とする樹
    脂封止型半導体装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の樹脂封止型半導体装置に
    おいて、前記突出片は、前記リードの一部に形成された
    貫通孔の側周部を封止樹脂側に折り曲げて形成されてい
    ることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
JP32793499A 1999-11-18 1999-11-18 樹脂封止型半導体装置 Expired - Fee Related JP3614738B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32793499A JP3614738B2 (ja) 1999-11-18 1999-11-18 樹脂封止型半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32793499A JP3614738B2 (ja) 1999-11-18 1999-11-18 樹脂封止型半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001144241A true JP2001144241A (ja) 2001-05-25
JP3614738B2 JP3614738B2 (ja) 2005-01-26

Family

ID=18204650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32793499A Expired - Fee Related JP3614738B2 (ja) 1999-11-18 1999-11-18 樹脂封止型半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3614738B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020095539A (ko) * 2001-06-14 2002-12-27 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 패키지 및 그 방법
JP2006108306A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Yamaha Corp リードフレームおよびそれを用いた半導体パッケージ
JP2010021259A (ja) * 2008-07-09 2010-01-28 Toshiba Corp 光半導体装置
JP2011151321A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Dainippon Printing Co Ltd 半導体素子載置部材と配線導体との組合体、半導体素子載置基板およびその製造方法、ならびに半導体素子パッケージおよびその製造方法
WO2012108469A1 (ja) * 2011-02-08 2012-08-16 ローム株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2015012276A (ja) * 2013-07-02 2015-01-19 セイコーインスツル株式会社 半導体装置
CN108630653A (zh) * 2017-03-20 2018-10-09 矽品精密工业股份有限公司 电子封装件及其制法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020095539A (ko) * 2001-06-14 2002-12-27 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 패키지 및 그 방법
JP2006108306A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Yamaha Corp リードフレームおよびそれを用いた半導体パッケージ
JP2010021259A (ja) * 2008-07-09 2010-01-28 Toshiba Corp 光半導体装置
JP2011151321A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Dainippon Printing Co Ltd 半導体素子載置部材と配線導体との組合体、半導体素子載置基板およびその製造方法、ならびに半導体素子パッケージおよびその製造方法
WO2012108469A1 (ja) * 2011-02-08 2012-08-16 ローム株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
US9331041B2 (en) 2011-02-08 2016-05-03 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method
JP2015012276A (ja) * 2013-07-02 2015-01-19 セイコーインスツル株式会社 半導体装置
CN108630653A (zh) * 2017-03-20 2018-10-09 矽品精密工业股份有限公司 电子封装件及其制法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3614738B2 (ja) 2005-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2569939B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH10189830A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2006210807A (ja) 半導体装置の製造方法
JP3614738B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
US20020117740A1 (en) Lead frame for plastic molded type semiconductor package
JPH10329461A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH06338583A (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
US5606204A (en) Resin-sealed semiconductor device
JP2000124235A (ja) 樹脂封止半導体装置
US6057176A (en) Lead frame coining for semiconductor devices
JP3153197B2 (ja) 半導体装置
JPH088388A (ja) リードフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置
JP3639302B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH0590465A (ja) 半導体装置
JP3691790B2 (ja) 半導体装置の製造方法及び該方法によって製造された半導体装置
JP3959898B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH11145369A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法
JP2697743B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP4247871B2 (ja) リードフレームおよび半導体装置
JP2003188332A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH11186467A (ja) 半導体装置とそれを製造する際に用いるリードフレーム及びその製造方法
JP2646694B2 (ja) リードフレーム
JP3153185B2 (ja) 半導体装置
JP3891772B2 (ja) 半導体装置
JPH11186447A (ja) 樹脂封止半導体装置、その製造方法及びその製造装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040326

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041005

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041027

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071112

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091112

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091112

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101112

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131112

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees