JP2001141766A - 抵抗測定装置および抵抗測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 抵抗値を精度良く測定するのみならず、電極
端子の形状不良を見落とすことなく検出でき、しかもば
らつきの少ない測定結果を得ることができるようにす
る。 【解決手段】 チップ抵抗器ＣＲの両端に形成された一
対の電極端子Ｅ１，Ｅ２を通じて抵抗値を測定する抵抗
測定装置であって、両電極端子Ｅ１，Ｅ２のいずれか一
方から上部の抵抗体Ｒを通じて他方へと電流を流すため
に、各電極端子Ｅ１，Ｅ２の底部Ｅ１ａ，Ｅ２ａに接し
た状態とされる第１および第２の電流用接触子１０ａ，
１０ｂ，１１ａ，１１ｂと、これらの電流用接触子１０
ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂを通じて両電極端子Ｅ１，
Ｅ２間に電流が流れる際、抵抗体Ｒにより生ずる電位差
を計測するために、各電極端子Ｅ１，Ｅ２の上部Ｅ１
ｂ，Ｅ２ｂに接した状態とされる第１および第２の電圧
用接触子２０，２１とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本願発明は、チップ抵抗器の
抵抗値を測定するための抵抗測定装置、および抵抗測定
方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】チップ抵抗器の製造過程では、外観検査
などとともにその抵抗値が測定され、測定結果として不
適当な抵抗値を示すものが不良品として排除されてい
る。そのための抵抗測定装置としては、図６に示すよう
なものがある。

【０００３】図６に示す抵抗測定装置は、製造ラインＬ
から順次送られてくるチップ抵抗器ＣＲを効率良く大量
に捌くために、断続的に回転する回転盤ＲＤとその下位
に添う固定盤ＦＤとを備えるとともに、これらの円周に
沿う所定箇所に抵抗測定部Ｍｒ，Ｍｒと外観検査部Ｃｆ
とを設けたものである。チップ抵抗器ＣＲは、上位の回
転盤ＲＤの収容凹部ＲＤ１に収容された状態で固定盤Ｆ
Ｄの上に載せられる。そして、回転盤ＲＤが一定の角度
ずつステップ状に回転することにより、収容凹部ＲＤ１
も一定の角度ずつ変位し、２箇所の抵抗測定部Ｍｒ，Ｍ
ｒに達した収容凹部ＲＤ１内のチップ抵抗器ＣＲは、瞬
時に抵抗値が測定されるものとされている。さらに、チ
ップ抵抗器ＣＲは、外観検査部Ｃｆにおける外観検査な
どを経た後、最終的に良品とされたものが図示しない次
の工程へと移される。一方、抵抗測定部Ｍｒにおける測
定結果や外観検査に基づいて不良品と判断された場合に
は、固定盤ＦＤの所定箇所に開けられた排出口（図示省
略）から該当するチップ抵抗器ＣＲが排除されている。
このような抵抗測定装置によれば、１分当たり千個以上
ものチップ抵抗器ＣＲを捌くことが可能とされている。
なお、回転盤ＲＤが回転する際、遠心力によって収容凹
部ＲＤ１からチップ抵抗器ＣＲが飛び出さないように、
固定盤ＦＤの外周には、回転盤ＲＤの円周側面に近接し
つつほぼ全周を取り囲む壁状のガード部ＦＤ１が設けら
れている。

【０００４】さらに、図７は、図６に示す抵抗測定部Ｍ
ｒの従来例を詳細に示した斜視図であり、この図に基づ
いて要部である抵抗測定部Ｍｒについて説明すると、従
来の抵抗測定部Ｍｒには、固定盤ＦＤに開けられた貫通
孔（図示省略）を通じて上方に突き出る２つのスライド
部材１００，１１０と、チップ抵抗器ＣＲの上部側にお
ける電極端子Ｅ１，Ｅ２に対して図示しないバネなどを
介して弾性的に接する４つの接触子２００ａ，２００
ｂ，２１０ａ，２１０ｂが設けられている。スライド部
材１００，１１０は、チップ抵抗器ＣＲを下方から押し
上げるためのものである。また、チップ抵抗器ＣＲが押
し上げられた状態において、符号２００ａ，２００ｂで
示す２つの接触子は、チップ抵抗器ＣＲにおける一方の
電極端子Ｅ１の上部に接した状態とされ、符号２１０
ａ，２１０ｂで示す２つの接触子は、他方の電極端子Ｅ
２の上部に接した状態とされる。これらの接触子２００
ａ，２００ｂ，２１０ａ，２１０ｂは、抵抗測定用の探
針（プローブ）として用いられるものである。なお、チ
ップ抵抗器ＣＲは、抵抗体Ｒが形成された上部側を上に
向けた姿勢で収容凹部ＲＤ１に収容される。

【０００５】抵抗値を測定する際には、たとえば符号２
００ａ，２１０ａで示す接触子を用いて一方の電極端子
Ｅ１から抵抗体Ｒを通じて他方の電極端子Ｅ２へと電流
が流され、この際、残る符号２００ｂ，２１０ｂで示す
接触子を用いて電極端子Ｅ１，Ｅ２間に生じた電位差が
計測される。電極端子Ｅ１，Ｅ２間の電流値と電位差
は、図示しない制御部において所定の演算処理に用いら
れ、その演算結果としてチップ抵抗器ＣＲの抵抗値が算
出されている。こうして得られた抵抗値に基づいて、抵
抗測定装置においては、チップ抵抗器ＣＲの良品、不良
品が効率的に峻別されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記図７に
示す従来の抵抗測定部Ｍｒにおいては、プローブである
接触子２００ａ，２００ｂ，２１０ａ，２１０ｂがチッ
プ抵抗器ＣＲの上部側にしか設けられておらず、チップ
抵抗器ＣＲにおける電極端子Ｅ１，Ｅ２の上部にしか電
流が流れない。つまり、抵抗値の測定対象となるチップ
抵抗器ＣＲには、電極端子Ｅ１，Ｅ２が底部側まで形成
されずに正規の形状でないものも存在し、そのようなチ
ップ抵抗器ＣＲは不良品とされるべきところ、電極端子
Ｅ１，Ｅ２の上部のみを接触子２００ａ，２００ｂ，２
１０ａ，２１０ｂの接触部位としたのでは、電気的には
正常として良品と判断されるおそれがあった。

【０００７】このような問題に対処するには、図７に示
すものとは逆に、たとえば接触子２００ａ，２００ｂ，
２１０ａ，２１０ｂを電極端子Ｅ１，Ｅ２の底部に接触
させた状態で抵抗値を測定すればよいが、このような測
定方法では、電極端子Ｅ１，Ｅ２自体の電気的抵抗が若
干ながらも測定結果に影響を及ぼすこととなり、精度良
く抵抗値を測定できないという問題を有していた。

【０００８】さらに、図７に示す抵抗測定部Ｍｒでは、
測定を行う際、上下動可能なスライド部材１００，１１
０と、同じく上下動可能な接触子２００ａ，２００ｂ，
２１０ａ，２１０ｂとによってチップ抵抗器ＣＲを挟み
持つ状態としている。ところが、チップ抵抗器ＣＲは、
収容凹部ＲＤ１内において完全に位置決めされることな
く、ある程度水平方向にずれ動くことが許され、しか
も、各接触子２００ａ，２００ｂ，２１０ａ，２１０ｂ
が電極端子Ｅ１，Ｅ２に対して可動するため、接触子の
電極端子Ｅ１，Ｅ２に対する接触状態が安定せずに抵抗
値の測定結果にばらつきが生じるという問題もあった。

【０００９】そこで、本願発明は、上記した事情のもと
で考え出されたものであって、抵抗値を精度良く測定す
るのみならず、電極端子の形状不良を見落とすことなく
検出することができ、しかもばらつきの少ない測定結果
を得ることができる抵抗測定装置、および抵抗測定方法
を提供することをその課題とする。

【００１０】

【発明の開示】上記課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。

【００１１】すなわち、本願発明の第１の側面により提
供される抵抗測定装置は、上部に抵抗体を有するチップ
抵抗器を測定対象とし、そのチップ抵抗器の両端に形成
された一対の電極端子を通じて抵抗値を測定する抵抗測
定装置であって、上記両電極端子のいずれか一方から上
記抵抗体を通じて他方へと電流を流すために、各電極端
子の底部に接した状態とされる第１および第２の電流用
接触子と、上記第１および第２の電流用接触子を通じて
上記両電極端子間に電流が流れる際、上記抵抗体により
生ずる電位差を計測するために、各電極端子の上部に接
した状態とされる第１および第２の電圧用接触子とを有
することを特徴としている。

【００１２】また、本願発明の第２の側面により提供さ
れる抵抗測定方法は、上部に抵抗体を有するチップ抵抗
器を測定対象とし、そのチップ抵抗器の両端に形成され
た一対の電極端子を通じて抵抗値を測定する抵抗測定方
法であって、上記両電極端子のいずれか一方の底部から
上記抵抗体を通じて他方の底部へと電流を流しつつ、こ
れらの両電極端子間において上記抵抗体により生ずる電
位差を各電極端子の上部から計測することを特徴として
いる。

【００１３】上記技術的手段が講じられた第１の側面に
よる抵抗測定装置、または第２の側面による抵抗測定方
法によれば、電極端子が正常な形状の場合、第１および
第２の電流用接触子から両電極端子の底部を通じて電流
が流れることにより、第１および第２の電圧用接触子に
よって両電極端子間の電位差が計測され、これらの電流
値と電位差に基づいて抵抗値を算出することができる。
それに対し、チップ抵抗器の電極端子が底部側まで形成
されずに正常な形状でない場合、第１あるいは第２の電
流用接触子が電極端子に接しない状態となり、両電極端
子間に電流が流れることなく電位差も生じないので、電
気的な測定結果から電極端子の形状が不自然であるとし
て確実に不良品を検出することができる。また、第１お
よび第２の電圧用接触子は、抵抗体が形成された電極端
子の上部側に接した状態とされるので、電極端子自体が
有する電気的抵抗を測定結果においてほとんど無視する
ことができ、精度良く抵抗値を測定することができる。

【００１４】上記第１の側面にかかる抵抗測定装置の好
ましい実施の形態としては、上記第１および第２の電流
用接触子は、上記各電極端子の底部に対応しつつ、上記
チップ抵抗器全体を下方から押し上げるように上下動可
能とされ、上記第１および第２の電圧用接触子は、上記
各電極端子の上部に対応しつつ、その上部より所定の高
さ位置に固定されている構成とすることができる。

【００１５】また、上記第２の側面にかかる抵抗測定方
法の好ましい実施の形態としては、上記両電極端子の底
部を通じて電流を流す際には、それらの底部にそれぞれ
接して上記チップ抵抗器全体を下方から押し上げるよう
に上下動可能とされた第１および第２の電流用接触子が
用いられるとともに、上記両電極端子間の電位差をそれ
らの上部から計測するには、各電極端子の上部より所定
の高さ位置に固定された第１および第２の電圧用接触子
が用いられる構成とすることができる。

【００１６】このような構成によれば、第１および第２
の電流用接触子によって所定の高さまでチップ抵抗器全
体が押し上げられると、固定された第１および第２の電
圧用接触子が電極端子の上部に圧接した状態となり、各
接触子によってチップ抵抗器が確実に挟み持たれるの
で、各接触子と電極端子との安定した接触状態が保た
れ、抵抗値の測定結果としてばらつきを抑えることがで
きる。

【００１７】さらに、上記第１の側面にかかる抵抗測定
装置の他の好ましい実施の形態としては、上記第１およ
び第２の電流用接触子のそれぞれは、上記各電極端子の
底部に接する尖端部を有した複数本からなり、上記第１
および第２の電圧用接触子のそれぞれは、上記各電極端
子の上部に面して接する平坦部を有している構成とする
ことができる。

【００１８】このような構成によれば、少なくとも４本
の電流用接触子によってチップ抵抗器が上方に押し上げ
られ、各電極端子の上部が第１および第２の電圧用接触
子の平坦部に当接すると、各電流用接触子の尖端部が各
電極端子の底部に極めてわずかながらも食い込むので、
第１および第２の電流用接触子が電極端子に対して確実
に接触した状態で電流が流されるとともに、これらの電
流用接触子と電圧用接触子との間にチップ抵抗器を安定
した状態で瞬間的にも保持することができる。

【００１９】本願発明のその他の特徴および利点につい
ては、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明
らかになるであろう。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照して具体的に説明する。

【００２１】図１は、本願発明にかかる抵抗測定装置の
一実施形態として、その要部を示した要部斜視図、図２
は、図１のＩＩ−ＩＩ線に沿う断面を示した断面図、図
３は、図１のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う断面を示した断面
図である。なお、図１は、図６に平面的外観を示す抵抗
測定装置の抵抗測定部Ｍｒを示したものであり、この図
６も参照して本願発明を説明する。

【００２２】本願発明にかかる抵抗測定装置は、その外
観全体が従来例にかかる抵抗測定装置と同様であるが、
抵抗測定部Ｍｒの内部構成が従来例と異なる。つまり、
本願発明の要部となる抵抗測定部Ｍｒは、固定盤ＦＤに
開けられた貫通孔ＦＤ２を通じて上方に突き出る第１の
電流用接触子１０ａ，１０ｂおよび第２の電流用接触子
１１ａ，１１ｂと、チップ抵抗器ＣＲの上部より所定の
高さ位置に固定された第１の電圧用接触子２０および第
２の電圧用接触子２１とを有して概略構成されている。
なお、測定対象となるチップ抵抗器ＣＲや、従来と同様
の構成とするところについては、先述した通りであるこ
とからその詳細な説明を省略する。

【００２３】第１および第２の電流用接触子１０ａ，１
０ｂ，１１ａ，１１ｂは、チップ抵抗器ＣＲ全体を下方
から押し上げながら電極端子Ｅ１，Ｅ２間に電流を流す
ために、固定盤ＦＤに開けられた貫通孔ＦＤ２を通じて
たとえばアクチュエータなどにより上下動するものであ
る。符号Ｅ１で示す電極端子の底部Ｅ１ａには、第１の
電流用接触子１０ａ，１０ｂの尖端部１０ａａ，１０ｂ
ａが当接するのに対し、符号Ｅ２で示す電極端子の底部
Ｅ２ａには、第２の電流用接触子１１ａ，１１ｂの尖端
部１１ａａ，１１ｂａが当接する。これらの尖端部１０
ａａ，１０ｂａ，１１ａａ，１１ｂａは、電極端子Ｅ
１，Ｅ２との接触状態を安定させるために、鋭角に食い
込む形状とされている。また、第１および第２の電流用
接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂは、図示しない
制御部と電気的に接続されており、これらの電流用接触
子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂを通じて流れる電流
の値は、制御部において調整可能とされている。

【００２４】つまり、第１および第２の電流用接触子１
０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂは、抵抗測定用の通電プ
ローブとして用いられ、たとえば第１の電流用接触子１
０ａ，１０ｂを正極、第２の電流用接触子１１ａ，１１
ｂを負極とすると、符号Ｅ１で示す電極端子の底部Ｅ１
ａから上部Ｅ１ａ、抵抗体Ｒ、符号Ｅ２で示す電極端子
の上部Ｅ２ｂから底部Ｅ２ａという流路に沿って電流が
流れるのである。また、チップ抵抗器ＣＲは、４本の電
流用接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂによって支
えられることから、瞬間的にも安定した状態で上下動可
能とされている。

【００２５】第１および第２の電圧用接触子２０，２１
は、チップ抵抗器ＣＲが押し上げられた際、各電極端子
Ｅ１，Ｅ２の上部Ｅ１ｂ，Ｅ２ｂに面して接触可能な平
坦部２０ａ，２０ｂを有しており、両電極端子Ｅ１，Ｅ
２間において抵抗体Ｒにより生ずる電位差を計測するた
めに設けられたものである。要するに、符号Ｅ１で示す
電極端子の上部Ｅ１ｂには、第１の電圧用接触子２０の
平坦部２０ａが当接するのに対し、符号Ｅ２で示す電極
端子の上部Ｅ２ａには、第２の電圧用接触子２１の平坦
部２１ａが当接する。これにより、チップ抵抗器ＣＲ
は、両電極端子Ｅ１，Ｅ２が電圧用接触子２０，２１と
電流用接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂとの間に
挟み込まれたかたちで安定的に保持される。また、第１
および第２の電圧用接触子２０，２１は、図示しない制
御部と電気的に接続されており、これらの電圧用接触子
２０，２１を通じて計測される電位差は、制御部におい
て抵抗値を算出するために用いられる。

【００２６】つまり、第１および第２の電圧用接触子２
０，２１は、抵抗測定用の検針プローブとして用いら
れ、たとえば第１および第２の電流用接触子１０ａ，１
０ｂ，１１ａ，１１ｂによって符号Ｅ１からＥ２の電極
端子に電流が流れる状態では、両電極端子Ｅ１，Ｅ２間
の抵抗体Ｒによって生ずる電位差が第１および第２の電
圧用接触子２０，２１を通じて計測されるのである。こ
の際、第１および第２の電圧用接触子２０，２１は、抵
抗体Ｒに最も近い電極端子Ｅ１，Ｅ２の上部Ｅ１ｂ，Ｅ
２ｂに接した状態とされ、電極端子Ｅ１，Ｅ２のほんの
一部しか電位差の計測区間に存在しないことから、電極
端子Ｅ１，Ｅ２自体が有する電気的抵抗を測定結果にお
いてほとんど無視することができる。

【００２７】次に、本願発明にかかる抵抗測定方法につ
いて、図面を参照して説明する。

【００２８】図４は、上記抵抗測定部Ｍｒにおける抵抗
測定方法を説明するために示した説明図であって、この
図に示すように、チップ抵抗器ＣＲを収容した収容凹部
ＲＤ１が抵抗測定部Ｍｒにおける所定の測定個所に一瞬
停止すると、第１および第２の電流用接触子１０ａ，１
０ｂ，１１ａ，１１ｂがチップ抵抗器ＣＲ全体を下方か
ら支えながら押し上げる。その際、たとえば図４に示す
ように、第１の電流用接触子１０ａ，１０ｂから第２の
電流用接触子１１ａ，１１ｂへと所定値の電流Ｉが流れ
ることにより、両電極端子Ｅ１，Ｅ２間の抵抗体Ｒに電
流Ｉが流れる。

【００２９】そして、第１および第２の電圧用接触子２
０，２１の平坦部２０ａ，２１ａに電極端子Ｅ１，Ｅ２
の上部Ｅ１ｂ，Ｅ２ｂが突き当たることにより、チップ
抵抗器ＣＲは、これらの電流用接触子１０ａ，１０ｂ，
１１ａ，１１ｂと電圧用接触子２０，２１との間にしっ
かりと挟み持たれた状態で安定的に保持される。

【００３０】また、第１および第２の電圧用接触子２
０，２１からは、両電極端子Ｅ１，Ｅ２を通じて抵抗体
Ｒに電流Ｉが流れることによって生ずる電位差Ｖが計測
され、図示しない制御部においては、計測された電位差
Ｖと電流Ｉに基づいて所定の演算処理を行うことで抵抗
値が算出される。

【００３１】このようにして抵抗値が測定される際に
は、チップ抵抗器ＣＲが基板にはんだ付けなどされた状
態で電流Ｉが流れる状態と同様であり、電位差Ｖが計測
された後は、第１および第２の電流用接触子１０ａ，１
０ｂ，１１ａ，１１ｂが貫通孔ＦＤ２内に引き下がるこ
とで、再びチップ抵抗器ＣＲが固定盤ＦＤ上に戻され
る。以上のように、１つのチップ抵抗器ＣＲに対して抵
抗値を測定し終えるまでの動作は、回転盤ＲＤが一瞬停
止した状態で抵抗測定部Ｍｒにおいて瞬間的に行われ、
この回転盤ＲＤが一定角度ずつステップ状に回転するこ
とにより、抵抗測定部Ｍｒにおいて次々と迅速に抵抗値
の測定が行われるのである。

【００３２】また、たとえば電極端子Ｅ１，Ｅ２が正常
に形成されておらず、その底部Ｅ１ａ，Ｅ２ａが無いよ
うな形状不良としたチップ抵抗器ＣＲの場合、第１およ
び第２の電流用接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂ
が電極端子Ｅ１，Ｅ２に接することなく、電流Ｉが電極
端子Ｅ１，Ｅ２間に流れることはない。このような場
合、制御部においては、電極端子Ｅ１，Ｅ２の形状に不
具合があるとしてそのようなチップ抵抗器ＣＲが不良品
と判断され、確実に良品と不良品との峻別が行われる。

【００３３】したがって、上記抵抗測定装置によれば、
チップ抵抗器ＣＲの電極端子Ｅ１，Ｅ２が底部Ｅ１ａ，
Ｅ２ａ側まで形成されずに正常な形状でない場合、第１
あるいは第２の電流用接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，
１１ｂが電極端子Ｅ１，Ｅ２に接しない状態となり、両
電極端子Ｅ１，Ｅ２間に電流Ｉが流れることなく電位差
Ｖも生じないので、電気的な測定結果を得ることができ
ずに電極端子の形状が不自然であるとして確実に不良品
を検出することができる。

【００３４】また、第１および第２の電圧用接触子２
０，２１は、抵抗体Ｒに近い電極端子Ｅ１，Ｅ２の上部
Ｅ１ａ，Ｅ２ａ側に接した状態とされるので、電極端子
Ｅ１，Ｅ２自体が有する電気的抵抗を測定結果において
ほとんど無視することができ、精度良くチップ抵抗器Ｃ
Ｒの抵抗値を測定することができる。

【００３５】さらに、第１および第２の電流用接触子１
０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂによって所定の高さまで
チップ抵抗器ＣＲ全体が押し上げられると、固定された
第１および第２の電圧用接触子２０，２１が電極端子Ｅ
１，Ｅ２の上部Ｅ１ａ，Ｅ２ａに圧接した状態となり、
各接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂ，２０，２１
によってチップ抵抗器ＣＲが確実に保持される。これに
より、各接触子１０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂ，２
０，２１と電極端子Ｅ１，Ｅ２との安定した接触状態を
保ちながら抵抗値を測定することができ、大量にチップ
抵抗器ＣＲを捌くことよっても、各チップ抵抗器ＣＲご
とに測定結果として得られる抵抗値のばらつきを抑える
ことができる。

【００３６】このようなばらつきに関して比較実験を行
った結果を以下に説明する。

【００３７】実験方法（１）としては、抵抗測定部Ｍｒ
において１つのチップ抵抗器（１００ｍΩ程度)につい
て１００回の測定を行い、その測定結果として得られた
抵抗値のばらつき具合（σ：分散）と、最大抵抗値（Ｒ
max ）とを求めた。また、別の実験方法（２）では、図
５に示すように、回転盤ＲＤにおける収容凹部ＲＤ１内
においてチップ抵抗器ＣＲの位置を対角線上に沿って変
位させ、各位置における測定結果から最大抵抗値（Ｒma
x ）を求めた。

【００３８】なお、以下の表に示す（Ａ）は本実施形
態、（Ｘ）は、図７に示す従来例の形態、（Ｙ）は、本
実施形態の電圧用接触子２０，２１に代えて図７に示す
従来例の接触子２００ａ，２００ｂ，２１０ａ，２１０
ｂを用い、電極端子Ｅ１，Ｅ２の上部Ｅ１ａ，Ｅ２ａか
ら電流を流した参考例の形態を示す。

【００３９】

【表１】

【００４０】この表に示すように、本実施形態（Ａ）に
よれば、従来例（Ｘ）に比べて全ての実験結果において
好ましいばらつき具合（σ）と最大抵抗値（Ｒmax ）が
観測されており、従来例（Ｘ）よりもばらつき無く抵抗
値を精度良く測定できると言えよう。また、参考例の形
態（Ｙ）では、実験方法（２）において従来例（Ｘ）よ
りも好ましい最大抵抗値（Ｒmax ）が得られたが、実験
方法（１）による実験結果を比較すると、従来例（Ｘ）
よりも劣ることから、この点において本実施形態（Ａ）
にかかる抵抗測定方法が最も好ましいと言えよう。

【００４１】なお、本願発明は、上述の実施形態に限定
されるものではない。

【００４２】たとえば、抵抗測定装置は、図６に示すよ
うな円周に沿ってチップ抵抗器ＣＲを搬送する方式に限
ることなく、たとえば直線状に搬送する方式などであっ
ても良い。その他、チップ抵抗器ＣＲの個数や抵抗測定
部Ｍｒの設置個所などは、仕様に応じて適宜変更するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明にかかる抵抗測定装置の一実施形態と
して、その要部を示した要部斜視図である。

【図２】図１のＩＩ−ＩＩ線に沿う断面を示した断面図
である。

【図３】図１のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う断面を示した断
面図である。

【図４】抵抗測定部における抵抗測定方法を説明するた
めに示した説明図である。

【図５】比較実験結果を説明するために示した説明図で
ある。

【図６】製造過程において使用される抵抗測定装置の一
例を示した概略平面図である。

【図７】図６に示す抵抗測定部の従来例を詳細に示した
斜視図である。

【符号の説明】

ＣＲ チップ抵抗器 Ｒ 抵抗体 Ｅ１，Ｅ２ 電極端子 Ｅ１ａ，Ｅ２ａ 電極端子の底部 Ｅ１ｂ，Ｅ２ｂ 電極端子の上部 ＲＤ 回転盤 ＲＤ１ 収容凹部 ＦＤ 固定盤 Ｍｒ 抵抗測定部 １０ａ，１０ｂ 第１の電流用接触子 １１ａ，１１ｂ 第２の電流用接触子 ２０ 第１の電圧用接触子 ２１ 第２の電圧用接触子

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G028 AA01 AA03 AA04 BB01 CG02 DH03 FK01 HM05 HM08 HN08 HN11 JP02 JP04 2G036 AA03 BB01 CA01 CA02 CA05 CA06 5E032 AB01 BB01 CA01 CB01 CB03 CC02

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 上部に抵抗体を有するチップ抵抗器を測
   定対象とし、そのチップ抵抗器の両端に形成された一対
   の電極端子を通じて抵抗値を測定する抵抗測定装置であ
   って、 上記両電極端子のいずれか一方から上記抵抗体を通じて
   他方へと電流を流すために、各電極端子の底部に接した
   状態とされる第１および第２の電流用接触子と、 上記第１および第２の電流用接触子を通じて上記両電極
   端子間に電流が流れる際、上記抵抗体により生ずる電位
   差を計測するために、各電極端子の上部に接した状態と
   される第１および第２の電圧用接触子と、 を有することを特徴とする、抵抗測定装置。
2. 【請求項２】 上記第１および第２の電流用接触子は、
   上記各電極端子の底部に対応しつつ、上記チップ抵抗器
   全体を下方から押し上げるように上下動可能とされ、上
   記第１および第２の電圧用接触子は、上記各電極端子の
   上部に対応しつつ、その上部より所定の高さ位置に固定
   されている、請求項１に記載の抵抗測定装置。
3. 【請求項３】 上記第１および第２の電流用接触子のそ
   れぞれは、上記各電極端子の底部に接する尖端部を有し
   た複数本からなり、上記第１および第２の電圧用接触子
   のそれぞれは、上記各電極端子の上部に面して接する平
   坦部を有している、請求項２に記載の抵抗測定装置。
4. 【請求項４】 上部に抵抗体を有するチップ抵抗器を測
   定対象とし、そのチップ抵抗器の両端に形成された一対
   の電極端子を通じて抵抗値を測定する抵抗測定方法であ
   って、 上記両電極端子のいずれか一方の底部から上記抵抗体を
   通じて他方の底部へと電流を流しつつ、これらの両電極
   端子間において上記抵抗体により生ずる電位差を各電極
   端子の上部から計測することを特徴とする、抵抗測定方
   法。
5. 【請求項５】 上記両電極端子の底部を通じて電流を流
   す際には、それらの底部にそれぞれ接して上記チップ抵
   抗器全体を下方から押し上げるように上下動可能とされ
   た第１および第２の電流用接触子が用いられるととも
   に、上記両電極端子間の電位差をそれらの上部から計測
   するには、各電極端子の上部より所定の高さ位置に固定
   された第１および第２の電圧用接触子が用いられる、請
   求項４に記載の抵抗測定方法。