JP2001133356A - 振動試験装置および振動試験方法 - Google Patents

振動試験装置および振動試験方法

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JP2001133356A
JP2001133356A JP31260099A JP31260099A JP2001133356A JP 2001133356 A JP2001133356 A JP 2001133356A JP 31260099 A JP31260099 A JP 31260099A JP 31260099 A JP31260099 A JP 31260099A JP 2001133356 A JP2001133356 A JP 2001133356A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 より使用状態に近い振動状態を再現して振動
試験が出来て、より正確な試験結果を得ることが可能な
振動試験装置を提供する。 【解決手段】 動子(31)を有し、当該振動子を振動
させる振動発生手段(3:例えば、マイクロ振動発生
機)が複数配置され、前記各振動子に振動板(4)が支
持された振動試験装置(1)であって、前記各振動発生
手段の振動特性を個別に制御する制御手段(8:振動制
御部)を備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験体に振動を与
えることにより試験体の耐震性、耐久性を評価する振動
試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プリント基板等の電気・電子分野
などの電子部品について、様々な振動条件の下で振動試
験を行わせることにより、電子部品の耐震性や耐久性を
評価する装置として、振動試験装置が知られている。こ
のような振動試験装置としては、例えば、図6に示す動
電型のマイクロ振動試験装置が知られている。
【0003】図6に示すマイクロ振動試験装置100
は、外側磁極101、内側磁極102、励磁コイル10
3、可動コイル104、振動台105、ばね106など
により構成されている。励磁コイル103は、電源部
(図示省略)から入力される直流電流により励磁されて
直流磁界を生成し、磁性体である外側磁極101、内側
磁極102との間のギャップGには、可動コイル104
を横切る直流磁界が形成される。
【0004】可動コイル104には図示しない駆動回路
によって生成される交流電流が印加されており、可動コ
イル104は前記ギャップGに形成された直流磁界中を
前記交流電流の周波数に基づく振動数で振動する。この
可動コイル104は内側磁極102の上面に設置された
ばね106によって支持される振動台105に固定され
ており、可動コイル104が振動することによって振動
台105が振動する。そして、振動台105に電子部品
(図示省略)を載置して、振動台105の振動に伴って
電子部品(図示省略)が振動し、この時の振動特性を測
定するようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、実際に組み
込まれるべき装置によっては、局部的に振動が大きく作
用する場合もあり、このような状況を再現して、より使
用状態に近い状態で試験を行いたいというニーズがあっ
た。しかし、従来の振動試験装置では、一律に振動台を
振動させるだけだったので、上記ニーズを満足するもの
となっていなかった。
【0006】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、より使用状態に近い振動状態を再現
して振動試験が出来て、より正確な試験結果を得ること
が可能な振動試験装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1記載の発明は、例えば、図1〜5に示すよ
うに、振動子(31)を有し、当該振動子を振動させる
振動発生手段(3:例えば、マイクロ振動発生機)が複
数配置され、前記各振動子に振動板(4)が支持された
振動試験装置(1)であって、前記各振動発生手段の振
動特性を個別に制御する制御手段(8:振動制御部)を
備えたことを特徴としている。
【0008】請求項1記載の発明によれば、振動板を支
持する複数の振動発生手段を個別に制御出来るので、実
際の使用状態に近い振動環境を創出することが出来るこ
ととなって、より正確な振動試験結果を得ることが出来
る。即ち、振動発生手段を個別に制御すれば、例えば、
局部的に大きな振動を与えることができることが出来る
ので、局部的に大きな振動が生ずるような使用環境を創
出出来て、より正確な振動試験結果を得ることが出来
る。
【0009】ここで、振動発生手段は、例えば、動電型
のマイクロ振動発生機を使用する。この場合、直流磁界
の形成する方式は、永久磁石を用いた方式のものであっ
ても、或いは電磁石を用いた方式のものであってもよ
い。振動特性には、例えば、波長、振幅などが含まれ
る。
【0010】請求項2記載の発明は、請求項1記載の振
動試験装置において、前記制御手段は、設定された周波
数を有する振動電圧を発生させる発振器(81)と、前
記発振器から出力された振動電圧を入力し、設定された
前記各振動発生手段の振幅に応じた振動電圧を出力する
振幅調整手段(82:例えば、可変ボリュームユニッ
ト)と、前記振幅調整手段から出力された振動電圧を増
幅し、前記振動発生手段に出力する増幅器(83)と、
を備えたことを特徴としている。
【0011】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明と同様の効果が得られることは無論のこと、特
に、発振器によって、設定された周波数を有する振動電
圧が発生され、振幅調整手段によって、入力された振動
電圧に基づいて、設定された各振動発生手段の振幅に応
じた振動電圧が出力され、増幅器によって、振幅調整手
段から出力された振動電圧が増幅され、振動発生手段に
出力される。従って、各振動発生手段の振動制御を一つ
の発振器を用いて行うことが出来て、装置の簡略化が図
れる。
【0012】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載の振動試験装置において、前記振動板に設けられ、被
試験体(S:例えば、プリント基板)を着脱自在に固着
する固着手段(5:固着部)を備え、前記固着手段は、
前記被試験体が実際に取り付けられる実装置における取
付手段(図示省略)と等しくされていることを特徴とし
ている。
【0013】請求項3記載の発明によれば、請求項1又
は2記載の発明と同様の効果が得られることは無論のこ
と、特に、固着手段によって、被試験体が振動板に着脱
自在に固着され、被試験体が実際に取り付けられる実装
置における取付手段と等しくされているので、より実際
の使用状態を再現出来ることとなって、より正確な振動
試験結果を得ることが出来る。
【0014】ここで、固着手段は、例えば、対向配置さ
れたレールに被試験体を装着してねじ止めしたり、或い
は被試験体の四隅をねじ止めするものなどがあるが、こ
れに限らず電子部品が実際に取り付けられる実装置の取
付手段と同じであれば、どのようなものでもよい。
【0015】請求項4記載の発明は、振動板が複数の振
動発生手段によって振動自在に支持された振動試験装置
における振動試験方法において、前記各振動発生手段の
振動特性を各々別個に制御することを特徴としている。
【0016】請求項4記載の発明によれば、振動板を支
持する複数の振動発生手段の振動が各々個別に制御され
るので、実際の使用状態に近い振動環境を創出すること
が出来ることとなって、より正確な振動試験結果を得る
ことが出来る。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明に係る
振動試験装置の実施の形態を詳細に説明する。図1は、
本発明に係る振動試験装置の要部構成を示した正面図で
あり、図2は、同平面図であり、図3は、同左側面図で
ある。また、図4は、振動試験装置の振動を制御する振
動制御部の要部構成を示したブロック図である。図1〜
3に示す振動試験装置1は、例えば、プリント基板Sな
どの電子部品等振動与えてその品質、耐久性等を調査す
るための装置である。
【0018】前記振動試験装置1は、矩形の板状のベー
ス2と、前記ベース2に一部が貫通して設けられ、振動
子31が振動する動電型のマイクロ振動発生機3(振動
発生手段)と、前記振動子31に支持され、振動子31
の振動が伝達される矩形の振動板4と、前記振動板4の
長辺側縁部4a、4aに沿って対向配置され、前記プリ
ント基板Sを着脱自在に前記振動板4に固着可能な固着
部5(固着手段)と、前記振動板4の一短辺側端部4b
から離間した位置に、前記ベース2から起立して設けら
れ、高さが振動板4に略等しい支持台6と、前記振動板
4の長辺側の4つの角部に設けられ、振動板4の振動を
抑止するクランプ装置7…と、前記マイクロ振動発生機
3の振動を制御する振動制御部8(図4参照)などを備
えている。
【0019】前記振動試験装置1は、プリント基板Sを
立てた状態で試験する装置であり、縦にして実際に取り
付けられるプリント基板Sの振動試験に最適であり、実
際の使用状態で振動試験を行うことが出来る。前記ベー
ス2には、二本の長尺な板状の足部21、21がとりつ
けられており、この足部21、21は図示しない収納部
のレールと摺動可能に係合し、この振動試験装置1全体
が足部21、21をレール(図示省略)にスライドさせ
ることにより収納部(図示省略)からの出し入れが出来
るようになっている。前記マイクロ振動発生機3は、前
記振動板4の短辺方向に並列して2台設置されており、
前記振動子31を有する他、図6に示したマイクロ振動
発生装置100と同様の構成となっている。
【0020】振動子31には、その先端にピアノ線31
aが起立した状態で取り付けられている。その先端に
は、振動板4に取り付けられており、このピアノ線31
aにより前記振動板4が支持されている。前記ピアノ線
31aは、振動子31の振動方向に対しては振動を振動
板4に伝達可能な剛性を有している。しかし、それ以外
の方向に対して力が作用した場合には、ピアノ線31a
が撓んで振動子31と振動板4との間に無理な力がかか
らないようになっている。これにより、振動試験装置1
の保護を図っている。
【0021】また、振動板4は、振動子31のピアノ線
31aによって支持されるとともに、前記支持台6に、
振動板4の一方の短辺側端部4bが並列して設けられた
2つの板ばね61、61を介しても支持され、更に、振
動板4の前記板ばね61、61が取り付けられた短辺側
端部4bと反対の短辺側端部4c側のベース2側の面
は、ベース2に設けられたU字ばね41によって支持さ
れている。そして、振動板4がこの板ばね61、61に
よって短辺側端部4bが支持されているので、マイクロ
振動発生機3、3により発生した振動により振動板4に
円弧運動が生じる。即ち、振動板4と支持台6が板ばね
61、61によってヒンジ結合された状態となり、振動
板4に振動が伝えられると振動板4が円弧運動する。実
際にプリント基板Sが実装置に取り付けられた場合に
も、同様に円弧運動が生じる場合があるので、より使用
状態に近くなる。
【0022】より具体的に説明すると、実際の使用状態
では、上下方向(或いは左右方向)の往復運動のみなら
ず、モーメントが作用して円弧運動もプリント基板Sに
作用するが、従来の振動試験装置では、上下方向(或い
は左右方向)の振動のみの振動試験しか出来なかった。
これに対して、本振動試験装置は、円弧運動によるプリ
ント基板Sへの影響も試験することが出来ることとなっ
て、より実際の状態に近いものとなっている。更に、前
記マイクロ振動発生機3、3は、振動板4の中央ではな
く、板ばね61、61から離れた短辺側端部4c近くに
配置されているので、てこの原理により、少ない力でよ
り大きな円弧運動を得ることが出来る構造となってい
る。
【0023】また、前記振動板4には、前記短辺側端部
4b側に、短辺方向に沿って長尺な中継コネクタ42が
設けられている。この中継コネクタ42は、プリント基
板Sの配線と接続可能となっているとともに、前記支持
台6に設けられた通電用コネクタ62に接続されてい
る。そして、通電用コネクタに通電することにより、中
継コネクタ42を介してプリント基板Sに通電すること
が出来るようになっている。
【0024】前記固着部5は、振動板4の長辺側縁部4
a、4aに沿って延在する断面がコ字状のスライドレー
ル51、51が対向配置されている。前記スライドレー
ル51、51には、所定間隔にねじ止め用のねじ穴51
a…が設けられ、このねじ穴51aにねじ52挿入して
止着することにより振動板4に固定される。また、前記
スライドレール51、51の挿入側の振動板4には、挿
入側の面にねじ穴52aを有する基板固定部53、53
が設けられている。そして、プリント基板10の縁部1
0aをスライドレール51、51の凹部51bに挿入し
た後、中継コネクタ42にプリント基板10の配線部
(図示省略)を取り付け、図5に示すように、プリント
基板10に取り付けられた金具11のねじ11aを基板
固定部53、53のねじ穴53aにねじ11aを挿入し
て止着することにより、プリント基板10を振動板4に
固着することが出来るようになっている。この固着部5
は、いわゆるスロットタイプのものであり、当該プリン
ト基板10が実装される装置(図示省略)の取付部(図
示省略)と同じタイプのもので構成されている。
【0025】前記クランプ装置7は、前記振動板4のベ
ース2側の面に取り付けられ、係合穴71aを有する係
合部71と、前記ベース2に設けられたクランプ部72
と、を備えている。クランプ部72の上部には、前記係
合穴71aに対向して設けられ、前記係合穴71aに出
し入れ自在な棒状のクランプ軸73と、このクランプ軸
73を軸方向に付勢するばね(図示省略)と、このばね
の付勢を解除するアンクランプスイッチ74などにより
構成されている。そして、クランプ軸73を係合穴71
aに挿入することにより振動板4を固定して振動を抑止
することが出来るようになっている。また、この状態で
アンクランプスイッチ74を押すと、ばね(図示省略)
の付勢が解除され、クランプ軸73が振動板4から離れ
る方向に移動して振動板4の拘束が解除される。このク
ランプ装置7によって、振動板4の振動を拘束すること
が出来るので、プリント基板Sを固着部5に着脱するの
が容易となる。
【0026】前記振動制御部8は、発振器81、可変ボ
リュームユニット82、電力増幅器83、などを備えて
いる。発振器81は、直流を電源として所望の周波数を
もった振動電圧を発生させて、可変ボリュームユニット
82に出力する回路である。前記可変ボリュームユニッ
ト82は、各マイクロ振動発生機3、3の振幅を制御す
る装置であり、振動電流の出力を調整するマスターゲイ
ン調整部82a、2つのマイクロ振動発生機3、3の各
々の振幅を制御する振幅制御部82b、82bと、を備
えている。振幅制御部は、図示しない調整つまみを操作
することにより、各マイクロ振動発生機3,3の振幅を
調整出来るようになっている。そして、発振器81から
出力された振動電圧を入力し、前記マスターゲイン調整
部82aによって出力が調整された後、各々の振幅制御
部82b、82bの制御に応じた振幅の振動電圧を電力
増幅器83、83に出力する。
【0027】前記電力増幅器83、83は、可変ボリュ
ームユニット82から出力された振動電圧を増幅してマ
イクロ振動発生機3、3に出力する装置であり、増幅さ
れた振動電圧に基づいた振動を発生させることが出来
る。即ち、二台のマイクロ振動発生機3、3を異なる振
幅で振動させることが出来るので、例えば、振動板4の
うち特定の部分を局部的に強く振動させることが出来
る。
【0028】次に、上記電子部品用振動試験装置による
プリント基板10の振動試験動作について説明する。ま
ず、電子部品用振動試験装置を収納部(図示省略)から
足部21、21をレール(図示省略)にスライドさせて
引き出す。次いで、振動板4の四隅に設けられたクラン
プ装置7…のクランプ軸73を振動板4に取り付けられ
た係合部71の係合穴71aに挿入させて振動板4を拘
束する。この状態で、固着部5のスライドレール51の
凹部51bにプリント基板10の縁部10aをスライド
させて装着したのち、基板固定部53のねじ穴53aに
プリント基板10の金具11のねじ11aを取り付けて
止着する。次いで、プリント基板10の配線部(図示省
略)と中継コネクタ42を接続させる。プリント基板1
0の固着部5への取付終了後は、クランプ軸73を係合
穴71aから抜いて、振動板4の拘束状態を解除する。
【0029】次いで、発振器81、可変ボリュームユニ
ット82、電力増幅器83の電源をオンし、発振器81
による振動電圧の設定、可変ボリュームユニット82に
よる各マイクロ振動発生機3、3の振幅の設定とマスタ
ーゲイン調整部82aの出力をゼロにセットする。次い
で、発振器81により設定された周波数を有する振動電
圧を発生させ、この振動電圧が可変ボリュームユニット
82に出力される。次いで、振幅調整手段としての可変
ボリュームユニット82にて、振動電圧が設定された振
幅にされた後、電力増幅器83で増幅され、各マイクロ
振動発生機3、3に出力される。そして、マスターゲイ
ン調整部82aの出力を少しづつ上げることにより、各
マイクロ振動発生機3、3は、設定された振幅で振動し
て振動試験がなされる。このとき、通電用コネクタ62
を介してプリント基板Sは通電され、実際の使用状態で
の振動試験がなされる。
【0030】試験終了後は、再び、振動板4の四隅に設
けられたクランプ装置7のクランプ軸73を振動板4に
取り付けられた係合部71の係合穴71aに挿入させて
振動板4を拘束し、この状態で中継コネクタ42から配
線部(図示省略)を外し、基板固定部53に止着された
金具11のねじ11aを緩めてプリント基板10を外
す。
【0031】以上説明した本発明に係る動電型振動発生
機によれば、振動板4を支持する2台のマイクロ振動発
生機3、3を個別に制御出来るので、実際の使用状態に
近い振動環境を創出することが出来ることとなって、よ
り正確な振動試験結果を得ることが出来る。即ち、マイ
クロ振動発生機3、3を個別に制御すれば、例えば、局
部的に大きな振動を与えることができることが出来るの
で、局部的に大きな振動が生ずるような使用環境を創出
出来て、より正確な振動試験結果を得ることが出来る。
【0032】また、一つの発振器81を使って、マイク
ロ振動発生機3の個別制御が可能であるので、装置の簡
略化が図れる。更に、固着部5によって、プリント基板
Sが振動板4に着脱自在に固着され、プリント基板Sが
実際に取り付けられる実装置における取付手段(図示省
略)と等しくされているので、より実際の使用状態を再
現出来ることとなって、より正確な振動試験結果を得る
ことが出来る。
【0033】なお、本発明は上記実施の形態に限られる
ものではなく、適宜変更可能である。例えば、発振器
は、マイクロ振動発生機毎に個別に設けても良い。ま
た、振動制御についてもCPUを使って、例えば、振動
パターンをプログラム化し、これによって振動試験を行
うようにしてもよい。
【0034】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、振動板を
支持する複数の振動発生手段を個別に制御出来るので、
実際の使用状態に近い振動環境を創出することが出来る
こととなって、より正確な振動試験結果を得ることが出
来る。即ち、振動発生手段を個別に制御すれば、例え
ば、局部的に大きな振動を与えることができることが出
来るので、局部的に大きな振動が生ずるような使用環境
を創出出来て、より正確な振動試験結果を得ることが出
来る。
【0035】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明と同様の効果が得られることは無論のこと、特
に、発振器によって、設定された周波数を有する振動電
圧が発生され、振幅調整手段によって、入力された振動
電圧に基づいて、設定された各振動発生手段の振幅に応
じた振動電圧が出力され、増幅器によって、振幅調整手
段から出力された振動電圧が増幅され、振動発生手段に
出力される。従って、各振動発生手段の振動制御を一つ
の発振器を用いて行うことが出来て、装置の簡略化が図
れる。
【0036】請求項3記載の発明によれば、請求項1又
は2記載の発明と同様の効果が得られることは無論のこ
と、特に、固着手段によって、被試験体が振動板に着脱
自在に固着され、被試験体が実際に取り付けられる実装
置における取付手段と等しくされているので、より実際
の使用状態を再現出来ることとなって、より正確な振動
試験結果を得ることが出来る。
【0037】請求項4記載の発明によれば、振動板を支
持する複数の振動発生手段の振動が各々個別に制御され
るので、実際の使用状態に近い振動環境を創出すること
が出来ることとなって、より正確な振動試験結果を得る
ことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る振動試験装置の要部構成を示した
正面図である。
【図2】本発明に係る振動試験装置の要部構成を示した
平面図である。
【図3】本発明に係る振動試験装置の要部構成を示した
左側面図である。
【図4】振動試験装置の振動を制御する振動制御部の要
部構成を示したブロック図である。
【図5】固着部へのプリント基板の固着状態を説明する
ための固着部要部断面図である。
【図6】従来のマイクロ振動発生機の構成を説明するた
めの図である。
【符号の説明】
1 振動試験装置 3 マイクロ振動発生機(振動発生手段) 4 振動板 5 固着部(固着手段) 8 振動制御部(制御手段) 31 振動子 81 発振器 82 可変ボリュームユニット(振幅調整手段) 83 電力増幅器(増幅器)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 振動子を有し、当該振動子を振動させる
    振動発生手段が複数配置され、前記各振動子に振動板が
    支持された振動試験装置であって、 前記各振動発生手段の振動特性を個別に制御する制御手
    段を備えたことを特徴とする振動試験装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の振動試験装置において、 前記制御手段は、 設定された周波数を有する振動電圧を発生させる発振器
    と、 前記発振器から出力された振動電圧を入力し、設定され
    た前記各振動発生手段の振幅に応じた振動電圧を出力す
    る振幅調整手段と、 前記振幅調整手段から出力された振動電圧を増幅し、前
    記振動発生手段に出力する増幅器と、 を備えたことを特徴とする振動試験装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の振動試験装置にお
    いて、 前記振動板に設けられ、被試験体を着脱自在に固着する
    固着手段を備え、 前記固着手段は、前記被試験体が実際に取り付けられる
    実装置における取付手段と等しくされていることを特徴
    とする振動試験装置。
  4. 【請求項4】 振動板が複数の振動発生手段によって振
    動自在に支持された振動試験装置における振動試験方法
    において、 前記各振動発生手段の振動特性を各々別個に制御するこ
    とを特徴とする振動試験方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103063387A (zh) * 2012-12-25 2013-04-24 苏州长菱测试技术有限公司 弹性模片的振动测试系统及方法
CN103175667A (zh) * 2013-03-07 2013-06-26 苏州东菱振动试验仪器有限公司 叶片疲劳非接触测量闭环振动测试方法
WO2022103111A1 (ko) * 2020-11-13 2022-05-19 한국표준과학연구원 기생운동 및 리플이 최소 발생 가능한 진동 발생장치
CN114754959A (zh) * 2022-04-27 2022-07-15 清华大学 一种激光通信链路微振动试验的角位移信号生成方法
CN117490956A (zh) * 2023-11-02 2024-02-02 江苏东海半导体股份有限公司 一种igbt模块测试平台

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103063387A (zh) * 2012-12-25 2013-04-24 苏州长菱测试技术有限公司 弹性模片的振动测试系统及方法
CN103175667A (zh) * 2013-03-07 2013-06-26 苏州东菱振动试验仪器有限公司 叶片疲劳非接触测量闭环振动测试方法
CN103175667B (zh) * 2013-03-07 2015-08-05 苏州东菱振动试验仪器有限公司 叶片疲劳非接触测量闭环振动测试方法
WO2022103111A1 (ko) * 2020-11-13 2022-05-19 한국표준과학연구원 기생운동 및 리플이 최소 발생 가능한 진동 발생장치
CN114754959A (zh) * 2022-04-27 2022-07-15 清华大学 一种激光通信链路微振动试验的角位移信号生成方法
CN117490956A (zh) * 2023-11-02 2024-02-02 江苏东海半导体股份有限公司 一种igbt模块测试平台

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