JP2001129972A - 印刷物検査方法及び装置 - Google Patents

印刷物検査方法及び装置

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JP2001129972A
JP2001129972A JP31189099A JP31189099A JP2001129972A JP 2001129972 A JP2001129972 A JP 2001129972A JP 31189099 A JP31189099 A JP 31189099A JP 31189099 A JP31189099 A JP 31189099A JP 2001129972 A JP2001129972 A JP 2001129972A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 オフセット印刷特有の色調変動の影響を受け
ることなく、面積は大きいが濃度差の殆どないようない
薄汚れ不良を確実に検出できるようにする。 【解決手段】 R、G、B毎に前記検査画像と基準画像
との差分画像を作成する回路30と、各基準画像から閾
値画像を作成する回路32と、前記検査画像から得られ
た差分画像を、対応する閾値画像でマスク処理してマス
ク済画像を作成する回路36と、前記差分画像の全体か
ら最小画素値を選択する回路38と、最小画素値に所定
の係数を乗じて輝度調整値を算出する回路40と、前記
マスク済画像について、各画素の画素値から前記輝度調
整値を一律に減算して色差画像を作成する回路42と、
各色差画像を合成する回路44と、合成画像について、
所定領域を単位に画素値を積算する回路46と、積算値
が判定レベル以上を印刷不良と判定する回路48を備え
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、印刷物検査方法及
び装置、特にオフセット印刷した際に発生する面積は大
きいが濃度差の殆どないような淡い印刷不良を検出する
際に適用して好適な、印刷物検査方法及び装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】輪転印刷機で印刷されて連続的に走行す
るウェブ(印刷物)から、所定位置に設置されているカ
メラにより、印刷絵柄を検査画像として入力し、該検査
画像と予め作成してある基準画像とを比較して、印刷欠
陥を検査することが行われている。
【0003】このように、検査画像を基準画像と比較し
て印刷欠陥を検出する印刷物検査装置としては、これら
両画像の差分画像に対して所定の矩形領域内で、所定の
レベル差以上の画素数を計測し、その画素数が所定の値
を超えた場合に不良と判定するものが、特開平9−76
470に開示されている。
【0004】ところで、オフセット印刷には、色間の見
当不良や色の濃度変動等の一般的な印刷不良以外に、湿
し水の過不足によって発生する、面積は大きいが濃度差
が小さい薄汚れ(インキ汚れ)がある。又、オフセット
印刷には、上記湿し水の過不足等に起因する微少な明る
さの変化による色調の変動が必然的に伴うという性質が
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記公
報に開示されている印刷物検査装置では、画像中の画素
を1つ1つ比較して、閾値以上のものを不良としていた
ので、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い不良
は検出できないという問題があった。
【0006】又、K(墨色)、C(藍)、M(紅)、Y
(黄)の各インキを順次印刷して得られる印刷物をカラ
ーカメラで撮像して得られるR、G、Bの各画像を単に
基準画像と比較して印刷不良を検査していたので、C、
M、Yの各1次色の濃度変化に対する感度と、輝度成分
に相当するC、M、Yを合成した3次色やKの感度とを
任意に制御できなかったため、薄汚れに対する感度を上
げていくと、本来検出する必要のない、前記微少な明る
さの変化による色調の変動に相当する輝度成分の変化に
反応し、過検出となって正確に薄汚れを検査することが
できないという、オフセット印刷特有の問題もある。
【0007】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、面積は大きいが濃度差の殆どないよ
うな薄汚れ印刷不良を、オフセット印刷故に発生する微
少な明るさの差に影響されることなく、確実に検出する
ことができる印刷物検査方法及び装置を提供することを
課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、印刷物をカラ
ーカメラで撮像してR、G、B毎に入力される検査画像
を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検
出する印刷物検査方法において、R、G、B毎に前記検
査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそれぞれ
作成するとともに、R、G、Bの前記差分画像の全体か
ら最小画素値を選択し、該最小画素値に所定の係数を乗
じて輝度調整値を算出し、前記各差分画像について、各
画素の画素値から前記輝度調整値を一律に減算して色差
画像をそれぞれ作成し、作成された各色差画像に基づい
て印刷不良を判定することにより、前記課題を解決した
ものである。
【0009】本発明は、又、印刷物をカラーカメラで撮
像してR、G、B毎に入力される検査画像を、予め作成
してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する検出手
段とを備えた印刷物検査装置において、R、G、B毎に
前記検査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそ
れぞれ作成する手段と、R、G、Bの前記差分画像の全
体から最小画素値を選択する手段と、選択された最小画
素値に所定の係数を乗じて輝度調整値を算出する手段
と、前記各差分画像について、各画素の画素値から前記
輝度調整値を一律に減算して色差画像をそれぞれ作成す
る手段と、作成された各色差画像に基づいて印刷不良を
判定する手段とを備えた構成とすることにより、同様に
前記課題を解決したものである。
【0010】即ち、本発明においては、R、G、B毎に
検査画像と基準画像との差分画像を作成するとともに、
微少な明るさの差を排除するために該差分画像から輝度
調整値を減算して色差画像を作成し、該色差画像に基づ
いて検査するようにしたので、オフセット印刷特有の明
るさの微妙な差が印刷面に発生している場合でも、面積
は大きいが濃度差の殆どないような淡い薄汚れ印刷不良
を確実に検出することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0012】図1は、本発明に係る一実施形態の印刷欠
陥検査装置の概略を示す要部構成図である。
【0013】本実施形態の印刷欠陥検査装置は、機能部
としていわゆる三板式のカラーセンサカメラ10、画像
入力ボード12、位置ずれ演算ボード14、第1欠陥検
出ボード16、第2欠陥検出ボード18をそれぞれ備え
ており、カメラ10以外の各機能部はそれぞれのコネク
タ12A〜18Aを介して電気的な接続が行われるよう
になっている。
【0014】又、上記印刷欠陥検査装置は、マザーボー
ド20を備えており、このマザーボード20には、上か
ら順に将来の拡張用バス、位置ずれ量バス、R、G、B
の各画像バス、モノクロ画像バスの各データバスがそれ
ぞれ敷設されており、又、これら各データバスと電気的
に接続可能な複数のコネクタ22A〜22Eが付設され
ている。
【0015】コネクタ22Aは、上記画像入力ボード1
2のコネクタ12Aと接続され、カメラ10で印刷物を
撮像すると、上記R、G、B及びモノクロ画像の各バス
にそれぞれ対応する画像信号が出力されるようになって
いる。
【0016】コネクタ22Bは、前記位置ずれ演算ボー
ド14とそのコネクタ14Aを介して接続され、該演算
ボード14ではモノクロ画像バスから入力される画像信
号に基づいて検査画像の位置ずれ量を演算し、その演算
結果を前記位置ずれ量バスに出力するようになってい
る。モノクロ画像は本来R、G、Bの各カラー画像が合
成されたものに相当するので、モノクロ画像の位置ずれ
量とカラー画像の位置ずれ量とは同一である。
【0017】コネクタ22Cは、第1欠陥検出ボード1
6とそのコネクタ16Aを介して接続され、該第1欠陥
検出ボード16では、上記位置ずれ量バスから入力され
る位置ずれ量に基づいて、R、G、Bの各画像バスから
入力される検査画像を位置補正するとともに、各色の画
像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【0018】一方、コネクタ22Dは、第2欠陥検出ボ
ード18とそのコネクタ18Aを介して接続され、該第
2欠陥検出ボード18では、同様に位置ずれ量バスから
入力される位置ずれ量に基づいて、上記モノクロ画像バ
スから入力される検査画像を位置補正するとともに、モ
ノクロ画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【0019】コネクタ22Eは、将来検査機能を拡張す
る場合に、新たな機能部の接続に使用するものであり、
前記拡張用バスも同様の用途に用いられるものである。
便宜上、ここでは拡張用のコネクタとバスがそれぞれ1
つである場合が示してあるが、いずれも2以上であって
もよいことは言うまでもない。
【0020】図2は、本実施形態における前記ラインセ
ンサカメラ(1次元CCDカメラ)のハード構成の要部
を示したブロック図である。
【0021】本実施形態のカメラ10は、受光部である
1次元CCDセンサ10Aと、該センサ10Aの画素
(CCD素子)の奇数番目と偶数番目から別々に出力さ
れる受光信号(奇数信号・偶数信号)を増幅する2つの
アンプ(Amp)と、ここで増幅された信号について奇
数信号の奇数画素レベルと偶数信号の偶数画素レベルを
交互に合成するS/H(閾値)回路10Bと、合成処理
された信号の黒レベルを補正する黒レベル補正回路10
Cと、その補正信号を増幅してビデオ信号として出力す
るアンプ(Amp)と、これらCCDセンサ10A、閾
値回路10B、黒レベル補正回路10Cに対して、図示
しない制御装置から入力される外部駆動信号に基づい
て、それぞれ信号処理のタイミングをとるための信号を
出力するタイミング生成回路10Dとを備えている。こ
のように、本実施形態のラインセンサカメラ10では、
入力される受光信号の処理の高速化を図るために、奇数
番目と偶数番目の画素について交互に増幅等の電気的処
理を行っている。
【0022】又、図3は、本実施形態の印刷物検査装置
が備えている印刷欠陥検出部の要部構成を示すブロック
図である。
【0023】この印刷欠陥検出部は、便宜上、R画像を
代表させ、G、Bの画像については明示していないが、
前記図1に示した第1欠陥検出ボード18に相当し、前
記カメラ10から、画像入力ボード12を介して取り込
まれたR、G、Bの画像信号が、各画像バスを介してそ
れぞれ入力されるようになっている。この欠陥検出部
は、図示は省略するが、前記カメラ10から上記画像バ
スを介して順次入力される検査画像を格納する検査画像
メモリと、予め正常な印刷絵柄を同カメラ10で撮影し
た基準画像を格納する基準画像メモリとを備えている。
【0024】又、この欠陥検出部では、上記検査画像メ
モリに格納されている検査画像と、基準画像メモリに格
納されている基準画像との差分の絶対値subからなる差
分画像を作成する差分絶対値回路30と、上記基準画像
メモリに格納されている基準画像から閾値画像を作成す
る閾値生成回路32と、作成された閾値画像を格納する
閾値画像メモリ34と、前記差分絶対値回路30で作成
された差分画像を上記閾値画像メモリ34から入力され
る閾値画像により画素を単位にマスク処理して画素値ms
ubからなるマスク済画像を作成するマスキング回路36
とを、R、G、Bの各色毎に備えている。
【0025】又、前記差分絶対値回路30で作成された
R、G、Bの各差分画像に含まれる全画素の、絶対値か
らなる画素値(差分値)ΔR、ΔG、ΔBの中から最小
画素値minを選択する最小値選択回路38と、ここで選
択される最小値minに係数kを乗じて輝度調整値kminを
算出する輝度調整回路40と、前記マスク済画像につい
て、各画素の画素値msubから前記輝度調整値kminを減算
して画素値(msub−kmin)からなる色差画像を作成する
色差抽出回路42とを備えている。
【0026】又、以上の色差抽出回路42で、R、G、
Bの各色差画像について、前記画素値(msub−kmin)が
算出されると、これらに相当する各色差ΔR′、Δ
G′、ΔB′を入力して、各画素毎に各色差の最大値で
画素値を置き換えて合成色差画像を作成するRGB合成
回路44と、作成された合成色差画像について、16画
素×16画素の矩形領域を単位に、その領域に含まれる
全画素の画素値を積算する積算(積分)回路46と、そ
の積算値が判定レベル以上のときに不良発生と判定する
積算(積分)値判定回路48とを備えている。このよう
に、本実施形態では、前記合成回路44まではR、G、
Bの各色についてそれぞれ処理が実行されるようになっ
ている。
【0027】本実施形態における上記印刷欠陥検出部に
ついて更に詳述する。但し、ここでは、後述する図7に
概念的に示すように、前記ラインセンサカメラ10を水
平方向に所定の間隔で走査することにより、2048画
素(枡目で示す)からなる水平ライン画像が、例えば1
ライン(画素)/mmのピッチで垂直方向に走査数分配
列されてなる検査画像が入力される場合を例に説明す
る。なお、この図8では、便宜上、垂直方向に関しては
4画素を1枡で表わしてある。
【0028】前記差分絶対値回路30では、図示しない
前記検査画像メモリから入力される検査画像と、前記基
準画像メモリから入力される基準画像との間で、対応す
る各画素の画素値の差分をとり、その絶対値を同画素の
画素値に設定して差分画像を作成する処理が行われる。
【0029】前記閾値生成回路32では、入力された前
記基準画像に対して、水平方向i番目、垂直方向にj番
目(以下、座標(i,j)ともいう)を中心画素とする
3×5の矩形領域からなるウィンドウを設定し、図4に
示すように画素値(輝度値)Hの中心画素に対して、該
画素とその周囲の14画素の画素値A〜Oから、次の
(1)式により算出される閾値tijを設定する。但し、
この式でMax{ }は、列挙した画素値から最大値をと
り、又Min{ }は、同画素値から最小値をとることを
表わしている。
【0030】 tij=Max{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K,L, M,N,O}−Min{A,B,C,D,E,F,G,H, I,J,K,L,M,N,O} …(1)
【0031】なお、上記中心画素に対して設定する閾値
tijは次の(2)式を用いて算出してもよい。
【0032】 tij=Max{|A−H|,|B−H|,|C−H|,|D−H|, |E−H|,|F−H|,|G−H|,|I−H|,|J−H|, |K−H|,|L−H|,|M−H|,|N−H|,|O−H|} …(2)
【0033】上記中心画素に対する閾値処理は、計算不
能の画素を除き、基準画像の全画素に対して行う。この
ようにして得られた全ての閾値tijに対し、所定の定数
α、βを用いて次の(3)式により、最終的な閾値画像
の画素値として設定する閾値Tijを求める。
【0034】 Tij=α・tij+β …(3)
【0035】この式で、定数αは全体的な明度変化が出
ないようにするためのものであり、又、定数βは、全体
のノイズレベルをオフセットを入れて隠すためのもの
で、最低閾値あるいはチューニング閾値等と呼ばれる。
このように、上記(3)式を用いることにより、全体的
な光量変動やノイズレベルを考慮した閾値からなる閾値
画像を得ることができる。
【0036】ここで、上記閾値設定処理を、図5に示し
た中心画素の画素値が75であるウィンドウの場合を具
体例として説明すると、このウィンドウ中での輝度値の
最大値は172であり、最小値は21であることから、
これらの値を(1)式に当て嵌めると、tij=172−
21=151となる。又、(3)式における定数をα=
1.2、β=10とすると、上記中心画素に対応する閾
値画像の画素に設定する最終的な画素値である閾値Tij
はTij=1.2×151+10=191となる。なお、
上記のように中心画素に対して設定するウィンドウの矩
形範囲を横方向±1、縦方向±2としているのは、縦方
向の方が原反の伸縮や画像取込みタイミングのずれによ
って画像の歪みが大きいことによるが、これに限定され
ないことはいうまでもない。
【0037】以上詳述した閾値設定処理を、水平方向と
垂直方向にそれぞれ1画素(1ライン)ずつずらしなが
ら全体について行うことにより、閾値画像が作成され、
その画像データは前記閾値画像メモリ34に格納され
る。
【0038】前記マスキング回路36では、前記検査画
像から得られた前記差分画像に対する閾値画像によるマ
スク処理が行われるが、これは差分画像の1つの画素が
前記図4に示した座標(i,j)の中心画素に対応して
いる場合であれば、検査画像の画素値がI、基準画像の
画素値がRであるとすると、該差分画像の画素値である
差分値S(=I−R)の絶対値が、対応する閾値画像の
画素値Tijと比較し、|S|≦TijならばS=0とし、
逆の場合には差分値(絶対値)のままにすることによ
り、差分欠陥候補画素を抽出する処理である。これを式
で表わすと、次式(4)となる。
【0039】 S={0:|I−R|≦Tij,|I−R|:|I−R|>Tij}…(4)
【0040】前記最小値選択回路38では、前記差分絶
対値回路30で、R、G、Bの各画像について、各画素
毎に差分絶対値の最小値を選択する。いま、全画素につ
いて最小値を検出した結果、最小値はGの画像にあった
とすると、その画素の画素値は図6(A)に示すよう
に、R、Bについては、Gの差分値ΔGより大きいこと
になる。
【0041】又、前記輝度調整回路40では、画像全体
の中で最も差分値が小さいΔGには、印刷面の色調変動
に起因する輝度成分が含まれていると考えられるため、
所定の係数kを乗じて輝度調整値を算出する。この係数
kとしては、1以下の正の値、即ち100%以下に設定
でき、具体的には実験的に決定される。
【0042】図6(B)は、この輝度調整値のイメージ
を同図(A)の差分値と対比させて示し、ここでは係数
kとして0.8(80%)の場合を示した。即ち、この
例では、全画素中に、同図(A)の破線以下に当る最小
差分値ΔGの80%分が色調変動に起因する輝度値とし
て差分画像に含まれていると見做す。
【0043】前記色差抽出回路42では、R、G、Bの
各差分画像からそれぞれΔG×80%の画素値に当る輝
度調整値を減算する処理を行う。因みに、図6(A)に
示したΔGが最小の画素の場合であれば、同図(C)に
示したように各差分値ΔR、ΔG、ΔBからΔG×80
%の調整値を引いた色差ΔR′、ΔG′、ΔB′を新た
な画素値として同画素に設定し直すことを意味する。
【0044】このようにすることにより、前記マスキン
グ回路で作成されたマスク済画像から、オフセット印刷
特有の輝度変化による影響を排除することができ、YM
Cの各一次色の変動による不良を正確に検査することが
できるようになる。
【0045】本実施形態においては、前述したように、
色差抽出回路42まではR、G、B毎に別々に処理が実
行され、その後前記RGB合成回路46により合成処理
が行われる。このRGB合成回路46では、上記抽出回
路42により輝度調整されたR、G、Bの各色差画像を
合成するが、その際、各画像の対応する画素の中で最大
の画素値を、同位置の画素に設定することにより合成色
差画像を生成するようになっている。
【0046】即ち、本実施形態では、R、G、B毎に生
成される色差画像について、対応する各画素毎にR、
G、B色差の最大値:max(ΔR′、ΔG′、Δ
B′)を求め、その最大値からなる各色差を該当する画
素に新たな画素値として設定する合成を行ない、合成色
差画像を作成する。
【0047】前記積算(積分)回路46では、図7に画
像の一部を、幅方向の画素の位置(アドレス)に1、
2、3・・・2048の番号を付して概念的に示したよ
うに、上記合成色差画像に対して、垂直方向(ウェブの
流れ方向)に16画素(1枡=4画素)、水平方向にも
16画素の矩形領域を単位に画素値を積算し、その積算
値SUMを求め、次いで前記積算値判定回路48でこの
SUMと判定レベルDとを比較し、SUM≧Dであれ
ば、その領域に淡い不良が発生していると判定する。こ
の判定レベルDとしては、256階調表示の場合であれ
ば、1〜4080の間の適切な値として実績に基づいて
設定する。因に全体的に階調値5の淡い不良の場合であ
れば、SUM=1280となる。
【0048】この判定を行う場合、その対象となる16
×16画素の積算は、水平方向、垂直方向にそれぞれ1
6画素ずつ順次シフトしながら行う。
【0049】以上詳述した本実施形態によれば、図8に
概念的に示したように、面積は大きいが濃度差の殆どな
いような淡い不良である濃度変動を検出することができ
る。即ち、例えば、Rの検査画像について、予め作成さ
れている基準画像(A)から、閾値生成回路32により
閾値画像(B)が作成され、閾値画像メモリ34に格納
される。この閾値画像(B)には、前述した閾値設定処
理により、絵柄のエッジが広い幅で抽出されている。
【0050】この状態で、画像バスから(C)に示した
濃度変動(薄汚れ)不良Dが存在する検査画像が入力さ
れると、この検査画像(C)について差分絶対値回路3
4により差分画像(D)が作成される。この差分画像
(D)には、検査画像と基準画像との位置ずれ等に起因
して細いエッジ部分が残っている。なお、スキャナ入力
した添付図面は階調が粗いために視認できないが、この
差分画像(D)には、上記検査画像(C)に示されてい
る楕円形に近い薄い濃度変動不良Dに相当する低輝度部
分が存在している。これは、次のマスク済画像(E)で
も同様である。
【0051】次いで、マスキング回路36により、上記
差分画像(D)に対して閾値画像メモリ34から入力さ
れる閾値画像(B)を用いてマスク処理することにより
マスク済画像(E)が作成される。この段階では、差分
画像(D)にあった細いエッジは、閾値画像(B)のエ
ッジによりマスクされて消えている。又、濃度不良Dに
相当する画素値は極めて小さいため殆どが見えず、上記
のようにこの図からは視認できないが、実際には存在し
ている。
【0052】次いで、前述した方法で、前記輝度調整回
路40で算出した調整値kminを用いて、前記色差抽出回
路42で上記マスク済画像(E)からの減算処理を行な
い、輝度調整された色差画像(図示省略)を作成する。
【0053】便宜上、図示は省略するが、以上の色差抽
出回路42までの各処理を、G、Bの各検査画像につい
ても実行し、前記合成回路44で合成色差画像(図示せ
ず)を作成する。
【0054】その後、上記合成色差画像に対して16×
16積算回路46により、積算処理が行われて積算画像
(F)が作成され、この積算画像(F)に対して積算値
判定回路48により判定が行われる。なお、ここでは、
便宜上、合成色差画像が上記マスク済画像(E)と同一
であるとして、積算処理を行っている。
【0055】この積算画像(F)には濃度不良Dに対応
する位置が明確な矩形で示されているように、淡くて面
積が広い欠陥を強調することができるため、確実に検出
することが可能となる。
【0056】以上詳述した如く、本実施形態によれば、
RGBのカラー画像より色差画像を算出して、その画像
に対して検査処理を施すことにより、オフセット印刷特
有の色差変動に対する感度を調整できるようにしたた
め、C、M、Yの1次色の濃度変化の検出感度はそのま
まに、輝度成分の検出感度を任意に制御することができ
るようになった。これによって、薄汚れに対する検出感
度を上げても、過検出を防ぐことができることから、オ
フセット印刷による薄汚れ不良を確実に検査することが
できる。
【0057】又、R、G、Bの各カラー画像の対して
は、積算処理の前にR、G、B画像を合成して1枚の画
像にするようにしたことにより、回路規模を小さくで
き、しかも効率のよいカラー検査を行なうことができ
る。
【0058】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
【0059】例えば、前記実施形態では、判定対象とす
る色差画像が、閾値画像によりマスク処理したマスク済
画像の場合を示したが、これに限定されず、差分画像か
ら直接輝度調整値を減算して作成した画像であってもよ
い。特に印刷物が無地の絵柄であったり、検査領域が平
坦な画像部分に限定されていたりする場合には、エッジ
部分のマスク処理は不要となることから、直接作成した
方が有利である。
【0060】又、閾値生成、積算等の各処理を行う際の
単位として画素数等を具体的に示したが、これに限定さ
れない。
【0061】又、前記実施形態では、印刷不良の発生の
判定を、色差画像の画素値を積算(積分)処理して行う
場合を示したが、これに限定されない。又、積算処理
は、合成色差画像について行ったが、合成前の各色差画
像について個別に行うようにしてもよい。又、各色差画
像の画素値を加算して合成色差画像を作成するようにし
てもよい。
【0062】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
オフセット印刷特有の色調変動の影響を受けることなく
面積は大きいが濃度差の殆どないような薄汚れ不良を確
実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る一実施形態の検査装置全体の概略
構成を示す説明図
【図2】実施形態におけるラインセンサカメラのハード
構成を示す回路図
【図3】実施形態の要部構成を示すブロック図
【図4】閾値処理に使用するウィンドウを概念的に示す
説明図
【図5】閾値処理に使用するウィンドウを設定した画素
値の具体例を示す説明図
【図6】輝度調整の原理を示す説明図
【図7】画素値の積算処理を概念的に示す説明図
【図8】実施形態の作用を示す説明図
【符号の説明】
30…差分絶対値回路 32…閾値生成回路 34…閾値画像メモリ 36…マスキング回路 38…最小値選択回路 40…輝度調整回路 42…色差抽出回路 44…RGB合成回路 46…積算回路 48…積算値判定回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 博 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 坂田 英人 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 渡辺 和明 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 Fターム(参考) 2C250 EB37 2G051 AA34 AB11 AB20 CA03 CA04 EA08 EA09 EA14 EA16 EA17 EB01 EB02 ED01 ED07 ED23 5B057 AA11 DA03 DB02 DB06 DC22 DC25 DC33

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】印刷物をカラーカメラで撮像してR、G、
    B毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画
    像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法におい
    て、 R、G、B毎に前記検査画像と、対応する各基準画像と
    の差分画像をそれぞれ作成するとともに、 R、G、Bの前記差分画像の全体から最小画素値を選択
    し、該最小画素値に所定の係数を乗じて輝度調整値を算
    出し、 前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度
    調整値を一律に減算して色差画像をそれぞれ作成し、 作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定するこ
    とを特徴とする印刷物検査方法。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記各基準画像から、前記各差分画像に残存する絵柄の
    エッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成し、 前記各検査画像から得られた差分画像を、対応する前記
    閾値画像でマスク処理してマスク済画像をそれぞれ作成
    し、これら各マスク済画像から前記輝度調整値を減算し
    て前記色差画像を作成することを特徴とする印刷物検査
    方法。
  3. 【請求項3】請求項2において、 前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範
    囲から画素値の差が最も大きくなる2つの画素を選択
    し、その2つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値
    に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。
  4. 【請求項4】請求項2において、 前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成
    する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の
    対応する画素の画素値以下の場合は0を、逆に超えてい
    る場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴
    とする印刷物検査方法。
  5. 【請求項5】請求項1において、 前記色差画像作成処理まではR、G、B毎に処理し、 判定対象とする前記色差画像を、作成されたR、G、B
    の各色差画像を合成した合成色差画像とすることを特徴
    とする印刷物検査方法。
  6. 【請求項6】請求項5において、 前記合成色差画像を、作成されたR、G、Bの各色差画
    像の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定し
    て作成することを特徴とする印刷物検査方法。
  7. 【請求項7】請求項5において、 前記合成色差画像を、作成されたR、G、Bの各色差画
    像の対応する画素の画素値を加算して同画素に設定して
    作成することを特徴とする印刷物検査方法。
  8. 【請求項8】請求項1において、 判定対象とする前記色差画像について、所定の矩形領域
    を単位に画素値を積算する積算処理を行い、その積算値
    が判定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する判定
    処理を行うことを特徴とする印刷物検査方法。
  9. 【請求項9】印刷物をカラーカメラで撮像してR、G、
    B毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画
    像と比較して印刷欠陥を検出する検出手段とを備えた印
    刷物検査装置において、 R、G、B毎に前記検査画像と、対応する各基準画像と
    の差分画像をそれぞれ作成する手段と、 R、G、Bの前記差分画像の全体から最小画素値を選択
    する手段と、 選択された最小画素値に所定の係数を乗じて輝度調整値
    を算出する手段と、 前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度
    調整値を一律に減算して色差画像をそれぞれ作成する手
    段と、 作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定する手
    段とを備えていることを特徴とする印刷物検査装置。
  10. 【請求項10】請求項9において、 前記各基準画像から、前記各差分画像に残存する絵柄の
    エッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成する手
    段と、 前記各検査画像から得られた差分画像を、対応する前記
    閾値画像でマスク処理してマスク済画像をそれぞれ作成
    し、これら各マスク済画像から前記輝度調整値を減算し
    て前記色差画像を作成する手段とを備えていることを特
    徴とする印刷物検査装置。
  11. 【請求項11】請求項10において、 前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範
    囲から画素値の差が最も大きくなる2つの画素を選択
    し、その2つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値
    に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。
  12. 【請求項12】請求項10において、 前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成
    する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の
    対応する画素の画素値以下の場合は0を、逆に超えてい
    る場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴
    とする印刷物検査装置。
  13. 【請求項13】請求項9において、 前記色差画像作成処理まではR、G、B毎に処理し、 判定対象とする前記色差画像を、作成されたR、G、B
    の各色差画像を合成した合成色差画像とすることを特徴
    とする印刷物検査装置。
  14. 【請求項14】請求項13において、 前記合成色差画像を、作成されたR、G、Bの各色差画
    像の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定し
    て作成することを特徴とする印刷物検査装置。
  15. 【請求項15】請求項13において、 前記合成色差画像を、作成されたR、G、Bの各色差画
    像の対応する画素の画素値を加算して同画素に設定して
    作成することを特徴とする印刷物検査装置。
  16. 【請求項16】請求項9において、 判定対象とする前記色差画像について、所定の矩形領域
    を単位に画素値を積算する手段と、 得られた積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生
    と判定する手段を備えていることを特徴とする印刷物検
    査装置。
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