JP2001127434A - Multilayer printed wiring board and method of production - Google Patents

Multilayer printed wiring board and method of production

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JP2001127434A
JP2001127434A JP30330599A JP30330599A JP2001127434A JP 2001127434 A JP2001127434 A JP 2001127434A JP 30330599 A JP30330599 A JP 30330599A JP 30330599 A JP30330599 A JP 30330599A JP 2001127434 A JP2001127434 A JP 2001127434A
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resin
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interlayer resin
printed wiring
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer printed wiring board, and a method of production, having a high reliability of connection in which the internal length of wiring can be shortened. SOLUTION: Through holes 36 are made through a core board 30 and a lower interlayer resin insulation layer 50 and via holes 66 are made immediately above the through holes 36. Since the through hole 36 and the via hole 66 are straight, the wiring length is shortened and the transmission rate of signal can be increased. Furthermore, connection reliability is enhanced because the through hole 36 is connected directly with the via hole 66 being connected with a solder bump 76 (conductive connection pin 78).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、層間樹脂絶縁層と
導体層とが交互に積層され、各導体層間がバイアホール
にて接続されたビルドアップ層が、コア基板の両面に形
成されてなる多層プリント配線板に関し、特に、ICチ
ップを載置するパッケージ基板として用いることのでき
る多層プリント配線板及び多層プリント配線板の製造方
法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laminated structure in which interlayer resin insulating layers and conductive layers are alternately laminated, and build-up layers in which conductive layers are connected by via holes are formed on both surfaces of a core substrate. The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a multilayer printed wiring board that can be used as a package substrate on which an IC chip is mounted, and a method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号に開示される方
法にて製造されている。プリント配線板の導体回路の表
面に無電解めっきやエッチングにより、粗化層を形成さ
せる。その後、ロールーコーターや印刷により層間絶縁
樹脂を塗布、露光、現像して、層間導通のためのバイア
ホール開口部を形成させて、UV硬化、本硬化を経て層
間樹脂絶縁層を形成する。さらにその層間樹脂絶縁層
に、酸や酸化剤などにより粗化処理を施した粗化面にパ
ラジウムなどの触媒を付ける。そして、薄い無電解めっ
き膜を形成し、そのめっき膜上にドライフィルムにてパ
ターンを形成し、電解めっきで厚付けしたのち、アルカ
リでドライフィルムを剥離除去し、エッチングして導体
回路を作り出させる。これを繰り返すことにより、ビル
ドアップ多層プリント配線板が得られる。
2. Description of the Related Art Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured, for example, by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-130050. A roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit of the printed wiring board by electroless plating or etching. Thereafter, an interlayer insulating resin is applied by a roll coater or printing, exposed, and developed to form a via hole opening for interlayer conduction, and after UV curing and main curing, an interlayer resin insulating layer is formed. Further, a catalyst such as palladium is applied to the roughened surface of the interlayer resin insulating layer which has been roughened with an acid or an oxidizing agent. Then, a thin electroless plating film is formed, a pattern is formed on the plating film with a dry film, and after thickening by electrolytic plating, the dry film is peeled off with an alkali and etched to create a conductor circuit. . By repeating this, a build-up multilayer printed wiring board is obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】現在、ICチップの高
周波数化に伴い、多層プリント配線板にも伝送速度の高
速化が要求されている。かかる要求に対応するため、本
出願人は、特願平10−334499号を提案してい
る。この構成では、図7に示すように、スルーホール3
36の直上に、下層層間樹脂絶縁層350のバイアホー
ル346と、上層層間樹脂絶縁層360のバイアホール
366とを配設し、配線を直線化することで配線長さを
短縮させ、信号の伝送速度を高めている。
At present, with the increase in the frequency of IC chips, there is a demand for a multilayer printed wiring board to have a higher transmission speed. In order to respond to such a request, the present applicant has proposed Japanese Patent Application No. 10-334499. In this configuration, as shown in FIG.
A via hole 346 of the lower interlayer resin insulation layer 350 and a via hole 366 of the upper interlayer resin insulation layer 360 are disposed directly above the 36, and the length of the wiring is shortened by linearizing the wiring, thereby transmitting a signal. Speeding up.

【0004】しかしながら、上記構成において、下層層
間樹脂絶縁層350のバイアホール346と、上層層間
樹脂絶縁層360のバイアホール366とがヒートサイ
クル条件下において、剥離が起きることが判明した。こ
の原因を本発明者が研究したところ、上層のバイアホー
ル366が、下層のバイアホール346の表面形状に影
響を受け、接続性が低下していることが分かった。更
に、層間樹脂絶縁層350,360は、ガラスクロス等
の芯材で補強されていないため、芯材を備えるコア基板
よりもヒートサイクルで剥離し易いことが推測される。
However, it has been found that in the above-described structure, the via holes 346 of the lower interlayer resin insulating layer 350 and the via holes 366 of the upper interlayer resin insulating layer 360 are separated under heat cycle conditions. The present inventor has studied the cause, and found that the upper via hole 366 is affected by the surface shape of the lower via hole 346 and the connectivity is reduced. Furthermore, since the interlayer resin insulating layers 350 and 360 are not reinforced with a core material such as glass cloth, it is presumed that the interlayer resin insulating layers 350 and 360 are more easily peeled off in a heat cycle than a core substrate having a core material.

【0005】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、内部の
配線長を短縮できると共に、接続信頼性に優れる多層プ
リント配線板及び多層プリント配線板の製造方法を提供
することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a multi-layer printed wiring board and a multi-layer printed wiring which can shorten the internal wiring length and have excellent connection reliability. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a plate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、請求項1の多層プリント配線板では、層間樹脂絶
縁層と導体層とが交互に積層され、各導体層間がバイア
ホールにて接続されたビルドアップ層が、コア基板の両
面に形成されてなる多層プリント配線板において、前記
コア基板及び該コア基板の両面に形成された層間樹脂絶
縁層を貫通するようにスルーホールを形成し、前記スル
ーホールの直上に外部接続端子へ接続されるバイアホー
ルを形成したことを技術的特徴とする。
In order to achieve the above object, in the multilayer printed wiring board according to the present invention, interlayer resin insulation layers and conductor layers are alternately laminated, and each conductor layer is connected by a via hole. The build-up layer is formed in a multilayer printed wiring board formed on both surfaces of a core substrate, forming a through hole so as to penetrate the core substrate and an interlayer resin insulating layer formed on both surfaces of the core substrate, A technical feature is that a via hole connected to an external connection terminal is formed directly above the through hole.

【0007】請求項2は、請求項1において、前記スル
ーホールが、内部に充填剤が充填され、該充填剤のスル
ーホールからの露出面を覆う導体層が形成され、前記ス
ルーホールの直上のバイアホールが、当該スルーホール
の前記導体層上に形成されていることを技術的特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the through hole is filled with a filler, and a conductor layer is formed to cover an exposed surface of the filler from the through hole. A technical feature is that a via hole is formed on the conductor layer of the through hole.

【0008】請求項3は、少なくとも以下(a)〜
(d)の工程を備えることを特徴とする多層プリント配
線板の製造方法: (a)コア基板の両面に下層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(b)前記コア基板及び前記下層層間樹脂絶縁層
を貫通するスルーホールを形成する工程、(c)前記下
層層間樹脂絶縁層の上に上層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(d)前記上層層間樹脂絶縁層にバイアホールを
形成する工程であって、前記スルーホールの一部の直上
に外部接続端子へ接続されるバイアホールを形成する工
程。
[0008] Claim 3 is at least:
(D) a method of manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising: (a) forming a lower interlayer resin insulation layer on both surfaces of a core substrate; (b) the core substrate and the lower interlayer resin insulation. Forming a through hole penetrating the layer, (c) forming an upper interlayer resin insulating layer on the lower interlayer resin insulating layer, and (d) forming a via hole in the upper interlayer resin insulating layer. Forming a via hole connected to an external connection terminal directly above a part of the through hole.

【0009】請求項4は、少なくとも以下(a)〜
(g)の工程を備えることを特徴とする多層プリント配
線板の製造方法: (a)コア基板の両面に下層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(b)前記コア基板及び前記下層層間樹脂絶縁層
を貫通するスルーホールを形成する工程、(c)前記ス
ルーホールに充填剤を充填する工程、(d)前記スルー
ホールから溢れた充填剤を研磨して平坦にする工程、
(e)前記充填剤の前記スルーホールからの露出面を覆
う導体層を形成する工程、(f)前記下層層間樹脂絶縁
層の上に上層層間樹脂絶縁層を形成する工程、(g)前
記上層層間樹脂絶縁層にバイアホールを形成する工程で
あって、前記スルーホールの一部の直上に外部接続端子
へ接続されるバイアホールを形成する工程。
[0009] Claim 4 is at least the following (a):
(G) a method of manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising: (a) a step of forming a lower interlayer resin insulation layer on both surfaces of a core substrate; (b) the core substrate and the lower interlayer resin insulation. Forming a through hole penetrating the layer, (c) filling the through hole with a filler, and (d) polishing the filler overflowing from the through hole to flatten it.
(E) forming a conductor layer covering the exposed surface of the filler from the through hole, (f) forming an upper interlayer resin insulation layer on the lower interlayer resin insulation layer, (g) forming the upper layer A step of forming a via hole in the interlayer resin insulating layer, the step of forming a via hole connected to an external connection terminal immediately above a part of the through hole.

【0010】請求項1の多層プリント配線板及び請求項
3の多層プリント配線板の製造方法では、コア基板及び
該コア基板の両面に形成された層間樹脂絶縁層を貫通す
るようにスルーホールを形成し、スルーホールの直上に
外部接続端子へ接続されるバイアホールを形成してあ
る。このため、スルーホールとバイアホールとが直線状
になって配線長さが短縮し、信号の伝送速度を高めるこ
とが可能になる。また、スルーホールと外部接続端子へ
接続されるバイアホールとを直接接続してあるため、接
続信頼性に優れる。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the first aspect and the multilayer printed wiring board according to the third aspect, through holes are formed so as to penetrate the core substrate and the interlayer resin insulating layers formed on both surfaces of the core substrate. A via hole connected to an external connection terminal is formed immediately above the through hole. For this reason, the through-hole and the via-hole become linear, the wiring length is reduced, and the signal transmission speed can be increased. In addition, since the through hole and the via hole connected to the external connection terminal are directly connected, the connection reliability is excellent.

【0011】請求項2の多層プリント配線板及び請求項
4の多層プリント配線板の製造方法では、コア基板及び
該コア基板の両面に形成された層間樹脂絶縁層を貫通す
るようにスルーホールを形成し、スルーホールの直上に
バイアホールを形成してある。このため、スルーホール
とバイアホールとが直線状になって配線長さが短縮し、
信号の伝送速度を高めることが可能になる。また、スル
ーホールと外部接続端子へ接続されるバイアホールとを
直接接続してあり、且つ、研磨により平坦にされたスル
ーホール内の充填剤を覆う導体層上に当該バイアホール
が形成されているため、接続信頼性に優れる。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a through hole is formed so as to penetrate a core substrate and an interlayer resin insulating layer formed on both surfaces of the core substrate. Then, a via hole is formed immediately above the through hole. For this reason, the through hole and the via hole become linear, shortening the wiring length,
It is possible to increase the signal transmission speed. Further, the via hole is directly connected to the via hole connected to the external connection terminal, and the via hole is formed on the conductor layer covering the filler in the through hole that has been planarized by polishing. Therefore, the connection reliability is excellent.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図を参照して説明する。先ず、本発明の第1実施形態に
係る多層プリント配線板の構成について縦断面を示す図
6を参照して説明する。該多層プリント配線板10では
コア基板30の表面及び裏面にビルドアップ配線層80
U、80Dが形成されている。該ビルドアップ配線層8
0U、80Dは、バイアホール46の形成された下層層
間樹脂絶縁層50と、上層のバイアホール66の形成さ
れた上層層間樹脂絶縁層60と、上層層間樹脂絶縁層6
0上に形成されたソルダーレジスト層70から成る。該
ソルダーレジスト70の開口部71を介して、上側のバ
イアホール66には、ICチップ(図示せず)への接続
用の半田バンプ(外部接続端子)76が形成され、下側
のバイアホール66には、ドータボード(図示せず)へ
の接続用の導電性接続ピン(外部接続端子)78が接続
されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, the configuration of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the multilayer printed wiring board 10, the build-up wiring layers 80 are formed on the front and back surfaces of the core substrate 30.
U and 80D are formed. The build-up wiring layer 8
Reference numerals 0U and 80D denote lower interlayer resin insulation layer 50 having via hole 46 formed therein, upper interlayer resin insulation layer 60 having upper via hole 66 formed therein, and upper interlayer resin insulation layer 6 having upper via hole 66 formed therein.
0 is formed of a solder resist layer 70. A solder bump (external connection terminal) 76 for connection to an IC chip (not shown) is formed in the upper via hole 66 via the opening 71 of the solder resist 70, and the lower via hole 66 is formed. Is connected to a conductive connection pin (external connection terminal) 78 for connection to a daughter board (not shown).

【0013】本実施形態において、該ビルドアップ配線
層80U、80Dを接続するスルーホール36は、コア
基板30及び下層層間樹脂絶縁層50を貫通するように
形成されている。該スルーホール36には、樹脂充填剤
54が充填され、開口部には蓋めっき58が配設されて
いる。同様に、下層層間樹脂絶縁層50に形成されたバ
イアホール46には、樹脂充填剤54が充填され、開口
部には蓋めっき58が配設されている。
In this embodiment, the through holes 36 connecting the build-up wiring layers 80U and 80D are formed so as to penetrate the core substrate 30 and the lower interlayer resin insulation layer 50. The through hole 36 is filled with a resin filler 54, and a lid plating 58 is provided at the opening. Similarly, the via hole 46 formed in the lower interlayer resin insulation layer 50 is filled with a resin filler 54, and a lid plating 58 is provided in the opening.

【0014】本実施形態では、コア基板30及び下層層
間樹脂絶縁層50を貫通するようにスルーホール36を
形成し、スルーホール36の直上にバイアホール66を
形成してある。このため、スルーホール36とバイアホ
ール66とが直線状になって配線長さが短縮し、信号の
伝送速度を高めることが可能になる。また、スルーホー
ル36と、外部接続端子(半田バンプ76、導電性接続
ピン78)へ接続されるバイアホール66とを直接接続
しているので、接続信頼性に優れる。特に、本実施形態
では、後述するようにスルーホール36に充填された充
填剤54を研磨により平坦にしてから、該充填剤54を
覆う蓋めっき(導体層)58を配設し、この上にバイア
ホール66が形成されているため、スルーホール36表
面の平滑性が高く、当該スルーホール36とバイアホー
ル66との接続信頼性に優れる。
In this embodiment, the through hole 36 is formed so as to penetrate the core substrate 30 and the lower interlayer resin insulating layer 50, and the via hole 66 is formed immediately above the through hole 36. For this reason, the through hole 36 and the via hole 66 are linear, shortening the wiring length, and increasing the signal transmission speed. Further, since the through hole 36 and the via hole 66 connected to the external connection terminal (solder bump 76, conductive connection pin 78) are directly connected, the connection reliability is excellent. In particular, in the present embodiment, after the filler 54 filled in the through hole 36 is flattened by polishing as described later, a lid plating (conductor layer) 58 that covers the filler 54 is provided, and Since the via hole 66 is formed, the smoothness of the surface of the through hole 36 is high, and the connection reliability between the through hole 36 and the via hole 66 is excellent.

【0015】また、本実施形態の多層プリント配線板で
は、スルーホール36と下層のバイアホール46とに同
一の充填樹脂54が充填されてなるので、廉価に構成で
き、また、スルーホール内とバイアホール内との強度を
均一に保ち得るため、多層プリント配線板の信頼性を高
めることができる。また、後述するようにバイアホール
46に充填された充填剤54を研磨により平坦にしてか
ら、該充填剤54を覆う蓋めっき(導体層)58を配設
し、この上に上層バイアホール66が形成されているた
め、下層バイアホール46表面の平滑性が高く、当該下
層バイアホール46と上層バイアホール66との接続信
頼性に優れる。
Further, in the multilayer printed wiring board of the present embodiment, since the same filling resin 54 is filled in the through hole 36 and the lower via hole 46, the structure can be made inexpensive. Since the strength with the inside of the hole can be kept uniform, the reliability of the multilayer printed wiring board can be improved. Also, as described later, after the filler 54 filled in the via hole 46 is flattened by polishing, a lid plating (conductor layer) 58 covering the filler 54 is provided, and an upper via hole 66 is formed thereon. Since it is formed, the smoothness of the surface of the lower via hole 46 is high, and the connection reliability between the lower via hole 46 and the upper via hole 66 is excellent.

【0016】更に、後述するように、本実施形態の多層
プリント配線板では、製造工程において、スルーホール
36となる貫通孔35のデスミヤ処理と、下層層間樹脂
絶縁層表面40の粗化処理を酸化剤により同時に行うた
め、工程を減らし廉価に製造することができる。
Further, as will be described later, in the multilayer printed wiring board of the present embodiment, in the manufacturing process, the desmearing treatment of the through hole 35 which becomes the through hole 36 and the roughening treatment of the lower interlayer resin insulating layer surface 40 are oxidized. Since it is performed simultaneously with the agent, the number of steps can be reduced and the production can be performed at low cost.

【0017】引き続き、該多層プリント配線板10の製
造方法について図1〜図5を参照にして説明する。 (1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂、FR4,FR
5,又はBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からな
る基板30の両面に18μmの銅箔32がラミネートされ
ている銅張積層板30Aを出発材料とした(図1
(A))。まず、この銅張積層板をパターン状にエッチ
ングすることにより、基板の両面に内層銅パターン34
を形成する(図1(B))。
Next, a method of manufacturing the multilayer printed wiring board 10 will be described with reference to FIGS. (1) 0.8mm thick glass epoxy resin, FR4, FR
A starting material is a copper-clad laminate 30A in which 18 μm copper foils 32 are laminated on both sides of a substrate 30 made of 5, 5 or BT (bismaleimide triazine) resin (FIG. 1).
(A)). First, the copper-clad laminate is etched in a pattern to form inner layer copper patterns 34 on both sides of the substrate.
Is formed (FIG. 1B).

【0018】(2) 内層銅パターン34およびスルーホー
ル36を形成した基板30を水洗いした後、第二銅錯体
と有機酸とを含有するエッチング液を、スプレーやバブ
リング等の酸素共存条件で作用させて、導体回路の銅導
体を溶解させボイドを形成する処理により、内層銅パタ
ーン34の表面に粗化層38を設ける(図1(C))。
それ以外にも、酸化−還元処理や無電解めっきの合金に
よって粗化層を設けてもよい。形成される粗化層は、
0.1〜5μmの範囲にあるものが望ましい。その範囲
であれば、導体回路と層間樹脂絶縁層の剥離が起きにく
い。
(2) After the substrate 30 on which the inner layer copper pattern 34 and the through hole 36 are formed is washed with water, an etching solution containing a cupric complex and an organic acid is allowed to act under oxygen-existing conditions such as spraying and bubbling. Then, a roughening layer 38 is provided on the surface of the inner layer copper pattern 34 by a process of forming a void by dissolving the copper conductor of the conductor circuit (FIG. 1C).
In addition, a roughening layer may be provided by an alloy of oxidation-reduction treatment or electroless plating. The formed roughened layer is
Those in the range of 0.1 to 5 μm are desirable. Within this range, peeling of the conductor circuit and the interlayer resin insulating layer hardly occurs.

【0019】第二銅錯体は、アゾール類の第二銅錯体が
よい。このアゾール類の第二銅錯体は、金属銅等を酸化
する酸化剤として作用する。アゾール類としては、ジア
ゾール、トリアゾール、テトラゾールがよい。中でも、
イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチレイ
ミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2
−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール
等がよい。アゾール類の第二銅錯体の添加量は、1〜15
重量%がよい。溶解性及び安定性に優れるからである。
The cupric complex is preferably an azole cupric complex. This cupric complex of azoles acts as an oxidizing agent for oxidizing metallic copper and the like. As the azoles, diazole, triazole and tetrazole are preferable. Among them,
Imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2
-Phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are preferred. The addition amount of the cupric complex of azoles is 1 to 15
% By weight is good. This is because they are excellent in solubility and stability.

【0020】また、酸化銅を溶解させるために、有機酸
をアゾール類の第二銅錯体に配合する。具体例として
は、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロ
ン酸、アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、
コハク酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコ
ール酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸からなる群よ
り選ばれる少なくとも1種がよい。有機酸の含有量は、
0.1 〜30重量%がよい。酸化された銅の溶解性を維持
し、かつ溶解安定性を確保するためである。
In order to dissolve copper oxide, an organic acid is added to the cupric complex of azoles. Specific examples include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid,
At least one selected from the group consisting of succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid is preferred. The content of organic acids is
0.1 to 30% by weight is preferred. This is for maintaining the solubility of the oxidized copper and ensuring the solubility stability.

【0021】発生した第一銅錯体は、酸の作用で溶解
し、酸素と結合して第二銅錯体となって、再び銅の酸化
に寄与する。
The generated cuprous complex dissolves under the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to copper oxidation.

【0022】また、銅の溶解やアゾール類の酸化作用を
補助するために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオ
ン、塩素イオン、臭素イオン等をエッチング液に加えて
もよい。本発明では、塩酸、塩化ナトリウム等を添加し
て、ハロゲンイオンを供給することができる。ハロゲン
イオン量は、0.01〜20重量%がよい。形成された粗化面
と層間樹脂絶縁層との密着性に優れるからである。
Further, in order to assist the dissolution of copper and the oxidizing action of azoles, halogen ions, for example, fluorine ions, chlorine ions, bromine ions and the like may be added to the etching solution. In the present invention, halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like. The amount of halogen ions is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because adhesion between the formed roughened surface and the interlayer resin insulating layer is excellent.

【0023】アゾール類の第二銅錯体と有機酸(必要に
応じてハロゲンイオン)を、水に溶解してエッチング液
を調整する。また、市販のエッチング液、例えば、メッ
ク社製、商品名「メック エッチボンド」を使用し、本
発明にかかる粗化面を形成することができる。
An etching solution is prepared by dissolving a cupric complex of an azole and an organic acid (halogen ion if necessary) in water. The roughened surface according to the present invention can be formed by using a commercially available etching solution, for example, “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Corporation.

【0024】(3)該基板30の表面に下層層間樹脂絶縁
層となる樹脂フィルム50αを、温度50〜150℃ま
で昇温しながら圧力5kgf/cm2で真空圧着ラミネー
トして貼り付ける(図1(D))。該樹脂フィルムとし
ては、難溶性樹脂、可溶性樹脂粒子、硬化剤、その他の
成分が含有されている。それぞれについて以下に説明す
る。
(3) A resin film 50α to be a lower interlayer resin insulating layer is laminated on the surface of the substrate 30 by vacuum pressure lamination at a pressure of 5 kgf / cm 2 while the temperature is raised to 50 to 150 ° C. (FIG. 1). (D)). The resin film contains a hardly soluble resin, soluble resin particles, a curing agent, and other components. Each is described below.

【0025】本発明の製造方法において使用する樹脂フ
ィルムは、酸または酸化剤に可溶性の粒子(以下、可溶
性粒子という)が酸または酸化剤に難溶性の樹脂(以
下、難溶性樹脂という)中に分散したものである。な
お、本発明で使用する「難溶性」「可溶性」という語
は、同一の酸または酸化剤からなる溶液に同一時間浸漬
した場合に、相対的に溶解速度の早いものを便宜上「可
溶性」と呼び、相対的に溶解速度の遅いものを便宜上
「難溶性」と呼ぶ。
In the resin film used in the production method of the present invention, particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter, referred to as “soluble particles”) are contained in a resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter, referred to as a hardly soluble resin). It is dispersed. The terms “sparingly soluble” and “soluble” as used in the present invention, when immersed in a solution containing the same acid or oxidizing agent for the same time, have a relatively high dissolution rate and are called “soluble” for convenience. Those having a relatively low dissolution rate are referred to as "poorly soluble" for convenience.

【0026】上記可溶性粒子としては、例えば、酸また
は酸化剤に可溶性の樹脂粒子(以下、可溶性樹脂粒
子)、酸または酸化剤に可溶性の無機粒子(以下、可溶
性無機粒子)、酸または酸化剤に可溶性の金属粒子(以
下、可溶性金属粒子)等が挙げられる。これらの可溶性
粒子は、単独で用いても良いし、2種以上併用してもよ
い。
Examples of the soluble particles include resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble resin particles”), inorganic particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble inorganic particles”), and an acid or an oxidizing agent. Soluble metal particles (hereinafter referred to as “soluble metal particles”) and the like. These soluble particles may be used alone or in combination of two or more.

【0027】上記可溶性粒子の形状は特に限定されず、
球状、破砕状等が挙げられる。また、上記可溶性粒子の
形状は、一様な形状であることが望ましい。均一な粗さ
の凹凸を有する粗化面を形成することができるからであ
る。
The shape of the soluble particles is not particularly limited.
Spherical, crushed and the like. The shape of the soluble particles is desirably a uniform shape. This is because a roughened surface having unevenness with a uniform roughness can be formed.

【0028】上記可溶性粒子の平均粒径としては、0.
1〜10μmが望ましい。この粒径の範囲であれば、2
種類以上の異なる粒径のものを含有してもよい。すなわ
ち、平均粒径が0.1〜0.5μmの可溶性粒子と平均
粒径が1〜3μmの可溶性粒子とを含有する等である。
これにより、より複雑な粗化面を形成することができ、
導体回路との密着性にも優れる。なお、本発明におい
て、可溶性粒子の粒径とは、可溶性粒子の一番長い部分
の長さである。
The average particle size of the above-mentioned soluble particles is 0.1.
1 to 10 μm is desirable. Within this particle size range, 2
More than one kind of particles having different particle sizes may be contained. That is, it contains soluble particles having an average particle size of 0.1 to 0.5 μm and soluble particles having an average particle size of 1 to 3 μm.
Thereby, a more complicated roughened surface can be formed,
Excellent adhesion to conductor circuits. In the present invention, the particle size of the soluble particles is the length of the longest portion of the soluble particles.

【0029】上記可溶性樹脂粒子としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、酸あるい
は酸化剤からなる溶液に浸漬した場合に、上記難溶性樹
脂よりも溶解速度が速いものであれば特に限定されな
い。上記可溶性樹脂粒子の具体例としては、例えば、エ
ポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフ
ェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂等から
なるものが挙げられ、これらの樹脂の一種からなるもの
であってもよいし、2種以上の樹脂の混合物からなるも
のであってもよい。
Examples of the soluble resin particles include those made of a thermosetting resin, a thermoplastic resin, and the like. When immersed in a solution containing an acid or an oxidizing agent, the soluble resin particles have a higher dissolution rate than the hardly soluble resin. If it is, there is no particular limitation. Specific examples of the soluble resin particles include, for example, those made of epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, and the like, and may be made of one of these resins. Alternatively, it may be composed of a mixture of two or more resins.

【0030】また、上記可溶性樹脂粒子としては、ゴム
からなる樹脂粒子を用いることもできる。上記ゴムとし
ては、例えば、ポリブタジエンゴム、エポキシ変性、ウ
レタン変性、(メタ)アクリロニトリル変性等の各種変
性ポリブタジエンゴム、カルボキシル基を含有した(メ
タ)アクリロニトリル・ブタジエンゴム等が挙げられ
る。これらのゴムを使用することにより、可溶性樹脂粒
子が酸あるいは酸化剤に溶解しやすくなる。つまり、酸
を用いて可溶性樹脂粒子を溶解する際には、強酸以外の
酸でも溶解することができ、酸化剤を用いて可溶性樹脂
粒子を溶解する際には、比較的酸化力の弱い過マンガン
酸塩でも溶解することができる。また、クロム酸を用い
た場合でも、低濃度で溶解することができる。そのた
め、酸や酸化剤が樹脂表面に残留することがなく、後述
するように、粗化面形成後、塩化パラジウム等の触媒を
付与する際に、触媒が付与されなたかったり、触媒が酸
化されたりすることがない。
Further, as the soluble resin particles, resin particles made of rubber can also be used. Examples of the rubber include polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group. By using these rubbers, the soluble resin particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the soluble resin particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the soluble resin particles using an oxidizing agent, permanganese having a relatively weak oxidizing power is used. Acid salts can also be dissolved. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. Therefore, the acid or the oxidizing agent does not remain on the resin surface, and as described later, when a catalyst such as palladium chloride is applied after forming the roughened surface, the catalyst is not applied or the catalyst is oxidized. Or not.

【0031】上記可溶性無機粒子としては、例えば、ア
ルミニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合
物、マグネシウム化合物およびケイ素化合物からなる群
より選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げら
れる。
Examples of the soluble inorganic particles include particles made of at least one selected from the group consisting of aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds and silicon compounds.

【0032】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、炭酸カリウム等が挙げられ、上記マグネシウム
化合物としては、マグネシア、ドロマイト、塩基性炭酸
マグネシウム等が挙げられ、上記ケイ素化合物として
は、シリカ、ゼオライト等が挙げられる。これらは単独
で用いても良いし、2種以上併用してもよい。
Examples of the aluminum compound include alumina and aluminum hydroxide. Examples of the calcium compound include calcium carbonate and
Examples of the potassium compound include potassium carbonate.Examples of the magnesium compound include magnesia, dolomite, and basic magnesium carbonate.Examples of the silicon compound include silica and zeolite. Is mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0033】上記可溶性金属粒子としては、例えば、
銅、ニッケル、鉄、亜鉛、鉛、金、銀、アルミニウム、
マグネシウム、カルシウムおよびケイ素からなる群より
選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げられ
る。また、これらの可溶性金属粒子は、絶縁性を確保す
るために、表層が樹脂等により被覆されていてもよい。
Examples of the soluble metal particles include, for example,
Copper, nickel, iron, zinc, lead, gold, silver, aluminum,
Examples include particles made of at least one selected from the group consisting of magnesium, calcium, and silicon. These soluble metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0034】上記可溶性粒子を、2種以上混合して用い
る場合、混合する2種の可溶性粒子の組み合わせとして
は、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望ましい。両
者とも導電性が低くいため樹脂フィルムの絶縁性を確保
することができるとともに、難溶性樹脂との間で熱膨張
の調整が図りやすく、樹脂フィルムからなる層間樹脂絶
縁層にクラックが発生せず、層間樹脂絶縁層と導体回路
との間で剥離が発生しないからである。
When two or more of the above-mentioned soluble particles are used in combination, the combination of the two types of soluble particles to be mixed is preferably a combination of resin particles and inorganic particles. Both have low conductivity, so that the insulation of the resin film can be ensured, and thermal expansion can be easily adjusted with the poorly soluble resin, and no crack occurs in the interlayer resin insulation layer made of the resin film. This is because peeling does not occur between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0035】上記難溶性樹脂としては、層間樹脂絶縁層
に酸または酸化剤を用いて粗化面を形成する際に、粗化
面の形状を保持できるものであれば特に限定されず、例
えば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、これらの複合体等
が挙げられる。また、これらの樹脂に感光性を付与した
感光性樹脂であってもよい。感光性樹脂を用いることに
より、層間樹脂絶縁層に露光、現像処理を用いてバイア
ホール用開口を形成することできる。これらのなかで
は、熱硬化性樹脂を含有しているものが望ましい。それ
により、めっき液あるいは種々の加熱処理によっても粗
化面の形状を保持することができるからである。
The hardly soluble resin is not particularly limited as long as it can maintain the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed by using an acid or an oxidizing agent in the interlayer resin insulating layer. Examples thereof include thermosetting resins, thermoplastic resins, and composites thereof. Further, a photosensitive resin obtained by imparting photosensitivity to these resins may be used. By using a photosensitive resin, an opening for a via hole can be formed in an interlayer resin insulating layer by using exposure and development processes. Among these, those containing a thermosetting resin are desirable. Thereby, the shape of the roughened surface can be maintained even by the plating solution or various heat treatments.

【0036】上記難溶性樹脂の具体例としては、例え
ば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリフェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂
等が挙げられる。これらの樹脂は単独で用いてもよい
し、2種以上を併用してもよい。さらには、1分子中
に、2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂がより
望ましい。前述の粗化面を形成することができるばかり
でなく、耐熱性等にも優れてるため、ヒートサイクル条
件下においても、金属層に応力の集中が発生せず、金属
層の剥離などが起きにくいからである。
Specific examples of the hardly soluble resin include, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin,
Examples thereof include polyphenylene resin, polyolefin resin, and fluorine resin. These resins may be used alone or in combination of two or more. Further, an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more desirable. Not only can the above-described roughened surface be formed, but also excellent in heat resistance, etc., even under heat cycle conditions, stress concentration does not occur in the metal layer, and peeling of the metal layer does not easily occur. Because.

【0037】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れる
ものとなる。
Examples of the epoxy resin include cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, alkylphenol novolak type epoxy resin, biphenol F type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0038】本発明で用いる樹脂フィルムにおいて、上
記可溶性粒子は、上記難溶性樹脂中にほぼ均一に分散さ
れていることが望ましい。均一な粗さの凹凸を有する粗
化面を形成することができ、樹脂フィルムにバイアホー
ルやスルーホールを形成しても、その上に形成する導体
回路の金属層の密着性を確保することができるからであ
る。また、粗化面を形成する表層部だけに可溶性粒子を
含有する樹脂フィルムを用いてもよい。それによって、
樹脂フィルムの表層部以外は酸または酸化剤にさらされ
ることがないため、層間樹脂絶縁層を介した導体回路間
の絶縁性が確実に保たれる。
In the resin film used in the present invention, the soluble particles are desirably substantially uniformly dispersed in the hardly-soluble resin. It is possible to form a roughened surface with unevenness of uniform roughness, and even if via holes and through holes are formed in the resin film, it is possible to secure the adhesion of the metal layer of the conductor circuit formed thereon. Because you can. Alternatively, a resin film containing soluble particles only in the surface layer forming the roughened surface may be used. Thereby,
Since the portions other than the surface layer of the resin film are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer is reliably maintained.

【0039】上記樹脂フィルムにおいて、難溶性樹脂中
に分散している可溶性粒子の配合量は、樹脂フィルムに
対して、3〜40重量%が望ましい。可溶性粒子の配合
量が3重量%未満では、所望の凹凸を有する粗化面を形
成することができない場合があり、40重量%を超える
と、酸または酸化剤を用いて可溶性粒子を溶解した際
に、樹脂フィルムの深部まで溶解してしまい、樹脂フィ
ルムからなる層間樹脂絶縁層を介した導体回路間の絶縁
性を維持できず、短絡の原因となる場合がある。
In the above resin film, the amount of the soluble particles dispersed in the poorly soluble resin is preferably 3 to 40% by weight based on the resin film. If the amount of the soluble particles is less than 3% by weight, it may not be possible to form a roughened surface having desired irregularities. If the amount exceeds 40% by weight, the soluble particles may be dissolved using an acid or an oxidizing agent. In addition, there is a case where the resin film is melted to a deep portion of the resin film and the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer made of the resin film cannot be maintained, which may cause a short circuit.

【0040】上記樹脂フィルムは、上記可溶性粒子、上
記難溶性樹脂以外に、硬化剤、その他の成分等を含有し
ていることが望ましい。上記硬化剤としては、例えば、
イミダゾール系硬化剤、アミン系硬化剤、グアニジン系
硬化剤、これらの硬化剤のエポキシアダクトやこれらの
硬化剤をマイクロカプセル化したもの、トリフェニルホ
スフィン、テトラフェニルホスフォニウム・テトラフェ
ニルボレート等の有機ホスフィン系化合物等が挙げられ
る。
The resin film desirably contains a curing agent and other components in addition to the soluble particles and the hardly soluble resin. As the curing agent, for example,
Imidazole-based curing agents, amine-based curing agents, guanidine-based curing agents, epoxy adducts of these curing agents and microcapsules of these curing agents, and organic materials such as triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium, and tetraphenylborate. Phosphine compounds and the like can be mentioned.

【0041】上記硬化剤の含有量は、樹脂フィルムに対
して0.05〜10重量%であることが望ましい。0.
05重量%未満では、樹脂フィルムの硬化が不十分であ
るため、酸や酸化剤が樹脂フィルムに侵入する度合いが
大きくなり、樹脂フィルムの絶縁性が損なわれることが
ある。一方、10重量%を超えると、過剰な硬化剤成分
が樹脂の組成を変性させることがあり、信頼性の低下を
招いたりしてしまうことがある。
The content of the curing agent is desirably 0.05 to 10% by weight based on the resin film. 0.
If the amount is less than 05% by weight, the resin film is insufficiently cured, so that the degree of penetration of the acid or the oxidizing agent into the resin film is increased, and the insulating property of the resin film may be impaired. On the other hand, when the content exceeds 10% by weight, an excessive curing agent component may modify the composition of the resin, which may cause a decrease in reliability.

【0042】上記その他の成分としては、例えば、粗化
面の形成に影響しない無機化合物あるいは樹脂等のフィ
ラーが挙げられる。上記無機化合物としては、例えば、
シリカ、アルミナ、ドロマイト等が挙げられ、上記樹脂
としては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアクリル樹
脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、メラ
ニン樹脂、オレフィン系樹脂等が挙げられる。これらの
フィラーを含有させることによって、熱膨脹係数の整合
や耐熱性、耐薬品性の向上などを図りプリント配線板の
性能を向上させることができる。
Examples of the other components include fillers such as inorganic compounds or resins which do not affect the formation of a roughened surface. As the inorganic compound, for example,
Examples of the resin include silica, alumina, and dolomite. Examples of the resin include a polyimide resin, a polyacryl resin, a polyamideimide resin, a polyphenylene resin, a melanin resin, and an olefin resin. By incorporating these fillers, the performance of the printed wiring board can be improved by matching the thermal expansion coefficient, improving heat resistance and chemical resistance, and the like.

【0043】また、上記樹脂フィルムは、溶剤を含有し
ていてもよい。上記溶剤としては、例えば、アセトン、
メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、
酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテートやトル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素等が挙げられる。こ
れらは単独で用いてもよいし、2種類以上併用してもよ
い。
Further, the resin film may contain a solvent. As the solvent, for example, acetone,
Ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone,
Ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene. These may be used alone or in combination of two or more.

【0044】(4)引き続き、樹脂フィルム50を貼り付
けたコア基板30に、ドリルにより直径300μmのス
ルーホール用貫通孔35を穿設する(図1(E))。
(4) Subsequently, a through-hole 35 for a through hole having a diameter of 300 μm is formed in the core substrate 30 to which the resin film 50 is attached by a drill (FIG. 1E).

【0045】(5)そして、炭酸、エキシマ、YAG、又
はUVレーザにより樹脂フィルム50αに直径80μm
のバイアホール用開口52を穿設する(図2(A))。
その後、樹脂フィルムを熱硬化させて下層層間樹脂絶縁
層50を形成する。バイアホールは、レーザによるエリ
ア加工、あるいは、マスクを載置させてレーザによるエ
リア加工によって形成させてもよい。又、混在レーザ
(炭酸レーザとエキシマレーザといった組み合わせを意
味する)でもよい。スルーホール及びバイアホールを共
にレーザで形成させてもよい。
(5) Then, the resin film 50α has a diameter of 80 μm by carbonic acid, excimer, YAG, or UV laser.
(FIG. 2 (A)).
Thereafter, the resin film is thermally cured to form the lower interlayer resin insulation layer 50. The via hole may be formed by area processing using a laser, or by mounting a mask and performing area processing using a laser. Further, a mixed laser (which means a combination of a carbon dioxide laser and an excimer laser) may be used. Both the through hole and the via hole may be formed by laser.

【0046】(6)次に、クロム酸、又は、過マンガン酸
塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム)
から成る酸化剤により、コア基板30及び下層層間樹脂
絶縁層50に形成したスルーホール用貫通孔35のデス
ミヤ処理を行うと同時に、下層層間樹脂絶縁層50表面
の粗化処理を行う(図2(B))。
(6) Chromic acid or permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate)
At the same time, the desmear treatment of the through-holes 35 for the through holes formed in the core substrate 30 and the lower interlayer resin insulation layer 50 is performed by the oxidizing agent, and the surface of the lower interlayer resin insulation layer 50 is roughened (FIG. 2 ( B)).

【0047】本実施形態の多層プリント配線板は、コア
基板30がFR4,FR5,BTレジンのいずれかから
成り、下層層間樹脂絶縁層50が、エポキシ樹脂、フェ
ノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポ
リオレフィン樹脂、フッ素樹脂の内の少なくとも1を含
有する。このため、クロム酸、過マンガン酸塩からなる
酸化剤で貫通孔35のデスミヤ処理と、該下層層間樹脂
絶縁層50の粗化処理とを同時に行うことが可能とな
り、工程を削減することで、多層プリント配線板を廉価
に製造できる。
In the multilayer printed wiring board of this embodiment, the core substrate 30 is made of any one of FR4, FR5 and BT resin, and the lower interlayer resin insulating layer 50 is made of epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin. Contains at least one of resin and fluororesin. For this reason, it becomes possible to simultaneously perform the desmear treatment of the through-hole 35 and the roughening treatment of the lower interlayer resin insulating layer 50 with an oxidizing agent composed of chromic acid and permanganate, thereby reducing the number of steps. A multilayer printed wiring board can be manufactured at low cost.

【0048】(7)表面を粗化した層間樹脂絶縁層50表
面に、パラジウム触媒を付与し、無電解めっき水溶液中
で、無電解銅めっき膜42を形成する(図2(C))。
ここでは、無電解銅めっき膜を形成しているが、スパッ
タを用いて、銅又はニッケル皮膜を形成することも可能
である。又、表層にドライ処理として、プラズマ、U
V、コロナ処理を行ってもよい。これにより表面を改質
する。
(7) A palladium catalyst is applied to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 whose surface has been roughened, and an electroless copper plating film 42 is formed in an electroless plating aqueous solution (FIG. 2C).
Here, the electroless copper plating film is formed, but it is also possible to form a copper or nickel film by using sputtering. In addition, plasma, U
V. Corona treatment may be performed. This modifies the surface.

【0049】(8)無電解銅めっき膜42を形成した基板
を水洗いした後、所定パターンのめっきレジスト43を
形成する(図2(D))。 (9)そして、基板を電解めっき液中に浸漬し、無電解銅
めっき膜42を介して電流を流し、電解銅めっき膜44
を形成する(図2(E))。
(8) After the substrate on which the electroless copper plating film 42 is formed is washed with water, a plating resist 43 having a predetermined pattern is formed (FIG. 2D). (9) Then, the substrate is immersed in the electrolytic plating solution, a current is passed through the electroless copper plating film 42, and the electrolytic copper plating film 44
Is formed (FIG. 2E).

【0050】(10)めっきレジスト43をKOHで剥離除
去し、めっきレジスト下の無電解銅めっき膜42をライ
トエッチングにより剥離することで、無電解銅めっき膜
42及び電解銅めっき膜44からなるバイアホール46
及びスルーホール36を形成する(図3(A))。
(10) The plating resist 43 is peeled off with KOH, and the electroless copper plating film 42 under the plating resist is peeled off by light etching to form a via composed of the electroless copper plating film 42 and the electrolytic copper plating film 44. Hall 46
Then, a through hole 36 is formed (FIG. 3A).

【0051】(11)バイアホール46及びスルーホール3
6に、粗化層(Cu−Ni−Pからなる合金)47を無
電解めっきにより形成する(図3(B))。この無電解
銅めっきの代わりに、エッチングにより(例 第二銅錯
体と有機酸塩とを配合した液によってスプレーや浸積す
ることでエッチングさせている)、又は、酸化―還元処
理により粗化層を形成することも可能である。
(11) Via hole 46 and through hole 3
6, a roughened layer (alloy made of Cu-Ni-P) 47 is formed by electroless plating (FIG. 3B). Instead of this electroless copper plating, etching (eg, etching by spraying or immersing with a solution containing a cupric complex and an organic acid salt) or roughening layer by oxidation-reduction treatment It is also possible to form

【0052】(12)スルーホール36内、及び、バイアホ
ール46内に樹脂充填剤54を充填し、乾燥炉内の温度
100 ℃,20分間乾燥させる(図3(C))。本実施形
態では、スルーホール36とバイアホール46とに同一
の充填剤を同時に充填するため、製造工程を削減でき
る。ここで、樹脂充填剤としては、下記の原料組成物を
用いることができる。 〔樹脂組成物〕ビスフェノールF型エポキシモノマー
(油化シェル製、分子量310 、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径 1.6μmのSiO2 球状粒子(アドマテック製、CRS
1101−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅
パターンの厚み(15μm)以下とする) 170重量部、レ
ベリング剤(サンノプコ製、ペレノールS4)1.5 重量
部を攪拌混合することにより、その混合物の粘度を23±
1℃で36000〜49,000cps に調整して得た。 〔硬化剤組成物〕イミダゾール硬化剤(四国化成製、
2E4MZ-CN)6.5 重量部。
(12) The resin filler 54 is filled in the through hole 36 and the via hole 46, and the temperature in the drying furnace is
Dry at 100 ° C. for 20 minutes (FIG. 3 (C)). In the present embodiment, since the same filler is simultaneously filled into the through hole 36 and the via hole 46, the number of manufacturing steps can be reduced. Here, the following raw material composition can be used as the resin filler. [Resin composition] 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL983U), SiO2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a surface coated with a silane coupling agent (manufactured by Admatech, CRS
1101-CE, where the maximum particle size is 170 parts by weight of the inner layer copper pattern described below (15 μm or less) and 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) by stirring and mixing. The viscosity of the mixture is 23 ±
It was obtained by adjusting to 3600-49,000 cps at 1 ° C. [Curing agent composition] Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals,
2E4MZ-CN) 6.5 parts by weight.

【0053】(13)前記(12) の処理を終えた基板30の
片面を、バイアホール46、スルーホール36の開口か
らはみ出した樹脂充填剤54の表面を平滑化するように
研磨し、次いで、研磨による傷を取り除くためのバフ研
磨を行う。このような一連の研磨を基板の他方の面につ
いても同様に行う(図3(D))。次いで、100 ℃で1
時間、 150℃で1時間の加熱処理を行って樹脂充填剤5
4を硬化した。樹脂充填材を構成する樹脂は、エポキシ
樹脂、フェノール樹脂、フッ素樹脂、トリアジン樹脂、
ポリオレフィン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂など
を意味して、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂あるいは、そ
れぞれの複合体でもよく、樹脂内にシリカ、アルミナな
どの無機フィラーなどを含有させて熱膨張率などを整え
たものでもよい。また、導電性樹脂、金、銀、銅などの
導電性のある金属フィラーを主とするペーストを用いて
もよい。更に、上記のもので各々の複合体でもよい。
(13) One surface of the substrate 30 after the processing of the above (12) is polished so as to smooth the surface of the resin filler 54 protruding from the openings of the via holes 46 and the through holes 36, Buffing is performed to remove scratches due to polishing. Such a series of polishing is similarly performed on the other surface of the substrate (FIG. 3D). Then at 100 ° C for 1
Heat treatment at 150 ° C for 1 hour for 5 hours
4 was cured. The resin that constitutes the resin filler is epoxy resin, phenol resin, fluororesin, triazine resin,
It means polyolefin resin, polyphenylene ether resin, etc., which may be thermosetting resin, thermoplastic resin, or a composite of each.The resin contains inorganic fillers such as silica and alumina to adjust the coefficient of thermal expansion. May be used. Alternatively, a paste mainly containing a conductive metal filler such as a conductive resin, gold, silver, or copper may be used. Further, each of the above complexes may be used.

【0054】(14) 層間樹脂絶縁層50表面に、パラジ
ウム触媒を付与し、無電解めっき水溶液中で、無電解銅
めっき膜56を形成する(図4(A))。ここでは、無
電解銅めっき膜を形成しているが、あるいは、スパッタ
を用いて、銅又はニッケル皮膜を形成することも可能で
ある。
(14) A palladium catalyst is applied to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 to form an electroless copper plating film 56 in an electroless plating aqueous solution (FIG. 4A). Here, the electroless copper plating film is formed, but it is also possible to form a copper or nickel film by using sputtering.

【0055】(15)所定パターンのめっきレジスト(図示
せず)を形成した後、電解銅めっき膜57を形成してか
ら、めっきレジストを剥離除去し、めっきレジスト下の
無電解銅めっき膜56をライトエッチングにより剥離す
ることで、無電解銅めっき膜56及び電解銅めっき膜5
7からなる蓋めっき58を、バイアホール46及びスル
ーホール36の開口部に形成する(図4(B))。
(15) After a plating resist (not shown) having a predetermined pattern is formed, an electrolytic copper plating film 57 is formed, the plating resist is peeled off, and the electroless copper plating film 56 under the plating resist is removed. By peeling off by light etching, the electroless copper plating film 56 and the electrolytic copper plating film 5 are removed.
7 is formed at the openings of the via hole 46 and the through hole 36 (FIG. 4B).

【0056】(16) バイアホール46及びスルーホール
36の開口の蓋めっき58に、粗化層(Cu−Ni−
P)59を無電解めっきにより形成する(図4
(C))。この無電解銅めっきの代わりに、エッチン
グ、又は、酸化―還元処理により粗化層を形成できる。 (17)上述した工程(3)〜(11)の工程を繰り返すこと
で、上層層間樹脂絶縁層60を形成し、該上層層間樹脂
絶縁層60上に無電解銅めっき膜62及び電解銅めっき
膜64からなるバイアホール66を形成する(図4
(D))。 (18)引き続き、ソルダーレジスト及び半田バンプを形成
する。ソルダーレジストの原料組成物は以下からなる。
DMDGに溶解させた60重量%のクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基50%をアク
リル化した感光性付与のオリゴマー(分子量4000)を 4
6.67g、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エピコ
ート1001)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成製、
2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノマーである多価アクリル
モノマー(日本化薬製、R604 )3g、同じく多価アク
リルモノマー(共栄社化学製、DPE6A ) 1.5g、分散系
消泡剤(サンノプコ社製、S−65)0.71gを混合し、さ
らにこの混合物に対して光開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学製)を2g、光増感剤としてのミヒラーケ
トン(関東化学製)を 0.2g加えて、粘度を25℃で2.0P
a・sに調整したソルダーレジスト組成物を得る。ソル
ダーレジスト層としては、種々の樹脂を使用でき、例え
ば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノール
A型エポキシ樹脂のアクリレート、ノボラック型エポキ
シ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂のアクリレートをア
ミン系硬化剤やイミダゾール硬化剤などで硬化させた樹
脂を使用できる。特に、ソルダーレジスト層に開口を設
けて半田バンプを形成する場合には、「ノボラック型エ
ポキシ樹脂もしくはノボラック型エポキシ樹脂のアクリ
レート」からなり「イミダゾール硬化剤」を硬化剤とし
て含むものが好ましい。上記(17)で得られた多層プリン
ト配線板の両面に、上記ソルダーレジスト組成物70α
を20μmの厚さで塗布する(図5(A))。
(16) A roughening layer (Cu—Ni—) is formed on the cover plating 58 of the opening of the via hole 46 and the through hole 36.
P) 59 is formed by electroless plating (FIG. 4)
(C)). Instead of the electroless copper plating, a roughened layer can be formed by etching or oxidation-reduction treatment. (17) By repeating the above steps (3) to (11), the upper interlayer resin insulation layer 60 is formed, and the electroless copper plating film 62 and the electrolytic copper plating film are formed on the upper interlayer resin insulation layer 60. 64 are formed (FIG. 4)
(D)). (18) Subsequently, a solder resist and a solder bump are formed. The raw material composition for the solder resist is as follows.
A photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of an epoxy group of a 60% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG was used.
6.67 g, 15.0 g of 80 wt% bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals,
2E4MZ-CN) 1.6 g, photosensitive acrylic monomer (Nippon Kayaku, R604) 3 g, polyvalent acrylic monomer (Kyoeisha Chemical, DPE6A) 1.5 g, dispersion defoamer (Sannopco) , S-65), and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer were added to the mixture. 2.0P at 25 ° C
A solder resist composition adjusted to a · s is obtained. As the solder resist layer, various resins can be used. For example, bisphenol A type epoxy resin, acrylate of bisphenol A type epoxy resin, novolak type epoxy resin, acrylate of novolak type epoxy resin may be used as an amine curing agent or an imidazole curing agent. Can be used. In particular, in the case where an opening is provided in the solder resist layer to form a solder bump, a solder bump made of "novolak epoxy resin or acrylate of novolak epoxy resin" and containing "imidazole curing agent" as a curing agent is preferable. On both sides of the multilayer printed wiring board obtained in the above (17), the solder resist composition 70α
Is applied in a thickness of 20 μm (FIG. 5A).

【0057】(19)次いで、70℃で20分間、80℃で30分間
の乾燥処理を行った後、円パターン(マスクパターン)
が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィルムを密着さ
せて載置し、1000mJ/cmの紫外線で露光し、DMTG現
像処理する。そしてさらに、80℃で1時間、 100℃で1
時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件で加熱処
理し、開口部71を有する(開口径 200μm)ソルダー
レジスト層70(厚み20μm)を形成する(図5
(B))。
(19) Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 80 ° C. for 30 minutes, a circular pattern (mask pattern)
A 5 mm-thick photomask film on which is drawn is placed in close contact with the substrate, exposed to ultraviolet light at 1000 mJ / cm 2 , and subjected to DMTG development processing. And then at 80 ° C for 1 hour, at 100 ° C for 1 hour
Heat treatment is performed at 120 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist layer 70 (opening diameter: 200 μm) having an opening 71 (opening diameter: 200 μm) (FIG. 5).
(B)).

【0058】(20)その後、多層プリント配線板開口部7
1から露出しためっきポスト242を塩化ニッケル2.3
×10−1mol/l、次亜リン酸ナトリウム2.8 ×10
−1mol/l、クエン酸ナトリウム1.6 ×10−1mo
l/l、からなるpH=4.5の無電解ニッケルめっき
液に、20分間浸漬して、開口部71に厚さ5μmのニッ
ケルめっき層72を形成する。さらにシアン化金カリウ
ム7.6 ×10−3mol/l、塩化アンモニウム1.9 ×10
−1mol/l、クエン酸ナトリウム1.2 ×10−1mo
l/l、次亜リン酸ナトリウム1.7 ×10−1mol/l
からなる無電解金めっき液に80℃の条件で7.5分間浸
漬して、ニッケルめっき層72上に厚さ0.03μmの金め
っき層74を形成する(図5(C))。上述の例は中間
層としてニッケル、貴金属層を金で形成したものである
が、ニッケル以外に、パラジウム、チタンなどで形成す
る場合などがあり、金以外に銀、白金などがある。ま
た、貴金属層を2層以上で形成してもよい。表面処理と
してドライ処理、プラズマ、UV、コロナ処理を行って
もよい。それにより、アンダーフィルの充填性が向上さ
せれる。
(20) Thereafter, the multilayer printed wiring board opening 7
The plating post 242 exposed from 1 was replaced with nickel chloride 2.3
× 10 -1 mol / l, sodium hypophosphite 2.8 × 10
-1 mol / l, sodium citrate 1.6 × 10 -1 mo
1 / l, is immersed in an electroless nickel plating solution having a pH of 4.5 and having a pH of 4.5 for 20 minutes to form a nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm in the opening 71. Further, potassium potassium cyanide 7.6 × 10 −3 mol / l, ammonium chloride 1.9 × 10 3
-1 mol / l, sodium citrate 1.2 × 10 -1 mo
l / l, sodium hypophosphite 1.7 × 10 -1 mol / l
Is immersed in an electroless gold plating solution consisting of at 7.5 ° C. for 7.5 minutes to form a gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm on the nickel plating layer 72 (FIG. 5C). In the above-described example, the intermediate layer is made of nickel and the noble metal layer is made of gold. In addition to nickel, the intermediate layer may be made of palladium, titanium, or the like. Further, two or more noble metal layers may be formed. Dry treatment, plasma, UV, or corona treatment may be performed as the surface treatment. Thereby, the filling property of the underfill is improved.

【0059】(23)そして、ソルダーレジスト層70
の開口部71に、半田ペーストを印刷して 200℃でリフ
ローすることにより、上面のバイアホール66に半田バ
ンプ(半田体)76を形成し、また、下面側のバイアホ
ール66に半田77を介して導電性接続ピン78を取り
付ける(図6参照)。なお、導電性接続ピンの代わりに
BGAを形成することも可能である。
(23) The solder resist layer 70
Solder paste is printed on the opening 71 of the substrate and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 76 in the via hole 66 on the upper surface, and a solder 77 is inserted in the via hole 66 on the lower surface. Then, the conductive connection pins 78 are attached (see FIG. 6). Note that a BGA can be formed instead of the conductive connection pin.

【0060】(比較例)比較例として、図6に示す本実
施形態の多層プリント配線板と同様な構成でありなが
ら、下層のバイアホール側を銅めっきを充填して多層プ
リント配線板を得た。本実施形態の多層プリント配線板
と比較例の多層プリント配線板とを評価した結果を図8
に示す。
Comparative Example As a comparative example, a multilayer printed wiring board having the same structure as the multilayer printed wiring board of the present embodiment shown in FIG. . FIG. 8 shows the evaluation results of the multilayer printed wiring board of the present embodiment and the multilayer printed wiring board of the comparative example.
Shown in

【0061】電気接線性は、チェッカによて導通を調べ
た。短絡や断線のあるものをNGとし、無き場合をOK
とした。また、剥離と膨れは、ヒートサイクル試験後
(−65°C/3分+130°C/3分を1サイクルと
し1000サイクル回繰り返した)、断面をカットして
顕微鏡(×100〜400)で層間樹脂絶縁層及びバイ
アホールの剥離、膨れを目視により検査した。
The electrical tangency was checked for continuity by a checker. If there is a short circuit or disconnection, it is NG, and if there is no, OK.
And After the heat cycle test (-65 ° C / 3 minutes + 130 ° C / 3 minutes as one cycle, the cycle was repeated 1000 times), the cross section was cut, and the peeling and swelling were observed with a microscope (× 100 to 400). Peeling and swelling of the resin insulating layer and the via hole were visually inspected.

【0062】比較例では、下層のバイアホールの表面に
めっきによって充填されきっていない窪みができてしま
い、上層のバイアホールとの接続性が低下した。そのた
めに、バイアホール間で電気接続されない部分が発生す
ることがあった。また、ヒートサイクル試験後に、バイ
アホール間での剥離が元で層間樹脂絶縁層にも剥離、膨
れが発生している箇所が確認された。本実施形態の多層
プリント配線板では、前述の接続性も問題なく、剥離や
膨れも確認されなかった。
In the comparative example, a dent not completely filled by plating was formed on the surface of the lower via hole, and the connectivity with the upper via hole was reduced. As a result, a portion that is not electrically connected between the via holes may occur. After the heat cycle test, it was confirmed that peeling and swelling occurred in the interlayer resin insulating layer due to peeling between via holes. In the multilayer printed wiring board of the present embodiment, there was no problem in the connectivity described above, and neither peeling nor swelling was confirmed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程図である。
FIG. 1 is a manufacturing process diagram of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程図である。
FIG. 2 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程図である。
FIG. 3 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程図である。
FIG. 4 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程図である。
FIG. 5 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】先行技術に係る多層プリント配線板の断面図で
ある。
FIG. 7 is a sectional view of a multilayer printed wiring board according to the prior art.

【図8】第1実施形態と比較例との評価結果を示す図表
である。
FIG. 8 is a table showing evaluation results of the first embodiment and a comparative example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 コア基板 32 銅箔 34 導体回路 35 貫通孔 36 スルーホール 38 粗化層 42 無電解銅めっき膜 43 レジスト 44 電解銅めっき膜 46 バイアホール 47 粗化層 48 導体回路 50 下層層間樹脂絶縁層 52 開口 54 充填樹脂 56 無電解銅めっき膜 57 無電解銅めっき膜 58 蓋めっき 59 粗化層 60 上層層間樹脂絶縁層 62 無電解銅めっき膜 64 電解銅めっき膜 66 バイアホール 70 ソルダーレジスト 71 開口部 72 ニッケルめっき層 74 金めっき層 76 半田バンプ 77 半田 78 導電性接続ピン 80U、80D ビルドアップ配線層 REFERENCE SIGNS LIST 30 core substrate 32 copper foil 34 conductive circuit 35 through hole 36 through hole 38 roughened layer 42 electroless copper plated film 43 resist 44 electrolytic copper plated film 46 via hole 47 roughened layer 48 conductive circuit 50 lower interlayer resin insulation layer 52 opening 54 Filled resin 56 Electroless copper plating film 57 Electroless copper plating film 58 Lid plating 59 Roughened layer 60 Upper interlayer resin insulation layer 62 Electroless copper plating film 64 Electrolytic copper plating film 66 Via hole 70 Solder resist 71 Opening 72 Nickel Plating layer 74 Gold plating layer 76 Solder bump 77 Solder 78 Conductive connection pin 80U, 80D Build-up wiring layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩田 豊 岐阜県大垣市青柳町300番地 イビデン株 式会社青柳工場内 Fターム(参考) 5E317 AA04 AA24 BB02 BB12 CC32 CC33 CD01 CD05 CD12 CD15 CD18 CD23 CD25 CD27 CD32 CD40 GG03 GG11 GG17 5E346 AA42 AA43 DD23 DD24 EE18 EE19 EE38 EE39 FF07 FF15 FF18 FF19 FF23 FF33 FF34 GG15 GG17 GG27 GG28  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Yutaka Iwata 300 Aoyagi-cho, Ogaki-shi, Gifu IBIDEN Corporation Aoyagi Plant F-term (reference) 5E317 AA04 AA24 BB02 BB12 CC32 CC33 CD01 CD05 CD12 CD15 CD18 CD23 CD25 CD27 CD32 CD40 GG03 GG11 GG17 5E346 AA42 AA43 DD23 DD24 EE18 EE19 EE38 EE39 FF07 FF15 FF18 FF19 FF23 FF33 FF34 GG15 GG17 GG27 GG28

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 層間樹脂絶縁層と導体層とが交互に積層
され、各導体層間がバイアホールにて接続されたビルド
アップ層が、コア基板の両面に形成されてなる多層プリ
ント配線板において、 前記コア基板及び該コア基板の両面に形成された層間樹
脂絶縁層を貫通するようにスルーホールを形成し、 前記スルーホールの直上に外部接続端子へ接続されるバ
イアホールを形成したことを特徴とする多層プリント配
線板。
1. A multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulation layers and conductor layers are alternately laminated, and build-up layers in which respective conductor layers are connected by via holes are formed on both surfaces of a core substrate. A through hole is formed so as to penetrate the core substrate and an interlayer resin insulating layer formed on both surfaces of the core substrate, and a via hole connected to an external connection terminal is formed immediately above the through hole. Multi-layer printed wiring board.
【請求項2】 前記スルーホールが、内部に充填剤が充
填され、該充填剤のスルーホールからの露出面を覆う導
体層が形成され、 前記スルーホールの直上のバイアホールが、当該スルー
ホールの前記導体層上に形成されていることを特徴とす
る請求項1の多層プリント配線板。
2. A filler is filled in the through hole, a conductor layer is formed to cover an exposed surface of the filler from the through hole, and a via hole immediately above the through hole is formed in the through hole of the through hole. 2. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the multilayer printed wiring board is formed on the conductor layer.
【請求項3】 少なくとも以下(a)〜(d)の工程を
備えることを特徴とする多層プリント配線板の製造方
法: (a)コア基板の両面に下層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(b)前記コア基板及び前記下層層間樹脂絶縁層
を貫通するスルーホールを形成する工程、(c)前記下
層層間樹脂絶縁層の上に上層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(d)前記上層層間樹脂絶縁層にバイアホールを
形成する工程であって、前記スルーホールの一部の直上
に外部接続端子へ接続されるバイアホールを形成する工
程。
3. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising at least the following steps (a) to (d): (a) forming a lower interlayer resin insulating layer on both surfaces of a core substrate; b) forming a through hole penetrating the core substrate and the lower interlayer resin insulating layer; (c) forming an upper interlayer resin insulating layer on the lower interlayer resin insulating layer; and (d) forming the upper interlayer resin insulating layer. A step of forming a via hole in the resin insulating layer, the step of forming a via hole connected to an external connection terminal immediately above a part of the through hole.
【請求項4】 少なくとも以下(a)〜(g)の工程を
備えることを特徴とする多層プリント配線板の製造方
法: (a)コア基板の両面に下層層間樹脂絶縁層を形成する
工程、(b)前記コア基板及び前記下層層間樹脂絶縁層
を貫通するスルーホールを形成する工程、(c)前記ス
ルーホールに充填剤を充填する工程、(d)前記スルー
ホールから溢れた充填剤を研磨して平坦にする工程、
(e)前記充填剤の前記スルーホールからの露出面を覆
う導体層を形成する工程、(f)前記下層層間樹脂絶縁
層の上に上層層間樹脂絶縁層を形成する工程、(g)前
記上層層間樹脂絶縁層にバイアホールを形成する工程で
あって、前記スルーホールの一部の直上に外部接続端子
へ接続されるバイアホールを形成する工程。
4. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising at least the following steps (a) to (g): (a) forming a lower interlayer resin insulating layer on both surfaces of a core substrate; b) a step of forming a through hole penetrating the core substrate and the lower interlayer resin insulation layer; (c) a step of filling the through hole with a filler; and (d) polishing the filler overflowing from the through hole. Flattening process,
(E) forming a conductor layer covering the exposed surface of the filler from the through hole, (f) forming an upper interlayer resin insulation layer on the lower interlayer resin insulation layer, (g) forming the upper layer A step of forming a via hole in the interlayer resin insulating layer, the step of forming a via hole connected to an external connection terminal immediately above a part of the through hole.
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